DE4320021A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Kurzschluß-Sicherung von Leistungstransistor-Anordnungen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Kurzschluß-Sicherung von Leistungstransistor-AnordnungenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Leistungs
transistoranordnungen und näherhin auf Kurzschluß- und
Überstrom-Schutzschaltungen und -verfahren für Leistungs
transistoranordnungen und insbesondere für Gate-gesteuerte
MOS-Leistungstransistoren. Noch spezieller bezieht sich die
Erfindung auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Schutz
von Bipolartransistoren mit isoliertem Gate ("insulated
gate bipolar transistors" = IGBTs) unter Kurzschluß- und
Überstrombedingungen.
Eine kritische Betrachtung bei der Verwendung von IGBTs in
impulsbreitenmodulierten (PWM) Wechselrichter-Wechselstrom
motorantrieben ist ihr Schutz unter Kurzschlußbedingungen,
wie sie zwischen Leitung und Leitung oder Leitung und Masse
auftreten können.
Es sind IGBTs verfügbar, deren Kurzschlußzeiten sich denen
von Bipolartransistoren annähern. Diese Transistortypen
können mit den gleichen verhältnismäßig langsam wirkenden
Schaltungen geschützt werden, wie sie für Bipolartransisto
ren verwendet werden.
Die leistungsfähigsten IGBTs bieten jedoch bedeutsame Vor
teile hinsichtlich geringerer Verluste, kleinerer Packungs
abmessungen, kleinerer Wärmesenken und höherer Kompaktheit,
besitzen jedoch kürzere Kurzschlußzeiten, d. h. sie können
Kurzschlußbedingungen nur über eine kürzere Zeitdauer
tolerieren als Bipolartransistoren.
Herkömmliche Schutzverfahren für Bipolartransistoren sind
für diese Hochleistungs-IGBTs nicht anwendbar, da sie nicht
die erforderliche Geschwindigkeit beim Nachweis eines
Kurzschluß- oder Überstromzustandes erbringen. Nach der
Ansprechzeit dieser herkömmlichen Schaltungen kann der IGBT
durch den Überstrom bereits zerstört worden sein.
IGBTs werden die Schaltungsanordnungen der Wahl auf Anwen
dungsgebieten wie beispielsweise Motorsteuerungen mit
variabler Drehzahl, unterbrechungsfreien Stromversorgungen
und Hochfrequenz-Schweißvorrichtungen. Sie bieten allgemein
eine vergleichbare oder geringere Verlustleistung, höhere
Betriebsfrequenz und eine Vereinfachung der Treiber
schaltungen. Somit bieten Systeme mit IGBTs eine größere
Kompaktheit, eine größere Leistungsfähigkeit und ein über
legenes dynamisches Verhalten.
Die Eigenschaften des IGBT, welche diese Vorteile ermögli
chen, bringen einen neuen Design-Aspekt mit sich. Ein für
maximalen Wirkungsgrad ausgelegter IGBT besitzt eine relativ
hohe Verstärkung und damit einen Kurzschlußstrom, der
wesentlich höher als der mit einem Bipolartransistor er
reichte ist. Die Leistungsdichte in dem IGBT beim Anliegen
eines Kurzschlusses kann daher viel höher als in einem
Bipolartransistor sein.
Ein für minimale Verlustleistung unter normalen Last
bedingungen ausgelegter IGBT mag daher nicht in der Lage
sein, einen ungehinderten Kurzschluß ebenso lange wie ein
Bipolartransistor auszuhalten. Er ist weniger fehler- bzw.
störtolerant und erfordert daher eine "flinkere" oder
schneller wirkende Schutzschaltung. Die Schaltung gemäß der
Erfindung gibt ein Mittel an die Hand, das besonders ge
eignet zum Schutz von IGBTs gegen derartige Kurzschlüsse
ist.
Ein Ziel der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines
Verfahrens und einer Vorrichtung zum Schutz von Leistungs
transistoren und insbesondere von IGBTs (Bipolartransistoren
mit isoliertem Gate, "insulated gate bipolar transistors").
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung ist die Schaf
fung einer Kurzschlußstrom-Schutzschaltung für Leistungs
transistoren, die rascher als bisher bekannte Schaltungen
wirkt und daher zum Schutz von IGBTs anwendbar und geeignet
ist.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in der
Schaffung einer derartigen Kurzschlußstrom-Schutzschaltung
für Leistungstransistoren einschließlich IGBTs, die insbe
sondere für Leistungs-Steuerschaltungen anwendbar ist,
beispielsweise Impulsbreitenmodulatoren für Motortreiber
schaltungen.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht in der Schaffung einer
Kurzschluß-Überstrom-Schutzschaltung für Leistungs-IGBT-
Anordnungen, welche unter Abschaltung des IGBT vor einer
Schädigung des IGBT durch einen festgestellten Überstrom
anspricht.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht in der Schaffung einer
Überstrom-Schutzschaltung für Leistungstransistoren,
insbesondere IGBTs, welche die Leistungstransistoranordnungen im
Fall tatsächlicher Hochstrom-Störzustände zuverlässig schützt,
jedoch Fehlauslösungen im Falle von Impulsspitzen,
vorübergehenden Transient-Zuständen und anderen Vorkommnissen zu
verhindern vermag, welche momentane Stromspitzen während
Zeitperioden verursachen, die kürzer sind, als daß sie zu einer
Schädigung der Leistungstransistoren führen würden.
Diese und weitere Ziele der vorliegenden Erfindung werden
durch eine Schaltung zum Nachweis eines Überstromzustands in
einer Leistungstransistor-Schaltanordnung und zu deren
Schutz gegen einen derartigen Überstromzustand erreicht,
wobei die Leistungstransistor-Schaltanordnung Hauptan
schlüsse und einen Steueranschluß aufweist und zwischen den
Hauptanschlüssen während der normalen Leitung ein Bereich
normaler Sättigungsspannung liegt, wobei die Schaltung
Treibermittel, welche dem Steueranschluß der Leistungs
transistoranordnung Steuersignale zur Ein- und Ausschaltung
der Leistungstransistoranordnung zuführt, mit der Leistungs
transistoranordnung verbundene Mittel zum Abfühlen der
Sättigungsspannung der Leistungstransistoranordnung, sowie
auf die Fühlmittel ansprechende und mit dem Steueranschluß
der Leistungstransistoranordnung verbundene Mittel zur
Abschaltung der Steuersignale von dem Steueranschluß, falls
die Sättigungsspannung einen abnormalen Pegel als Anzeige
eines Überstromzustands in der Leistungstransistoranordnung
erreicht, aufweist.
Vorzugsweise umfassen die Fühlmittel eine Komparator
vorrichtung mit einem ersten, mit der Leistungstransistor
anordnung zum Abfühlen der Sättigungsspannung verbundenen
Eingang und einem Bezugsspannungseingang, derart daß, falls
die erste Eingangsgröße die Bezugsspannungs-Eingangsgröße
infolge einer erhöhten Sättigungsspannung übersteigt, der
Komparator ein Signal für die Abschaltmittel zur Abschaltung
der Steuersignale von dem Steueranschluß erzeugt.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform weisen die Fühl
mittel eine Diode auf, deren einer Anschluß mit der
Leistungstransistoranordnung auf dem Potential der Sätti
gungsspannung verbunden ist und deren anderer Anschluß mit
einer Widerstandsvorrichtung verbunden ist, wobei die Wider
standsvorrichtung mit dem ersten Eingang des Komparators
verbunden ist und einen mit einem Bezugsspannungspegel
verbundenen Anschluß besitzt.
Die vorstehend aufgeführten und weitere Ziele der vorliegen
den Erfindung werden auch durch ein Verfahren zum Nachweis
eines Überstromzustandes in einer Leistungstransistor-
Schaltanordnung und zu deren Schutz gegen den Überstrom
zustand erreicht, wobei die Leistungstransistor-Schalt
anordnung Hauptanschlüsse und einen Steueranschluß besitzt
und zwischen den Hauptanschlüssen während der normalen
Leitung ein Bereich normaler Sättigungsspannung besteht,
wobei das Verfahren umfaßt: Zufuhr von Steuersignalen an den
Steueranschluß der Leistungstransistoranordnung zur An- und
Abschaltung der Leistungstransistoranordnung, Abfühlen der
Sättigungsspannung der Leistungstransistoranordnung, sowie
Abschaltung der Steuersignale von dem Steueranschluß, falls
die Sättigungsspannung einen abnormalen Pegel erreicht, der
einen Überstromzustand in der Leistungstransistoranordnung
anzeigt.
Vorzugsweise umfaßt der Verfahrensschritt des Abfühlens
einen Vergleich der Sättigungsspannung oder einer mit der
Sättigungsspannung in Beziehung stehenden Spannung mit einer
Bezugsspannung und die Erzeugung eines Signals zur Abschal
tung der Steuersignale von dem Steueranschluß, falls die
Sättigungsspannung oder damit in Beziehung stehende Spannung
die Bezugsspannung übersteigt.
Weitere Ziele, Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben
sich aus der folgenden detaillierten Beschreibung der
Erfindung.
Die Erfindung wird im folgenden mit näheren Einzelheiten
unter Bezugnahme auf die Zeichnung beschrieben; in dieser
zeigen:
Fig. 1 eine typische graphische Darstellung für einen
IGBT, welche die Kollektor-Emitter-Sättigungsspannung zu der
zulässigen Kurzschlußzeit in Mikrosekunden in Beziehung
setzt;
Fig. 2 ein schematisches Blockschaltbild einer Schutz
schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung;
Fig. 3 das Ansprechverhalten der Schutzschaltung aus
Fig. 2, wobei Fig. 3a die Gate-Spannung an der Leistungs
transistoranordnung vor, während und nach einem Kurzschluß
zustand, und Fig. 3b den Motorstrom beim Auftreten eines
Kurzschlusses zeigen;
Fig. 4 den Strom durch die IGBT-Leistungsanordnung vor,
während und nach einem Kurzschlußzustand, und die Ansprech
zeit der erfindungsgemäßen Schaltung;
Fig. 5 ein Schaltbild eines Teils einer ein IGBT
treibenden Motorsteuerschaltung unter Verwendung der Schutz
schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung; sowie
Fig. 6 ein vereinfachtes Schaltbild der in Fig. 5
gezeigten Schaltung, zu Erläuterungszwecken.
IGBTs mit dem stabilsten Kurzschluß-Eigensicherheits
verhalten haben im allgemeinen hohe Sättigungsspannungen und
hohe Betriebsverluste (Verlustleistungen).
Umgekehrt haben IGBTs mit den niedrigsten Sättigungs
spannungen und niedrigen Betriebsverlusten (Verlustleistungen)
eine sehr geringe Toleranz gegenüber hohen Kurzschlußzuständen.
In der Zeichnung zeigt Fig. 1 einen typischen Verlauf der
IGBT-Sättigungsspannung als Funktion der zulässigen Kurz
schlußdauer. Bei den Daten für diese graphische Darstellung
ist angenommen, daß an das Gate eine ausreichende Spannung
angelegt ist, um die normale Sättigungsspannung nahe einem
praktischen Minimum zu halten, und daß die gleiche Gate-
Antriebs- bzw. -Steuerspannung während des Fehler- bzw.
Störzustands aufrechterhalten wird. Fig. 1 veranschaulicht,
daß ein IGBT mit einer Sättigungsspannung von weniger als
zwei Volt (Hochleistungs-IGBT) typischerweise eine zulässige
Kurzschlußdauer von fünf Mikrosekunden oder weniger besitzt.
Ein weniger leistungsfähiger IGBT mit einer Sättigungs
spannung von vier bis fünf Volt kann eine Kurzschlußdauer im
Bereich von 30 Mikrosekunden besitzen. Diese Kurzschlußzeit
ist von der gleichen Größenordnung wie für einen typischen
Bipolartransistor, jedoch ist die Sättigungsspannung nun
höher als die für einen Bipolartransistor.
Störzustände durch Masseschluß oder Kurzschlüsse zwischen
den Anschlüssen haben schwere und plötzliche Überlastströme
zur Folge. Die herkömmliche Impulsbreitenmodulator-Schleife,
wie sie in typischen Motorsteuer- bzw. -regelvorrichtungen
verwendet wird, vermag gegen einen derartigen Störzustand
nicht zu schützen, da der Stör- bzw. Fehlerstrom im Neben
schluß zu den Motor- oder Filterinduktivitäten fließt und
sehr rasch in den Leistungstransistoren ansteigt. Im ersten
Zeitmoment muß die Schutzschaltung auf die Eigenkurzschluß
sicherheit der Transistoren zurückgreifen, mit nachfolgendem
raschem Feststellen des Fehlers und Abschaltung der Gate-
Steuerspannung, falls der Fehlerstrom über die zulässige
Kurzschlußperiode hinaus anhält.
Falls der Störfehler ein vorübergehender Transient-Zustand
ist, der sich selbst vor Ablauf der zulässigen Kurzschluß
periode beseitigt, so sollte dann der Transistor im leiten
den Zustand verbleiben. Eine Abschaltung des Transistors
würde nur eine störende Auslösung darstellen. Der Sperr
verzögerungsstrom einer Diode ("diode reverse recovery
current") ist ein Beispiel des Typs von vorübergehendem
Transient-Überstrom, der ignoriert werden sollte. Gemäß Fig.
1 bildet die weiter unten anhand von Fig. 2 beschriebene
erfindungsgemäße Schaltung eine zuverlässige Schutzschaltung
für einen IGBT mit niedrigster Sättigungsspannung und damit
kürzester zulässiger Kurzschlußzeit. Die erfindungsgemäße
Schaltung gewährleistet einen zuverlässigen Schutz gegen
reale Störzustände, spricht jedoch nicht auf Spitzen,
Übergangszustände und andere falsche Alarmzustände an.
Fig. 2 zeigt ein Funktions- bzw. Blockschaltbild einer
Schutzschaltung gemäß der Erfindung. Die erfindungsgemäße
Schutzschaltung weist einen Komparator 10, eine Diode D1,
einen Widerstand R1, der ein Teil eines Spannungsteilers
sein kann, und vorzugsweise Zeitgeber bzw. Zeitschalter 20
und 30, deren Zweck noch erläutert wird, auf. Es ist auch
eine Abschaltvorrichtung 40 zur Abschaltung des Gate-Stroms
von der Leistungstransistoranordnung vorgesehen. Die
Leistungstransistoranordnung ist als ein IGBT 50 darge
stellt. Ein Puffer oder Treiber 60 führt dem IGBT 50 über
einen herkömmlichen Gate-Widerstand Rg Gate-Impulse zu. Der
IGBT 50 ist zwischen Masse und einem Punkt 55 angeschlossen,
der mit einer Last verbunden ist, die eine geeignete
Verbraucherlast aufweisen kann oder eine andere der in Fig. 2
gezeigten Schaltung ähnliche Schaltung zum Antrieb eines am
heißen Ende liegenden IGBT, wie dem Fachmann bekannt. Dem
Komparator 10 wird eine Bezugsspannung Vref zugeführt.
Der Zeitgeber 20 ist vorzugsweise so eingestellt, daß er der
IGBT-Einschaltverzögerung und dem Effekt des durch die
Dioden-Sperrverzögerungszeit ("diode recovery time") be
wirkten Überstrom Rechnung trägt. Dieser Zeitgeber verhin
dert somit eine falsche Auslösung der Schutzschaltung
während der anfänglichen Einschaltperiode, wo die Kollektor-
Emitter-Spannung des IGBT noch hoch sein kann.
Während der normalen Leitung ist die Sättigungsspannung des
IGBT kleiner als Vref, und daher ist die Diode D1 durch den
mit einer positiven Spannung wie beispielsweise VCC verbun
denen Widerstand R1 in Durchlaßrichtung vorgespannt, und der
Ausgang des Komparators verbleibt daher niedrig. Sobald ein
Überstrom auftritt, beispielsweise infolge eines Kurzschlus
ses in der Verbraucherlast, steigt die Kollektor-Emitter-
Spannung des IGBT über Vref an, wodurch der Ausgang des
Komparators einen hohen Wert annimmt und so den Zeitgeber 20
auslöst. Falls der Störzustand vor dem Ende der Periode des
Zeitschalters 30, die so eingestellt ist, daß sie der zu
lässigen Kurzschlußzeit Rechnung trägt, verschwindet, nimmt
der Ausgang des Komparators seinen niedrigen Wert ein, bevor
der Zeitschalter 30 zurückgestellt wird, und der normale
Betrieb läuft weiter. Falls der Störzustand am Ende der
Verzögerungsdauer des Zeitschalters 30 noch vorliegt, nimmt
der Ausgang des Zeitschalters seinen hohen Wert an und der
als ein MOSFET dargestellte Transistor 40 schaltet ein, und
die Gate-Spannung des IGBT 50, und damit dieser, wird abge
schaltet. Alternativ kann die Ausgangsgröße des Zeitschal
ters 30 einem Abschalt-Eingang des Treibers 60 zugeführt
werden, wodurch die Gate-Spannung von dem IGBT 50 abgeschal
tet wird.
Die Wellenform-Darstellungen von Fig. 3 veranschaulichen das
Verhalten der vorstehend beschriebenen Schutzschaltung. Fig. 3a
zeigt die Spannung von Leitung zu Leitung und Fig. 3b
den Phasenstrom am Ausgang eines einen Wechselstrommotor
treibenden Wechselrichters. Der erste Teil von Fig. 3a zeigt
die herkömmliche impulsbreitenmodulierte Spannungswellen
form, und der erste Teil von Fig. 3b zeigt den herkömmlichen
sinusförmigen Motorstrom. Unter dem anfänglich in Fig. 3
dargestellten Leerlaufzustand beträgt der Strom fünf Ampere
effektiv, und die Spannungsumschaltungen erfolgen bei 325
Volt. Im Zeitpunkt T1 wurden die Ausgangsanschlüsse des
Wechselrichters kurzgeschlossen, wodurch die Schutzschaltung
aktiviert und eine Abschaltung erzwungen wurde. Wie aus
Fig. 3 ersichtlich, dauerte der Kurzschluß etwa 12 Milli
sekunden, wobei die Motor-Gegen-EMK einen hohen Strom durch
den kurzen 125-Ampere-Peak hindurch verursachte. Nach Be
seitigung des Kurzschlusses hörte der Stromfluß auf, während
die Gegen-EMK-Spannung am Motoranschluß auftritt, wie durch
die als Gegen-EMK-Spannung in Fig. 3a bezeichnete sinus
förmige Spannung veranschaulicht.
Fig. 4 zeigt den tatsächlichen Kurzschlußstrom durch den
IGBT. In diesem Falle wurden die Ausgangsklemmen des
Wechselrichters kurzgeschlossen, während der Motor in der
Betriebsart mit verriegeltem Rotor lief. Die in Fig. 4
gezeigte Skalenspreizung zeigt, daß der IGBT-Strom in diesem
Zeitpunkt vom normalen Betriebsstrom von 32 Ampere auf 85
Ampere sprang. Die Schutzschaltung bewirkte eine Abschaltung
der Gate-Antriebsspannung nach etwa fünf Mikrosekunden,
wodurch die Anordnung abgeschaltet und der Antrieb still
gelegt wurde.
Fig. 5 zeigt im einzelnen einen Teil einer Motorantriebs
schaltung unter Anwendung der Grundsätze der vorliegenden
Erfindung. Die in Fig. 5 gezeigte Schaltung ist eine Hälfte
einer Brückenschaltung für eine Phase eines Dreiphasen-
Motorantriebs. Zum Antrieb eines Dreiphasen-Motors würde man
sechs derartige Schaltungen, jeweils in drei Reihen-Paaren
verbunden, verwenden.
Es wird nunmehr auf Fig. 5 Bezug genommen und auch auf Fig.
6, die eine vereinfachte Version des Schaltschemas aus Fig.
5 zeigt, einschließlich Teilen der in Fig. 5 gezeigten
Schaltungskomponente 100.
In Fig. 5 dient ein von der Anmelderin vertriebener strom
begrenzender MOS-Gate-Treiber des Modells IR 2125 zum
Antrieb eines IGBT 50. Der Gate-Treiber 100 weist einen
Eingangsanschluß IN, einen Fehler- oder Störanschluß ERR,
einen Ausgangsanschluß OUT, eine Masse-Rückleitung VS, eine
Netzspannungs-Rückleitung VSS sowie einen Stromfühler
anschluß CS auf. Die Funktionen dieser Anschlüsse sind
jeweils in der Fachwelt bekannt, der Anschluß von primärer
Bedeutung ist der Stromfühleranschluß CS. Bei der normalen
Anwendung der IR-2125-Anordnung 100 ist der Anschluß CS über
einen Fühlwiderstand mit dem Anschluß VS verbunden. Der
Fühlwiderstand ist typischerweise im Ausgangskreis der
Leistungstransistoranordnung, deren Gate gesteuert wird,
angeschlossen. Im Falle von Hochleistungs-IGBTs bietet die
Verwendung des im Ausgangskreis angeschlossenen Fühlwider
stands keine genügend schnelle Ansprechantwort, und die
Ströme durch den Fühlwiderstand werden zu hoch.
Gemäß der Erfindung wird anstelle der Anwendung eines Fühl
widerstandes im wesentlichen in Reihe mit der Leistungs
transistoranordnung die Kollektor-Emitter-Sättigungsspannung
des IGBT 50 abgefühlt bzw. gemessen.
In dem Gate-Treiber 100 ist der Fehler- bzw. Störanschluß
ERR zur logischen Abschaltung der Anordnung 100 im Falle
eines Fehler- bzw. Störzustandes vorgesehen. Ein Widerstand
R4 und ein Kondensator C1 sind in der gezeigten Weise ange
ordnet zur Erzielung einer Zeitverzögerung für den Fall, daß
ein derartiger Fehler aus einem Logikteil eines (nicht ge
zeigten) anderen Abschnitts der Steuerschaltung auftritt.
Der Kollektor des IGBT 50 ist mit der Kathode einer Diode D1
verbunden, wie auch in Fig. 2 gezeigt. Die Anode der Diode
D1 ist mit Widerständen R1 und R2 verbunden. Die Widerstände
R1 und R3 bilden einen Spannungsteiler, wobei der Teilungs
punkt mit dem CS-Anschluß der Anordnung 100 verbunden ist.
Der Widerstand R2 ist mit dem Gate-Widerstand Rg und dem
Gate des IGBT 50 verbunden. Fig. 6 zeigt die Schaltung von
Fig. 5 in vereinfachter Form, so daß hier nicht alle Kompo
nenten dargestellt sind. Die Kathode der Zener-Diode DZ1 ist
mit dem OUT-Anschluß der Anordnung 100 verbunden. Eine
zweite Diode D2 kann über dem Widerstand Rg vorgesehen sein,
und eine zweite Zener-Diode DZ2 zwischen dem Gate-Antrieb
und einer Sammelrückleitung 110. Die Sammelrückleitung 110
ist über eine Diode D3 mit der Niederspannungs-Rückleitung
VCC und über einen Isolierwiderstand R5 mit der Hoch
spannungs-Rückleitung V+ verbunden. Der Kollektor des IGBT
50 ist mit einer Last 120 verbunden, welche eine Verbrau
cherlast umfassen kann oder eine als die hochspannungs
seitige Anordnung betriebene andere Leistungstransistor
anordnung, wobei in diesem Fall der gemeinsame Punkt
zwischen dem IGBT 50 und der hochspannungsseitigen Anordnung
mit der einen Phase der gesteuerten Lastvorrichtung, bei
spielsweise eines Wechselstrom-Motors, verbunden ist.
Ein Widerstand R6, der die feste und die frei floatende
Spannungsversorgung isoliert und die Kondensatoren C2 und C3
entkoppelt, ist dem Fachmann bekannt. Ein weiterer Kondensa
tor C4, der eine Zeitverzögerung ergibt, liegt über dem
Widerstand R3. Der Zweck dieser Zeitverzögerungsschaltung
wird weiter unten im einzelnen erläutert.
Im Normalbetrieb erhält die Vorrichtung 100 Impulse an dem
Anschluß IN zugeführt, und Ausgangsimpulse höherer Strom
stärke werden an dem Anschluß OUT über die Zener-Diode DZ1
und den Gate-Widerstand RG dem IGBT zugeführt. Die Zener-
Diode DZ1 arbeitet dabei während des Normalbetriebs im
Avalanche- oder Durchbruch-Mode. Im normalen Betrieb ist die
Kollektor-Emitter-Sättigungsspannung niedrig, und die Diode
D1 ist in Durchlaßrichtung vorgespannt, derart daß der
Verbindungspunkt zwischen den Widerständen R1 und R3 auf
einen Pegel von annähernd dem Potential der Sammelleitung
110, d. h. annähernd Masse, gebracht wird und dadurch die
Vorrichtung 100 in ihrem normalen Zustand gehalten wird. Die
Vorrichtung 100 weist, wie in Fig. 6 gezeigt und im Stande
der Technik bekannt, einen inneren Komparator 10′ auf, der
mit einer Bezugsspannung verbunden ist.
Im Falle eines vorübergehenden Transient-Zustands weist die
Vorrichtung 100 eine eingebaute Sperrzeit von 500 Nano
sekunden auf, was eine vorzeitige Abschaltung des IGBT 50
verhindert, derart daß hohe Transient-Ströme, die unterhalb
der 500-Nanosekunden-Sperrzeit bleiben, nicht zu störenden
Fehlauslösungen führen. Die Sperrschaltung ist in Fig. 6 mit
der Bezugsziffer 130 bezeichnet. Die Schaltung 130 ist auch
schematisch mit einem Logiksteuereingang 132 dargestellt,
der zur Abschaltung der Abschalteingangsgröße für die
Treiberstufe 60 dient, sobald die Eingangsgröße VIN Null
ist, derart daß die IGBT-Anordnung 50 einschalten kann,
sobald eine Eingangsgröße bei VIN zugeführt wird.
Die Vorrichtung 130 kann somit die von dem Zeitschalter 30
in Fig. 2 ausgeübte Funktion erfüllen, wie auch die Start-
Funktion des Zeitschalters 20.
Der Kondensator C4 in Fig. 5 dient auch zur Verzögerung des
Spannungsanstiegs an CS, wenn ein Transient-Zustand auf
tritt, und unterdrückt somit ebenfalls eine falsche Abschal
tung des IGBT 50.
Sollte ein Kurzschluß auftreten, so steigt die Sättigungs
spannung VCE an, die Diode D1 wird in Sperrichtung vorge
spannt und die Spannung an dem Komparatoreingang steigt
demgemäß über die Schwellwertspannung an. Der CS-Anschluß
der Vorrichtung 100 steigt über den Widerstand R2 in Rich
tung auf die Gate-Spannung an. Sobald der CS-Anschluß diese
Schwelle übersteigt, schaltet der Ausgang der Vorrichtung
100 ab und nähert sich intern an Masse an, und die Diode DZ1
wird in Durchlaßrichtung vorgespannt und zieht die IGBT-
Gate-Spannung nach unten. Somit ist die in Fig. 2 gezeigte
Transistoranordnung 40 in der Vorrichtung 100 der Schaltung
nach den Fig. 5 und 6 ebenfalls verwirklicht. Ein eingebau
tes Merkmal der Vorrichtung 100 gestattet es, daß der
Ausgangsanschluß OUT während einer durch den Kondensator C1
und eine eingebaute 1-Mikrosekunden-Verzögerung auf die
Hälfte seines Wertes, und sodann auf Null gezogen wird.
Die Diode D2 ist über dem Gate-Widerstand Rg vorgesehen, um
die Abschaltung zu beschleunigen, derart daß die an dem
Gate des IGBT 50 gebildete Spannung sich rasch durch die
Vorrichtung 100 entladen kann. Die Zener-Diode DZ2 ist zum
Gate-Schutz des IGBT 50 vorgesehen und verhindert es, daß
die Gate-Spannung über die Avalanche-Spannung der Zener-
Diode DZ2 ansteigt.
Ein wesentliches Merkmal der in Fig. 5 veranschaulichten
erfindungsgemäßen Schaltung besteht darin, daß der Kurz
schluß-Schutz des Transistors 50 selbstanpassend ist. Falls
beispielsweise der IGBT 50 eine verzögerte Einschaltung
aufweist, wird die Kollektor-Emitter-Spannung hoch bleiben,
bis die Anordnung voll eingeschaltet ist. Dies würde in der
Last wie ein Kurzschlußzustand erscheinen. Da dies nicht
durch einen Kurzschluß verursacht wird, sondern lediglich
durch eine verzögerte Einschaltung, sollte die Schutz
schaltung gemäß der Erfindung nicht ausgelöst werden, und
sie tut dies auch nicht, und zwar deshalb, weil die IGBT-50-
Gate-Spannung am Gate abgefühlt wird und nicht am gemein
samen Punkt zwischen dem Widerstand Rg und der Diode DZ1.
Somit wird, falls die Gate-Spannung während der Einschaltung
des IGBT verzögert wird, die Schutzschaltung ebenfalls nur
nach der Verzögerung ausgelöst, wodurch eine falsche Schutz
auslösung vermieden wird.
Ein weiteres Merkmal der in Fig. 5 gezeigten Erfindung
besteht darin, daß sie die Notwendigkeit von Logikschaltun
gen für die Zeitschaltung (130 in Fig. 6 oder 20 in Fig. 2)
erübrigt, da der Schutz sich automatisch selbst an die
Einschaltverzögerung anpaßt.
Es wurde somit eine Schaltung beschrieben, welche eine
rasche Abschaltung einer Leistungstransistoranordnung im
Falle eines Kurzschlusses oder eines Überstrom-Zustandes
bewirkt. Der Nachweis bzw. die Erfassung der Sättigungs
spannung der Leistungstransistoranordnung ermöglicht es, daß
die Schaltung ein extrem rasches Ansprechverhalten auf
Kurzschluß- und Überstrom-Zustände erhält, was sie besonders
anwendbar für Leistungs-IGBT-Anordnungen hoher Leistung
macht, welche eine rasche Abschaltung im Falle von Kurz
schluß-Zuständen erfordern, um Schaden für die Anordnungen
zu vermeiden.
Die Erfindung wurde vorstehend unter Bezugnahme auf
spezielle Ausführungsformen beschrieben; jedoch sind für den
Fachmann viele anderweitige Abwandlungen und Modifikationen
sowie andere Verwendungszwecke ersichtlich. Die vorliegende
Erfindung soll daher nicht durch Einzelheiten der Beschrei
bung, sondern nur gemäß den nachfolgenden Ansprüchen
begrenzt werden.
Claims (29)
1. Schaltung zum Nachweis eines Überstroms in einer
Leistungstransistor-Schaltvorrichtung und zum Schutz gegen
einen derartigen Überstrom-Zustand, wobei die Leistungs
transistor-Schaltanordnung Hauptanschlüsse und einen
Steueranschluß besitzt und zwischen den Hauptanschlüssen
während des normalen Leitungszustands der Leistungs
transistoranordnung ein Bereich normaler Sättigungsspannung
besteht, wobei die Schaltung umfaßt:
- - Treibermittel (60, Fig. 2), welche dem Steueranschluß der Leistungstransistoranordnung (50) Steuersignale zur Ein- und Ausschaltung der Leistungstransistoranordnung zuführen;
- - mit der Leistungstransistoranordnung gekoppelte Mittel (10) zum Abfühlen der Sättigungsspannung der Leistungs transistoranordnung; sowie
- - auf die Fühlmittel (10) ansprechende und mit dem Steueranschluß der Leistungstransistoranordnung (50) ge koppelte Mittel (40) zur Abschaltung der genannten Steuer signale von dem Steueranschluß, falls die Sättigungsspannung einen abnormalen Pegel erreicht als Anzeige eines Überstrom- Zustands in der genannten Leistungstransistoranordnung.
2. Schaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Fühlmittel umfassen:
- - Komparatormittel (10, Fig. 2), welche einen mit der Leistungstransistoranordnung (50) verbundenen ersten Eingang zum Abfühlen der Sättigungsspannung und einen Bezugs spannungseingang (Vref) besitzen, derart daß, falls die erste Eingangsgröße infolge einer erhöhten Sättigungsspannung die Bezugsspannungs-Eingangsgröße übersteigt, die Komparator vorrichtung ein Signal für die Abschaltvorrichtung (40) erzeugt, um die Steuersignale von dem Steuereingang abzu schalten.
3. Schaltung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß sie des weiteren eine Diode (D1)
aufweist, deren einer Anschluß mit der Leistungstransistor
anordnung (50) auf dem Potential der Sättigungsspannung
verbunden ist und deren anderer Anschluß mit einer Wider
standsvorrichtung (R1, Fig. 2; R1, R2, R3, Fig. 5, Fig. 6)
verbunden ist, wobei die Widerstandsvorrichtung mit dem
ersten Eingang der Komparatorvorrichtung (10, Fig. 2; 100,
Fig. 5; 10′, Fig. 6) verbunden ist und einen mit einem
Bezugsspannungspegel verbundenen Anschluß besitzt.
4. Schaltung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Widerstandsvorrichtung einen
Spannungsteiler (R1, R2) aufweist, welcher zwischen dem
anderen Anschluß der Diode (D1) und dem genannten Bezugs
spannungspegel angeschlossen ist und einen mit dem ersten
Eingang des Komparators (10; 10′) verbundenen Spannungs
teiler-Knotenpunkt besitzt.
5. Schaltung nach Anspruch 1,
des weiteren gekennzeichnet durch Zeitverzögerungsmittel
(20, Fig. 2) zur Unwirksammachung der Komparatorvorrichtung
(10) während eines Start-Anfahrzustands, derart daß die
Leistungstransistoranordnung (50) anfänglich während des
Start-Zustandes eingeschaltet werden kann.
6. Schaltung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitverzögerungsvorrichtung (20,
Fig. 2), welche den Komparator (10) während eines
Start-Zustands unwirksam macht, zwischen dem Steueranschluß
der Leistungstransistoranordnung (50) und einem Abschalt-
Eingang des Komparators vorgesehen ist.
7. Schaltung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitverzögerungsvorrichtung
(30, Fig. 2) zur Unwirksammachung des Komparators (10)
während eines Start-Zustands zwischen einem Ausgang des
Komparators (10) und einem Abschalt-Eingang der Treiber
mittel vorgesehen ist, wobei die genannte Abschalteinrich
tung (40, Fig. 2) den Abschalt-Eingang der Treibermittel
(60) bildet.
8. Schaltung nach Anspruch 4,
des weiteren gekennzeichnet durch mit dem Spannungsteiler
(R1, R2, R3, Fig. 5) gekoppelte Kondensatormittel (C4) zur
Erzeugung einer Zeitverzögerung im Falle von vorübergehenden
Transient-Zuständen an der Leistungstransistoranordnung.
9. Schaltung nach Anspruch 1,
des weiteren gekennzeichnet durch Zeitverzögerungsmittel
(30, Fig. 2) zwischen einem Ausgang der Komparatorvorrich
tung (10) und der genannten Abschaltvorrichtung (40), zur
Vermeidung einer Abschaltung der genannten Steuersignale im
Falle eines vorübergehenden Transient-Überstrom-Zustands an
der Leistungstransistoranordnung während einer Zeitperiode,
die kleiner ist als eine Zeitperiode, welche zu einer
Schädigung der Leistungstransistoranordnung führen würde.
10. Schaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Abschaltmittel eine mit dem
Steueranschluß der Leistungstransistoranordnung (50) ver
bundene Schaltervorrichtung (40, Fig. 2; DZ2, Fig. 5) auf
weisen, welche die Steuersignale an Masse legt.
11. Schaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Abschaltmittel einen
Unwirksamkeits- bzw. Abschalt-Eingang der Treibermittel
aufweisen, der mit in den Treibermitteln vorgesehenen
Schaltermitteln verbunden ist, zur Abschaltung der Steuer
signale von dem Steueranschluß.
12. Schaltung nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltermittel Mittel zur
Entladung des Steueranschlusses aufweisen.
13. Schaltung nach Anspruch 12,
des weiteren gekennzeichnet durch einen Gate-Widerstand (Rg)
zwischen den Treibermitteln (60, Fig. 2 und Fig. 6; 100, Fig.
5) und dem Steueranschluß, sowie weiter gekennzeichnet durch
eine normalerweise während der normalen Leitung der Lei
stungstransistoranordnung (50) in Sperrichtung vorgespannte
Diode (D2) über dem Gate-Widerstand (Rg), zur raschen Ent
ladung des Steueranschlusses während eines Überstrom-Zustands
durch die genannten Schaltermittel.
14. Schaltung nach Anspruch 13,
des weiteren gekennzeichnet durch eine in Reihe mit dem
Gate-Widerstand (Rg) geschaltete Avalanche-Diode (DZ1,
Fig. 5), die während der normalen Leitung der Leistungs
transistoranordnung im Avalanche-Mode in Sperrichtung vor
gespannt ist und während eines Überstrom-Zustandes in
Durchlaßrichtung vorgespannt ist.
15. Schaltung nach Anspruch 1,
des weiteren gekennzeichnet durch eine zwischen dem Steuer
anschluß und Masse vorgesehene Avalanche-Diode (DZ2, Fig. 5)
zum Schutz des Steueranschlusses gegen Überspannungs-
Zustände.
16. Schaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Leistungstransistor
anordnung (50) einen IGBT-Transistor aufweist.
17. Verfahren zum Nachweis eines Überstrom-Zustandes in
einer Leistungstransistor-Schaltanordnung und zum Schutz
hiergegen, wobei die Leistungstransistor-Schaltanordnung
Hauptanschlüsse und einen Steueranschluß besitzt und
zwischen den Hauptanschlüssen während der normalen Leitung
der Leistungstransistoranordnung ein Bereich normaler Sätti
gungsspannung liegt, das Verfahren umfassend die Schritte:
- - Zufuhr von Steuersignalen an den Steueranschluß der Leistungstransistoranordnung zum Ein- und Abschalten der Leistungstransistoranordnung;
- - Abfühlen der Sättigungsspannung der Leistungstransi storanordnung; sowie
- - Abschalten der Steuersignale von dem Steueranschluß, falls die Sättigungsspannung einen abnormalen Pegel er reicht, der einen Überstrom-Zustand in der Leistungstransi storanordnung anzeigt.
18. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet, daß der Verfahrensschritt des
Abfühlens umfaßt:
- - Vergleichen der Sättigungsspannung oder einer mit der Sättigungsspannung in Beziehung stehenden Spannung mit einer Bezugsspannung und Erzeugen eines Signals zum Abschalten der Steuersignale von dem Steueranschluß, falls die Sättigungs spannung oder die damit in Beziehung stehende Spannung die Bezugsspannung übersteigt.
19. Verfahren nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet, daß man eine Diode während eines
Überstrom-Zustandes in Sperrichtung vorspannt, sobald die
Sättigungsspannung den abnormalen Pegel erreicht, und daß
man bewirkt, daß eine an einem Widerstand abfallende
Spannung die Bezugsspannung übersteigt, wodurch das genannte
Signal erzeugt wird.
20. Verfahren nach Anspruch 17,
des weiteren dadurch gekennzeichnet, daß eine Zeitverzöge
rung vorgesehen wird, welche den Verfahrensschritt des
Vergleichens während einem Start-Zustand unwirksam macht,
derart daß die Leistungstransistoranordnung während des
Start-Zustandes anfänglich eingeschaltet werden kann.
21. Verfahren nach Anspruch 20,
dadurch gekennzeichnet, daß der Verfahrensschritt der
Schaffung einer Zeitverzögerung das Unwirksammachen des
Verfahrensschrittes der Zufuhr der Steuersignale während
eines Start-Zustandes umfaßt.
22. Verfahren nach Anspruch 17,
des weiteren dadurch gekennzeichnet, daß der Verfahrens
schritt des Abfühlens im Falle von vorübergehenden Transient-
Zuständen an der Leistungstransistoranordnung verzögert
wird.
23. Verfahren nach Anspruch 17,
des weiteren gekennzeichnet durch die Schaffung einer Zeit
verzögerung, um die Abschaltung der Steuersignale im Falle
eines vorübergehenden Transient-Überstrom-Zustands an der
Leistungstransistoranordnung zu verhindern, falls dieser
vorübergehende Transient-Überstrom-Zustand nur während einer
Zeitperiode auftritt, die kürzer ist als eine Zeitperiode,
welche eine Schädigung der Leistungstransistoranordnung
bewirken würde.
24. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet, daß der Verfahrensschritt der Ab
schaltung der Steuersignale die Anlegung der Steuersignale
an Masse umfaßt.
25. Verfahren nach Anspruch 24,
dadurch gekennzeichnet, daß der Verfahrensschritt der Ab
schaltung der Steuersignale eine Spannungsentladung an dem
Steueranschluß umfaßt.
26. Verfahren nach Anspruch 25,
des weiteren dadurch gekennzeichnet, daß die Spannungs
entladung an dem Steueranschluß durch eine normalerweise
während der normalen Leitung der Leistungstransistoranord
nung in Sperrichtung vorgespannte Diode erfolgt.
27. Verfahren nach Anspruch 26,
des weiteren dadurch gekennzeichnet, daß die Entladung des
Steueranschlusses durch eine normalerweise während der
normalen Leitung der Leistungstransistoranordnung in Sperrichtung
im Avalanche-Mode vorgespannte Avalanche-Diode
erfolgt.
28. Verfahren nach Anspruch 17,
des weiteren dadurch gekennzeichnet, daß der Steueranschluß
gegen Überspannungs-Zustände durch Verwendung einer
Avalanche-Anordnung geschützt wird.
29. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren zum Schutz einer
einen IGBT aufweisenden Leistungstransistoranordnung dient.
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
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