JP3615285B2 - 差動型フィルター回路及びその集積回路構造 - Google Patents

差動型フィルター回路及びその集積回路構造 Download PDF

Info

Publication number
JP3615285B2
JP3615285B2 JP25368995A JP25368995A JP3615285B2 JP 3615285 B2 JP3615285 B2 JP 3615285B2 JP 25368995 A JP25368995 A JP 25368995A JP 25368995 A JP25368995 A JP 25368995A JP 3615285 B2 JP3615285 B2 JP 3615285B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
resistor
capacitor
integrated circuit
semiconductor substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP25368995A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09284076A (ja
Inventor
俊夫 室田
斉 寺澤
利彦 濱崎
Original Assignee
日本バーブラウン株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本バーブラウン株式会社 filed Critical 日本バーブラウン株式会社
Priority to JP25368995A priority Critical patent/JP3615285B2/ja
Priority to US08/718,918 priority patent/US5815051A/en
Publication of JPH09284076A publication Critical patent/JPH09284076A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3615285B2 publication Critical patent/JP3615285B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/50Digital/analogue converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/502Details of the final digital/analogue conversion following the digital delta-sigma modulation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/01Frequency selective two-port networks
    • H03H7/06Frequency selective two-port networks including resistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/42Balance/unbalance networks
    • H03H7/425Balance-balance networks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H1/00Constructional details of impedance networks whose electrical mode of operation is not specified or applicable to more than one type of network
    • H03H1/02Constructional details of impedance networks whose electrical mode of operation is not specified or applicable to more than one type of network of RC networks, e.g. integrated networks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H1/00Constructional details of impedance networks whose electrical mode of operation is not specified or applicable to more than one type of network
    • H03H2001/0021Constructional details
    • H03H2001/0064Constructional details comprising semiconductor material
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/42Balance/unbalance networks
    • H03H7/425Balance-balance networks
    • H03H7/427Common-mode filters

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、差動型フィルター回路及びその集積回路化された構造に関するもので、この差動型フィルター回路は集積回路化に適しており、差動型CRローパスフィルター及び差動型CRハイパスフィルターを含む。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路上で、高精度、低ノイズのアナログ性能を持つべき回路の一部としてフィルターを設計する場合、所望のフィルター特性に加え、ノイズに対するフィルター機能をも考慮して設計を行う必要がある。従来は、例えばノーマル・ノイズに対しては、差動構成にすることによりノイズを除去する方法が一般的に用いられてきた。一方、コモンモードノイズに対しては、CR回路と演算増幅器を用いたアクティブフィルターにおいて、演算増幅器を高コモンモード除去比を持つよう設計することで対処してきている。
【0003】
しかしながら、このようなアクティブフィルターでは、演算増幅器を例えばカスコード構造とする等、回路規模が比較的に大きくなる傾向がある。更に、最近の半導体集積回路プロセスでは低い電源電圧が使われるので、高コモンモード除去比の増幅器を設計することは極めて難かしく、高精度、低ノイズのアナログ性能を目指した回路の高集積化は困難であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記のように、従来のフィルター設計では、近年の超微細化プロセスを用いた半導体集積回路上で良好なアナログ回路を実現することは困難であるとの課題を克服するために提案されたものであり、本発明の目的は、ノーマルモードノイズ、コモンモードノイズの両方に対してフィルター効果を持つ差動型フィルター回路を提供することである。本発明の別の目的は、ノーマルモードノイズ、コモンモードノイズの両方に対してフィルター効果を持ち、しかも小面積上に効果的に形成することが可能な差動型フィルターを提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、請求項1の発明は、
第一の抵抗器と第三の抵抗器との直列回路であって、第一の入力端子と第一の出力端子との間に接続された直列回路と、
前記第一の抵抗器と同じ抵抗値を有する第二の抵抗器と、前記第三の抵抗器と同じ抵抗値を有する第四の抵抗器との直列回路であって、第二の入力端子と第二の出力端子との間に接続された直列回路と、
前記第一の抵抗器と前記第三の抵抗器との間の点と基準電位との間に接続された第一のコンデンサーと、
前記第一の抵抗器と前記第三の抵抗器との間の点と、前記第二の抵抗器と前記第四の抵抗器との間の点との間に接続された第二のコンデンサーと、
前記第一の出力端子と前記第二の出力端子との間に接続された第三のコンデンサーと、
前記第四の抵抗器と前記第二の出力端子との間の点と前記基準電位との間に接続され且つ前記第一のコンデンサーと同じ容量値を有する第四のコンデンサーと、
を具備することを特徴とする二次の差動型ローパスフィルター回路、
を提供する。
【0006】
請求項2の発明は、
第一の絶縁層と、
前記第一の絶縁層の一方の面に接するように形成された第一の電極と、
前記第一の絶縁層の他方の面上の、前記第一の電極と対向する位置に形成された第二の電極及び第三の電極と、
前記第二の電極と前記第三の電極とに対向するそれぞれの位置に第二の絶縁層を介して形成された第四の電極及び第五の電極と、
前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と、前記第四の電極及び前記第五の電極が形成された面とのいずれか一方に形成された第一の抵抗器、第二の抵抗器、第三の抵抗器及び第四の抵抗器と、
前記第一の電極を基準電位に接続する導線と、
前記第一の抵抗器の一端を前記第三の抵抗器の一端と前記第二の電極とに接続する導線と、
前記第二の抵抗器の一端を前記第四の抵抗器の一端と前記第四の電極とに接続する導線と、
前記第三の抵抗器の他端を前記第五の電極と接続する導線と、
前記第四の抵抗器の他端を前記第三の電極と接続する導線と、
前記第一の抵抗器の他端と前記第二の抵抗器の他端とにそれぞれ接続された入力端子と、
前記第三の電極及び前記第五の電極にそれぞれ接続された出力端子と、
を具備し、
前記第一の電極と、前記第四の電極及び前記第五の電極とのいずれか一方を半導体基板に形成し、
前記第一の電極と前記第二の電極とで第一のコンデンサーを形成し、前記第二の電極と前記第四の電極とで第二のコンデンサーを形成し、前記第三の電極と前記第五の電極とで第三のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の電極とで第四のコンデンサーを形成して二次の差動型ローパスフィルター回路を構成したことを特徴とする集積回路構造、
を提供する。
【0007】
請求項3の発明は、
第一の絶縁層と、
前記第一の絶縁層の一方の面に接するように形成された第一の電極と、
前記第一の絶縁層の他方の面上の、前記第一の電極と対向する位置に形成された第二の電極及び第三の電極と、
前記第二の電極と前記第三の電極とに対向するそれぞれの位置に第二の絶縁層を介して形成された第四の電極及び第五の電極と、
前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と、前記第四の電極及び前記第五の電極が形成された面とのいずれか一方に形成された第一の抵抗器、第二の抵抗器、第三の抵抗器及び第四の抵抗器と、
前記第一の電極を基準電位に接続する導線と、
前記第一の抵抗器の一端を前記第三の抵抗器の一端と前記第四の電極とに接続する導線と、
前記第二の抵抗器の一端を前記第四の抵抗器の一端と前記第二の電極とに接続する導線と、
前記第三の抵抗器の他端を前記第三の電極と接続する導線と、
前記第四の抵抗器の他端を前記第五の電極と接続する導線と、
前記第一の抵抗器の他端と前記第二の抵抗器の他端とにそれぞれ接続された入力端子と、
前記第三の電極及び前記第五の電極にそれぞれ接続された出力端子と、
を具備し、
前記第一の電極と、前記第四の電極及び前記第五の電極とのいずれか一方を半導体基板に形成し、
前記第一の電極と前記第二の電極とで第一のコンデンサーを形成し、前記第二の電極と前記第四の電極とで第二のコンデンサーを形成し、前記第三の電極と前記第五の電極とで第三のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の電極とで第四のコンデンサーを形成して二次の差動型ローパスフィルター回路を構成したことを特徴とする集積回路構造、
を提供する。
【0008】
請求項4の発明は、前記第一の電極は、前記半導体基板の導電型とは異なる導電型の不純物を前記半導体基板に拡散させた層から成ることを特徴とする。
請求項5の発明は、前記第一の電極は、前記半導体基板上に絶縁膜を介して形成された導電層であることを特徴とする。
【0009】
請求項6の発明は、前記第一の抵抗器〜前記第四の抵抗器は、前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と同じ面上に形成され、前記第一の電極と前記第一の抵抗器との間で第一の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の抵抗器との間で第二の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第二の抵抗器との間で第三の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第四の抵抗器との間で第四の追加のコンデンサーを形成するように、前記第一の電極を前記半導体基板に対して形成したことを特徴とする。
【0010】
請求項7の発明は、前記第四の電極及び前記第五の電極のそれぞれは、前記半導体基板の導電型とは異なる導電型の不純物を前記半導体基板に拡散させた層から成ることを特徴とする。
【0011】
請求項8の発明は、前記第四の電極及び前記第五の電極のそれぞれは、前記半導体基板上に絶縁膜を介して形成されていることを特徴とする。
請求項9の発明は、前記第一の抵抗器〜前記第四の抵抗器は、前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と同じ面上に形成され、前記第一の電極と前記第一の抵抗器との間で第一の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の抵抗器との間で第二の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第二の抵抗器との間で第三の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第四の抵抗器との間で第四の追加のコンデンサーを形成するように、前記第一の電極を前記半導体基板に対して形成したことを特徴とする。
【0012】
請求項10の発明は、前記第一の抵抗器〜前記第四の抵抗器とは、前記第一の電極〜前記第五の電極とのいずれかと同じ材質であることを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の若干の実施の形態について、図1〜図16を参照して詳細に説明する。なお、それぞれの実施の形態において、同一の構成要素は同じ参照数字又は符号で指示することにする。
【0014】
図1は、本発明に係る差動型フィルター回路の第一の実施形態である一次の差動型ローパスフィルター回路の構成を概略的に示す図である。図1において、第一の入力端子IN1は第一の抵抗器R1の一端に接続され、第二の入力端子IN2は第二の抵抗器R2の一端に接続されている。第一の抵抗器R1と第二の抵抗器R2とは同じ抵抗値を有する。第一の抵抗器R1の他端は第一の出力端子OUT1に接続されると共に第一のコンデンサーC1を介して接地され又は電源と接続される。第二の抵抗器R2の他端は第二の出力端子OUT2に接続されると共に第二のコンデンサーC2を介して接地され又は電源と接続される。第一のコンデンサーC1と第二のコンデンサーC2との容量値は等しい。更に、第一の抵抗器R1の他端と第二の抵抗器R2の他端との間に第三のコンデンサーC3が接続される。
【0015】
こうした構成とすることにより、第一の抵抗器R1、第二の抵抗器R2及び第三のコンデンサーC3によって、ノーマルモードノイズを除去するローパスフィルターができる。また、第一の抵抗器R1と第一のコンデンサーC1によって正相側の発生するコモンモードノイズを除去するローパスフィルターが構成され、第二の抵抗器R2と第二のコンデンサーC2によって逆相側に発生するコモンモードノイズを除去するローパスフィルターが構成される。図2に点線で示す曲線は、第一のコンデンサーC1と第一の抵抗器R1とから成るコモンモードノイズを除去するローパスフィルターの特性を示している。一方、図3に実線で示す曲線は、第一の抵抗器R1、第二の抵抗器R2及び第三のコンデンサーC3から成るノーマルモードノイズを除去するローパスフィルターの特性を示している。
【0016】
次に、図1の差動型ローパスフィルター回路を構成する集積回路構造について若干の例を説明する。図4は、こうした集積回路構造の一例を概略的に示している。図4において、P型シリコンの半導体基板SUBの表面にN型拡散層を形成して第一の電極1を設ける。第一の電極1を覆うように第一の絶縁層IL1を形成し、第一の絶縁層IL1上に第二の電極2及び第三の電極3を形成し、更にその外側に第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2を形成する。これら第二の電極2、第三の電極3、第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2を被覆するように第二の絶縁層IL2を形成した後、第二の絶縁層IL2の上に、第一の電極1と対向する位置に第四の電極4を、第二の電極2と対向する位置に第五の電極5をそれぞれ形成する。
【0017】
例えば、第一の絶縁層IL1と第二の絶縁層IL2との材質はSiO2であり、第二の電極2と第三の電極3との材質は第一の多結晶シリコンであり、第四の電極4と第五の電極5との材質は、第一の多結晶シリコンとは異なる第二の多結晶シリコンであり、第一の抵抗器R1と第二の抵抗器2との材質は第一の多結晶シリコン又は第二の多結晶シリコンであることが好ましい。
【0018】
なお、第一の絶縁層IL1の厚さは5000Å、第二の絶縁層IL2の厚さは500Åであり、第二の電極2、第三の電極3、第一の抵抗器R1、第二の抵抗器R2、第四の電極4及び第五の電極5の厚さはいずれも5000Åである。しかし、こうした数値は一例であって、これに限定されない。
【0019】
こうして、第一の電極1と第二の電極2との間に第一のコンデンサーC1が形成され、第一の電極1と第三の電極3との間に第二のコンデンサーC2が形成される。また、第二の電極2と第四の電極4との間にコンデンサーC31が形成され、第三の電極3と第五の電極5との間に別のコンデンサーC32が形成される。これらのコンデンサーC31、C32は第一の出力端子OUT1と第二の出力端子OUT2との間に並列に接続され、それらの容量値の和は第三のコンデンサーC3の容量値に等しい。
【0020】
第一の抵抗器R1の一端は入力端子IN1に接続され、第一の抵抗器R1の他端は第二の電極2と接続される。第二の電極2は第五の電極5と接続され、第三の電極3は第四の電極4と接続されると共に第二の抵抗器R2の一端に接続される。第二の抵抗器R2の他端は第二の入力端子IN2と接続される。これらの接続には導電性の金属体が用いられる。
【0021】
このように、第二の電極2と第三の電極3とはコンデンサーの形成のために共有されているので、ローパスフィルターを極めて小さい面積に形成することができる。
【0022】
図5は、図4に示す集積回路構造を一部変更した例を示しており、第一の電極1は第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2と重なるように延長されている。このため、第一の電極1と第一の抵抗器R1との間に追加のコンデンサーC1′が形成され、第一の電極1と第二の抵抗器R2との間に別の追加のコンデンサーC2′が形成される。図5に示す集積回路構造の等価回路を図6に示す。この等価回路から明らかなように、コンデンサーC1′は第一のコンデンサーC1に並列に接続され、コンデンサーC2′は第二のコンデンサーC2に並列に接続されるので、第一のコンデンサーC1と第二のコンデンサー2とを小面積で形成することができる。そのうえ、コンデンサーC1′により第一のコンデンサーC1を、また、コンデンサーC2′により第二のコンデンサーC2をそれぞれ調整することができるので、コモンモードノイズ除去能力を高めることができる。
【0023】
図7は、図5の集積回路構造における実際の電気的接続手段を示す断面図である。図7において、第四の電極4及び第五の電極5を覆う第三の絶縁層IL3が形成され、第三の絶縁層IL3上に電気的接続のための導体(いわゆるファーストメタルと呼ばれ、図7では参照数字M1が付されている)が適宜の箇所に複数個形成され、更にこれら導体M1を覆うように第四の絶縁層IL4が形成され、その上に同様の導体(いわゆるセカンドメタルと呼ばれ、図7では参照数字M2が付されている)が適所に形成される。導体M1と電極や抵抗器との間、及び、導体M1と導体M2との間は導電性プラグ(例えばタングステンプラグであり、参照数字Pが付されている)によって接続される。例えば、第一の電極1の一端は導電性プラグPを介して第三の絶縁層IL3上の導体M1に接続され、この導体M1は別の導電性プラグPを介して第四の絶縁層IL4上の導体M2に接続される。この導体M2が接地され、又は電源に接続される。また、第一の抵抗器R1と第二の電極2との隣接する端部の間は一対の導電性プラグPとそれらの間を接続する導体M1とによって相互に接続される。以下、同様にして、図示のとおりの所要の電気的接続が行われる。
【0024】
図4に示す集積回路構造においては、第一の電極1として、半導体基板SUBに形成されたN型拡散層が用いられたが、これに代えて、第一の電極1を導電層又は導電薄膜とすることができる。このときの構成を図8は概略的に示している。図8においては、第一の電極1は半導体基板SUB上に絶縁膜6を介して形成された導電層である。こうすると、図4の集積回路構造におけるよりも第一の絶縁層IL1を薄くすることができ、第一の電極1と第二の電極2との間の距離、及び、第一の電極1と第三の電極3との間の距離を小さくすることができるので、第一のコンデンサーC1及び第二のコンデンサーC2の容量値を大きく取ることができ、フィルター設計の自由度が増すという利点がある。
【0025】
以上説明した構造例においては、第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2は、第二の電極2及び第三の電極3と共に第一の絶縁層IL1上に形成され、したがって第二の電極2及び第三の電極3と同じ材質の導電体から成るものとして説明したが、その代わりに、第一の抵抗器R1と第二の抵抗器R2とを、第四の電極4及び第五の電極5が形成された面と同じ面上に形成するようにしてもよい。更に、第一の絶縁層IL1上に第二の電極2と第三の電極3とを形成した後、これらの電極を覆うよう第二の絶縁層IL2を形成し、第二の絶縁層IL2によって覆われていない第一の絶縁層IL1上に第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2を形成するようにしてもよい。これらの場合には、第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2の材質は、第四の電極4及び第五の電極5と同じ導電物質である。
【0026】
また、以上説明した構造例においては、第一の電極1は半導体基板SUBに形成された拡散層又は半導体基板SUB上に絶縁層6を介して形成された導電層であったが、図4の集積回路構造について説明したような、第一の電極1を最初に半導体基板上に形成し、第四の電極4及び第五の電極5を最後に形成するというプロセスを逆にし、第四の電極4及び第五の電極5を最初に半導体基板に対して形成し、第一の電極1を最後に形成するというプロセスを採用して図1の差動型ローパスフィルター回路を集積回路化してもよい。こうしたプロセスにより形成された集積回路構造を図9に示す。図9に示す構造では、第四の電極4、第五の電極5、第一の抵抗器R1及び第二の抵抗器R2が絶縁膜6を介して半導体基板SUB上に形成されているが、これに代えて、第一の抵抗器R1と第二の抵抗器R2とを、第二の電極2及び第三の電極3が形成された面と同じ面上に設け、第四の電極4と第五の電極5とを、半導体基板SUBに不純物拡散層として形成するようにしてもよい。
【0027】
図10は、図1の差動型ローパスフィルターをマルチビット・オーバーサンプリング・デジタル−アナログ変換器に応用した場合の回路図を示している。図10のマルチビット・オーバーサンプリング・デジタル−アナログ変換器は差動型動作を行うもので、シグマ−デルタ型3次5レベルのノイズ・シェーピング器NSからのデジタル出力は、抵抗器群に均等の重み付けを行うためのビット・ローテーション回路を内蔵したデータ・デコーダーDDに入力される。データ・デコーダDDからの出力は、差動動作を行うための、インバーターにより反転されたデータと共に、変換タイミングを調整する目的でデータ・ラッチDLに一時的に蓄えられる。データ・ラッチDLにはクロック発生器CGからクロック信号が与えられる。データ・ラッチDLの出力は、複数のCMOSのインバーターを含むスイッチ群、変換抵抗器群及びコンデンサーC3′を有するデジタル・アナログ変換部DACを介して、図1の差動型ローパスフィルターFLに供給される。ローパスフィルターFLの出力は差動増幅器DAに与えられ、アナログ信号として出力される。
【0028】
デジタル・アナログ変換部DACの変換抵抗器群とコンデンサーC3′とによってもローパスフィルターが形成されており、これとローパスフィルターFLとによって二次のローパスフィルターが構成される。それぞれのローパスフィルターの特性を例えば6dB/octとすると、この二次のローパスフィルターは12dB/octの特性を持つことになる。しかし、コモンモードノイズ除去用のフィルターとしては一次の構成となっている。
【0029】
図10のマルチビット・オーバーサンプリング・デジタル−アナログ変換器を例えばオーディオ用デジタル−アナログ変換器として用いた場合、可聴周波数帯域内(0〜20kHz)のノイズが48倍のオーバーサンプリングによりシェーピングされて帯域外に押しやられる。この帯域外に押しやられたノイズの一部はローパスフィルターFLで除去される。また、デジタル・アナログ変換部DAC内の変換抵抗器をスイッチするときにスイッチ群SWのCMOSインバーターから発生されるスイッチング・ノイズは、CMOSインバーターの電源そのものに対してコモンモードノイズを発生させるが、コモンモードノイズの高周波成分はローパスフィルターFLによって除去される。
【0030】
これまでの図1〜図10を用いての説明は一次の差動型ローパスフィルターに関するものであった。次に、図11を用いて、本発明に係る差動型フィルターの第二の実施形態である二次の差動型ローパスフィルターについて説明する。図11において、第一の入力端子IN1は第一の抵抗器R11の一端に接続され、第二の入力端子IN2は第二の抵抗器R12の一端に接続される。第一の抵抗器R11の他端は、第一のコンデンサーC11を介して接地され又は電源と接続されると共に、第二のコンデンサーC12を介して第二の抵抗器R12の他端と接続される。更に、第一の抵抗器R11の他端は第三の抵抗器R13の一端に接続され、第二の抵抗器R12の他端は第四の抵抗器R14の一端に接続される。第三の抵抗器R13の他端は第一の出力端子OUT1に接続されると共に、第三のコンデンサーC13を介して第四の抵抗器R14の他端に接続される。第四の抵抗器R14の他端は更に第二の出力端子OUT2に接続されると共に、第四のコンデンサーC14を介して接地され又は電源と接続される。
【0031】
このときの第一の抵抗器R11〜第四の抵抗器R14の抵抗値及び第一のコンデンサーC11〜第四のコンデンサーC14の容量値とをそれぞれの参照符号で表すとすると、R11=R12、R13=R14、C11=C14である。
【0032】
図12は、図11の差動型ローパスフィルター回路を構成する集積回路構造の一例の断面図で、例えばP型シリコンで作られた基板SUB上にN型拡散層から成る第一の電極11を形成し、それを覆うように第一の絶縁層IL11を形成する。この上の第一の電極11と対向する位置に第二の電極12と第三の電極13とが形成され、更に、これら電極の外側に第三の抵抗器R13と第四の抵抗器R14とが形成され、更にその外側に第一の抵抗器R11と第二の抵抗器R12とが形成される。なお、図12では、第一の電極11は第一の抵抗器R11〜第四の抵抗器R14と対向する位置まで延長されて形成されているが、これは必ずしも必要ではなく、第一の電極11を第二の電極12と第三の電極13とに対向するように形成するのでもよい。この後、第一の抵抗器R11〜第四の抵抗器R14、第二の電極12及び第三の電極13を覆うように第二の絶縁層IL12を設け、その上に、第二の電極12と対向する位置に第四の電極14を、第三の電極13と対向する位置に第五の電極15を形成する。
【0033】
こうして、第一の電極11と第二の電極12との間に第一のコンデンサーC11が形成され、第二の電極12と第四の電極14との間に第二のコンデンサーC12が形成され、第三の電極13と第五の電極15との間に第三のコンデンサーC13が形成され、第三の電極13と第一の電極11との間に第四のコンデンサーC14が形成される。更に、第一の電極11と第一の抵抗器R11及び第三の抵抗器R13との間に、第一のコンデンサーC11に並列に追加のコンデンサーC11′、C11″が形成され、第一の電極11と第二の抵抗器R12及び第四の抵抗器R14との間に、第四のコンデンサーC14に並列に追加のコンデンサーC14′、C14″が形成される。
【0034】
これら第一の電極11〜第五の電極15、第一の抵抗器R11〜第四の抵抗器R14、第一の入力端子IN1、第二の入力端子IN2、第一の出力端子OUT1及び第二の出力端子OUT2は、図12に太い黒線で示すとおりに、導線により相互に電気的に接続される。図12の構造の等価回路を図13に示す。ここに示すとおり、第一のコンデンサーC11に並列に接続されるコンデンサーC11′、C11″、及び第四のコンデンサーC14に並列に接続されるコンデンサーC14′、C14″は、図6において説明したコンデンサーC1′、C2′と同様の作用を奏する。
【0035】
図2に実線で示す曲線は、第一の抵抗器R11と第一のコンデンサーC11、第一の抵抗器R11とコンデンサーC11′、及び、第三の抵抗器R13とコンデンサーC11″によってできるローパスフィルターの特性を示している。
【0036】
図12における電気的接続に代えて、図14に示すように、第一の抵抗器R11と第三の抵抗器R13との隣接する端部を第四の電極14と接続し、第三の抵抗器R13の残りの端部と第三の電極13とを第一の出力端子OUT1に接続し、第二の電極12を第四の抵抗器R14と第二の抵抗器R12との隣接する端部にそれぞれ接続し、第四の抵抗器R14の残りの端部と第五の電極15とを第二の出力端子OUT2に接続するようにしてもよい。このときの等価回路は図15に示すとおりであり、第一のコンデンサーC11は第二の抵抗器R12と第四の抵抗器R14との接続点に接続され、第一のコンデンサーC11に並列にコンデンサーC14′、C14″が接続される。また、第四のコンデンサーC14は第一の出力端子OUT1と基準電位との間に接続され、第四のコンデンサーC14に並列にコンデンサーC11′、C11″が接続される。
【0037】
図12及び図14に示す集積回路構造においても、第一の実施形態におけると同様に、第一の電極11を、半導体基板SUBに該半導体基板の導電型とは異なる導電型の不純物を拡散させた層で形成するようにしても、半導体基板SUB上に絶縁膜を介して形成された導電膜又は導電層であってもよい。更に、図9の集積回路構造について説明したのと同様に、第四の電極14と第五の電極15とを最初に半導体基板SUBに形成し、最後の第一の電極11を形成するようなプロセスを採用してもよい。
【0038】
なお、第二の実施形態においても、絶縁層、電極及び抵抗器の材質や厚さは、図1〜図10において説明したのと同じであるが、これに限定されるものではない。
【0039】
以上の説明は一次又は二次の差動型ローパスフィルターに関するものであったが、抵抗器をコンデンサーで置換し、コンデンサーを抵抗器で置換することにより差動型ハイパスフィルターを構成することができる。図16は、本発明に係る差動型フィルター回路の第三の実施形態である一次の差動型ハイパスフィルター回路の構成を概略的に示す図である。図16において、第一の入力端子IN1と第一の出力端子OUT1との間に第一のコンデンサーC21が接続され、第二の入力端子IN2と第二の出力端子OUT2との間に第二のコンデンサーC22が接続される。第一の出力端子OUT1は第一の抵抗器R21を介して接地され又は電源に接続され、第二の出力端子OUT2は第二の抵抗器R22を介して接地され又は電源に接続される。第一の出力端子OUT1と第二の出力端子OUT2との間には第三の抵抗器R23が接続される。
【0040】
【発明の効果】
以上、若干の実施形態を参照しながら本発明について詳細に説明したところから明らかなとおり、本発明に係る差動型ローパスフィルター回路においては、ノーマルモード、コモンモードノイズの両方を除去することが可能となる。更に、集積回路化した場合に、差動構成による通常のフィルター機能用のコンデンサーとコモンモードノイズ除去用のコンデンサーとの電極を共有する構造を取ることが可能なため、こうしたフィルターを小さな面積の上に形成することが可能となる。また、本発明に係る差動型ハイパスフィルター回路においても、ノーマルモードノイズ、コモンモードノイズの両方を除去することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る差動型フィルター回路の第一の実施形態である一次の差動型ローパスフィルター回路の構成を概略的に示す図。
【図2】図1及び図13に示す差動型ローパスフィルター回路の周波数特性を説明するためのグラフ。
【図3】図1に示す差動型ローパスフィルター回路の周波数特性を説明するためのグラフ。
【図4】図1の差動型ローパスフィルター回路を構成する集積回路構造の一例を説明するための断面図。
【図5】図4に示す集積回路構造の変形例を示す図。
【図6】図5に示す集積回路構造の等価回路を示す図。
【図7】図5に示す集積回路構造における実際の電気的接続を説明するための図。
【図8】図5に示す集積回路構造の変形例を示す図。
【図9】図4に示す集積回路構造の別の変形例を示す図。
【図10】図1に示す差動型ローパスフィルター回路をマルチビット・オーバーサンプリング・デジタル−アナログ変換器に応用したときの回路図。
【図11】本発明に係る差動型フィルター回路の第二の実施形態である二次の差動型ローパスフィルター回路の構成を概略的に示す図。
【図12】図11の差動型ローパスフィルター回路を構成する集積回路構造を説明するための断面図。
【図13】図12に示す集積回路構造の等価回路図。
【図14】図12に示す集積回路構造の変形例を示す図。
【図15】図14に示す集積回路構造の等価回路図。
【図16】本発明に係る差動型フィルター回路の第三の実施形態である一次の差動型ハイパスフィルター回路の構成を概略的に示す図。
【符号の説明】
IN1、IN2:入力端子、 OUT1、OUT2:出力端子、
1、2、3、4、5、11、12、、13、14、15:電極。
R1、R2、R3、R4、R11、R12、R13、R14、R21、R22、R23:抵抗器、
C1、C2、C3、C11、C12、C13、C14、C21、C22:コンデンサー。

Claims (10)

  1. 第一の抵抗器と第三の抵抗器との直列回路であって、第一の入力端子と第一の出力端子との間に接続された直列回路と、
    前記第一の抵抗器と同じ抵抗値を有する第二の抵抗器と、前記第三の抵抗器と同じ抵抗値を有する第四の抵抗器との直列回路であって、第二の入力端子と第二の出力端子との間に接続された直列回路と、
    前記第一の抵抗器と前記第三の抵抗器との間の点と基準電位との間に接続された第一のコンデンサーと、
    前記第一の抵抗器と前記第三の抵抗器との間の点と、前記第二の抵抗器と前記第四の抵抗器との間の点との間に接続された第二のコンデンサーと、
    前記第一の出力端子と前記第二の出力端子との間に接続された第三のコンデンサーと、
    前記第四の抵抗器と前記第二の出力端子との間の点と前記基準電位との間に接続され且つ前記第一のコンデンサーと同じ容量値を有する第四のコンデンサーと、
    を具備することを特徴とする二次の差動型ローパスフィルター回路。
  2. 第一の絶縁層と、
    前記第一の絶縁層の一方の面に接するように形成された第一の電極と、
    前記第一の絶縁層の他方の面上の、前記第一の電極と対向する位置に形成された第二の電極及び第三の電極と、
    前記第二の電極と前記第三の電極とに対向するそれぞれの位置に第二の絶縁層を介して形成された第四の電極及び第五の電極と、
    前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と、前記第四の電極及び前記第五の電極が形成された面とのいずれか一方に形成された第一の抵抗器、第二の抵抗器、第三の抵抗器及び第四の抵抗器と、
    前記第一の電極を基準電位に接続する導線と、
    前記第一の抵抗器の一端を前記第三の抵抗器の一端と前記第二の電極とに接続する導線と、
    前記第二の抵抗器の一端を前記第四の抵抗器の一端と前記第四の電極とに接続する導線と、
    前記第三の抵抗器の他端を前記第五の電極と接続する導線と、
    前記第四の抵抗器の他端を前記第三の電極と接続する導線と、
    前記第一の抵抗器の他端と前記第二の抵抗器の他端とにそれぞれ接続された入力端子と、
    前記第三の電極及び前記第五の電極にそれぞれ接続された出力端子と、
    を具備し、
    前記第一の電極と、前記第四の電極及び前記第五の電極とのいずれか一方を半導体基板に形成し、
    前記第一の電極と前記第二の電極とで第一のコンデンサーを形成し、前記第二の電極と前記第四の電極とで第二のコンデンサーを形成し、前記第三の電極と前記第五の電極とで第三のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の電極とで第四のコンデンサーを形成して二次の差動型ローパスフィルター回路を構成したことを特徴とする集積回路構造。
  3. 第一の絶縁層と、
    前記第一の絶縁層の一方の面に接するように形成された第一の電極と、
    前記第一の絶縁層の他方の面上の、前記第一の電極と対向する位置に形成された第二の電極及び第三の電極と、
    前記第二の電極と前記第三の電極とに対向するそれぞれの位置に第二の絶縁層を介して形成された第四の電極及び第五の電極と、
    前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と、前記第四の電極及び前記第五の電極が形成された面とのいずれか一方に形成された第一の抵抗器、第二の抵抗器、第三の抵抗器及び第四の抵抗器と、
    前記第一の電極を基準電位に接続する導線と、
    前記第一の抵抗器の一端を前記第三の抵抗器の一端と前記第四の電極とに接続する導線と、
    前記第二の抵抗器の一端を前記第四の抵抗器の一端と前記第二の電極とに接続する導線と、
    前記第三の抵抗器の他端を前記第三の電極と接続する導線と、
    前記第四の抵抗器の他端を前記第五の電極と接続する導線と、
    前記第一の抵抗器の他端と前記第二の抵抗器の他端とにそれぞれ接続された入力端子と、
    前記第三の電極及び前記第五の電極にそれぞれ接続された出力端子と、
    を具備し、
    前記第一の電極と、前記第四の電極及び前記第五の電極とのいずれか一方を半導体基板に形成し、
    前記第一の電極と前記第二の電極とで第一のコンデンサーを形成し、前記第二の電極と前記第四の電極とで第二のコンデンサーを形成し、前記第三の電極と前記第五の電極とで第三のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の電極とで第四のコンデンサーを形成して二次の差動型ローパスフィルター回路を構成したことを特徴とする集積回路構造。
  4. 前記第一の電極は、前記半導体基板の導電型とは異なる導電型の不純物を前記半導体基板に拡散させた層から成ることを特徴とする、請求項2又は3に記載の集積回路構造。
  5. 前記第一の電極は、前記半導体基板上に絶縁膜を介して形成された導電層であることを特徴とする、請求項2又は3に記載の集積回路構造。
  6. 前記第一の抵抗器〜前記第四の抵抗器は、前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と同じ面上に形成され、
    前記第一の電極と前記第一の抵抗器との間で第一の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の抵抗器との間で第二の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第二の抵抗器との間で第三の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第四の抵抗器との間で第四の追加のコンデンサーを形成するように、前記第一の電極を前記半導体基板に対して形成したことを特徴とする、請求項4又は5に記載の集積回路構造。
  7. 前記第四の電極及び前記第五の電極のそれぞれは、前記半導体基板の導電型とは異なる導電型の不純物を前記半導体基板に拡散させた層から成ることを特徴とする、請求項2又は3に記載の集積回路構造。
  8. 前記第四の電極及び前記第五の電極のそれぞれは、前記半導体基板上に絶縁膜を介して形成されていることを特徴とする、請求項2又は3に記載の集積回路構造。
  9. 前記第一の抵抗器〜前記第四の抵抗器は、前記第二の電極及び前記第三の電極が形成された面と同じ面上に形成され、
    前記第一の電極と前記第一の抵抗器との間で第一の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第三の抵抗器との間で第二の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第二の抵抗器との間で第三の追加のコンデンサーを形成し、前記第一の電極と前記第四の抵抗器との間で第四の追加のコンデンサーを形成するように、前記第一の電極を前記半導体基板に対して形成したことを特徴とする、請求項7又は8に記載の集積回路構造。
  10. 前記第一の抵抗器〜前記第四の抵抗器とは、前記第一の電極〜前記第五の電極とのいずれかと同じ材質であることを特徴とする、請求項2〜9のいずれか1つに記載の集積回路構造。
JP25368995A 1995-09-29 1995-09-29 差動型フィルター回路及びその集積回路構造 Expired - Fee Related JP3615285B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25368995A JP3615285B2 (ja) 1995-09-29 1995-09-29 差動型フィルター回路及びその集積回路構造
US08/718,918 US5815051A (en) 1995-09-29 1996-09-25 Differential filter circuit and integrated circuit structure therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25368995A JP3615285B2 (ja) 1995-09-29 1995-09-29 差動型フィルター回路及びその集積回路構造

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004256470A Division JP4000139B2 (ja) 2004-09-03 2004-09-03 差動型フィルター回路の集積回路構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09284076A JPH09284076A (ja) 1997-10-31
JP3615285B2 true JP3615285B2 (ja) 2005-02-02

Family

ID=17254785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25368995A Expired - Fee Related JP3615285B2 (ja) 1995-09-29 1995-09-29 差動型フィルター回路及びその集積回路構造

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5815051A (ja)
JP (1) JP3615285B2 (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9054094B2 (en) 1997-04-08 2015-06-09 X2Y Attenuators, Llc Energy conditioning circuit arrangement for integrated circuit
US7336468B2 (en) 1997-04-08 2008-02-26 X2Y Attenuators, Llc Arrangement for energy conditioning
US7321485B2 (en) 1997-04-08 2008-01-22 X2Y Attenuators, Llc Arrangement for energy conditioning
KR100554137B1 (ko) * 1998-09-17 2006-05-12 주식회사 하이닉스반도체 필터 회로
US5977610A (en) * 1998-10-21 1999-11-02 National Semniconductor Corporation Integrated circuit having resistor formed over multiple tubs of semiconductor material
US6184747B1 (en) * 1999-05-13 2001-02-06 Honeywell International Inc. Differential filter with gyrator
US6798312B1 (en) 1999-09-21 2004-09-28 Rockwell Automation Technologies, Inc. Microelectromechanical system (MEMS) analog electrical isolator
US6803755B2 (en) 1999-09-21 2004-10-12 Rockwell Automation Technologies, Inc. Microelectromechanical system (MEMS) with improved beam suspension
US6501282B1 (en) * 2000-09-29 2002-12-31 Rockwell Automation Technologies, Inc. Highly sensitive capacitance comparison circuit
US6815243B2 (en) 2001-04-26 2004-11-09 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method of fabricating a microelectromechanical system (MEMS) device using a pre-patterned substrate
US6794271B2 (en) * 2001-09-28 2004-09-21 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method for fabricating a microelectromechanical system (MEMS) device using a pre-patterned bridge
US6768628B2 (en) 2001-04-26 2004-07-27 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method for fabricating an isolated microelectromechanical system (MEMS) device incorporating a wafer level cap
US6761829B2 (en) 2001-04-26 2004-07-13 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method for fabricating an isolated microelectromechanical system (MEMS) device using an internal void
US6756310B2 (en) 2001-09-26 2004-06-29 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method for constructing an isolate microelectromechanical system (MEMS) device using surface fabrication techniques
US6664786B2 (en) 2001-07-30 2003-12-16 Rockwell Automation Technologies, Inc. Magnetic field sensor using microelectromechanical system
US6483168B1 (en) 2001-09-13 2002-11-19 National Semiconductor Corporation Integrated circuit having resistor formed over emitter of vertical bipolar transistor
US6690178B2 (en) 2001-10-26 2004-02-10 Rockwell Automation Technologies, Inc. On-board microelectromechanical system (MEMS) sensing device for power semiconductors
US20040062362A1 (en) * 2002-09-18 2004-04-01 Yasuyuki Matsuya Data communication method, data transmitting apparatus, data receiving apparatus, and data transmission program
US6975193B2 (en) * 2003-03-25 2005-12-13 Rockwell Automation Technologies, Inc. Microelectromechanical isolating circuit
US7418213B2 (en) * 2004-08-12 2008-08-26 Finisar Corporation Transimpedance amplifier with integrated filtering and reduced parasitic capacitance
KR100848360B1 (ko) * 2004-08-12 2008-07-25 피니사 코포레이숀 집적된 필터링 및 감소된 기생 커패시턴스를 갖는트랜스임피던스 증폭기
US7719380B2 (en) * 2004-08-17 2010-05-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. AC coupling circuit
US7339418B2 (en) * 2004-08-17 2008-03-04 National Instruments Corporation Differential filter topology with dielectric absorption cancellation for a data acquisition device
US7630188B2 (en) 2005-03-01 2009-12-08 X2Y Attenuators, Llc Conditioner with coplanar conductors
US8049302B2 (en) * 2005-09-30 2011-11-01 Broadcom Corporation On-chip capacitor structure with adjustable capacitance
US7675138B2 (en) * 2005-09-30 2010-03-09 Broadcom Corporation On-chip capacitor structure
US7525391B2 (en) * 2007-05-17 2009-04-28 Finisar Corporation Linear transimpedance amplifier with multiplexed gain stage
US9602315B2 (en) * 2014-12-12 2017-03-21 Intel Corporation Method and apparatus for passive continuous-time linear equalization with continuous-time baseline wander correction
EP3648354B1 (en) * 2018-10-30 2023-12-06 Integrated Device Technology, Inc. Passive low-pass filter system for pulse density digital-to-analog converters

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4641165A (en) * 1982-04-28 1987-02-03 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Dynamic memory device with an RC circuit for inhibiting the effects of alpha particle radiation
US4553050A (en) * 1983-12-27 1985-11-12 International Business Machines Corporation Transmission line terminator-decoupling capacitor chip for off-chip driver
JPS6276762A (ja) * 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp 半導体記憶装置のセンスアンプ回路
EP0274347A1 (de) * 1986-11-24 1988-07-13 Feller Ag Störschutzfilter für eine Wechselstrom-Netzleitung
US4994693A (en) * 1989-11-30 1991-02-19 Northern Telecom Limited Second order active filters
US5179362A (en) * 1989-12-15 1993-01-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Power line filter
US5420553A (en) * 1991-01-16 1995-05-30 Murata Manufacturing Co., Ltd. Noise filter

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09284076A (ja) 1997-10-31
US5815051A (en) 1998-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3615285B2 (ja) 差動型フィルター回路及びその集積回路構造
KR100744857B1 (ko) 제어가능한 이득을 갖는 전류 대 전압 변환기 및 이를포함하는 신호 처리 회로
JPH11284491A (ja) ハイブリッドfir/iirアナログフィルタ
KR100285933B1 (ko) 전차동형아날로그회로
JPH0213014A (ja) D−a変換回路
JPH01102797A (ja) サンプリンングされたアナログ電流蓄積用回路
Hughes et al. An 8 MHz, 80 Ms/s switched-current filter
JP4861566B2 (ja) スイッチド・キャパシタ・フィルタ回路
JP4000139B2 (ja) 差動型フィルター回路の集積回路構造
US5444411A (en) Functional MOS transistor with gate-level weighted sum and threshold operations
US6590448B1 (en) Operational amplifier topology and method
US6140951A (en) Double sampled switched capacitor low pass multirate filter for a ΣΔ D/A converter
JP2009135149A (ja) 半導体集積回路
López-Martín et al. 1.2-V 5-/spl mu/W class-AB CMOS log-domain integrator with multidecade tuning
JPS6352498B2 (ja)
KR100345668B1 (ko) 커패시터 간의 부정합에 의한 에러를 최소화한 디지털-아날로그 변환 장치
Sporer et al. Implementation of a low power decimation filter in a 180 nm hv-cmos technology for a neural recording front-end
JP4393609B2 (ja) キャパシタ回路およびスイッチトキャパシタフィルタならびにa/d変換器
JP2002252536A (ja) 電子ボリューム回路
JPS5939926B2 (ja) デジタルアナログ変換器
JPH09213883A (ja) 半導体集積回路用抵抗素子
JP2636794B2 (ja) 半導体装置
JP2002368105A (ja) 半導体集積回路
JP3718000B2 (ja) バンドパスフィルタ
JP3589713B2 (ja) スイッチトキャパシタフィルタ

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040301

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040705

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040903

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041001

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041029

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071112

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081112

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081112

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091112

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101112

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101112

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111112

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111112

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131112

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees