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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und Vorrichtung zur
Spurfolgefehlererfassung und insbesondere ein verbessertes Verfahren
und Vorrichtung zur Spurfolgefehlererfassung, wobei eine phasenverriegelte
Schleife (PLL) in ein herkömmliches
Differenzphasenerfassungs-Spurfolgefehler- (DPD TE) Verfahren eingeführt wird,
um die Genauigkeit der Spurfolgefehlererfassung zu erhöhen.
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Bei
einem herkömmlichen
DPD-TE-Verfahren werden Phasendifferenzen auf den Flanken von Gruben
(Pits) oder Marken einer optischen Platte erzeugt. Die Länge der
auf einer optischen Platte aufgezeichneten Pits oder Marken liegt
in verschiedenen Bereichen. Zum Beispiel reicht im Fall des Digital-Vielzweck-Platten-ROM
(DVD-ROM) eine Länge von
3T bis 14T, wo T die Dauer eines Kanaltakts der Platte ist. Wenn
es eine Menge von Pits oder Marken mit einer kurzen Länge gibt,
kann die Phasendifferenzerfassung viele Male durchgeführt werden,
wodurch die Zuverlässigkeit
eines daraus gewonnenen Nachlauffehlersignals erhöht wird.
Umgekehrt wird, wenn mehr Pits oder Marken mit einer langen Länge vorhanden
sind, die Zahl von Malen, die die Phasendifferenzerfassung vorgenommen
werden kann, verringert, wodurch die Zuverlässigkeit eines Nachlauffehlersignals
verschlechtert wird. Des Weiteren steht eine entsprechend einem
Signalmodulationsverfahren auf einer Platte aufgezeichnete Spektrumkomponente
in enger Beziehung zu Ausgängen
von AC+ und BD+, und eine Niederfrequenzkomponente des Spektrums
wirkt auf Rauschen in Bezug auf ein Nachlauffehlersignal, das zum
Folgen und Bestimmen der Position einer Spurfolgemitte verwendet wird.
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Nach
einem herkömmlichen
DPD-TE-Verfahren soll die Phasendifferenzerfassung von Pits oder
Marken zu einer Zeit vorgenommen werden, sodass sich die Verstärkung und
die Eigenschaften eines erfassten Signal verschlechtern, wenn das
Signal von Pits oder Marken durch Defekte oder dergleichen nachteilig
beeinflusst wird. Ein System dieser Art wird in
JP 09161285 offenbart, das den Stand
der Technik widerspiegelt. Wenn die Spurdichte einer optischen Platte
zunimmt, nehmen die Größe und die Verstärkung eines
Nachlauffehlersignals nach dem herkömmlichen DPD-TE-Verfahren ab.
Das herkömmliche
DPD-TE-Verfahren hat daher einen Nachteil insofern, als es schwer
ist, den Nachlauf in einer hoch dichten Spurstruktur genau zu steuern.
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JP 10302277 beschreibt
eine optische Platteneinrichtung und ein Nachlauffehlersignal-Erzeugungsverfahren.
Die Einrichtung besitzt eine PLL, die ein Datenlesesignal erzeugt,
einen automatisch veränderbaren
Fequenzwellenform-Ausgleicher, einen Vergleicher, eine externe Steuerverzögerungseinrichtung,
die ein Phasendifferenz-Gleichgewicht justiert, einen Phasenvergleicher,
der die Phasendifferenz erfasst, und eine Ladungspumpe zum Laden/Entladen.
Der automatisch veränderbare
Wellenform-Ausgleicher kann Frequenzeigenschaften entsprechend einer
externen Eingabe ändern.
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Es
ist eine Aufgabe von Ausführungen
der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Verbessern der Genauigkeit
einer Spurfolgefehlererfassung mit dem Einführen einer phasenverriegelten
Schleife (PLL) in ein herkömmliches
Differenzphasenerfassungs-Spurfolgefehler- (DPD TE) Verfahren bereitzustellen.
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Es
ist eine andere Aufgabe von Ausführungen
der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung bereitzustellen, die
das obige Verfahren benutzt.
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Nach
einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Spurfolgefehler-Erfassungsverfahren
zum Erzeugen eines Nachlauffehlersignals als ein Differenzsignal
von optischen Erfassungssignalen, die von mehr als zwei entlang
einer diagonalen Linie von einer Spurmitte gelegenen optischen Detektoren
erzeugt werden, bereitgestellt, wobei das Verfahren die folgenden
Schritte umfasst: Binärisieren
jedes der Ausgänge
der optischen Detektoren; Erzeugen von Taktsignalen, die durch Phasenverriegelung
mit jedem der durch die Binärisierung
erhaltenen Ausgänge
synchronisiert sind; durch Phasenverriegelung Erfassen einer Phasendifferenz
zwischen den von der Phasenverriegelung ausgegebenen synchronisierten
Taktsignalen, und Tiefpassfiltern des Ausgangs der Phasendifferenzerfassung,
um das Ergebnis als das Nachlauffehlersignal auszugeben.
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Nach
einem zweiten Aspekt der Erfindung wird eine Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung zum
Erzeugen eines Nachlauffehlersignals als ein Differenzsignal von
optischen Erfassungssignalen, die von mehr als zwei entlang einer
diagonalen Linie von einer Spurmitte gelegenen optischen Detektoren erzeugt
werden, bereitgestellt, wobei die Vorrichtung umfasst: Binärisierer
zum Binärisieren
jedes der Ausgänge
der optischen Detektoren; phasenverriegelte Schleifen zum Erzeugen
von mit jedem der Ausgänge
der Binärisierer
synchronisierten Taktsignalen; einen Phasendifferenzdetektor zum
Erfassen einer Phasendifferenz zwischen den von den phasenverriegelten
Schleifen ausgegebenen synchronisierten Taktsignalen, und ein Tiefpassfilter
zur Filterung des Ausgangs des Phasendifferenzdetektors, um das
Ergebnis als das Nachlauffehlersignal auszugeben.
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Die
Vorrichtung umfasst vorzugsweise Ausgleicher zum Verstärken der
Hochfrequenzkom ponenten der Ausgänge
der optischen Detektoren, um das Ergebnis an die Binärisierer
auszugeben.
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Vorzugsweise
werden die Ausgleicher verwendet, um Niederfrequenzkomponenten eines Spektrums
aus den Ausgängen
der optischen Detektoren entsprechend einem Aufzeichnungs-Modulationserfahren
eines auf einer Platte aufgezeichneten Signals zu entfernen.
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Vorzugsweise
ist ein an die phasenverriegelten Schleifen geliefertes Taktsignal
ein Kanaltaktsignal.
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Die
Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung kann vorzugsweise weiter einen
Frequenzteiler umfassen, der die Frequenz des Kanaltaktsignals durch n
(n = 2, 3, 4, ...) teilt, um das Ergebnis an die phasenverriegelten
Schleifen auszugeben, wenn die Phase eines Ausgangssignal invertiert
ist.
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Der
Phasendifferenzdetektor kann ein erstes Phasendifferenzsignal, das
anzeigt, dass ein von den phasenverriegelten Schleifen ausgegebenes
erstes synchronisiertes Taktsignal einem von den phasenverriegelten
Schleifen ausgegebenen zweiten synchronisierten Taktsignal voreilt,
und ein zweites Phasendifferenzsignal erzeugen, das anzeigt, dass
das zweite synchronisierte Taktsignal dem ersten synchronisierten
Taktsignal voreilt, und wobei die Tiefpassfilter ein erstes und
zweites Tiefpassfilter umfassen, die das erste bzw. zweite Phasendifferenzsignal filtern.
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Die
Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung kann des Weiteren einen Differenzverstärker umfassen,
der ein Nachlauffehlersignal entsprechend einem Differenzsignal
der Ausgänge
des ersten und zweiten Tiefpassfilters erzeugt.
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Nach
einem anderen Aspekt der Erfindung wird eine Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
bereitgestellt, die dadurch gekennzeichnet ist, dass sie ein Nachlauffehlersignal
als ein Differenzsignal von optischen Erfassungssignalen erzeugt,
die von zwei außerhalb
der Spurmitte einer optischen Dreiabschnitts-Erfassungseinheit angeordneten
optischen Detektoren erzeugt werden, wobei die Vorrichtung umfasst:
Binärisierer
zum Binärisieren
jedes der Ausgänge
der zwei optischen Detektoren; einen Phasendifferenzdetektor zum
Erfassen einer Phasendifferenz zwischen den Ausgängen der Binärisierer
und ein Tiefpassfilter zur Filterung des Ausgangs des Phasendifferenzdetektors,
um das Ergebnis als das Nachlauffehlersignal auszugeben.
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Die
Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung kann des Weiteren phasenverriegelte
Schleifen umfassen, die mit den Binärisierern und dem Phasendifferenzdetektor
verbunden sind und zum Erzeugen von Taktsignalen sind, die mit jedem
der Ausgänge der
Binärisierer
synchronisiert sind, um die synchronisierten Signale an den Phasendifferenzdetektor auszugeben,
wobei der Phasendifferenzdetektor eine Phasendifferenz zwischen
den von den phasenverriegelten Schleifen ausgegebenen synchronisierten
Signalen erfasst.
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Zum
besseren Verständnis
der Erfindung und um zu zeigen, wie Ausführungen derselben in Wirkung
gesetzt werden können,
wird nun als Beispiel auf die begleitenden schematischen Zeichnungen
verwiesen. Inhalt der Zeichnungen:
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1 ist ein Blockschaltbild
einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung nach einem herkömmlichen
Differenzphasenerfassungs-Spurfolgefehler- (DPD TE) Verfahren.
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2 ist ein Wellenformdiagramm,
das die Arbeitsweise der in 1 gezeigten
Vorrichtung zeigt.
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3 ist ein Blockschaltbild
einer ersten bevorzugten, erfindungsgemäßen Ausführung einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung.
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4 ist ein Wellenformdiagramm,
das die Arbeitsweise der in 3 gezeigten
Vorrichtung zeigt.
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5 ist ein Blockschaltbild
einer zweiten bevorzugten, erfindungsgemäßen Ausführung einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung.
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6 ist ein Blockschaltbild
einer dritten bevorzugten, erfindungsgemäßen Ausführung einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung.
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7 ist ein Blockschaltbild
einer vierten bevorzugten, erfindungsgemäßen Ausführung einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung.
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8 ist eine Grafik von Verstärkung über Frequenz
für die
in 3 und 5-7 gezeigten
Ausgleicher.
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9 ist eine Grafik, die das
Ergebnis des Vergleichs eines von einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
nach Ausführungen
der vorliegenden Erfindung erzeugten Nachlauffehlersignals mit einem
von einem herkömmlichen
DPD-TE-Verfahren erzeugten Nachführsignal
zeigt.
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10 ist eine Grafik, die
die Charakteristik der Verstärkung
von Nachlauffehlersignalen zeigt, die von einer erfindungsgemäßen Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
und einem herkömmlichen DPD-TE-Verfahren
erzeugt werden.
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1 zeigt die Konfiguration
einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung nach einem herkömmlichen
Differenzphasenerfassungs-Spurfolgefehler- (DPD TE) Verfahren. Die
in 1 gezeigte Vorrichtung
umfasst eine vierteilige optische Erfassungseinheit 102,
eine Matrixschaltung 104, Hochpassfilter (HPFs) 106a und 106b,
Komparatoren 108a und 108b, einen Phasenkomparator 110 und ein
Tiefpassfilter (LPF) 112. Die Vorrichtung erfasst eine
Phasendifferenz zwischen den von der vierteiligen Erfassungseinheit 102 ausgegebenen
Signalen, um die Position eines Laserpunktes zu bestimmen. Wenn
der Laserpunkt von der Spurmitte abweicht, resultiert dies in einer
Zeitverzögerung
oder einer Phasendifferenz zwischen A+C und B+D Signalen. Durch Erfassen
der Zeitverzögerung
zwischen diesen Signalen wird daher ein Nachlauffehlersignal erzeugt.
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Das
heißt,
die Matrixschaltung 104 zum Addieren der optischen Erfassungssignale
A und B und C und D, die auf einer diagonalen Linie zwischen den Ausgängen (A,
B, C und D) der vierteiligen optischen Erfassungseinheit 102 liegen,
wandelt die Ausgänge AC1
und BD1 in A+C bzw. B+D um. Die HPFs 106a und 106b zum
Verstärken
der Hochfrequenzkomponenten von AC1 und BD1, die von der Matrixschaltung
geliefert werden, differenzieren AC1 und BD1 und geben die Ergebnisse,
d.h. AC2 und BD2, an die Komparatoren 108a und 108b aus.
Die Komparatoren 108a und 108b zum Binärisieren
der von den HPFs 106a und 106b gelieferten AC2
und BD2 vergleichen AC2 und BD2 mit einem vorbestimmten Pegel (einem
Massepegel in 1), um
die Ergebnisse, d.h. AC3 und BD3, an den Phasenkomparator 110 auszugeben.
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Der
Phasenkomparator 110 zum Erfassen einer Phasendifferenz
zwischen von den Komparatoren 108a und 108b gelieferten
AC3 und BD3 vergleicht die Phasen von AC3 und BD3, um die Ergebnisse,
d.h. AC+ und BD+, an das LPF 112 auszugeben. In diesem
Fall ist AC+ ein Phasendifferenzsignal, das erzeugt wird, wenn AC3
BD3 in der Phase voreilt, während
BD+ ein Phasendifferenzsignal ist, das erzeugt wird, wenn BD3 AC3
in der Phase voreilt. Das LPF 112 zum Filtern der von dem
Phasenkomparator 110 eingegebenen AC+ und BD+ gibt das
Ergebnis als ein Nachlauffehlersignal aus.
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2 ist ein Wellenformdiagramm,
das die Arbeitsweise der in 1 gezeigten
Vorrichtung veranschaulicht. In 2,
die den Fall zeigt, wo AC3 BD3 in der Phase voreilt, sind die Wellenformen
von AC3, BD3, AC+ und BD+ nacheinander von oben veranschaulicht.
Wie in 2 gezeigt kann
gefunden werden, dass, wenn ein Laserpunkt um einen vorbestimmten
Betrag abweicht, eine Phasendifferenz zwischen AC3 und BD3 besteht,
die wiederum in AC+ und BD+ widergespiegelt wird. Wenn AC3 BD3 in
der Phase voreilt, ist ein Nachlauffehlersignal größer als
ein vorbestimmter Mittenwert, aber im umgekehrten Fall ist es kleiner
als der vorbestimmte Mittenwert. Das Ausmaß, in dem ein Nachlauffehlersignal
von dem Mittenwert abweicht, entspricht dem Abstand, um den der
Laserpunkt von der Spurmitte versetzt ist.
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Der
Phasenkomparator 110 der in 1 gezeigten
Vorrichtung erfasst eine Phasendifferenz an einer steigenden oder
fallenden Flanke von AC3 und BD3. Die steigenden oder fallenden
Flanken von AC3 und BD3 entsprechen den Kanten von auf einer optischen
Platte aufgezeichneten Pits oder Marken. Mit anderen Worten, die
in 1 gezeigte Vorrichtung erfasst
eine Phasendifferenz einmal auf jeder Kante von auf einer optischen
Platte aufgezeichneten Pits und Marken. Wenn die Zahl von Pits oder
Marken zunimmt, nimmt daher die Zuverlässigkeit eines Nachlauffehlersignals
zu, wenn wenn die Zahl von Pits oder Marken abnimmt, nimmt die Zuverlässigkeit
des Signals ab. Wenn Pits oder Marken durch Defekte einer optischen
Platte oder andere Faktoren beeinflusst werden, werden die Verstärkung und
die Eigenschaften eines Nachlauffehlersignals schlechter. Eine Spektumkomponente
entsprechend einem Aufzeichnungs-Modulationsverfahren ist eng mit
AC+ und DB+ verbunden, und besonders eine Niederfrequenzkomponente
des Spektrums arbeitet auf Rauschen in Bezug auf ein Nachlauffehlersignal.
Des Weiteren werden im Fall eines Nachlauffehlersignals nach dem
DPD-TE-Verfahren die Größe und die
Verstärkung
verringert, wenn die Spurdichte erhöht wird, was die genaue Steuerung
des Nachführens
in einer Struktur mit hoher Spurdichte schwierig macht.
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Um
solche Nachteile zu verbessern, beeinhaltet ein erfindungsgemäßes Spurfolgefehler-Erfassungsverfahren
das Erzeugen von Taktsignalen, die mit jedem der binärisierten
Signale AC+ und BD+ synchronisiert sind, um eine Phasendifferenz
zwischen diesen Taktsignalen zu erfassen. In diesem Fall haben alle
Impulse in den synchronisierten Taktsignalen die Phasendifferenzkomponenten
von AC+ und BD+, sodass ein Nachlauffehlersignal ungeachtet der
Längen
von auf einer Platte aufgezeichneten Pits oder Marken erzeugt werden
kann.
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Das
heißt,
zum Ersten werden Ausgänge von
optischen Detektoren, die entlang einer diagonalen Linie von einer
Spurmitte angeordnet sind, jeweils binärisiert. Zweitens werden Taktsignale,
die mit jedem der von der Binärisierung
erhaltenen Ausgänge synchronisiert
sind, durch PLL-Schaltungen erzeugt. Wenn ein Laserpunkt von einer
Spurmitte abweicht, haben die von der Binärisierung erhaltenen Ausgänge AC+
und BD+ eine Phasendifferenz, die dem Abweichungsgrad des Laserpunktes
in Bezug auf die Spurmitte entspricht, und die Taktsignale, die
mit den Ausgängen
phasenverriegelt sind, haben die gleiche Phasendifferenz. Drittens,
eine Phasendifferenz zwischen den in der Phasenverriegelung ausgegebenen Taktsignalen
wird erfasst. Alle Takte in den synchronisierten Taktsignalen besitzen
die Phasendifferenzkomponenten von AC+ und BD+, sodass eine Phasendifferenzkomponente
auf einer taktweisen Basis erfasst wird. Schließlich wird der Ausgang von
der Phasendifferenzerfassung durch ein LPF gefiltert, um ein Nachlauffehlersignal
zu gewinnen.
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3 ist ein Blockschaltbild,
das eine erste bevorzugte Ausführung
einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung nach der vorliegenden
Erfindung zeigt. Die in 3 gezeigte
Vorrichtung umfasst eine vierteilige optische Erfassungseinheit 302,
eine Matrixschaltung 304, Ausgleicher (EQs) 306a und 306b, Binärisierer 308a und 308b,
PLLs 310a und 310b, einen Phasenkomparator 312,
LPFs 314a und 314b, einen Differenzverstärker 316 und
einen Frequenzteiler 318.
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Die
Matrixschaltung 304 zum Addieren von optischen Erfassungssignalen
A und C und B und D unter den Ausgängen A, B, C und D der vierteiligen optischen
Erfassungseinheit 302 wandelt die Ausgänge AC1 und BD1 in A+C bzw.
B+D um. Das heißt, die
Matrixschaltung 304 erzeugt Summensignale der von den optischen
Detektoren erzeugten Signale, die entlang einer diagonalen Linie
von einer Spurmitte angeordnet sind. Die EQs 306a und 306b zum
Stärken
der Hochfrequenzkomponenten der von der Matrixschaltung gelieferten
AC1 und BD1 und zum Entfernen von Rauschen davon differenzieren
AC1 und BD1 und entfernen Rauschen davon, um die Ergebnisse AC2
und BD2 an die Binärisierer 308a und 308b auszugeben.
Mit anderen Worten, da die Ausgänge
A, B, C und D der vierteiligen optischen Erfassungseinheit 302 schwache
Hochfrequenzkomponenten aufweisen, werden die Hochfrequenzkomponenten
der von der Matrixschaltung 304 gelieferten AC1 und BD1
durch die EQs 306a und 306b gestärkt. Ferner
beseitigen, da die Ausgänge
A, B, C und D der vierteiligen optischen Erfassungseinheit 302 eine Rauschkomponente
zusätzlich
zu den von einer optischen Platte reflektierten Signalen aufweisen,
die EQs 306a und 306b die Rauschkomponente in
den von der Matrixschaltung 304 bereitgestellten AC1 und
BD1.
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Die
Binärisierer 308a und 308b zum
Umwandeln der von den EQs 306a und 306b gelieferten
AC2 und BD2 in binäre
Digitalsignale binärisieren
AC2 und BD2, um die Ergebnisse AC3 und BD3 an die PLLs 310a und 310b auszugeben.
Durch die Binärisierer 308a und 308b kann
eine Binärisierungspegel-Kompensation
für die
von den EQs 306a und 306b gelieferten AC2 und
BD2 durchgeführt
werden. Die PLLs 310a und 310b zum Erzeugen von
Taktsignalen (CLKs), die mit AC3 und BD3 synchronisiert sind, die
von den Binärisierern 308a und 308b geliefert
werden, empfangen die Eingangssignale CLK, AC3 und BD3 und geben
mit AC3 und BD3 synchronisierte CLK_AC und CLK_BD an den Phasenkomparator 312 aus.
Der Phasenkomparator 312 zum Erfassen einer Phasendifferenz zwischen
den von den PLLs 310a und 310b gelieferten CLK-AC
CLK_BD vergleicht die Phasen von CLK_AC und CLK_BD, um die Ergebnisse
AC+ und BD+ an LPFs 314a bzw. 314b auszugeben.
In diesem Fall sind AC+ und BD+ Phasendifferenzsignale, die erzeugt
werden, wenn CLK_AC CLK_BD in der Phase voreilt bzw. wenn CLK_BD
CLK_AC in der Phase voreilt.
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Die
LPFs 314a und 314b filtern die von dem Phasenkomparator 312 ausgegebenen
AC+ und BD+, um die Ergebnisse an den Differenzverstärker 316 auszugeben.
Der Differenzverstärker 316 verstärkt das
Differenzsignal der von den LPFs 314a und 314b gefilterten
AC+ und BD+, um das Ergebnis als ein Nachlauffehlersignal (TE) auszugeben.
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4 ist ein Wellenformdiagramm,
das die Arbeitsweise der in 3 gezeigten
Vorrichtung zeigt. In 4,
die den Fall zeigt, wo AC3 BD3 in der Phase voreilt, sind die Wellenformen
von AC3, BD3, CLK_AC, CLK_BD, AC+ und BD+ von oben veranschaulicht.
Wie in 4 gezeigt kann
gefunden werden, dass, wenn ein Laserpunkt von einer Spurmitte um
einen vorbestimmten Betrag abweicht, eine zwischen AC3 und BD3 bestehende
Phasendifferenz auf CLK_AC und CLK_BD übertragen wird, verdoppelt
um eine CLK-Frequenz. 4 zeigt,
dass CLK_AC und CLK_BD synchroniert mit AC3 bzw. BD3 erzeugt werden
und eine zwischen AC3 und BD3 erzeugte Phasendifferenz Δt auf die
Ausgänge CLK_AC
und CLK_BD der PLLs 310a und 310b übertragen
wird. Der Phasendifferenzwert Δt
kann daher als ein Ergebnis des Vergleichs der Phasen von CLK_AC
und CLK_BD gewonnen werden.
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Die
herkömmliche
Vorrichtung erfasst die Phasendifferenz Δt einmal in einem Intervall
t1, während
die Vorrichtung nach Ausführungen
der vorliegenden Erfindung die Phasendifferenz Δt einmal bei jedem CLK-Zyklus
erfassen kann. Wenn ein Kanaltakt als CLK benutzt wird, kann die
Phasendifferenz ΔT
ungeachtet der Längen
der auf einer optischen Platte aufgezeichneten Pits oder Marken
einmal bei jedem Kanaltaktzyklus T erfasst werden. Der Frequenzteiler 318 teilt
die Frequenz von CLK in einem Intervall, wo die Umkehr des Ausgangssignals
stattfindet, um das Ergebnis an die PLLs 310a und 310b auszugeben.
In der Vorrichtung von 3 wird
eine Nachführservosteuerung
in dem Intervall unstabil, wo die Umkehr des Ausgangssignals geschieht.
Der Grund ist, dass die Umkehr des Ausgangssignals eine Abweichung
von dem Ausmaß der
Phasendifferenzerfassung durch die PLLs 310a und 310b verursacht.
Um die Abweichung zu kompensieren, wird daher die Frequenz von CLK
in dem Intervall geteilt, wo die Umkehr des Ausgangssignals vorkommt,
und das Ergebnis wird an die PLLs 310a und 310b angelegt.
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5 ist ein Blockschaltbild,
dass eine zweite erfindungsgemäße Ausführung einer
Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung zeigt. Die in 5 gezeigte Vorrichtung umfasst eine vierteilige
optische Erfassungseinheit 502, EQs 506a–506d,
Binärisierer 508a–508d,
PLLs 510a–510d,
Phasenkomparatoren 512a und 512b, LPFs 514a–514d,
Differenzverstärker 516a und 516b und
einen Addierer 518. Da die Ausgänge A, B, C und D der vierteiligen
optischen Erfassungseinheit 502 schwache Hochfrequenzkomponenten
aufweisen, wird die Hochfrequenzkomponente der von der vierteiligen
optischen Erfassungseinheit 502 bereitgestellten Ausgänge A, B,
C und D durch die EQs 506a–506d verstärkt. Da
die Ausgänge
A, B, C und D der vierteiligen optischen Erfassungseinheit 502 zusätzlich zu
den von einer optischen Platte reflektierten Signalen Rauschen enthalten,
beseitigen außerdem
die EQs 506a–506d die Rauschkomponenten
aus den von der vierteiligen optischen Erfassungseinheit 502 bereitgestellten Ausgängen A,
B, C und D.
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Dir
Binärisierer 508a–508d zum
Umwandeln der von den EQs 506a–506d gelieferten Signale
in binäre
Digitalsignale binärisieren
diese Signale, um die Ergebnisse an die PLLs 510a–510d auszugeben.
Die PLLs 510a–510d,
die CLKs synchronisiert mit den Signalen erzeugen, die von den Binärisierern 508a–508d geliefert
werden, empfangen als Eingang CLK und die von den Binärisierern 508a–508d gelieferten
Signale, um CLKs, die mit jedem der von den Binärisierern 508a–508d gelieferten
Signale synchronisiert sind, an die Phasenkomparatoren 512a und 512b auszugeben.
Die Phasenkomparatoren 512a und 512b sind zum
Erfassen von Phasendifferenzen zwischen CLK_A und CLK_B und zwischen CLK_C
und CLK_D, die von den PLLs 510-510d geliefert werden.
Der Phasenkomparator 512a vergleicht die Phasen von CLK_A
und CLK_B, um die Ergebnisse A+ und B+ an das LPF 514a bzw. 514b auszugeben,
während
der Phasenkomparator 512b die Phasen von CLK_C und CLK_D
vergleicht, um die Ergebnisse C+ und D+ an das LPF 514c bzw. 514d auszugeben.
In diesem Fall sind A+ und B+ Phasendifferenzsignale, die erzeugt
werden, wenn CLK_A CLK_B in der Phase voreilt bzw. wenn CLK_B CLK_A
in der Phase voreilt. Des Weiteren sind C+ und D+ Phasendifferenzsignale,
die erzeugt werden, wenn CLK_C CLK_D in der Phase voreilt bzw. wenn
CLK_D CLK_C in der Phase voreilt.
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Die
LPFs 514a–514d filtern
die von den Phasenkomparatoren 512a und 512b gelieferten
A+, B+, C+ und D+, um die Ergebnisse an die Differenzverstärker 516a und 516b auszugeben.
Die Differenzverstärker 516a und 516b verstärken die
Differenzsignale von A+ und B+ und C+ und D+, die von den LPFs 514a–514d geliefert
werden, um die Ergebnisse an den Addierer 518 auszugeben.
Der Addierer zum Addieren der von den Differenzverstärkern 516a und 516b bereitgestellten
Signale addiert diese Signale, um das Ergebnis als TE auszugeben.
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6 ist ein Blockschaltbild,
das eine dritte bevorzugte, erfindungsgemäße Ausführung einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
zeigt, bei der TE unter Verwendung einer dreiteiligen optischen
Erfassungseinheit erzeugt wird. Die in 6 gezeigte Vorrichtung umfasst eine dreiteilige
optische Erfassungseinheit 602, EQs 606a und 606b,
Binärisierer 608a und 608b,
PLLs 610a und 610b, einen Phasenkomparator 612,
LPFs 614a und 614b und einen Differenzverstärker 616.
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Die
EQs 606a und 606b zum Verstärken der Hochfrequenzkomponenten
von Signalen E und G, die von optischen Detektoren geliefert werden,
die an der Außenseite
der dreiteiligen optischen Erfassungseinheit 602 angeordnet
sind, und zum Entfernen von Rauschen davon differenzieren E und
G und entfernen Rauschen davon, um die Ergebnisse an die Binärisierer 608a und 608b auszugeben.
Die Binärisierer 608a und 608b zum
Umwandeln der von den EQs 606a und 606b gelieferten
Signale in binäre Digitalsignale
binärisieren
diese Signale, um die Ergebnisse E3 und G3 an die PLLs 610a und 610b auszugeben.
Die PLLs 610a und 610b zum Erzeugen von CLKs,
die mit den Signalen synchronisiert sind, die von den Binärisierern 608a und 608b geliefert werden,
empfangen als Eingang CLK, E3 und G3, um CLK_E und CLK_G synchronisiert
mit E3 und G3 an den Phasenkomparator 612 auszugeben. Der Phasenkomparator 612 zum
Erfassen einer Phasendifferenz zwischen den von den PLLs 610a und 610b gelieferten
Signalen CLK_E und CLK_G vergleicht die Phasen von CLK_E und CLK_G
und gibt die Ergebnisse E+ und G+ an die LPFs 614a bzw. 614b aus.
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In
diesem Fall sind E+ und G+ Phasendifferenzsignale, die erzeugt werden,
wenn CLK_E CLK G in der Phase voreilt bzw. wenn CLK_G CLK_E in der
Phase voreilt.
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Die
LPFs 614a und 614b filtern die von dem Phasenkomparator 612 gelieferten
Signale E+ und G+, um die Ergebnisse an den Differenzverstärker 616 auszugeben.
Der Differenzverstärker 616 verstärkt das
Differenzsignal der von den LPFs 614a und 614b gefilterten
Signale E+ und G+, um das Ergebnis als TE auszugeben.
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7 ist ein Blockschaltbild,
das eine vierte bevorzugte, erfindungsgemäße Ausführung einer Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
zeigt, bei der TE unter Verwendung des Ausgangs einer dreiteiligenoptischen
Erfassungseinheit erzeugt wird. Die in 7 gezeigte Vorrichtung umfasst eine dreiteilige optische
Erfassungseinheit 702, EQs 706a und 706b,
Binärisierer 708a und 708b,
einen Phasenkomparator 712, LPFs 714a und 714b und
einen Differenzverstärker 716.
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Die
EQs 706a und 706b zum Stärken der Hochfrequenzkomponenten
von Signalen E und G, die von optischen Detektoren geliefert werden,
die an der Außenseite
der dreiteiligen optischen Erfassungseinheit 702 angeordnet
sind, und zum Entfernen von Rauschen davon differenzieren E und
G und. entfernen Rauschen davon, um die Ergebnisse an die Binärisierer 708a und 708b auszugeben.
Die Binärisierer 708a und 708b zum
Umwandeln der von den EQs 706a und 706b gelieferten
Signale in binäre Digitalsignale
binärisieren
diese Signale, um die Ergebnisse E3 und G3 an den Phasenkomparator 712 auszugeben.
Der Phasenkomparator 712 zum Erfassen einer Phasendifferenz
zwischen den von den EQs 706a und 706b gelieferten
Signalen E3 und G3 vergleicht die Phasen von E3 und G3, um die Ergebnisse
E+ und G+ an die LPFs 714a bzw. 714b auszugeben.
In diesem Fall sind E+ und G+ Phasendifferenzsignale, die erzeugt
werden, wenn E3 G3 in der Phase voreilt bzw. wenn G3 E3 in der Phase
voreilt.
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Die
LPFs 714a und 714b filtern die von dem Phasenkomparator 712 gelieferten
Signale E+ und G+, um die Ergebnisse an den Differenzverstärker 716 auszugeben.
Der Differenzverstärker 716 verstärkt das
Differenzsignal der von den LPFs 714a und 714b gefilterten
Signale E+ und G+, um das Ergebnis als TE auszugeben.
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8 ist eine Grafik, die die
Arbeitsweise der EQs von 3 und 5-7 zeigt, wobei die Vertikalachse und
die Horizontalachse Verstärkung
bzw. Frequenz angeben. Die EQs mit den Eigenschaften wie in 8 gezeigt führen die
Funktion des Steuerns ihrer Eigenschaften so durch, dass ein Eingangssignal
zwischen eine erste Frequenz f1 und eine zweite Frequenz f2 gelegt
werden kann, um die Hochfrequenzkomponente zu verstärken, die
nahe an der zweiten Frequenz f2 liegt.
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9 ist eine Grafik, die das
Ergebnis des Vergleichs eines von der erfindungsgemäßen Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
erzeugten Nachlauffehlersignals mit einem von einem herkömmlichen
DPD-TE-Verfahren erzeugten Nachlauffehlersignal zeigt. In 9 stellen Verweiszeichen 91 und 92 Nachlauffehlersignale
dar, die von einem herkömmlichen
DPD-TE-Verfahren bzw. einer erfindungsgemäßen Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
erzeugt werden, und es ist zu sehen, dass die Verstärkung der
Letzteren größer ist
als die der Ersteren. Des Weiteren zeigt ein Intervall 93 den
Abschnitt an, wo die Umkehr des Ausgangssignals vorkommt, sodass eine
Phasendifferenz die Erfassungsgrenze übersteigen wird, wenn die Phasendifferenz
mittels der von den PLLs erzeugten CLKs wie in der vorliegenden Erfindung
erfasst wird. Wenn dies der Fall ist, kann die Frequenz des PLL-CLK
durch n (n = 2, 3, 4, ...) geteilt werden, und das Ergebnis wird
an einen Phasendifferenzdetektor ausgegeben, der den Erfassungsumfang
erhöhen
wird, sodass Intervalle wie 93 nicht vor handen sein werden.
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10 ist eine Grafik, die
die Charakteristik von Nachlauffehlersignalen zeigt, die von einer
erfindungsgemäßen Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
und einem herkömmlichen
DPD-TE-Verfahren erzeugt
werden. In 10 bezeichnen
Verweiszeichen 94 und 95 die Verstärkungen
von Nachlauffehlersignalen, die durch das herkömmliche DPD-TE-Verfahren bzw.
die erfindungsgemäße Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
erzeugt werden. Wenn beide unter den gleichen Bedingungen gemessen
werden, ist zu sehen, dass die Verstärkung eines in der erfindungsgemäßen Vorrichtung
erzeugten Nachlauffehlersignals etwa 10-mal größer ist als die Verstärkung des
anderen. Ein Intervall 96 ist der Abschnitt, wo ein optischer
Abnehmer in einem normalen Nachführzustand
auf eine angrenzende Spur springt. Während das Intervall 96 in
einem durch das herkömmliche
DPD-TE-Verfahren erzeugten Nachlauffehlersignal nicht klar gezeigt
werden kann, wird es in einem von der vorliegenden Erfindung erzeugten
Nachlauffehlersignal als ein großer Wert ausgegeben.
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Wie
im Vorangehenden beschrieben ist eine erfindungsgemäße Spurfolgefehler-Erfassungsvorrichtung
in der Lage, ein Nachlauffehlersignal zu erzeugen, das sich nicht
in Abhängigkeit
von den Längen
der auf einer optischen Platte aufgezeichneten Pits und Marken verändert, sodass
die Zuverlässigkeit
des Nachlauffehlersignals gesteigert werden kann.
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Während diese
Erfindung besonders mit Bezug auf bevorzugte Ausführungen
derselben gezeigt und beschrieben wurde, werden die Fachleute in
der Technik erkennen, dass verschiedene Änderungen in Form und Details
darin vorgenommen werden können,
ohne vom Umfang der Erfindung, wie in den anliegenden Ansprüchen definiert,
abzuweichen.