JPH01299442A - 光沢測定装置 - Google Patents
光沢測定装置Info
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- 239000002932 luster Substances 0.000 title abstract 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01J1/44—Electric circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、床表面等の物体の表面の光沢を測定する装置
に関する。
に関する。
[従来の技術〕
上記光沢測定装置の光学系は、例えば第2図に示すよう
に、光源(投光器)21と検出器(受光器)22とを、
それぞれの中心線21^、22Aが被測定面23に対し
て鉛直な方向24となす角度α、βとが互いに等しくな
るように配置し、光源21からの光を光学レンズ25を
介して被測定面23に照射し、この被測定面23におけ
る反射光を光学レンズ26及びスリット27を介して検
出器22に入射させるようにしである。
に、光源(投光器)21と検出器(受光器)22とを、
それぞれの中心線21^、22Aが被測定面23に対し
て鉛直な方向24となす角度α、βとが互いに等しくな
るように配置し、光源21からの光を光学レンズ25を
介して被測定面23に照射し、この被測定面23におけ
る反射光を光学レンズ26及びスリット27を介して検
出器22に入射させるようにしである。
そして、従来の光沢測定装置においては、光源21とし
てタングステンランプを用い、これを連続発光させるよ
うにしていた。
てタングステンランプを用い、これを連続発光させるよ
うにしていた。
しかしながら、上述のように光源2Iとしてタングステ
ンランプを用いた場合、次のような欠点がある。即ち、 ■光源21が発熱すると共に、熱的に安定するまでの時
間が長く、ウオームアツプが必要であるため、電源投入
後直ぐに測定を行うことができない。
ンランプを用いた場合、次のような欠点がある。即ち、 ■光源21が発熱すると共に、熱的に安定するまでの時
間が長く、ウオームアツプが必要であるため、電源投入
後直ぐに測定を行うことができない。
■タングステンランプの連続発光による光は可視光であ
るから、測定時に周囲の迷光の影響を受は易く、周囲の
明るさが変わった場合、その都度校正する必要がある。
るから、測定時に周囲の迷光の影響を受は易く、周囲の
明るさが変わった場合、その都度校正する必要がある。
■タングステンランプを連続発光させるため、光源21
における消費電力が大きく、電源としての電池の消耗が
激しく、頻繁にこれを取り替えたりする必要がある。そ
して、容量の大きい電池を使用すれば、装置全体が大型
かつ重量化するといった不都合がある。
における消費電力が大きく、電源としての電池の消耗が
激しく、頻繁にこれを取り替えたりする必要がある。そ
して、容量の大きい電池を使用すれば、装置全体が大型
かつ重量化するといった不都合がある。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、操作性及び携帯性を改善した有用
な光沢測定袋ぼを提供することにある。
目的とするところは、操作性及び携帯性を改善した有用
な光沢測定袋ぼを提供することにある。
上述の目的を達成するため、本発明に係る光沢測定装置
は、光源から近赤外光を間欠発光させるようにしている
。
は、光源から近赤外光を間欠発光させるようにしている
。
上記構成によれば、近赤外光は例えば近赤外LEDによ
って発することができるので、光源における発熱がない
と共に、ウオームアツプが不要であるから、電源投入後
直ぐに測定することができる。そして、被測定面に近赤
外光を照射しその反射光を検出するものであるから、測
定時に周囲の迷光の影響を受けることがない。又、近赤
外光を間欠発光させるだけであるから光源における消費
電力が少なく、従って、小容量の電池でも長期に亘って
取り替える必要がない。従って、上記目的は完全に達成
される。
って発することができるので、光源における発熱がない
と共に、ウオームアツプが不要であるから、電源投入後
直ぐに測定することができる。そして、被測定面に近赤
外光を照射しその反射光を検出するものであるから、測
定時に周囲の迷光の影響を受けることがない。又、近赤
外光を間欠発光させるだけであるから光源における消費
電力が少なく、従って、小容量の電池でも長期に亘って
取り替える必要がない。従って、上記目的は完全に達成
される。
以下、本発明の一実施例を、図面を参照しながら説明す
る。
る。
第1図は本発明に係る光沢測定装置の一構成例を示すも
ので、同図において、1は被測定面(図外)に対して光
を発する光源としての例えば発光ピーク波長0.88μ
鳳の近赤外光を発する近赤外発光ダイオード(以下、近
赤外光LEDと云う)である。
ので、同図において、1は被測定面(図外)に対して光
を発する光源としての例えば発光ピーク波長0.88μ
鳳の近赤外光を発する近赤外発光ダイオード(以下、近
赤外光LEDと云う)である。
2は近赤外光LED 1を間欠発光させるための7<ル
ス発光駆動回路で、発振回路3からのパルス出力に基づ
いて、例えばデエーテイl/20 (発光周期] m5
ec、発光時間50μsec )の駆動パルスを出力す
る。
ス発光駆動回路で、発振回路3からのパルス出力に基づ
いて、例えばデエーテイl/20 (発光周期] m5
ec、発光時間50μsec )の駆動パルスを出力す
る。
4は近赤外光L E D 1から発せられ、被測定面に
おいて反射した光を検出する検出器としての例えば感度
ビーク波長0 、9 pllのフォトダイオードで、近
赤外光LED 1に対して所定の位置に設けられている
。
おいて反射した光を検出する検出器としての例えば感度
ビーク波長0 、9 pllのフォトダイオードで、近
赤外光LED 1に対して所定の位置に設けられている
。
5はフォトダイオード4の出力を適宜増幅するプリアン
プ、6はバイパスフィルタとしての例えば直流分カット
コンデンサ、7はピークホールド回路、8は出力調整回
路、9はA/Dコンバータ、10はデイスプレィとして
の例えば液晶表示パネルである。
プ、6はバイパスフィルタとしての例えば直流分カット
コンデンサ、7はピークホールド回路、8は出力調整回
路、9はA/Dコンバータ、10はデイスプレィとして
の例えば液晶表示パネルである。
尚、図示してないが、電源オンオフスイッチ。
表示値ホールドスイッチ、ゼロ点調整・感度調整ボリウ
ム等を備えた操作部が設けてあり、上記各部はそれぞれ
のスイッチ等により調整、操作するようにしである。
ム等を備えた操作部が設けてあり、上記各部はそれぞれ
のスイッチ等により調整、操作するようにしである。
而して、上記構成の光沢測定装置においては、被測定面
を照射する光源として近赤外光LED 1を用いている
から、光源における発熱がないと共に、ウオームアツプ
が不要であるから、1!源投入後直ぐに測定することが
できると共に、被測定面に近赤外光を照射しその反射光
を検出するものであるから、測定時に周囲の迷光の影響
を受けることがなく、特に、上記実施例のように、フォ
トダイオード4の出力はプリアンプ5を通過後、コンデ
ンサ6において直流分をカットされ、更に、ピークホー
ルド回路7においてピークホールドされるよう記した場
合、周囲の明るさによる影響を完全になくすことができ
、周囲の明るさが変わってもその都度校正する必要がな
くなる等その操作性が著しく改善される。又、近赤外光
を間欠発光させるだけであるから光源における消費電力
が少なく、従って、小容量の電池でも長期に亘って取り
替える必要がないと共に、小型並びに軽量化することが
できる等その携帯性が大幅に改善される。
を照射する光源として近赤外光LED 1を用いている
から、光源における発熱がないと共に、ウオームアツプ
が不要であるから、1!源投入後直ぐに測定することが
できると共に、被測定面に近赤外光を照射しその反射光
を検出するものであるから、測定時に周囲の迷光の影響
を受けることがなく、特に、上記実施例のように、フォ
トダイオード4の出力はプリアンプ5を通過後、コンデ
ンサ6において直流分をカットされ、更に、ピークホー
ルド回路7においてピークホールドされるよう記した場
合、周囲の明るさによる影響を完全になくすことができ
、周囲の明るさが変わってもその都度校正する必要がな
くなる等その操作性が著しく改善される。又、近赤外光
を間欠発光させるだけであるから光源における消費電力
が少なく、従って、小容量の電池でも長期に亘って取り
替える必要がないと共に、小型並びに軽量化することが
できる等その携帯性が大幅に改善される。
更に、本発明においては、近赤外光を被測定面に照射す
るようにしているので、被測定面の色合に影響されるこ
となく、所望の光沢測定を正確に行うことができる。
るようにしているので、被測定面の色合に影響されるこ
となく、所望の光沢測定を正確に行うことができる。
本発明は光源1から近赤外光を間欠発光させるものであ
ればよく、従って、間欠発光させる周期も上記実施例に
示すものに限られることがないことは云うまでもない。
ればよく、従って、間欠発光させる周期も上記実施例に
示すものに限られることがないことは云うまでもない。
そして、光源1としては近赤外光を発生するものであれ
ばよいから、半導体レーザを用いてもよい。又、検出器
4としては前記近赤外光に感度を示すものであればよく
、フォトダイオード以外の受光素子を用いてもよい。更
に、上記実施例において、検出器4の出力を処理するた
めに設けられたプリアンプ5.ピークホールド回路6.
出力調整回路7に代えて、整流回路を設けてもよい。更
に又、デイスプレィ10として、螢光表示管やLEDを
用いてもよい。
ばよいから、半導体レーザを用いてもよい。又、検出器
4としては前記近赤外光に感度を示すものであればよく
、フォトダイオード以外の受光素子を用いてもよい。更
に、上記実施例において、検出器4の出力を処理するた
めに設けられたプリアンプ5.ピークホールド回路6.
出力調整回路7に代えて、整流回路を設けてもよい。更
に又、デイスプレィ10として、螢光表示管やLEDを
用いてもよい。
以上説明したように、本発明に係る光沢測定装置は、光
源から近赤外光を間欠発光させるようにしているので、
光源における発熱がないと共に、ウオームアツプが不要
であるから、電源投入後直ぐに測定することができる。
源から近赤外光を間欠発光させるようにしているので、
光源における発熱がないと共に、ウオームアツプが不要
であるから、電源投入後直ぐに測定することができる。
そして、測定時に周囲の迷光の影響を受けることがなく
、周囲の明るさが変わってもその都度校正する必要がな
くなる。
、周囲の明るさが変わってもその都度校正する必要がな
くなる。
又、光源における消費電力が少なく、従って、小容量の
電池でも長期に亘って取り替える必要がなく、装置全体
として小型並びに軽量化することが可能になった。
電池でも長期に亘って取り替える必要がなく、装置全体
として小型並びに軽量化することが可能になった。
本発明による光沢測定装置は、その操作性及び携帯性が
従来のものと比べて優れているので、特に、現場測定用
として極めて有用である。
従来のものと比べて優れているので、特に、現場測定用
として極めて有用である。
第1図は本発明に係る光沢測定装置の一構成例を示すブ
ロック図である。 第2図は、−船釣な光沢測定装置の光学系部分を示す説
明図である。 1・・・光源(近赤外光LED)、4・・・検出器(フ
ォトダイオード)。 出 願 人 株式会社 堀場製作所代 理 人
弁理士 胚本英夫
ロック図である。 第2図は、−船釣な光沢測定装置の光学系部分を示す説
明図である。 1・・・光源(近赤外光LED)、4・・・検出器(フ
ォトダイオード)。 出 願 人 株式会社 堀場製作所代 理 人
弁理士 胚本英夫
Claims (1)
- 光源から光を被測定面に対して照射し、そのときの反射
光を検出器において検出するようにした光沢測定装置に
おいて、前記光源から近赤外光を間欠発光させるように
したことを特徴とする光沢測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12956188A JP2996300B2 (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 携帯用光沢測定装置 |
DE19893916184 DE3916184A1 (de) | 1988-05-27 | 1989-05-18 | Glanzmessvorrichtung |
KR1019890007086A KR920003041B1 (ko) | 1988-05-27 | 1989-05-26 | 광택 측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12956188A JP2996300B2 (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 携帯用光沢測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01299442A true JPH01299442A (ja) | 1989-12-04 |
JP2996300B2 JP2996300B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=15012536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12956188A Expired - Lifetime JP2996300B2 (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 携帯用光沢測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2996300B2 (ja) |
KR (1) | KR920003041B1 (ja) |
DE (1) | DE3916184A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1160746A2 (en) | 2000-05-09 | 2001-12-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Service information providing method, service information providing apparatus and system |
JP2012013523A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Terumo Corp | 血液成分分析装置および血液成分分析装置用の受光回路 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020030806A (ko) | 1999-09-06 | 2002-04-25 | 유니버시떼 드 리에즈 | 광도계 |
DE10010839C2 (de) * | 2000-03-09 | 2003-12-04 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung und Verfahren zum Ermitteln des Verschmutzungsgrades von zu prüfenden Oberflächen |
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---|---|---|---|---|
JPS52133233A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-08 | Hitachi Shipbuilding Eng Co | Detected signal processing circuit |
JPS56501215A (ja) * | 1979-09-10 | 1981-08-27 | ||
JPS61145436A (ja) * | 1984-12-19 | 1986-07-03 | Nippon Paint Co Ltd | 塗膜外観性状評価方法および装置 |
JPS62127033A (ja) * | 1985-11-26 | 1987-06-09 | 住友電気工業株式会社 | 生体計測装置 |
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AT351295B (de) * | 1977-12-09 | 1979-07-10 | Vianova Kunstharz Ag | Anordnung zur messung des glanzvermoegens von oberflaechen, insbesondere organischer ueberzuege |
DD208670A1 (de) * | 1982-06-29 | 1984-04-04 | Pentacon Dresden Veb | Vorrichtung zur schnellen messung des glanzes beliebiger oberflaechen |
HU190892B (en) * | 1983-04-13 | 1986-12-28 | Mta Mueszaki Fizikai Kutato Intezete,Hu | Aparatus for measuring reflection of the planar surfaces, in particular fluckering meter |
DE3444104A1 (de) * | 1984-12-04 | 1986-06-05 | Alvaro Dr. 6380 Bad Homburg Affonso | Vorrichtung zum messen/speichern/koppeln lichtenergie |
-
1988
- 1988-05-27 JP JP12956188A patent/JP2996300B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-05-18 DE DE19893916184 patent/DE3916184A1/de not_active Ceased
- 1989-05-26 KR KR1019890007086A patent/KR920003041B1/ko not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3916184A1 (de) | 1989-11-30 |
KR900018655A (ko) | 1990-12-22 |
KR920003041B1 (ko) | 1992-04-13 |
JP2996300B2 (ja) | 1999-12-27 |
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