DE60012106T2

DE60012106T2 - Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe

Info

Publication number: DE60012106T2
Application number: DE60012106T
Authority: DE
Inventors: R. Cornelis RONDA; J. Cornelis DENISSEN; U. Volker WEILER
Original assignee: Philips Intellectual Property and Standards GmbH; Koninklijke Philips Electronics NV
Current assignee: Philips Intellectual Property and Standards GmbH; Koninklijke Philips NV
Priority date: 1999-04-29
Filing date: 2000-04-19
Publication date: 2005-02-17
Anticipated expiration: 2020-04-20
Also published as: CN1302451A; JP2002543577A; CN1180456C; US6417614B1; EP1095397A1; EP1095397B1; WO2000067295A1; DE60012106D1

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe, welche ein Entladungsgefäß mit einem röhrenförmigen Teil aufweist, der für Strahlung, die in dem Entladungsgefäß erzeugt wird, durchlässig ist,
wobei das Entladungsgefäß einen Entladungsraum enthält, der gasundurchlässig mit einer Füllung aus Quecksilber und einem Edelgas versehen ist,
wobei der röhrenförmige Teil des Entladungsgefäßes mit einer Metalloxidschicht und einer lumineszierenden Schicht auf einer, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche versehen ist, und
wobei die Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe Entladungsmittel aufweist, um eine elektrische Entladung in dem Entladungsgefäß aufrechtzuerhalten.
Quecksilber bildet die Hauptkomponente, um (auf effiziente Weise) ultraviolettes (UV) Licht in Quecksilberdampfentladungslampen zu erzeugen. Auf einer Innenwand des Entladungsgefäßes ist eine, lumineszierendes Material (zum Beispiel Fluoreszenzpulver) enthaltende, lumineszierende Schicht vorhanden, um UV in andere Wellenlängen, zum Beispiel UV-B und UV-A zu Bräunungszwecken (Sonnenbänke), oder in sichtbare Strahlung zu allgemeinen Beleuchtungszwecken umzuwandeln. Solche Entladungslampen werden daher auch als Fluoreszenzlampen bezeichnet. Das Entladungsgefäß von Niederdruckquecksilberdampfentladungslampen ist gewöhnlich kreisförmig und hat eine längliche und kompakte Ausführungsform. Im Allgemeinen weist das röhrenförmige Entladungsgefäß eine Sammlung von relativ kurzen, geraden Teilen eines relativ kleinen Durchmessers auf, welche mit Hilfe von Brückenteilen oder über gebogene Teile miteinander verbunden sind. Kompaktleuchtstofflampen sind in der Regel mit einem (integrierten) Lampensockel versehen. Bei solchen Ausführungsbeispielen der Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe weisen die Entladungsmittel Elektroden auf, welche in dem Entladungsraum angeordnet sind. Ein alternatives Ausführungsbeispiel sieht die elektrodenlosen Niederdruckquecksilberdampfentladungslampen vor.
Eine Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe der eingangs beschriebenen Art ist aus US 4 544 997 bekannt. Bei der bekannten Entladungslampe ist der röhren förmige Teil des Entladungsgefäßes mit einer Schicht aus mindestens einem Oxid aus mindestens einem Element der Gruppe, der Scandium, Yttrium, Lanthan, Gadolinium, Ytterbium und Lutetium angehören, versehen. Die Metalloxidschicht verhindert ein Angreifen der Wand des röhrenförmigen Teils des Entladungsgefäßes durch Wechselwirkung mit Quecksilber und hat somit einen günstigen Einfluss auf die Aufrechterhaltung der Strahlungsleistung der Lampe. Die Metalloxidschicht wird durch Aufbringen einer Lösung aus einer metallorganischen Verbindung auf die, dem Entladungsraum zugewandte Oberfläche des Entladungsgefäßes und durch anschließendes Trocknen des auf der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche verbliebenen Films sowie durch nachfolgendes Sintern erhalten.
Durch die Metalloxidschicht ist der Quecksilberverbrauch der Lampe, d.h. die Menge Quecksilber, welche während des Betriebs der Lampe an Lampenteilen angelagert wird und somit zum Betrieb der Lampe nicht mehr zur Verfügung steht, im Vergleich zu diesem bei Lampen, die eine solche Metalloxidschicht nicht aufweisen, relativ gering. Dennoch ist bei der bekannten Lampe eine relativ hohe Quecksilberdosis erforderlich, um eine ausreichend lange Brenndauer zu realisieren. Nach Ende der Brenndauer der Lampe ist eine unüberlegte Behandlung schädlich für die Umwelt.
Der Erfindung liegt als Aufgabe zugrunde, eine Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe der eingangs beschriebenen Art vorzusehen, welche eine relativ geringe Menge Quecksilber verbraucht.
Gemäß der Erfindung ist die Entladungslampe daher dadurch gekennzeichnet, dass die lumineszierende Schicht ein Alkalimetalloxid enthält und
der röhrenförmige Teil des Entladungsgefäßes eine weitere Metalloxidschicht zwischen der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche und der Metalloxidschicht aufweist,
wobei die weitere Metalloxidschicht Siliciumoxid enthält.
Eine Anzahl Teile einer Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe (zum Beispiel das Entladungsgefäß, die lumineszierenden Materialien usw.) ist gegenüber Quecksilber, welches bei Entladung vorhanden ist, nicht unempfindlich. Solche Teile haben die Tendenz, Quecksilber zu absorbieren. Dieses bedeutet nicht nur, dass in dem Entladungsgefäß mehr Quecksilber vorhanden sein sollte, um sicherzustellen, dass die Entladungslampe während ihrer Brenndauer in Betrieb bleibt, sondern auch, dass die Leistungsfähigkeit der Entladungslampe während ihrer Brenndauer allmählich abnimmt, da viele Hg- Verbindungen UV- und/oder sichtbares Licht absorbieren. Während der Brenndauer der Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe absorbiert das ungeschützte Glas des Entladungsgefäßes mehrere Milligramm Quecksilber. Durch Aufbringen einer Schicht (zum Beispiel aus SiO₂) auf das Entladungsgefäß wird diese Absorption um 50% und durch Aufbringen einer geeigneten Metalloxidschicht (zum Beispiel einer Doppelbeschichtung aus SiO₂/Al₂O₃ oder SiO₂/Y₂O) auf weniger als einige hundert μg reduziert. Die Erfinder haben festgestellt, dass die Reduzierung der, zur Entladung in dem Entladungsraum zur Verfügung stehenden Menge Quecksilber hauptsächlich durch den Austausch des Alkalimetalls (zum Beispiel Na und/oder K) und Hg sowie die Quecksilberabsorption durch die, dem Entladungsraum zugewandte Oberfläche des Entladungsgefäßes hervorgerufen wird. Während des Betriebs der Entladungslampe tritt Quecksilber in die Wand des Entladungsgefäßes ein, wobei das Alkalimetalloxid gleichzeitig die Wand des Entladungsgefäßes verlässt. Ein Quecksilberverbrauch durch die Wand des Entladungsgefäßes hängt mit Imperfektionen der Metalloxidschicht, die auf der Innenwand des Entladungsgefäßes vorgesehen ist, zusammen. Solche Imperfektionen erzeugen bei Bearbeitung der Entladungslampe eine unerwünschte Alkalimetalloxiddiffusion (zum Beispiel Diffusion von Na₂O und/oder K₂O), und es besteht ebenfalls die Möglichkeit, dass Quecksilberatome an unbeschichteten Teilen des Entladungsgefäßes haften, woraufhin in dem Glas eine Quecksilberdiffusion stattfindet. Da die Diffusion des Alkalimetalloxids im Allgemeinen durch einen Konzentrationsgradienten zwischen der Wand des Entladungsgefäßes und der lumineszierenden Schicht gesteuert wird, bewirkt das Vorhandensein von Natriumoxid in der lumineszierenden Schicht während der Bearbeitung der Entladungslampe eine wesentlich geringere Diffusion des Alkalimetalloxids von der Wand des Entladungsgefäßes.
Die weitere Metalloxidschicht wirkt als Alkalimetall abweisende Schicht. Eine solche Schicht verhindert weiter den Transport von Alkalimetallionen, wie zum Beispiel Natrium- und Kaliumionen, von der Wand des Entladungsgefäßes zu dem Entladungsraum. Ein Quecksilberverbrauch durch Bildung von Amalgamen bei Alkalimetallen wird dadurch weiter verhindert.
Siliciumoxid als weiteres Metalloxid bildet eine sehr gute Barriere für Alkalimetallionen. Eine solche Schicht kann auf einfache Weise vorgesehen werden. Es reicht aus, eine Lösung aus hydrolisiertem Tetraethylorthosilicat (TEOS) auf der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche des Entladungsgefäßes aufzubringen. Nach Trocknen des so auf der Oberfläche vorgesehenen Siliciumoxids kann die Metalloxidschicht unmit telbar aufgebracht werden. Eine Wärmebehandlung ist von Vorteil, um die Dichte der Schicht zu verbessern. Die Wärmebehandlung fällt zum Beispiel mit einer Wärmebehandlung der Schutzschicht zusammen. Sollte für die Schutzschicht eine separate Wärmebehandlung überflüssig sein, kann die Wärmebehandlung, wenn die Lampe mit einer lumineszierenden Schicht als Suspension von lumineszierendem Material versehen ist, mit einer Wärmebehandlung zur Entfernung von Hilfssubstanzen, wie zum Beispiel Bindemitteln aus der Suspension, zusammenfallen.
Durch entsprechende Wahl der Konzentration von Natriumoxid in der lumineszierenden Schicht kann die Diffusion des Alkalimetalloxids von der Wand des Entladungsgefäßes weitgehend verhindert werden. Zu diesem Zweck ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe gemäß der vorliegenden Erfindung dadurch gekennzeichnet, dass das Alkalimetalloxid in der lumineszierenden Schicht Natriumoxid und/oder Kaliumoxid aufweist, wobei die Alkalimetalloxidkonzentration 0,001 ≤ Na₂O ≤ 0,2 Gew. % und/oder 0,001 ≤ K₂O ≤ 0,2 Gew. % beträgt. Bei Alkalimetalloxidkonzentrationen von weniger als 0,001 Gew. % erfolgt keine merkliche Reduktion des Konzentrationsgradienten zwischen der Wand des Entladungsgefäßes und der lumineszierenden Schicht. Bei Alkalimetalloxidkonzentrationen von mehr als 0,2 Gew. % wird die Diffusion von Na₂O und/oder K₂O von der Wand des Entladungsgefäßes nicht weiter verhindert.
Die Konzentration des Alkalimetalloxids in der lumineszierenden Schicht beträgt vorzugsweise 0,002 ≤ Na₂O ≤ 0,1 Gew. % und/oder 0,002 ≤ K₂O ≤ 0,1 Gew. %.
Ein attraktives Ausführungsbeispiel der Lampe gemäß der vorliegenden Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass die Metalloxidschicht auf der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche des röhrenförmigen Teils mindestens ein Oxid aus mindestens einem Element der Gruppe, der Magnesium, Aluminium, Titan, Zirkonium sowie die Seltenerden angehören, aufweist. In dieser Beschreibung und den Patentansprüchen werden unter Seltenerden Scandium, Yttrium, Lanthan sowie Lanthanoide verstanden. Eine solche Schicht ist hoch inert, so dass auch langfristig der Quecksilberverbrauch auf Grund von Reaktionen des Quecksilbers durch das Auffüllen mit der Metalloxidschicht gering ist.
Vorteilhafte Ergebnisse werden mit einem Ausführungsbeispiel der Lampe gemäß der vorliegenden Erfindung erreicht, welches dadurch gekennzeichnet ist, dass die Metalloxidschicht des röhrenförmigen Teils Aluminiumoxid und/oder Yttriumoxid enthält. Eine solche Schicht kann zum Beispiel als eine Suspension von Alumini umoxid/Yttriumoxidteilchen, indem zum Beispiel die Suspension aufgesprüht oder bewirkt wird, dass diese über die Innenseite des Entladungsgefäßes fließt, vorgesehen werden.
Das Entladungsgefäß weist zum Beispiel eine lumineszierende Schicht auf, welche sich aus, durch bivalentes Europium aktiviertem, blau lumineszierendem Bariummagnesiumaluminat (BAM), aus grün lumineszierendem Cergadolinium-Terbiumpentaborat (CBT), bei welchem Terbium den Aktivator darstellt, sowie aus, durch trivalentes Europium aktiviertem, rot lumineszierendem Yttriumoxid (YOX) zusammensetzt. Alternative, lumineszierende Materialien sind grün lumineszierendes Certerbiumaluminat (CAT), welches insbesondere für Kompaktleuchtstofflampen geeignet ist. Weitere alternative, lumineszierende Materialien sind blau lumineszierendes Europium-Strontium-Halogenphosphat, zum Beispiel Europium-Strontium-Chlorophosphat (SECA), sowie grün lumineszierendes Certerbium-Lanthanphosphat (LAP).
Patentanmeldung DD-A 262 240 beschreibt eine Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe, welche mit einer, Alkalimetalloxid enthaltenden, lumineszierenden Schicht versehen ist.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im Folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
1 – ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe in einem Längsschnitt; sowie
2 – ein Detail der Entladungslampe von 1 entlang Linie II in 1.
Die Figuren sind ausschließlich schematisch, nicht jedoch maßstabsgetreu dargestellt. Zum Zwecke einer deutlicheren Darstellung sind einige Dimensionen stark übertrieben wiedergegeben. Gleiche Komponenten wurden in der Figur soweit wie möglich durch die gleichen Bezugsziffern gekennzeichnet.
1 zeigt eine Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe, welche ein Glasentladungsgefäß 10 mit einem röhrenförmigen Teil 11, welcher für Strahlung, die in dem Entladungsgefäß 10 erzeugt wird, durchlässig ist, sowie einem ersten und einem zweiten Endabschnitt 12a, 12b aufweist. Der röhrenförmige Teil 11 hat in diesem Ausführungsbeispiel eine Länge von etwa 120 cm und einen Innendurchmesser von 2,5 cm. Das Entladungsgefäß 10 schließt einen Entladungsraum 13 ein, der, gasdicht verschlossen, eine Füllung von 1 mg Quecksilber und einem Edelgas, in diesem Beispiel Argon, enthält. Die Endabschnitte 12a, 12b tragen jeweils eine Elektrode 20b (die Elektrode auf dem ersten Endabschnitt 12a ist in 1 nicht dargestellt), die in dem Entladungsraum 13 angeordnet ist. Die Elektroden 20b bilden in diesem Ausführungsbeispiel die Entladungsmittel. Stromversorgungsleiter 30a, 30a', 30b, 30b' der Elektroden 20b erstrecken sich durch die Endabschnitte 12a, 12b bis über das Entladungsgefäß 10 hinaus. Die Stromversorgungsleiter 30a, 30a', 30b, 30b' sind mit Kontaktstiften 31a, 31a', 31b, 31b' verbunden, welche an einem Lampensockel 32a, 32b befestigt sind. Ein Elektrodenring 21a ist um jede Elektrode 20b angeordnet (der Elektrodenring auf dem zweiten Endabschnitt 12b ist in 1 nicht dargestellt).
Auf dem Elektrodenring 21a ist eine Glaskapsel befestigt, mittels welcher während der Herstellung der Entladungslampe Quecksilber dosiert wird. Zu diesem Zweck wurde ein Metalldraht 23, der auf der Glaskapsel befestigt wurde, in einem hochfrequenten, elektromagnetischen Feld induktiv erwärmt, wobei die Kapsel 22 durchtrennt und das von der Kapsel zu dosierende Quecksilber in dem Entladungsraum 13 freigesetzt wurde.
Die Metalloxidschicht 15 (s. auch 2) auf der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche 14 des röhrenförmigen Teils 11 enthält ein Oxid aus mindestens einem Element der Gruppe, welcher Magnesium, Aluminium, Titan, Zirkonium sowie die Seltenerden angehören. In diesem Fall ist die Metalloxidschicht 15 (ebenfalls als Schutzschicht bezeichnet) durch eine Yttriumoxidschicht mit einem Beschichtungsgewicht von 30 μg/cm² dargestellt.
In dem Ausführungsbeispiel von 1 und 2 weist der röhrenförmige Teil 11 des Entladungsgefäßes 10 zwischen der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche 14 und der Yttriumoxidschicht 15 eine weitere, als Alkalimetall abweisende Schicht wirkende Metalloxidschicht 16 auf. In dem dargestellten Ausführungsbeispiel besteht die weitere Metalloxidschicht 16 aus Siliciumoxid und hat ein Beschichtungsgewicht von 12 μg/cm². Die Yttriumoxidschicht 15 weist eine lumineszierende Schicht 17 (s. auch 2) mit einem Beschichtungsgewicht von 1,8 mg/cm² auf, welche die lumineszierenden Materialien BAM, CBT und YOX enthält. Alternative lumineszierende Materialien sind CAT, SECA und LAP.
Gemäß der Erfindung enthält die lumineszierende Schicht 17 Natriumoxid. Eine unerwünschte Diffusion von Alkalimetalloxid von der Wand des Entladungsgefäßes 10, welche im Allgemeinen durch einen Konzentrationsgradienten zwischen der Wand des Entladungsgefäßes 10 und der lumineszierenden Schicht 17 gesteuert wird, wird dadurch stark reduziert. Natriumoxid in der lumineszierenden Schicht 17 ist besonders geeignet, wobei die Konzentration des Natriumoxids im Bereich von 0,002 ≤ Na₂O ≤ 0,1 Gew. % liegt.
Ein alternatives Ausführungsbeispiel der Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe gemäß der Erfindung wird durch die sogenannten, elektrodenlosen Niederdruckquecksilberdampfentladungslampen (nicht dargestellt) gebildet, bei welchen die Entladungsmittel eine Spule außerhalb eines, von einem Entladungsgefäß umgebenen Entladungsraums aufweisen, welche mit einer Wicklung aus einem elektrischen Leiter versehen ist und an welche während des Betriebs über Stromversorgungsleiter eine Hochfrequenzspannung angelegt wird.
Das Maß gemäß der Erfindung resultiert in einer starken Reduzierung der Menge Quecksilber, welche während des Betriebs auf dem röhrenförmigen Teil 11 des Entladungsgefäßes 10 angelagert wird. Dieses hat zur Folge, dass eine Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe während ihrer Brenndauer eine relativ sehr kleine Menge Quecksilber verbraucht.
Zur Durchführung eines Experiments wurden zwei Gruppen von 10 erfindungsgemäßen Lampen und eine Gruppe von 10 nicht erfindungsgemäßen Lampen hergestellt. In allen Fällen wurde der röhrenförmige Teil 11 des Entladungsgefäßes 10 mit einer lumineszierenden Schicht 17 versehen, während eine Yttriumoxidschicht zwischen der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche 14 des röhrenförmigen Teils 11 und der lumineszierenden Schicht 17 vorhanden war. Von jeder Gruppe von zehn Lampen weisen fünf zwischen der, dem Entladungsraum 13 zugewandten Oberfläche 14 des röhrenförmigen Teils 11 und der Yttriumoxidschicht 15 ebenfalls eine Alkalimetall abweisende Schicht 16 aus Siliciumoxid auf. Die Siliciumoxidschicht 16 und die Yttriumoxidschicht 15 haben jeweils ein Beschichtungsgewicht von 12 und 55 μg/cm². Das Beschichtungsgewicht der lumineszierenden Schicht 17 beträgt 1,8 mg/cm². Bei der ersten Gruppe der Lampen gemäß der Erfindung enthält die lumineszierende Schicht 0,08 Gew. % Na₂O. Bei der zweiten Gruppe der Lampen gemäß der Erfindung enthält die lumineszierende Schicht kein Alkalimetalloxid.
Die Lampen wurden mit einer Füllung aus 0,4 mg Quecksilber und Argon versehen. Nach 1000 Betriebsstunden wurde die Gesamtmenge des angelagerten Quecksilbers gemessen. Das angewandte Messverfahren basiert auf dem Phänomen, dass freies Quecksilber zu der negativen Elektrode in einer, mit Gleichstrom betriebenen Lampe wandert. Die Quecksilberwanderung ist durch eine Abnahme der Intensität des von der Lampe unweit des Endes mit der positiven Elektrode emittierten Lichts sichtbar. Bei Ausführen des Messverfahrens während des Experiments wird die Polarität der Gleichspannung dann umgekehrt, wenn sich der Lichtstrom unweit des Endes mit dem Pluspol auf 60% des Nennwerts verringert hat. Die Zeit, welche zwischen diesem Zeitpunkt und dem Zeitpunkt, zu welchem sich der Lichtstrom unweit des gegenüberliegenden Endes auf 60% des Nennwerts verringert hat, verstreicht, stellt ein Maß der noch vorhandenen Menge des freien Quecksilbers und folglich des Quecksilberverbrauchs dar. Das Messverfahren wurde auf Grund von Ergebnissen, die durch Nassanalyse erhalten wurden, kalibriert.
Der Quecksilberverbrauch (in μg) in der Zeit bis zu 1000 Stunden ist in Ta belle 1 dargestellt. Die Tabelle zeigt zwischen Klammern auch den Quecksilberverbrauch in der Zeit zwischen 1 und 1000 Stunden.
Aus den Messungen ist ersichtlich, dass das Maß gemäß der Erfindung in einer signifikanten Reduzierung des Quecksilberverbrauchs resultiert. Die Reduzierung variiert von etwa 30% bei Entladungslampen mit einer Yttriumoxidschicht in Verbindung mit einer Alkalimetall abweisenden Schicht aus Siliciumoxid auf dem röhrenförmigen Teil bis etwa 35% bei Entladungslampen mit ausschließlich einer Yttriumoxidschicht auf dem 20 röhrenförmigen Teil.
Es ist offensichtlich, dass für Fachkundige viele Variationen in dem Anwendungsbereich der Erfindung vorstellbar sind. Zum Beispiel können der erste und zweite Endabschnitt auf einer, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche ebenfalls mit einer Metalloxidschicht versehen sein.
Der Schutzumfang der Erfindung ist nicht auf die beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt. Die Erfindung bezieht sich auf jedes und jedes neuartige, charakteristische Merkmal und jede Kombination von charakteristischen Merkmalen. Bezugsziffern in den Patentansprüchen schränken deren Schutzumfang nicht ein. Die Verwendung des Wortes „aufweisen" schließt das Vorhandensein anderer Elemente als die in den Patentansprüchen erwähnten nicht aus. Die Verwendung des Wortes „ein" vor einem Element schließt das Vorhandensein einer Vielzahl solcher Elemente nicht aus.

Claims

Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe, welche ein Entladungsgefäß (10) mit einem röhrenförmigen Teil (11) aufweist, der für Strahlung, die in dem Entladungsgefäß erzeugt wird, durchlässig ist, wobei das Entladungsgefäß (10) einen Entladungsraum (13) enthält, der gasundurchlässig mit einer Füllung aus Quecksilber und einem Edelgas versehen ist, wobei der röhrenförmige Teil (11) des Entladungsgefäßes (10) mit einer Metalloxidschicht (15) und einer lumineszierenden Schicht (17) auf einer, dem Entladungsraum (13) zugewandten Oberfläche (14) versehen ist, und wobei die Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe Entladungsmittel (20b) aufweist, um eine elektrische Entladung in dem Entladungsgefäß (10) aufrechtzuerhalten, dadurch gekennzeichnet, dass die lumineszierende Schicht (17) ein Alkalimetalloxid enthält und der röhrenförmige Teil (11) des Entladungsgefäßes (10) eine weitere Metalloxidschicht (16) zwischen der, dem Entladungsraum zugewandten Oberfläche (14) und der Metalloxidschicht (15) aufweist, wobei die weitere Metalloxidschicht (16) Siliciumoxid enthält.
Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Alkalimetalloxid in der lumineszierenden Schicht (17) Natriumoxid und/oder Kaliumoxid aufweist, wobei die Konzentration von Alkalimetalloxid 0,001 ≤ Na₂O ≤ 0,2 Gew. % und/oder 0,001 ≤ K₂O ≤ 0,2 Gew. % beträgt.
Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Konzentration 0,002 ≤ Na₂O ≤ 0,1 Gew. % und/oder 0,002 ≤ K₂O ≤ 0,1 Gew. % beträgt.
Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Metalloxidschicht (15) mindestens ein Oxid aus mindestens einem Element der Gruppe, der Magnesium, Aluminium, Titan, Zirkonium sowie die Seltenerden angehören, aufweist.
Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Metalloxidschicht (15) Aluminiumoxid und/oder Yttriumoxid enthält.
Niederdruckquecksilberdampfentladungslampe nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das lumineszierende Material ein Gemisch aus grün lumineszierendem, Terbium aktiviertem Cermagnesiumaluminat, Ceraluminat oder Cerlanthanphosphat, blau lumineszierendem, Europium aktiviertem Bariummagnesiumaluminat oder einem Strontium-Halogenphosphat sowie rot lumineszierendem, durch trivalentes Europium aktiviertem Yttriumoxid enthält.