DE567149C - Mikroskoprefraktometer - Google Patents

Mikroskoprefraktometer

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DE567149C DEL71852D DEL0071852D DE567149C DE 567149 C DE567149 C DE 567149C DE L71852 D DEL71852 D DE L71852D DE L0071852 D DEL0071852 D DE L0071852D DE 567149 C DE567149 C DE 567149C
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle

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Description

  • Mikroskoprefraktometer Die Erfindung betrifft ein zur Ausführung von 1Iineraluntersuchungen oder zur Messung des Brechungsvermögens von sonstigen festen oder flüssigen Stoffen bestimmte Mikroskoprefraktometer.
  • Zur Durchführung dieser Messungen an größeren festen Substanzen oder Flüssigkeiten bediente man sich bisher entweder der Methode der Minimalablenkung, die z. B. auf dein Gonioineter an Prismen angewendet wurde, oder man verwendete in Anlehnung an die Methode der Totalreflexion das an der Grenze vom dichten zum dünneren Medium reflektierte Licht zur Messung. Ebenfalls streifender Lichteinfall iin dünneren Medium unter Verwendung von Glaswürfeln, drehbaren Halbkugeln usw. als Vergleichskörper führte bei größeren Körpern zum vollen Erfolg.
  • Für kleine Mineralien und dünne Flüssigkeitsschichten eigneten sich diese auf den verschiedensten Methoden aufgebauten Apparate nicht. So wurde von C. K 1 e i n für Mineralkörner im abgedeckten, nachträglich polierten Dünnschliff ein Kristallrefraktometer durch ein schwach vergrößerndes, mit Blenden ausgestattetes Mikroskop ergänzt. Auch versuchte C. K 1 e i n das nach dem Prinzip @-on Liebisch-Wollaston von W a 1 1 e r a n d konstruierte Mikroskoprefraktometer zu verbessern. Jedoch konnten beide Apparate bei kleiner Teilchengröße infolge der umständlichen und schwierigen Schleifprozedur keine Verwendung finden. An demselben 1'b;lstand litt ebenfalls der für refraktoinetrische Messungen umgebaute Universaltisch nach F e d o r o w. Weiterhin ist auch bei diesen Geräten, wie bei den meisten übrigen Refraktometern, die obere Grenze der zu messenden Lichtberechnung durch diejenige des Glases gegeben, und die Genauigkeit der Winkelmessung ist nicht ausreichend genug.
  • Um diesen Übelständen zu begegnen, vollzog man auch Messungen unter dem Mikroskop. Die direkte Bestimmung des Brechungsindexes eines Mineralkorns unter dem Mikroskop leidet unter der Tatsache, daß der übliche mikroskopische Strahlengang nicht in dem gewünschten Umfange abgeändert werden konnte.
  • Man bedient sich daher heute allgemein. der indirekten Methode, indem man die Lichtbrechung des Minerals mit derjenigen eines anderen Mediums vergleicht. Meist bettet man das gepulverte Mineral in eine Flüssigkeit oder Schmelze ein, deren Brechungsindex gesondert zu bestimmen ist (Einbettungsmethoden).
  • Hierher gehören vor allem die Methoden von Schroeder; van der Kolk und B e c k e. Ersterer zeigt, daß man durch seitliches Abblenden des mikroskopischen. Strahlenganges feststellen kann, ob der Brechungsindex des Mineralkorns höher oder niedriger ist als derjenige der Flüssigkeit. B e c k e erreicht dasselbe durch Heben und Senken des Tubus. Bei nicht zu hohen Anforderungen an die Genauigkeit der Messung kann man das Verhältnis des zu bestimmenden Wertes mit denjenigen einer Reihe von Standardflüssigkeiten vergleichen. Der fortschreitenden Entwicklung genügt die hierbei erreichte Genauigkeit jedoch nicht mehr. Die fehlenden Zwischenwerte erzeugt man durch Mischung von Flüssigkeiten mit verschiedenen Brechungsvermögen. Auch verwendet man vorteilhaft Flüssigkeiten, deren Brechungsindex willkürlich verändert werden kann.
  • In der Regel gelingt es auf diese Weise, den Brechungsexponenten des Minerals auf die dritte Dezimale genau festzulegen. Der Hauptnachteil beruht aber darauf, daß es schwer möglich ist, die Konstanz des Drechungsvermögens der Flüssigkeit zwischen der Beobachtung im Mikroskop und ihrer Messung im Refraktometer zu gewährleisten. So umgeht z. B. E m in o n s diese Schwierigkeit dadurch, daß dieselbe Flüssigkeit durch zirkulierendes Wasser auf beiden Apparaturen gleichzeitig auf die gewünschte Temperatur gebracht wird.
  • Alle diese bei den bekannten Apparaturen und Meßverfahren sich ergebenden Schwierigkeiten sollen durch vorliegende Erfindung behoben und unter Anwendung der Einbettungsmethode die Grenzen der Untersuchungsmöglichkeiten derart erweitert werden, daß auch die kleinsten .Substanzen, wie solche z. B. bei der Trennung der Gesteinkomponenten nach dem spezifischen Gewicht entstehen, ohne vorlierige Bearbeitung mit einem Apparat an der gleichen Stelle vorgenommen weiden können.
  • Gemäß der Erfindung ist, um die bei den Vergleichsmessungen erforderlichen Änderungen des Strahlenganges innerhalb des Apparats selbst zu ermöglichen, der Refraktometertisch . mit verstellbaren Beleuchtungsprismen ausgerüstet, die .das Licht auf das Untersuchungsobjekt bzw. dessen ',träger werfen. Das Mikroskop ist mit .einem Objektiv versehen, das mehrere ausschaltbare Glieder aufweist und mit einem Tauchkörper ausgestattet sein kann. In den Strahlengang zwischen dem Objektträger und den Beleuchtungsprämien können N icolsche Prismen eingeschaltet sein.
  • Beiliegende Zeichnung veranschaulicht eine beispielsweise Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes, und zwar zeigt Abb. i einen Gesamtlängsschnitt der Meßeinrichtüng ohne Mikroskoptisch, Abb.2 einen Längsschnitt durch den Refraktometertisch allein, Abb: 3 eine Oberansicht der Abb. 2, Abb.4 bis 6 schematische Darstellungen des Strahlenganges der Einrichtung bei verschiedenen Stellungen der Beleuchtungsprismen, und zwar Abb. 4 den Strahlengang beim Refraktometrieren von Flüssigkeiten von sa -1,3 -:2,0, Abb. 5 den Strahlengang beim Refraktometrieren von n > i,g, Abb.6 bei seitlicher Beleuchtung des Obj ekts, Abb. 7 eine Darstellung des Strahlenganges der Beleuchtungsprismen und des Neigungswinkels der Apparatur beim Refraktometrieren verschiedener Einbettungsmedien, Abb. 8 bis i i verschiedene Ausführungsformen des Objektträgers.
  • Zu einem beliebigen normalen Mikroskop i sind zwei neue Teile hinzugefügt, nämlich ein neuartiges Objektiv 2 und ein in bekannter Weise, wie z. B. der Federowsche Universaltisch, auf den Mikroskoptisch aufsetzbarer Refraktometertisch. Für die Justierung dient am besten ein von den normalen mikroskopischen Okularen abweichendes Okular 3, z. B. ein Ramsdensches Okular mit Autokollirnationseinrichtung, wodurch erreicht wird, daß auch beim Wechsel der Okularvergrößerung das Fadenkreuz justiert stehenbleibt.
  • Das mehrgliedrige Immersionsobjektiv 2 mit einem konischen oder zylindrischen Tauchkörper 4 kann durch Ausschalten Beines oder mehrerer Linsenglieder 5 als Fernrohrobjektiv benutzt werden, avährend das zusammengesetzte System als Mikroskopobjektiv dient. Für besondere Fälle kann ein Objektiv .ähnlicher Konstruktion, jedoch ohne Tauchkörper, verwendet werden. Das Fernrohrobjektiv wird nie bewegt, sondern bleibt stets zur Erhaltung der Justierung stehen. Kommt ein Tauchkörper in Anwendung, so wird zwischen der senkrecht zur Mikroskopachse stehenden Frontfläche desselben und der Oberfläche der Objektträger ein Flüssigkeitsprisma gebildet.
  • Der auf den Mikroskoptisch aufsetzbare Refraktometertisch besteht aus einer um eine Horizontalachse 6-6 nach beiden Seiten drehbaren Tischplatte 7 mit Meßmitteln 8 beliebiger Art zur Bestimmung der Winkelwerte der Drehung. Diese Tischplatte besitzt in der Mitte drei Justierspitzen g, io, i i, von denen die Spitze g in jeder Stellung des Apparates von außen, z. B. durch Stellschraube 12, verstellbar ist. Auf den Justierspitzen ruht in bekannter Weise der vornehmlich runde Objektträger 13, der am besten planparallel in erforderlicher Dicke geschliffen ist. Unter dem Objektträger befindet sich eine Hülse mit verschiebbarem Kondensur 14 oder ein Kugelsegment, wie man es bei Mikroskopen verwendet, um das Objekt auch bei schräger Lage des Objektträgers beobachten zu können. An beiden Seiten der Drehachse stehen zwei drehbare, in verschiedenen Höhenlagen verstellbare Beleuchtungsprismen 15 mit Sammellinse 16 und vorschaltbaren 2#,'icolschen Prismen 17.
  • Die verschiedene Einstellung der Höhe kann auf folgende Weise erreicht werden: Bei der Normalstellung (Abb. q.) befindet sich zwischen Tisch und Prismenhalter eine Unterlegscheibe 3o von der Dicke des Objektträgers. Wird dieselbe entfernt, so fällt das Strahlenbüschel unter die Oberfläche des Objektträgers (Abb.5); schraubt man den Prismenhalter von oben auf den Tisch, so erhält man einen Strahlengang analog Abb. C.
  • Der Sockel des Instruments enthält auf einem Schieber 18 außer einer Öffnung 1g für ungehinderten Strahlendurchgang zwei Beleuchtungsprismen 2o. die beim Refraktonietrieren in den Strahlengang eingeschoben werden können und die so konstruiert sind, daß das senkrecht von unten einfallende, vom Mikroskopspiegel reflektierte Licht stets das zugehörige Beleuchtungsprisma 15 erreicht (Abb. d bis 6).
  • Die Beleuchtungsprismen 2o wird man vornehmlich verspiegeln, die Beleuchtungsprisinen 15 können unverspiegelt oder ebenfalls verspiegelt sein.
  • Die Anbringung von Beleuchtungsprismen an dem Mikroskoptisch ist an sich bekannt. Bei diesen bekannten Einrichtungen sind aber die Beleuchtungsprismen fest und unverstellbar mit dein Mikroskoptisch verbunden und nur der Objektträger kann gehoben oder gesenkt werden.
  • Außer der Benutzung des normalen mikroskopischen Strahlenganges ermöglicht somit der neue Apparat auch die Ausnutzung eines hiervon wesentlich abweichenden Strahlenganges, indem das von dem Mikroskopspiegel kommende Licht über Beleuchtungsprismen streifend auf das Präparat geworfen wird. Man erhält hierdurch beim Mikroskopieren einen Strahlengang, der etwa dein einer einseitigen Dunkelfeldbeleuchtung entspricht, mit dem Vorteil, daß der Winkel gegenüber der Mikroskopachse durch Neigen des Tisches beliebig geändert werden kann.
  • Beim Refraktometrieren ähnelt der Strahlengang demjenigen im Refraktometer mit veränderlichem, brechendem Winkel. Da die Lage der Tubusachse gegenüber dein Mikroskoptisch: nicht geändert werden kann, ist der Refraktoinetertisch mitsamt den Beleuchtungsprismen gegen die Mikroskopachse neigbar. Diese Neigung kann nach vorn und hinten um eine Horizontalachse erfolgen und ist auf Bogenminuten genau meßbar. Das Licht fällt an der Unterseite des planparallel geschliffenen Objektträgers streifend ein, und bei Einstellung des Fernrohres auf die Grenze des Hell-Dunkel-Feldes entspricht der brechende Prismenwinkel der Flüssigkeit zwischen dem Objektträger und der Vorderfläche des Tauchkörpers am Objektiv dem Winkel der Totalreflexion der Flüssigkeit. Beim Re-, fraktoinetrieren von Flüssigkeiten oder Schmelzen mit hohem Brechungsindex läßt man das Licht streifend unter die Oberfläche des Objektträgers fallen.
  • Durch die Neukonstruktion wird ohne weiteres die Möglichkeit gegeben, die mikroskopischen Untersuchungen nach der Einbettungsmethode sowie die darauffolgende Bestimmung des Brechungsindex des Einbettungsmediums an einem und demselben Instrument auszuführen, was besonders dann von Vorteil ist, wenn es sich um die Messung hoher Indizes handelt.
  • Ein weiterer Vorteil des Apparates besteht darin, daß man nicht allein auf den üblichen mikroskopischen Strahlengang angewiesen ist. Man kann, im Gegensatz zu früher, beliebig schräg zur Mikroskopachse einfallende, linear polarisierte Strahlenbüschel verwenden, gegebenenfalls bei geneigtem Tisch. Infolgedessen vermag man die jeweils günstigsten optischen Bedingungen für die Messung und die Beobachtung (Bichtbarmachung feinster Einschlüsse usw.) willkürlich herzustellen und kann als Folge davon deren Genauigkeit beträchtlich erhöhen. Beim Einschalten des Nicols 17 wird die Doppelbrechung bei den Körnern ausgeschaltet, die in der Auslöschungsanlage liegen.
  • Durch den Fortfall der Glaskörper zwischen Objektiv und Substanz wird die Handlichkeit erhöht und die Möglichkeit der Verwendung höherer Vergrößerungen gegeben. Die Untersuchung von Körnerpräparaten wird hierdurch erst ermöglicht, und man kann sogar im ungedeckten Dünnschliff auf dem Objektträger nach der Einbettungsmethode arbeiten und zugleich die Lichtbrechung der Flüssigkeiten bestimmen. Durch doppelte Messung (Neigen des Tisches nach vorn und hinten und eventuelle Betätigung der von außen zu verstellenden justierschraube) läßt sich der durch die Unebenheit des Objektträgers in die Messung gebrachte Fehler eliminieren. Hierdurch wird es möglich, Mineralien, die nur in kleinsten Mengen im Gestein auftreten, noch genauer zu untersuchen.
  • Durch Verwendung einer Planparallelplatte als Objektträger bei streifendem Lichteinfall an der Unterseite desselben wird, wie am Refraktometer mit veränderlichem, brechendem Winkel, ein umständliches Errechnen der Werte vermieden. Die gefundenen Winkelwerte ergeben den in der Tabelle abzulesenden Index unabhängig von Temperatur und verwendeter Wellenlänge des Lichts. Eine Messung würde etwa so vor sich gehen, daß man das Mineralpulver in einer Flüssigkeit mit ähnlichen Brechungsexponenten einbettet und durch Hinzufügen anderer Flüssigkeiten oder durch Erwärmen den Brechungsexponenten des Einbettungsinediums demjenigen der Körner anpaßt. Hierbei wird in vielen Fällen der besonders beschriebene Strahlengang (Abb. 6) zur Sichtbarmachung noch vorhandener Unterschiede gute Dienste leisten.
  • Hat man die Gleichheit der Indizes erreicht, so schaltet man aus dem Strahlengang diejenigen Linsensysteme aus, die das Fernrohrobjektiv ergänzen, und stellt durch Neigen des Tisches den Winkel der Totalreflexion in die Fernrohrachse ein, wobei meist streifender Lichteinfall an der Unterseite des Objektträgers gewählt wird (Abb.-4). Nur bei Brechungsexponenten über 1,9 wendet man zweckmäßiger streifenden Einfall innerhalb des Glases an der Oberfläche des Objektträgers all (Abb. s), hierbei müssen dann die in der Tabelle oder dem Nomogramin abgelesenen Werte mit dem vom verwendeten Licht abhängigen Brechungsexponenten des Glases multipliziert werden.
  • In Abb. 7 ist der Strahlengang vom Fußprisma oder verspiegelten Beleuchtungsapparat 2o über das Beleuchtungsprisma 15 " mit angekitteter .Zylinderlinse 16 zum Objektträger 13 dargestellt, um die verschiedenen Stellungen bei verschiedenem Brechungsindex der Flüssigkeit zu veranschaulichen.
  • Für die vier Stellungen ergeben sich folgende Werte:
    Stellung A1 entspricht ia - I,22 Prisma tief 55' Neigung,
    - A2 - zz - 1,83 - hoch 55' -
    - A3 - 7a - 2,00 - tief 30' -
    - A4 - 1a - 3,00 - hoch 3o° -
    Das Bild im Fernrohr zeichnet sich durch große Lichthelligkeit des Hell-Dunkel-Feldes an der Grenze der Totalreflexion aus, weil keine zerstreuende Mattscheibe, wie bei den anderen Apparaturen, eingeschaltet werden muß. Auch braucht die Lampe beim übergang von einer Untersuchung zur anderen nicht umgestellt zu werden, weil die ganze Änderung des Strahlenganges im Apparat selbst geschieht. Die Beleuchtung bleibt stets auf den Mikroskopspiegel gerichtet.
  • Kittet man das Objekt auf eine Nadel auf, die um ihre eigene und eine dazu senkrechte Achse meßbar beweglich ist, so kann man mit der Messung der Lichtbrechung am gleichen Instrument die Ermittlung weiterer wichtiger Kristallkonstanten mit großer Genauigkeit (Möglichkeit der Ablesung von Bogenminuten) verbinden. Es kommen dabei in Frage Goniometrie, Mikrogoniometrie,. Auswertung von Ätzfiguren und Einschlüssen, wobei unter Berücksichtigung der soeben aufgestellten Vorteile der Verwendungsbereich des Instrumentes über den einer einfachen Kombination von Mikroskop und Refraktometer hinauswächst.
  • Anschließend an diese Untersuchung kann man mit der gleichen Einrichtung an dem eben gemessenen Kristall die verschiedenen Hauptbrechungsindizes ohne umständliches Umrechnen direkt bestimmen.
  • Für genaue Messungen in verhältnismäßig kleinen Bereichen lassen sich mit Vorteil statt des üblichen planparallelen Objektträgers, dessen Material. den Strahlengang nicht beeinflußt, auch Objektträgerformen verwenden, wie sie z. B. in den Abb. 8 bis 12 angegeben sind, die den Strahlengang entsprechend den optischen Eigenschaften der Substanz beeinflussen, indem einer der auf den Objektträger aufgekitteten Glaskörper in bekannter Weise als Refraktometerkörper wirkt.
  • Man verzichtet dann auf den bei der normalen Einrichtung besonders ins Gewicht fallenden großen Meßbereich und kann dafür in kleinen Bereichen eine erheblich größere Genauigkeit erzielen. Je nach dem Brechungsindex des zu untersuchenden Minerals werden natürlich verschiedene Objektträger zur Verwendung gelangen, z. B. einer für den bei der Feldspatbestimmung wichtigen Meßbereich, ein anderer für die Untersuchung der Hornblenden und Pvrokene usw. Die Möglichkeit, mit starken Vergrößerungen zu arbeiten und in dünner Flüssigkeitsschicht unter einem Deckglas zu beobachten, sind weitere Vorteile dieses Verfahrens.
  • Durch den besonderen Strahlengang (Abb.6) ist es in vielen Fällen nicht nur möglich, die Genauigkeit beim Vergleich der Lichtbrechung von Mineral und Einbettungsmedien zu erhöhen, sondern dadurch auch die Orientierung gesetzmäßig eingelagerter Einschlüsse, luftgefüllter Spaltrisse usw. genauer als bisher festzulegen.

Claims (7)

  1. PATrNTANSPRT-CIHE:- r. Mikroskoprefraktometer zur Durchführung von Messungen verschiedenster Art an festen oder flüssigen Substanzen, insbesondere an Mineralpulver, -unter Verwendung der Einbettungsmethode, dadurch gekennzeichnet, daß, uni den Strahleilgang innerhalb des Apparates selbst ändern zu können, der Refraktoinetertisch mit verstellbaren, das Licht auf das Untersuchungsobjekt bzw. dessen Träger werfenden Beleuchtungskörpern (15, 2o) und das Mikroskop mit einem Objektiv (2), das ein oder mehrere ausschaltbare Glieder (5) aufweist, und gegebenenfalls finit einem Tauchkörper ausgestattet ist.
  2. 2. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungeinrichtung des Objektträgers aus einem oder mehreren am Fuß des Refraktometertisches angeordneten Beleuchtungsprismen (2o) und in Nähe der Refraktometertischplatte angeordneten Beleuchtungsprismen (15, 16) besteht.
  3. 3. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i und 2, dadurch gekennzeichnet, claß die Beleuchtungsprismen (2o) auf einem Schieber (18) befestigt sind, der eine zentrale Öffnung (i9) für ungehinderten Strahlendurchgang aufweist. .1 ..
  4. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i bis 3, dadurch gekennzeichnet. daß die mit Sammellinse (16) ausgerüsteten Beleuchtungsprismen (15) sich zur Ermöglichung eines anderen Strahlenganges in verschiedener Höhenlage an der Tischplatte des Refraktoineters festlegen lassen.
  5. 5. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i bis .4, dadurch gekennzeichnet, daß in den Strahlengang zwischen Beleuchtungsprismen (15, 16) und Objektträger (13) Nicolsche Prismen eingeschaltet sind.
  6. 6. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i bis 5, bei dein der Objektträger (13) auf justierspitzen ruht, dadurch gekennzeichnet, daß die Spitze, die die Drehung des Objektträgers um eine iin rechten Winkel zur Drehachse des Refraktometertisches liegende Achse bewirkt, von einem Punkt seitlich des Refraktometertisches aus, z. B. mittels Schraubspindel. in der Höhe verstellbar ist.
  7. 7. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß unterhalb des Objektträgers an Stelle des Kondensors zwecks Verhinderung der Strahlenablenkung bei Schräglage des Objektträgers in an sich bekannter Weise ein Kugelsegment vorgesehen ist. B. Mikroskoprefraktometer nach Anspruch i bis 7, dadurch gekennzeichnet, daB der Objektträger mit einem oder mehreren als Refraktometerkörper wirkenden Glaskörpern besetzt ist, die den Strahlengang in an sich bekannter Weise entsprechend den optischen Eigenschaften der Substanz beeinflussen.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1126160B (de) * 1957-03-06 1962-03-22 Meopta Praha Anordnung zur Brechzahlbestimmung fester Stoffe im Duennschliff nach der Immersionsmethode

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1126160B (de) * 1957-03-06 1962-03-22 Meopta Praha Anordnung zur Brechzahlbestimmung fester Stoffe im Duennschliff nach der Immersionsmethode

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