DE762029C - Optisches Mikrometer - Google Patents

Optisches Mikrometer

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Publication number
DE762029C
DE762029C DEL108674D DEL0108674D DE762029C DE 762029 C DE762029 C DE 762029C DE L108674 D DEL108674 D DE L108674D DE L0108674 D DEL0108674 D DE L0108674D DE 762029 C DE762029 C DE 762029C
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DE
Germany
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wedge
optical
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optical micrometer
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Expired
Application number
DEL108674D
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English (en)
Inventor
Rudolf Stuetzer
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
    • G01C1/02Theodolites
    • G01C1/06Arrangements for reading scales

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung geht davon aus, daß man in optischen Meßgeräten zur meßbaren Ablenkung von Strahlen aus zwei Prismenkeilen bestehende Kompensatoren verwendet, die als 5 optisches Mikrometer bezeichnet werden. Vorzugsweise werden die beiden Keile in entgegengesetzter Richtung um gleiche Beträge gedreht. Für einwandfreie Meßergebnisse ist hierbei erforderlich, daß die beiden Keile vollkommen gleich sind und äußerst genau in das Gerät eingebaut werden.
Diese Nachteile können nun erfindungsgemäß dadurch behoben werden, daß man nur einen Keil anordnet und zugleich das den Keilkompensator durchsetzende Strahlenbündel durch optische Mittel, insbesondere spiegelnde Flächen, so lenkt, daß es den Keil zweimal in zueinander höhenversetztem Zustand durchläuft. In diesem Fall hat der eine Keil auf die abbildenden Strahlen die gleiche Wirkung wie zwei Keile von dem gleichen Keilwinkel, die in gegenläufiger Richtung gedreht werden.
In der Zeichnung ist die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel an Hand eines Horizontalkreises dargestellt, und zwar zeigt Abb. ι einen Schnitt durch den Horizontalkreis,
Abb. 2 und 3 das Gesichtsfeld in zwei Meß-Stellungen.
Mit dem Dreifuß 1 ist der die Teilung 2 tragende Glasring 3 fest verbunden. In der Hohlachse 4 des Dreifußes ist die Achse 5 drehbar gelagert, die das Gehäuse 6 für die optische Ablesung des Teilkreises trägt. Diese besteht aus den Objektiven 7 und 8, die im Abstand ihrer Brennweite von zwei gegenüberliegenden Teilungsstellen des Teilkreises 2 angeordnet sind. Hinter den Objektiven sind zwei rechtwinklige 45°-Prismen 9 und 10, mit der gemeinsamen Glasplatte 11 verkittet, gelagert, von denen das letztere mit einer Dachkante versehen ist. In den beiden nach oben abgelenkten Strahlengängen steht der Prismenkeil 12 und das Porroprisma 13, das die Umlenkung von i8oo: bewirkt. Der Prismenkeil 12 ist in der durch den Triebknopf 14 zu betätigenden, mit der Verzahnung 15 versehenen Hülse gefaßt und trägt auf seiner Stirnfläche 16 die Unterteilung für die Hauptteilung des Teilkreises 2. Die Unterteilung wird durch das Objektiv 17 über das rhombische Prisma 18 in das Gesichtsfeld des zur Ablesung des Teilkreises 2 bestimmten Okulars 19 abgebildet. In den Okular strahlengang ist noch das Prisma 20 eingeschaltet, um die abbildenden Strahlen zur bequemeren Beobachtung nach oben abzulenken.
Nachdem der Horizontalkreis die für die Meßaufgabe erforderliche Stellung erhalten hat, erscheint beim Einblick in das Okular 19 das in Abb. 2 dargestellte Bild, wobei der Ausschnitt 21 die Unterteilung enthält und in dem Ausschnitt 22 nach oben gekehrt ein zum Okular 19 entfernt liegender Abschnitt und im Ausschnitt 23 ein zunächst liegender Abschnitt der Hauptteilung erscheinen. Um nun die Werte der Unterteilung festzulegen, wird durch Betätigen des Stellknopfes 14 der Keil 12 so lange gedreht, bis zwei benachbarte Teilstriche der Hauptteilung zusammenfallen. Der Ausschnitt 21 enthält dann den Unterteilungswert. Im Ausführungsbeispiel ergibt sich so, gemäß der Abb. 3, der Wert 100,366, bei Schätzung der vierten Dezimale 100,3657.

Claims (2)

PATENTANSPRÜCHE:
1. Optisches Mikrometer, dadurch gekennzeichnet, daß nur ein Keil angeordnet ist und daß das Strahlenbündel durch optische Mittel, insbesondere spiegelnde Flächen, so gelenkt wird, daß es den Keil zweimal in zueinander höhenversetztem Zustand durchläuft.
2. Optisches Mikrometer, nach Anspruch i, das zur Erfassung der Unterteilung eines Hauptteilungsmaßstabes dient, dadurch gekennzeichnet, daß die Werte der Unterteilung auf der Stirnfläche des kreisscheibenförmig ausgebildeten Keiles aufgetragen sind.
DEL108674D 1942-08-11 1942-08-11 Optisches Mikrometer Expired DE762029C (de)

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DEL108674D DE762029C (de) 1942-08-11 1942-08-11 Optisches Mikrometer

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Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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None *

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