DE3916184A1 - Glanzmessvorrichtung - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung des Glanzes einer
Oberfläche, beispielsweise von Fußböden, lackierten Oberflächen und
dergleichen.
Das optische System einer gattungsgemäßen Vorrichtung zur Glanzmessung
weist den in Fig. 2 dargestellten Aufbau auf. Eine Lichtquelle (Projektor) 21 und
ein Detektor (Lichtempfänger) 22 sind dabei derart angeordnet, daß sich ihre
entsprechenden Hauptachsen 21 a bzw. 22 a auf der zu messenden Oberfläche 23
schneiden und symmetrisch zur durch diesen Schnittpunkt gehenden und auf der
Oberfläche errichteten Senkrechten 24 sind. Das bedeutet, daß der Winkel α
zwischen der Hauptachse 21 A und der Senkrechten 24 dem zwischen der
Senkrechten 24 und der Hauptachse 22 A vorhandenen Winkel β entspricht. Ein
von der Lichtquelle 21 ausgehendes Licht wird über eine Optik 25 auf die zu
messende Oberfläche aufgestrahlt und das spiegelnd reflektierte Licht
(Glanzlicht) wird über eine weitere Optik 26 und einen Spalt 27 dem Detektor 22
zugeführt. In dieser bekannten Vorrichtung zur Glanzmessung wird als
Lichtquelle eine kontinuierlich leuchtende Wolframlampe verwendet.
Aufgrund der Verwendung der Wolframlampe als Lichtquelle 21 treten folgende
Nachteile auf:
- (1) Da die Lichtquelle 21 beheizt ist und eine relativ lange Aufwärmphase benötigt bis sie thermisch stabilisiert ist, kann nicht sofort nach dem Einschalten der Vorrichtung eine Messung durchgeführt werden.
- (2) Da das ständig von der Wolframlampe abgehende Licht sichtbares Licht ist, kann die Messung durch Streulicht beeinflußt werden, so daß nach jeder Lichtveränderung der Umgebung eine neue Kalibrierung notwendig ist.
- (3) Da die Wolframlampe ständig leuchtet, weist sie einen hohen Stromverbrauch und einen verstärkten Verbrauch der Zellen auf, die dadurch häufig gewechselt werden müssen. Hinzu kommt, daß die Vorrichtung große Abmessungen und ein hohes Gewicht aufweist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zur Glanzmessung zu
schaffen, die auf technisch einfache Weise störungssichere Messungen
ermöglicht und gleichzeitig einen geringeren Stromverbrauch und eine
verbesserte Handhabung gewährleistet.
Diese Aufgabe wird bei einer gattungsgemäßen Vorrichtung zur Glanzmessung
erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß eine Lichtquelle verwendet wird, die Nahes
Infrarotlicht intermittierend abgibt.
Da das Nahe Infrarotlicht beispielsweise von einer Leuchtdiode abgegeben
werden kann, wird keine Heizung und auch keine Aufwärmzeit benötigt, so daß
eine Messung sofort nach dem Einschalten der Vorrichtung möglich ist.
Besonders vorteilhaft ist auch, daß das auf der zu messenden Oberfläche
aufgestrahlte Nahe Infrarotlicht nicht von Streulicht der Umgebung beeinflußt
wird. Der Stromverbrauch der Vorrichtung ist dadurch reduziert, daß das Nahe
Infrarotlicht lediglich intermittierend abgegeben wird. Dadurch ist es für eine
lange Zeitspanne nicht notwendig, selbst Zellen mit geringer Leistung
auszuwechseln.
Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der folgenden
Beschreibung eines Ausführungsbeispiels und den Zeichnungen, auf die Bezug
genommen wird. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Vorrichtung zur Glanzmessung
gemäß eines ersten Ausführungsbeispiels; und
Fig. 2 eine Skizze des optischen Systems einer bekannten
Vorrichtung zur Glanzmessung.
In Fig. 1 ist mit der Bezugszahl 1 eine Nahes Infrarotlicht emittierende Diode (im
folgenden Nahes Infrarot LED 1) bezeichnet, die Nahes Infrarotlicht mit einen
Spitzenleuchtwert abgibt, dessen Wellenlänge beispielsweise bei 0,88 µm liegt.
Die Nahes Infrarot LED 1 dient als Lichtquelle für auf eine zu messende Oberfläche
aufzustrahlendes Licht.
Die Bezugszahl 2 bezeichnet eine Treiberimpulsstufe, die die Nahes Infrarot LED 1
derart ansteuert, daß sie intermittierend Licht aussendet. Diese
Treiberimpulsstufe 2 gibt auf der Grundlage eines Impulsausgangs einer
Ansteuerung 3 einen Treiberimpuls im Verhältnis von 1/20 ab, wobei ein
Abstrahlzyklus 1 Millisekunde und die Abstrahldauer 50 Mikrosekunden
umfassen.
Eine Photodiode 4 mit einer größten Sensitivität für eine Wellenlänge von
beispielsweise 0,9 µm dient als Detektor für das von der Nahes Infrarot LED 1
abgegebene und von der zu messenden Oberfläche reflektierte Licht. Diese
Photodiode 4 ist bezüglich der Nahes Infrarot LED 1 an einer festen Position
angeordnet.
Der Ausgang der Photodiode 4 wird von einem Vorverstärker 5 in geeigneter Weise
verstärkt und über einen als Hochpaßfilter dienenden und den Gleichstrom
abtrennenden Kondensator 6 einer Spitzenwerthalteschaltung 7
(Spitzenklemmung) zugeführt. Eine nachgeschaltete Ausgang-Regelschaltung ist
mit der Bezugszahl 8 gekennzeichnet und ist mit einem Analog/Digitalwandler 9
verbunden. An den Analog/Digitalwandler 9 ist eine Anzeige 10 angeschlossen,
die beispielsweise aus einer Flüssigkristall-Sichtanzeige bestehen kann.
Zusätzlich vorhanden sind, in der Zeichnung nicht dargestellt,
Bedienungselemente, die aus einem Schalter für die Stromversorgung und einem
Schalter zum Halten des dargestellten Werts bestehen und ferner Nullpunkt-
Einstellungs- und Empfindlichkeits-Einstellungselemente und ähnliches
umfassen. Die oben beschriebenen entsprechenden Teile können mittels
entsprechenden Schaltern oder ähnliches reguliert und betrieben werden.
Da in der Vorrichtung zur Glanzmessung, die die oben beschriebene Konstruktion
aufweist, als Lichtquelle für ein auf die zu messende Oberfläche aufzustrahlendes
Licht eine Nahes Infrarotlicht emittierende Leuchtdiode verwendet wird, muß die
Lichtquelle nicht beheizt werden und braucht auch keine Aufwärmphase, so daß
eine Messung sofort nach dem Einschalten der Vorrichtung durchgeführt werden
kann. Da Nahes Infrarotlicht auf die zu messende Oberfläche aufgestrahlt wird,
das als reflektiertes Licht von einem Detektor aufgenommen wird, kann die
Messung nicht von Streulicht aus der Umgebung beeinflußt und gestört werden.
Insbesondere kann dann, wenn der Ausgang der Photodiode 4 über den
Vorverstärker 5 geführt und der Gleichstrombereich durch den Kondensator 6
abgetrennt sowie die Spitzenwertspeicherung in der Spitzenwerthalteschaltung 7
durchgeführt wird, der Einfluß der Umgebungshelligkeit vollständig beseitigt
werden. Dadurch ist die Funktion spürbar verbessert, weil eine neue Kalibrierung
nicht mehr notwendig ist, wenn sich die Umgebungshelligkeit oder das
Umgebungslicht ändert. Hinzu kommt, da das Nahe Infrarotlicht lediglich
intermittierend abgegeben wird, daß der Stromverbrauch der Lichtquelle
reduziert ist. Dadurch ist die Handlichkeit spürbar verbessert, weil
beispielsweise sogar Zellen geringerer Leistung für einen langen Zeitraum nicht
ausgewechselt werden müssen und die Vorrichtung verkleinert und ihr Gewicht
reduziert werden kann.
Da die erfindungsgemäße Vorrichtung Nahes Infrarotlicht auf die zu messende
Oberfläche aufstrahlt, kann die Messung ebenfalls nicht durch den Farbton der zu
messenden Oberfläche beeinflußt werden, wodurch die gewünschte
Glanzmessung richtig und fehlerfrei durchgeführt werden kann.
Erfindungsgemäß reicht es aus, Nahes Infrarotlicht intermittierend
abzustrahlen. Es ist selbstverständlich, daß der Zyklus, bei dem Nahes
Infrarotlicht intermittierend abgestrahlt wird, nicht auf das oben beschriebene
Ausführungsbeispiel beschränkt ist.
Da als Lichtquelle jede Nahes Infrarotlicht emittierende Lichtquelle verwendet
werden kann, ist der Einsatz eines Halbleiterlasers ebenfalls möglich. Ferner
kann jeder auf Nahes Infrarotlicht ansprechende Detektor verwendet werden. Es
können ebenfalls andere Photorezeptoren als die Photodiode 4 verwendet
werden. Weiter ist es möglich, in dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel
anstelle des Vorverstärkers 5, der Spitzenwerthalteschaltung 7 und der Ausgang-
Regelschaltung 8 für den Ausgang der Photodiode 4 eine
Gleichrichtungsschaltung vorzusehen. Des weiteren kann als Anzeige 10 eine
Röhre mit fluoreszierender Anzeige oder eine Leuchtdiode eingesetzt werden.
Wie oben beschrieben, gibt eine Lichtquelle der Vorrichtung zur Glanzmessung
Nahes Infrarotlicht intermittierend ab, wodurch die Lichtquelle einerseits keine
Heizung und andererseits keine Aufwärmphase benötigt. Deshalb kann die
Messung sofort nach Einschaltung des Geräts durchgeführt werden. Die Messung
wird nicht durch umgebendes Streulicht beeinflußt und es ist keine Kalibrierung
notwendig, wenn sich die Umgebungshelligkeit ändert. Zusätzlich ist der
Stromverbrauch der Lichtquelle reduziert. Demgemäß brauchen selbst Zellen
mit geringer Leistung für einen langen Zeitraum nicht ausgewechselt zu werden
und die Vorrichtung kann als Ganzes mit geringen Abmessungen und mit
geringerem Gewicht hergestellt werden.
Da sich die Vorrichtung zur Glanzmessung durch besonders gute Funktion und
leichte Handhabbarkeit auszeichnet, ist sie besonders für Sofortmessungen
geeignet, also für Messungen, die keiner großen Vorbereitungszeit bedürfen.
Claims (6)
1. Vorrichtung zur Glanzmessung, mit einer Lichtquelle zum Bestrahlen einer
zu messenden Oberfläche und mit einem Detektor, der von der Oberfläche
reflektiertes Licht aufnimmt, dessen Ausgangssignal nach Verstärkung eine
Lichtanzeige erregt, dadurch gekennzeichnet, daß eine Lichtquelle (1) verwendet
wird, die Nahes Infrarotlicht intermittierend abgibt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle
eine Nahes Infrarotlicht emittierende Diode (1) ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle
ein Halbleiterlaser ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor eine Photodiode (4) ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß das Ausgangssignal des Detektors (4) einer Reihenschaltung zur Verarbeitung
zuführbar ist, die aus einem Vorverstärker (5), einem Kondensator (6), einer
Spitzenwerthalteschaltung (7), einer Ausgangs-Regelschaltung (8), einem
Analog/Digitalwandler (9) und einer Anzeige (10) besteht.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß das Ausgangssignal des Detektors (4) einer Gleichrichtungsschaltung zur
Verarbeitung zuführbar ist.
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