DE4325677C2 - Halbleiterspeichereinrichtung - Google Patents
HalbleiterspeichereinrichtungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Halbleiterspeicher
einrichtung und insbesondere eine Systemkonfiguration einer
Halbleiterspeichereinrichtung mit einer Matrix dynamischer
Speicherzelleneinheiten, von denen jede eine NAND-Struktur
hat oder eine Vielzahl von in Reihe geschalteten MOS-
Transistoren und eine Vielzahl von Informationsspeicher
kondensatoren aufweist, die jeweils an einem Ende mit dem
Source eines entsprechenden MOS-Transistors verbunden sind.
Als ein Typ des dynamischen Speichers mit wahlfreiem Zugriff
(dynamic random access memory - DRAM) ist kürzlich ein System
entwickelt worden, bei dem eine Vielzahl von Speicherzellen
zur Bildung einer Speicherzelleneinheit (eines NAND-Typs von
Speicherzelleneinheit) in Reihe geschaltet und solche Spei
cherzelleneinheiten matrixartig angeordnet sind. Ein Vorteil
dieser Zellenmatrixanordnung besteht darin, daß es wenig Kon
takte zwischen Bitleitung und Zelle gibt und dadurch die Flä
che jeder Zelle verringert werden kann.
Bei diesem DRAM-Typ werden die in den Speicherzellen jeder
Speicherzelleneinheit abgelegten Daten zum Lesen und Rück
schreiben in zeitlicher Folge ausgelesen und dann in vor
gegebenen Registern vorläufig festgehalten. Die gelesenen
Daten müssen in zeitlicher Folge in das DRAM zurückgeschrie
ben werden. Damit erfordert das Lesen und Rückschreiben der
Daten einen großen Zeitaufwand. Darüber hinaus ist während
dieser Datenlese- und -rückschreiboperation keine weitere
Leseoperation möglich. Auf diese Weise geht viel Zeit ver
loren.
Wie soeben beschrieben, bestehen Probleme bei der herkömmli
chen Halbleiterspeichereinrichtung mit einer Matrixanordnung
von DRAM-Speicherzelleneinheiten des NAND-Typs darin, daß
eine Datenlese- und -rückschreiboperation viel Zeit bean
sprucht und während dieser Operation kein Zugriff auf andere
Daten gestattet ist.
Aus IEEE Journal of Solid-State Circuits, Band 26, Nr. 11,
November 1991, "A Block-Oriented RAM with Half-Sized DRAM Cell
and Quasi-Folded Data-Line Architecture" von Katsutaka Kimura
u. a. ist eine Halbleiterspeichereinrichtung entsprechend dem
Oberbegriff der Ansprüche 1 oder 2 bekannt.
Darüberhinaus zeigt die am 19.08.1992 veröffentlichte
europäische Patentanmeldung EP 0 499 256 A1, die nur nach §3,
Absatz 2 PatG zum Stand der Technik gehört, eine
gattungsgemäße Halbleiterspeichervorrichtung.
Es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Halbleiter
speichereinrichtung bereitzustellen, die es ermöglicht, die
zum Lesen und Rückschreiben der Daten erforderliche Zeit
deutlich zu verringern sowie dementsprechend die Datenzu
griffszeit zu verkürzen.
Erfindungsgemäß wird die oben genannte Aufgabe durch eine
Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1 bzw. durch eine
Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 2 gelöst. Die
abhängigen Ansprüche betreffen weitere vorteilhafte Aspekte
der Erfindung.
Ein Hauptmerkmal der vorliegenden Erfindung liegt darin, daß
zur vorübergehenden Speicherung von Zelldaten eine Vielzahl
von Registergruppen vorgesehen ist, von denen jede so viele
Bits umfaßt wie Zellen in einer Speicherzelleneinheit vorhan
den sind, und daß die Registergruppen parallel eingesetzt
werden.
Die vorliegende Erfindung ist also gekennzeichnet durch eine
Halbleiterspeichereinrichtung, die folgendes umfaßt:
mindestens eine Speicherzellenmatrix mit einer Vielzahl von Speicherzelleneinheiten, wovon jede eine Vielzahl in Reihe geschalteter MOS-Transistoren und eine der Anzahl von MOS- Transistoren entsprechende Vielzahl von Informationsspeicher kondensatoren umfaßt, die an jeweils einem Ende mit dem Source eines entsprechenden MOS-Transistors verbunden sind; und
Registergruppen, von denen jede vorübergehend die gespeicher ten Informationen in einer einzelnen Speicherzelleneinheit für jede Spalte der Matrix speichert, um aus jeder der Spei cherzelleneinheiten Daten auszulesen oder in diese einzu schreiben.
mindestens eine Speicherzellenmatrix mit einer Vielzahl von Speicherzelleneinheiten, wovon jede eine Vielzahl in Reihe geschalteter MOS-Transistoren und eine der Anzahl von MOS- Transistoren entsprechende Vielzahl von Informationsspeicher kondensatoren umfaßt, die an jeweils einem Ende mit dem Source eines entsprechenden MOS-Transistors verbunden sind; und
Registergruppen, von denen jede vorübergehend die gespeicher ten Informationen in einer einzelnen Speicherzelleneinheit für jede Spalte der Matrix speichert, um aus jeder der Spei cherzelleneinheiten Daten auszulesen oder in diese einzu schreiben.
Außerdem ist die vorliegende Erfindung dadurch gekennzeich
net, daß jede der Speicherzelleneinheiten eine Struktur des
NAND-Typs ist.
Die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung kann wie folgt
verwirklicht werden:
- 1. Jede der Registergruppen ist aus statischen Speicherzel len aufgebaut.
- 2. Für jedes Adreßbit ist eine Anzahl n von Adressen- Zwischenspeicherschaltungen vorgesehen.
- 3. Die Adressen-Zwischenspeicherschaltungen gemäß (2) nehmen eine Zeilenadresse auf.
- 4. Eine Steuerschaltung für Wortleitungen der Speicherzel leneinheiten besitzt einen Zähler.
- 5. Eine Adressenauswahlschaltung ist vorgesehen, welche einen Ausgang der n Adressen-Zwischenspeicherschaltungen gemäß (2) und (3) wählt.
- 6. Zumindestens ein Teil der Registergruppen wird von einer Vielzahl von Speicherzellenanordnungen gemeinsam ge nutzt.
Gemäß der vorliegenden Erfindung können zum Zeitpunkt eines
Wechsels vom Zugriff auf eine Zeile zum Zugriff auf die näch
ste Zeile, während auf aus einer Speicherzelleneinheit in
eine Registergruppe eingelesene Daten von außen zugegriffen
wird, Daten aus einer anderen Speicherzelleneinheit in eine
andere Registergruppe eingelesen und Daten in die betreffende
Speicherzelleneinheit zurückgeschrieben werden. Es wird des
halb offensichtlich möglich, eine Datenübertragungsoperation
vom Register zur Speicherzelle zu eliminieren, die von der
Umgebung aus gesehen als Zeitverschwendung erachtet wurde,
wodurch die Datenzugriffszeit verkürzt werden kann.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann durch Bereitstellen
einer Vielzahl von Registergruppen, von denen jede so viele
Bits umfaßt wie Speicherzellen in jeder Speicherzelleneinheit
vorhanden sind, und durch parallelen Einsatz der Register
gruppen die für die Datenlese- und -rückschreiboperation er
forderliche Zeit offensichtlich eliminiert werden, was eine
Verkürzung der Datenzugriffszeit bewirkt.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus
der nachfolgenden Beschreibung oder der praktischen Verwirk
lichung der Erfindung.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der Zeichnungen näher
erläutert; es zeigen:
Fig. 1 ein Prinzipblockschaltbild einer Halbleiterspei
chereinrichtung gemäß einer Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 eine spezielle Anordnung des Speicherzellenab
schnitts gemäß Fig. 1;
Fig. 3 eine spezielle Anordnung des Leseverstärkerab
schnitts gemäß Fig. 1;
Fig. 4 eine spezielle Anordnung des Registerpuffers gemäß
Fig. 1;
Fig. 5 eine spezielle Anordnung der Registergruppe gemäß
Fig. 1;
Fig. 6 ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Registergruppe
von einer Vielzahl von Speicherzellenmatrizes ge
meinsam genutzt ist;
Fig. 7 ein Blockschaltbild einer Systemkonfiguration;
Fig. 8 Signalwellenformen der Haupttakte bei Betrieb des
Systems gemäß Fig. 7;
Fig. 9 Signalwellenformen der Haupttakte bei Betrieb des
Systems gemäß Fig. 7;
Fig. 10 Signalwellenformen der Haupttakte bei Betrieb des
Systems gemäß Fig. 7;
Fig. 11 Signalwellenformen der Haupttakte bei Betrieb des
Systems gemäß Fig. 7;
Fig. 12A bis 12E spezielle Anordnungen der Zeilensteuer
schaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 13A und 13B eine spezielle Anordnung der Zeilensteuer
schaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 14A bis 14D eine spezielle Anordnung der Wortleitungs
steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 15 eine spezielle Anordnung des Zeilenadressenpuffers
gemäß Fig. 7;
Fig. 16 eine spezielle Anordnung des Zeilendecodierers
gemäß Fig. 7;
Fig. 17 eine spezielle Anordnung der Datenübertragungs-
Steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 18 Signalwellenformen an verschiedenen Abschnitten der
Datenübertragungs-Steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 19 eine spezielle Anordnung der Datenübertragungs-
Steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 20A bis 20C spezielle Anordnungen der Datenübertragungs-
Steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 21A bis 21D eine spezielle Anordnung der Spaltensteuer
schaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 22A bis 22C eine spezielle Anordnung des Spaltenzählers
gemäß Fig. 7;
Fig. 23 eine spezielle Anordnung des Spaltendecodierers
(C/D) gemäß Fig. 7;
Fig. 24A und 24B eine spezielle Anordnung der E/A-Puffer
steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 25A und 25C eine spezielle Anordnung der E/A-Puffer
steuerschaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 26A bis 26C eine spezielle Anordnung der E/A-Steuer
schaltung gemäß Fig. 7;
Fig. 27 eine spezielle Anordnung des E/A-Puffers gemäß
Fig. 7;
Fig. 28A bis 28D verschiedene spezielle Anordnungen einer
Grundimpulsgeneratorschaltung, wie sie im erfin
dungsgemäßen vorliegenden Ausführungsbeispiel ver
wendet ist; und
Fig. 29 eine spezielle Ausführungsform eines J-K-Flipflop,
wie es im erfindungsgemäßen vorliegenden Ausfüh
rungsbeispiel verwendet ist.
Es sei nunmehr auf die Fig. 1 verwiesen, die ein Prinzip
blockschaltbild einer Halbleiterspeichereinrichtung einer er
findungsgemäßen Ausführungsform darstellt.
Die Halbleiterspeichereinrichtung verfügt über eine Matrix
aus dynamischen Speicherzelleneinheiten des NAND-Typs, von
denen jede einen Speicherzellenabschnitt 10, einen Lesever
stärkerabschnitt 20, einen Registerpuffer 30 und Register
gruppen 40 umfaßt.
Spezielle Anordnungen der entsprechenden Abschnitte der Spei
cherzelleneinheit sind in den Fig. 2 bis 5 dargestellt. Ins
besondere zeigen die Fig. 2 bis 5 spezielle Anordnungen des
Speicherzellenabschnitts 10, des Leseverstärkerabschnitts 20,
des Registerpuffers 30 bzw. der Registergruppen 40.
In der vorliegenden Ausführungsform ist jede Speicherzellen
einheit aus vier Speicherzellen aufgebaut, von denen jede aus
vier in Reihe geschalteten MOS-Transistoren besteht, deren
Source jeweils mit einem Informationsspeicherkondensator ver
bunden ist.
Die Vielzahl der Speicherzellen ist, wie in der Fig. 3 ge
zeigt, mit einer einzelnen Bitleitung BLn oder BBLn verbun
den. Die Bitleitungen BLn und BBLn sind jeweils über einen
Leseverstärker (S/A), ein Ausgleichsgate und ein GBL-Gate an
GBLn bzw. BGLn gekoppelt.
Das Registerpuffer 30 ist, wie in der Fig. 4 gezeigt, so auf
gebaut, daß es vorübergehend die aus den Speicherzellen aus
gelesenen Daten speichert.
Wie aus der Fig. 5 ersichtlich ist, verfügen die Register
gruppen 40 über acht Register (Gesamtzahl aus A und B), deren
Gesamtzahl gleich ist dem Zweifachen der Speicherzellen in
jeder Speicherzelleneinheit. Es sind zwei Registergruppen 40A
und 40B vorbereitet, von denen jede vier Register umfaßt, die
der Anzahl von Zellen in jeder Speicherzelleneinheit entspre
chen. Diese Registergruppen 40A und 40B sind über die Regi
sterpuffer 30 mit GBLn und BGBLn verbunden. Obwohl bei dieser
Ausführungsform das Register vom Zwischenspeichertyp verwen
det wird, kann auch ein dynamisches Register vorteilhaft
sein.
Gemäß der obigen Anordnung werden vier in einer Speicherzel
leneinheit abgelegte Einzeldaten gelesen und vorübergehend in
den vier Registern der A-Block-Registergruppe 40A gespei
chert, und Daten in einer Zelleneinheit mit einer anderen
Zeilenadresse werden in die vier Register der B-Block-
Registergruppe 40B eingelesen, während ein externer Zugriff
auf die Daten in der Registergruppe 40A erfolgt. Dies ge
stattet den externen Zugriff auf Daten in der Registergruppe
40B unmittelbar nach Beendigung des externen Zugriffs auf die
Daten im Register 40A. Außerdem können die Daten in der Regi
stergruppe 40A in die ursprüngliche Zelleneinheit zurück
geschrieben werden, und Daten in einer Zelleneinheit mit
einer anderen Zeilenadresse können in das Register 40A ein
gelesen werden, während auf die Daten in der Registergruppe
40B extern zugegriffen wird. Damit ist ein externer Zugriff
auf die Daten in der Registergruppe 40A unmittelbar nach Be
endigung des externen Zugriffs auf die Daten in der Register
gruppe 40B möglich.
Bei Sicht aus der Umgebung kann deshalb die Datenübertragung
zwischen den Speicherzelleneinheiten und den Registergruppen
40A und 40B offensichtlich im Hintergrund bzw. versteckt ab
gewickelt werden, was zur Zeitersparnis beiträgt. Darüber
hinaus kann auch eine Auffrisch- bzw. Refreshoperation durch
Verwendung einer Registergruppe 40B ausgeführt werden, wäh
rend ein externer Zugriff auf die Daten in der anderen Regi
stergruppe 40A erfolgt, was den Zeitbedarf für Refreshopera
tionen verringert.
Gemäß der erfindungsgemäßen Einrichtung gestattet die Bereit
stellung von zwei Registergruppen 40A und 40B mit jeweils
gleich vielen Bits wie in einer Speicherzelleneinheit vor
handen sind, und deren parallele Verwendung die weitgehende
Eliminierung von Lese- und Refreshoperationen, die bei Sicht
aus der Umgebung bei herkömmlichen Einrichtungen eine Zeitverschwendung
darstellten. Somit kann die Datenzugriffszeit
verkürzt werden.
Die Fig. 6 zeigt ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Regi
stergruppen 40A und 40B von einer Vielzahl Zellenmatrizes ge
meinsam genutzt werden. Die gemeinsame Nutzung der Register
gruppen 40A und 40B durch die Zellmatrizes kann eine Zunahme
an Registerplatz im Vergleich zu dem Fall unterbinden, in dem
für jede Speicherzellenmatrix 70 eine Registergruppe vorgese
hen ist.
Die Fig. 7 zeigt eine der Schaltung gemäß Fig. 1 angepaßte
Systemkonfiguration.
Dieses System umfaßt eine Speicherzelle-(M/C)-Matrix 70,
einen Leseverstärker (S/A) 71, ein Register 72, einen Zeilen
decodierer (R/D) 81, einen Zeilenadressenpuffer 82, eine
Zeilensteuerschaltung 83, eine Wortleitungs-Steuerschaltung
84, eine Datenübertragungs-Steuerschaltung 85, einen Spalten
decodierer (C/D) 91, einen Spaltenadressenpuffer 92, eine
Spaltensteuerschaltung 93, einen Spaltenzähler 84, eine E/A-
Puffersteuerschaltung 95 und einen E/A-Puffer 96.
Die Fig. 8 bis 11 zeigen Signalwellenformen der Haupttakte
bei Betrieb des Systems gemäß Fig. 7.
In den Fig. 8 bis 11 werden interne Signale synchron zu einem
externen Takt CK generiert. Die externen Signale umfassen
einen Zeilenadreßtakt /RAS, einen Spaltenadreßtakt /CAS,
Signale zur Ansteuerung der Registerblöcke /A und /B, eine
Adresse ADD und ein Schreibfreigabesignal /WE. /X kennzeich
net die Negation von X.
Die Fig. 12A bis 12E sowie die Fig. 13A und 13B zeigen spezi
elle Anordnungen der Zeilensteuerschaltung 83. In den Fig.
12A bis 12D entsprechen (A) und (D) der Schaltung (A) bis (D)
in der (später beschriebenen) Fig. 28.
Eine Zeilenadresse wird, wie in der Fig. 12A gezeigt, über
nommen, wenn /RAS auf LOW (niedrig), /A auf LOW (wenn der A-
Block angesteuert ist), /WE auf HIGH (hoch) liegt und CK nach
HIGH geht. Zu diesem Zeitpunkt erzeugt ein Adreßübernahme
signal /RLATA einen abfallenden Impuls. Wie aus der Fig. 12D
ersichtlich ist, erzeugt ein Signal /CKRBEG, welches den Be
ginn eines Taktes CKR zur Steuerung eines Zeilenadreßzählers
definiert, einen fallenden Impuls. Gemäß Fig. 12B erzeugt ein
Signal /RRSTA, das das Rückschreiben der A-Blockdaten aus dem
Register 71 in die ursprüngliche Zelleneinheit veranlaßt,
einen abfallenden Impuls, wenn /RAS auf LO, /WE auf LO, /A
oder /B auf LO liegen und der Takt CK ansteigt.
Ein Signal /CKREND, das das Ende von CKR definiert, erzeugt
einen abfallenden Impuls, wenn die Zählerausgänge Q<0< und
Q<1< auf HI und CK sowie CKR, wie in der Fig. 12C gezeigt,
auf LO liegen. Ist eine A-Blockadresse angesteuert, so geht
ein Signal RSLCTA nach HI, während die Datenübertragungen
zwischen einer Zelleneinheit und dem A-Block-Register 72
erfolgen.
Ein Signal READ geht gemäß Fig. 13A nach HI, während Zellen
einheitsdaten zum Register 72 übertragen werden.
Die Fig. 14A bis 14D zeigen eine spezielle Anordnung der
Wortleitungssteuerschaltung 84.
Ein Signal WLDRx zur Steuerung von WLnx (x = 0, 1, 2, 3) ist,
wie in der Fig. 14A gezeigt, durch die Ausgänge A, B, C und D
der beiden jeweils 2 Bit breiten Zähler sowie durch die
Signale READ und RESTR gesteuert. Die Zähler sind jeweils aus
einem J-K-Flipflop (im weiteren als JKFF bezeichnet) gemäß
Fig. 14B aufgebaut und liefern Ausgänge gemäß Fig. 14C. Ein
Zählersteuertakt CKR wird durch Frequenzteilung des externen
Taktes CK erzeugt. Obwohl der Takt CK in der vorliegenden Er
findung durch zwei geteilt ist, kann jeder beliebige Divisor
verwendet werden. Die Verwendung der Zählerausgänge zur
Steuerung der WL gestattet eine einfache Kontrolle nur auf
Basis von CK.
Die Fig. 15 zeigt eine spezielle Anordnung des Zeilenadressen
puffers 82.
Zwei Adressenzwischenspeicherschaltungen sind für dasselbe
Bit einer Adresse vorgesehen. Eine Adresse wird durch den
Adressenzwischenspeicherpuffer A vom Signal /RLATA über
nommen, wenn Daten zur Registergruppe A übertragen werden,
während sie zum Zeitpunkt der Datenübertragung zur Register
gruppe B durch das Signal /RLATB vom Adressenzwischenspei
cherpuffer B aufgenommen wird. Die Ausgänge der Adressen
puffer A und B sind an eine Adressenauswahlschaltung gekop
pelt, um eine Adresse für den Zeilendecodierer 81 entspre
chend den Signalen RSLCTA und RSLCTB zu wählen. Das Rück
setzen der Adresse erfolgt durch /CKREND.
Somit gestattet die Verwendung von zwei Adressenzwischenspei
cherpuffern und einer Adreßauswahlschaltung das Rückschreiben
von Daten aus dem Register 72 in eine Zelleneinheit, ohne daß
ein Eintrag seiner Adresse erforderlich ist.
Die Fig. 16 zeigt eine spezielle Anordnung des Zeilendecodie
rers 81. WLDR0 bis WLDR3 steuern WLno bis WLn3 für eine durch
ein Adreßsignal bezeichnete Zelleneinheit.
Die Fig. 17 bis 20C zeigen eine spezielle Anordnung der
Datenübertragungs-Steuerschaltung 85. Während der Datenüber
tragung zwischen der Speicherzellenmatrix 70 und dem Register
72 steuert die Datenübertragungs-Steuerschaltung 85 Signale
S/A, EQL, GBLGT, GBLEQ, RGAT, RSN, BRSP, PTA0 bis PTA3, TPB0
bis TPB3, BWBF und WBF. Die Fig. 17 zeigt eine Schaltung,
welche die Signale GBLGT, GBLEQ, RGAT, RSN, BRSP, PHITRE,
BWBF und WBF steuert. Die Fig. 18 stellt Signalwellenformen
an verschiedenen Abschnitten der Datenübertragungs-Steuer
schaltung 85 dar. Die Fig. 19 zeigt eine Schaltung, welche
die Signale PTA0 bis PTA3 und PTB0 bis PTB3 steuert. In den
Fig. 20A bis 20C sind Schaltungen dargestellt, welche die
Signale EQL, BSAN bzw. SAP steuern.
Die Fig. 21A bis 21D zeigen eine spezielle Anordnung der
Spaltensteuerschaltung 93.
Ein Spalten-Systemoperationsstartsignal /CACTA oder /CACTB
erzeugt einen abfallenden Impuls, wenn /CAS auf LO, /A oder
/B auf LO liegen und CK nach HI geht, wie in der Fig. 21A
dargestellt. Ein Spaltenadressen-Zwischenspeichersignal /CLAT
erzeugt einen fallenden Impuls, wenn /CAS auf LO liegt und CK
nach HI geht, wie in der Fig. 21B dargestellt, wodurch der
Spaltenadressenpuffer 92 veranlaßt wird, eine Spaltenadresse
aufzunehmen. Ein Signal /CDACT, welches das Ende des externen
Zugriffs auf das Register 72 definiert, erzeugt einen abfal
lenden Impuls, wenn die Spaltenadreßzählerausgänge As<0< bis
As<4< auf HI liegen und CK nach LO geht, wie in der Fig. 21C
dargestellt. Während der Datenübertragung zwischen der Registergruppe
40A und der Umgebung bzw. zwischen der Register
gruppe 40B und der Umgebung gehen Signale CSLCTA und CSLCTB
nach HI, wie in der Fig. 21D dargestellt ist.
Die Fig. 22A und 22C zeigen eine spezielle Anordnung des
Spaltenzählers 94.
Wie aus der Fig. 22A ersichtlich ist, ist der Spaltenzähler
94 aus fünf JKFF aufgebaut und setzt ein Signal zur seriellen
Übertragung von Bits in einer Gruppe nach Eingabe einer Spal
tenadresse ab, deren Anzahl durch den Zähler definiert ist
(in diesem Fall 2 5 = 32 Bits). Signale CKC und CRCOUN werden
von den in den Fig. 22B und 22C dargestellten Schaltungen
generiert. Werden somit mehrere Bits seriell aus einem Regi
ster 72 aufgrund einer einzelnen Zugriffsoperation ausgele
sen, so wird die Datenübertragung zwischen einer Speicherzel
leneinheit und dem anderen Register 72 (nicht dargestellt)
gestattet. Damit kann die Zeit genützt werden, die zur Über
tragung von Daten zwischen dem Register 72 und einer Spei
cherzelleneinheit benötigt wird.
Die Fig. 23 zeigt eine spezielle Anordnung des C/D 91. Der
C/D 91 decodiert eine eingegebene Spaltenadresse auf Basis
von Signalen des Spaltenzählers 94 und gibt ein Signal CSLAn
oder CSLLBn als Reaktion auf das A- oder B-Block-Auswahl
signal CSLCTA oder CSLCTB aus.
Die Fig. 24A bis 26A zeigen eine spezielle Anordnung der E/A-
Puffersteuerschaltung 95. Die in der Fig. 24A dargestellte
Schaltung erzeugt Signale CBQ, QLTC, BQLTC und BQBLK. Die
Fig. 24B ist ein Impulsdiagramm, das die Beziehung zwischen
CKC, CEQ, QLTC und BQBLK wiedergibt. Wie die Fig. 25A zeigt,
sind /DMODE und /QMODE Signale, welche den Zugriff definieren,
wenn eine Spaltenadresse als ein Schreib- bzw. Lesemodus
eingegeben wird. Das Signal /DMODE erzeugt einen abfallenden
Impuls, wenn /CAS und /WE auf LO liegen und CK nach HI geht,
während /QMODE einen abfallenden Impuls erzeugt, wenn /CAS
auf LO, /WE auf HI liegen und CK nach HI geht.
Wie aus der Fig. 25B zu ersehen ist, handelt es sich bei CKD
um einen Dateneingabetakt. Die Daten werden als eine anstei
gende Flanke des CK übernommen und mit der nächsten abfallen
den Flanke des CK in das Register 72 geschrieben. CKQ ist ein
Datenübertragungstakt. CKOUT ist ein Takt zur Steuerung eines
Datenausgabepuffers. Die Ausgabe der Daten erfolgt mit der
abfallenden Flanke des CKOUT. Die Breite des CKOUT-Impulses
ist so eingestellt, daß eine externe CPU Ausgangsdaten emp
fangen kann. Die Fig. 25C zeigt Wellenformen der Takte CKQ
und CKOUT sowie Ausgangswellenformen in Zwischenabschnitten a
und b der Schaltung gemäß Fig. 25B.
Wie die Fig. 26A zeigt, werden BWLTC und CKIN aus CKD erhal
ten. Gemäß Fig. 26B erhält man WLTD und BMLTD aus BWLTC.
Diese Signalwellenformen sind in der Fig. 26C dargestellt.
Die Fig. 27 zeigt eine spezielle Anordnung des E/A-Fuffers
96. In einem Lesemodus werden die nach BD und DQ ausgegebenen
Daten mit einer ansteigenden Flanke von QLTC übernommen und
dann ausgegeben, wenn CKOUT nach LO geht. Die Ausgabe des
nächsten Datums nach BD und BDQ erfolgt, wenn CK nach HI
geht, während CKOUT zur Vorbereitung der nächsten Datenaus
gabe auf LO bleibt.
Die Fig. 28A bis 28D zeigen Beispiele für Grundimpulsgenera
torschaltungen (A) bis (D), wie sie in der vorliegenden Aus
führungsform verwendet sind. Die Fig. 29 zeigt eine Schaltungsanordnung
des in der vorliegenden Ausführungsform ver
wendeten JKFF. Bei dem JKFF handelt es sich keineswegs um
eine Sonderausführung, sondern um die gleiche Komponente, wie
sie herkömmlich im Einsatz ist. Hierfür kann jede andere Kom
ponente mit derselben Funktion verwendet werden.
Obwohl spezielle Anordnungen der verschiedenen Abschnitte und
Wellenformen erläutert worden sind, dienen diese nur der Ver
deutlichung und sind nicht als einschränkend zu verstehen. In
der obigen Ausführungsform bediente man sich zweier Register
gruppen, von denen jede zur vorübergehenden Speicherung von
Daten ausgeführt ist, die in einer einzelnen Speicherzellen
einheit abgelegt sind. Alternativ können drei oder mehr Regi
stergruppen vorgesehen sein, so daß eine externe Zugriffszeit
noch weiter verkürzt werden kann.
Claims (10)
1. Halbleiterspeichereinrichtung, die folgendes umfaßt:
mindestens eine Speicherzellenanordnung (70) mit einer Vielzahl von Speicherzelleneinheiten, wovon jede eine Vielzahl in Reihe geschalteter MOS-Transistoren und eine Vielzahl Datenspeicherkondensatoren, die an jeweils einem Ende mit jeweils einer Source eines entsprechenden der MOS- Transistoren verbunden sind, hat;
Registergruppen (40) und
eine Steuereinrichtung,
dadurch gekennzeichnet, dass
eine Vielzahl von Registergruppen (40), wobei jede der Registergruppen entsprechend einer Spalte jeder der Speicherzelleneinheiten vorgesehen ist, vorhanden ist;
jede der Registergruppen (40) alle in irgendeiner Speicherzelleneinheit der Speicherzelleneinheiten gespeicherten Daten zwischenspeichert, wenn ein Datenlesen/schreiben für die Speicherzelleneinheiten durchgeführt wird, und
die Steuereinrichtung die Registergruppen unabhängig aktiviert.
mindestens eine Speicherzellenanordnung (70) mit einer Vielzahl von Speicherzelleneinheiten, wovon jede eine Vielzahl in Reihe geschalteter MOS-Transistoren und eine Vielzahl Datenspeicherkondensatoren, die an jeweils einem Ende mit jeweils einer Source eines entsprechenden der MOS- Transistoren verbunden sind, hat;
Registergruppen (40) und
eine Steuereinrichtung,
dadurch gekennzeichnet, dass
eine Vielzahl von Registergruppen (40), wobei jede der Registergruppen entsprechend einer Spalte jeder der Speicherzelleneinheiten vorgesehen ist, vorhanden ist;
jede der Registergruppen (40) alle in irgendeiner Speicherzelleneinheit der Speicherzelleneinheiten gespeicherten Daten zwischenspeichert, wenn ein Datenlesen/schreiben für die Speicherzelleneinheiten durchgeführt wird, und
die Steuereinrichtung die Registergruppen unabhängig aktiviert.
2. Halbleiterspeichereinrichtung, die folgendes umfasst:
mindestens eine Speicherzellenanordnung (70) mit einer Vielzahl von Speicherzelleneinheiten, wobei jede dieser Speicherzelleneinheiten eine Vielzahl von Speicherzellen zum Speichern von Daten aufweist;
mit einer Vielzahl der Speicherzelleneinheiten verbundenen Bitleitungen (BL);
Registergruppen (40); und
eine Steuereinrichtung,
dadurch gekennzeichnet, dass
mindestens zwei Registergruppen (40) für jede der Speicherzelleneinheiten vorgesehen und über eine der Bitleitungen (BL) mit den Speicherzelleneinheiten verbunden sind, wobei jede dieser Registergruppen (40) alle in einer der Speicherzelleneinheiten gespeicherten Daten zwischenspeichert; und
die Steuereinrichtung die Registergruppen (40) unabhängig aktiviert.
mindestens eine Speicherzellenanordnung (70) mit einer Vielzahl von Speicherzelleneinheiten, wobei jede dieser Speicherzelleneinheiten eine Vielzahl von Speicherzellen zum Speichern von Daten aufweist;
mit einer Vielzahl der Speicherzelleneinheiten verbundenen Bitleitungen (BL);
Registergruppen (40); und
eine Steuereinrichtung,
dadurch gekennzeichnet, dass
mindestens zwei Registergruppen (40) für jede der Speicherzelleneinheiten vorgesehen und über eine der Bitleitungen (BL) mit den Speicherzelleneinheiten verbunden sind, wobei jede dieser Registergruppen (40) alle in einer der Speicherzelleneinheiten gespeicherten Daten zwischenspeichert; und
die Steuereinrichtung die Registergruppen (40) unabhängig aktiviert.
3. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass jede der Speicherzelleneinheiten
eine NAND-Struktur hat.
4. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass jede der Registergruppen (40)
aus statischen Speicherzellen aufgebaut ist.
5. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, dass eine Vielzahl von
Speicherzellenanordnungen (70) vorgesehen ist und zumindest
ein Teil der Registergruppen (40) durch diese Vielzahl von
Speicherzellenanordnungen (70) gemeinsam genutzt ist.
6. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
gekennzeichnet durch eine Vielzahl von Adressen-
Zwischenspeicherschaltungen (82) zur Zwischenspeicherung von
Adressen für Adressbits der Speicherzellenanordnungen (70).
7. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 6,
gekennzeichnet durch eine Adressenauswahlschaltung zur Wahl
einer von den Adressen-Zwischenspeicherschaltungen (82)
ausgegebenen Adresse.
8. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, dass die Adressen-Zwischenspeicherschaltungen
(82) Einrichtungen zur Zwischenspeicherung von Zeilenadressen
enthalten.
9. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 8,
gekennzeichnet durch eine Adressenauswahlschaltung zur Wahl
einer der von den Adressen-Zwischenspeicherschaltungen (82)
ausgegebenen Zeilenadressen.
10. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
gekennzeichnet durch eine sich über die
Speicherzelleneinheiten erstreckende Wortleitung und eine
Steuerschaltung zur Ausgabe eines Steuersignals zur Steuerung
dieser Wortleitung, wobei diese Steuerschaltung einen Zähler
beinhaltet.
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JPH08167285A (ja) * | 1994-12-07 | 1996-06-25 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US5663916A (en) * | 1996-05-21 | 1997-09-02 | Elonex I.P. Holdings, Ltd. | Apparatus and method for minimizing DRAM recharge time |
KR100281127B1 (ko) * | 1998-11-19 | 2001-03-02 | 김영환 | Nand형 비휘발성 강유전체 메모리 셀 및 그를 이용한 비휘발성 강유전체 메모리 장치 |
KR100351814B1 (ko) * | 2000-03-13 | 2002-09-11 | 엘지전자주식회사 | 모니터의 전압변화 방지회로 |
US20080056373A1 (en) * | 2006-08-29 | 2008-03-06 | Newlin John B | Method and system for dynamic frequency adjustment during video decoding |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0499256A1 (de) * | 1991-02-13 | 1992-08-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Halbleiterspeichereinrichtung |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0179605B1 (de) * | 1984-10-17 | 1992-08-19 | Fujitsu Limited | Halbleiterspeicheranordnung mit einer seriellen Dateneingangs- und Ausgangsschaltung |
US4648073A (en) * | 1984-12-31 | 1987-03-03 | International Business Machines Corporation | Sequential shared access lines memory cells |
US5170157A (en) * | 1986-05-20 | 1992-12-08 | Takatoshi Ishii | Memory device for an image display apparatus having a serial port and independently operable data registers |
JPS6355797A (ja) * | 1986-08-27 | 1988-03-10 | Fujitsu Ltd | メモリ |
SE9003347L (sv) * | 1990-10-19 | 1992-04-20 | Design Funktion Moebler Ab | Servicevaegg |
-
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-
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- 1995-01-30 US US08/380,443 patent/US5467303A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0499256A1 (de) * | 1991-02-13 | 1992-08-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Halbleiterspeichereinrichtung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 26, No. 11, Nov. 1991, S. 1511-1518 * |
Also Published As
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KR970006272B1 (ko) | 1997-04-25 |
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US5467303A (en) | 1995-11-14 |
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KR940003042A (ko) | 1994-02-19 |
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