DE544735C - Geraet zur Untersuchung von gewoelbten Flaechen - Google Patents
Geraet zur Untersuchung von gewoelbten FlaechenInfo
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- DE544735C DE544735C DEZ18956D DEZ0018956D DE544735C DE 544735 C DE544735 C DE 544735C DE Z18956 D DEZ18956 D DE Z18956D DE Z0018956 D DEZ0018956 D DE Z0018956D DE 544735 C DE544735 C DE 544735C
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
- Gerät zur Untersuchung von gewölbten Flächen In der Patentschrift 527 577 ist ein Gerät zur Untersuchung von Kugeln beschrieben, bei dem die Oberfläche der zu untersuchenden Kugel die Strahlen einer Lichtquelle auf eine Projektionsfläche zurückwirft, wobei eine die Lichtquelle angenähert punktförmig abbildende optische Vorrichtung mit einer Lagervorrichtung verbunden ist, auf der die Kugel so gelagert ist, daß ihr Mittelpunkt auf der Achse des von dem Bilde der Lichtquelle ausgehenden, angenähert kegelförmig begrenzten Lichtbündels verschiebbar ist. Als Projektionsfläche wird bei diesem Gerät in der Regel ein Schirm benutzt, dessen Fläche nach einer Kugelschale gewölbt ist.
- Die Anwendung des Erfindungsgedankens des Patents ist jedoch nicht auf die Prüfung von Kugeln allein beschränkt,,man kann sich desselben auch zur Prüfung anders gestalteter Oberflächen mit Vorteil bedienen. Es eignen sich hierzu beispielsweise alle Umdrehungskörper mit gewölbter Oberfläche, ferner Körper, die wenigstens in bezug auf eine Ebene symmetrisch gewölbt sind und schließlich überhaupt alle Körper mit stetig gekrümmter Oberfläche. Die Ausnutzung des Erfindungsgedankens zur Prüfung der Oberfläche derartiger Körper ist dann möglich, wenn die Projektionsfläche des Gerätes erfindungsgemäß der Wölbung der zu untersuchenden Oberfläche ungefähr entsprechend gewölbt ist. Hat die zu untersuchende Oberfläche Symmetrieebenen, dann wird man zweckmäßig den Projektionsschirm so wählen, daß die Symmetrieebenen der Oberfläche auch Symmetrieebenen der Projektionsfläche sind.
- Für den einwandfreien Gang von Walzenlagern ist die Prüfung der Walzenoberflächen von großer Wichtigkeit. Diese Prüfung kann mit dem neuen Gerät ausgeführt wetlden, wenn man die Projektionsfläche als Zylinderfläche ausbildet, deren Zylinderachse zu der Achse der zu untersuchenden zylindrischen Oberfläche jeweils parallel ist.
- Die Zeichnung stellt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung in Abb. r teilweise im Mittelschnitt im Aufriß und in Abb. z im Grundriß dar.
- Die einzelnen Teile des zur Prüfung der Oberfläche von zylindrischen Walzen a bestimmten Gerätes sind mit Reitern b, c, d und e auf einer optischen Bank/ verschiebbar und mit Hilfe von Klemmschrauben g feststellbar. Der Reiter b trägt einen Kollimator mit einem Gehäuse h, einem sammelnden Linsensystem i und einer in dessen Brennpunkt angeordneten Lichtquelle h. Auf dem Reiter c ruht ein Rohr 1, dessen der Lichtquelle zugekehrte öffnung mit einer auswechselbaren Blende m v crseheü und in dessen zweiter öffnung ein Mikroskopobjektivit eingeschraubt ist. Dieses Objektiv n ragt durch die öffnung einer auf dem Reiter d gestützten Platte o in das Innere eines an ihr befestigten Projektionsschirmes p von der Form einer zylindrischen Schale mit weiß gefärbter konkaver Fläche. Die Zylinderachse q des Projektionsschirmes p liegt waagerecht und schneidet die Verlängerung der optischen Achse r des Objektivs n rechtwinklig. Auf dem Reiter e ist ein Halters, der mit zwei waagerechten V-Lagern t ausgestattet ist, mit Hilfe einer Klemmschraube u in der Höhe verstellbar angeordnet.
- Die Höhe des Halter s s wird so eingestellt, daß die Achse v einer in den V-Lagern t ruhenden Walzea die Verlängerung der optischen Achse r des Mikroskopobjektivs n rechtwinklig schneidet. Die optische Achse des Kollimators stimmt mit der des Objektivs n. überein. Nach Einschaltung des Stromes der Lichtquelle k verläßt ein parallelstrahliges Lichtstrahlenbündel das Linsensystem! und durchsetzt die Blende m, deren Öffnung je nach dem freien Durchmesser der Fassung des Objektivs a zu wählen ist. Dieses Objektiv n bildet die Lichtquelle k in seiner Brennebene in einem verkleinerten Bilde w ab. Ausgehend von diesem Bilde w ergibt sich ein nahezu kegelförmig begrenztes Lichtstrahlenbündel, in dem man nach Lösen der Klemmschraube g den Halters mit dem Reiter e auf der optischen Bank/ so weit verschiebt, bis der Querschnitt der Walzea dem Querschnitte dieses Strahlenbündels ungefähr gleicht. Beim Drehen der Walzea um ihre Achse v und Verschieben derselben in Richtung dieser Achse von Hand in den V-Lagern t wird das Licht von den nacheinander in den Strahlengang gebrachten Oberflächenteilen der Walze a auf den Schirm p zurückgestrahlt und läßt an Unregelmäßigkeiten auf der weißen Schirmfläche Abweichungen dieser Oberflächenteile von der Zylinderform erkennen.
Claims (3)
- PATFNTANsPRÜcIiC: r. Gerät zur Untersuchung der Oberfläche von Körpern mit stetig gekrümmter Oberfläche, die so gegenüber einer Lichtquelle angeordnet ist, daB sie deren Strahlen auf eine Projektionsfläche zurückwirft, wobei eine die Lichtquelle angenähert punktförmig abbildende optische Vorrichtung mit einer Lagervorrichtung für den zu untersuchenden Körper verbunden ist, die ihn so festhält,- daß der Körper in Richtung der Achse des von dem Bilde der Lichtquelle ausgehenden, angenähert kegelförmig begrenzten Lichtbündels verschiebbar ist, nach Patent 527 577. dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionsfläche der Wölbung der zu untersuchenden Oberfläche ungefähr entsprechend gewölbt ist.
- 2. Gerät nach Anspruch r zur Untersuchung der Oberfläche von Körpern, die wenigstens in bezug auf eine Ebene symmetrisch gewölbt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Symmetrieebenen der zu untersuchenden Oberfläche auch Symmetrieebenen der Projektionsfläche sind.
- 3. Gerät nach Anspruch 2 zur Untersuchung der Oberfläche von Zylinderkörpern, dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionsfläche eine Zylinderfläche ist, deren Zylinderachse zu der Achse der zu untersuchenden zylindrischen Oberfläche jeweils parallel ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEZ18956D DE544735C (de) | 1931-02-01 | 1931-02-01 | Geraet zur Untersuchung von gewoelbten Flaechen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEZ18956D DE544735C (de) | 1931-02-01 | 1931-02-01 | Geraet zur Untersuchung von gewoelbten Flaechen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE544735C true DE544735C (de) | 1932-02-20 |
Family
ID=7624733
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEZ18956D Expired DE544735C (de) | 1931-02-01 | 1931-02-01 | Geraet zur Untersuchung von gewoelbten Flaechen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE544735C (de) |
-
1931
- 1931-02-01 DE DEZ18956D patent/DE544735C/de not_active Expired
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