DE682026C - Verfahren und Anordnungen zur Quersteuerung von Elektronenstrahlen - Google Patents

Verfahren und Anordnungen zur Quersteuerung von Elektronenstrahlen

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DE682026C
DE682026C DEH148185D DEH0148185D DE682026C DE 682026 C DE682026 C DE 682026C DE H148185 D DEH148185 D DE H148185D DE H0148185 D DEH0148185 D DE H0148185D DE 682026 C DE682026 C DE 682026C
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Description

  • Verfahren und Anordnungen zur Quersteuerung von Elektronenstrahlen Bekanntlich finden Piezokristalle in der Hoch- und Niederfrequenztechnik vielfache Anwendung als Schwingungssysteme von genau definierter und unveränderlicher Eigenfrequenz und mit außerordentlich schwacher Dämpfung, und zwar entweder als Resonatoren oder als Stabilisatoren. Resonatorkristalle dienen dazu, um eine bestimmte Normalfrequenz festzulegen, auf die eine veränderliche Frequenz genauestens abgeglichen werden kann, während Frequenzstabilisatoren so in einen Sender oder in eine Selbsterregungsanordnung eingefügt werden, daß sich nur oder bevorzugt die Eigenwelle des Kristalls erregt.
  • Für elektrische Frequenzmessungen (Resonatoren) kommt die direkte Beobachtung der mechanischen Schwingungen, die der Kristall ausführt, wegen ihrer minimalen Amplitude nicht in Betracht, sondern man ist zur Beobachtung des Schwingungszustandes auf elektrische Effekte angewiesen. Je nach dem Verwendungszweck und je nach der zur Verfiigung stehenden Energie bieten sich mannigfaltige Möglichkeiten. Am einfachsten ist es, die piezoelektrischen Resonanzspannungen, die auf Grund des reziproken Piezoeffekts im Kristall entstehen, oder die Hochfrequenzströme zu beobachten, welche der Kristall aufnimmt und welche bei Resonanz ein Maximum durchlaufen. Während man zur Messung der piezoelektrischen Resonanzspannungen außerhalb des Kristalls oder seiner Fassung ein getrenntes Meßgerät benötigt, kann man dieselben in bekannter Weise auch so zur Anzeige bringen, daß man den Kristall in eine unter niedrigem Druck stehende Gasatmosphäre bringt, die durch die hohen Piezospannungen ionisiert wird und zum Leuchten kommt. Alle diese bekannten Methoden erfordern verhältnismäßig starke Hoch- oder Niederfrequenzleistungen, um den Kristall so stark anzuregen, daß man bereits mit einfachen Meßinstrumenten auskommt, was besonders hinsichtlich der Glimmentladungen gilt, die bekanntlich erst bei Zündspannungen über ioo Volt einsetzen.
  • Ferner ist bekannt, Verstärker- und Schwingungserzeuger, die auf Grund des sog. Ouersteuerprinzips arbeiten, mit Hilfe eines Piezokristalls zu stabilisieren, indem man den Ablenkplatten einer Ouersteuerröhre einen piezoelektrischen Kristall außerhalb der Röhre zwecks Steuerung des Elektronenstrahls parallel legt. Hierbei gelangen allerdings, ebenso wie im Fall der Resonanzanzeige mit einer Kathodenstrahlröhre, nicht die vollen Piezospannungen zur Einwirkung auf den Elektronenstrahl, sondern nur die Nutzspannungen, die sich von der Kristallfassung abgreifen lassen.
  • Das Verfahren gemäß der Erfindung übertrifft sämtliche bisher bekannten Methoden an Empfindlichkeit. Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Quersteuerung von- Elektronenstrahlen, bei dem der Strahl dicht an der Oberfläche einer oder mehrerer Piezokristalle vorbeigeführt und von den piezoelektrischen Resonanzspannungen unmittelbar abgelenkt wird. Neben der piezoelektrischen Feldverstärkung wird dabei noch von der geometrischen Übersetzung Gebrauch gemacht, welche sich mit einem als masseloser Hebel oder Zeiger anzusehenden Elektronenstrahl verwirklichen läßt. Erfindungsgemäß wird die Anordnung zur Durchführung des Verfahrens so getroffen, daß das elektrische Feld, welches die Piezoresonanzspannungen zwischen der Kristalloberfläche und einer ebenen Elektrode, welche zugleich die Anregung vermittelt, als Ablenkfeld für einen Kathodenstrahl benutzt wird, der wie beim gewöhnlichen Kathodenstrahloszillographen auf einen Fluoreszenzschirm auftrifft oder wie bei der an sich ebenfalls bekannten Quersteuerröhre von einer oder mehreren Prallanoden abgefangen und zur Verstärkung oder Schwingungserzeugung ausgenutzt wird. Die minimalen Änderungen seiner Richtung, die der Strahl bereits in einem schwachen Ablenkfeld von genügender Länge erfährt, verursachen wegen der Hebelübersetzung beträchtliche Verschiebungen des Leuchtflecks, so daß schon Piezospannungen von wenigen Volt sichtbar werden oder starke Änderungen der auf die Prallanoden auftreffenden Strahlströme zur Folge haben.
  • Zur näheren Veranschaulichung des Erfindungsgegenstandes in seiner Verwendung als Resonator diene die in Abb. i schematisch dargestellte Anordnung: Q ist ein beliebiger Piezokristall aus Ouarz oder Turmalin, der sich zwischen zwei ebenen Platten P1 und P= befindet. Damit seine Schwingungen möglichst wenig gedämpft werden, ist er zwischen zwei Schneiden S' und S" lose eingespannt. Während die untere Platte der Oberfläche des Kristalls dicht gegenübersteht oder ihr sogar anliegen kann, hat die öhere Platte vom Kristall den Abstand cl, und durch den so entstehenden Raum geht der Elektronenstrahl E hindurch, der in der üblichen Weise von der Glühkathode 1i ausgeht und mit Hilfe der Elektronenlinse O gebündelt wird.
  • Die Meßspannung, deren Frequenz geprüft oder mit der Eigenschwingungszahl des Quarzes in Übereinstimmung gebracht werden soll, wird an die beiden Platten P, und P2 gelegt. Sie ruft zwischen diesen ein schwaches Wechselfeld hervor, welches den Elektronenstrahl kaum merklich ablenkt, so daß der Leuchtfleck auf dem Fluoreszenzschirm ein klein wenig auseinandergezogen wird. Sobald sich die Frequenz der Prüfspannung der Eigenfrequenz des Kristalls nähert oder in Resonanz gerät, überlagern sich den schwachen Anregungsspannungen die hohen piezoelektrischen Resonanzspannungen. Das Ablenkfeld wird infolgedessen sehr viel stärker, und auf dem Fluoreszenzschirm entsteht ein Leuchtstrich, dessen Länge genau im Resonanzfall am größten ist. Da der Strahl bei den in der Oszillographentechnik gebräuchlichen. Strahlgeschwindigkeiten von wenigen Volt schon deutlich sichtbar abgelenkt wird, reichen schon Anregungsspannungen von Bruchteilen eines Volts aus, um die Quarzresonanz mit Sicherheit erkennen zu lassen. Da der Kristall praktisch kaum belastet ist und da keinerlei Rückwirkungen vorhanden sind, die den Kristall dämpfen und seine Resonanzkurve verflachen könnten, ist die Resonanzanzeige außerordentlich scharf und stabil, zumal bei der geringen Schwingleistung Frequenzverwerfungen durch Erwärmung nicht zu befürchten sind.
  • In der Umgebung sehr starleer Hochfrequenzsender ist unter Umständen eine kapazitive Ankoppelung des Piezoquarzes über die beiden Platten P1 und P@ überflüssig, weil der Kristall schon durch das elektrische Streufeld des Senders iri genügend starke Schwingungen versetzt werden kann. In diesem Fall braucht die in Abb. i dargestellte Röhre lediglich in die Nähe des Senders gebracht zu werden, um seine Frequenz auf die des Quarzes abgleichen zu können.
  • Eine noch schärfere Resonanzanzeige, als auf Grund der Resonanzkurve eines einzigen Ablenkquarzes erzielt werden kann, läßt sich in Weiterführung des Erfindungsgedankens mit dem in Abb. - a schematisch gezeigten Differentialsystem erhalten. In dieser Röhre sind beiderseits des Elektronenstrahls E zwei Quarze Q1 und Q2 angebracht, die zwischen sich das Äblenkfeld für den Strahl erzeugen. Die Eigenschwingungszahlen beider Quarze weichen etwas voneinander ab, liegen jedoch so dicht zusammen, daß sich ihre Resonanzkurven überschneiden, wie in Abb.2b angedeutet. Zwischen den beiden Resonanzmaxima bei den Frequenzen itl und 7a2 bildet sich offenbar eine Einsattelung, die offenbar außerordentlich scharf ist, wenn die beiden Resonanzkurven sich in der dargestellten Weise mit ihren steilen Flanken schneiden. Bei Einstellung der zwischen itl und n2 liegenden Frequenz ito wirkt der eine Quarz kapazitiv und der andere induktiv. Die Piezospannungen an sich sind infolgedessen gegenphasig, kompensieren sich jedoch in Wirklichkeit, weil die Ablenkfelder wegen der Lage der Kristalle zu beiden Seiten des Strahls entgegengesetzt gerichtet sind. Wenn beide Kristalle annähernd gleiche Dämpfung haben., kann man erreichen, daß der Strahl bei der Frequenz n, ganz in Ruhe bleibt, so daß man bei Änderung der Frequenz tt eine Abstimmfigur von dem Aussehen der Abb. a c erhält. Die Einstellung der Frequenz n, ist also besonders scharf, weil sie nicht allein nach den Amplituden, sondern auch nach der Phase der piezoelektrischen Spannungen erfolgt.
  • Die soweit beschriebenen piezoelektrischen Oszillographenanordnungen sind dadurch gekennzeichnet, daß sie nur eine ganz bestimmte Frequenz, nämlich die Kristallfrequenz, festlegen und nur für diese eine Frequenz brauchbar sind. Um die Anordnung bei verschiedenen Frequenzen benutzen zu können, könnte man grundsätzlich daran denken, mehrere piezoelektrische Ablenksysteme mit verschiedenen Frequenzen in Strahlrichtung hintereinander anzuordnen. Abgesehen davon, daß die Empfindlichkeit für jedes System wegen der veränderten Hebelübersetzung oder Zeigerlänge um so kleiner wird, je näher das betreffende System zum Schirm hin liegt, kann man bei einer solchen Mehrfachanordnung nicht erkennen, welchem der Systeme die auf dein Schirm auftretenden Auslenkungen zugeordnet sind bzw. von welchem System oder von welcher Frequenz sie herrühren. Man muß also danach trachten, auf (lern Leuchtschirm einen Frequenzmaßstab anzubring en, dessen einzelne Marken den einzelnen Piezokristallen entsprechen. Dies läßt sich erreichen, indem man die einzelnen Kristalle nicht hintereinander, sondern nebeneinander anordnet. Man kann dann über jeden Kristall einen besonderen Elektronenstrahl schicken, kann aber auch für alle Kristalle einen gemeinsamen zusammenhängenden Flachstrahl verwenden, oder man kann schließlich einen einzigen Strahl über sämtlichen Kristallen hin und her bewegen, so daß er die einzelnen piezoelektrischen Ablenkfelder gewissermaßen nacheinander in schnellem Wechsel abtastet.
  • Die Abb.3a stellt den Querschnitt durch ein Melirfaclipiezoresonanzfeld entsprechend der Erfindung dar. Pi und P, sind wieder die Anregungs- und Ablenkplatten. Auf der unteren Platte sind in dem dargestellten Beispiel e Kristalle Qi bis Q, verteilt, deren Eigenschwingungszahl von links nach rechts stetig sinkt, wie an dein wachsenden Querschnitt zu erkennen ist. Durch dieses Affenkfeld zwischen der Oberfläche der Kristalle und zwischen P1 kann inan nun entweder mehrere Strahlen schicken, so daß zu jedem der 5 Kristalle ein besonderer Strahl gehört, oder man benutzt einen schmalen Flachstrahl, dessen Querschnitt in der Abb.3a als langgestrecktes Rechteck E eingezeichnet ist. C(ber dein Kristall, dessen Eigenfrequenz der Frequenz der an P1 und P2 gelegten Meßspannung am nächsten kommt oder mit dieser übereinstimmt, entsteht das stärkste Wechselfeld, und die betreffende Zone des Flachstrahls wird bis zum Fluoreszenzschirm hin am stärksten abgelenkt.' Auf diese Weise erhält man die in Abb. 3b gezeigte Abstimmfigur. Man sieht, daß die Meßfrequenz zwischen der Eigenfrequenz von Kristall Q, und Q3 liegt, und zwar dem stärkeren Ausschlag von Q3 entsprechend etwas näher an n3. Die Ablesung entspricht damit der Ablesung des bekannten mechanischen oder elektromechanischen Zungenfrequenzmessers, dessen Prinzip durch die Erfindung gewissermaßen auf piezoelektrischern Wege und mit Hilfe des Iiathodenstraliloszillographen ins Hochfrequenzgebiet übertragen ist. Es ist klar, daß sich Meßgenauigkeit und Meßbereich durch den Einsatz zahlreicher Piezokristalle mit beliebigen Abstufungen nach Bedarf verfeinern lassen.
  • In der Abb. q. ist eine Anordnung im Längsschnitt gezeigt, welche an Stelle eines Flachstrahls, der das ganze piezoelektrische Ablenkfeld auf einmal erfaßt, mit einem Fadenstrahl arbeitet. Dieser wird von einer zwischen den Querplatten P3 und P,, liegenden Wechselspannung von beispielsweise 5o Hz durch das ganze Ablenkfeld hin und her bewegt, so daß -der Schwingungszustand der Piezokristalle Q, bis O_, auf dem Fluoreszenzschirrn nacheinander zur Anzeige gebracht wird, allerdings so schnell, daß das Auge dem Abtasten nicht zu folgen vermag, sondern daß für das Auge dieselbe Abstimmfigur, wie in Abb.3b gezeigt, erscheint. Damit der Strahl jeweils immer nur einen einzigen Kristall überstreicht, müssen die Kristalle etwas gegeneinander geneigt angeordnet werden, wie aus der Abbildung zu erkennen ist. Abgesehen von dein einfacheren elektronenoptischen Abbildungs- oder Strahlerzeugungssystein hat die Anordnung der Abb. q. vor dem Flachstrahl den Vorzug, daß der Frequenzmaßstab auf (lein Leuchtschirm gegenüber der räumlichen Verteilung der Kristalle auseinandergezogen wird, was der Ablesegenauigkeit und der Einsatzmöglichkeit sehr vieler Kristalle zugute kommt.
  • Die geometrische Vergrößerung des Frequenzmaßstabes bedingt allerdings, daß die Querablenkung durch die Hilfsfrequenz eine bestimmte, durch die Endpunkte des Frequenzmaßstabes vorgeschriebene Größe hat, die genau eingehalten werden muß. Das setzt nicht nur eine bestimmte Ablenkspannung zwischen P3 und P4, sondern auch ein bestimmtes Anodenpotential der Strahlerzeugung voraus. Diese genaue Einhaltung der Betriebsverhältnisse erübrigt sich bei der in Abb. 5 gezeigten Anordnung, welche eine kreisförmige Frequenzskala hat, über welcher die piezoelektrischen Resonanzablenkungen in Form eines Polardiagramms erfolgen. Die neue Form des Frequenzmaßstabes wird dadurch erhalten, daß der Elektronenstrahl E durch zwei lotrecht zueinander wirkende und mit 9o° Phasenverschiebung gespeiste Ablenkfelder, die in der Abbildung elektrostatisch sind, die ebensogut auch elektromagnetisch oder elektrostatisch und elektromagnetisch sein können, von der niederfrequenten Hilfsspannung so abgelenkt wird, daß er auf einem Kegelmantel umläuft. Dieser Kegelmantel durchsetzt das nunmehr ebenfalls ringförmig gestaltete piezoelektrische Ablenkfeld, das sich zwischen dem Außenring P" den Kristallen Q1 bis Qlo und dem konzentrischen Innenzylinder P2 ausbildet. Die einzelnen piezoelektrischen Ablenkfelder wirken alle in radialer Richtung, und dementsprechend erfolgen auch diepiezoelektrischen Auslenkungen auf radial verlaufenden Linien, welche die den Kristallen entsprechenden Frequenzen 7a1 bis nlo bezeichnen. Damit ist die Frequenzskala allein durch die geometrische Projektion des Ablenkfeldes auf den Leuchtschirm festgelegt, ohne daß die Größe der Kreisbahn, d. li. die Empfindlichkeit der niederfrequenten Hilfsablenkung in die Frequenzmessung mit eingeht oder deren Genauigkeit und Sicherheit zu beeinträchtigen vermag.
  • Das im vorstehenden beschriebene Verfahren zur Ouersteuerung von Elektronenstrahlen ist nicht allein bei Verwendung der Piezokristalle als Resonatoren zu gebrauchen, sondern auch dann, wenn der Quarz als Stabilisator in Generatoren dienen soll (Stabilisator). Eine hierfür geeignete Ouersteueranordnung zeigt die Abb@.6. Die Querablenkung des Elektronenstrahls E durch den Kristall Q geschieht auf die bei Gelegenheit der Abb. i besprochene Weise. Anstatt daß der Strahl jedoch auf einen Fluoreszenzschirm auftrifft, geht er nunmehr zu einer Prallanode A über und gibt seine Ladung an diese ab, so daß der AnoOden'WderStand W, ein Ohmscher Widerstand, eine Drossel oder ein Schwingungskreis von dem Strahlstrom durchflossen wird. Um den Anodenstrom mit der räumlichen Lage, in welcher der Strahl gegen A anläuft, in Beziehung zu bringen, ist eine geeignet geformte Blende B oder eine entsprechende Schirmelektrode vor die Anode geschoben. In der Lage E' «-erden alle Strahlelektronen von der Blende B abgefangen, und der Anodenstrom ist infolgedessen Null, während in der Lage E"@ der ganze Strahlstrom auf A übergeht. Die an dem Widerstand W entstehenden Spannungsabfälle werden, nun auf die Platte P. zurückgeführt und regen ihrerseits den Kristall Q an. Auf diese Weise findet eine rückkoppelartige Selbsterregung statt, und die Eigenschwingungen des Kristalls schaukeln sich zu einem stationären Endzustand hoch. Durch geeignete Formgebung der Blende B läßt sich die Phasenlage der Rückkoppelung so einstellen, daß man entweder auf dem induktiven oder auf dem lcapazitiven Ast der Quarzresonanzkurve arbeitet. Auch bei diesem Rückkoppelgenerator mit Ouarzsteuerung treten keinerlei Rückwirkungen auf den Kristall selbst auf, so daß der Generator immer phasenrein und vollkommen unabhängig von allen äußeren Einflüssen, wie z. B. von Belastungsänderungen oder von Schwankungen der Betriebsverhältnisse, arbeitet. Statt den Anodenstrom durch Abfangen des Strahls auf einer Prallanode zu erzeugen, kann derselbe auch durch Influenzwirkung gewonnen werden.
  • In der Abb. 7 ist die Weiterentwicklung des unsymmetrischen Rückkoppelgenerators nach Abb.6 zu einem Gegentaktsender dargestellt. Der Strahl E trifft auf zwei in einer Ebene befindliche gleichwertige Prallanoden A1 und A2 auf, so daß der Strahlstrom je nach der Ablenkung aus der mittleren Strahllage bald zur oberen bald zur unteren Anode übergeht. Zum Abfangen des durch die Strahlelektronen aus den Anoden ausgelösten Sekundärelektronenstroms ist ein Steuergitter S vorgesehen. Beide Anoden sind mit geeigneten Widerständen, in diesem Fall mit Drosselspulen Dl und D2 belastet. Die an den beiden Drosseln entstehenden Hochfrequenzspannungen werden auf die Platten P1 und P2 zurückgeführt, wobei die Zuleitungen überkreuzt werden müssen, um der Rückkoppelung die richtige Phasenlage zu sichern. Natürlich kann an Stelle der hier gezeigten galvanischen Rückkoppelung auch eine induktive Rückkoppelung auf die beiden Spulen Dl und D. oder auf einen die beiden Anoden symmetrisch belastenden Resonanzkreis vorgesehen werden.
  • Die Rückkoppelgeneratoren lassen sich auf bequeme Weise modulieren, indem man die Strahlstromstärke steuert, wie es von der Helligkeitssteuerung von Kathodenstrahloszillographen allgemein bekannt ist. .

Claims (1)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Quersteuerung von Elektronenstrahlen, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahl dicht an der Oberfläche eines oder mehrerer Piezokristalle vorbeigeführt und von den piezoelektrischen Resonanzspannungen unmittelbar abgelenkt wird. a. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß das piezoelektrische Steuerfeld für den Strahl zwischen der Kristalloberfläche und einer Gegenelektrode liegt, welche zugleich der Anregung des Kristalls durch die Steuerspannungen dient. 3. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch z und 2, dadurch gekennzeichnet, daß das piezoelektrische Steuerfeld durch den Raum gebildet wird, der durch die einander gegenüberliegenden Oberflächen zweier Kristalle begrenzt wird, zwischen denen der Strahl hindurchgeht (Abb.2a). 4. Anordnung nach Anspruch 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Frequenzmessung das piezoelektrische Steuerfeld durch einzeln nebeneinander angeordnete Kristalle in mehrere Teilfelder mit verschiedenen Eigenfrequenzen aufgeteilt ist (Abb. 3a). 5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein Flachstrahl vorgesehen ist, der das piezoelektrische Steuerfeld in seiner ganzen Breite durchsetzt. 6. Anordnung nach Anspruch .4, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Teilfelder von einem hin und her gehenden 'Elektronenstrahl in schnellem Wechsel nacheinander abgetastet werden (Abb. 4). 7. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Teilfelder ringförmig angeordnet sind, und daß der Elektronenstrahl auf einem Kegelmantel durch das Ringfeld umläuft (Abb. 5). B. Anordnung nach Anspruch 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Elektronenstrahl zur Schwingungserzeugung durch eine Blende oder an einer Schirmelektrode vorbei auf eine Anode trifft, je nach der Ouerablenkung abgeblendet wird und die im Anodenkreis entstehenden Ausgangsspannungsschwankungen auf die den Piezokristall erregenden Ablenkplatten zurückgeführt werden (Abb. 6). g. Anordnung nach Anspruch 8, dadurch 'gekennzeichnet, das an Stelle von Anode und Blende zwei Gegentaktanoden vorgesehen sind Lind eine Gegentaktschaltung benutzt wird (Abb.7).
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1273703B (de) * 1961-02-10 1968-07-25 Telefunken Patent Elektronenstrahlauffaenger fuer Laufzeitroehren, insbesondere Lauffeldroehren

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1273703B (de) * 1961-02-10 1968-07-25 Telefunken Patent Elektronenstrahlauffaenger fuer Laufzeitroehren, insbesondere Lauffeldroehren

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