DE60307405D1 - Halbleiter-Baustein mit Daten-Ports für simultanen bi-direktionalen Datenaustausch und Methode zum Testen desselben - Google Patents

Halbleiter-Baustein mit Daten-Ports für simultanen bi-direktionalen Datenaustausch und Methode zum Testen desselben

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    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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