DE679131C - Messgeraet - Google Patents

Messgeraet

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Publication number
DE679131C
DE679131C DEL91932D DEL0091932D DE679131C DE 679131 C DE679131 C DE 679131C DE L91932 D DEL91932 D DE L91932D DE L0091932 D DEL0091932 D DE L0091932D DE 679131 C DE679131 C DE 679131C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
prism
optical axis
wedge
wedges
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEL91932D
Other languages
English (en)
Inventor
Lucien Poichet
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ernst Leitz Wetzlar GmbH filed Critical Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Application granted granted Critical
Publication of DE679131C publication Critical patent/DE679131C/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
    • G01C1/02Theodolites
    • G01C1/06Arrangements for reading scales
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/02Rulers with scales or marks for direct reading
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D7/00Indicating measured values
    • G01D7/02Indicating value of two or more variables simultaneously
    • G01D7/04Indicating value of two or more variables simultaneously using a separate indicating element for each variable
    • G01D7/06Luminous indications projected on a common screen

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Meßgerät Die Erfindung ;geht aus vorn ein@ern Meßgerät, in. dem, ein optisches Prismensystem zur Feinablesung des, Meßergebnisses angeordnet ist.
  • Es ist bekannt, finit einem Mikroskop die Maßteilung eines Meß,gerätes abzulesen und die Feinablesung durch unterschiedliche Ablenkung des Meßstrahles .in zwei verschiedenen Stellungen ,eines verschiebbaren Prisimenkeiles vorzunehmen, der gegenübereinem in der Hauptschnttebene um r8o° ,gedrehten festgelagerten Prismenkeil gleicher Bauart verschoben wird. Hierbei wird das Maß der Verschiebung im Bildfeld auf der senkrecht zur optischen Achse liegenden Fläche des festgelagerten Prismenkeiles abgelesen. Diese Einrichtung hat :den Nachteil, daß der Meßstrahl unterschiedliche Glas- und Luftwege durchläuft, so daß der Korrektionszustand in dem abbildenden optischen System nachteifig beeinflußt wird und Abbildungsfehler erhält. Erfindungsgemäß wird dieser Nachteil bei einer Einrichtung genannter Bauart nun dadurch beseitigt, @daß diese Prismenkeile derart gegenüber 'der optischen Achse verschiebbar sind, daß sich hierdurch der Luftabstand zwischen den beiden Prismenkeilen verändert. Hierdurch wird die Parallelversetzung des Meßstrahlenbündels bewirkt und zugleich erreicht, daß die optische Gesamtlänge im Gerät erhalten bleibt. Um noch bestehende Unterschiede in der optischen Weglänge auszugleichen, kann mit der Änderung des Luftabstandes noch eine zusätzliche Verschiebung des einen der beiden Prismenkeile, der inicht Träger der Unterteilung ist, gegen den anderen in Richtung senkrecht zur optischen Achse erfolgen.
  • In der Zeichnung ist die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel dargestellt, und zwar zeigt Abb. t einen senkrechten Schnitt durch ein Ablesemikros'kop, Abb. 2 und 3 die in dem Mikroskop verwendeten Prismenkeile in zwei Meßstellungen, Abb. 4 und 5 die den Stellungen in Abb. z und 3 entsprechenden Okularblder, Abb. 6, 7 und 8 drei Abwandlungen der Prismenkeilamordnung.
  • In dem Ablesemikroskop i wird der Maßstab 2 von dem Objektiv 3 in. die Okularbildebene 4 abgebildet, und dieses Bild durchdas Okular 5 beobachtet. In. der Okularbildebene 4 liegt :angenähert die untere Fläche der Strichplatte 6, die die Marken 7 und 8 (Abb. 4 und 5) trägt, und die obere Fläche 9 des Prismenkeiles io mit der Teilung i i. Dieser Prismenkeil io ist zusammen mit dem um i80° gedrehten Pi7smenkeil 12 gleicher Ausführung in dem Schlitten 13 angeordnet, und zwar derart, daß Prisma i o fest und Prisma i?- beweglich ist. Der Schlitten 13 kann mittels Spindel 14 und Trieblaropf 15 entgegen der Feder 16 bewegt werden. Da. der Prismen-Stuhl 17 .sich mit Zapfen 18 in dem Schlitz i 9 des Schlittens 13 und im Schlitz 2o des Schlittenkastens 2 i führt, wandert Prismenkeil 12 bei einer waagerechten Verschiebung des Schlittens 13 ,nach ,abwärts, während Prismenkeil io mit seiner die Teilung ii tragenden Ebene sich waagerecht verschiebt. Hierdurch wird der Luftabstand 25 zwischen den beiden Schrägflächen 2-- und 23 vergrößert und damit dem Meßstrahl 24 (Abb. 2 und 3) je ;nach der Größe des Luftabstandes 25 eine unterschiedliche Versetzung b bzw. b' erteilt. Die Verschiebung der beiden Prismenkeile io und 12 senkrecht zur optischen Achse L1 bzw. 4' kann man auf der Teilung i i ablesen.
  • Die Abb.4 zeigt das Okul.arbild bei Beginn der Messung. Die Teilung 26 ist ein vergrößerter Ausschnitt aus dem Maßstab 2 in der Stellung der Prismenkeile nach Abb. 2, d. h. wenn der Schlitten 13 am äußersten nach rechts geschoben ist, wodurch der Nullwert der die Prismenverschiebungangebenden Teilung i i mit der Strichmarke 7 zusammenfällt. Man kann jetzt an der Strichmarke 8 der Teilung 26 nur 30,7 ablesen. Den Wert der Unterteilung erhält man auf folgende Weise: Durch Drehen an dem Triebknopf 15 wandern die Prismen i o und 12 unter gleichzeitiger Vergrößerung ihres Luftabstandes 25 nach links, bis in der Stellung der Abb. 3 der Strich 30,7 der Teilung 26 innerhalb der Strichmarke 8 zu liegen kommt. Die in der Verschiebstellung A' der Prismenkeile erhaltene Versetzung des Meßstrahles 24 b'-b kann nun in der Teilung i i mit o,064 abgelesen und die nächste Stelle noch mit 6 geschätzt werden. Der Meßwert lautet mithin 30,7646.
  • In den Abb. 6, 7 und 8 sind die in den Beispielen der Abb. i bis 3 verwendeten. Prismen 9 bis 12 in, verschiedenen Anordnungen dargestellt, jedoch immer so, daß die Summe der optischen Wegelänge erhalten bleibt. Es soll hierdurch gezeigt werden, daß je nach der Bauart des Instrumentes durch Umordnen der Prismenkeile und Zwischenschalten weiterer Prismen jede gewünschte Strahlenführung herbeigeführt werden. kann.
  • Das Verhältnis der Strahlenversetzung b zu der größeren Prismenkeilverschiebung A wird bestimmt durch den Keilwinkel und den Brechungsindex der Prismen.
  • Die zusätzliche Verschiebung des Prismenkeües, der nicht Träger der Unterteilung i i ist, kann beispielsweise durch Schrägstellung des Schlitzes i geweicht werden.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Meßgerät mit einer optischen Einrichtung zur Iinnenablesung der Unterteilung einer im Gesichtsfeld erscheinenden Hauptteilung durch Parallelversetzen des. Meßstrahlenbündels in zwei aufeinanderfolgenden Stellungen durch Prismenkeile, von denen, mindestens zwei in. ihrer Hauptschnittebene so ge,geneinandergedreht sind, daß die Keilwinkel entgegen, ,gesetzt ;gelagert .sind und wobei, ein Maßstab auf einer senkrecht zur optischem Achse in der Okularbildebene liegenden Prismenfläch:e aufgetragen ist, dadurch gekennzeichnet, idaß diese Prismenkeile derart gegenüber der optischen Achse verschiebbar sind, .daß durch eine hierbei erfolgende Änderung des Luftabstandes zwischen den beiden Prismenkeilen die Pärallelversetzung des Meßstrahlenbündels bewirkt wird und gleichzeitig die optische Gesamtweglänge im Gerät erhalten. bleibt.
  2. 2. Meßgerät nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der Prismenkeil, der nicht Träger der Unterteilung ist, gegenüber dem anderen eine zusätzliche Verschiebung senkrecht zur optischen Achse erfährt.
DEL91932D 1936-02-04 1937-02-04 Messgeraet Expired DE679131C (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR679131X 1936-02-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE679131C true DE679131C (de) 1939-07-29

Family

ID=9021504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEL91932D Expired DE679131C (de) 1936-02-04 1937-02-04 Messgeraet

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE679131C (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2483897A (en) * 1945-03-01 1949-10-04 Hilger & Watts Ltd Optical precision gauge
DE971054C (de) * 1946-01-15 1958-12-04 Optique Et Prec De Levallois P Messgeraet zum Ablesen und Einstellen von Messstrecken, insbesondere an Werkzeugmaschinen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2483897A (en) * 1945-03-01 1949-10-04 Hilger & Watts Ltd Optical precision gauge
DE971054C (de) * 1946-01-15 1958-12-04 Optique Et Prec De Levallois P Messgeraet zum Ablesen und Einstellen von Messstrecken, insbesondere an Werkzeugmaschinen

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