DE69021105T2

DE69021105T2 - Verfahren und Gerät zur Prüfung von integrierten Schaltungen mit hoher Geschwindigkeit.

Info

Publication number: DE69021105T2
Application number: DE69021105T
Authority: DE
Inventors: Hugh W Littlebury; Mavin C Swapp
Original assignee: Motorola Inc
Current assignee: Motorola Solutions Inc
Priority date: 1989-03-23
Filing date: 1990-03-15
Publication date: 1996-03-21
Anticipated expiration: 2010-03-16
Also published as: JPH02268280A; EP0388784B1; EP0388784A3; KR0138258B1; EP0388784A2; DE69021105D1; US4972413A; KR900014902A

Description

Hintergrund der Erfindung

Die vorliegende Erfindung betrifft im allgemeinen automatisierte, digitale Prüfsysteme. Insbesondere betrifft die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Laden und Wiedergewinnen von Prüfdaten und Reaktionsdaten in eine Datenspeichereinrichtung, die mit jedem Anschluß einer sich unter Prüfung befindenden Schaltung verbunden ist.
Ein kritischer Schritt beim Herstellen von elektronischen Schaltkreisen ist, diese unter Bedingungen zu prüfen, die sich der tatsächlichen Verwendung annähern. Da die Schaltungen komplexer werden, mehr Anschlußstifte und eine höhere Arbeitsgeschwindigkeit verlangen, wird es schwierig oder unmöglich, die Schaltung bei einer bestehenden Vorrichtung zu prüfen. Es ist insbesondere für Schaltungen wichtig, die eine große Zuverlässigkeit verlangen, daß sie bei Taktgeschwindigkeiten von mehreren 100 MHz geprüft werden, mit denen sie beim Einsatz betrieben werden. Demgemäß sind Verfahren zum Beschleunigen des Prüfverfahrens mit einer Anstrengung entwickelt worden, die Anforderungen neuer Schaltungen zu erfüllen.
Ein Bereich besonderen Interesses ist die Übertragung von Prüfsignalen zu und von Ansteuereinrichtungen mit Komparatoren, die die Schaltungsanschlüsse anregen und überwachen. Prüfvorrichtungen, wie das in der europäischen Patentanmeldung Nr. EP-A-0228332 beschriebene Prüfsystem haben mehrere Treiber- und Meßschaltungen, die mit den Ansteuereinrichtungen und Komparatoren verbunden sind, wobei jede Treiber- und Meßschaltung einem Anschluß der sich unter Prüfung befindenden Schaltung gewidmet ist. Das Muster von Prüfsignalen oder Prüfvektoren ist in einem Anschlußstiftspeicher gespeichert, der auch diesem einen Anschluß gewidmet ist. Der Anschlußstiftspeicher muß das gespeicherte Prüfsignal bei der Betriebsgeschwindigkeit der sich unter Prüfung befindenden Schaltung zuführen. Diese Prüfmuster werden in den Anschlußstiftspeicher von einer Massenspeichereinrichtung geladen, die üblicherweise langsamer als der Anschlußstift- Speicher betrieben wird. Sobald in den Anschlußstiftspeicher geladen werden Prüfvektoren mit hoher Geschwindigkeit an den Schaltungsanschluß angewendet. Bei Schaltungen mit einer großen Anzahl von Anschlußstiften jedoch, wird die Wiederholung der Treiber- und Meßschaltung, des Anschlußstiftspeichers und der Anschlußstiftelektronik für jeden Anschluß teuer. Auch werden die Leistungsanforderungen an die Anschlußstiftelektronik übermäßig, wobei ausgearbeitete und teure Kühlungstechniken für Schaltungsanordnungen verlangt werden. Schließlich ist der Raum, der für eine solche große Anzahl von Anschlußstiftelektronik verlangt wird, nachteilig, da die zu prüfenden Schaltungen kleiner werden.
Ein Artikel mit dem Titel "Testing and characterizing prototype VLSI chips in an university environment" von Butner S. E. aus Conference on Computer and Communications Proceedings, 20. März 1985, Phoenix, AZ, USA, Seiten 110-114 beschreibt eine Prüfvorrichtung für benutzerverlangte MMOS CMOS integrierte Schaltungen, die eine Vielzahl von Anschlußstiftregistern umfaßt, die den Anschlußstiften der sich unter Prüfung befindenden Einheit zugeordnet sind, und einen mit der Vielzahl von Anschlußstiftregistern über einen Bus gekoppelten Mikrocomputer. Jedes Anschlußstiftregister umfaßt einen Adressendekodierer, ein Schieberegister und einen Multiplexer.
Da die Schaltungen komplexer werden und die Anzahl der Anschlüsse zunimmt, sind die Hersteller selbst mit Prüfausrüstung konfrontiert, die weniger Prüfkanäle als die Anzahl der Schaltungsanschlüsse hat. Dies verlangt, daß die Prüfkanäle gemultiplext werden müssen, um mehr als einen Anschluß zu stützen, oder daß neue Ausrüstung gekauft werden muß. Das Multiplexen ist häufig zu langsam und beschränkt die Fähigkeit, die Schaltung vollständig zu prüfen. Eine neue Ausrüstung mit mehr Prüfkanälen wird zunehmend teuer und ist üblicherweise noch nicht verfügbar, wenn der Hersteller zuerst Schaltungen erzeugt. Somit kann die Ausrüstung wirksamer verwendet werden, wenn es möglich ist, mehr als einen Schaltungsanschluß mit einem Prüfkanal zu stützen, während die Fähigkeit beibehalten wird, bei hoher Geschwindigkeit zu prüfen.
Demgemäß ist es eine Zielsetzung der vorliegenden Erfindung, ein verbessertes Verfahren und Vorrichtung zu schaffen, um Daten zwischen einer Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung zu übertragen.
Es ist eine weitere Zielsetzung der vorliegenden Erfindung, ein verbessertes Verfahren und Vorrichtung zum Übertragen von Daten zwischen einer Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung zu schaffen, die fähig ist, ein Signal bei im wesentlichen der Betriebsgeschwindigkeit einer sich unter Prüfung befindenden Schaltung zu übertragen.

Zusammenfassung der Erfindung

Gemäß einem ersten Gesichtspunkt der Erfindung, wird geschaffen eine Vorrichtung zum Übertragen von Prüfdaten und Reaktionsdaten zwischen einer Mehrkanal-Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung, wobei die Vorrichtung in einer von einer Mehrzahl von Betriebsarten arbeiten kann, die logische Schaltung eine Vielzahl von Anschlüssen hat, jeder Anschluß der Vielzahl von Anschlüssen ein Eingang oder ein Ausgang in Abhängigkeit von der Ausgestaltung der logischen Schaltung ist, wobei die Vorrichtung umfaßt:
eine Vielzahl von elektronischen Abschnitten, wobei jeder Abschnitt mit einem Prüfkanal der Mehrkanal-Prüfvorrichtung verbunden ist, wobei der Prüfkanal serielle Anregungsdaten an den Abschnitt liefert und serielle Reaktionsdaten von dem Abschnitt analysiert, jeder Abschnitt ferner eine Vielzahl ähnlicher Anschlußelektronikeinheiten enthält, von denen jeder mit einem Anschluß gekoppelt und seriell miteinander durch einen ersten Datenweg verbunden ist, der der Anschlußelektronikeinheit gestattet, mit zwei benachbarten Anschlußelektronikeinheiten zum kommunizieren, wobei die Anschlußelektronikeinheiten ferner umfassen:
eine Speichereinrichtung zum Speichern von Anregungsdaten oder Reaktionsdaten unter Steuerung einer Steuerlogik;
einen Zweirichtungs-Speicher zum Übertragen von Daten in die und aus der Speichereinrichtung;
eine Umwandlungseinrichtung, um parallele Daten von der Speichereinrichtung in serielle Daten umzuwandeln, und um serielle Daten, die zu der Speichereinrichtung durch den genannten Zweirichtungs-Speicher hindurchgehen, in parallele Daten umzuwandeln;
einen ersten Multiplexer, der mit einem seriellen Eingang der Umwandlungseinrichtung zum Auswählen von seriellen Daten verbunden ist, wobei die serielle Date von einer benachbarten Anschlußelektronikeinheit ausgewählt wird, wenn die Vorrichtung in einer ersten Betriebsart ist, oder eine serielle Reaktionsdate von dem einen Anschluß über einen zweiten Weg ausgewählt wird, wenn die Vorrichtung in einer zweiten Betriebsart ist;
einen zweiten Multiplexer, der mit einem seriellen Ausgang der Umwandlungseinrichtung verbunden ist, um eine serielle Date zu lenken, wobei die serielle Date zu einer benachbarten Anschlußelektronikeinheit gelenkt wird, wenn die Vorrichtung in der ersten Betriebsart ist, oder zu dem einen Anschluß, wenn die Vorrichtung in der zweiten Betriebsart ist;
eine Anregungseinrichtung zum Anregen von jedem Eingangsanschluß, die durch serielle Daten von dem zweiten Multiplexer gesteuert wird;
eine Erfassungseinrichtung zum Erfassen des seriellen Ausgangssignals von jedem Ausgangsanschluß und um das serielle Ausgangssignal zu dem ersten Multiplexer zu senden.
Gemäß einem zweiten Gesichtspunkt der Erfindung wird geschaffen ein Verfahren zum Prüfen einer logischen Schaltung unter Verwendung einer Mehrkanal-Prüfvorrichtung und einer Vorrichtung zum Übertragen von Prüfdaten und Reaktionsdaten zwischen der Mehrkanal-Prüfvorrichtung und der logischen Schaltung, wobei die logische Schaltung eine Vielzahl von Anschlüssen hat, jeder Anschluß der Vielzahl von Anschlüssen ein Eingang oder Ausgang in Abhängigkeit von der Ausgestaltung der logischen Schaltung ist, die Vorrichtung eine Vielzahl von elektronischen Abschnitten umfaßt, wobei jeder Abschnitt mit einem Prüfkanal der Mehrkanal-Prüfvorrichtung verbunden ist, wobei der Prüfkanal serielle Anregungsdaten an den Abschnitt liefert und serielle Reaktionsdaten von dem Abschnitt analysiert, jeder Abschnitt ferner eine Vielzahl gleicher Anschlußelektronikeinheiten enthält, von denen jede mit einem Anschluß gekoppelt ist und seriell miteinander über einen ersten Datenweg verbunden sind, der den Anschlußelektronikeinheiten ermöglicht, mit zwei benachbarten Anschlußelektronikeinheiten zu kommunizieren, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt:
Senden eines ersten Anregungssignals von einem Prüfkanal zu einem Abschnitt und Empfangen eines seriellen Reaktionssignals von einem Abschnitt;
Unterteilen des seriellen Anregungssignals in Wörter mit mehreren Bit in einer ersten Betriebsart, Übertragen der Wörter zwischen der Vielzahl von Anschlußelektronikeinheiten des Abschnitts mittels des ersten Datenwegs, Umwandeln der Wörter in parallele Anregungssignaldaten, Speichern der parallelen Anregungsdaten in der Vielzahl von Anschlußelektronikeinheiten;
Umwandeln der parallelen Anregungsdaten, die in einer Anschlußelektronikeinheit gespeichert sind, in serielle Anregungsdaten in einer zweiten Betriebsart, übertragen der umgewandelten Anregungsdaten zu einer Ansteuereinrichtung der Anschlußelektronikeinheit, anregen eines Eingangsanschlusses mit der Ansteuereinrichtung gemäß der umgewandelten Anregungsdate, vergleichen der Spannung des Ausgangssignal von jedem Ausgangsanschluß mit einer Bezugsspannung und Erzeugen eines Reaktionssignals in Abhängigkeit davon, und speichern des Reaktionssignals in der Anschlußelektronikeinheit; und
Senden des gespeicherten Reaktionssignals in der ersten Betriebsart zu der Mehrkanal-Prüfvorrichtung über den ersten Datenweg.
Somit ist ein Vorteil der vorliegenden Erfindung, daß sie ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Übertragen von Daten zwischen einer Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung schafft, die minimale Kosten aufweist, die eine minimale Anzahl von Bauteilen verwendet.
Ein anderer Vorteil der Erfindung ist, daß sie ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Übertragen von Daten zwischen einer Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung schafft, die mehr als einen Schaltungsanschluß pro Prüfkanal stützt.
Ein noch anderer Vorteil der Erfindung ist, daß sie ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Übertragen von Daten zwischen einer Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung schafft, die der Auslegung der logischen Schaltung keine Einschränkung auferlegt.

Kurze Beschreibung der Zeichnungen

Fig. 1 stellt ein Blockdiagramm eines Abschnitts von Prüfelektronik gemäß der Erfindung dar, die in Reihe mit einem Signalprüfkanal verbunden ist; und
Fig. 2 stellt ein Blockdiagramm einer Elektronikeinheit für einen einzigen Anschluß gemäß der Erfindung dar.

Beschreibung der Zeichnungen im Einzelnen.

Fig. 1 stellt eine Anzahl von Anschlußelektronikeinheiten 12 dar, die in Reihe geschaltet sind, um einen Abschnitt 11 der vorliegenden Erfindung zu bilden. Eine digitale Mehrkanal- Schaltungsprüfeinrichtung (nicht gezeigt), die einen Computer, eine Massenspeichereinrichtung zum Speichern eines Prüfmusters und eines erwarteten Ausgangsmusters und eine Einrichtung umfaßt, das tatsächliche Ausgangsmuster mit dem erwarteten Ausgangsmuster zu vergleichen, liefert serielle Anregungsdaten auf einer Treiberleitung 14 eines Prüfkanals und analysiert seriell Reaktionsdaten auf der Reaktionsleitung 13 des Prüfkanals. Die serielle Anregungsdate umfaßt ein Muster einer logischen Anregung, das auch Prüfvektor genannt wird. Der Prüfvektor, der viele Tausend Bit an Daten einschließen kann, wird an jeden Anschluß 28 ändert einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung angelegt, wobei die logischen Schaltungsausgänge gezwungen werden, ein Ausgangsmuster zu erzeugen. Das Ausgangsmuster oder der Reaktionsvektor wird dann seriell auf der Reaktionsleitung 13 zu der Prüfvorrichtung geschickt.
In Prüfvorrichtungen nach dem Stand der Technik ist jeder Prüfkanal mit einem einzigen Anschluß 28 einer logischen Schaltung verbunden. Bei der vorliegenden Erfindung ist der Abschnitt 11 mit der Treiberleitung 14 und der Reaktionsleitung 13 dieses einen Prüfkanals verbunden. Bei einer bevorzugten Ausführungsform besteht ein Abschnitt 11 für jeden Prüfkanal, der in der Prüfvorrichtung zur Verfügung steht. Ein Teilprüfvektor wird zu dem Abschnitt 11 auf der Treiberleitung 14 zu der ersten Anschlußelektronikeinheit 12a geschickt. Anschlußelektronikeinheiten sind miteinander und mit dem Prüfkanal über einen Abtastweg 29 verbunden. Wenn sich die Schaltung in einem Datenübertragungsmodus befindet, sind die Anschlußelektronikeinheiten 12 so ausgestaltet, daß der Teilprüfvektor durch jede Anschlußelektronikeinheit 12 hindurchgeht, bis das erste Bit des Teilprüfvektors die letzte Anschlußelektronikeinheit 12 in der Reihe erreicht hat. Es ist zweckmäßig, Gruppen von logischen Daten in dem Teilprüfvektor als Wörter zu kennzeichnen, deren Länge durch die Anschlußelektronikeinheit bestimmt wird, wie es nachfolgend beschrieben wird. Jedes Wort tritt in die erste Anschlußelektronikeinheit 12a ein und wird seriell zu 12b, 12c usw. durchgegeben, bis das erste Wort die letzte Elektronikeinheit 12n erreicht. Irgendeine Anzahl von Elektronikeinheiten 12 können in Reihe verbunden werden, wobei die genaue Ausgestaltung durch die zur Verfügung stehende Testvorrichtung und die Anzahl der Anschlüsse der sich unter Prüfung befindenden Schaltung bestimmt wird. Wenn beispielsweise jeder Kanal eine Prüfvorrichtung mit vierundsechzig Kanälen sechzehn Anschlußelektronikeinheiten 12 umfaßt, stützt die Testvorrichtung eine Schaltung mit 1024 Anschlüssen 28. Nachdem der Teilprüfvektor in den Abschnitt 11 geladen worden ist, speichert jede Anschlußelektronikeinheit 12 das Wort des Teilprüfvektors, das diese Elektronikeinheit gegenwärtig enthält. Sobald der Teilprüfvektor gespeichert ist, wird ein neuer Teilprüfvektor in den Abschnitt in einer ähnlichen Weise geladen. Dieses Verfahren wird wiederholt, bis der gesamte Prüfvektor von der Prüfvorrichtung in der Vielzahl von Anschlußelektronikeinheiten 12 gespeichert ist.
Fig. 2 stellt ein Blockdiagramm einer Elektronikeinheit 12 mit einem einzigen Anschluß dar. Wenn der Prüfabschnitt 11 in dem Datenübertragungsmodus ist, tritt eine serielle Date in den Multiplexer 21 ein, der mit dem Schieberegister 22 verbunden ist. Das Schieberegister 22 wird durch die Steuerlogik 26 gesteuert, und im Datenübertragungsmodus mit einer Geschwindigkeit getaktet, die mit der Massenspeichereinrichtung der Prüfvorrichtung verträglich ist. Diese kann ungefähr zwanzig MHz sein. Der Teilprüfvektor wird durch das Schieberegister 22 hindurchgeschoben und tritt durch den Multiplexer 23 aus, der mit dem Multiplexer 21 einer ähnlichen, benachbarten Anschlußelektronikeinheit 12 verbunden ist. Das Schieberegister 22 ist irgendeine Anzahl von Bit lang, wobei die Anzahl der Bit die gleiche wie die Wortlänge ist. Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist das Schieberegister 22 ein Schieberegister mit sechzehn Bit. Nachdem das letzte Wort in dem Teilprüfvektor in das Register 22 der ersten Anschlußstiftelektronikeinheit 12a geschoben worden ist, wird ein Zweirichtungs-Speicher 24 aktiviert, das Wort in dem adressierbaren Anschlußstiftspeicher 25 zu speichern. Der Anschlußstiftspeicher 25 wird durch die Steuerlogik 26 durch einen Lese/Schreib-Steuerungs- und einen Adressenauswähl-Bus gesteuert. Der Anschlußstiftspeicher 25 ist so ausgestaltet, daß eine einzige Adresse ein vollständiges Prüfwort enthält. Somit speichert jede Anschlußstiftelektronikeinheit 12 ein Wort des Teilprüfvektors in einem Anschlußstiftspeicher 25, der einem einzigen Anschluß 28 der sich unter Prüfung befindenden Schaltung zugeordnet ist. Dieses Verfahren wird wiederholt, bis der Prüfvektor vollständig zu dem Anschlußstifspeicher 25 übertragen worden ist, oder bis der Anschlußstiftspeicher 25 voll ist. Jeder Anschlußstifspeicher 25 ist in der Größe durch die Adressierfähigkeit der Steuerlogik 26 und durch praktische Überlegungen der Speicherverfügbarkeit und Geschwindigkeit begrenzt. Typischerweise kann der Anschlußstifspeicher 25 von achttausend bis vierundsechzigtausend Bit oder mehr enthalten. Beim Datenübertragungsmodus wandert die Date von der Prüfvorrichtung durch jede Anschlußstiftelektronikeinheit 12 und zurück zu der Prüfvorrichtung über den Abtastweg 29. Der Abtastweg 29 besteht für jeden Kanal der Prüfvorrichtung.
Nachdem der gesamte Prüfvektor in dem Anschlußstiftspeicher 25 gespeichert worden ist, wird die Vorrichtung in einen Arbeitsmodus gebracht. In dem Arbeitsmodus werden der ersten Multiplexer 21 und der zweite Multiplexer 23 mit dem Komparator 30 bzw. der Ansteuerschaltung 27 verbunden, und der Abtastweg 29 wird gesperrt. Die Steuerlogik 26 adressiert selektiv den Anschlußstiftspeicher 25 und bringt den Speicher 25 in den Lesemodus. Der Zweirichtungs-Speicher 24 bietet ein Wort des gespeicherten Prüfvektors dem Schieberegister 22 in paralleler Form dar. Das Schieberegister 22 wird mit einer hohen Geschwindigkeit getaktet, wobei die gespeicherte Prüfdate an die Ansteuereinrichtung 27 übertragen wird. Die Ansteuereinrichtung 27 liefert ein Muster logischer Signale an den Anschluß 28, das dem gespeicherten Prüfmuster entspricht. Nachdem jedes Wort des gespeicherten Prüfvektors aus dem Schieberegister 22 geschoben worden ist, adressiert die Steuerlogik 26 einen neuen Platz in dem Anschlußstiftspeicher 25, so daß ein neues Wort dem Schieberegister 22 vorgelegt wird, bis der Anschlußstiftspeicher 25 erschöpft ist. Auf diese Weise ist die Frequenz des Ausgangssignals von dem Schieberegister 22 nicht durch die Geschwindigkeit des Anschlußstiftspeichers 25 begrenzt. Die Ansteuereinrichtung 27 umfaßt normalerweise eine Einrichtung zum Koppeln einer logisch hohen und einer logisch niedrigen Spannung mit dem Anschluß 28, und eine Einrichtung die Signale zu formatieren, um genau die Form und die Zeitlage des Signals zu steuern. Bei der bevorzugten Ausführungsform arbeitet das Schieberegister 22 von sechzehn Bit sechzehn mal schneller als der Anschlußstiftspeicher 25, und das Ausgangssignal kann so schnell wie achthundert MHz sein, während der Speicher bei nur 50 MHz arbeitet. Dies ermöglicht, daß der Anschlußstiftspeicher 25, viel größer ist, und aus weniger teuren Bauelementen hergestellt zu werden.
Wenn der Anschluß 28 ein Ausgang ist, enthält der Prüfvektor keine Anregungsinformation, und die Ansteuereinrichtung 27 liefert kein logisches Signal an den Anschluß 28. Wenn kein logisches Signal an dem Anschluß 28 vorgesehen ist, erfaßt der Komparator 30 eine Ausgangsspannung an dem Anschluß 28 und gibt ein Signal, das der erfaßten Spannung entspricht, an den Multiplexer 21 aus. Eine Gruppe aufeinanderfolgender, serieller Ausgangsdaten wird ein Ausgangswort genannt, und aufeinanderfolgende Wörter werden kombiniert, den Reaktionsvektor zu bilden. Der Reaktionsvektor wird in das Schieberegister 22 geschoben, bis ein gesamtes Reaktionswort in dem Schieberegister 22 enthalten ist, zu welchem Zeitpunkt dann der Zweirichtungs-Speicher 24 aktiviert und der Anschlußstiftspeicher 25 in den Schreibmodus gebracht wird. Der Reaktionsvektor wird dann von dem Schieberegister 22 zu dem Anschlußstiftspeicher 25 übertragen.
Es sollte beachtet werden, daß die Steuerschaltung 26 zwischen jeder der Anschlußelektronikeinheiten 12 synchronisiert ist. Die sich unter Prüfung befindende Schaltung besteht aus einer Vielzahl von Anschlüssen 28, die Eingänge oder Ausgänge in Abhängigkeit von der Ausgestaltung der sich unter Prüfung befindenden Schaltung sein können. Da der Anschlußstiftspeicher 25 in zwei Richtungen von einem einzigen Schieberegister 22 geladen werden kann, unterstützt die Elektronikeinheit 12 entweder Eingänge oder Ausgänge mit einem Minimum an Bauteilen. Weil die Steuerlogik synchronisiert ist, während ein Prüfvektor in einem Eingangsanschlußstück 28 der sich unter Prüfung befindenden Schaltung ausgelesen wird, wird gleichzeitig ein Reaktionsvektor von einem Ausgangsanschlußstück 28 einer anderen Anschlußstiftelektronikeinheit 12 aufgezeichnet. Irgendeine Art oder Konfiguration der Schaltung kann somit durch die Vorrichtung geprüft werden, indem einfach der gespeicherte Prüfvektor abgeändert wird.
Gegebenenfalls wird der Anschlußstiftspeicher 25 bei jedem Eingangsanschluß 28 erschöpft und wird bei jedem Ausgangsanschluß 28 voll. Wenn dies auftritt, wird der Abschnitt erneut in den Datenübertragungsmodus gebracht, und der Abtastweg 29 wird freigegeben, während die Ansteuereinrichtung 27 und der Komparator 30 unterbrochen werden. In diesem Modus sind die Multiplexer 21 und 23 mit benachbarten Anschlußelektronikeinheiten 12 verbunden, und der Reaktionsvektor in dem Anschlußstiftspeicher 25 wird zu dem Schieberegister 22 übertragen und durch den Multiplexer 23 hinausgeschoben. Bei der letzten Anschlußelektronikeinheit 12n in dem Abschnitt 11 wird die Date aus der Prüfvorrichtung auf der Reaktionsleitung 13 hinaus übertragen. Der Reaktionsvektor wird dann mit dem erwarteten Muster in der Prüfvorrichtung verglichen und es wird eine Fehler/Gut-Entscheidung gemacht.
Es sollte nun erkannt werden, daß ein verbessertes Verfahren und Vorrichtung zum Übertragen von Daten zwischen einer Mehrkanal-Prüfvorrichtung für digitale Schaltungen und einer sich unter Prüfung befindenden Schaltung geschaffen worden sind, wobei die Vorrichtung weniger Bauteile für jeden Anschluß einer sich unter Prüfung befindenden Schaltung verwendet, was eine Prüfvorrichtung mit geringeren Kosten ergibt, einem einzigen Prüfkanal ermöglicht, eine Vielzahl von Anschlüssen einer sich unter Prüfung befindenden Schaltung zu prüfen, während Prüfgeschwindigkeiten von einigen hundert Megahertz erreicht werden, und der sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung keine Auslegungsbeschränkungen auferlegt werden.

Claims

1. Eine Vorrichtung zum Übertragen von Prüfdaten und Reaktionsdaten zwischen einer Mehrkanal-Prüfvorrichtung und einer sich unter Prüfung befindenden, logischen Schaltung, wobei die Vorrichtung in einer von einer Mehrzahl von Betriebsarten arbeiten kann, die logische Schaltung eine Vielzahl von Anschlüssen (28) hat, jeder Anschluß der Vielzahl von Anschlüssen ein Eingang oder ein Ausgang in Abhängigkeit von der Ausgestaltung der logischen Schaltung ist, wobei die Vorrichtung umfaßt:

eine Vielzahl von elektronischen Abschnitten (11), wobei jeder Abschnitt mit einem Prüfkanal der Mehrkanal-Prüfvorrichtung verbunden ist, wobei der Prüfkanal (13) serielle Anregungsdaten an den Abschnitt liefert und serielle Reaktionsdaten von dem Abschnitt analysiert, jeder Abschnitt ferner eine Vielzahl ähnlicher Anschlußelektronikeinheiten (12) enthält, von denen jeder mit einem Anschluß (28) gekoppelt und seriell miteinander durch einen ersten Datenweg (29) verbunden ist, der der Anschlußelektronikeinheit gestattet, mit zwei benachbarten Anschlußelektronikeinheiten zum kommunizieren, wobei die Anschlußelektronikeinheiten ferner umfassen:

eine Speichereinrichtung (25) zum Speichern von Anregungsdaten oder Reaktionsdaten unter Steuerung einer Steuerlogik (26);

einen Zweirichtungs-Speicher (24) zum Übertragen von Daten in die und aus der Speichereinrichtung;

eine Umwandlungseinrichtung (22), um parallele Daten von der Speichereinrichtung in serielle Daten umzuwandeln, und um serielle Daten, die zu der Speichereinrichtung durch den genannten Zweirichtungs-Speicher (24) hindurchgehen, in parallele Daten umzuwandeln;

einen ersten Multiplexer (21), der mit einem seriellen Eingang der Umwandlungseinrichtung (22) zum Auswählen von seriellen Daten verbunden ist, wobei die serielle Date von einer benachbarten Anschlußelektronikeinheit (12) ausgewählt wird, wenn die Vorrichtung in einer ersten Betriebsart ist, oder eine serielle Reaktionsdate von dem einen Anschluß (28) über einen zweiten Weg ausgewählt wird, wenn die Vorrichtung in einer zweiten Betriebsart ist;

einen zweiten Multiplexer (23), der mit einem seriellen Ausgang der Umwandlungseinrichtung (22) verbunden ist, um eine serielle Date zu lenken, wobei die serielle Date zu einer benachbarten Anschlußelektronikeinheit (12) gelenkt wird, wenn die Vorrichtung in der ersten Betriebsart ist, oder zu dem einen Anschluß (28), wenn die Vorrichtung in der zweiten Betriebsart ist;

eine Anregungseinrichtung (27) zum Anregen von jedem Eingangsanschluß (28), die durch serielle Daten von dem zweiten Multiplexer (23) gesteuert wird;

eine Erfassungseinrichtung (30) zum Erfassen des seriellen Ausgangssignals von jedem Ausgangsanschluß (28) und um das serielle Ausgangssignal zu dem ersten Multiplexer (21) zu senden.

2. Die Vorrichtung des Anspruchs 1, in der jeder Abschnitt sechzehn Anschlüsse (28) und sechzehn Anschlußelektronikeinheiten (12) umfaßt.

3. Die Vorrichtung des Anspruchs 1 oder 2, in der die Speichereinrichtung (25) von 8 KBit bis 64 KBit an Speicher umfaßt.

4. Die Vorrichtung des Anspruchs 1, 2 oder 3, in der die Umwandlungseinrichtung (22) ein Schieberegister ist.

5. Die Vorrichtung des Anspruchs 1, 2, 3 oder 4, in der die Anregungseinrichtung (27) zum Anregen eines Eingangsanschlusses ferner eine Einrichtung zum Schalten einer logisch hohen und einer logisch niedrigen Spannung auf den Eingangsanschluß umfaßt; und eine Formatierungseinrichtung, um die Form und die Zeitlage des Anregungssignals zu formatieren und genau zu steuern.

6. Die Vorrichtung nach irgendeinem vorhergehenden Anspruch, in der der erste Datenweg (29) bei ungefähr 20 MHz arbeitet und der zweite Datenweg bei bis zu 800 MHz arbeitet.

7. Ein Verfahren zum Prüfen einer logischen Schaltung unter Verwendung einer Mehrkanal-Prüfvorrichtung und einer Vorrichtung zum Übertragen von Prüfdaten und Reaktionsdaten zwischen der Mehrkanal-Prüfvorrichtung und der logischen Schaltung, wobei die logische Schaltung eine Vielzahl von Anschlüssen (28) hat, jeder Anschluß der Vielzahl von Anschlüssen ein Eingang oder Ausgang in Abhängigkeit von der Ausgestaltung der logischen Schaltung ist, die Vorrichtung eine Vielzahl von elektronischen Abschnitten umfaßt, wobei jeder Abschnitt mit einem Prüfkanal der Mehrkanal-Prüfvorrichtung verbunden ist, wobei der Prüfkanal (13) serielle Anregungsdaten an den Abschnitt liefert und serielle Reaktionsdaten von dem Abschnitt analysiert, jeder Abschnitt ferner eine Vielzahl gleicher Anschlußelektronikeinheiten (12) enthält, von denen jede mit einem Anschluß (28) gekoppelt ist und seriell miteinander über einen ersten Datenweg verbunden sind, der den Anschlußelektronikeinheiten ermöglicht, mit zwei benachbarten Anschlußelektronikeinheiten zu kommunizieren, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt:

Senden eines ersten Anregungssignals von einem Prüfkanal (13) zu einem Abschnitt und Empfangen eines seriellen Reaktionssignals von einem Abschnitt;

Unterteilen des seriellen Anregungssignals in Wörter mit mehreren Bit in einer ersten Betriebsart, Übertragen der Wörter zwischen der Vielzahl von Anschlußelektronikeinheiten des Abschnitts mittels des ersten Datenwegs, Umwandeln der Wörter in parallele Anregungssignaldaten, Speichern der parallelen Anregungsdaten in der Vielzahl von Anschlußelektronikeinheiten;

Umwandeln der parallelen Anregungsdaten, die in einer Anschlußelektronikeinheit gespeichert sind, in serielle Anregungsdaten in einer zweiten Betriebsart, übertragen der umgewandelten Anregungsdaten zu einer Ansteuereinrichtung (27) der Anschlußelektronikeinheit, anregen eines Eingangsanschlusses (28) mit der Ansteuereinrichtung (27) gemäß der umgewandelten Anregungsdate, vergleichen der Spannung des Ausgangssignal von jedem Ausgangsanschluß (28) mit einer Bezugsspannung und Erzeugen eines Reaktionssignals in Abhängigkeit davon, und speichern des Reaktionssignals in der Anschlußelektronikeinheit; und

Senden des gespeicherten Reaktionssignals in der ersten Betriebsart zu der Mehrkanal-Prüfvorrichtung über den ersten Datenweg.