DE60307405D1 - Halbleiter-Baustein mit Daten-Ports für simultanen bi-direktionalen Datenaustausch und Methode zum Testen desselben - Google Patents

Halbleiter-Baustein mit Daten-Ports für simultanen bi-direktionalen Datenaustausch und Methode zum Testen desselben

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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
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    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7957461B2 (en) * 2005-03-31 2011-06-07 Teradyne, Inc. Calibrating automatic test equipment
KR100825791B1 (ko) 2006-11-08 2008-04-29 삼성전자주식회사 저속 ａｔｅ 장비를 사용하여 용이하게 테스트될 수 있는고속 메모리장치 및 이에 대한 입출력핀 제어방법
US9761533B2 (en) * 2015-10-16 2017-09-12 Xilinx, Inc. Interposer-less stack die interconnect
EP3893009B1 (de) * 2020-04-07 2023-10-25 Shenzhen Goodix Technology Co., Ltd. Vorrichtung zur erkennung ungültiger konfigurationen in bi-direktionalen multiplex-schaltungen

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2555471B2 (ja) * 1990-08-24 1996-11-20 富士通株式会社 高速バス転送回路を有するデータバッファ
JPH07181227A (ja) * 1993-12-22 1995-07-21 Kawasaki Steel Corp 集積回路
JP3527814B2 (ja) * 1996-10-03 2004-05-17 沖電気工業株式会社 集積回路
US6272657B1 (en) * 1999-10-19 2001-08-07 Atmel Corporation Apparatus and method for progammable parametric toggle testing of digital CMOS pads
US6348811B1 (en) * 2000-06-28 2002-02-19 Intel Corporation Apparatus and methods for testing simultaneous bi-directional I/O circuits

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