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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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1. Gebiet
der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Plattenlaufwerk, ein Plattenlaufwerk-Steuerungsverfahren und
ein Plattenlaufwerk-Steuerungsprogramm und insbesondere ein Plattenlaufwerk
mit der Fähigkeit, eine
Platte mit versetztem Schwerpunkt richtig zu behandeln, ein Plattenlaufwerk-Steuerungsverfahren zur
richtigen Behandlung einer Platte mit versetztem Schwerpunkt und
ein Plattenlaufwerk-Steuerungsprogramm zur Ausführung des Verfahrens.
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2. Beschreibung der verwandten
Technik
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Ein
Plattenaufzeichnungsmedium wie beispielsweise eine CD weist, wie
es wohlbekannt ist, eine Informationsaufzeichnungsspur (nachfolgend einfach
als „Spur" bezeichnet) oder
-spuren auf, auf der oder denen Daten über einen Lese/Schreib-Kopf (im
Fall einer CD ein optischer Aufnehmer) aufgezeichnet werden. Eine
solche Spur ist generell als Spirale ausgebildet, und in vielen
Fällen
ist diese Spirale aus einem Grund, der beispielsweise eine Genauigkeit
des zentralen Lochs der Platte, eine Kreisform der Platte oder so
betrifft, keine exakt konzentrische. Deshalb kann während der
Drehung der Platte in einem Plattenlaufwerk zum Lesen/Wiedergeben von
darauf aufgezeichneten Daten eine Fehlausrichtung zwischen einem
optischen Aufnehmer (im Fall der CD) des Plattenlaufwerks und der
relevanten Spur der Platte auftreten. Ein Spurfehlersignal, das nachfolgend
einfach kurz als ein TE-Signal (TE = tracking error) bezeichnet
wird, zeigt, wie es wohlbekannt ist, eine solche Fehlausrichtung
an und weist eine zum Betrag der detektierten Fehlausrichtung proportionale
Größe auf.
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Entweder
eine Platte mit versetztem Schwerpunkt oder eine exzentrische Platte
kann ein solches Fehlausrichtungsphänomen verursachen. Die exzentrische
Platte ist eine Platte, bei der sich die Spur auf der Platte in
Bezug auf die mit richtiger Spirale verschoben hat, und selbst in
einem solchen Fall kann durch eine Spurführungs-Servosteuerung eine richtige Informations-Lese/Schreib-Operation
auf der Platte erzielt werden, solange der Betrag der Exzentrizität eine vorbestimmte
Schwelle überschreitet.
Jedoch im Fall der oben erwähnten
Platte mit versetztem Schwerpunkt, bei welcher der Schwerpunkt der Platte
aus ihrem exakten Drehzentrum verschoben ist, kann eine abnorme
Vibration bei ihr auftreten, die eine Informations-Lese/Schreib-Operation auf der Platte
mit dem optischen Aufnehmer verhindern kann. Zur Vermeidung einer
solchen Situation ist es im Fall, dass die derzeit geladene Platte
eine Platte mit exzentrischem Schwerpunkt ist, notwendig, die Drehgeschwindigkeit
zu erniedrigen.
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Aus
US-A-6377527 geht ein Plattenlaufwerkgerät hervor, bei dem die Anzahl
von Spurfehlern bei unterschiedlichen Plattendrehgeschwindigkeiten
gezählt
wird und die Anzahl von Zählungen
mit einer spezifizierten Schwelle zur Bestimmung einer Vibration
verglichen wird, und demgemäss
wird die Drehgeschwindigkeit der Platte während der Aufzeichnung/Wiedergabe
niedriger als die Zielgeschwindigkeit eingestellt.
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Jedoch
ist es generell schwierig zu bestimmen, ob eine zwischen dem optischen
Aufnehmer und der Spur auf der Platte auftretende solche Fehlausrichtung
aus dem Grund verursacht wird, dass die Platte eine Platte mit versetztem
Schwerpunkt oder eine exzentrische Platte ist.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung ist ersonnen worden zur Bereitstellung eines
Plattenlaufwerks, das bestimmen kann, ob eine derzeit in sie geladene
Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist oder nicht, und
dadurch eine richtige Maßnahme
zur Behandlung der Platte ergreifen kann, um eine richtigen Informations-Lese/Schreib-Operation bei ihr
zu erreichen, eines beim Plattenlaufwerk angewendeten Plattenlaufwerk-Steuerungsverfahrens
und eines Plattenlaufwerk-Steuerungsprogramms,
gemäß dem ein
Computer das Verfahren im Plattenlaufwerk ausführt.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung detektiert ein Spurfehlersignal- Detektionsteil ein Spurfehlersignal,
und ein Schwerpunktversatz-Platte-Feststellungsteil in einem Plattenlaufwerk
stellt auf Basis des von diesem Spurfehlersignal-Detektionsteil
in einem Plattenlaufwerk bei unterschiedlichen Plattendrehgeschwindigkeiten
detektierten Spurfehlersignals fest, ob eine geladene Platte eine
Platte mit versetztem Schwerpunkt ist oder nicht.
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Dadurch
kann auf Basis des Spurfehlersignals zum Zeitpunkt einer Drehung
der Platte mit unterschiedlichen Drehgeschwindigkeiten das Plattenlaufwerk,
das bestimmen kann, ob die Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt
ist oder nicht, bereitgestellt werden, bei dem auf Basis der Bestimmung
eine Maßnahme
zur richtigen Behandlung der Platte, selbst wenn sie eine Platte
mit versetztem Schwerpunkt ist, ergriffen werden kann.
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Außerdem ist
vorzugsweise ein Drehgeschwindigkeits-Steuerungsteil bereitgestellt,
um die Drehgeschwindigkeit der Platte auf Basis des Feststellungsresultats
des Schwerpunktversatz-Platte-Feststellungsteils zu steuern.
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Dadurch
kann das Plattenlaufwerk, das die Drehgeschwindigkeit entsprechend
dem Plattenzustand richtig steuern kann, bereitgestellt werden,
bei dem das Feststellungsresultat des Schwerpunktversatz-Platte-Feststellungsteils
zu diesem Zweck benutzt wird.
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Ein
Plattenlaufwerk-Steuerungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung
weist die Schritte auf Detektieren eines Spurfehlersignals und Feststellen
auf Basis des beim oben erwähnten
Detektierungsschritts detektierten Spurfehlersignals, ob die Platte
eine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist oder nicht.
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Dadurch
ist es auf Basis des bei unterschiedlichen Drehgeschwindigkeiten
detektierten Spurfehlersignals zum Zeitpunkt einer Drehung einer
Platte möglich,
festzustellen, ob die Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt
ist oder nicht, und mit einer auf Basis der oben erwähnten Feststellung
zum Zweck einer richtigen Behandlung der Platte, selbst wenn sie
eine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist, ergriffenen Maßnahme eine
richtige Informations-Aufzeichnung/Wiedergabe auf der Platte zu
erzielen.
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Ein
Plattenlaufwerk-Steuerungsprogramm gemäß der vorliegenden Erfindung
weist in dieses geschriebene Instruktionen zum Detektieren eines Spurfehlersignals
und Feststellen auf Basis des wie oben erwähnt detektierten Spurfehlersignals,
ob die Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist oder nicht,
auf.
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Dadurch
ist es auf Basis des zum Zeitpunkt einer Drehung einer Platte mit
unterschiedlichen Drehgeschwindigkeiten detektierten Spurfehlersignals
möglich,
festzustellen, ob die Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt
ist oder nicht, und mit einer auf Basis der Feststellung zum Zweck
einer richtigen Behandlung der Platte, selbst wenn sie eine Platte
mit versetztem Schwerpunkt ist, ergriffenen Maßnahme, unter der Steuerung
eines Computers, der entsprechend dem Programm arbeitet, eine richtige
Informations-Aufzeichnung/Wiedergabe auf der Platte zu erzielen.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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Andere
Aufgaben und weitere Merkmale der vorliegenden Erfindung werden
aus der folgenden detaillierten Beschreibung deutlicher, wenn sie
anhand der folgenden beigefügten
Zeichnungen gelesen wird:
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1 ist
ein Blockdiagramm eines Plattenlaufwerks gemäß einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung;
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2 ist
ein Blockdiagramm einer in 1 gezeigten
MCU;
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3 stellt
ein Dreistrahlverfahren dar, das bei dem in 1 gezeigten
Plattenlaufwerk anwendbar ist;
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4 zeigt
eine Differenzverstärkerschaltung,
die eine Fehlausrichtung zwischen einem optischen Aufnehmer und
einer Spur einer Platte bei dem in 1 gezeigten
Plattenlaufwerk detektiert;
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5 stellt
eine Fehlausrichtungssituation in Relation zum oben erwähnten Dreistrahlverfahren dar;
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6 zeigt
eine Relation zwischen einer Drehgeschwindigkeit einer Platte und
einer bei ihr auftretenden Vibration;
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7 ist
ein Betriebsflussdiagramm, das einen Prozess zur Feststellung einer
Platte mit versetztem Schwerpunkt gemäß der Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung zeigt;
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8 zeigt
Paare aus Plattendrehgeschwindigkeit und TE-Signalpegel, die für den Prozess
der Feststellung einer Platte mit versetztem Schwerpunkt gemäß der Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zu benutzen sind; und
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9 ist
ein Betriebsflussdiagramm, das einen Prozess zur Steuerung der Plattendrehgeschwindigkeit
gemäß der Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
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Eine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wird nun anhand der Figuren beschrieben.
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1 zeigt
ein generelles Blockdiagramm eines Plattenlaufwerks bei einer Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung. Wie gezeigt weist das Plattenlaufwerk auf:
einen Öffnungs-und-Schließ-Schalter 72 zum Öffnen und Schließen eines
Plattentabletts bzw. einer Plattenschublade (disc tray), einen Lademotor 67,
der eine Plattenschublade zum Vorstehen und Zurückziehen bringt, einen optischen
Steuerungsteil 60, der einen optischen Aufnehmer 70 steuert,
einen Spindelmotor 69, der eine Platte 71 antreibt,
einen Schlittenmotor 68, der den optischen Aufnehmer 70 antreibt,
einen Codierungs/Decodierungs-Teil 61, der eine Codierung
und Decodierung von in die Platte 71 zu schreibenden oder
von der Platte 71 auszulesenden codierten Daten ausführt, einen
Verbinder 64 zum Verbinden des Plattenlaufwerks mit einer
Hauptplatine und eine MCU 62, die eine Steuerung des ganzen Plattenlaufwerks
ausführt.
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Bei
dieser Konfiguration wird eine Informationsaufzeichnungsplatte 71,
beispielsweise eine CD (Compact Disk) auf der Plattenschublade (nicht
gezeigt) platziert, und dann wird von einer Bedienungsperson der Öffnungs-und-Schließ-Schalter 72 gedrückt. Als
ein Resultat treibt der Lademotor 67 die Plattenschublade
an, und infolgedessen trägt
die Plattenschublade die Platte 71 in das Innere des Plattenlaufwerks.
Danach wird durch eine Funktion eines Plattenlademechanismus (nicht
gezeigt) die Platte 71 auf einen Drehteller 69B geladen,
der am oberen Ende einer Welle 69A des Spindelmotors 69 vorhanden
ist.
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Dann
wird von der externen Hauptplatine über den Verbinder 64 ein
Befehlssignal in die MCU 62 eingegeben, und dadurch wird
der optische Steuerungsteil 60 betrieben. Unter der Steuerung
durch den optischen Steuerungsteil 60 werden die Treiber 65 und 58 betrieben,
und als ein Resultat werden der Spindelmotor 69 und der
Schlittenmotor 68 angetrieben. Dadurch wird die Platte 71 mit
einer vorbestimmten Drehgeschwindigkeit gedreht, während der optische
Aufnehmer 70 auf der Platte 71 entlang einer radialen
Richtung bewegt wird. Als ein Resultat wird in eine Spur der Platte 71 bei
einer vorbestimmten Radiusposition Information geschrieben, oder
es wird in der Spur aufgezeichnete Information in ähnlicher
Weise ausgelesen.
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Die
so in die Platte 71 geschriebene oder von ihr ausgelesene
Information ist codierte Daten. Das heißt, von der Platte über den
optischen Aufnehmer 70 ausgelesene codierte Daten werden
vom Codierungs/Decodierungs-Teil 61 decodiert und werden dann über den
Verbinder 64 zur Hauptplatine gesendet. Andererseits wird von
der Hauptplatine über
den Verbinder 64 gesendete aufzuzeichnende Information
vom Codierungs/Decodierungs-Teil 61 einmal codiert, und
dann werden die so erhaltenen codierten Daten in der Spur der Platte 71 aufgezeichnet.
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Bei
dieser Konfiguration steuert die MCU 62 die Drehgeschwindigkeit
der Platte 71 durch den Treiber 66 über den
Spindelmotor 69. Die MCU 62 führt auch eine Spurführungs-Servosteuerung
aus, durch die der optische Aufnehmer 70 die Spur auf der Platte 71 richtig
verfolgen kann, selbst wenn, wie oben erwähnt, die Spur eine Exzentrizität in Bezug auf
das Drehzentrum der Platte, die vom Drehteller 79B gehalten
wird, aufweist.
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Die
MCU 62, die eine solche Steuerung ausführt, wird nun anhand der 2 beschrieben.
Wie gezeigt weist die MCU 62 eine CPU (Central Processing
Unit (zentrale Verarbeitungseinheit)) 90, einen ROM (Read
Only Memory (Nurlesespeicher)) 91 und einen RAM (Random
Access Memory (Direktzugriffsspeicher)) 92 auf, und sie
sind durch einen gemeinsamen Bus 95 verbunden. Eine Firmware
für die CPU 90,
die sie zum Ausführen
einer vorbestimmten Verarbeitung bringt, ist im ROM 91 gespeichert.
Diese Firmware umfasst Programme, die eine Steuerung eines OS (Operating
System (Betriebssystem)), von Registern, von peripheren Einrichtungen
oder so ausführen,
und andere notwendige Programme, die das Plattenlaufwerk steuern.
Ein Flash-Speicher oder
so kann als eine nicht flüchtige
Speichereinrichtung als der oben erwähnte ROM 91 vorhanden
sein. In diesem Fall kann eine Addition anderer Funktionen, eine
Korrektur von Defekten usw. ausgeführt werden, nachdem das Plattenlaufwerk
einmal in der Herstellung vollendet ist.
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Es
wird nun beschrieben, wie ein TE-Signal (TE = Tracking Error (Spurfehler))
gemäß der Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zu detektieren ist. Es gibt unterschiedliche
Verfahren wie beispielsweise ein Dreistrahlverfahren, ein Gegentaktverfahren,
ein DPD-Verfahren (DPD = Differential Phase Detections (Differenzphasendetektion))
oder so zum generellen Detektieren des TE-Signals. Unter diesen
wird bei der Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung das Dreistrahlverfahren als ein Beispiel
angewendet. Jedoch kann anstelle dessen jedes andere Verfahren angewendet
werden.
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Das
Dreistrahlverfahren ist ein Verfahren zum Detektieren des TE-Signals
unter Benutzung eines Hauptstrahls, der speziell zum Auslesen eines Signals
von der Platte benutzt wird, und von zwei anderen Unterstrahlen
A und B, die vor und hinter dem Hauptstrahl angeordnet sind. Dann
wird das TE-Signal von den Lichtmengen detektiert, die erhalten
werden, wenn diese Unterstrahlen auf die Plattenoberfläche angewendet
und dann dabei reflektiert werden.
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Wie
in 3 gezeigt werden durch den Hauptstrahl und die
Unterstrahlen A und B, die oben erwähnt sind, auf einer Spur 20 der
Platte 71 jeweilige Strahlflecke 21, 22 bzw. 23 gebildet.
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Bei
dieser Konfiguration werden Lichter, die erhalten werden, wenn der
Unterstrahl A und Unterstrahl B von der Plattenoberfläche reflektiert
werden, von einer optischen Detektionseinrichtung (nicht gezeigt)
jeweils detektiert, werden davon erhaltene jeweilige Detektionssignale
S-A und S-B in eine in 4 gezeigte Differenzverstärkerschaltung 24 eingegeben,
und dann wird von der Differenzverstärkerschaltung 24 das
TE-Signal S-TE als eine Differenz zwischen den Detektionssignalen
S-A und S-B ausgegeben. Nebenbei bemerkt tritt im Fall der 3 zwischen
dem optischen Aufnehmer 70 und der Spur 20 keine
Fehlausrichtung auf, und tatsächlich
treten, wie gezeigt, die Strahlflecke 22 und 23 der
Unterstrahlen A und B in einer symmetrischen Anordnung in Bezug
auf die Spur 20 auf. Demgemäss tritt zwischen den bei den
Flecken 22 und 23 der Unterstrahlen A und B von
der Plattenoberfläche
reflektierten Lichtmengen keine Differenz auf. Als ein Resultat wird
das Ausgangssignal aus der in 4 gezeigten Differenzverstärkerschaltung 24 null.
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Andererseits
tritt im Fall, dass zwischen dem optischen Aufnehmer 70 und
der Spur 20 der Platte 71 eine wie in 5 gezeigte
Fehlausrichtung auftritt, bei der, wie gezeigt, die jeweiligen Flecke 21, 22 und 23 des
Hauptstrahls und der Unterstrahlen A und B in Bezug auf die Spur 20 nicht
symmetrisch angeordnet sind, demgemäss eine Differenz zwischen den
bei diesen Flecken 22 und 23 der Unterstrahlen A
und B von der Plattenoberfläche
reflektierten Lichtmengen auf. Als ein Resultat wird das Ausgangssignal
aus der in 4 gezeigten Differenzverstärkerschaltung 24 sich
mit einem positiven oder negativen Wert von null unterscheiden.
Nicht nur eine Größe des ausgegebenen
TE-Signals der Differenzverstärkerschaltung 24,
sondern auch das Vorzeichen desselben, das heißt plus oder minus, macht es
möglich, zu
bestimmen, in welcher Richtung die relevante Fehlausrichtung auftritt,
sowie die Größe der Fehlausrichtung
zu bestimmen.
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Das
so detektierte TE-Signal wird an die MCU 62 ausgegeben,
und auf Basis dieses TE-Signals stellt die MCU 62 fest,
ob die derzeit in das Plattenlaufwerk geladene Platte 71 einer
Platte mit versetztem Schwerpunkt oder einer exzentrischen Platte
entspricht. Dann wird mit diesem Feststellungsresultat von der MCU 62 eine
Steuerung der Plattendrehgeschwindigkeit ausgeführt. Es werden nun spezielle
Operationen beschrieben, die von der MCU 62 auf Basis des
TE-Signals gemäß der Ausführungsform
der Erfindung ausgeführt
werden.
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6 zeigt
eine Relation zwischen der Drehgeschwindigkeit der Platte und der
Vibration des Plattenlaufwerks. In dieser Figur drückt die
horizontale Achse die Drehgeschwindigkeit der Platte aus, während die
vertikale Achse die Vibration des Plattenlaufwerks ausdrückt. Außerdem zeigt
eine durchgezogene Kurve den Fall einer Platte mit versetztem Schwerpunkt,
während
eine gestrichelte Kurve den Fall einer exzentrischen Platte zeigt.
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Wie
gezeigt kann, da bei der Platte mit versetztem Schwerpunkt ihr Schwerpunkt
aus dem Drehzentrum verschoben ist, bei einer Zunahme der Drehgeschwindigkeit
die im Plattenlaufwerk auftretende Vibration demgemäss beträchtlich
größer werden.
Im Gegensatz dazu wird, da die exzentrische Platte ebenso nicht
eine perfekte Platte ist, wie gezeigt, die Vibration geringfügig größer. Im
Fall der exzentrischen Platte ist, wie gezeigt, die Zunahmerate der
Vibration im Vergleich zum Fall einer Platte mit versetztem Schwerpunkt
eine nicht so ernst zu nehmende.
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Die
auf Grund einer Zunahme der Plattendrehgeschwindigkeit auftretende
Vibration wird vom oben erwähnten
TE-Signal entsprechend reflektiert. Auf Basis dieses TE-Signals
und der Plattendrehgeschwindigkeit wird festgestellt, ob die derzeit
geladene Platte eine exzentrische Platte oder eine Platte mit versetztem
Schwerpunkt ist, was nun anhand eines in 7 gezeigten
Betriebsflussdiagramms beschrieben wird.
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Das
Flussdiagramm nach 7 zeigt die Verarbeitung zur
Feststellung, ob die Platte eine exzentrische Platte oder eine Platte
mit versetztem Schwerpunkt ist, die von der MCU 62 gestartet
wird, wenn die Platte in das Plattenlaufwerk geladen ist.
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Zuerst
detektiert die MCU 62 beim Schritt S101, dass die Plattenschublade
zusammen mit der Platte 71 geschlossen oder zurückgezogen
ist. Dann startet die MCU 62 beim Schritt S102 ein Drehen
der Platte 71 mit dem Spindelmotor 69. Danach
erhöht die
MCU 62 beim Schritt S103 die Plattendrehgeschwindigkeit,
während
sie den Pegel des oben erwähnten
TE-Signals mehrere Male detektiert, bis die Plattendrehgeschwindigkeit
die maximale erreicht. Es wird nun die Verarbeitung beim Schritt
S103 anhand der 8 detailliert beschrieben.
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In 8 drückt eine
horizontale Achse die Drehgeschwindigkeit der Platte aus, während eine vertikale
Achse den detektierten Pegel des TE-Signals ausdrückt. Wie
gezeigt detektiert die MCU 62 bei der Verarbeitung des
Schritts S103 die TE-Signalpegel
bei der Drehgeschwindigkeit der Platte, das heißt bei „a", „b" und „c", und detektiert
auf diese Weise Paare (a, d), (b, e) und (c, f) aus Plattendrehgeschwindigkeit
und TE-Signalpegel. Diese Detektionsverarbeitung braucht solche
Paare von Detektionen nicht zu detektieren, bis die Plattendrehgeschwindigkeit
die höchste
wird, und die Detektion kann beendet werden, nachdem die nun beschriebene Änderungsrate
oder Variation eine vorbestimmte Schwelle überschreitet.
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Die
MCU 62 stellt beim Schritt S104 fest, ob die von diesen
wie oben erhaltenen Detektionspaaren berechnete Änderungsrate oder Variation
die vorbestimmte Schwelle überschreitet.
Die oben erwähnte „Änderungsrate
oder Variation" sollte
eine berechneter Wert sein, der infolgedessen anzeigt, um wie viel
der TE-Signalpegel zunimmt, wenn die Plattendrehgeschwindigkeit
zunimmt. Beispielsweise kann als die oben erwähnte Änderungsrate oder Variation eine
Neigung eines sich zwischen den in 8 gezeigten
Punkten P1 (a, d) und P2 (b, e) erstreckenden Liniensegments, die
aus der Berechnung von (e-d)/(b-a) erhalten wird, eine Neigung eines
sich zwischen den gezeigten Punkten P2 (b, e) und P3(c, f) erstreckenden
Liniensegments, die aus einer Berechnung von (f-e)/(c-b) erhalten
wird, oder so benutzt werden. Anders als diese können unter der Annahme, dass
die Intervalle zwischen „a" und „b", zwischen „b" und „c" usw. gleichmäßig sind,
für den
gleichen Zweck einfach Differenzen wie beispielsweise (e-d), (f-e)
usw. benutzt werden.
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Wenn
der so erhaltene Wert der Änderungsrate
oder Variation nicht mehr als die vorbestimmte Schwelle ist, beendet
die MCU 62 die Verarbeitung des in 7 gezeigten
Flussdiagramms. Wenn jedoch der Wert der Änderungsrate die Schwelle überschreitet
(Ja beim Schritt S104), stellt die MCU 62 beim Schritt
S105 fest, dass die derzeit geladene Platte eine Platte mit versetztem
Schwerpunkt ist. Als ein Resultat schaltet die MCU 62 ein
vorbestimmtes Plattenkennzeichen beispielsweise in einen EIN-Zustand.
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Die
so erhaltene Plattenfeststellung darüber, ob die laufend geladene
Platte 71 eine Platte mit versetztem Schwerpunkt oder eine
exzentrische Platte ist, die getroffen wird, wenn die Platte 71 in
das Plattenlaufwerk geladen ist, wird bei einer Plattendrehgeschwindigkeits-Steuerungsverarbeitung
benutzt, die nun beschrieben wird.
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Ein
Betriebsflussdiagramm nach 9 zeigt die
Verarbeitung, mit der die MCU 62 die Drehgeschwindigkeit
der Platte 71 steuert, wenn der optische Aufnehmer 70 im
Plattenlaufwerk auf die Aufzeichnungsfläche der Platte 71 zugreift.
Generell wird eine solche Verarbeitung in vorbestimmten gleichmäßigen Intervallen,
beispielsweise alle 500 Millisekunden ausgeführt, während der optische Aufnehmer
auf die Plattenfläche
zugreift.
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Zuerst
detektiert die MCU 62 beim Schritt S201 den TE-Signalpegel.
Als nächstes
stellt die MCU 62 beim Schritt S202 fest, ob der so detektierte TE-Signalpegel die vorbestimmte
Schwelle überschreitet.
Diese Feststellung ist eine Feststellung darüber, ob eine Fehlausrichtung
zwischen dem optischen Aufnehmer 70 und der Spur 20 auf
der Platte 71 groß ist
oder nicht. Wenn der detektierte TE-Signalpegel die Schwelle nicht überschreitet
(Nein beim Schritt S202), sollte kein Problem auftreten, selbst wenn
die Plattendrehgeschwindigkeit nicht speziell erniedrigt wird. Demgemäss führt die
MCU 62 wenigstens entsprechend dem Feststellungsresultat beim
Schritt S202 keine spezielle Steuerung der Plattendrehgeschwindigkeit
aus und beendet die Verarbeitung des Flussdiagramms nach 9.
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Wenn
jedoch der TE-Signalpegel die Schwelle überschreitet (Ja beim Schritt
S202), bezieht sich die MCU 62 beim Schritt S203 auf das oben
anhand der 7 beschriebene Feststellungsresultat
darüber,
ob die derzeit geladene Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt
oder eine exzentrische Platte ist, das getroffen wird, wenn die
Platte in das Plattenlaufwerk geladen wurde. Wenn dann das oben
erwähnte
Feststellungsresultat anzeigt, dass die derzeit geladene Platte
keine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist (Nein beim Schritt S203), besteht
die Wahrscheinlichkeit bzw. Möglichkeit, dass
die derzeit geladene Platte eine exzentrische Platte ist. Jedoch
selbst im Fall einer exzentrischen Platte kann eine Spurführungs-Servosteuerung
wie oben erwähnt
richtig arbeiten, um über
den optischen Aufnehmer 70 eine richtige Informations-Aufzeichnung/Wiedergabe
auf/von der Platte 71 zu erzielen. Demgemäss wird
wenigstens entsprechend dem Feststellungsresultat beim Schritt S203
keine spezielle Drehgeschwindigkeitssteuerung ausgeführt, und die
Verarbeitung nach 9 wird beendet.
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Wenn
jedoch das Feststellungsresultat beim Schritt S203 anzeigt, dass
die derzeit geladene Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt
ist (Ja beim Schritt S203), führt
die MCU 62 beim Schritt S204 eine Steuerung derart aus,
dass die Plattendrehgeschwindigkeit erniedrigt wird.
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Wie
oben bezüglich
der 6 erwähnt
kann eine problematische Situation auftreten, bei der im Plattenlaufwerk
eine Vibration mit einem ernst zu nehmenden Pegel auftritt, wenn
die Platte mit versetztem Schwerpunkt ohne spezielle Erniedrigung der
Drehgeschwindigkeit von einer Standard-Plattendrehgeschwindigkeit
gedreht wird. Demgemäss
ist es notwendig, die Plattendrehgeschwindigkeit zu erniedrigen,
wenn festgestellt wird, dass die derzeit geladene Platte 71 wie
bei der oben anhand der 9 beschriebenen Verarbeitung
eine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist.
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Was
die oben erwähnte
Schwelle betrifft, mit der beim Schritt S104 in 7 festgestellt
wird, ob die derzeit geladenen Platte einer Platte mit versetztem
Schwerpunkt entspricht oder nicht, so kann die Schwelle in einem
Fertigungsbetrieb vor dem Versand des relevanten Typs von Plattenlaufwerk
aus einem Wert bestimmt werden, der erhalten wird, wenn eine gewisse
Platte mit versetztem Schwerpunkt, für die eine Drehgeschwindigkeit
erniedrigt werden sollte, im gleichen Typ von Plattenlaufwert betrieben wird.
Tatsächlich
kann die oben erwähnte
Platte mit versetztem Schwerpunkt, für die eine Drehgeschwindigkeit
erniedrigt werden sollte, entsprechend einer besonderen Bedingung
eines Kunden variieren. Deshalb kann es schwierig sein, die oben
erwähnte Schwelle
kategorisch zu bestimmen. Tatsächlich
wird beispielsweise eine gewisse Platte mit versetztem Schwerpunkt,
die eine Platte ist, die einen Schwerpunktsversatz aufweist, der
die obere Grenze eines Bereichs ist, in welchem die Platte im relevanten
Typ von Plattenlaufwerk mit einer Standard-Drehgeschwindigkeit gedreht werden kann,
auf einer Fertigungslinie des Fertigungsbetriebs zum Inspektionszweck
oder so betrieben, und es kann als die oben erwähnte Schwelle der Wert der
TE-Signalpegel-Änderungsrate,
der zu diesem Zeitpunkt auf die gleiche Weise wie derjenige detektiert
wird, bei dem die TE-Signalpegel-Änderungsrate
beim Schritt S104 nach 7 im Plattenlaufwerk erhalten
wird, benutzt werden.
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Was
die oben erwähnten
Plattendrehgeschwindigkeit betrifft, die zu erniedrigen ist, wenn beim
Schritt S204 in 9 festgestellt wird, dass die derzeit
geladene Platte eine Platte mit versetztem Schwerpunkt ist, so wird
die Plattendrehgeschwindigkeit auf eine vorbestimmte Drehgeschwindigkeit erniedrigt,
die vor einem Versand des relevanten Typs von Plattenlaufwerk zur
gleichen Zeit wie die, bei der die oben erwähnte Schwelle im Fertigungsbetrieb
bestimmt wird, bestimmt werden kann.
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Außerdem ist
die vorliegende Erfindung nicht auf die oben beschriebene Ausführungsform
beschränkt,
sondern es können
Variationen und Modifikationen ohne Abweichung von den beigefügten Ansprüchen gemacht
werden.