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Strahlenablenkungssystem für Basisentfernungsmesser, insbesondere
an photographischen Kameras Die Erfindung betrifft ein der Bildverstellung dienendes
Strahlenablenkungssystem für Basisentfernungsmesser, insbesondere an photographischen
Kameras, wobei in solcher Anwendung,das System in an sich bekannter Weise durch
Kupplungsmittel-mit dem Objektivträger der Kamera verbunden ist. An diese Kupplungsmittel
und -den Einstellmechanismus für die Meßstrahlenverschiebung werden im allgemeinen
hohe Anforderungen, bei !der kleinen Basis solcher Entfernungsmesser bedingt - durch
die sehr kleinen Winkelbeträge der Meßstrahlenablenkungen, gestellt, die sich im
praktischen Gebrauch nicht immer streng verwirklichen lassen. Die durch die Kupplungsmittel
an sich und durch deren Abnutzung im Gebrauch entstehenden Übertragungsfehler machen
sich besonders bei einer Meßstrahlenablenkung durch DT-ehung des einem der beiden
Entfernungsmesserendspiegel bemerkbar, da auf Grund des Reflexionsgesetzes jeder
Endspiegeldrehung a eine doppelt so große Änderung der Meßstrahlenablenkung w --.-
2 a entspricht.
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Man ist dazu übergegangen, die Meßstrablenablenkung durch optische.
Mikrometer, -das sind linsen- oder prismentörmige, zusammengesetzte optische Keile
veränderlicher Ablenkungsstärke, zu erzielen. Aber auch bei Anw end'ung solcher
optischer Mikrometer steht nur - ein verhältnismäßig geringer Vers.tellungsweg für
die Systemteile zur Verfügung, sofern nicht -drehbare Ablenkkeile verwendet werden,
die aber zu ihrer Herstellung einen unverhältnismäßig hohen Genauügkeitsau:fwand
erfordern, wenn eine ausreichend hohe Einstellgenauigkeit erzielt werden soll.
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Es wurde deshalb. auch bereits ein Endspiegelsystem: vorgeschlagen,
bei welchem gleichzeitig mit der Spiegeldrehung ein oder mehrere Mikrometersysteme
in Form von Schwenklinsen, verstellt werden, wobei :die durch das oder die Mikrometer
bewirkte
Strahlenablenkugg der Spiegelablenkung ent-,gegengerichtet
ist, also die Gesamtablenkung gleich der Dnfferenz von Endspiegelablenkung minus
Mikrometerablenkung ist.
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Mit der Erfindung wird eine wesentliche bauliche Vereinfachung von
Ablenkungssysternen insbesondexe der letzteren Art erstrebt. Die Erfindung geht
aus von .einem zwischen den beiden festen Endreflektoren eines besonders für photographische
Zwecke bestimmten Basisentfernungsmessers angeordneten, der Bildverschiebung dienenden
Strahlenablenkungssystem und besteht darin, daß das aus zwei optischen Mikrometerelementen,
deren jedes aus einer plankonvexen und einer plankonkaven Linse von verschiedener
Glasart zusammengesetzt ist, bestehende Strahlenablenkungssystem so in .den E.ntfernungsmesserstrahlengangeingeschaltet
ist, daß bei gleichzeitiger und gleichsinniger Bewegung -der Verstellungselemente
jedes der beiden Mikrometerelemente eine Strahlenablenkung bewirkt, die gleich der
Differenz der Einzelablenkungen jedes der beiden Mikrometereleinente ist. Die beiden
Positivlinsen der Mikrometerkombination- sind bei einer besonderen Ausführung des
Erfindungsgegenstandes mit ihren Planflächen unter Einführung entsprechender Linsendicken
aneinandergekitteit und zwischen den entgegengesetzt gekrümmten Flächen der Negativlinsen
drehbar angeordnet. Bei einer weiteren Ausführungsform des Erfindungsg egenstandes
stehen in der Unendlichkeitsstellung der Teile die Innenflächen des drehbaren Mikrameterteiles
senkrecht zum Entfernungsmes:serstrahlengang.
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Durch die erfindungsgemäße Ausbildung sind bei dem neuen System für
die Meßstrahlenablenkung große Drehwinkel der Ablenkungsteile erforderlich, die
ein Vielfaches der Meßstrahlenablenkung betragen. Damit können bei einfachster Ausbildung
der Teile Einstellungsungenauigkeiten weitgehend: vermieden werden.
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Die Zeichnung zeigt schematisch ein Ausführu;ngsbeispiel :des Erfindungsgegenstandes,
wobei darstellen: Abb. i das neue Strahlenablenkungssystem in Ruhelage der Teile,
Abb.2 das System in veränderter Lage der Verstellungselemente und Abb. 3 das neue
System eingebaut in einen nicht zum Gegenstand der Erfindung gehörenden Basisentfernungsmesser
für photographische Kameras.
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In Abb. i ist ein positiver Mikrometerteil. dargestellt, welcher aus
zwei mit ihren Plan-Rächen miteinander verkitteten Plankonvexlinsen i, 2 besteht
und um eine zweckmäßig in der Ebene dieser Kittfläche 3 liegende, Achse 4 drehbar
ist. 5 und 6 sind negative Linsen, zwischen denen der verkittete Systemteil i, 2
so angeordnet ist, daß die einander zugekehrten Flächen dieser Systemteile i, 2
und 5, 6 eine gleichgerichtete Krümmung aufweisen; der Krümmungsmittelpunkt fällt
in dem Beispiel nach der Zeichnung mit dem Mittelpunkt der Achse q. des Systems
zusammen.
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Diese Mikrometerkombination ist zwischen den Endspiegeln 7 und 3 eines
an sich bekannten Basisentfernungsmessers angeordnet, wobei der Endspiegel 7 teilweise
durchlässig ausgebildet ist. A bezeichnet die Einblickseite für das Auge des Beobachters,
und der Strahlengang ist durch strichpunktierte Linien angedeutet.
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Wesentlich ist nun, daß die beiden Mikrometerelemente i, 5 und 2,
6 aus verschiedenen Glasarten bestehen. Das Mikrometerelement i, 5 besteht beispielsweise
aus einem Glase mit dem Brechwert n = i, 5o rund das Mikrometer 2, 6 beispielsweise
aus einem Glase mit dem Brechwertu'= 1,65, Bei einer Stellung der Teile gemäß Abb.
i, die einer Einstellung der Kamera auf »Unendlich« entspricht, erfolgt an der Kittfläche
3 des Systems keine Meßstrahlenablenkung ; wird dagegen der drehbare Teil i, 2 der
Mikio.meterkombination um die Achse q. gedreht, beispielsweise um den Wert a, so
erfolgt, wie in Abb. 2 gezeigt, an der nunmehr schräg zur Strahlenrichtung liegenden
Kittfläche 3 des Systems eine Meßstrahlenablenkung ca, die zu dem Drehwert a in
folgender Beziehung steht:
Beträgt, wie vorerwähnt, der Brechwert ia ,des ersten Mikrometerelements gleich
i,5o, der des nachfolgenden Systems n' = 1,65,
so ist
also beträgt in diesem Ausführungsbeispiel die Meßstrahlenablenkung c) nur
vom Drehwert a :des verkitteten Systemteils i, 2. Dadurch sind also bereits für
geringe Meßstrahlenablenkungen verhältnismäßig große Drehwerte für den verkitteten
Mikrometerteil erforderlich, so daß das neue System besonders unempfindlich gegen
Fehler der das System mit dem Objektivträger verbindenden übertragungsmittel ist.
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Abb.3 zeigt eine Anwendung des Erfindungsgegenstaxides auf einen Entfernungsmesser
für photographische Kameras, wobei alle Teile zweckmäßig in einem Gehäuse 9 untergebracht
sind. Die neue Mikrom@eterkpmbination
i bis 6 ist zwischen den
als Strahlenteilungssystem und Prisma ausgebil-,d,eten Endreflektoren 7 und 8 angeordnet,
wo-. bei .dem System 7 auf der Einblickseite A ein Okular io vorgeordnet ist.
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Der Objektivträger der nicht dargestellten photographischen Kamera
ist durch ein Gestän:ge i i mit einem um einen Zapfen i 2 drehbaren zweiarmigen
Hebel 13, i q. gelenkig verbunden, wobei der Hebelarm- i q. an seinem freien Ende
mittels einer Rolle 15 einem kurvenförmigen Zapfen 16 anliegt, der an dem drehbaren
Teil i, 2 des Mikrometersystems angeschlossen ist.
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Wird das Gestänge i i durch die Objektivver.stellung in Richtung ödes
eingezeichneten Pfeiles I bewegt, so erfährt das verkittete System i, 2 eine entsprechende
Direhbewegang im Sinne -des Pfeiles II, wobei die durch Abb.2 veranschaulichte und
bereits beschriebene Strahlenablealkung erfolgt.