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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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[Gebiet der Erfindung]
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Diese
Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen
der Exzentrizität
der Spuren einer Platte, wie etwa eine CD oder eine MD, und zum
Bewerten der Platte nach der Qualität.
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[Stand der Technik]
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Platten,
wie etwa CDs und MDs, werden in Bezug auf die Exzentrizität der Spuren
gemessen und werden im Hinblick auf die erfasste Exzentrizität der Spuren
bewertet.
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Es
gibt zwei bekannte Techniken zum Messen der Exzentrizität der Spuren
einer optischen Platte, wie etwa eine CD oder eine MD, mittels eines
Instruments des Abspielgerätetyps.
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Bei
einer der bekannten Techniken wird bewirkt, dass ein Lichtstrahl
von einer optischen Aufnahmevorrichtung einen feststehenden Lichtfleck
erzeugt, und die optische Platte wird auf einem Drehtisch, der an
einer Spindel angeordnet ist, starr gehalten und mittels des Drehtisches
gedreht, während
der Spurverfolgungsservo im ausgeschalteten Zustand gehalten wird.
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Bei
dieser Anordnung überquert
der Lichtstrahl während
einer vollen Umdrehung der optischen Platte Spuren, deren Anzahl
zu der Exzentrizität
der Spuren proportional ist, wie in 1 gezeigt ist.
Es wird angemerkt, dass sich die Spuren während einer vollen Umdrehung
der Platte um eine Strecke hin und her bewegen, die das Zweifache
der Exzentrizität
ist, wie in 2 gezeigt ist. In den 1 und 2 bezeichnet
das Bezugszeichen 1 eine optische Platte, während die
Bezugszeichen 1a, 1b und 1c das Positionierungsloch
der Platte, das als Drehzentrum wirkt, den Mittelpunkt der Spuren
bzw. die Exzentrizität
der Spuren bezeichnen.
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Deswegen überquert
der Lichtstrahl während
einer vollen Umdrehung der Platte eine Anzahl von Spuren, die dem
Vierfachen der Exzentrizität
entspricht. Wenn der Spurabstand 1,60 μm beträgt und die Exzentrizität der Spuren
16,0 μm
beträgt, überquert
der Lichtstrahl insgesamt 16,0 μm × 4 : 1,60 μm = 40 Spuren,
während
die Platte eine volle Umdrehung ausführt.
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Wenn
das Spurverfolgungsfehlersignal während dieser Messoperation
beobachtet wird, wird erkannt, dass sich die Welle des Signals jedes
Mal dann, wenn der Lichtstrahl eine Spur überquert, nach oben und unten
bewegt (eine Bewegung, die als Signalanhebung bezeichnet wird).
Bei dieser Technik wird bewirkt, dass sich die optische Platte 1 mehrmals
dreht, wobei die Anzahl der Signalanhebungen gezählt wird. Dann können die
Anzahl der Signalanhebungen pro Umdrehung und somit die Exzentrizität der optischen
Platte bestimmt werden.
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Diese
Messtechnik besitzt jedoch einen Nachteil dahingehend, dass dann,
wenn die Spindel, die die Drehung der optischen Platte antreibt,
selbst eine Exzentrizität
aufweist, die gemessene Exzentrizität die Exzentrizität der Spindel
enthält
und somit keine Möglichkeit
besteht, die wahre Größe der Exzentrizität der optischen
Platte 1 zu ermitteln.
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Bei
der anderen bekannten Messtechnik wird die optische Platte in üblicher
Weise abgespielt, während
der Spurverfolgungsservo angehalten wird. Wenn dann die Spuren exzentrisch
angeordnet sind, werden sie radial ausweichen, so dass der Lichtstrahl servogesteuert
wird, um der Abweichbewegung der Spuren zu folgen. Es wird dann
durch Beobachten des Spurverfolgungsfehlersignals oder des Antriebssignals
des Spurverfolgungsservo festgestellt, dass es sich mäanderförmig bewegt,
wie in 3 gezeigt ist, wenn sich die Spindel dreht, um
die optische Platte anzutreiben.
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Die
mäanderförmige Bewegung
des Spurverfolgungsfehlersignals repräsentiert die Abweichbewegung
der Spuren, die doppelt so groß ist
wie die Exzentrizität
der Spuren, selbst bei einer einmaligen Umdrehung der optischen
Platte, so dass die Exzentrizität
durch eine Größe ausgedrückt wird,
die der Hälfte
der Amplitude des Signals entspricht.
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Diese
zweite Messtechnik besitzt jedoch einen Nachteil dahingehend, dass
dann, wenn die Spindel, die die Drehung der optischen Platte bewirkt,
selbst eine Exzentrizität
besitzt, die gemessene Exzentrizität die Exzentrizität der Spindel
enthält
und es gibt somit keine Möglichkeit,
die wahre Größe der Exzentrizität der optischen
Platte 1 zu ermitteln. Diese zweite Messtechnik besitzt
ferner einen zusätzlichen
Nachteil dahingehend, dass die Beziehung zwischen dem Ausmaß der mäanderförmigen Bewegung
des elektrischen Signals, die in 3 gezeigt ist,
und dem Ausmaß der
Bewegung des Lichtstrahls definiert werden muss.
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Das
Patent US-A-5.905.705 betrifft eine Vorrichtung mit magnetischer
oder optischer Platte, die der Exzentrizität einer exzentrisch eingespannten Platte
genau folgen kann und die der Exzentrizität einer neuen Plattenfläche sofort
folgen kann, wenn die Platte, auf die zugegriffen wird, gewechselt
wird.
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Es
ist die Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung
zu schaffen, die die wahre Größe der Exzentrizität der Spuren
einer Platte mit einer verhältnismäßig einfachen
Anordnung messen kann.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform wird
die oben genannte Aufgabe gelöst
durch das Schaffen eines Verfahrens zum Messen der Exzentrizität der Spuren
einer Platte, das die folgenden Schritte enthält:
starres Befestigen
der zu bewertenden Platte auf einem Drehtisch, der an einer Spindel
angeordnet ist, und Antreiben der Platte, um die darauf aufgezeichneten
Informationen mittels eines Wiedergabekopfes wiederzugeben;
Bestimmen
des Exzentrizitätsausmaßes aus
dem durch den Wiedergabekopf wiedergegebenen Signal und der Exzentrizitätsrichtung
aus dem Spurverfolgungsfehlersignal und dem Drehwinkel der Spindel, die
durch Einschalten des Spurverfolgungsservos erhalten werden; und
anschließend Bestimmen
der Größe der Exzentrizität der Spuren
der zu bewertenden Platte in Form einer Vektorgröße anhand des Exzentrizitätsausmaßes und
der Exzentrizitätsrichtung
und daraufhin Subtrahieren der Vektorgröße der Exzentrizität der Spindel von
der Vektorgröße der Exzentrizität der Spuren
der Platte.
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Dadurch
wird die Exzentrizität
der Spuren der zu bewertenden Platte, die auf einem Drehtisch starr
befestigt ist, der an einer Spindel angeordnet ist, in Form einer
Vektorgröße bestimmt,
wobei die Vektorgröße der Exzentrizität der Spindel
von der Vektorgröße der Exzentrizität der Spuren
der Platte subtrahiert wird, so dass die wahre Größe der Exzentrizität der Spuren
der zu bewertenden Platte, die die Exzentrizität der Spindel nicht enthält, bestimmt
werden kann.
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In
einem weiteren Aspekt der Erfindung wird außerdem ein Verfahren zum Messen
der Exzentrizität
der Spuren einer Platte geschaffen, das die folgenden Schritte enthält:
starres
Befestigen der zu bewertenden Platte auf einem Drehtisch, der an
einer Spindel angeordnet ist, und Antreiben der Platte, um die darauf
aufgezeichneten Informationen mittels eines Wiedergabekopfes wiederzugeben;
Bestimmen
des ersten Exzentrizitätsausmaßes aus dem
durch den Wiedergabekopf wiedergegebenen Signal und der ersten Exzentrizitätsrichtung
aus dem Spurverfolgungsfehlersignal und dem Drehwinkel der Spindel,
die durch Einschalten des Spurverfolgungsservos erhalten werden,
und anschließend
Bestimmen der Exzentrizität
der Spuren der Platte in Form einer Vektorgröße aus dem ersten Exzentrizitätsausmaß und der
ersten Exzentrizitätsrichtung;
starres
Befestigen der Platte an dem Drehtisch in der Weise, dass die Phasenbeziehung
zwischen der Platte und der Spindel um 180° verschoben wird;
Bestimmen
des zweiten Exzentrizitätsausmaßes aus dem
durch den Wiedergabekopf wiedergegebenen Signal und der zweiten
Exzentrizitätsrichtung
aus dem Spurverfolgungsfehlersignal und dem Drehwinkel der Spindel,
die durch Einschalten des Spurverfolgungsservos erhalten werden,
und anschließend Bestimmen
der Exzentrizität
der Spuren der Platte in Form einer Vektorgröße aus dem zweiten Exzentrizitätsausmaß und der
zweiten Exzentrizitätsrichtung;
anschließend Bestimmen
der wahren Exzentrizitätsgröße der Spuren
der zu bewertenden Platte durch Subtrahieren der zweiten Vektorgröße von der
ersten Vektorgröße.
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Da
bei der oben genannten Anordnung die zweite Vektorgröße der Exzentrizität der Spuren
der zu bewertenden Platte durch Verschieben der Phasenbeziehung zwischen
der Platte und der Spindel um 180° bestimmt
wird, kann dann, wenn die erste Vektorgröße E1 durch die folgende Formel
ausgedrückt
wird Vektor E1 = Vektor ME + Vektor E,wobei
ME die Vektorgröße der Exzentrizität der Spindel
ist und E die wahre Vektorgröße der Exzentrizität der Spuren
der zu bewertenden Platte ist, die zweite Vektorgröße E2 durch
die folgende Formel ausgedrückt
werden: Vektor E2 = Vektor ME – Vektor
E.
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Somit
wird die wahre Größe der Exzentrizität E der
Spuren der zu bewertenden Platte erhalten, indem die zweite Vektorgröße E2 von
der ersten Vektorgröße E1 subtrahiert
wird oder Vektor E1 – Vektor E2 = 2 × Vektor
E.
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In
einem weiteren Aspekt der Erfindung wird außerdem eine Vorrichtung zum
Messen der Exzentrizität
der Spuren einer Platte geschaffen, mit:
einer Spindel zum
Antreiben eines Drehtisches, der eine zu bewertende Platte tragen
kann;
Drehwinkel-Erfassungsmitteln zum Erfassen des Drehwinkels
der Spindel;
einem Wiedergabekopf zum Wiedergeben der auf der
Platte gespeicherten Informationen;
Spurverfolgungsservos zum
Steuern der Spurverfolgungsoperation des Wiedergabekopfes;
Exzentrizitätsausmaß-Messmitteln
zum Messen des Exzentrizitätsausmaßes aus
dem durch den Wiedergabekopf wiedergegebenen Signal;
Spurverfolgungsfehler-Erfassungsmitteln
zum Erhalten eines Spurverfolgungsfehlersignals durch Einschalten
des Spurverfolgungsservos; und
Operationsmitteln, die die Exzentrizitätsrichtung
aus dem Drehwinkel der Spindel und den Spurverfolgungsfehlersignalen
bestimmen, die die Vektorgröße der Exzentrizität der Spuren
der Platte aus dem Exzentrizitätsausmaß und der
Exzentrizitätsrichtung bestimmen
und eine Vektoroperation ausführen,
um die wahre Größe der Exzentrizität der Spuren
der Platte zu bestimmen.
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Gemäß der Erfindung
ist es dadurch nun möglich,
die wahre Größe der Exzentrizität der Spuren
einer zu bewertenden Platte, die nicht die Exzentrizität der Spindel
enthält,
mittels einer verhältnismäßig einfachen
Anordnung zu bestimmen.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNG
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1 ist
eine schematische Darstellung der Spuren einer Platte, die für den Zweck
der Erfindung verwendet werden kann;
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2 ist
eine schematische Darstellung der Exzentrizität der Spuren einer Platte,
die für
den Zweck der Erfindung verwendet werden kann;
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3 ist
eine graphische Darstellung, die ein Spurverfolgungsfehlersignal
veranschaulicht, das für den
Zweck der Erfindung verwendet werden kann;
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4 ist
ein Prinzipschaltplan einer Ausführungsform
der Vorrichtung zum Messen der Exzentrizität der Spuren einer Platte gemäß der Erfindung;
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5 ist
eine graphische Darstellung, die die Abweichbewegung der Spuren
einer Platte schematisch veranschaulicht;
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6 ist
ein Ablaufplan der Operation des digitalen Signalprozessors der
Ausführungsform
von 4; und
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die 7A und 7B sind
schematische Darstellungen des Lademechanismus eines Drehtisches,
der für
den Zweck der Erfindung verwendet werden kann.
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GENAUE BESCHREIBUNG
DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
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Nachfolgend
werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Exzentrizität der Spuren
einer Platte gemäß der Erfindung
genauer beschrieben unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung,
die eine bevorzugte Ausführungsform
der Erfindung veranschaulicht.
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4 ist
ein Prinzipschaltplan einer Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Vorrichtung
zum Messen der Exzentrizität
der Spuren einer Platte. In 4 bezeichnet
das Bezugszeichen 1 eine optische Platte, wie etwa eine
CD (Compact Disk), bei der die Exzentrizität ihrer Spuren gemessen werden soll.
Wie oben unter Bezugnahme auf 1 beschrieben
wurde, besitzt die optische Platte 1 mehrere Spuren, die
konzentrisch angeordnet sind und eine Folge von Signalen tragen,
die darauf aufgezeichnet sind, sowie außerdem ein Positionierungsloch 1a, das
im Wesentlichen in der Mitte der Platte angeordnet ist und als Drehzentrum
wirkt.
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In 4 bezeichnet
das Bezugszeichen 2 einen Spindelmotor, der die optische
Platte 1 so antreibt, dass sie sich mit einer konstanten
linearen Geschwindigkeit dreht. Der Spindelmotor 2 kann
so beschaffen sein, dass ein einziger PG-Impuls und eine Gesamtzahl von 512 FG-Impulsen
erhalten werden, wenn die optische Platte 1 eine vollständige Umdrehung
ausführt,
da die FG-Impulse auf dem PG-Signal basieren. Der PG-Impuls und
die FG-Impulse werden dann zu einem Zähler 3 geführt. Das
Bezugszeichen 2b bezeichnet in 4 einen
Drehtisch, der an der Spindel 2a (Drehwelle) des Spindelmotors 2 starr
befestigt ist.
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Der
Zähler 3 zählt die
Anzahl der FG-Impulse auf der Grundlage des PG-Impulses, um den
Drehwinkel der optischen Platte 1 oder der Spindel 2 zu bestimmen,
und sendet ein Drehwinkelsignal, das den Drehwinkel der Spindel
repräsentiert,
der durch den Zähler 3 bestimmt
wurde, an den digitalen Signalprozessor (DSP) 4, der eine
Funktionsschaltung mit einem Mikroprozessor ist.
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In 4 bezeichnet
das Bezugszeichen 5 eine optische Aufnahmevorrichtung oder
einen Wiedergabekopf zum Wiedergeben von Signalen, die auf der optischen
Platte 1 gespeichert sind. Die optische Aufnahmevorrichtung 5 umfasst
typischerweise eine Laserdiode und ist so beschaffen, dass sie Licht
von der Laserdiode zu einem Strahlteiler in Form eines Gitters aussenden
kann, um die optische Platte 1 mit dem von dem Strahlteiler
reflektierten Lichtstrahl mittels einer Objektivlinse zu beleuchten.
Anschließend wird
der von der optischen Platte 1 reflektierte Lichtstrahl
(Erfassungslichtstrahl) mit Hilfe der Objektivlinse und des Strahlteilers
zu der Photodiode eines Detektors geleitet.
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Dann
wird das Auslesesignal, das von der optischen Aufnahmevorrichtung 5 erhalten
wird, zu dem Auslesesignalausgabeanschluss 5a geleitet, während ein
Fokussierungsfehlersignal, das ebenfalls von der optischen Aufnahmevorrichtung 5 erhalten
wird, mit Hilfe der Verstärkerschaltung 6a eines Fokussierungsservo
zu der Fokussierungsansteuerschaltung 6b geleitet, so dass
der Brennpunkt des Lichtstrahls der optischen Aufnahmevorrichtung 5 durch
das Ausgangssignal der Fokussierungsansteuerschaltung 6b gesteuert
wird.
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Das
Spurverfolgungsfehlersignal, das außerdem von der optischen Aufnahmevorrichtung 5 erhalten
wird, wird mit Hilfe der Verstärkerschaltung 7a eines
Spurverfolgungsservo zu einer Spurverfolgungsantriebsschaltung 7b geleitet
und das Ausgangssignal der Spurverfolgungsantriebsschaltung 7b wird mit
Hilfe des Kontaktschalters 8 zum Ein/Ausschalten des Spurverfolgungsservo
zu der optischen Aufnahmevorrichtung 5 geleitet, so dass
die Spurverfolgung des Lichtstrahls der optischen Aufnahmevorrichtung 5 durch
das Ausgangssignal der Spurverfolgungsantriebsschaltung 7b gesteuert
wird.
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Das
Spurverfolgungsfehlersignal, am Ausgang der Verstärkerschaltung 7a erhalten
wird, wird mit Hilfe einer Binärerzeugungsschaltung 9 zu
einem Signalanhebungszähler 10 geleitet,
der die Anzahl von Signalanhebungen, die in dem Spurverfolgungsfehlersignal
enthalten sind, und somit die Anzahl der Spuren, die von dem Lichtstrahl überquert
werden, zählt.
Die Anzahl der Signalanhebungen, die am Ausgang des Signalanhebungszählers 10 enthalten
sind, wird mit Hilfe einer A/D-Umsetzerschaltung 11, die ein
analoges Signal in ein digitales Signal umsetzt, zum digitalen Signalprozessor 4 geleitet.
Ansonsten ist die Konfiguration von 4 der Konfiguration
einer bekannten gewöhnlichen
Abspieleinrichtung ähnlich.
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6 zeigt
einen Ablaufplan der Operation zum Messen der Exzentrizität der Spuren
der optischen Platte 1 mittels dieser Ausführungsform,
die die oben beschriebene Konfiguration besitzt. Anfangs wird die
zu bewertende optische Platte 1 starr an dem Drehtisch 2b befestigt
und es wird bewirkt, dass der von der optischen Aufnahmeeinrichtung 5 ausgesendete
Lichtstrahl feststehend ist, während sowohl
der Kontaktschalter 8 als auch der Spurverfolgungsservo
im ausgeschalteten Zustand gehalten werden. Anschließend wird
der Spindelmotor 2 aktiviert, um die optische Platte 1 zu
drehen und die Anzahl der Signalanhebungen, die in dem Spurverfolgungsfehlersignal
enthalten sind, das von der optischen Aufnahmeeinrichtung 5 erhalten
wird, wird durch den Signalanhebungszähler 10 gezählt. Der Zählerwert
des Signalanhebungszählers 10 wird dann
zu dem digitalen Signalprozessor 4 geleitet, der dann die
oben beschriebene Operation ausführt,
um die Exzentrizität
der Spuren der optischen Platte 1 zu bestimmen.
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Zu
diesem Zeitpunkt weichen die Spuren der optischen Platte 1 um
einen Betrag ab, der das Zweifache des Exzentrizitätsausmaßes bei
einer einzigen Umdrehung ist, bevor sie wieder in die entsprechenden
ursprünglichen
Positionen zurückkehren.
Dadurch bewegt sich der Lichtstrahl hin und her und überquert
Spuren, deren Anzahl dem Zweifachen des Exzentrizitätsausmaßes entspricht.
Deswegen kann die Größe der Exzentrizität E1 bestimmt
werden, indem die Anzahl von Signalanhebungen (die Anzahl von Spuren,
die von dem Lichtstrahl überquert
werden), die von dem Signalanhebungszähler gezählt werden, mit dem Abstand
der Spuren multipliziert wird (Schritt S1).
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Dann
wird die Exzentrizitätsrichtung
(der Exzentrizitätswinkel)
in Bezug auf den ursprünglichen Punkt
der Spindel 2a bestimmt (Schritt S2). Bei dieser Ausführungsform
wird der Kontaktschalter 8 betätigt, um den Spurverfolgungsservo
für eine
gewöhnliche
Ausleseoperation einzuschalten, und das Spurverfolgungsfehlersignal,
das am Ausgang der Verstärkerschaltung 7a erhalten
wird und eine Signalform besitzt, die in 3 gezeigt
ist, wird mit Hilfe der A/D-Umsetzerschaltung 11 zu dem
digitalen Signalprozessor 4 geleitet, während der PG-Impuls und die
FG-Impulse, die durch den Spindelmotor 2 erhalten werden,
zum Zähler 3 geleitet
werden. Anschließend
wird der Ausgang des Zählers 3 ebenfalls
zum digitalen Signalprozessor 4 geleitet, so dass dieser den
Drehwinkel der Spindel 2a bestimmen kann.
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Der
digitale Signalprozessor 4 bestimmt dann die Abweichung
des Spurverfolgungsfehlersignals und außerdem die Exzentrizitätsrichtung θ1 in Bezug
auf den ursprünglichen
Punkt der Spindel 2a auf der Grundlage des Drehwinkels
der Spindel 2a (Schritt S2).
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Daraufhin
bestimmt der digitale Signalprozessor 4 den Vektor der
Exzentrizität
der optischen Platte 1, der als Vektor E1 bezeichnet wird,
auf der Grundlage der Größe der Exzentrizität E1 und
der Exzentrizitätsrichtung θ1 (Schritt
S3). Wie aus 5 erkannt werden kann, kann
der Vektor E1 durch die folgende Formel ausgedrückt werden: Vektor
E1 = E1cosθ1
+ E1sinθ1
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Es
wird angemerkt, dass der Vektor E1 den Vektor ME der Exzentrizität der Spindel
enthält.
Mit anderen Worten, wenn E der Vektor der wahren Größe der Exzentrizität der optischen
Platte 1 ist, wird der Vektor E1 durch die folgende Formel
ausgedrückt: Vektor E1 = Vektor ME + Vektor E
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In 5 repräsentiert θ die Exzentrizitätsrichtung
der Spindel 2a.
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Anschließend wird
die optische Platte 1 vom Drehtisch gelöst und daraufhin wieder daran
starr befestigt, derart, dass die Phasenbeziehung zwischen der optischen
Platte 1 und der Spindel 2a einen Unterschied
von 180° zu
der vorherigen Anordnung aufweist (Schritt S4). Wenn der Lademechanismus
einer gewöhnlichen
Abspieleinrichtung, der ein Ladefach 20 enthält, das
in den 7A und 7B gezeigt
ist, zum Laden der optischen Platte 1 verwendet wird, wird
die Antriebsbasis 21 mit Hilfe des Lademechanismus abgesenkt
und sowohl die Spindel 2a als auch der Drehtisch 2b werden
unter Verwendung des Servo, der so beschaffen ist, dass er den PG-Impuls und
die FG-Impulse des Spindelmotors 2 verwendet, um 180° gedreht,
während
die optische Platte 1 auf dem Ladefach 20 gehalten
wird. Anschließend
wird die Antriebsbasis wird angehoben und die optische Platte 1 wird
wieder an dem Drehtisch 2b starr befestigt.
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Anschließend wird
wie im Schritt S1 der Kontaktschalter 8 ausgeschaltet,
um den Spurverfolgungsservo auszuschalten, und es wird bewirkt,
dass der von der optischen Aufnahmevorrichtung ausgesendete Lichtstrahl
feststehend ist. Dann wird der Spindelmotor 2 aktiviert,
um die optische Platte 1 zu drehen, und die Anzahl der
Signalanhebungen, die in dem Spurverfolgungsfehlersignal enthalten
sind, das von der optischen Aufnahmevorrichtung 5 erhalten wird,
wird von dem Signalanhebungszähler 10 gezählt. Der
Zählerwert
des Signalanhebungszählers 10 wird
zu dem digitalen Signalprozessor 4 geleitet, der dann die
oben beschriebene Operation zum Bestimmen der Größe der Exzentrizität E2 der
Spuren der optischen Platte 1 ausführt (Schritt S5).
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Anschließend wird
die Exzentrizitätsrichtung (Exzentrizitätswinkel)
in Bezug auf den ursprünglichen
Punkt der Spindel 2a wie im Schritt S2 bestimmt (Schritt
S6). Bei dieser Ausführungsform
wird der Kontaktschalter 8 betätigt, um den Spurverfolgungsservo
für eine
gewöhnliche
Ausleseoperation einzuschalten, und das Spurverfolgungsfehlersignal,
das am Ausgang der Verstärkerschaltung 7a erhalten wird
und eine Signalform besitzt, die in 3 gezeigt ist,
wird mit Hilfe der A/D-Umsetzerschaltung 11 zu dem digitalen
Signalpro zessor 4 geleitet, während der PG-Impuls und die
FG-Impulse, die von dem Spindelmotor 2 erhalten werden,
zu dem Zähler 3 geleitet
werden. Der Ausgang des Zählers 3 wird
dann ebenfalls zum digitalen Signalprozessor 4 geleitet,
so dass dieser den Drehwinkel der Spindel 2a bestimmen
kann.
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Der
digitale Signalprozessor 4 bestimmt dann die Abweichung
des Spurverfolgungsfehlersignals sowie außerdem die Exzentrizitätsrichtung θ2 in Bezug
auf den ursprünglichen
Punkt der Spindel 2a auf der Grundlage des Drehwinkels
der Spindel 2a (Schritt S6).
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Anschließend bestimmt
der digitale Signalprozessor 4 auf der Grundlage der Größe der Exzentrizität E2 und
der Exzentrizitätsrichtung θ2 den Exzentrizitätsvektor
der optischen Platte 1, der als Vektor E2 bezeichnet wird
und durch Modifizieren der Phasenbeziehung zwischen der optischen
Platte 1 und der Spindel 2a um 180° in Bezug
auf die Phasenbeziehung, die zum Bestimmen des Vektors E1 verwendet
wurde, erhalten wird (Schritt S7). Wie in 5 ersichtlich
ist, kann der Vektor E1 durch folgende Formel ausgedrückt werden: Vektor E2 = E2cosθ2 + E2sinθ2
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Es
wird angemerkt, dass der Vektor E2 den Vektor ME der Exzentrizität der Spindel 2a enthält. Mit
anderen Worten, der Vektor E2 wird durch folgende Formel ausgedrückt: Vektor E2 = Vektor ME – Vektor E
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Anschließend subtrahiert
der digitale Signalprozessor 4 den Vektor E2 von dem Vektor
E1. Deswegen gilt Vektor E1 – Vektor E2 = 2 × Vektor
Eund somit kann die wahre Größe der Exzentrizität bestimmt
werden (Schritt S8).
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Wenn
der Vektor E1 und der Vektor E2 im Schritt S8 addiert werden oder Vektor E1 + Vektor E2 = 2 × Vektor MEist es nun
möglich,
die Größe der Exzentrizität der Spindel 2 zu
bestimmen.
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Da
der Vektor E2 erhalten wird, indem die Phasenbeziehung zwischen
der optischen Platte 1 und der Spindel 2a um 180° in Bezug
auf die Phasenbeziehung, die zum Bestimmen des Vektors E1 verwendet
wurde, modifiziert wird, wird dann, wenn der Vektor E1 durch die
Formel Vektor E1 = Vektor ME + Vektor Eausgedrückt wird,
der Vektor E2 durch die Formel Vektor E2 = Vektor
ME – Vektor
Eausgedrückt,
so dass die wahre Größe der Exzentrizität E der
optischen Platte 1 durch Subtrahieren des Vektors E2 vom
Vektor E1 oder Vektor E1 – Vektor E2 = 2 × Vektor
Eerhalten werden kann.
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Während in
der oben genannten Ausführungsform
der Vektor E2 vom Vektor E1 subtrahiert wird, um die wahre Größe der Exzentrizität E der
optischen Platte 1 zu bestimmen, kann alternativ die Größe der Exzentrizität E der
optischen Platte 1 erhalten werden, indem der Vektor E1
und der Vektor E2 addiert werden, um den Exzentrizitätsvektor
ME der Spindel 2a zu bestimmen, und anschließend der Exzentrizitätsvektor
ME der Spindel 2a vom Vektor E1 subtrahiert wird.
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Wenn
der Exzentrizitätsvektor
ME der Spindel 2a auf irgendeine andere Weise bekannt ist,
kann die wahre Größe der Exzentrizität E der
optischen Platte 1 bestimmt werden, indem einfach der Vektor E1
erhalten wird und der Exzentrizitätsvektor ME der Spindel 2a vom
Vektor E1 subtrahiert wird.
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Während die
Größen der
Exzentrizität
E1 und E2 in der obigen Beschreibung mit Hilfe der Signalanhebungen
des Spurverfolgungsfehlersignals gemessen werden, kann anerkannt
werden, dass die Größen der
Exzentrizität
E1 und E2 alternativ aus der Mäanderbewegung
des Spurverfolgungsfehlersignals, die in 3 gezeigt
ist, erhalten werden kann.
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Diese
Erfindung ist in keiner Weise auf die oben beschriebene Ausführungsform
beschränkt,
die in geeigneter Weise geändert
oder modifiziert werden kann, ohne vom Umfang der Erfindung abzuweichen.