KR20020030806A - 광도계 - Google Patents
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Abstract
수신된 빛의 강도에 비례하는 전류를 생성하기 위해 구성된 광다이오드를 포함하는 광도계로서, 상기 광다이오드는 저항을 통해 대역통과필터가 장착된 연산증폭기에 연결되며, 상기 저항값은 상기 필터의 통과대역에서의 공명피크가 평평하게 되도록 크기가 정해지는 것을 특징으로하는 광다이오드로 구성되는 광도계.
Description
상기 광도계는 US-PS 3.790.288.로부터 알 수있다. 상기 광도계는 입사광원에 의해 방출된 빛의 강도를 결정하는데에 사용된다. 상기 목적을 위하여, 일반적으로 실리슘(silicium)으로 만들어진 입사광을 전류로 변환하는 광다이오드를 포함한다. 연산증폭기는 수신된 빛의 강도를 나타내는 상기 출력전압을 제공하도록 한다. 종래의 디바이스에서, 광다이오드와 연산증폭기의 입력부(entry) 사이에 연결된 저항기, 증폭기의 조정루프(regulation loop)의 양쪽에 존재하는 또 다른 저항기는 상기 루프의 증폭 팩터를 결정한다.
본 발명은 수신된 빛의 강도에 비례하여 전류를 생성하기 위해 구성된 광다이오드(photo diode)를 포함하며, 상기 광다이오드는 저항을 통해 대역통과필터(band-pass filter)가 장착된 연산증폭기(operational amplifier)에 연결되는 광도계에 관련된다.
도 1은 본 발명에 대한 광도계의 전기회로를 도식적으로 도시한다.
도 2-도 6은 각각 10㏀, 1㏁, 1.2㏁, 1.55㏁ 그리고 3.3㏁의 저항에 대한 주파수에 대한 증폭기의 출력부에서의 전력을 도시한 그래프를 도시한다.
도 7은 고전적인 광도계와 본 발명에 따른 광도계사이의 신호의 차이를 도시한다.
종래의 광도계의 단점은 측정의 정밀도가 빛의 강도의 변동에 있어서 0.01%의 정확도가 요구되는 특정한 응용장치에 지나치게 국한된다는 것이다.
본 발명은 0.01% 이하의 정밀도를 얻도록하는 광도계를 구현하는 목적을 갖는다.
상기와 같은 목적을 위해 본발명에 따른 광도계는 저항값은 상기 필터의 통과대역(pass-band)에서 공명피크(the peak of resonance)가 평평하게 되도록 크기가 정해지는 것을 특징으로한다. 본 발명은 증폭기의 조정루프를 형성하는 필터의 통과대역에 존재하는 공명피크가 명확하게 광도계의 정확도를 제한하는 관찰에 기반하는데, 그것은 공명피크의 근처의 주파수 대역에서 모든 측정이 방해받기 때문이다. 상기 피크가 평평하게 되도록 광다이오드와 증폭기사이의 저항값을 정하는 것은 상기 주파수대역을 빛의 강도의 정확한 측정을 할 수 있을 정도로 넓히는데, 증폭기의 이득(gain)이 전체 통과대역에서 실질적으로 일정하기 때문이다.
연산증폭기의 입력부에서의 저항의 사용이 특히 상술한 종래의 기술에서 그 자체로 컴포넌트로 알려져 있고, 또 루프의 증폭 팩터를 결정하도록 함에도 불구하고, 종래 기술에서는 어떤 것도 전자 컴포넌트로서 상기 저항의 사용을 인가하지 않으며, 상기 통과대역에서 공명피크의 에너지를 흡수하도록 인가하지 않는다.
본 발명에 따른 광도계의 제 1의 우선적인 실시는 약 2.5㎑의 공명피크에 대해 저항값이 1㏁과 1.6㏁ 사이에 위치하는 것을 특징으로 한다. 이것은 증폭기의 이득을 광도계에 대해 대부분의 사용하고 있는 통과대역에서 명확하게 일정하게 유지하도록 인가한다.
본 발명에 따른 광도계의 제 2의 우선적인 실시는 상기 증폭기가 상기 전류에 비례하는 전압신호를 공급하기 위해 구성된 출력부(exit)를 포함하고, 상기 출력부는 아날로그-디지털 컨버터에 연결되며, 후자는 상기 전압신호를샘플링(sampling)하고 샘플의 세트를 공급하기 위해 구성된 샘플링 유닛에 연결되는 것을 특징으로 한다. 이것은 디지털 컴퓨터의 상기 신호처리를 인가한다.
대체로, 샘플러의 유닛은 미리 정해진 수의 샘플을 모으고, 그 평균을 결정하기 위해 구성된 어큐뮬레이터(accumulator)에 연결된다. 이것은 전기노이즈를 감소시킨다.
본 발명은 우선적인 본발명의 실시예를 도시한 도면의 도움으로 보다 상세하게 설명될 것이다.
상기 도면에서 동일한 참조사항이 동일한 또는 유사한 요소에 기인한다.
본발명에 따른 그리고 그 우선적인 실시가 도 1에 도시된 광도계(1)는 제 1 입력부, 예를 들면 광다이오드(5)에 연결되고 광다이오드의 활성부분을 나타내는 커패시터, 저항, 전원(current source)을 포함하는 병렬접속(parallel connection)에 의해 형성되는 그것의 동류의 스키마(scheme)에 의해 나타나는 전위계 (electrometer) 형태의 연산증폭기(3)의 반전입구(inverting entry)를 포함한다.상기 광다이오드는 저항(6)에 연속적으로 연결된다.
상기 광다이오드는 대체로 광다이오드의 감지층(sensible layer)을 형성하는 실리슘층의 온도를 측정하는 서미스터(thermistor)를 포함한다. 상기 서미스터는 펠티어효과(Peltier effect)를 이용하는 셀에 연결되며, 광다이오드의 열처리를 인가한다.
차동(differential)증폭기의 조정루프는 저항(10)과 커패시터(11)의 분기점(branching point)에 연결된 커패시터(8)와 저항(9)의 병렬브렌치(parallel branch)를 포함한다. 상기 커패시터(8)와 저항은 노이즈를 감소하도록 인가하는 증폭기(3)의 저주파통과필터(low-pass filter)를 형성한다. 차동증폭기(3)의 한 출력부는 아날로그-디지탈 컨버터(12)에 연결되며, 그 출력부는 샘플링 유닛(13)에 연결된다. 이 샘플링 유닛은 디지털 전압신호의 디지털 데이터를 샘플링 하기위해 구성되며, 컨버터(12)에 의해 설비된다. 샘플링 유닛(13)의 한 출구는 미리 정해진 수의 샘플을 축적(accumulate)하고, 그 평균을 정하기 위해 배열된 어큐뮬레이터(14)에 연결된다. 상기 부분에 대한 어큐뮬레이터는 데이터 프로세싱 유닛(15)이나 전송 유닛(16)에 연결되고, 데이터의 전송을 인가한다.
광다이오드(15)에 의해 수신된 빛은 나중의 것에 의해 수신된 빛의 강도에 비례한 전류로 변환된다. 특별한 측정장치가 없다면, 증폭기는 전체 통과대역에서 일정한 이득을 가질수 없다. 주파수에 따른 증폭기(3)의 출력부에서의 라인(16)에서 출력전압 Vout을 도시한 도 2에 도시된 것처럼, 공명피크가 통과대역에서 약 1.3㎑의 주파수에서 관찰된다. 이 공명피크는 저항이 10㏀의 값을 갖는 광도계로 측정된다.
놀랍게도, 적절한 값으로 저항값(6)을 정하는 것으로 통과대역에서의 현재의 공명피크가 평평하게 되도록 할수 있다는 것이 입증되었다. 사실, 이 저항값을 증가시킴으로써 광다이오드에 의해 제공되는 에너지를 흡수하고 그 결과 공명피크를 평평하게 하는 것이 가능하다. 저항(6)이 1㏁의 값을 포함하는 도 3에서 설명된 것처럼, 공명피크의 강도는 통과대역에서 이미 매우 감소되었다. 오직 약한 공명피크만이 1,25㎑ 주변에 남는다. 도 4에서 상술된 것처럼, 저항(6)의 값을 1.2㏁으로 증가시킴으로써, 더 많은 에너지가 흡수되고, 저항(6)이 1.55㏁의 값일때, 모든 에너지가 흡수되고, 이득은 통과대역에서 매우 일정하다. 상기 측정은 상온에서 수행되어야 한다는 것을 지적할 필요가 있다. 상기 이득은 1과 109사이에 위치한다. 그러나 보다 높은 값에서 광도계의 전기적 컴포넌트에 의해 생성된 전기 노이즈는 더 이상 무시할 수 없다는 것도 지적되어야만 한다.
저항값을 1.6㏁보다 더 높이는 것은 더 높은 값에서 이득이 더이상 일정하지 않기 때문에 바람직하지 않다. 결과적으로 3.3㏁의 값이 사용되는 도 6에 도시된 것처럼, 이미 250㎐의 주파수에서 전압의 감소를 감지해낼 수 있다.
디지털/아날로그 컨버터(12)는 일반적으로 수신된 빛의 강도가 제시간에 빠르게 변화되지 않기 때문에 대체로 20비트에서 작동한다. 이 연속된 20비트 워드(word)는 샘플러(13)에 제공되고, 그것은 이 워드들을 어큐뮬레이터(14)로 전송한다. 사실 광도계는 전기노이즈와 광양자노이즈(photonic noise)의 두 종류의 소스의 노이즈를 생성한다. 전기노이즈는 가우시안(Gaussian)이어서 평균적으로는 0이다. 이 효과를 감소시키기 위해서는, 증폭기에 의해 공급되는 전압의 값의 평균을 구하는 것으로 충분하다. 상기 어큐뮬레이터(14)는 예를 들면 160같은 미리 정해진 샘플의 수를 축적하고 상기 평균을 결정하도록 인가한다. 이것은 측정이 되는 완전한 영역과 최소의 값 사이의 거리를 말하는 측정 영역의 동적상태 뿐만아니라 신호-노이즈의 관계를 증가시키도록 한다. 상기 정확도는 결과적으로 증대되고, 4㎑의 샘플링 주파수에 대해 5.10-3%의 값의 정확도에 도달할 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 광도계가 고전적인 광도계 B보다 명확하게 낮은 노이즈를 가짐을 도시한다.
Claims (4)
- 수신된 빛의 강도에 비례하는 전류를 생성하기 위해 구성된 광다이오드를 포함하는 광도계에 있어서, 상기 광다이오드는 저항을 통해 대역통과필터가 장착된 연산증폭기에 연결되며, 상기 저항값은 상기 필터의 통과대역에서의 공명피크가 평평하게 되도록 크기가 정해지는 것을 특징으로하는 광도계.
- 제 1 항에 있어서,약 2.5㎑의 공명피크에 대해, 저항값이 1㏁과 1.6㏁사이에 있는 것을 특징으로 하는 광도계.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 연산증폭기는 상기 전류에 비례하여 전압신호를 공급하기 위해 구성된 출력부를 포함하고, 상기 출력부는, 상기 전압신호를 샘플링하고 샘플의 세트를 공급하기 위해 구성된 샘플링 유닛에 연결된 아날로그-디지털 컨버터에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 광도계.
- 제 3 항에 있어서,상기 샘플링 유닛이 미리 정해진 수의 샘플을 축적하고 그 평균을 결정하기 위해 구성된 어큐뮬레이터에 연결되는 것을 특징으로하는 광도계.
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