DE60205560T2 - Eingebaute mikroelektromechanische (MEMS) Sensorvorrichtung für Leistungshalbleiter - Google Patents

Eingebaute mikroelektromechanische (MEMS) Sensorvorrichtung für Leistungshalbleiter Download PDF

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Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft Leistungshalbleiter und insbesondere eine Vorrichtung mit einem mikroelektromechanischen System (MEMS), die on-board Strom- und Spannungsmessmöglichkeiten für Leistungshalbleiter bereitstellen.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Viele Schaltungsanwendungen, die heutzutage eingesetzt werden, nutzen Halbleitervorrichtungen, um große Ströme und Spannungen zu steuern. Die Messungen dieser Spannungen und Ströme sind bedeutsam, um beispielsweise einen mittleren Stromfluss, einen RMS-Strom, einen Basisspitzenstrom, eine mittlere Spannung, eine RMS-Spannung oder eine Basisspitzenspannung zu bestimmen. Der gemessene Wert kann zum Vorrichtungsschutz, für die Regelung oder für viele andere Zwecke genutzt werden. Da die Spannung oder der Strom typischerweise nicht auf den gleichen Schaltungspunkt wie die übrige Elektronik hinweisen kann, ist üblicherweise eine Entkopplung der Messung erforderlich. Des Weiteren ist es wünschenswert, die mit den Messungen verbundenen Kosten zu minimieren.
  • Ein herkömmlicher Stromsensor 25, der zusammen mit einem Leistungshalbleiter 11 eingesetzt wird, ist in 1 dargestellt, wobei eine Vielzahl von Transistorelementen 19 auf einem einzigen Chip hergestellt sind und parallel mit einer Quelle 23 verbunden sind, um einen Verbraucher 17 zu steuern.
  • Ein externer Stromsensor 25, der die Form eines Parallelwiderstandes und eines verbundenen Schaltkreises, eines Stromumformers und eines verbundenen Schaltkreises, eines Hall-Effekt-Sensors und eines verbundenen Schaltkreises und dergleichen annehmen kann, ist mit den Transistorelementen 19 in Reihe geschaltet. Die Transistorelemente 19 sind parallel geschaltet, um den Betrag des Stroms zu begrenzen, der durch jedes Transistorelement fließen muss. Nachteilhafterweise erfordert der Sensor 25 eine externe Verbindung mit der Schaltung und für einen zuverlässigen Betrieb eine nachfolgende Kalibrierung durch den Endnutzer.
  • In ähnlicher Weise ist ein herkömmlicher Spannungssensor, der zusammen mit einem Leistungshalbleiter 11 eingesetzt wird, in 2 dargestellt. Die Spannung an den Transistorelementen 19 wird mittels des Sensors 27 abgetastet und gemessen.
  • Elektrische Entkoppler werden eingesetzt, um eine elektrische Entkopplung zwischen Schaltungselementen für die Zwecke einer Spannungspegeländerung, einer Verringerung eines elektrischen Rauschens und einer Hochspannungs- und Stromsicherung bereitzustellen.
  • Schaltungselemente können als elektrisch entkoppelt betrachtet werden, wenn kein Pfad vorliegt, auf dem ein Gleichstrom (DC) zwischen ihnen fließen kann. Eine Entkopplung dieser Art kann durch kapazitive oder induktive Kopplung erreicht werden. Bei einer kapazitiven Kopplung wird ein elektrisches Eingangssignal an eine Platte eines Kondensators angelegt, um ein elektrostatisches Signal über ein isolierendes Dielektrikum zu einer zweiten Platte zu übermitteln, an der ein Ausgangssignal erzeugt wird. Bei der induktiven Kopplung wird ein elektrisches Eingangssignal an eine erste Spule angelegt, um ein elektromagnetisches Feld über einen Isolationsspalt zu einer zweiten Spule zu übertragen, die das entkoppelte Ausgangssignal erzeugt. Beide derartigen Entkoppler blocken im Wesentlichen dauerhafte oder mit Gleichstrom verbundene elektrische Signale.
  • Derartige Entkoppler blocken, obwohl sie einfach aufgebaut sind, die Kommunikation von Signalen, die signifikante Niederfrequenzkomponenten aufweisen. Des Weiteren können diese Entkoppler eine signifikante frequenzabhängige Dämpfung und eine Phasenverzerrung in das übertragene Signal einbringen. Diese Merkmale machen derartige Entkoppler ungeeignet für viele Typen von Signalen, die viele Typen von digitalen Hochgeschwindigkeitskommunikationen einschließen.
  • Zudem ist es gelegentlich wünschenswert, eine eine Hochspannung (> 2 kV) betreffende Entkopplung zwischen zwei verschiedenen Bereichen eines Systems bereitzustellen, während ein Kommunikationspfad zwischen diesen beiden Bereichen aufrecht gehalten wird. Dies triff häufig bei industriellen Steueranwendungen zu, bei denen es wünschenswert ist, die Sensor/Aktuator-Bereiche von Steuerbereichen des Gesamtsystems zu entkoppeln.
  • Die US 6,188,322 B1 offenbart eine mikromechanische Vorrichtung zur Erfassung und Messung eines elektrischen Stroms, umfassend ein Substrat, ein Element, das von dem Substrat getragen ist und zwischen einer und einer zweiten Position beweglich ist, einen Aktuator, der an dem Element zur Aufnahme eines elektrischen Eingangssignals befestigt ist, wobei der Aktuator eine von dem Eingangssignal abhängige Kraft ausübt, die das Element in eine Richtung antreibt, eine an dem Element angebrachte Vorspannkonstruktion, um eine Gegenkraft auf das Element auszuüben, die das Element in die andere Richtung antreibt, und einen Sensor, der an dem Element angebracht ist, um ein elektrisches Ausgangssignal bereitzustellen, das eine Bewegung des Elementes anzeigt.
  • Die WO 02/067293 A2, die ein nachveröffentlichtes Dokument darstellt und als solches nur hinsichtlich Neuheit relevant ist, offenbart ein mikroelektromechanisches System, umfassend ein Substrat, ein Element, das von dem Substrat zur Bewegung zwischen einer ersten und einer zweiten Position bezüglich des Substrats getragen ist, wobei zumindest ein Bereich des Elementes zwischen einer ersten und einer zweiten Stelle an dem Element ein elektrischer Isolator ist, um die erste und die zweite Stelle voneinander elektrisch zu entkoppeln, einen Aktuator, der an dem ersten Bereich des Elementes angebracht ist, um ein elektrisches Eingangssignal aufzunehmen und eine von dem elektrischen Eingangssignal abhängige Kraft auszuüben, die das Element in Richtung der zweiten Position antreibt, eine Vorspannkonstruktion, die an dem Element angebracht ist, um eine bestimmte Gegenkraft aus das Element auszuüben, die das Element in Richtung der ersten Position antreibt, und einen Sensor, der an der zweiten Position des Elementes angebracht ist, um ein elektrisches Ausgangssignal bereitzustellen, das eine Bewegung des Elementes zwischen der ersten und der zweiten Position anzeigt, wobei ein Eingangssignal, das über einem festgelegten Wert liegt, die Gegenkraft übersteigt, um zu bewirken, dass das Element sich schnell von der ersten zu der zweiten Position bewegt, um das von dem elektrischen Eingangssignal entkoppelte elektrische Ausgangssignal zu erzeugen.
  • Die EP 0 869 370 A1 offenbart ein Verfahren zur Prüfung eines DMOS-Leistungstransistors, umfassend folgende Phasen: Anordnen eines Schalters zwischen einer Niederspannungsschaltung und dem Basisanschluss eines DMOS-Leistungstransistors; Halten des Schalters in einer Öffnungsstellung; Anlegen einer Belastungsspannung an den Basisanschluss; Prüfen der Funktionalität des DMOS-Leistungstransistors; und, wenn die Prüfung ein positives Ergebnis hat, Kurzschließen des Schalters durch Zapping.
  • Die EP-A-0 955 668 offenbart die Verwendung eines Trägers, über dem nicht nur eine MEMS-Vorrichtung, sondern auch eine elektronische Vorrichtung, wie ein Transistor oder ein integrierter Schaltkreis angeordnet ist.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine mikromechanische elektrische Vorrichtung zur Messung einer elektrischen Eigenschaft eines Leistungstransistors, insbesondere eines Stroms und/oder einer Spannung, und eine Leistungshalbleitervorrichtung bereitzustellen, die Messmöglichkeiten haben, um die Verwendung auf Seiten des Endnutzers zu vereinfachen, und die ein entkoppeltes Ausgangssignal bereitstellen.
  • Kurze Zusammenfassung der Erfindung
  • Diese Aufgabe ist durch eine mikroelektromechanische Vorrichtung nach Anspruch 1 und eine Leistungshalbleitervorrichtung nach Anspruch 6 gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnung
  • Hierbei wird auf folgenden Figuren Bezug genommen, bei denen gleiche Bezugszeichen für gleiche Elemente einheitlich verwendet werden und bei denen:
  • 1 ein vereinfachtes schematisches Schaltbild eines Strommesssystems nach dem Stand der Technik zeigt;
  • 2 ein vereinfachtes schematisches Schaltbild eines Strommesssystems nach dem Stand der Technik zeigt;
  • 3 ein vereinfachtes Blockschaubild des vorliegenden Analog-Entkopplers zeigt, das dessen Elemente Aktuator, Steuerelement und Sensor darstellt, welcher Entkoppler entlang des einzigen mechanischen Elementes kommuniziert, das beweglich ist, um Daten zwischen dem Aktuator und dem Sensor zu übertragen, und das isolierende Bereiche des beweglichen Elementes darstellt;
  • 4 eine Draufsicht einer Ausführungsform des Entkopplers nach 3 ist, der drei elektrostatische Motoren und einen kapazitiven Sensor nutzt, wobei eine Lagerung eines beweglichen Trägers dargestellt ist, der diese Komponenten mittels flexibler Querarme verbindet, und wobei die Ausführung der isolierenden Abschnitte des Trägers dargestellt sind;
  • 5 eine Ansicht eines Paars von Querarmen gemäß 4 zeigt, wobei eine elektrische Trennung der Arme des Paars dargestellt ist, um einem an dem Arm anliegenden Strom zu ermöglichen, einen Lorentzkraftmo tor zu erzeugen, wie er für die elektrostatischen Motoren nach 4 eingesetzt werden kann;
  • 6 eine vereinfachte schematische Ansicht eines Halbleitercontrollers zeigt, der on-board einen MEMS-Spannungssensor hat;
  • 7 ein vereinfachtes, schematisches Blockschaubild eines Halbleitercontrollers zeigt, der on-board einen Stromsensor hat;
  • 8 ein vereinfachtes, schematisches Blockschaubild eines Halbleitercontrollers mit einem MEMS-Stromsensor on-board und eine damit verbundenen Kompensationsschaltung zeigt;
  • 9 ein vereinfachtes, schematisches Blockschaubild eines Halbleitercontrollers mit MEMS-Strom- und Spannungssensoren on-board zeigt; und
  • 10 ein schematisches Systemschaubild der in 9 dargestellten Ausführungsform zeigt.
  • Ausführliche Beschreibung der bevorzugten Ausführungsform
  • Unter nun erfolgender Bezugnahme auf 3 umfasst ein analoger MEMS-Entkoppler 10 gemäß der bevorzugten Ausführungsform einen Aktuator 12, ein Steuerelement 14 und einen Sensor 18, welche mechanisch durch einen beweglichen Träger 20 verbunden sind.
  • Der Aktuator 12 umfasst Anschlüsse 22a-22b und 22c-22d, über die ein analoges elektrisches Eingangssignal 21 aufgenommen und in eine mechanische Kraft umgewandelt werden kann, die den Träger 20 in eine Betätigungsrichtung antreibt. In dem mikroskopischen Maßstab des analogen MEMS-Entkopplers 10 kann der Aktuator ein piezoelektrischer Aktuator, ein thermischer Entspannungsmotor, ein mechanischer Verdrängungsmotor, ein elektrostatischer Motor oder ein Lorentzkraftmotor sein, der grundsätzlich bekannt ist. Bei einem Lorentzkraftmotor oder einem thermischen Entspannungsmotor wird das analoge elektrische Eingangssignal 21 ein Strom sein und bei dem piezoelektrischen oder elektrostatischen Motor wird das Eingangssignal eine Spannung sein. Demgemäß ist der analoge MEMS-Entkoppler 10 betreibbar, um entweder als Stromsensor oder als Spannungssensor zu arbeiten, wie sich aus der nachfolgenden Beschreibung deutlicher ergibt.
  • Der Aktuator kommuniziert mit einem ersten Ende des Trägers 20. Ein gegenüberliegendes Ende des Trägers wird von dem Sensor 18 aufgenommen, der eine Bewegung des Trägers 20 detektiert und über seine Anschlüsse 26a, 26b, 26c und 26d ein elektrisches Signal erzeugt, das direkt gemessen werden kann oder mittels einer Verarbeitungselektronik 28 weiterverarbeitet werden kann, um ein Ausgangssignal 20 zu erzeugen, das eine Bewegung des Trägers 20 anzeigt. Der Sensor 18 kann ein Sensor vom piezoelektrischen Typ, ein fotoelektrischer Sensor, ein resistiver Sensor, ein optisch schaltender Sensor oder ein kapazitiver Sensor entsprechend bekannter Techniken bei der MEMS-Auslegung sein. Gemäß der bevorzugten Ausführungsform nutzt der Sensor 18 mit einer Gegenkraft beaufschlagte, bewegbare Plattenkondensatoren, wie unten genauer beschrieben werden wird.
  • An dem Träger 20 ist zwischen dem Aktuator 12 und dem Sensor 18 das Steuerelement 14 angebracht, das eine Kraft auf den Träger 20 bereitstellt, die entgegen der Betätigungsrichtung 24 gerichtet ist und der Wirkung Betrieb des Aktuators 12 entgegenwirkt, oder parallel zur Betätigungsrichtung 24 wirkt, was die Wirkung des Aktuators verstärkt, wie durch Doppelpfeile 35 angegeben.
  • Wenn kein analoges elektrisches Eingangssignal 21 vorliegt, kann das Steuerelement 14 den Träger in einer Position an dem Sensor 18 halten. Idealerweise stellt das Steuerelement 14 eine Kraft bereit, die mit der Bewegung des Trägers 20 in der Betätigungsrichtung 24 ansteigt. Auf diese Weise wird eine einfache Beziehung zwischen der Antriebskraft und der Bewegung des Trägers 20 erzeugt (z. B. mit einem einfachen System vom Federtyp). Der analoge MEMS-Entkoppler 10 ist mit einer extrem niedrigen Reibung und Trägheit behaftet, so dass die Bewegung oder Kraft gleichmäßig und schnell ist.
  • Alternativ kann das Steuerelement 14 eine schnell wachsende Kraft (in einem Rückmeldungssystem) bereitstellen, die die Bewegung des Trägers 20 bei jeder Betätigungskraft bremst. Hier stellt der Betrag der Bremskraft das Ausgangssignal dar.
  • Wie beschrieben, kann die von dem Steuerelement 14 bereitgestellte Kraft durch Änderung eines Stroms oder einer Spannung auf den Aufbau einstellbar sein und in einem Rückmeldungsmodus verwendet werden, um im Wesentlichen jegliche noch so kleine Bewegung des Trägers 20 zu eliminieren. Eine geringe Bewegung des Trägers 20 ist für den Sensor erforderlich, um die erforderliche Kompensationsrückmeldung bereitzustellen, aber die Bewegung kann auf ein Maß verringert werden, dass Nichtlinearitäten in den Aktuatoren und den mechanischen Elementen des analogen MEMS-Entkopplers 10, die mit einer ausgeprägteren Bewegung auftreten könnten, eliminiert werden. In diesem Modus wird insbesondere die Bewegung des Trägers durch eine Verarbeitungselektronik 28 detektiert, um ein Positionssignal zu erzeugen. Das Positionssignal wird mit einem Referenzsignal 29 verglichen, um ein Fehlersignal 31 zu erzeugen, das an das Steuerelement ausgegeben wird, um eine Rückstellkraft zu erzeugen, die den Träger 20 an den Nullpunkt zurückführt. Die Verbindung zwischen dem Fehlersignal und dem Steuerelement kann direkt sein oder kann weiter modifiziert werden durch ein Rückmeldungsnetzwerk 33, das eine Kompensation für das System gemäß bekannter Rückmeldungstechniken bereitstellt. Das Rückmeldungsnetzwerk 33 kann eine Spannung an beiden Anschlüssen 38c und 38d mit einer Erdung am Anschluss 50 zur Betätigung in Richtung des Sensors 18 oder an den Anschlüsse 38a und mit einer Erdung am Anschluss 50 zur Betätigung in Richtung des Aktuators 12 anlegen, was die Tatsache wiedergibt, dass die elektrostatischen Motoren nur eine einzige Kraftrichtung bereitstellen.
  • Der Träger 20 umfasst leitfähige Abschnitte 32a und 32b, die bei dem Aktuator 12 bzw. dem Sensor 18 angeordnet sind und so einen Teil des Aktuators 12 bzw. des Sensors 18 bilden können. Die isolierenden Abschnitte 34a und 34b trennen leitfähige Abschnitte 32a und 32b von einem zentralen leitfähigen Abschnitt 32c, der Teil des Steuerelementes 14 sein kann; die isolierenden Abschnitte 34a und 34b legen somit drei Isolationsbereiche 36a-c fest. Der erste Bereich 36a umfasst den Aktuator 12 und den leitfähigen Abschnitt 32a, der zweite Bereich 36b umfasst den zentralen leitfähigen Abschnitt 32c und das Steuerelement 14 und der dritte Bereich 36c umfasst den leitfähigen Abschnitt 32b und den Sensor 18.
  • Der isolierte Träger 20 stellt einen Mechanismus bereit, durch den das elektrische analoge Eingangssignal 21, das durch den Aktuator 12 wirkt, ein korrespondierendes Ausgangsignal an dem Sensor 18 erzeugen kann, das von dem analogen elektrischen Eingangssignal 21 elektrisch entkoppelt ist. Das Steuerelement 14 kann von dem Eingangssignal und/oder dem Ausgangssignal 30 elektrisch entkoppelt sein.
  • Das Steuerelement 14 ist vorzugsweise ein Lorentzkraftmotor oder ein elektrostatischer Motor eines Typs, der unten beschrieben werden wird. Bei dem ersteren der zwei Steuerelemente sind die Anschlüsse 38a und 38b und die Erdung 50 ausgelegt, um einen bidirektionalen Strom bereitzustellen, der die von dem Steuerelement 14 zur Verfügung gestellte, kompensierende Kraft vorgibt. Die Richtung des Stroms gibt die Richtung der Kraft vor. Bei dem letzteren elektrostatischen Aufbau sind die Anschlüsse 38a-d vorgesehen. Spannung wird entweder an das Anschlusspaar 38a und 38b (unter Bezugnahme auf die Erdung 50) oder an das Anschlusspaar 38c und 38d (unter Bezugnahme auf die Erdung 50) angelegt, um die Richtung der Kraft zu bestimmen.
  • Wobei nun auch auf die 4 und 6 Bezug genommen wird, erstreckt sich der Träger 20 oberhalb eines Substrats 41 entlang einer Längsachse 40, die entlang einer Mittellinie zwischen in Querrichtung einander gegenüberliegenden Ästen 44 verläuft, die an ein Substrat 41 angebracht sind. Die Äste 44 bilden die Anschlüsse 22a und 22b, 38a-b, 26a und 26b, die oben beschrieben wurden. Idealerweise ist das Substrat 41 ein isolierendes Substrat und sind die Äste 44 jeweils gegeneinander isoliert und sind besonders leitfähige Schichten angebracht oder wird eine Drahtverbindung verwendet, um die erforderlichen Verbindungen herzustellen.
  • Der Träger 20 ist von dem Substrat 41 entfernt gelagert und zur Bewegung entlang der Längsachse 40 mittels eines beweglichen Armpaars 46 gehalten, das sich an einander gegenüberliegenden Seiten beider Enden des Trägers 20 und in dessen Mitte in Querrichtung erstreckt. Bei der Herstellung des MEMS-Entkopplers 10 kann der bewegbare Träger 20 von dem Substrat 41 durch Ätzen in einen internen Hohlraum, der entweder in dem Substrat, wie in der US-Patentanmeldung Nr. 09/843,563 (= US 20020158040) beschrieben, eingereicht am 26. April 2001 und betitelt mit "Method For Fabricating A Microelectromechanical System (MEMS) Device Using A Pre-Patterned Substrate", oder von dem Träger selbst entfernt werden, wie in der US-Patentanmeldung Nr. 09/843,545 (= US 6,761,829 ) beschrieben, eingereicht am 26. April 2001 und betitelt mit "Method For Fabricating An Isolated Microelectromechanical System (MEMS) Device Using An Internal Void". Die biegsamen Arme erstrecken sich weg von dem Träger 20 zu Winkelstücken 48, die von dem Träger 20 an jeder Seite des Trägers 20 in Querrichtung versetzt sind. Die Winkelstücke 48 sind wiederum mit Expansionskompensatoren 50 verbunden, die zurückgeführt sind, um an dem Substrat 41 an einer Stelle nahe des Trägers 20 angebracht zu sein. Wie oben erwähnt, sind die Expansionskompensatoren nicht zwingend erforderlich. Vielmehr dienen sie, wenn erforderlich, zum Spannungsabbau. Die biegsamen Querarme 46 liegen grundsätzlich parallel zu den Expansionskompensatoren 50, mit denen sie verbunden sind. Die biegsamen Querarme 46, die Winkelstücke 48 und die Expansionskompensatoren sind ausgeführt, um elektrische Verbindungen zwischen den leitfähigen Bereichen 32a, 32b und 32c und stationären elektrischen Anschlüssen (nicht dargestellt) herzustellen.
  • Der Abschnitt 32a des Trägers 20 kann sich, wenn er einen Abschnitt des Aktuators darstellt, in Querrichtung nach außen erstreckende, bewegliche Kondensatorplatten 66 haben, die sich mit korrespondierenden, sich in Querrichtung nach innen erstreckenden stationären Kondensatorplatten 68 überlappen, die an dem Arm 44 angebracht sind, der die Anschlüsse 22a und 22b verkörpert. Jede der beweglichen Kondensatorplatten 66 und der korrespondierenden stationären Kondensatorplatten 68 kann wechselseitig ineinander greifende Finger haben (die einender gegenüber liegen, um einfache parallele Kondensatoren zu sein), um eine gleichförmigere elektrostatische Kraft über einen größeren longitudinalen Bewegungsbereich des Trägers 20 bereitzustellen. Der so gebildete elektrostatische Motor arbeitet unter Nutzung der Anziehung zwischen Kondensatorplatten 66 und 68 mit den verbundenen Anschlüssen 22b und 22a, um eine Spannungsdifferenz bezüglich des Trägers 20 (verbunden mit den Anschlüssen 22c und 22d) zu haben, so dass der Träger in die Betätigungsrichtung 24 angetrieben wird. Aus diesem Grund sind die stationären Kondensatorplatten 68 hinter den beweglichen Kondensatorplatten 66 an beiden Seiten des Trägers angeordnet, wenn er sich gemäß der Betätigungsrichtung 24 bewegt. Die Kondensatorplatten 66 und 68 sind frei tragend über dem Substrat 41 ausgeführt, und zwar durch den gleichen Ätzvorgang, der zur Trennung des Trägers 20 von dem Substrat 41 eingesetzt wird, wie oben beschrieben.
  • Die Arme 44, die den Abschnitt 32c des Trägers als angeformte Blocks 38a und 38d ebenfalls flankieren, umfassen die beweglichen und stationären Kondensatorplatten 66 und 68 in zwei verschiedenen Paaren. Wie angemerkt, stellt dieser Abschnitt das Steuerelement 14 und als solcher zwei elektrostatische Motoren bereit; einen unter Verwendung der Anschlüsse 38a und 38d, der hergestellt ist, um eine Kraft in der Gegenrichtung des Aktuators 12 mit den beweglichen Kondensatorplatten 66 erzeugen, die den stationären Kondensatorplatten 68 folgen, wenn sich dieser in der Betätigungsrichtung 24 bewegt, und der andere (unter Nutzung der Anschlüsse 38a und 38b), der hergestellt ist, um eine Kraft in der gleichen Richtung bezüglich des Aktuators 12 zu erzeugen, mit den beweglichen Kondensatorplatten 66, die vor den stationären Kondensatorplatten 68 liegen, wenn sich dieser in der Betätigungsrichtung 24 bewegt. Diese beiden Aktuatoren können in Kombination eingesetzt werden, um eine Steuerung des geschlossenen Regelsystems bereitzustellen.
  • Der Abschnitt 32b des Trägers trägt auch die beweglichen Kondensatorplatten 66 und die stationären Kondensatorplatten 68. Jedoch dienen in diesem Fall die Kondensatorplatten nicht dem Zweck der Erzeugung eines elektrostatischen Motors, sondern statt dessen als Messeinrichtung, bei der Änderungen der Kapazität der beweglichen Kondensatorplatten 66 und der stationären Kondensatorplatten 68 zur Anzeige der Position des Trägers 20 dienen. In dieser Hinsicht ist die Reihenfolge der stationären und der beweglichen Kondensatorplatten 66 und 68 an den einander gegenüberliegenden Seiten des Trägers 20 umgekehrt. Somit liegen die beweglichen Kondensatorplatten 66 an einer ersten Seite des Trägers (der Oberseite, wie in 4 dargestellt) den stationären Kondensatorplatten 68, wenn sich dieser in der Betätigungsrichtung 24 bewegt (wie gemessen zwischen dem Anschluss 26a und dem Anschluss 26b + 26d), wohingegen die umgekehrte Reihenfolge an der Unterseite des Trägers 20 vorliegt (wie gemessen zwischen dem Anschluss 26b und dem Anschluss 26c + 26d). Wenn sich der Träger 20 in der Betätigungsrichtung 24 bewegt, erhöht sich demgemäß die Kapa zität, die von den oberen beweglichen Kondensatorplatten 66 und stationären Kondensatorplatten 68 gebildet ist, wohingegen die von den unteren Platten gebildete Kapazität abnimmt. Der Punkt, an dem der Wert der oberen Kapazität den Wert der unteren Kapazität überschreitet, definiert präzise einen Nullpunkt und wird vorzugsweise auf halber Strecke der Bewegung des Trägers 20 festgelegt.
  • Bekannte Techniken zum Vergleich von Kapazitäten können eingesetzt werden, um die Position des Trägers 20 abzuschätzen. Eine Schaltung zur Bereitstellung extrem genauer Messungen dieser Kapazitäten ist in der ebenfalls anhängigen Anmeldung Nr. 09/677,037 beschrieben, die am 29. September 2000 eingereicht wurde. Grundsätzlich ist der analoge MEMS-Entkoppler 10 bezüglich einer Achse durch die Mitte des Trägers 20 entlang der Längsachse 40 symmetrisch aufgebaut, um thermische Ausdehnungen besser zu kompensieren. Zudem sind die Arbeitsflächen der Platten der Kondensatoren, d.h. der Platten 66 und 68 auf beiden Seiten des Trägers 20 für den Aktuator 12 und das Steuerelement 14 gleich, um im Gleichgewicht zu sein. Aus ähnlichen Gründen sind die Kondensatoren der elektrostatischen Motoren und das Steuerelement 14 zwischen den Paaren flexibler Querarme 46 angeordnet, um geringe Torsionsbeträge, die durch ungleichmäßige Kräfte zwischen den Kondensatorplatten 66 und 68 ausgelöst sind, besser zu kontrollieren. Obwohl der Entkoppler 10 hier als analoger dargestellt und erläutert ist, sollte der Durchschnittsfachmann verstehen, dass statt dessen ein digitaler Entkoppler eingesetzt werden könnte. Solch ein digitaler Entkoppler ist beispielsweise in der anhängigen Patentanmeldung Nr. 09/788,928 (= US 6,583,374 ) beschrieben, die den Titel "Microelectromechanical System (MEMS) Digital Electrical Isolator" trägt.
  • Wobei nun auf die 3 und 5 Bezug genommen wird, sollte es einem Fachmann bewusst sein, dass einer oder beide der elektrostatischen Motoren, die den Aktuator 12 und das Steuerelement 14 bilden, welche oben beschrieben sind, durch Lorentzkraftmotoren 75 ersetzt werden können, in denen Kräfte nicht zwischen elektrostatischer Anziehung zwischen Kondensatorplatten, sondern durch Wechselwirkung eines Stroms mit einem magnetischen Feld erzeugt werden. Bei dem Lorentzkraftmotor 75 kann ein magnetisches Feld (z. B. mit einem nicht dargestellten Permanentmagneten) benachbart zu dem analogen MEMS-Entkoppler 10 erzeugt werden, um einen magnetischen Fluss 70 normal zu dem Substrat zu erzeugen. Die Expansionskompensatoren 50, die den biegsamen Querarm 46 an einander gegenüberliegenden Seiten des Trägers 20 tragen, sind voneinander elektrisch entkoppelt, so dass eine Spannung über den Expansionskondensatoren 50 entwickelt werden kann, um einen Strom 72 durch den biegsamen Querarm 46 fließen zu lassen. Dieser Stromfluss in dem magnetischen Feld, das durch den Magneten erzeugt wird, erzeugt eine Längskraft auf den Träger 20, die an Stelle der elektrostatischen Motoren wirkt. Der Betrag der Ablenkung wird grundsätzlich durch die Flussdichte des magnetischen Feldes 70, den Betrag des Stroms und die Flexibilität der biegsamen Querarmpaare 46 gemäß der Rechtehandregel bestimmt.
  • Die Lorentzkraftmotoren 75 haben eine Zweiquadrantenbedeutung, so dass sie Ströme in jeder Richtung akzeptieren werden, um eine Kraft gemäß oder entgegengesetzt zu der Betätigungsrichtung 24 zu erzeugen. Anders als ein optischer Entkoppler kann der analoge MEMS-Entkoppler 10 folglich mit Lorentzkraftmotoren 75 (oder dem oben beschriebenen bidirektio nalen elektrostatischen Motor des Steuerelementes 14) mit zwei Polaritäten arbeiten.
  • Es wird nun insbesondere auf 6 Bezug genommen. Jeder Leistungshalbleiter besteht aus einer Vielzahl von Transistoren 92, die parallel geschaltet sind, so dass ein IGBT, ein bipolarer NPN-Transistor oder ein MOSFET-Leistungstransistor 69 (siehe z. B. 10) bereitgestellt wird, wie es diejenigen mit einem durchschnittlichen Fachwissen verstehen. Es sollte somit verstanden werden, dass die vorliegende Erfindung nicht auf einen speziellen Typ einer Halbleitervorrichtung beschränkt ist, die gemessen wird.
  • Ein Transistorelement 92 kann beispielsweise einen n-dotierten Siliziumwafer 93 umfassen, der von einem leitfähigen Rohchip 88 getragen ist, um ein Multichip-Modul (MCM) bereitzustellen. Der Rohchip kann nicht leitend sein und beispielsweise Harz, Keramik, Glas oder dergleichen umfassen. Alternativ kann der Rohchip 88 ein thermisch leitfähiges Material umfassen, um eine thermische Ableitung zu erleichtern. Eine Bindemetallschicht 90 kann zwischen dem Wafer 93 und dem Rohchip 88 angeordnet sein. Eine Wärmeableitung von dem Wafer 93 kann somit über das Bindemetall 90 und durch den Rohchip 88 erreicht werden. Die Metallschicht 90 bewirkt auch, den Stromfluss in dem Wafer 93 zu sammeln. Ein Anschluss 94, der an dieser Schicht angebracht ist, ist dann der Kollektorkontakt.
  • Eine Schicht von p-dotiertem Silizium 95 erstreckt sich teilweise über den oberen Bereich des Wafers 93. Ein Basisanschluss 96 ist mit der Schicht 95 verbunden. Da die Schicht 95 halbleitend ist, besteht kein Bedarf, eine zusätzliche I solierung zwischen dem Anschluss 96 und der Schicht 93 vorzusehen. Eine Schicht n-dotiertes Silizium 101 ist in der p-dotierten Schicht 95 eingebettet und stellt eine freie Fläche dar, die mit einem Emitteranschluss 98 verbunden ist, der zur Spannungsmessung eingesetzt wird, wie unten ausführlicher beschrieben werden wird. Ein Kollektoranschluss 100 ist auf der Metallschicht 90 als weiterer Kollektorkontakt angeordnet. Der Kollektoranschluss 94 ist auf der Metallschicht 90 angeordnet und mit einer (nicht dargestellten) Quelle verbunden. Alternativ könnte der Wafer 93 direkt auf dem Rohchip 88 angeordnet sein, in welchem Falle der Kollektoranschluss 94 direkt auf dem Rohchip 88 angeordnet wäre. Der Kollektoranschluss 94 könnte alternativ auf jedem leitfähigen Material angeordnet sein, das geeignet ist, die Spannung auf den Kollektoranschluss 100 zu übertragen. Es sollte erkannt werden, dass der Halbleiter 92 alternativ unter Verwendung jedes Dotierverfahrens hergestellt werden kann, das vom Durchschnittsfachmann verstanden wird.
  • Gemäß der bevorzugten Ausführungsform ist der Transistor 92 hergestellt, um von dem Rohchip 88 getragen zu werden, der auch die MEMS-Vorrichtung 10 trägt, so dass das Endprodukt eine Halbleitervorrichtung mit On-board-MEMS-Spannungssensor ist. Eine MEMS-Vorrichtung 10 des oben beschriebenen Typs ist in 6 schematisch dargestellt und stellt einen On-board-Spannungssensor für den Transistor 92 bereit, wie nun beschrieben werden wird. Der Entkoppler 10 kann unter Verwendung jeder der in den folgenden, anhängenden US-Patentanmeldungen beschriebenen Verfahren hergestellt werden: (1) Anmeldung Nr. 09/843,563 (= US 20020158040), eingereicht am 26. April 2001 und mit dem Titel "Method For Fabricating A Microelectromechanical System (MEMS) Device Using A Pre- Patterned Substrate" versehen; (2) Anmeldung Nr. 09/842,975 (= US 6,768,628 ), eingereicht am 26. April 2001 und mit dem Titel "Method For Fabrication An Isolated Microelectromechanical System (MEMS) Device Incorporating A Wafer Label Cap" versehen; (3) Anmeldung Nr. 09/843,545 (= US 6,761,829 ), eingereicht am 26. April 2001 und mit dem Titel "Method For Fabricating An Isolated Microelectromechanical System (MEMS) Device Using An Internal Void" versehen; und (4) "Method For Constructing An Isolated Microelectromechanical (MEMS) Device Using Surface Fabrication Techniques", eingereicht am 26. September 2001.
  • Die Vorrichtung 10 umfasst ein Paar von Armen 64, die sich oberhalb eines Substrats 41 erstrecken und zwischen denen ein bewegliches Element angeordnet ist, wie ein Träger 20, der von dem Substrat über einen internen Spalt 45 beabstandet ist, der eine Relativbewegung ermöglicht, wie oben beschrieben. Die stationären Arme 44 und der bewegliche Träger 20 legen zwischen sich einen Spalt 47 fest, dessen Größe in Abhängigkeit von der Bewegung des Elementes 20 schwankt, was zur genauen Bestimmung einer Eingangsspannung verwendet werden kann.
  • Die MEMS-Vorrichtung 10 ist auf einem Substrat 41 angeordnet, das wiederum von dem Rohchip 88 getragen ist. Obwohl das Substrat 41 gemäß der bevorzugten Ausführungsform isolierend ist, so wie es der Fall ist, wenn ein hoher Grad an elektrischer Entkopplung bei einer bestimmten Anwendung erforderlich ist, kann es in Abhängigkeit von der beabsichtigten Verwendung der MEMS-Vorrichtung leitfähig sein. Das Substrat 41 kann somit Glas, Silizium mit hohem Widerstand, kristallinen Saphir, kristallines Silizium, polykristallines Silizium, Si liziumcarbid oder eine Keramik wie Aluminiumoxid, Aluminiumnitrid und dergleichen oder Galliumarsenid umfassen. In der Tat kann das Substrat jegliches Material umfassen, das zum Tragen einer MEMS-Vorrichtung 10 geeignet ist. Alternativ kann die MEMS-Vorrichtung direkt auf dem Rohchip 88 angeordnet sein, wenn eine elektrische Isolierung zwischen dem beweglichen Element 20 und dem Rohchip 88 erreicht wird.
  • Die Arme 44 umfassen eine Basisschicht 76, die vorzugsweise isolierend ist, wenn eine gute Isolierung gewünscht ist und erforderlich ist, wenn das Substrat 41 leitend ist. Gemäß der bevorzugten Ausführungsform umfasst die Schicht 76 Siliziumdioxid (SiO2), das durch thermische Oxidation eines Siliziumwafers oder durch Abscheidung einer Schicht Siliziumdioxid beispielsweise durch chemische Abscheidung aus der Gasphase (CVD) oder plasmaverstärkte chemische Abscheidung aus der Gasphase (PECVD) hergestellt werden, wie es dem Durchschnittsfachmann bekannt ist. Alternativ kann ein Wafer mit Silizium auf einem Isolator (SOI) bereitgestellt, behandelt und gestaltet werden, um eine isolierende Schicht 76 bereitzustellen, die eine leitfähige Siliziumschicht 78 aufweist, die hiervon vorsteht.
  • Eine zusätzliche leitfähige Schicht 80 kann ebenfalls oberhalb der Schicht 76 angeordnet werden. Alternativ kann die Schicht 80 an der Oberseite der Schicht 78 angeordnet werden. Das bewegliche Element 20 umfasst eine Basis 82, die vorzugsweise isolierend ist, um eine elektrische Isolierung zu erreichen, und leitfähige Elemente 84, die hiervon vorspringen und gemäß der bevorzugten Ausführungsform Silizium umfassen. Eine optionale leitfähige Schicht 86 ist innerhalb des Elementes 20 angeordnet und mit der leitfähigen Schicht 80 aus gerichtet, um eine verbesserte elektrische Kommunikation zwischen den Armen 44 und dem beweglichen Element 20 zu erhalten.
  • Anschlüsse 102 sind in der isolierenden Schicht 76 eingebettet, um die MEMS-Vorrichtung 10 an die Anschlüsse 98 und 100 über Verbindungsdrähte 22b bzw. 22a verbinden zu können. Anschlüsse 102 können in Kombination mit einer Wafer Labelcap ausgeführt werden, wie oben angemerkt.
  • Demgemäß wird die Spannung, die von dem Kollektoranschluss 94 zu dem Anschluss 100 übertragen wird, über den Verbindungsdraht 22a zu dem Anschluss 102 an einem Ende der MEMS-Vorrichtung 10 übertragen. Ein zweiter Anschluss 102, der an dem anderen Ende der MEMS-Vorrichtung 10 angeordnet ist (aber an der gleichen Seite eines beweglichen Elementes 20), wird über einen Draht 22b mit dem Anschluss 98 verbunden, so dass die MEMS-Vorrichtung parallel mit dem Transistor 92 verdrahtet ist, um eine Spannung genau zu messen. Ein Draht 97 ist der Emitterverbindungsdraht, und der Rohchip 88 stellt eine Verbindung zwischen den anderen parallel geschalteten Transistorzellen auf Rohchipebene dar, wie oben beschrieben. Die gemessene Ausgangsspannung der MEMS-Vorrichtung 10 läuft entlang von Signal- und Verbindungsdrähten 104 zu jedem Schaltungspotential in der Gesamtvorrichtung oder -maschine, in der der Halbleiter und die MEMS-Vorrichtung installiert sind.
  • Es wird nun auf 7 Bezug genommen. Die oben beschriebene MEMS-Vorrichtung 10 kann auch einen reagierenden Stromsensor mit einem Lorentzkraftmotor bereitstellen, wie oben beschrieben. Der Transistor 92 und die MEMS-Vorrichtung 10 sind direkt auf einem Rohchip 88 anstatt auf einer leitfähigen Zwi schenschicht angeordnet. Wie oben beschrieben, ist der Transistor 92 einer einer Vielzahl von parallel geschalteten Transistoren, die zusammen einen IGBT, einen bipolaren NPN-Transistor oder einen MOSFET-Transistor darstellen. Der Transistor 92 umfasst einen Kollektoranschluss 94, der direkt auf dem Rohchip 88 angeordnet ist. Ein Basisanschluss 96 ist auf dem p-dotierten Abschnitt 95 eines n-dotierten Siliziumwafers 93 angeordnet. Ein Emitteranschluss 100 ist direkt auf dem leitfähigen Rohchip 88 angeordnet. Demgemäß fließt ein Strom von dem Kollektor 94 in den Emitteranschluss 100. Ein Verbindungsdraht 42a überträgt den Strom von dem Emitteranschluss 100 zu dem leitfähigen Anschluss 80 an einen Arm 44. Ein zweiter Anschluss 80, der an dem anderen Ende der MEMS-Vorrichtung 10 (aber an der gleichen Seite des beweglichen Elementes 20) angeordnet ist, verbindet die MEMS-Vorrichtung 10 mit den anderen Transistoren über einen Draht 42b und einen Emitter 100' in Reihe. Der Transistor 92 ist somit eine Multi-Emitter-Vorrichtung, in der ein Emitter 100 durch die MEMS-Vorrichtung 10 umgangen wird und dann die anderen Transistoren über den Emitter 100' verbindet. Die MEMS-Vorrichtung 10 misst den Strom unter Nutzung der Prinzipien der Lorentzkräfte, wie oben beschrieben, und gibt den Strom zu jedem Schaltungspotential in der Gesamtvorrichtung oder -maschine aus, in der der Transistor 92 und die MEMS-Vorrichtung 10 über Verbindungsdrähte 104 installiert sind.
  • Wie oben beschrieben, nimmt der MEMS-Stromsensor nur einen Teil des Gesamtstromflusses durch die Vielzahl von Transistoren 92 auf die parallel geschaltet sind, um zu verhindern, dass ein großer Strom durch die MEMS-Vorrichtung 10 fließt. Der von der MEMS-Vorrichtung aufgenommene Strom ist somit idealerweise ein Verhältnis des Äquivalents einer Vielzahl von parallel geschalteten Transistoren, von denen einer einen Strom an die MEMS-Vorrichtung ausgibt. Demgemäß kann das gemessene Stromausgangssignal mit der Anzahl an Transistoren in der Schaltung multipliziert werden, um eine tatsächliche Strommessung für die Schaltung zu erhalten.
  • Es wird nun auf 8 Bezug genommen. Eine MEMS-Vorrichtung 10 umfasst einen Stromsensor, wie er oben beschrieben ist, wobei der Transistor 92 auf einer Verbindungsmetallschicht 90 angeordnet ist und die MEMS-Vorrichtung 10 auf einem Substrat 41 angeordnet ist. Die Verbindungsmetallschicht 90 und das Substrat 41 sind, wie oben beschrieben, auf einem Rohchip 88 angeordnet. Diese Ausführungsform erkennt, dass, obwohl in der Theorie der Transistor 92 ein Stromlevel ausgeben wird, das proportional zu der Anzahl der Transistoren der Schaltung ist, in der Realität das Stromausgangssignal jedes Transistors geringfügig davon abweicht, dass es tatsächlich proportional ist. Demgemäß kann der Transistor 92 während der Herstellung durch Leiten eines festgelegten Strombetrags durch die Vielzahl an Transistoren, durch Messen des Ausgangssignals des Transistors 92 mit der MEMS-Vorrichtung 10 und durch Berechnen der Stromvarianz kalibriert werden. Die Berechnung wird mittels eines (nicht dargestellten) Prozessors in einer Kompensationsschaltung 106 durchgeführt. Wenn die Varianz während der Herstellung für den Transistor 92 bestimmt wurde, wird die Kompensationsschaltung 106 während der Verwendung durch den Endnutzer eine zuverlässigere Angabe ausgeben. Es wird des Weiteren erkannt, dass Temperaturfluktuation ebenfalls die Varianz beeinflussen können. Demgemäß kann die Kompensationsschaltung 106 des Weiteren eine Messung der Halbleitervorrichtungstemperatur umfassen, beispielsweise durch Überwachung der Durchlassvorspannung einer Pulsdiode, wie es in der Technik bekannt ist, um das Ausgangssignal auf Grundlage des voraussagbaren Verhaltens des Transistors auf die Temperatur weiter erfassen zu können. Eine einheitliche Vorrichtung ist somit bereitgestellt, die eine Stromquelle mit einem isolierten und kompensierten Strommesssystem hat, das im Grunde bei jeder Leistungshalbleitervorrichtung angewendet werden kann.
  • Es wird nun auf die 9 und 10 Bezug genommen. Ein Paar von MEMS-Vorrichtungen 10 und 10' kann auf einem einzigen Substrat 88 zusammen mit einem Leistungstransistor 92 hergestellt werden, um Messungen sowohl eines Spannungsausgangssignals als auch eines Stromausgangssignals in der oben beschriebenen Weise bereitzustellen. Insbesondere ist eine erste MEMS-Vorrichtung 10 mit dem Transistor 92 verbunden, wobei sie einen Spannungssensor bereitstellt, wie oben unter Bezugnahme auf 6 beschrieben, und ist eine zweite MEMS-Vorrichtung 10' elektrisch mit dem Transistor 92 verbunden, wobei diese einen Stromsensor darstellt, wie er oben unter Bezugnahme auf 7 beschrieben ist.
  • Der Transistor 92 umfasst einen Basisanschluss 96, der auf dem p-dotierten Abschnitt 95 eines n-dotierten Siliziumwafers 93 angeordnet ist. Strom fließt von einem Kollektor 94 durch einen Rohchip 88 und einen Emitteranschluss 100. Ein zweiter Emitter 100' ist auf einem n-dotierten Abschnitt 101' des p-dotierten Abschnitts 95 des Siliziumwafers 93 angebracht. Der MEMS-Spannungssensor 10 ist über eine Leitung 42a, die sich von dem Emitter 100 zu dem Anschluss 80 erstreckt, mit einem Umsetzer 92 und parallel über einen Emitter 102' mit den anderen Transistoren verbunden. Die Spannung wird wie oben beschrieben abgegriffen und über Leitungen 104 ausgegeben.
  • Der MEMS-Stromsensor 10' ist über einen Leitungsdraht 42b, der mit dem Emitter 100' verbunden ist, mit dem Transistor 92 verbunden. Der Sensor 10' bestimmt ein Stromausgangssignal, wie oben beschrieben, und kann es optional über Leitungen 104' als gemessenen Strom ausgeben, wie oben beschrieben. Der Sensor 10' ist über eine Leitung 22b und den Emitter 102' in Reihe mit den anderen Transistoren verbunden. Vorteilhafterweise wird einem Endnutzer ein Leistungstransistor bereitgestellt, der on-board eine zuverlässige Strom- und Spannungsmessung hat.
  • Das Obige wurde als bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben. Dem Fachmann wird sich erschließen, dass viele Modifikationen erfolgen können. Beispielsweise sind die Prinzipien der vorliegenden Erfindung nicht nur bei den oben beschriebenen Leistungshalbleitervorrichtungen anwendbar, sondern bei jedem Halbleiter oder jeder ähnlichen Vorrichtung, wie bei einer Diode, in breiter Weise anwendbar. Um die Öffentlichkeit von den verschiedenen Ausführungsformen in Kenntnis zu setzen, die von der Erfindung abgedeckt sind, wird Folgendes beansprucht.

Claims (19)

  1. Mikroelektromechanische (MEMS) elektrische Vorrichtung (10) zur Messung einer elektrischen Eigenschaft eines Leistungstransistors (92), der einen Kollektor, eine Basis und einen Emitter umfasst, wobei die Vorrichtung umfasst: einen Träger (88); ein Substrat (41), das mit dem Träger (88) verbunden und auf diesem angeordnet ist; ein Element (20), das von dem Substrat (41) getragen ist und zwischen einer ersten und einer zweiten Position beweglich ist, wobei das Element (20) zumindest einen isolierenden Bereich (34a, 34b) umfasst, der erste und zweite leitfähige Bereiche (32a, 32b, 32c) des Elements (20) elektrisch isoliert; einen Aktuator (12), der an dem Element (20) zur Aufnahme eines elektrischen Eingangssignals von dem Transistor befestigt ist und der eine von dem elektrischen Eingangssignal abhängende Kraft ausübt, die das Element (20) in Richtung der zweiten Position antreibt; eine an dem Element (20) angebrachte Vorspannkonstruktion (14), um eine festgelegte Gegenkraft auf das Element (20) auszuüben, die das Element in Richtung der ersten Position antreibt; und einen Sensor (18), der an dem zweiten Bereich des Elements (20) angebracht ist, um ein elektrisches Ausgangssignal bereitzustellen, das eine Bewegung des Elements (20) zwischen der ersten Position und der zweiten Position anzeigt, dadurch gekennzeichnet, dass der Aktuator (12) einen elektrostatischen Motor oder einen Lorenzkraftmotor, der an den ersten leitfähigen Bereichen (32a) angebracht ist, um eine Spannung oder einen Strom als die elektrische Eigenschaft zu messen, und die Vorspannkonstruktion (14) zumindest einen elektrostatischen Motor oder einen Lorenzkraftmotor umfasst, wobei das Element (20), das den Aktuator (12) die Vorspannkonstruktion (14) und den Sensor (18) verbindet, mittels flexibler Querarme (46) gehaltert ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die MEMS-Vorrichtung (3) im Fall der Messung einer Spannung drei elektrostatische Motoren, die den Aktuator (12) und die Vorspannkonstruktion (14) bilden, und einen kapazitiven, mittels des Elements (20) angebundenen Sensor (18) in Form eines beweglichen Trägers umfasst, der die leitfähigen Bereiche (32a, 32b, 32c) und den mindestens einen isolierenden Bereich (34, 34b) umfasst.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Sensor (18) aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem kapazitiven Sensor, einem piezoelektrischen Sensor, einem photoelektrischen Sensor, einem resistiven Sensor und einem optisch schaltenden Sensor besteht.
  4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei das Substrat (41) leitfähig ist.
  5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei das Substrat (41) isolierend ist.
  6. Leistungshalbleitervorrichtung mit Messfähigkeiten, wobei die Vorrichtung umfasst: mehrere elektrisch verbundene Leistungstransistoren (92), wobei einer der Leistungstransistoren (92) auf einem Träger (88) angeordnet ist und einen Kollektor, eine Basis und einen Emitter umfasst; eine erste MEMS-Vorrichtung (10), die auf dem Träger (88) angeordnet ist, wobei die MEMS-Vorrichtung in elektrischer Verbindung mit dem einen der Leistungstransistoren (92) steht, wobei die erste MEMS-Vorrichtung umfasst: i) einen Aktuator (12), der ein elektrisches Eingangssignal von einem der Leistungstransistoren (92) empfängt; ii) ein Element (20), das mit dem Aktuator (12) verbunden ist und von dem Träger (88) gehaltert ist, zur Bewegung zwischen einer ersten und einer zweiten Position bezüglich des Trägers in Abhängigkeit von dem elektrischen Eingangssignal, wobei das Element (20) einen isolierenden Bereich (34a, 34b) umfasst, der erste und zweite leitfähige Bereiche (32a, 32b, 32c) des Elements (20) elektrisch isoliert; iii) eine Vorspannkonstruktion (14), die an dem Element (20) angebracht ist, um eine festgelegte Gegenkraft auf das Element auszuüben, die das Element in Richtung der ersten Position antreibt; und iv) einen Sensor (18), der an den zweiten Bereich des Elements (20) angebracht ist, um ein elektrisches Ausgangssignal bereitzustellen, das eine Bewegung des Elements zwischen der ersten Position und der zweiten Position anzeigt; wobei ein Eingangssignal, das über einem festgelegten Grenzwert liegt, die Gegenkraft überwindet, um das Element (20) zu veranlassen, sich von der ersten zu der zweiten Position zu bewegen, um das elektrische Ausgangssignal zu erzeugen, wobei der isolierende Bereich (34a, 34b) das Ausgangssignal von dem elektrischen Eingangssignal elektrisch isoliert, und wobei der Aktuator (12) einen elektrostatischen Motor oder einen Lorenzkraftmotor umfasst, der an dem ersten leitfähigen Bereich (32a) zur Messung einer Spannung oder eines Stroms als elektrisches Eingangssignal angebracht ist, die Vorspannkonstruktion (14) mindestens einen elektrostatischen Motor oder einen Lorenzkraftmotor umfasst, und das Element (20), das den Aktuator (12), die Vorspannkonstruktion (14) und den Sensor (18) verbindet, mittels flexibler Querarme (46) gehaltert ist.
  7. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 6, wobei der Leistungstransistor (92) mittels eines auf dem Träger (88) angeordneten, ersten Substrats (90) getragen ist.
  8. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 6, wobei die erste MEMS-Vorrichtung (10) mittels eines zweiten Substrats (41) getragen ist, das über den Träger (88) mit dem ersten Substrat (90) verbunden ist.
  9. Halbleitervorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, wobei die MEMS-Vorrichtung (10) in Reihe mit einem der Transistoren (92) verbunden ist, um den hier durchfliesenden Strom zu messen.
  10. Halbleitervorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, wobei die MEMS-Vorrichtung (10) parallel mit einem der Transistoren (92) verbunden ist, um eine daran anliegende Spannung zu messen.
  11. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 9, des Weiteren umfassend eine Kompensationsschaltung (106), die auf dem Träger (88) befestigt ist, das Stromausgangssignal des Sensors (88) aufnimmt und einen Gesamtstromfluss durch den Leistungstransistor (92) berechnet und/oder korrigiert.
  12. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 6, wobei die erste MEMS-Vorrichtung (10) mit der Leistungshalbleitervorrichtung zur Messung einer daran anliegenden Spannung verbunden ist, des Weiteren umfassend eine zweite MEMS-Vorrichtung (10'), die das Element den Aktuator, die Vorspannkonstruktion und den Sensor umfasst, wobei die zweite MEMS-Vorrichtung (10') mit der Halbleitervorrichtung zur Messung eines hierdurch fließenden Stromes derartig verbunden ist, so dass das elektrische Ausgangssignal ein Stromausgangssignal ist.
  13. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 12, wobei die erste MEMS-Vorrichtung (10) parallel mit einem der mehreren Transistoren (92) verbunden ist.
  14. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 13, wobei die zweite MEMS-Vorrichtung (10') in Reihe mit einem der mehreren Transistoren (92) verbunden ist.
  15. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 14, des Weiteren umfassend eine Kompensationsschaltung (106), die das Stromausgangssignal der zweiten MEMS-Vorrichtung (10) aufnimmt und einem Gesamtstromfluss durch die Halbleitervorrichtung bestimmt.
  16. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 12, wobei die zweite MEMS-Vorrichtung (10') mit einem der mehreren Transistoren (92) verbunden ist.
  17. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 8, wobei das Substrat (41) isolierend ist.
  18. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 8, wobei das Substrat (41) leitfähig ist.
  19. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 6, wobei die MEMS-Vorrichtung im Fall einer Messung einer Spannung drei elektrostatische Motoren, die den Aktuator (12) und die Vorspannkonstruktion (14) bilden, und ein mittels des Elements (20) angebunden, kapa zitiven Sensor (18) in Form eines beweglichen Trägers umfasst, der die leitfähigen Bereiche (32a, 32b, 32c) und mindestens einen isolierenden Bereich (34a, 34b) umfasst.
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