DE6610203U - Belichtungsmesser fuer elektronenmikroskopische aufnahmen. - Google Patents

Description

j · Belichtunismesser für eiektronenmikroskopische Aufnahmen»

Dr.A. Berger

Die Erfindung für die ein Gebrauchsmusterschutz beantragt wird betrifft einen Belichtungsmesser füi photographische Aufnahmen j der Leuchtschirmbilder von Liektronenniikroskopen.

Es zeigt sich in der Praxis, d_aß es schwierig ist, Belichtungszeiten für verschiedene elektronenmikroskopische Präparate auf Grund von Erfahrungen zu wählen, in den meisten Fäilen werden die fehlbelichteten Platten die Zahl der nutzbaren Photoaufnahmen * übertreffen. Der naheliegende Gedanke, photoelektrische Belichtungsmesser zur Feststellung der Belichtungszeit zu benutzen, erwies sich als unmöglich wegen zu geringer Empfindlichkeit der Meßgeräte. Selbst die empfindlichen Belichtungsmesser, die im normalen Photohandel zu haben sind, erweisen sich als unzureichend, da bei voller Aussteuerung des Strahlstroms im elektronenmikroskop nur ein Ausschlag von 2-3 mm zu erzielen ist. Es wird also in diesem Falle keine exakte Lichtmessung ausgeführt, sondern nur eine qualitative Art der Lichtbestimmung. Ziel der Erfindung ist es, ein Gerät zu schaffen, mit dem eine quantitative Lichtmessung möglich ist.

Erfinduugsgemäß enthält ein ßelichtunf;smeßgerät für Elektronenmikroskope udgl. eine in der Farbe des ausgesandten Lichtes an dem Leuchtschirm des Llektronenmikroskopes angepasste n.lektrolumineszenzplatte^ die einem elektrischen iVechselfeld ausgesetzt werden kann einen Kegler, mit dem die Stärke des elektrischen Wechselfeldes verändert und damit die Leuchtdichte der Elektrolumineszenzplatte an diejenige des Leuchtschirmes angeglichen werden kann, sowie eine Anzeigevorrichtung für die Stärke des elektrischen Wechselfeldes. uieser Belichtungsmesser ermöglicht die .v.essung sehr kleiner Leicht starken und et* Iaht sich in einfacher Weise aus bekannten Bauteilen aufbauen.

^lektrolumineszenzplatien, wie sie seit einigen Jahren bekannt sind, bestehen beispielsweise aus Aian^an dotiertem iinksulfid-Hiosphor, der durch elektrische '.techselfeldstärken zum Leuchten angeregt wird, uie Lieuchtstärke dieser sogenannten ^lektro-Lumineszenzplatten sie müßten eigentlich i^lektro-Fluoreszenzplatten heißen - sind nicht sehr hoch, bie liegen bei den üblichen Betriebsbedingungen wesentlich unter einem Lux. oie sind bisher auch nur als Orientierungsleuchten zur Beleuchtung von Meßinstrumenten, Skalen und dergleichen

verwendet worden. Für den erf indungsgeinäßen Belichtungsmesser sind Platten erforderlich, derem Licht ähnlich dein der Leuchtschirme von Elektronenmikroskopen ist, da ein subjektiver Helligkeitsvergleich durchgeführt wird. Die .Regelung der Leuchtstärke der Platten erfolgt zweckmäßigerweise durch ein Potentiometer mit vorgeschalteten Widerständen. Die Skala des Potentiometers eicht man empirisch in Belichtungszeiten von Sekunden für die beim Elektronenmikroskop verwendeten riattensOrten. Nach bisherigen Erfahrungen kann zunächst ein Belichtungsspielraum zwischen einer achtel Sekunde bis herauf auf 8 Sekunden vorgesehen werden. Längere Belichtungszeiten waren nicht nötig, da die zeitliche Haltbarkeit der elektronenniikroskopischen Binder dies nicht zuließ. Der subjektive Helligkeitsvergleich kann ohne besondere Hilfsmittel vorgenommen werden. Versuche haben gezeigt, daß sich bei der Verwendung dieses Elektro-Luminiszenz-Photometers durch Personen verschiedener Augenempfindlichkeit sich recht gute Übereinstimmungen in den Belichtungszeiten ergaben. Die Differenzen der ermittelten Belichtungszeiten lagen im Spielraum der durch die photographische Entwicklung korrigierbaren Fehler. Der Ausschuß an nicht verwendbaren photographischen Aufnahmen war dadurch nur noch geringfügig.

Eine wesentlich größere Genauigkeit wird erreicht, wenn gemäß einer iVeiterentwicklung des Erfindungsgedankens zusätzlich eine optische Einrichtung verwendet wird, bei der die zu vergleichenden Leuchtdichten in bekannter Weise so in das Blickfeld eines Okulars eingespiegelt werden, daß sie jeweils die Hälfte des Blickfeldes einnehmen. Im Prinzip ähnelt der Aufbau Lummer-Brodhun' sehen iVürfei.

Claims (2)

Schutzansprüche

1. Belichtungsiaeßgerät für Elektronenmikroskope und dergl. dadurch gekennzeichnet, daß es eine in der Farbe des ausgesandten Lichtes an den Leuchtschirm des Elektronenmikroskopes angepaßte Elektroluminisζenzplatte enthält, die einem elektrischen Wechselfeld ausgesetzt werden kann, einen Regler, mit dem die Stärke des elektrischen Feldes verändert und damit die Leuchtdichte der Elektroluminiszenzplatte an diejenige des Leuchtschirmes angeglichen werden kann sowie eine Anzeigevorrichtung für die Stärke des elektrischen Wechselfeldes.

2. Belichtungsmeßgerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine an sich bekannte optische Vorrichtung zum subjektiven photometrischen Vergleich der beiden Leuchtdichten nach dem Teilbildverfahren.