DE4301146C2 - Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster und seine Verwendung - Google Patents
Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster und seine VerwendungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Strahlung durchlassendes
Vakuumtrennfenster, um einen Vakuumbereich in eine Mehrzahl
von Vakuumbereichen durch einen Film, eine Folie oder eine
Dünnschicht, der bzw. die Strahlung eines Wellenlängenbereichs,
wie eines Röntgenstrahlen- und eines Infrarotstrahlen
bereichs, durchläßt, zu trennen.
Mit einem Fortschritt in der Hochintegrationstechnik von
elektronischen Vorrichtungen und Halbleitern besteht in den
letzten Jahren eine Forderung, Substanzeigenschaften und
physikalische Erscheinungen in Mikrobereichen durch Ausführen
einer hyperfeinen Bearbeitung zu erforschen oder gründlich
zu untersuchen. Zur Erforschung der Substanzeigenschaften
und physikalischen Erscheinungen in den Mikrobereichen
durch die hyperfeine Bearbeitung kommen Synchrotron-Strahlenbündel
und Laserstrahlen freier Elektronen zur praktischen
Anwendung. Die Synchrotron-Strahlenbündel und die
Freielektronen-Laserstrahlen werden als elektromagnetische
Wellen definiert, die in einer Richtung einer Tangente einer
Flugbahn emittiert werden, wenn die Bewegungsrichtung der
Elektronen oder "positiven Elektronen", die mit einer der
Lichtgeschwindigkeit angenäherten Geschwindigkeit wandern,
durch ein von einem Ablenkmagneten erzeugtes Magnetfeld ab
gelenkt werden. Es ist möglich, die elektromagnetischen Wellen
eines Röntgenstrahlenbereichs einschließlich einer weichen
Röntgenstrahlung von einem Infrarotstrahlenbereich mit
einer hohen Intensität herauszuführen. Ferner ist charakteristisch,
daß die Strahlung (die elektromagnetischen Wellen),
die herausgeführt wird, abgelenkt wird.
Die Strahlungsintensität ist viel höher als diejenige irgendeiner
anderen Strahlungsquelle. Unter diesen Umständen ist man
dahingehend bemüht, daß die Synchrotron-Strahlenbündel und
die Freielektronen-Laserstrahlen, obgleich das im Stand der
Technik unmöglich ist, auf die hyperfeine Bearbeitungstechnik
und die Meßtechnik mit ultrahoher Empfindlichkeit ange
wendet werden. Darüber hinaus kann kann eine superpräzise Messung,
die bisher unmöglich war, unter Verwendung einer Polarisation
der Strahlung durchgeführt werden. Die Bemühungen, die
Synchrotron-Strahlenbündel und die Freielektronen-Laserstrahlen
auf diese Gebiete anzuwenden, sind deshalb im Gange.
Normalerweise werden die Synchrotron-Strahlenbündel und die
Freielektronen-Laserstrahlen von einem Auslaßfenster aus
in die Atmosphäre eingeführt. Die Synchrotron-Strahlenbündel
und die Freielektronen-Laserstrahlen werden für die hyper
feine Bearbeitungstechnik, die Meßtechnik mit ultrahoher
Empfindlichkeit und die superpräzise Messung zur Anwendung
gebracht. Bei der oben erwähnten hyperfeinen Bearbeitungs
technik, der Meßtechnik mit ultrahoher Empfindlichkeit und
der superpräzisen Messung, wobei die Synchrotron-Strahlen
bündel und die Freielektronen-Laserstrahlen angewendet werden,
neigen die Punkte am Austritt zu einer Abschwächung der
Strahlungsintensität und einer Verzerrung von polarisierter Strahlung
in einem Fenster, um die Synchrotron-Strahlenbündel und die
Freielektronen-Laserstrahlen herauszuführen. Insbesondere
wird die Röntgenstrahlung des weichen Röntgenstrahlenbereichs
mühlelos durch ein Material dieses Fensters, wenn sie durch
dieses tritt, absorbiert. Insofern erhebt sich hier ein Problem,
daß die Strahlungsintensität deutlich sichtbar abgeschwächt
oder gedämpft wird. Wenn die superpräzise Messung bezüglich
von Substanzeigenschaften oder dergleichen durchgeführt wird, liegen
ferner die Probleme der Dämpfung der Strahlungsintensität
und der Verzerrung von polarisierter Strahlung in den Strahlung
durchlassenden Fenstern einer Strahlungsquelle und eines Detektors
vor. Die Synchrotron-Strahlenbündel und die Freielektronen-
Laserstrahlen haben hohe Intensitäten. Das führt zu einem
Problem, daß nämlich die Neigung zur Beschädigung des Fensters
zum Herausführen der Strahlung durch die Strahlenbündel,
insbesondere durch die Wärme, besteht. Andererseits beschleunigt
ein als eine Strahlungsquelle der Synchrotron-Strahlenbündel
und der Freielektronen-Laserstrahlen dienender Beschleuniger
die Elektronen und positiven Elektronen bis auf eine Geschwin
digkeit, die nahe an der Lichtgeschwindigkeit liegt. Es ist
deshalb erforderlich, daß die Flugbahn der Elektronen oder
der "positiven Elektronen" in einem ultrahohen Vakuum in der
Größenordnung von 1,33 × 10-7 Pa (10-9 Torr) oder darüber
liegt, um zu verhindern, daß die Elektronen und "positiven
Elektronen" mit Glaspartikeln kollidieren und hieraus resul
tierend verschwinden oder auf halbem Weg sich zerstreuen.
In einer Strahlstrecke zum Herausführen der weichen Röntgen
strahlen in einer Synchroton-Strahlenbündelanlage wird insbesondere
die Röntgenstrahlung des weichen Röntgenstrahlenbe
reichs leicht durch ein Gas in dem Vakuum absorbiert. Da
die Strahlungsintensität in hohem Maß gedämpft wird, ist es er
forderlich, daß ein weiche Röntgenstrahlen durchlassender
Bereich in einem ultrahohen Vakuum der Größenordnung von
1,33 × 10-5 Pa (10⁷ Torr) oder darüber liegt. Dann wird
die weiche Röntgenstrahlung aus diesem ultrahohen Vakuumbe
reich durch Anwendung des weiche Röntgenstrahlen durchlas
senden Fensters mit einer Lithographie-Übertragungsvorrichtung,
die als eine Strahlungsquelle dient, herausgeführt. In dieser
Übertragungsvorrichtung wird eine Helium-Atmosphäre in
der Größenordnung von 1013,3 mb vorgesehen. Ein Temperatur
anstieg einer Maske, der aus einer Einstrahlung der Strahlen
bündel entsteht, wird verhindert, um keine Verzerrung der
Maske hervorzurufen. Auch ist man in der Helium-Atmosphäre
der Größenordnung von 1013,3 mb bemüht, den Druck des Heliums
in der Vorrichtung wegen einer großen Dämpfung der
weichen Röntgenstrahlung zu reduzieren.
Ferner haben die elektromagnetischen Wellen der Synchrotron-
Strahlenbündel kontinuierliche Spektren sowie eine hohe Intensität,
weshalb sie auf eine physikochemische Analyse, wie
eine Struktur- und eine Zustandsanalyse, angewendet werden.
Eine Untersuchung, um Informationen zu erlangen, die bisher
nicht erhalten werden konnten, wird weitergeführt. In einem
Detektor für weiche Röntgenstrahlung, der für solche Analysen
zur Anwendung kommt, ist ein weiche Röntgenstrahlen durch
lassendes Fenster, um einen ultrahohen Vakuumbereich von
einem Druckreduktionsbereich zu trennen, in einem Erfassungs
teil des Detektors, der ein Druckreduziergas, beispiels
weise einem Gasdurchflußdetektor, besitzt, notwendig.
Unter besonderer Berücksichtigung der Tatsache, daß das Synchrotron-
Strahlenbündel eine hohe Intensität aufweist, stehen
andere Studien dicht vor der Umsetzung in die Praxis,
wobei eine Filmbeschichtung und ein Substratätzen unter An
wendung einer photochemischen Reaktion zwischen den elektro
magnetischen Wellen des weichen Röntgenstrahlenbereichs und
einer Gassubstanz ausgeführt werden. Bei dieser Art einer
photochemischen Reaktionsvorrichtung werden das Beschichten
und Ätzen in den meisten Fällen unter Druckentlastung oder
-absenkung bewirkt. Das weiche Röntgenstrahlung durchlassende
Fenster, das den ultrahohen Vakuumbereich vom Druckreduktions
gasbereich trennt, ist notwendig, wenn die weiche Röntgen
strahlung in die Vorrichtung mittels der Strahlstrecke
eingeführt wird.
Wie beschrieben wurde, ist das die weiche Röntgenstrahlung
durchlassende Fenster erforderlich, um den ultrahohen Vakuum
bereich, von dem Vakuumbereich, z. B. dem Druckreduktions
bereich, mit einer hoch leistungsfähigen Durchlässigkeit
der Röntgenstrahlung des weichen Röntgenstrahlenbereichs
ohne eine Dämpfung zu trennen, wobei eine Wärmebehandlung
oder thermische Trocknung durchführbar ist, die, um ein
weiteres ultrahohes Vakuum zu erlangen, notwendig ist.
(Im folgenden werden der Kürze halber Abkürzungen verwendet,
und zwar UHV für Ultrahochvakuum, HV für Hochvakuum, IR für
Infrarot und UV für Ultraviolett.)
Wie in einer Zeitschrift ("Applied Physics" Vol. 5, 1986,
S. 494) beschrieben ist, wird eine herkömmliche Fertigungs
vorrichtung folgendermaßen konstruiert. Eine als ein weiche
Röntgenstrahlen durchlassendes Fenster (im folgenden als
Weichstrahlen-Durchlaßfenster bezeichnet) dienende und ein
Bauelement bildende Berylliumfolie wird mit einer Öffnung
eines UHV-Flansches durch Verfahren, wie einem Löten und
einer Elektronenstrahlschweißung, verbunden. Auf diese
Weise wird eine Luftdichtheit gewährleistet.
Die Anwendung einer Berylliumfolie als Fenstermaterial zur Abtrennung
zweier Vakuumbereiche in einem Röntgenstrahlungsgerät wird beispielsweise
in der DE 41 17 639 A1 beschrieben. Alternativ
wird nach einem Verbinden mit einem Fensterrahmen aus Kupfer
usw. durch dasselbe Verfahren, diese fest mit dem UHV-
Flansch verschweißt, um die Luftdichtheit aufrechtzuerhalten.
Das Metall Beryllium hat einen hohen Schmelzpunkt, es zeigt
jedoch schlechte Eigenschaften bezüglich der Duktilität oder
Dehnbarkeit und der Druck-Verformbarkeit. Insofern kann bei
dem Verfahren eines direkten Verschweißens der Berylliumfolie
mit dem allgemein verwendeten rostfreien Stahl als
einem UHV-Material leicht in der Folie ein Schaden, wie
ein Riß, auftreten. Wie in der JP-OS Nr. 63-64253
offenbart ist, wird ein mit einer sauerstofffreien Kupfer
platte durch das Diffusionsübergangsverfahren verbundenes
Teil als eine Dichtung verwendet. Darüber hinaus wird, wie
in der JP-OS Nr. 63-273100 beschrieben ist, das folgende
Verfahren vorgeschlagen. Eine Berylliumfolie mit einer
Dicke von 200 µm wird luftdicht mit dem rostfreien Stahl
verlötet. Anschließend wird ein Reißen in der Berylliumfolie,
wenn sie verschweißt wird, durch Vermindern des weiche Röntgen
strahlen übertragenden Bereichs durch einen physikochemischen
Bearbeitungsprozeß verhindert.
Ferner wird durch die JP-OS Nr. 1-276550 das folgende
Verfahren als ein solches zur Vermeidung der während eines
Schweißvorgangs erzeugten Spannung vorgeschlagen. Ein elastisches
Metallbauteil, das in einer zu einer Öffnungsfläche
parallelen Richtung verformbar ist, wird an die Beryl
liumfolie und den rostfreien Stahl gelötet, wodurch die
Spannung vermieden wird. Die Haltbarkeit der Berylliumfolie
wird dadurch verbessert. Das Diffusionsübergangsverfahren,
das Elektronenstrahlschweißen und das Löten, die gemäß dem
Obigen zur Anwendung kommen, werfen jedoch solche Probleme
auf, daß das Beryllium mit einer ausreichenden Rekristalli
sierung beginnt, um die Stärke wegen eines Erhitzens des Be
rylliums auf 700°C oder darüber zu vermindern. Eine Güte
milderung und ein Reißen können beide leicht auftreten.
Des weiteren wurde ein Verfahren vorgeschlagen, um die
Luftdichtheit ohne ein Erhitzen der Berylliumfolie auf
rechtzuerhalten. Wie in JP-OS Nr. 1-9400 be
schrieben ist, wird die Luftdichtheit durch Verwendung
eines O-Ringes aus Fluorkautschuk als ein elastisches Vakuum
abdichtmittel gewährleistet. Bei diesem Verfahren ist
es jedoch aufwendig, eine ausreichend große Kraft am elastischen
Bauteil sowie der Berylliumfolie aufzubringen, um die
Luftdichtheit aufrechtzuerhalten. Es ist insofern schwierig,
eine Dicke der Berylliumfolie zu vermindern.
Wie in der JP-OS Nr. 2-272399 und der JP-OS
Nr. 2-272400 offenbart ist, werden Verfahren zur Aufrechterhaltung
der Luftdichtheit unter Verwendung von Metallen
vorgeschlagen, die anstelle des O-Ringes zum Einsatz kommen
und eine vorherbestimmte Konsistenz sowie Dampfdruckcha
rakteristik zeigen. In der Monographie "Vakuumtechnik" von W. Pupp und H. K. Hartmann, Hauser Verlag, München,
S. 125-129 (1991) ist ferner beschrieben, daß Dichtringe für Vakuumkammern aus
Metall gebildet sein können. Dort wird ausgeführt, daß Metalldichtungen in der Regel
durch ihre plastische Verformung verfertigt werden und dann nicht wiederverwendbar
sind. Wegen der Steigerung der Luftdichtheit
durch Aufbringen der Kraft an der Berylliumfolie ist es
ebenfalls schwierig, die Dicke dieser Folie zu vermindern.
Es wurde auch noch das folgende Verfahren, das in der JP-OS-Nr.
3-128499 beschrieben ist, vorgeschlagen, wonach
ein Berylliumfilm oder eine Berylliumschicht im Vakuum
auf sauerstofffreiem Kupfer ohne die Verwendung der
Berylliumfolie niedergeschlagen wird. Anschließend wird
das sauerstofffreie Kupfer des Fensterbauteils unter Ver
wendung von konzentrierter Salpetersäure geätzt. Die Be
rylliumschicht von 20 µm wird auf diese Weise erhalten.
Die Luftdichtheit des derart gebildeten Weichstrahlen-
Durchlaßfenster-Bauteils wird durch Verwendung des O-Ringes
aus Fluorkautschuk aufrechterhalten.
Wie vorstehend beschrieben wurde, sind eine große Vielzahl
von Röntgenstrahlen durchlassenden Fenstern vorgeschlagen
worden, wobei ein ultrahohes Vakuum durch Trennen des At
mosphärendruckbereichs vom UHV-Bereich aufrechterhalten
wird. Es ist jedoch hinsichtlich der Zuverlässigkeit schwierig,
die Dicke der Berylliumfolie oder der Berylliumschicht auf
20 µm oder darunter abzusenken, um den Atmosphärendruckbe
reich vom UHV-Bereich zu trennen. Hieraus rührt somit ein
Problem oder eine Schwierigkeit wegen einer großen Absorption
der weichen Röntgenstrahlen im Durchlaßfenster, die
weiche Röntgenstrahlung leistungsfähig zu übertragen.
Es ist zu bemerken, daß gegenwärtig gewisse Bemühungen unter
nommen werden, um die Dämpfung der Röntgenstrahlung oder
des weichen Röntgenstrahlungsbereichs unter Verwendung einer
aus Siliziumnitrid, Siliziumkarbid, Bornitrid, Diamant usw.
bestehenden Dünnschicht zu verhindern. Ein Film oder eine
Schicht, die so dünn wie einige µm bis 0,1 µm ist, kann gebildet
werden. So beschreibt beispielsweise die Literaturstelle R. J. Rosser et al. in
"Applied Optics", Vol. 26, S. 4313-4318 (1987) die Verwendung eines 120 nm
dünnen Siliciumnitridfilms als Vakuumtrennfenster zum Durchlaß weicher
Röntgenstrahlen. Beispielsweise zeigt im Fall einer Röntgen
strahlung mit einer Energie von 1 keV herkömmlich verwendetes
Beryllium mit einer Dicke von 20 µm einen Durchlaßgrad
von 11%. Im Gegensatz hierzu zeigte eine Bornitrid-Dünn
schicht mit einer Dicke von 1 µm einen Durchlaßgrad von
65%. Eine Siliziumnitrit-Dünnschicht mit einer Dicke von
1 µm besitzt einen Durchlaßgrad von 51%. Ferner zeigt
im Fall einer Röntgenstrahlung mit einer Energie von
500 eV Beryllium mit einer Dicke von 20 µm einen Durchlaß
grad von 6 × 10-7%. Gegensätzlich hierzu hat eine Bornitrid-
Dünnschicht mit 1 µm einen Durchlaßgrad von 7,8%.
Die Siliziumnitrid-Dünnschicht mit 1 µm weist einen Durch
laßgrad von 2,1% auf. Eine hoch leistungsfähige Durchlässigkeit
der weichen Röntgenstrahlung wird erhalten. Es ist
somit möglich, die aus Siliziumnitrid, Siliziumkarbid, Bor
nitrid, Diamant usw. bestehenden Dünnschichten als ein weiche
Röntgenstrahlen durchlassendes Dünnschichtelement oder
-bauteil zu verwenden.
Die beigefügte Fig. 24 zeigt in einem lotrechten Schnitt den
Aufbau des oben erwähnten herkömmlichen, weiche Röntgenstrahlen
durchlassenden Dünnschichtelements. Bei diesem wird eine
weiche Röntgenstrahlen durchlassende Fensterschicht (Dünnschicht) 32 an
einer Trägersubstanz 31 gehalten. Für die Größen dieser
Bauteile gilt beispielsweise, daß die Trägersubstanz 31
einen Durchmesser von 40 mm hat, daß ein durchlassendes oder
übertragendes Teil einen Durchmesser von 20 mm besitzt und
daß die weiche Röntgenstrahlen durchlassende Fensterschicht
eine Dicke von 1 µm aufweist. Mit Blick auf eine einfache
Herstellung besteht im allgemeinen die Trägersubstanz 31
aus Silizium, während die weiche Röntgenstrahlen durchlassende
Fensterschicht (die Weichstrahlen-Durchlaßdünnschicht)
32 aus einer Siliziumnitrid-Dünnschicht gebildet ist. Das
auf diese Weise konstruierte Weichstrahlen-Durchlaßdünn
schicht-Bauelement wird mit einer UHV-Konstruktion aus
rostfreiem Stahl oder einer Aluminiumlegierung verbunden.
Das Löten oder das Elektronenstrahlschweißen für diesen
Zweck schließen eine Schwierigkeit ein. Deshalb sind Be
mühungen zur Verwendung eines Epoxidharzes im Gange.
Ferner ist in Verbindung mit einem Infrarotstrahlen-Durch
laßfenster, wie beispielsweise auf S. 372 von "Applied
"Spectroscopie Hand Book" veröffentlicht 1984 durch Asakura
Shoten, gezeigt ist, ein IR-Detektor oder Strahlungsempfänger
als Beispiel angeführt. Das IR-Durchlaßfenster hat eine
Dicke von einigen mm, um das Vakuum auf der Seite des IR-
Detektors von der Atmosphäre zu trennen. Materialien, die
für dieses IR-Durchlaßfenster benutzt werden, sind Kaliumbro
mid oder Zäsiumbromid, die eine Langwellengrenze haben, und
kommen in der Mehrzahl der Fälle zur Anwendung, wie in der
Zeitschrift "Apllied Physics", Vol. 5, 1986, S. 492 be
schrieben ist.
Ferner ist es erforderlich, eine Substrattemperatur präzis
zu kontrollieren, wenn in dem Filmbildungsprozeß eines Halb
leiters od. dgl. der Film oder die Schicht gebildet wird.
Bezüglich dieser Notwendigkeit wird ein Strahlungsthermometer
vorgeschlagen, bei welchem das IR-Strahlen-Durchlaßfenster
die Verwendung von Zinkselenid (ZnSe) einschließt, welches
einen sehr großen Durchlaßbereich in der Filmbildungs
oder -behandlungsvorrichtung besitzt. Dieser Filmbildungs
prozeß des Halbleiter macht die präzise Kontrolle der Film
dicke notwendig, wenn der Film gebildet wird. Deshalb wird
die Filmbildungsvorrichtung mit einem Polarimeter (Ellipsometer)
zum Messen der Dicke des gebildeten Films zusammen
montiert.
Darüber hinaus wird ein sichtbare Strahlung übertragendes
Fenster durch Schmelzen eines Fenstermaterials, wie in einer
Glas-, einer Quarz-, einer Saphirplatte usw., an ein
Flanschbauteil konstruiert.
Das herkömmliche Weich
strahlen-Durchlaßdünnschicht-Bauelement wird auf diese
Weise konstruiert, und somit unterliegt das als eine organische
Substanz eingestufte Epoxidharz ohne Schwierigkeiten
einer Verschlechterung in der Strahlung mit Bezug auf
die Röntgenstrahlung. Das übliche Weichstrahlen-Durchlaß
dünnschicht-Bauelement zeigt ein Problem in bezug auf eine
Langzeit-Zuverlässigkeit. Darüber hinaus neigt das Epoxid
harz leicht zu einer Zersetzung bei hoher Temperatur. Das
Epoxidharz wird während eines Wärmebehandlungs- oder thermischen
Trocknungsvorgangs zersetzt, der durchgeführt wird,
um ein ultrahohes Vakuum zu erlangen, und das hat zum Er
gebnis, daß ein Gas entwickelt wird.
Darüber hinaus haftet dem herkömmlichen IR-Durchlaßfenster
ein Problem an. Die Substanzen, wie Kaliumbromid und Zäsium
bromid, sind schwach gegenüber einer Feuchtigkeit. Es ist
eine sorgfältige Behandlung notwendig für ein Befeuchten
od. dgl., das durch ein Kühlen des Detektors hervorgerufen
wird.
Ein weiteres Problem liegt darin, daß Zink (Zn) und Selen
(Se) des Zinkselenids, das für das Fenstermaterial verwendet
wird, einen hohen Dampfdruck haben, und diese Elemente
werden während der Herstellung eines Prüf- oder Probekörpers
(eines Objekts) als Verunreinigungen eingeführt werden.
Das herkömmliche IR-Durchlaßfenster unterliegt den oben be
schriebenen Problemen und Schwierigkeiten. Die Materialien
werden auf solche beschränkt, die einen hohen Durchlaßgrad
der IR-Strahlung haben. Deshalb ist eine sorgfältige Bearbeitung
oder Behandlung notwendig. Zusätzlich werden, wenn
das IR-Durchlaßfenstermaterial Substanzen mit einem hohen
Dampfdruck enthält, diese Substanzen bei Herstellung des
Objekts als Verunreinigungen eingeführt.
Dem herkömmlichen, sichtbare Strahlung durchlassenden Fenster,
haften darüber hinaus die folgenden Probleme an. Dem
Fenstermaterial wird eine ausreichende Spannung vermittelt,
um eine Doppelbrechung hervorzurufen. Außerdem ist das Ver
fahren praktiziert worden, die Luftdichtheit des Fenstermaterials,
z. B. der Glas-, Quarz- und Saphirplatte, durch den
O-Ring od. dgl. aufrechtzuerhalten. Jedoch ist es notwendig,
eine ausreichende Kraft aufzubringen, um die Luftdichtheit
am Fenstermaterial, wie der Glas-, Quarz- und Saphirplatte,
zu gewährleisten. Die Spannung wirkt auf das Fenstermaterial
mit dem Ergebnis, daß die Doppelbrechung erzeugt wird.
Ferner ist bei dem üblichen Ellipsometer auch die präzise
Messung wegen eines solchen Mangels schwierig, daß die er
wähnte Doppelbrechung erzeugt wird.
Darüber hinaus wirft das Vakuum-UV-Durchlaßfenster ebenfalls
dieselben Probleme wie diejenigen des IR-Durchlaßfensters
und des sichtbare Strahlung durchlassenden Fensters auf.
Bei dem herkömmlichen Strahlungs-Durchlaßfenster ist es mit Blick
auf die Zuverlässigkeit schwierig, die Dicke des Lichtdurch
laßfenster-Konstruktionsteils oder -Bauelements, das den At
mosphärendruckbereich vom Vakuumbereich trennt, mit 20 µm
oder darunter festzusetzen. Wegen der starken Absorption der
weichen Röntgenstrahlung und der IR-Strahlung im Durchlaß
fenster ist es somit schwierig, leistungsfähig die weiche
Röntgenstrahlung und die IR-Strahlung zu übertragen. Die
Absorption der IR-Strahlung usw. im Durchlaßfenster ist
groß. Hieraus rührt ein solches Problem, daß die Materialien
für das Strahlungs-Durchlaßfenster-Bauelement begrenzt sind.
Darüber hinaus werden die Verzerrung und Streuung von Strahlung
im Durchlaßfenster unter Schwierigkeiten vermindert.
Um das Fenstermaterial mit dem Flanschbauteil zu verbinden,
wird das Schmelzverfahren angewendet, und um die Luftdicht
heit zu gewährleisten, kommt der O-Ring zur Anwendung. Daraus
rührt folglich das Problem, daß auf das Fenstermaterial
eine Spannung aufgebracht wird, die zur Erzeugung der Doppel
brechung ausreichend ist.
Ein weiteres Problem liegt darin, daß die Synchrotron-
Strahlenbündel und die Freielektronen-Laserstrahlen hohe
Intensitäten haben. Folglich unterliegt das dem Herausführen
der Strahlung dienende Fenster leicht einem Schaden durch die
Strahlung, insbesondere durch die Wärme. Ferner neigt das
Fenster zu einer Beschädigung während des Wärmebehandlungs
vorgangs, um das ultrahohe Vakuum zu erhalten.
Im Hinblick auf die vorstehenden Ausführungen ist es die
Aufgabe der Erfindung, die oben herausgestellten Probleme zu
vermeiden und ein Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster zur
Abtrennung eines gegebenenfalls ultrahohen Vakuums unter
Verwendung einer Fensterschicht zu schaffen, die leistungs
fähig die Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge ohne
Verzerrung, Streuung und Doppelbrechung der Strahlung durch
läßt, während die Fensterschicht eine gute Wärmebeständigkeit
aufweist.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird ein Strahlungsdurchlaß-
Vakuumtrennfenster zur Verfügung gestellt, welches enthält:
- - ein Trägerelement, das diese Fensterschicht trägt, und
- - eine die Strahlung durchlassende Fensterschicht,
- - ein Metall oder eine Legierung, das/die zwischen der Fensterschicht sowie dem Trägerelement vorgesehen ist, und in einem Temperaturbereich einer Betriebsumgebung eine flüssige Phase aufweist, wobei durch die Fensterschicht eine Trennung in verschiedene Vakuumbereiche erfolgt.
Die die Strahlung durchlassende Fensterschicht kann je nach
Wunsch bzw. Anwendung entweder als Dünnschicht oder als
Dickschicht ausgestaltet sein.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung ist das Metall bzw. die Legierung, das/die zwischen
der Fensterschicht sowie dem Trägerelement vorgesehen ist und
in einem Temperaturbereich einer Betriebsumgebung eine
flüssige Phase aufweist, Gallium bzw. eine Galliumlegierung.
Weitere Gegenstände der vorliegenden Erfindung bestehen in
der Verwendung des obenbezeichneten, erfindungsgemäßen
Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfensters für Strahlungen in
verschiedenen Wellenlängenbereichen, nämlich für den
Röntgenstrahlenbereich, insbesondere den Bereich weicher
Röntgenstrahlen, den Infrarotbereich, den Bereich
sichtbarer Strahlen, den Bereich von Ultraviolettstrahlen und
insbesondere der Vakuum-UV-Strahlenbereich.
In dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumfenster gemäß der vorliegenden
Erfindung wird der Vakuumbereich in eine Mehrzahl von
Vakuumbereichen durch die Fensterschicht, die das Licht durch
läßt, aufgeteilt. Ein Durchlaßgrad der Strahlung im Strahlungsdurch
laß-Vakuumtrennfenster wird größer. Ferner werden eine Ver
zerrung und Streuung der Strahlung in der Dünnschicht herabge
setzt.
Falls die Fensterschicht des erfindungsgemäßen Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfensters als Dünnschicht
ausgestaltet ist, wird die Dicke der Fensterschicht mit 1 µm oder
darunter festgesetzt, wodurch der Strahlungsdurchlaßgrad erhöht
wird. Wenn man hier die Röntgenstrahlung des weichen Röntgen
strahlenbereichs als Beispiel nimmt, kann die Strahlungs
durchlässigkeit T ausgedrückt werden als:
T = exp (-α · d) (1)
worin α der Absorptionskoeffizient der Röntgenstrahlung und
d die Dicke der Fensterschicht sind. In Übereinstimmung mit
der Gleichung (1) ist ein Wert von d sehr klein, selbst
wenn ein Wert von α groß ist. Insofern erhöht sich der
Strahlungsdurchlaßgrad T.
Da der Strahlungsdurchlaßgrad größer wird, besteht darüber hinaus
keine Beschränkung für das für die Fensterschicht verwendete Material.
Bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster gemäß dieser Erfindung
ist die Fensterschicht wärmebeständig gegenüber Temperaturen von
100°C oder mehr, so daß sie auch in einer Atmosphäre
hoher Temperaturen zur Aufnahme der Wärme verwendbar
ist. Darüber hinaus ist das für das ultrahohe Vakuum
notwendige thermische Trocknen durchführbar.
Bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster in Übereinstimmung
mit der vorliegenden Erfindung wird der Strahlungs-Wellenlängen
bereich als ein Röntgenstrahlenbereich festgesetzt. Der
Durchlaßgrad der Röntgenstrahlung im Strahlungsdurchlaß-Vakuum
trennfenster wird dadurch gesteigert. Daneben werden die
Verzerrung und Streuung der Röntgenstrahlung in der Fenster
schicht vermindert.
Ferner wird bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster dieser
Erfindung der Röntgenstrahlenbereich als ein weicher Röntgen
strahlenbereich bestimmt. Der Durchlaßgrad der weichen Röntgen
strahlung im Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster wird dadurch
erhöht. Zusätzlich werden die Verzerrung und Streuung
der weichen Röntgenstrahlung in der Fensterschicht ver
mindert.
Des weiteren wird bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster
gemäß dieser Erfindung der Strahlungs-Wellenlängenbereich als ein
IR-Strahlungsbereich festgesetzt. Der Durchlaßgrad der IR-
Strahlung in diesem Strahlungsdurchlaßfenster wird dadurch ver
größert. Zusätzlich werden die Verzerrung und die Streuung
der Infrarotstrahlung in der Fensterschicht vermindert.
Darüber hinaus wird bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster
gemäß dieser Erfindung der Strahlungs-Wellenlängenbereich als ein
Bereich sichtbarer Strahlung festgesetzt. Der Durchlaßgrad
der sichtbaren Strahlung im Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster
wird dadurch vergrößert. Weiterhin werden die Verzerrung und
Streuung der sichtbaren Strahlung in der Fensterschicht herab
gesetzt.
Bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster dieser Erfindung
wird darüber hinaus der Strahlungs-Wellenlängenbereich als ein
UV-Strahlungsbereich bestimmt. Der Durchlaßgrad der UV-Strahlung
im Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster wird dadurch er
höht. Ferner werden die Verzerrung und Streuung der UV-Strahlung
in der Fensterschicht vermindert.
Bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster nach dieser Erfindung
wird darüber hinaus der UV-Strahlungsbereich als ein
Vakuum-UV-Strahlungsbereich bestimmt. Dadurch wird der
Durchlaßgrad der Vakuum-UV-Strahlung im Strahlungsdurchlaß-
Vakuumtrennfenster gesteigert. Zusätzlich werden die Ver
zerrung und Streuung der Vakuum-UV-Strahlung in der Fenster
schicht herabgesetzt.
Des weiteren wird bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster
gemäß dieser Erfindung zwischen der Fensterschicht der Trägersubstanz
eine Schicht aus einem Metall oder einer Legierung gebildet, das bzw.
die in einem Temperaturbereich einer Betriebsumgebung eine flüssige
Phase aufweist. Dadurch ist es möglich,
die auf die Fensterschicht aufgrund der mit der Volumenänderung
im Zusammenhang mit der Erstarrung hervorgerufene
und aufgebrachte Spannung zu verhindern. Ferner wird dadurch erreicht,
die auf die Fensterschicht einwirkende Spannung,
welche auf den Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten
zwischen dem Trägerelement und der Fensterschicht während der
thermischen Trocknung, welche für das ultrahohe Vakuum notwendig
ist, zurückzuführen ist, zu unterbinden. Somit kann die
Dicke der Fensterschicht mit 1 µm oder weniger festgesetzt werden.
Die Strahlungsdurchlaßgrade im weichen Röntgenstrahlenbereich
und im IR-Strahlenbereich werden in dem Strahlungsdurchlaß-Vakuum
trennfenster erhöht. Ferner können die Verzerrung und
die Streuung in der Fensterschicht vermindert werden.
Durch die Anwendung der Zwischenschicht aus einem Metall
oder einer Legierung, das/die eine flüssige Phase bildet, ist es
möglich zu verhindern, daß die auf der mit der Erstarrung
einhergehenden Volumenänderung zurückzuführende Spannung
auf das Fensterschichtelement einwirkt. Es ist auch möglich,
zu verhindern, daß die auf den Unterschied im Wärmedehnungs
koeffizienten zwischen dem Trägerelement und dem Fensterschicht
element während des für das ultrahohe Vakuum notwendigen
Trocknungsvorgangs zurückzuführende Spannung auf das Fenster
schichtelement einwirkt. Insofern kann die Dicke der Fenster
schicht mit 1 µm oder darunter festgesetzt werden. Die
Durchlaßgrade der Strahlung im weichen Röntgenstrahlenbereich
und im IR-Strahlenbereich werden in dem Strahlungsdurchlaß-
Vakuumtrennfenster erhöht. Darüber hinaus können die Verzerrung
und Streuung in der Fensterschicht vermindert werden.
Des weiteren ist in dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster
gemäß dieser Erfindung vorzugsweise das Metall Gallium, während die Legierung
eine Gallium enthaltende Legierung ist. Gallium
hat einen Schmelzpunkt von 29,8°C und wird deshalb während
des Wärmebehandlungs- oder Trocknungsvorgangs ohne weiteres
geschmolzen. Auf die Strahlung durchlassende Fensterschicht wird
keine Spannung aufgebracht, die auf den Unterschied im Wärme
dehnungskoffizienten zwischen dem Trägerelement und der
Fensterschicht oder dem Fensterschichtelement zurückzuführen ist.
Deshalb kann die Dicke der Strahlung durchlassenden Fensterschicht
soweit wie möglich verhindert werden. Es ist zu erreichen,
wirksam und leistungsfähig die Strahlung, wie die Röntgenstrahlung
des weichen Strahlungsbereichs und die IR-Strahlung,
zu übertragen. Ferner ist es auch möglich, merklich eine
Rate herabzusetzen, mit welcher die Strahlung der Verzerrung in
der Fensterschicht unterliegt. Darüber hinaus kann eine Größe
in der Strahlungsstreuung in der Fensterschicht herabgesetzt werden.
Ferner haben Gallium oder die Gallium enthaltende Legierung
eine gewisse Viskosität und Oberflächenspannung, wenn sie
geschmolzen werden. Folglich können die Vakuen getrennt
werden. Zusätzlich haben Gallium oder die Gallium enthaltende
Legierung einen niedrigen Dampfdruck selbst bei der Trock
nungstemperatur, so daß deshalb das ultrahohe Vakuum während
der Wärmebehandlung oder thermischen Trocknung nicht konta
miniert wird. Um das ultrahohe Vakuum zu erzielen, kann somit
die notwendige Trocknung bewirkt werden.
Bei dem erfindungsgemäßen Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster
besteht eine Gallium enthaltende Legierung entweder aus
einer Gallium-Indium-Legierung oder einer Gallium-Zinn-Legierung.
Wie aus den Zustandsdiagrammen der beigefügten
Fig. 25 und 26 zu erkennen ist, zeigt bei Gallium-
Indium-Legierungen eine solche mit einem Gewichtsanteil
an Indium, der kleiner als etwa 30% ist, einen Schmelz
punkt von 15,7-29,8°C. Ferner besitzt in Gallium-Zinn-
Legierungen eine solche mit einem Gewichtsanteil an Zinn,
der kleiner als etwa 15% ist, einen Schmelzpunkt von
20,5-29,8°C, also unter 29,8°C, d. h. dem Schmelzpunkt
von Gallium. Die Legierung wird bei einer Wärmebehandlung
geschmolzen. Auf die Fensterschicht wird keine Spannung aufge
bracht, die auf einen Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten
zwischen der Fensterschicht oder dem Fensterschichtelement
und dem Trägerelement beruht. Deshalb kann eine Dicke der
Fensterschicht soweit wie möglich vermindert werden. Es ist
zu erreichen, die Röntgenstrahlen des weichen Röntgenstrahlen
bereichs wie auch des IR-Bereichs leistungsfähig zu
übertragen. Darüber hinaus wird eine Rate, mit welcher das
Licht der Verzerrung in der Fensterschicht unterliegt, erheblich
herabgesetzt. Auch wird die Strahlungsstreuung
in der Fensterschicht vermindert.
Die Gallium-Indium-Legierung und die Gallium-Zinn-Legierung
haben bei ihrem Schmelzen eine Viskosität und Oberflächen
spannung. Somit werden die Vakuen getrennt. Ferner haben
die Gallium-Indium- und die Gallium-Zinn-Legierung auch bei
der Wärmebehandlungstemperatur einen niedrigen Dampfdruck,
so daß deshalb das ultrahohe Vakuum während des Wärmebehand
lungsvorgangs nicht kontaminiert wird. Das zum Erreichen des
ultrahohen Vakuums notwendige Trocknen ist durchführbar.
Es ist zu bemerken, daß die Fig. 25 und 26 einer Veröffentlichung
entnommen sind, und zwar "Metal Data Book", heraus
gegeben durch Nippon Metal Academic Society (Corporation),
veröffentlicht 1974 durch Maruzen.
Bei dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster dieser Erfindung
ist die Gallium-Indium-Legierung vorzugsweise eine solche, die 75,5 Gew.-%
an Gallium und 24,5 Gew.-% an Indium enthält. Der Schmelz
punkt wird deshalb auf 15,7°C abgesenkt. Somit liegen die
Legierung, wenn sie einmal bei der Wärmebehandlung verflüssigt
worden ist, im verflüssigten Zustand aufgrund einer
Unterkühlungserscheinung vor, selbst wenn die Temperatur
den Schmelzpunkt oder einen unter diesem liegenden Punkt
erreicht, z. B. 10°C. Aus diesem Grund wird die Legierung
im verflüssigten Zustand in einer Einbaustelle einer üblichen
Versuchseinrichtung nicht verfestigt. Die Spannung,
die auf Volumenänderungen der Legierung zurückzuführen sind,
welche während des Erstarrens oder Verfestigens hervorgerufen
werden, wird nicht auf die Fensterschicht aufgebracht. In
sofern kann die Dicke der Fensterschicht weiter vermindert werden.
Es ist deshalb möglich, leistungsfähig die Strahlung, wie
die Röntgenstrahlung des weichen Röntgenstrahlenbereichs,
und die IR-Strahlung, zu übertragen. Ferner wird die Größen
ordnung, mit welcher die Strahlung einer Verzerrung in der
Fensterschicht unterliegt, vermindert. Die Strahlungsstreuung
in der Fensterschicht wird ebenfalls vermindert. Darüber hinaus
ist die Legierung in dem normalerweise zum Einsatz ge
langenden Laboratorium eine Flüssigkeit und kann deshalb
auf das Trägerelement ohne Erhitzen aufgetragen werden.
Darüber hinaus haben sowohl Gallium als auch Indium einen
niedrigen Dampfdruck, so daß sie folglich das ultrahohe
Vakuum nicht kontaminieren.
In dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster dieser Erfindung
wird vorzugsweise wenigstens einer aus der Mehrzahl der Vakuumbereiche
als ein UHV-Bereich in der Größenordnung von 1,33 × 10-5 Pa
(10-7 Torr) oder darüber festgelegt. Der UHV-Bereich wird
somit vom Vakuumbereich getrennt. Der Durchlaßgrad der
Strahlung im Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster wird ferner ver
größert. Somit ist das Strahlungsdurchlaßfenster mit einer geringen
Dämpfung der Intensität und einer kleinen Verzerrung
zu erlangen, wenn es Anwendung auf das weiche Röntgenstrahlen
durchlassende Fenster findet, bei dem die Probleme die
Dämpfung der Strahlungsintensität und die Verzerrung im Strahlungs
durchlaßfenster sind.
In dem Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster in Übereinstimmung
mit dieser Erfindung wird darüber hinaus die aus Metall
bestehende oder die Legierung, die eine Flüssigkeit
im Bereich der Temperaturen der zur Anwendung kommenden Um
gebung produziert, zwischen der das Licht übertragenden
Dickschicht und dem Trägerelement vorgesehen. Es besteht
keine Notwendigkeit, um die mit dem Schmelzen und Abdichten
am O-Ring verbundene Spannung auf die Fensterschicht aufzubringen,
falls die Fensterschicht als Dickschicht ausgestaltet ist.
Eine Doppelbrechung tritt nicht auf. Ferner wird die
auf den Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen
dem Trägerelement und der dicken Fensterschicht während des Trocknungs
prozesses, der für das ultrahohe Vakuum notwendig ist, zu
rückzuführende Spannung an einem Einwirken auf die dicke Fenster
schicht gehindert. Auf diese Weise wird die Fensterschicht
gegen eine Beschädigung geschützt.
Die obige Beschreibung zu den bevorzugten Ausführungsformen und den damit zusammen
hängenden Vorteilen bei der Anwendung einer dünnen Fensterschicht bzw. eines dünnen Fenster
schichtelements, insbesondere im Hinblick auf das Metall bzw. die Metallegierung
das/die eine flüssige Phase bildet, gilt gleichermaßen für den Fall, daß die Fenster
schicht bzw. das Fensterschichtelement als dicke Schicht ausgestaltet ist.
Beim Einsatz der erfindungsgemäßen Vakuumtrennfenster
für weiche Röntgenstrahlen ist es besonders vorteilhaft,
wenn die Fensterschicht mit dem Trägerelement
durch Gallium verbunden ist. Gallium hat einen Schmelzpunkt von
29,8°C und wird deshalb während des Trocknungsvorgangs ver
flüssigt. Die auf dem Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten
zwischen der Fensterschicht bzw. dem Fensterschicht-Bauelement
und dem Trägerelement beruhende Spannung wird nicht auf die
Fensterschicht oder -folie übertragen. Insofern
kann die Dicke der Fensterschicht im
größtmöglichen Ausmaß vermindert werden. Es ist deshalb
möglich, die Röntgenstrahlung des weichen Röntgenstrahlen
bereichs leistungsfähig zu übertragen. Gallium hat im verflüs
sigten Zustand eine Viskosität und Oberflächenspannung. Die
Luftdichtheit zwischen dem Druckreduktionsbereich und dem
UHV-Bereich kann aufrechterhalten werden. Ferner hat Gallium
selbst bei der Trocknungstemperatur einen niedrigen Dampf
druck, so daß es während des Trocknungsvorgangs das ultra
hohe Vakuum nicht kontaminiert. Der Trocknungsvorgang oder
die thermische Wärmebehandlung, der bzw. die notwendig ist,
um das ultrahohe Vakuum zu erreichen, sind durchführbar.
Ferner bietet gerade der Einsatz des erfindungsgemäßen Vakuumtrennfensters für weiche
Röntgenstrahlen auch dann besondere Vorteile, wenn die die weiche Röntgenstrahlen durch
lassende Fensterschicht mit der Trägersubstanz durch die Gallium enthaltende
Legierung verbunden wird. Zur Erläuterung der diesbezüglichen Vorteile kann auf
die obige Beschreibung verwiesen werden.
Weitere Ziele wie auch die Merkmale und Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden aus der folgenden, auf die Zeichnungen
Bezug nehmenden Beschreibung deutlich. In den Zeichnungen
zeigen:
Fig. 1 eine Schnittdarstellung eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters, welches für den besonderen
Einsatz für weiche Röntgenstrahlen bestimmt ist,
in einer ersten Ausführungsform dieser
Erfindung;
Fig. 2 eine Schnittdarstellung des Hauptteils eines
Vakuumtrennfensters für weiche Röntgenstrahlen in einer zweiten Ausführungs
form;
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das erfindungsgemäße Strahlungsdurchlaß-Trennfenster,
welches für den besonderen Einsatz für weiche Röntgenstrahlen bestimmt ist,
bei einer UHV-Behandlungsvorrichtung, die
mit einer Röntgenstrahlen-Meßvorrichtung zusammen
gebaut ist, zur Anwendung kommt;
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das Vakuumtrennfenster für weiche Röntgenstrahlen bei einer
HV-Behandlungsvorrichtung, die mit der Röntgenstrahlen-
Meßvorrichtung zusammengebaut ist, zur Anwendung
kommt;
Fig. 5 eine Schnittdarstellung eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters,
welches für den besonderen Einsatz für weiche Röntgenstrahlen bestimmt ist,
Fig. 6 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das erfindungsgemäße Strahlungsdurchlaß-Trennfenster, welches für den
besonderen Einsatz für weiche Röntgenstrahlen bestimmt ist,
bei einer Röntgenstrahlenquelle einer
Röntgenstrahlen-Photoelektronen-Spektrometrievor
richtung zur Anwendung kommt;
Fig. 7 eine Schnittdarstellung, die die Röntgenstrahlen
quelle der Fig. 6 im einzelnen zeigt;
Fig. 8 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster, welches für den besonderen
Einsatz für weiche Röntgenstrahlen bestimmt ist, bei einer
Weichstrahlen verwendenden photochemischen Reaktions
vorrichtung zur Anwendung kommt;
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster, welches für den besonderen
Einsatz für weiche Röntgenstrahlen bestimmt ist, bei einer Röntgenstrahlen-Lithographievor
richtung zur Anwendung kommt;
Fig. 10 eine Schnittdarstellung eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters,
welches bestimmt ist für den besonderen Einsatz bei
IR-Strahlen
in einer weiteren Ausführungsform gemäß der
Erfindung;
Fig. 11 eine Schnittdarstellung einer Ausführungsform eines
Bauelementes eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters,
welches bestimmt ist für den besonderen Einsatz bei
IR-Strahlen;
Fig. 12 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster für IR-Strahlen bei einer
Vakuumbehandlungsvorrichtung, die mit einer Strahlungstemperatur-
Meßvorrichtung zusammengebaut ist, zur Anwendung kommt;
Fig. 13 eine Schnittdarstellung eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters,
welches bestimmt ist für den besonderen Einsatz bei Sichtbarstrahlung
in einer weiteren Ausführungsform
dieser Erfindung;
Fig. 14 eine Schnittdarstellung einer Ausführungsform eines Bauelementes
eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters, welches bestimmt ist für den
besonderen Einsatz bei Sichtbarstrahlung;
Fig. 15 eine schematische Draufsicht auf eine Ausführungs
form, wobei das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster für Sichtbarstrahlung
bei einer Vakuumbehandlungsvorrichtung,
die mit einer Feinkorn-Meßvorrichtung zusammen
gebaut ist, zur Anwendung kommt;
Fig. 16 eine Schnittdarstellung des Strahlungsdurchlaß-Trennfensters für Sichtbarstrahlung
in einer weiteren erfindungsgemäßen
Ausführungsform;
Fig. 17 eine Schnittdarstellung einer Ausführungsform, wobei
das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster für Sichtbarstrahlung
bei einer mit einem Polarimeter (Ellipsometer)
zusammengebauten HV-Vorrichtung angewendet wird;
Fig. 18 eine Schnittdarstellung eines Strahlungsdurchlaß-
Trennfensters, welches bestimmt ist für den besonderen Einsatz bei
Vakuum-UV-Strahlung
in einer Ausführungsform dieser Erfindung;
Fig. 19 eine Schnittdarstellung zum Aufbau eines Bauelementes eines
Strahlungsdurchlaß-Trennfensters, welches bestimmt ist für den besonderen
Einsatz bei Vakuum-UV-Strahlung;
Fig. 20 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster für Vakuum-UV-Strahlung
bei einer photochemischen Reaktionsvorrichtung, die
einer Vakuum-UV-Plasmalichtquelle einschließt, zur
Anwendung kommt;
Fig. 21 eine Schnittdarstellung eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters
für Weichstrahlen
in einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsform;
Fig. 22 eine Schnittdarstellung des Strahlungsdurchlaß-Trennfensters
für Weichstrahlen
in einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsform;
Fig. 23 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform,
wobei das Strahlungsdurchlaß-Trennfenster für Weichstrahlen
in Verbindung mit der Röntgenstrahlen-Meßvorrichtung
an der UHV-Behandlungsvorrichtung zur
Anwendung kommt;
Fig. 24 eine Schnittdarstellung einer Ausführungsform eines Strahlungsdurchlaß-Trennfensters für
Weichstrahlen
nach dem Stand der Technik;
Fig. 25 ein Zustandsdiagramm einer Gallium-Indium-Legierung;
Fig. 26 ein Zustandsdiagramm einer Gallium-Zinn-Legierung.
Ausführungsformen der Erfindung werden im folgenden anhand
von Beispielen und unter Bezugnahme auf die Zeichnungen be
schrieben.
Die Fig. 1 zeigt in einer Schnittdarstellung ein Vakuumtrennfenster für weiche
Röntgenstrahlen (Weichstrahlen-
Durchlaßfenster) gemäß der Erfindung, wobei zu Bauteilen der
Fig. 24 gleiche Bauteile mit denselben Bezugszeichen bezeichnet
sind und nicht näher erläutert werden.
In Beispiel 1 der Fig. 1 bezeichnet A einen Druckreduktions
bereich in einer Vakuumkammer und B einen UHV-Bereich.
Ein Element 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen ist aus einer
aus Silizium bestehenden Trägersubstanz 31 und einer aus
Siliziumnitrid bestehenden dünnen Fensterschicht
32 konstruiert. Ein eine Öffnung aufweisendes Trägerelement 2
lagert das Element 1 des Vakuumtrennfensters. Das
Trägerelement 2 besteht beispielsweise aus einer Ultrahoch
vakuumstruktur aus rostfreiem Stahl, Aluminiumlegierung und
dergleichen.
Der Druckreduktionsbereich A ist hier ein solcher, der ein
Vakuum in einer Größenordnung von einigen Torr hat.
Der UHV-Bereich B ist ein solcher, der ein Vakuum in einer
Größenordnung von 1,33 × 10-5 Pa (10-7 Torr) oder darüber
hat.
Im folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung dieses Vakuumtrennfensters für Weich
strahlen und dessen Funktion erläutert.
Das Tragelement 2 wird, wenn es heißgemacht wird, mit Gallium 3
beschichtet. Das Element 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
wird dann verbunden. Die Vakuumkammer wird normalerweise
bei 150°C thermisch getrocknet. Bei dem Trocknen
wird das Gallium 3 geschmolzen. Dadurch wird verhindert, daß
eine auf einer Differenz im Wärmedehnungskoeffizienten
zwischen dem Element 1 des Vakuumtrennfensters und
dem Tragelement 2 zurückzuführende Spannung an der dünnen
Fensterschicht 32 erzeugt wird, was ansonsten
zum Ergebnis hätte, daß die Fensterschicht 32 beschädigt
wird. Die Viskosität von Gallium beträgt, wenn es ge
schmolzen ist, 1,4 mN · s/m² bei 150°C. Seine Oberflächen
spannung ist somit 706 mN/m. Beispielsweise wird diese
Art eines Elementes 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen mit
einem ICF152-Flansch aus rostfreiem Stahl (SUS304) unter
Verwendung von Gallium verbunden. Selbst bei einer Wärmebe
handlung mit 150°C fließt Gallium nicht aus, und dieses
Element 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen wird nicht ab
geschält oder abgeblättert. Das Vakuum des UHV-Bereichs B
kann von demjenigen des Druckreduktionsbereichs A getrennt
werden. Ferner beträgt der Dampfdruck von Gallium 11,33 · 10⁸ Pa
(10-10 Torr) oder darunter bei 150°C. Deshalb wird
das ultrahohe Vakuum während einer Wärmebehandlung, die not
wendig ist, um das ultrahohe Vakuum zu erlangen, nicht konta
miniert.
Die Fig. 2 zeigt das Hauptteil eines Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
in einer anderen Ausführungsform dieser Erfindung,
wobei zu Fig. 1 gleiche Bauteile mit denselben Bezugszahlen
bezeichnet sind. Das Trägerelement 2 besteht aus sauerstoff
freiem Kupfer oder einer Aluminiumlegierung usw. und dient
als eine Dichtung.
Bei dieser Art eines Weichstrahlen-Durchlaßfensters können
dieselben Wirkungen wie diejenigen des Beispiels 1 erlangt
werden.
Bei den erörterten Beispielen ist das Trägerelement 2 mit
einem Aufnahmeteil ausgebildet, in welchem das Element 1 des Vakuumtrennfensters
aufgenommen wird, so daß dieses Element
1 nicht abgeschält oder heruntergezogen wird. Jedoch kann
das Element 1 des Vakuumtrennfensters so angeordnet werden, daß es durch
eine Druckstange od. dgl. leicht angedrückt wird.
Bei jedem der bisher besprochenen Beispiele erfolgt eine
Verbindung des Elements 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen,
das die Trägersubstanz 31 aus Silizium und die Fensterschicht für Weichstrahlen
32 aus Siliziumnitrid umfaßt, mit dem
Trägerelement 2 mit Hilfe von Gallium 3. Die Trägersubstanz
31 ist jedoch nicht auf Silizium beschränkt. Ferner kann
die dünne Fensterschicht 32 aus einer Bornitrid-Siliziumkar
bid- und einer Diamant-Dünnschicht bestehen. Die dünne Fensterschicht für
Weichstrahlen 32 ist nicht auf die Siliziumnitrid-
Dünnschicht eingegrenzt. Insbesondere zeigt die Diamant-
Dünnschicht, die einen guten Teil an Kohlenstoff mit einem
Atomgewicht von 13 enthält, eine hohe thermische Leitfähigkeit.
Die Diamant-Dünnschicht ist imstande, leistungsfähig
Wärme zu diffundieren, die durch ein Einstrahlen von emittierter
Strahlung in die Fensterschicht 32
erzeugt wird. Ferner werden dieselben Wirkungen erhalten,
wenn ein Element des Vakuumtrennfensters, das aus
einer Trägersubstanz, die aus sauerstofffreiem Kupfer oder
Nickel besteht, und eine Beryllium-Fensterschicht unter Verwendung
von Gallium verbunden werden. Selbstverständlich werden
die gleichen Wirkungen auch dann erzielt, wenn eine dünne
Berylliumfolie, die als ein Element des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
dient, mit Hilfe von Gallium verbunden wird.
Es wird eine solche Behandlung bewirkt, daß Gallium 3 leicht
zu befeuchten ist und eine gute Haftfähigkeit zu den Anschluß
teilen des Trägerelements 2 und des Elements 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
hat. Beispielsweise wird Nickel auf
die Oberfläche des Verbindungs- oder Anschlußteils des Träger
elements 2 plattiert. Durch Steigern des Verbindungs-
oder Haftvermögens kann somit eine Luftdichtheit erhöht
werden.
Bei dem Beispiel der Fig. 3 wird das Vakuumtrennfenster
dieser Erfindung bei einer UHV-Behandlungsvorrichtung,
die mit einer Röntgenstrahlen-Meßvorrichtung zusammengebaut
ist, zur Anwendung gebracht. Die Fig. 3 zeigt einen Probe-
oder Prüfkörper 11, im folgenden als "Objekt" bezeichnet,
eine Objekt-Fertigungsvorrichtung 12, eine UHV-Vorrichtung
13, einen Exhaustor 14, einen Röntgenstrahlen-Anregungsmechanismus 15,
Absperrschieber 16-21, einen Exhaustor 22,
einen Halbleiterdetektor 23, einen Vakuumbehälter 24,
einen Flüssigstickstoffbehälter 25 und ein Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen 41.
Im folgenden wird eine Erläuterung eines Falls gegeben, wobei
die Röntgenstrahlen-Meßvorrichtung durch den Absperrschieber
16 in einem solchen Zustand montiert wird, daß die
UHV-Vorrichtung 13 ein ultrahohes Vakuum in der derart auf
gebauten Vorrichtung erzeugt. Zuerst wird ein Röntgenspektrum-
Empfangs- oder Nachweissystem 100 am Absperrschieber 18
abgebaut. Dann werden die Absperrschieber 16 und 17 geschlossen,
während die Absperrschieber 19 und 20 geöffnet werden.
Durch den Absperrschieber an beiden Seiten des Vakuumtrennfensters
41 begrenzte Lufträume Ia und Ib werden
gleichzeitig durch den Exhaustor 22 evakuiert, so daß kein
Differenzdruck am Vakuumtrennfenster 41 zur Wirkung gebracht
wird. Es ist möglich, nahezu keinen Differenzdruck auszu
üben, indem eine Absaugegeschwindigkeit erhöht wird, während
das Vakuum größer wird, solange wie die anfängliche Absauge
geschwindigkeit reduziert wird. Dann findet bezüglich des
Luftraums Ia, der durch das Vakuumtrennfenster 41 und die Ab
sperrschieber 16, 19 begrenzt ist, eine Wärmebehandlung oder
thermische Trocknung statt. Dadurch wird ein in diesem
Luftraum enthaltener Wasseranteil oder -gehalt reduziert.
Dieselben Wirkungen wie diejenigen der Beispiele 1 und 2
werden in diesem Fall wegen einer Verwendung des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
41 gemäß dieser Erfindung erhalten.
Nach Beendigung des Trocknungsvorgangs wird das Röntgenspektrum-
Nachweissystem 100 durch den Absperrschieber 18 ange
baut. Die Absperrschieber 19 und 20 werden geschlossen,
während der Absperrschieber 21 geöffnet wird. Ein durch
die Absperrschieber 17, 18 und 21 begrenzter Luftraum
wird durch den Exhaustor 22 ausreichend evakuiert. Dann
wird der Absperrschieber 21 geschlossen, wogegen die Ab
sperrschieber 17, 20, 16 und 18 geöffnet werden. In diesem
Zustand wird der HV-Bereich auf der Seite des Nachweissystems
100 vom UHV-Bereich auf der Seite der UHV-Vorrichtung
13 durch das Vakuumtrennfenster 41 abgetrennt.
Der im Vakuum auf der Seite des Nachweissystems 100 verblei
bende Wassergehalt verunreinigt nicht das Vakuum auf der
Seite der UHV-Vorrichtung. Es ist zu bemerken, daß das
Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen 41 durch Evakuieren mittels
einer Schiebermanipulation derart, daß der Differenzdruck
nicht aufgebracht wird, wie oben beschrieben wurde, vermindert
werden kann, daß es annähernd 100 nm dünn ist. Die
weichen Röntgenstrahlen können leistungsfähig gemessen
werden. Es besteht deshalb die Möglichkeit, die weichen
Röntgenstrahlen, die von Strahlungselementen abgestrahlt werden,
in der Größenordnung von 1 keV oder darunter zu messen.
Es ist darauf hinzuweisen, daß die Vorgänge des Öffnens
und Schließens der Absperrschieber 16-21 nicht auf
die oben erwähnten beschränkt sind.
Die Fig. 4 zeigt eine schematische Schnittdarstellung für
ein Beispiel der Anwendung des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
gemäß dieser Erfindung, wobei die Röntgenstrahlen-
Meßvorrichtung an der HV-Behandlungsvorrichtung zur Ausbildung
einer Oxid-Dünnschicht montiert ist und ein oxidatives
Gas in diese Vorrichtung eingeführt wird.
Zu Fig. 3 gleiche Bauteile sind mit denselben Bezugszahlen
bezeichnet. Die Fig. 4 zeigt eine HV-Vorrichtung 26, eine
Oxidativgas-Einleitvorrichtung 27, einen Exhaustor 28,
eine Differential-Absaugedüse 29 und ein Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
42. Ferner zeigt die Fig. 5 in einem Schnitt ein
für das Volumentrennfenster 42 verwendetes, weiche
Röntgenstrahlen durchlassendes Fensterschichtelement.
Hierbei besteht eine Trägersubstanz 43 aus Silizium. Eine
dünne Fensterschicht 44 ist als eine Silizium
nitrid-Dünnschicht ausgebildet. Eine Strahlungsabschirmfolie 45
besteht aus einer Aluminiumfolie und dient dem Abschirmen
von elektromagnetischen Wellen, die von Ultraviolettstrahlen
zu fernen Infrarotstrahlen reichen. Hier wird das Silizium
der Trägersubstanz 43 über das Gallium 3 mit dem rost
freien Stahl (SUS304) des eine Öffnung aufweisenden Träger
elements verbunden.
Ferner wird durch Mischgas zerstäubter Sauerstoff eines Sauer
stoffgases, von Sauerstoff und Ozon bevorzugterweise als
ein Oxidativgas verwendet.
Das folgende ist eine Beschreibung eines Falls, wobei die
Röntgenstrahlen-Meßvorrichtung durch den Absperrschieber 16
derart montiert wird, daß das hohe Vakuum durch die UHV-
Vorrichtung 26 in der derart aufgebauten Vorrichtung erzeugt
wird. Zuerst werden die Absperrschieber 16 und 18 geschlossen,
während die Absperrschieber 19 und 29 geöffnet werden. Die
auf beiden Seiten des Vakuumtrennfensters 42
durch die Absperrschieber abgeteilten bzw. begrenzten Luft
räume IIa und IIb werden gleichzeitig durch den Exhaustor
22 evakuiert, so daß ein Differenzdruck am Vakuumtrennfenster
42 nicht zur Wirkung gebracht wird. Es ist
möglich, nahezu keinen Differenzdruck auszuüben, indem eine
Absaugegeschwindigkeit, wenn die Größenordnung oder der Grad
des Vakuums gesteigert wird, erhöht wird, während die anfäng
liche Absaugegeschwindigkeit abgesenkt wird. Dann wird der
Absperrschieber 19 geschlossen, während die Absperrschieber
16 und 18 geöffnet werden. In diesem Zustand ist der HV-Bereich
auf der Seite des Röntgenspektrum-Nachweissystems 100
vom Vakuumbereich auf der Seite der HV-Vorrichtung durch
das Vakuumtrennfenster 42 abgetrennt. Deshalb übt das oxidative
Gas keinen Einfluß auf das Röntgenspektrum-Nachweissystem
100 aus, selbst wenn eine Oxid-Dünnschicht durch Einführen
des Oxidativgases in der Größenordnung von 1,33 × 10-2 Pa
(10-4 Torr) gebildet wird.
Es ist zu bemerken, daß die Fensterschicht für Weichstrahlen
44 des Vakuumtrennfensters 42 durch Evakuieren
mit einer Schiebermanipulation, so daß der Differenz
druck nicht aufgebracht wird, wie oben beschrieben wurde,
vermindert werden kann, daß es so dünn wie annähernd
100 nm ist. Die weichen Röntgenstrahlen können leistungs
fähig gemessen werden. Es ist somit möglich, die weichen
Röntgenstrahlen, die von Strahlungselementen ausgesandt
werden, in der Größenordnung von 1 keV oder darunter
zu messen. Ferner wird auf der Fensterschicht
44 durch das Ionenbüschel-Strahlverdampfungs
verfahren usw. die Aluminiumfolie oder -schicht
45 bis zu 100-200 nm niedergeschlagen. Es ist somit
möglich, die von UV-Strahlen bis zu fernen IR-Strahlen
reichenden elektromagnetischen Wellen, die von der Objekt-
Fertigungsvorrichtung und der Substraterhitzung
herrühren, wenn die Oxid-Dünnschicht gebildet wird,
abzuschirmen. Ferner läßt diese Aluminiumfolie die weichen
Röntgenstrahlen in der Größenordnung von 1 keV
oder darunter gut durch. Es ist deshalb möglich, die
von den Strahlungselementen ausgestrahlten weichen Röntgen
strahlen zu messen. Darüber hinaus wird die Aluminium
folie 45 auf der Seite des Röntgenspektrum-Nachweis
systems 100 angeordnet, während die Siliziumnitrid-
Fensterschicht 44 auf der Seite der HV-Vorrichtung angebracht
wird. Durch diese Anordnung kann eine Oxidation
der Aluminiumfolie 45 durch das oxidative Gas verhindert
werden. Darüber hinaus wird die Nitridschicht,
z. B. eine Siliziumnitrid-Dünnschicht od. dgl., durch
das oxidative Gas nicht erheblich oder intensiv koordiert.
Es ist darauf hinzuweisen, daß die Öffnungs- und Schließ
vorgänge der Absperrschieber 16, 18-20 nicht auf die
oben erwähnten begrenzt sind.
Ferner hat sich das Beispiel 4 mit dem Fall befaßt, wobei
die Oxid-Dünnschicht durch Einleiten des oxidativen Gases
gebildet wird. Das Beispiel 4 ist jedoch nicht auf diesen
Fall begrenzt. Beispielsweise können dieselben Wirkungen
in einem Fall erlangt werden, wobei eine III-V-Gruppen-
Verbund-Dünnschicht unter Verwendung eines organischen Metall
gases usw. gebildet wird. Der HV-Bereich auf der Seite
des Röntgenspektrum-Nachweissystems 100 wird vom Vakuumbe
reich auf der Seite der HV-Vorrichtung durch das Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
42 getrennt. Deshalb wird die Aluminiumfolie
oder -schicht nicht durch das organische Metallgas
korrodiert.
Die Fig. 6 zeigt schematisch eine Ausführungsform, wobei
das erfindungsgemäße Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen bei
einer Röntgenstrahlenquelle einer Röntgen-Photoelektronen-
Spektrometrievorrichtung zur Anwendung kommt. Die Fig. 7
zeigt in einer Schnittdarstellung Einzelheiten der Röntgen
strahlenquelle, wobei ein UHV-Behälter 51, ein Exhaustor
52, ein Objekt (Prüfkörper) 53, ein Manipulator 54, Ab
sperrschieber 55 und 56, ein Exhaustor 57, eine Objekt-
Einführvorrichtung 58, ein Energieanalysator 59, eine
Röntgenstrahlenquelle 60, eine Elektronenstrahlquelle 61,
ein Zielobjekt 62, ein Kühlmechanismus 63, ein Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
64, ein Elektronenstrahl 65, Streuelektronen
66 und ein Röntgenstrahl 67 dargestellt sind.
Die Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie beruht auf einem
Oberflächenabtastverfahren und erfordert insofern ein ultra
hohes Vakuum in der Größenordnung 1,33 × 10-6 Pa
(10-8 Torr) oder darüber. In der derart konstruierten Vor
richtung unterliegt der UHV-Behälter 51 einem thermischen
Trocknen, während er durch den Exhaustor 57, z. B. einer
Turbo-Molekularpumpe od. dgl., in einem Zustand evakuiert
wird, wobei die Absperrschieber 55 und 56 geöffnet sind.
Bei einer Wärmebehandlung wird Gallium geschmolzen, und insofern
sind dieselben Wirkungen wie diejenigen bei den Beispielen
1 und 2 zu erhalten. Nach Abschluß des thermischen
Trocknens wird der Absperrschieber 55 geschlossen und das
ultrahohe Vakuum durch den Exhaustor 52 erlangt. Das Objekt
53 wird unter Einsatz der Objekt-Einführvorrichtung 58 ein
gebracht. Das durch die Röntgenstrahlen der Röntgenstrahlen
quelle 60 bestrahlte Objekt erzeugt Photoelektronen, die
durch den Energieanalysator 59 analysiert werden.
In der Röntgenstrahlenquelle 60 wird das Zielobjekt 62 aus
Graphit od. dgl. durch den Elektronenstrahl 65 von der
Elektronenstrahlquelle 61, der auf bis zu 500 eV - 5 keV
beschleunigt ist, bestrahlt. Hierdurch wird das Zielobjekt
62 angeregt, um den Röntgenstrahl 67 zu emittieren. Das
Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen 64 läßt diesen Röntgenstrahl
67 durch, der wiederum auf das Objekt 53 einfällt. Die
Fensterschicht des Vakuumtrennfensters 64
kann wegen der Konstruktion ohne die Anwendung eines Dif
ferentialdrucks so dünn wie annähernd 100 nm gemacht werden.
Es ist deshalb möglich, eine Kohlenstoff-Eigenstrahlung
des weichen Röntgenstrahlenbereichs als eine Röntgenstrahlen
quelle anzugeben. Ferner wird den vom Zielobjekt zer
streuten Elektronen 66 keine Möglichkeit gegeben, die
Fenstersicht zu durchdringen, und
insofern treffen sie nicht auf das Objekt 53. Es ist deshalb
eine ausreichende Intensität zu erhalten, selbst wenn
die Eigenstrahlung des weichen Röntgenstrahlenbereichs als
eine Röntgenstrahlenquelle ohne Begrenzung auf den Kohlen
stoff verwendet wird. Störungen oder ein Rauschen, was
auf die Streuelektronen 66 zurückzuführen ist, können
ebenfalls vermindert werden.
Das oben erörterte Beispiel 5 bezieht sich darauf, daß das
Vakuumtrennfenster gemäß der Erfindung bei einer
Röntgenstrahlenquelle der Röntgen-Photoelektronen-Spektro
metrievorrichtung zur Anwendung kommt. Die Erfindung ist
jedoch nicht auf dieses Beispiel begrenzt. Selbstverständlich
können die gleichen Wirkungen erhalten werden, wenn
das Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen der Erfindung für andere
Röntgenstrahlenquellen verwendet wird, die auf der Elektronen
strahlanregung beruhen.
Die Fig. 8 zeigt in einer schematischen Darstellung ein Bei
spiel, wonach das erfindungsgemäße Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
bei einer Weichstrahlen-Photoreaktion-Behandlungs
vorrichtung Anwendung findet. In Fig. 8 sind eine Synchro
tron-Strahlenbündelvorrichtung 71, Hochgeschwindigkeit-
Absperrschieber 72 und 73, ein Spiegel 74, ein Spektroskop
75, Exhaustoren 76-78, ein Absperrschieber 79, ein Prüf
körper oder Objekt 80, eine Gas-Einleitvorrichtung 81,
ein Vakuumbehälter 82 und ein Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
83 dargestellt.
Die Synchrotron-Strahlenbündelvorrichtung und die Strahl
strecke der weichen Röntgenstrahlen machen ein ultrahohes
Vakuum in der Größenordnung von 1,33 · 10-5 Pa (10-5 Torr)
oder darüber erforderlich. Ein thermisches Trocknen erfolgt
während eines Evakuierens durch die Exhaustoren 76 und 77.
Gallium wird bei dem Trocknungsvorgang geschmolzen, und in
sofern können dieselben Wirkungen wie in den Beispielen 1
und 2 erlangt werden. Nach Abschluß des Wärmebehandlungs
vorgangs wird der Absperrschieber 79 geöffnet, wodurch
eine Verbindung unter Vakuum mit dem Vakuumbehälter 72
hergestellt wird, indem Gas durch die Einleitvorrichtung
81 eingeführt wird. In diesem Fall werden die Vakuen durch
das Vakuumtrennfenster 83 getrennt. Das eingeführte
Gas fließt insofern nicht zur Synchrotron-Strahlen
bündelvorrichtung hin.
Die Fensterschicht für Weichstrahlen des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
83 kann aufgrund der Konstruktion, wobei
kein Differenzdruck auf das Durchlaßfenster 83 aufgebracht
wird, so dünn wie annähernd 100 nm gemacht werden. Es ist
möglich, die Röntgenstrahlung des Weichstrahlenbereichs
leistungsfähig zu übertragen. Deshalb erhöht sich eine Re
aktionsgeschwindigkeit des eingeführten Gases. Ein Durch
satz des hergestellten Objekts 80 wird verbessert. Ferner
kann der Differenzdruck in einem Vakuumbereich von
1,33 · 10-8 Pa - 1,33 · 10-1 Pa (10-10 Torr - 10-3 Torr)
gehalten werden. Die herkömmliche Differentialabsaugung
kann vereinfacht werden. Das führt zu Verbesserungen in
der Zuverlässigkeit wie auch der Wartungsfähigkeit, und an
Platz kann gespart werden.
Die Fig. 9 zeigt schematisch eine Ausführungsform, wonach
das Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen dieser Erfindung bei
einer Röntgenstrahlen-Lithographievorrichtung angewendet
wird. Die Fig. 8 zeigt Exhaustoren 84 und 85, eine Röntgen
strahlenmaske 86, ein Objekt 87, einen Röntgenstrahlen-
Schrittantrieb 88, einen Heliumgas-Einleitmechanismus 89,
ein Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen 90 und ein Röntgenstrahlen-
Durchlaßfenster 91, das aus Beryllium od. dgl. gebildet
ist, jedoch die sichtbare Strahlung nicht durchläßt. Es
ist zu bemerken, daß mit den Bezugszahlen 71-77 und 83
zu Fig. 8 gleiche Bauteile bezeichnet sind.
Die Synchrotron-Strahlenbündelvorrichtung und die Strahl
strecke der weichen Röntgenstrahlen erfordern ein ultrahohes
Vakuum. Ein thermisches Trocknen wird während eines
Evakuierens durch die Exhaustoren 76 und 77 durchgeführt.
Bei der Wärmebehandlung wird Gallium geschmolzen, und insofern
sind dieselben Wirkungen wie bei den Beispielen 1 und
2 zu erhalten. Die Fensterschicht des
Weichstrahlen-Durchlaßfensters 83 kann aufgrund der Kon
struktion ohne die Anwendung eines Differenzdrucks am
Weichstrahlen-Durchlaßfenster 83 so dünn wie annähernd
100 nm gemacht werden. Es ist möglich, leistungsfähig die
Röntgenstrahlung des Weichstrahlenbereichs zu übertragen.
Ferner kann der Differenzdruck in einem Vakuumbereich
einer Größenordnung von 1,33 · 10-8 Pa - 1,33 · 10-1 Pa (10-10 Torr - 10-3 Torr)
gehalten werden. Die übliche Differen
tialabsaugung kann vereinfacht werden. Das resultiert in
Verbesserungen bezüglich der Zuverlässigkeit wie auch der
Wartungsfähigkeit. An Platz kann gespart werden.
Darüber hinaus kann der Differenzdruck im Vakuumbereich von
1,33 · 10-1 Pa - 133 Pa (10-3 Torr - 10-1 Torr) gehalten werden,
indem das Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen 90 verwendet wird,
das eine Fensterschicht besitzt, die
eine größere Dicke als diejenige der Fensterschicht
des Vakuumtrennfensters 83 hat.
Letztlich kann der Vakuumzustand in der Größenordnung von
einigen Torr dadurch erlangt werden, daß das
Vakuumtrennfenster für Röntgenstrahlen 91 zur Anwendung kommt,
welches aus Beryllium od. dgl. besteht, jedoch die sichtbare
Strahlung nicht überträgt. Der Röntgenstrahlen-
Schrittantrieb 88 kann insofern im Vakuum der Größenordnung
von einigen Torr betrieben werden. Die durch den einstrahlenden
Strahl erzeugte Hitze kann unter Verwendung von Helium
diffundiert werden. Insofern wird die Röntgenstrahlenmaske
86 nicht thermisch verzogen. Ferner wird in den Vakuumtrennfenstern für Weichstrahlen
83 und 90 eine Intensität der für die
Lithographie verwendeten Röntgenstrahlen nicht wesentlich
gedämpft. Insofern ist eine hoch leistungsfähige Belichtung
praktisch durchführbar, und der Durchsatz wird ebenfalls
verbessert.
Es ist zu bemerken, daß dieselben Wirkungen wie in den jeweils
oben erörterten Beispielen auch dann erzielt werden
können, wenn eine Gallium enthaltende Legierung anstelle
von Gallium, das bei den obigen Beispielen verwendet wird,
zur Anwendung kommt. Im folgenden wird ein Herstellungsver
fahren und eine Funktion in dem Fall erläutert, da eine
Legierung als Ersatz für das Gallium 3 im Beispiel 1 ver
wendet wird, die aus 75,5 Gew.-% an Gallium und 24,5 Gew.-%
an Indium besteht und hier als Ga75,5-In-Legierung bezeichnet
wird. Diese Ga75,5-In-Legierung hat einen Schmelzpunkt
von 15,7°C, und wenn sie einmal geschmolzen ist, so liegt
sie aufgrund einer Unterkühlungserscheinung im verflüssigten
Zustand auch dann vor, wenn die Temperatur den Schmelz
punkt erreicht oder niedriger wird, z. B. 10°C.
Die Ga75,5-In-Legierung 3 wird auf das Trägerelement 2 auf
gebracht, so daß das Bauelement 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
verbunden wird. Die obige Legierung ist eine Flüssigkeit
und deshalb kann das Trägerelement ohne ein Erhitzen
bei Raumtemperatur in einem gewöhnlichen Laboratorium
verbunden werden. Die Vakuumkammer unterliegt einer Wärme
behandlung normalerweise bei 150°C. Die Ga75,5-In-Legierung
3 nimmt während des Wärmebehandlungsvorgangs einen
flüssigen Zustand an. Insofern besteht keine Möglichkeit,
wonach die auf dem Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten
zwischen dem Element 1 des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
und dem Trägerelement 2 beruhende Spannung an der
Fensterschicht 32 einwirkt, was ansonsten
in einer Beschädigungt dieser Fensterschicht 32 resultieren
würde. Ferner wird die genannte Legierung im ver
flüssigten Zustand an einem Einbauort in einer üblichen
Versuchseinrichtung nicht verfestigt. Deshalb wirkt eine
auf Volumenänderungen der Legierung zurückzuführende Spannung,
die während des Verfestigens hervorgerufen werden,
nicht auf die Fensterschicht.
Ferner hat die Ga75,5-In-Legierung eine Viskosität und
Oberflächenspannung. Das Element 1 der Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
wird mit dem ICF152-Flansch aus rostfreiem Stahl
(SUS304) unter Verwendung der Ga75,5-In-Legierung verbunden.
Die Legierung fließt selbst bei einer Wärmebehandlung mit
150°C nicht aus, und das Element 1 des Vakuumtrennfensters
wird nicht abgeschält. Das Vakuum des UHV-Bereichs
B kann vom Vakuum des Druckreduktionsbereichs A getrennt
werden. Darüber hinaus hat die Ga75,5-In-Legierung eine höhere
Viskosität als Gallium und paßt sich insofern gut dem
rostfreien Strahl (SUS304) an. Ferner beträgt ein Dampfdruck
von Gallium oder Indium 1,33 · 10-8 Pa (10-10 Torr) oder
weniger bei 150°C. Das ultrahohe Vakuum wird deshalb während
des Wärmebehandlungsvorgangs, der notwendig ist, um das
ultrahohe Vakuum zu erzielen, nicht kontaminiert.
Für den obigen Fall wurde davon ausgegangen, daß als eine
Gallium enthaltende Legierung die Ga75,5-In-Legierung ver
wendet wird, die den minimalen Schmelzpunkt von 15,7°C hat.
Die Legierung ist jedoch nicht auf diese plastische Legierung
begrenzt. Wie aus den Zustandsdiagrammen beispielsweise
der Fig. 25 und 26 bekannt ist, weist unter den Gallium-
Indium-Legierungen eine solche mit einem Gewichtsanteil an
Indium, der kleiner als 30% ist, einen Schmelzpunkt von
15,7-29,8°C auf. Unter den Gallium-Zinn-Legierungen hat
eine Legierung mit einem Gewichtsanteil an Zinn, der kleiner
als etwa 15% ist, einen Schmelzpunkt von 20,5-29,8°C,
also niedriger als 29,8°C, d. h. der Schmelzpunkt von Gallium.
Die Legierung wird bei einer Wärmebehandlung im Behälter
geschmolzen. Auf die Fensterschicht für Weichstrahlen
wird keine Spannung aufgebracht, die auf einem
Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen dem
Element des Vakuumtrennfensters und dem Trägerelement
beruht. Deshalb kann eine Dicke der Fensterschicht
soweit wie möglich herabgesetzt werden.
Es ist eine wirksame und leistungsfähige Übertragung
der Röntgenstrahlung des Weichstrahlenbereichs zu erreichen.
Die Gallium-Indium-Legierung und die Gallium-Zinn-
Legierung haben, wenn sie geschmolzen werden, eine Viskosität
und Oberflächenspannung. Es ist deshalb möglich, das
Vakuum des Druckreduktionsbereichs vom Vakuum des UHV-Be
reichs zu trennen. Ferner haben die Gallium-Indium- und
die Gallium-Zinn-Legierung einen niedrigen Dampfdruck bei
einer Wärmebehandlungs- oder Trocknungstemperatur. Diese
Legierungen kontaminieren während des Wärmebehandlungsvor
gangs das ultrahohe Vakuum nicht. Ein Trocknungsvorgang, um
das ultrahohe Vakuum zu erreichen, ist insofern durchführ
bar.
Die Fig. 10 zeigt in einer Schnittdarstellung als ein weiteres
erfindungsgemäßes Beispiel ein Vakuumtrennfenster für IR-Strahlen,
wobei ein Bauelement für das Vakuumtrennfenster
101, ein Trägerelement 102, das das Bauelement 101 lagert,
und eine Legierung 103, die aus 75,5 Gew.-% an Gallium und
24,5 Gew.-% an Indium besteht (Ga75,5-In-Legierung), zum
Einsatz kommen. Das Trägerelement 102, das eine Öffnung
besitzt, besteht aus einem Vakuumstrukturmaterial, wie
z. B. rostfreiem Stahl mit einer niedrigen thermischen Leit
fähigkeit.
Die Fig. 11 zeigt in einem Schnitt die Konstruktion des
Bauelements des Vakuumtrennfensters für IR-Strahlen 101, das eine Trägersubstanz
104 und eine Fensterschicht für IR-Strahlen 105 um
faßt. Der Durchmesser der Trägersubstanz ist beispielsweise
15 mm. Ein durchlassendes Teil hat eine Kantenlänge von
5 mm. Die Fensterschicht ist 50 nm dick.
Normalerweise schließt die Trägersubstanz 104 die Verwendung
von Silizium ein. Für die Fensterschicht
105 kommt eine Siliziumnitrid-Dünnschicht von
extrem geringer Dicke zur Anwendung. An der Silizium-Träger
substanz 104 ist die Siliziumnitrid-Fensterschicht 105 ausge
bildet, die eine Zusammensetzung mit im wesentlichen demselben
Wärmedehnungskoeffizienten wie demjenigen des Siliziums
hat, wobei die Fensterschicht 105 durch chemisches Abscheiden
von Feststoffen aus der Gasphase (CVD-Verfahren) aufge
bracht wird. Die Silizium-Trägersubstanz 104 wird durch
Ätzen mit einer alkalischen Lösung, wie einer Kaliumhydroxid-
(KOH)-Lösung entfernt, so daß das durchlassende Teil
gebildet wird. Die Trägersubstanz 104 und die Fensterschicht
105 sind jedoch nicht auf Silizium und
Siliziumnitrid eingeschränkt. Die Fensterschicht 105
kann die Verwendung von beispielsweise einer diamantartigen
Kohlenstoff-Dünnschicht einschließen. Ferner ist das
Ätzverfahren nicht auf das oben genannte begrenzt, bei
spielsweise kann ein Trockenätzen zur Anwendung kommen.
Im folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des Vakuumtrennfensters für IR-
Strahlen und dessen Funktion erläutert.
Die Ga75,5-In-Legierung 103 wird auf das Trägerelement 102
aufgetragen, wodurch das Bauelement
des Vakuumtrennfensters 101 verbunden wird. Die Ga75,5-In-Legierung hat
einen Schmelzpunkt von 15,7°C. Die genannte Legierung
ist, wenn sie einmal geschmolzen ist, aufgrund der Unter
kühlungserscheinung in einem verflüssigten Zustand auch
dann vorhanden, wenn die Temperatur den Schmelzpunkt oder
darunter erreicht, z. B. 10°C. Die erwähnte Legierung ist
eine Flüssigkeit, und insofern kann das Trägerelement ohne
eine Erhitzung bei Raumtemperatur in einem üblichen Labora
torium verbunden werden. Ferner wird die Legierung nicht
im verflüssigten Zustand an der Einbaustelle der üblichen
Versuchseinrichtung verfestigt. Deshalb wirkt die auf Volumen
änderungen der Legierung, die während der Verfestigung
hervorgerufen werden, beruhende Spannung nicht auf die
Fensterschicht. Aus diesem Grund kann eine
Dicke dieser Dünnschicht mit 50 nm oder darunter festge
setzt werden. Es ist möglich, einen Durchlaßgrad von 10%
oder mehr mit Bezug auf die IR-Strahlung zu erreichen, welche
eine Wellenlänge hat, die durch die Siliziumnitrid-
Dünnschicht in einem IR-Strahlenbereich absorbiert wird.
Die Fig. 12 ist eine schematische Darstellung einer Ausführungs
form, bei der das Vakuumtrennfenster für IR-Strahlen dieser
Erfindung zur Anwendung kommt. Eine Strahlungstemperatur-
Meßvorrichtung ist an die Vakuumbehandlungsvorrichtung angebaut.
Die Fig. 12 zeigt einen Vakuumbehälter 106, einen
Exhaustor 107, einen Prüfkörper oder ein Objekt 108, eine
Heizvorrichtung 109, einen Gas-Einleitmechanismus 110 zur
Herstellung des Objekts, einen IR-Strahlungsempfänger 111,
einen Flüssigkeitsstickstoffbehälter 112, einen Flüssigheliumbe
hälter 113 und das Vakuumtrennfenster für IR-Strahlen 114.
Bei der derart aufgebauten Vorrichtung wird der Vakuumbe
hälter 106 durch den Exhaustor 107 evakuiert. Das
Vakuumtrennfenster 114 kann in ein Vakuum eingebracht werden,
ohne auf das Fenster einen Differenzdruck aufzubringen.
Die Fensterschicht für IR-Strahlen 105 des Vakuumtrennfensters
114 kann deshalb auf annähernd 50 nm vermindert werden.
Eine Langwellengrenze wird verbessert, und die IR-Strahlung
kann mit hoher Leistungsfähigkeit gemessen werden.
Selbst wenn die Nachbarschaft des Vakuumtrennfensters
114 durch Strahlungshitze von der Heizvorrichtung
109 erhitzt wird, besteht keine Möglichkeit, wonach die
Spannung auf die Fensterschicht 105 aufge
bracht wird, welche auf einen Unterschied im Wärmedehnungs
koeffizienten zwischen dem Bauelement
des Vakuumtrennfensters 101 und dem Trägerelement 102 beruht, wodurch die
Fensterschicht 105 beschädigt werden könnte. Darüber hinaus
wird die erwähnte Legierung im verflüssigten Zustand in
der Einbaustelle der üblichen Versuchseinrichtung nicht
verfestigt. Die auf Volumenänderungen der Legierung, welche
während des Erstarrens hervorgerufen werden, zurückzu
führende Spannung wirkt deshalb nicht auf die Fensterschicht.
Ferner ist ein Dampfdruck der Siliziumnitrid-Dünnschicht
der Fensterschicht
105 sehr niedrig. Die Dampfdrücke von Gallium und Indium
sind ebenfalls niedrig. Wenn das Objekt unter Verwendung
von hochreinem Gas gefertigt wird, werden folglich das
Konstruktionsmaterial des Vakuumtrennfensters für IR-Strahlen 114,
Gallium und Indium nicht als Verunreinigungen in das Objekt
eingebracht. Ferner ist die Siliziumnitrid-Dünnschicht der
Fensterschicht 105 standfest gegen Feuchtigkeit
und leicht zu behandeln.
Wenn bei der derart aufgebauten Vorrichtung eine Germanium-
Dickschicht und eine Silizium-Dickschicht, die jeweils
eine Dicke von 10 µm und einen Durchmesser von 2,54 cm haben,
als das Vakuumtrennfenster für IR-Strahlen 114 verwendet werden,
erhöhte sich der Durchlaßgrad im Vergleich mit dem
Fall, da ein Vakuumtrennfenster für IR-Strahlen aus Silizium
oder Germanium mit einer normalen Dicke von einigen mm zur
Anwendung kommt.
Die Gallium-Indium-Legierung ist darüber hinaus eine Flüssigkeit.
Selbst wenn die Nachbarschaft des Vakuumtrennfensters
114 durch die Strahlungswärme von der Heiz
vorrichtung 109 erhitzt wird, wird vermieden, daß
die auf einem Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten
zwischen dem Trägerelement 102 und der Germanium-
oder Silizium-Dickschicht, die eine Dicke von 10 µm und
den Durchmesser von 2,54 cm haben, beruhende Spannung auf
die Silizium- oder Germanium-Dickschicht einwirkt mit
dem Ergebnis, daß die Dickschicht beschädigt würde.
Die Fig. 13 zeigt in einer Schnittdarstellung ein Vakuumtrennfenster für Sicht
barstrahlung in einer weiteren Ausführungsform
dieser Erfindung, das ein Bauelement der Vakuumtrennfenster für Sichtbarstrahlung
121, ein dieses Bauelement 121 lagerndes
Trägerelement 122 und eine Legierung 123, die aus 75,5 Gew.-%
an Gallium und 24,5 Gew.-% an Indium besteht (Ga75,5-In-
Legierung), hat. Das Trägerelement 122 besitzt eine Öffnung und
ist aus einem Vakuumstrukturmaterial, wie rostfreiem Stahl,
oder eine Aluminiumlegierung gefertigt.
Die Fig. 14 zeigt in einem Schnitt den Aufbau dieses Bauelements des Vakuumtrennfensters für Sicht
barstrahlung 121, das eine Träger
substanz 124 und eine Fensterschicht für Sichtbarstrahlung
125 umfaßt. Beispielsweise hat die Trägersubstanz
einen Durchmesser von 40 mm. Ein durchlassender Teil wird
mit 10 mm × 30 mm bestimmt. Eine Dicke der Fensterschicht
beträgt 300 nm. Die Trägersubstanz
124 schließt die Verwendung von Silizium ein. Für die Fensterschicht
125 kommt eine Siliziumnitrid-
Dünnschicht zur Anwendung, die eine Zusammensetzung
hat, welche im wesentlichen denselben Wärmeausdehnungskoeffizienten
wie Silizium hat, wobei die Dünnschicht 125 an der
Trägersubstanz 124 durch das CVD-Verfahren niedergeschlagen
wird. Die Trägersubstanz 124 wird selektiv durch eine saure
Lösung, wie eine Fluorwasserstoffsäure-(HF)-Lösung usw.
geätzt. Auf diese Weise wird das durchlassende Teil gebildet.
Die Trägersubstanz 124 und die Fensterschicht
125 sind jedoch nicht auf Silizium oder Silizum
nitrid beschränkt. Außerdem ist das Ätzverfahren nicht
auf das oben genannte begrenzt, vielmehr kann auch ein Trocken
ätzverfahren zur Anwendung kommen.
Im folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des Vakuumtrennfensters für
Sichtbarstrahlung wie auch dessen Funktion
erläutert. Die Ga75,5-In-Legierung 123 wird auf das Träger
element 122 aufgetragen, wodurch das Bauelement des Vakuumtrennfensters für Sichtbarstrahlung
121 verbunden wird. Die Ga75,5-
In-Legierung hat einen Schmelzpunkt von 15,7°C und liegt,
wenn sie einmal geschmolzen ist, aufgrund der Unterkühlungs
erscheinung auch dann im verflüssigten Zustand vor, wenn
die Temperatur den Schmelzpunkt erreicht oder unter diesen
gelangt, z. B. 10°C. Die genannte Legierung ist eine Flüssigkeit,
weshalb das Trägerelement bei Raumtemperatur in
einem üblichen Laboratorium verbunden werden kann, ohne er
hitzt zu werden. Ferner wird die oben beschriebene Legierung
im verflüssigten Zustand an ihrer Einbaustelle in der
üblichen Versuchseinrichtung nicht verfestigt. Deshalb
wirkt die auf Volumenänderungen der Legierung beruhende
Spannung, welche während des Erstarrens hervorgerufen werden,
nicht auf die Fensterschicht.
Aus diesem Grund kann für diese Dünnschicht eine Dicke von
annähernd 100 nm festgesetzt werden. Es ist unmöglich, eine
Streuung von Licht und eine optische Verzerrung in der
Siliziumnitrid-Dünnschicht herabzusetzen.
Die Fig. 15 ist eine schematische Draufsicht eines Beispiels,
wobei das Vakuumtrennfenster für Sichtbarstrahlung dieser
Erfindung zum Einsatz kommt. An eine Vakuumbehandlungsvor
richtung ist eine Feinkorn-Meßvorrichtung angebaut. Die
Fig. 15 zeigt einen Vakuumbehälter 126, einen Exhaustor
127, einen Prüfkörper (Objekt) 128, eine Laserlichtquelle
129, einen Abtastspiegel 130, optische Bauelemente 131 und
132, einen Strahlungsempfänger 133, ein Lichttop 134 und
das Vakuumtrennfenster für Sichtbarstrahlung 135 sowie 136.
Bei der derart aufgebauten Vorrichtung wird der Vakuumbe
hälter 126 durch den Exhaustor 127 evakuiert. Die Vakuumtrennfenster
135 und 136 können in ein Vakuum
ohne Aufbringen eines Differenzdrucks auf diese ein
gebracht werden. Die Fensterschicht für Sichtbarstrahlung
125 eines jeden dieser Durchlaßfenster 135 und 136 kann des
halb so dünn wie annähernd 100 nm gemacht werden. Es ist
möglich, die Lichtstreuung und die optische Verzerrung in
der Siliziumnitrid-Dünnschicht zu vermindern. Insofern be
steht keine Möglichkeit, daß das Licht in der Fensterschicht
125 des Vakuumtrennfensters
135 zerstreut wird, um einen Emfangs- oder Erfassungs
hintergrund zu steigern bzw. zu vergrößern. Ferner
ist eine Änderung an der Polarisationsebene aufgrund der
optischen Verzerrung in der Fensterschicht
eines jeden der Durchlaßfenster 135 und 136 sehr
klein. Folglich erhöht sich der Empfangshintergrund nicht.
Somit kann eine untere Nachweisbarkeitsgrenze des Feinkorns
verbessert werden.
Die Fig. 16 zeigt in einem Schnitt ein Vakuumfenster für Sichtbarstrahlung
einer weiteren Ausführungsform gemäß der
Erfindung. Hierbei besteht eine dicke Fensterschicht
141 aus einer Quarzplatte mit einer Dicke von
einigen mm, wobei diese Dickschicht 141 von einem Träger
element 142 gehalten wird. Eine Legierung 143 besteht aus
75,5 Gew.-% Gallium und 24,5 Gew.-% an Indium, sie ist somit
eine Ga75,5-In-Leguierung. Das Trägerelement 142 hat eine
Öffnung und ist aus einem Vakuumstrukturmaterial, wie rost
freier Strahl, oder einer Aluminiumlegierung gefertigt.
Im folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des Vakuumtrennfensters für Sicht
barstrahlung wie auch dessen Funktion er
läutert. Die Ga75,5-In-Legierung 143 wird auf das Träger
element 142 zur Verbindung der dicken Fensterschicht
141 aufgebracht. Diese Legierung 143 hat einen
Schmelzpunkt von 15,7°C. Wenn die genannte Ga75,5-In-
Legierung einmal geschmolzen ist, so liegt sie im verflüssigten
Zustand aufgrund der Unterkühlungserscheinung auch
dann vor, wenn die Temperatur den Schmelzpunkt oder einen
tieferen Punkt, z. B. 10°C, erreicht. Die genannte Legierung
ist eine Flüssigkeit, weshalb das Trägerelement bei
Raumtemperatur in einem gewöhnlichen Laboratorium ohne ein
Erhitzen verbunden werden kann. Ferner wird die oben be
schriebene Legierung nicht im verflüssigten Zustand an der
Einbaustelle der gewöhnlichen Versuchseinrichtung verfestigt.
Somit wirkt die auf Volumenänderungen in der Legierung,
die während der Erstarrung hervorgerufen werden,
beruhende Spannung nicht auf die dicke Fensterschicht.
Aus diesem Grund kann ein Doppelbrechungsindex
im wesentlichen zu Null gemacht werden, wobei dieser Doppel
brechungsindex erzeugt wird, wenn die Sichtbarstrahlung-
Durchlaßdickschicht direkt durch einen O-Ring angepreßt
oder die Dickschicht 141 an das Trägerelement 142 geschmolzen
wird. Die optische Verzerrung kann vermindert werden.
Die Fig. 17 ist eine schematische Darstellung einer Ausführungs
form, wobei das Vakuumtrennfenster für Sichtbarstrahlung dieser
Erfindung zur Anwendung kommt. An der Vakuumbehandlungs
vorrichtung ist ein Ellipsometer angebracht. Die Fig. 17
zeigt einen Vakuumbehälter 144, einen Exhaustor 145, ein
Objekt 146, eine Objekt-Fertigungsvorrichtung 147, eine
Laserlichtquelle 148, optische Bauelemente 149 und 150,
einen Strahlungsempfänger 151 sowie Vakuumtrennfenster für Sichtbarstrahlung
152 und 153.
Bei der derart aufgebauten Vorrichtung wird der Vakuumbe
hälter 144 durch den Exhaustor 145 evakuiert. Die Vakuumtrennfenster
152 und 153 können in ein
Vakuum eingebracht werden, ohne daß auf diese ein Differenz
druck einwirkt. Deshalb löst sich die dicke Fensterschicht für Sichtbarstrahlung
141 eines jeden dieser Durch
laßfenster 152 und 153 nicht davon. Wie im Beispiel 12
kann der Doppelbrechungsindex in Übereinstimmung mit dieser
Ausführungsform im wesentlichen zu Null gemacht werden, wobei
dieser Doppelbrechungsindex dadurch erzeugt wird, daß
die Fensterschicht 141 direkt durch
den O-Ring einem Druck unterliegt oder die Dickschicht 141
an das Trägerelement 142 geschmolzen wird. Die optische Ver
zerrung kann vermindert werden. Es ist insofern unnötig,
die durch die Fensterschicht 141
hervorgerufene Verzerrung zu kompensieren. Eine genaue Messung
ist durchführbar.
Die Fig. 18 zeigt in einer Schnittdarstellung ein Vakuumtrennfenster für Vakuum-
UV-Strahlung in einer weiteren Ausführungsform dieser
Erfindung. Bei diesem Fenster sind ein Bauelement der Vakuumtrennfenster für Vakuum-UV
161, ein dieses Element 161 lagerndes
Trägerelement 162, eine Ga75,5-In-Legierung 163, die aus
75,5 Gew.-% an Gallium sowie 24,5 Gew.-% an Indium besteht,
ein Geradführung-Einsetzmechanismus 166, ein Abdichtmaterial
167 und ein Vakuumbehälter 168 vorhanden. Das Träger
element 162 besitzt ein Fenster und ist aus einem Vakuum
strukturmaterial, wie rostfreier Stahl, oder einer Aluminium
legierung gefertigt.
Die Fig. 19 zeigt eine Schnittdarstellung des Bauelements des Vakuumtrennfensters für Vakuum-UV
161, das eine Trägersubstanz
164 und eine dünne Fensterschicht für Vakuum-UV 165 umfaßt.
Ein Durchmesser der Trägersubstanz beträgt beispielsweise
15 mm. Ein durchlassendes Teil hat einen Durchmesser von
5 mm. Eine Dicke der Fensterschicht beträgt
1 µm. Die Trägersubstanz schließt die Verwendung von Silikon
ein. Für die Fensterschicht 165 kommen
eine Kalziumfluoridfolie oder eine Saphirfolie zur Anwendung.
Im folgenden werden ein Herstellungsverfahren des Vakuumtrennfensters für Vakuum-
UV-Strahlung und dessen Funktion erläutert. Die Ga75,5-
In-Legierung 163 wird auf das Trägerelement 162 aufge
tragen, um dadurch das Bauelement
des Vakuumtrennfensters 161 zu verbinden. Diese Legierung hat einen Schmelz
punkt von 15,7°C. Wenn die Ga75,5-In-Legierung einmal ge
schmolzen worden ist, so liegt sie aufgrund der Unterkühlungs
erscheinung in verflüssigtem Zustand auch dann vor,
wenn die Temperatur den Schmelzpunkt oder einen darunter
liegenden Punkt erreicht, z. B. 10°C. Die genannte Legierung
ist eine Flüssigkeit, und deshalb kann das Trägerelement
ohne dessen Erhitzen bei Raumtemperatur in einem ge
wöhnlichen Laboratorium verbunden werden. Ferner wird die
erwähnte Legierung nicht im verflüssigten Zustand an der
Einbaustelle der gewöhnlichen Versuchseinrichtung verfestigt
Insofern wirkt die auf Volumenänderung der Legierung,
die während des Erstarrens hervorgerufen werden,
beruhende Spannung nicht auf die dünne Fensterschicht.
Des weiteren wird ein Evakuieren so bewirkt, daß
der Differenzdruck nicht auf die Fensterschicht
aufgebracht wird. Insofern wird das Trägerelement
162 durch den Geradführung-Einsetzmechanismus 166 ange
hoben. Die Lufträume IIIa und IIIb werden untereinander
verbunden, und in diesem Zustand beginnt das Evakuieren.
Nachdem die Lufträume IIIa und IIIb ausreichend evakuiert
worden sind, wird das Trägerelement 162 durch den Gerad
führung-Einsetzmechanismus 166 abgesenkt. Mittels des Ab
dichtmaterials 167 wird dann die vakuumdichte Ausbildung
hergestellt. Die Lufträume IIIa und IIIb können dadurch
unter Vakuum getrennt werden. Wenn das Evakuieren auf diese
Weise durchgeführt wird, wird kein Differenzdruck auf die
Fensterscheibe ausgeübt. Folglich kann
eine Dicke dieser Dünnschicht mit annähernd 100 nm fest
gesetzt werden. Darüber hinaus kann eine Durchlaß-Wellen
längengrenze verkürzt werden.
Die Fig. 20 ist eine schematische Seitenansicht einer Aus
führungsform, wobei das erfindungsgemäße Vakuumtrennfenster für Vakuum-UV-Strahlung
bei einer Photoreaktion-Behandlungsvorrichtung, die
eine Vakuum-UV-Plasmastrahlungsquelle einschließt, zur Anwendung
gelangt. Die Fig. 20 zeigt einen Vakuumbehälter 169,
einen Exhaustor 170, einen Gas-Einleitmechanismus 171 zur
Herstellung eines Problenkörpers oder Objekts, einen Vakuum
behälters 172, einen Exhaustor 173, einen Plasmaanregungs
mechanismus 174, eine Ladungsteilchen-Eliminierungseinrichtung
175, eine Gas-Einleitvorrichtung 176, um das Plasma zu er
zeugen, und das Plasma 177. Hierbei ist der Vakuumbehälter
169 mit dem Vakuumbehälter 172 durch Anwendung der im
Beispiel 14 gezeigten Fensterschicht für Vakuum-UV (s. Fig. 18)
verbunden.
Bei der Vorrichtung mit diesem Aufbau wird wie im Beispiel
14 das Evakuieren durchgeführt, ohne einen Differenzdruck
zur Wirkung zu bringen. Anschließend kann das Vakuum des
Vakuumbehälters 169 von demjenigen des Vakuumbehälters 172
durch Anwendung des Vakuumtrennfensters getrennt
werden. Das der Plasmaerzeugung dienende Gas wird durch
die Einleitvorrichtung 176 in den Behälter 172 eingeführt.
Das Plasma wird durch den Anregungsmechanismus 174 erzeugt,
beispielsweise durch Entladung oder einen Laser. Das Vakuumtrennfenster
überträgt eine Vakuum-UV-Strahlung,
die vom Plasma 177 emittiert wird. Das durch den Einleit
mechanismus 171 eingeführte Gas wird zur Reaktion gebracht,
wodurch das Objekt hergestellt wird. Diese Vorrichtung ist
so konstruiert, daß das Evakuieren ohne Aufbringen eines
Differenzdrucks durchgeführt wird. Deshalb kan 21533 00070 552 001000280000000200012000285912142200040 0002004301146 00004 21414n die Fensterschicht für Vakuum-
UV-Strahlung 165 des UV-Vakuumtrennfensters
161 so dünn wie annähernd 100 nm gemacht werden. Die Durch
laß-Wellenlängengrenze kann weiter verkürzt werden. Eine
Intensität in der Nachbarschaft der Durchlaß-Wellenlängen
grenze wird erhöht. Auch wird eine Reaktionsgeschwindigkeit
größer. Der Durchsatz in der Herstellung des Objekts wird
gesteigert. Darüber hinaus wird ein Kristallwachstum von
Quecksilber-Kadmium-Tellur für das Objekt durchgeführt oder
wird das Plasma 177 durch eine Quecksilberentladung hervor
gerufen. In einem solchen Fall können anstelle der Ga75,5-
In-Legierung 163 Quecksilber und eine Quecksilber enthaltende
Legierung zur Anwendung kommen. Das bedeutet, daß das
oben genannte Metall und die erwärmte Legierung verwendbar
sind, wenn ein Einfluß auf den Prozeß auch dann ausge
schlossen wird, wenn die Dampfdrücke des Metalls und der Legierung,
die für das Verbinden herangezogen werden, hoch sind.
Es ist zu bemerken, daß bei dem Vakuumtrenn
fenster, um die Strahlung herauszuführen, das Vakuumtrennfenster-
Bauelement mit dem die Öffnung enthaltenden Träger
element zur Lagerung des Vakuumtrennfenster-Bauelements
verbunden ist. Die Erfindung ist jedoch nicht auf diese
Ausführungsform begrenzt, sondern auf einen Fall anwendbar,
wobei zwei Substanzen, die unterschiedliche Wärmedehnungs
koeffizienten haben, verbunden werden. Die Anordnung kann
selbstverständlich so getroffen werden, daß keine Spannung
aufgebracht wird.
Eine weitere Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Vakuumtrennfensters für Weich
strahlen ist im Schnitt in Fig. 21 darge
stellt, wobei das Fenster ein Vakuumtrennfenster
Bauelement für Weichstrahlen 210, das in Fig. 21 gezeigt ist, und ein Träger
element 202 mit einer Öffnung, das das Bauelement 201
lagert, umfaßt. In der Mehrzahl der Fälle besteht das Träger
element 202 aus einem ultrahohen Vakuumstrukturmaterial,
wie rostfreiem Stahl, und einer Aluminiumlegierung. Die Be
zugszahl 203 bezeichnet Gallium. In einer Vakuumkammer
sind ein Druckreduktionsbereich A und ein UHV-Bereich B
vorhanden.
Im folgenden werden ein Herstellungsverfahren für das in
Fig. 21 gezeigte Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen und dessen
Funktion erläutert. Das Trägerelement 202 wird, wenn es erhitzt
ist, mit Gallium 203 beschichtet. Dann wird das
Bauelement für das Vakuumtrennfenster 201 verbunden. Die Vakuum
kammer wird normalerweise bei 150°C wärmebehandelt.
Bei der Wärmebehandlung wird das Gallium 203 verflüssigt.
Folglich besteht keine Möglichkeit, daß eine auf einen
Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen dem
Bauelement des Vakuumtrennfensters 201 und dem dieses
lagernden Trägerelements 202 beruhende Spannung auf
die dünne Fensterschicht für Weichstrahlen 32 aufgebracht wird,
wodurch ansonsten diese Schicht 32 beschädigt würde. Eine
Viskosität von Gallium im verflüssigten Zustand beträgt
1,4 mN · s/m² bei 150°C, und seine Oberflächenspannung ist
706 mN/m. Beispielsweise wird diese Art eines
Bauelementes des Vakuumtrennfensters 201 unter Verwendung von Gallium
mit einem ICF152-Flansch aus rostfreiem Stahl (SUS304)
verbunden. Selbst bei einer Wärmebehandlung mit 150°C
fließt Gallium nicht aus, und insofern wird das
Bauelement 201 nicht abgeschält oder abgezogen.
Die Luftdichtheit des UHV-Bereiches B und des Druckreduktions
bereichs A können aufrechterhalten werden. Ferner ist ein
Dampfdruck von Gallium 1,33 · 10-8 Pa (10-10 Torr) oder weniger
bei 150°C. Deshalb wird das ultrahohe Vakuum während
der Wärmebehandlung, die notwendig ist, um das ultrahohe
Vakuum zu erreichen, nicht kontaminiert.
Die Fig. 22 zeigt in einer Schnittdarstellung das Hauptteil
des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen in einer anderen erfindungs
gemäßen Ausführungsform, wobei mit den Bezugszahlen 201
und 203 dieselben Bauteile wie in Fig. 21 bezeichnet sind.
Ein Trägerelement 205 besitzt eine Öffnung und lagert das
Bauelement des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen 201. Das aus
sauerstofffreiem Kupfer oder einer Aluminiumlegierung be
stehende Trägerelement 205 dient als eine Dichtung.
Bei dieser Art eines Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen können
ebenfalls dieselben Wirkungen wie diejenigen im Beispiel
16 erlangt werden.
Übrigens ist das Trägerelement mit einem Aufnahmeteil aus
gebildet, um darin das Bauelement
des Vakuumtrennfensters aufzunehmen, so daß dieses Bauelement 201 nicht
abgeschält oder abgezogen wird. Jedorch kann das
Bauelement 201 leicht durch einen Andruckstab
oder eine Andruckleiste angedrückt werden.
Es ist zu bemerken, daß in der vorstehend gegebenen Beschreibung
ein Beispiel einer Verbindung des Bauelements des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
201, das die aus Silizium bestehende Träger
substanz und die aus einer Siliziumnitridschicht bestehende
Fensterschicht für Weichstrahlen 32 umfaßt, gezeigt ist.
Jedoch werden dieselben Wirkungen auch durch Verbinden eines
Bauelements des Vakuumtrennfensters, das eine Träger
substanz aus sauerstofffreiem Kupfer enthält und aus einer
Beryllium-Dünnschicht besteht, unter Verwendung von Gallium
erlangt. Ferner werden selbstverständlich die gleichen
Effekte auch dann erzielt, wenn ein
Bauelement des Vakuumtrennfensters, das aus einer dünnen Berylliumfolie be
steht, unter Verwendung von Gallium verbunden wird.
Es wird eine solche Behandlung bewirkt, daß Gallium 203
leicht zu befeuchten ist und eine gute Haftfähigkeit zu den
zu verbindenden Teilen des Trägerelements 205 und des
Bauelements des Vakuumtrennfensters 201 hat. Beispiels
weise wird auf die Oberfläche des Verbindungsteils
des Trägerelements 205 Nickel plattiert. Durch Erhöhen
der Verbindungs- oder Hafteigenschaft kann die Luftdicht
heit somit gesteigert werden.
In Fig. 23 ist schematisch ein Beispiel gezeigt, wobei das
erfindungsgemäße Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen für eine UHV-
Behandlungsvorrichtung bei einem Anbau an eine Röntgenstrahlen-
Meßvorrichtung zur Anwendung kommt. Die Fig. 23 zeigt
ein Objekt 211, eine Objekt-Fertigungsvorrichtung 212, eine
UHV-Vorrichtung 213, einen Exhaustor 214, eine Röntgenstrahlen-
Anregevorrichtung 215, Absperrschieber 216-221, einen
Exhaustor 222, einen Halbleiterdetektor 223, einen Vakuum
behälter 224, einen Flüssigstickstoffbehälter 225 und ein
Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen 241.
Es wird nun davon ausgegangen, daß die Röntgen-Meßvorrichtung
durch den Absperrschieber 216 in einem solchen Zustand mon
tiert wird, daß die UHV-Vorrichtung 213 ein ultrahohes Vakuum
in der derart konstruierten Vorrichtung erzeugt. Zuerst
wird ein Röntgenspektrum-Nachweissystem 300 am Absperr
schieber 218 abgetrennt. Dann werden die Absperrschieber 216
und 217 geschlossen, während die Absperrschieber 219 und 220
geöffnet werden. Durch den Absperrschieber auf beiden Seiten
des Vakuumtrennfensters 241 abgegrenzte Lufträume
Ia und Ib werden gleichzeitig durch den Exhaustor 222 eva
kuiert derart, daß am Vakuumtrennfenster 241 kein
Differenzdruck zur Wirkung kommt. Dann erfolgt bezüglich
des vom Durchlaßfenster 241 sowie den Absperrschiebern 216
und 219 abgegrenzten Luftraums Ia eine Wärme- oder thermische
Trocknungsbehandlung. Auf diese Weise wird ein im
genannten Luftraum enthaltener Wasseranteil vermindert.
Aufgrund der Verwendung des Vakuumtrennfensters
241 gemäß dieser Erfindung werden in diesem Fall dieselben
Wirkungen wie diejenigen bei den Beispielen 16 und 17 erhalten.
Nach Abschluß der Wärmebehandlung wird durch den Ab
sperrschieber 218 das Röntgenspektrum-Nachweissystem 300
angeschlossen. Die Absperrschieber 219 und 220 werden ge
schlossen, während der Absperrschieber 221 geöffnet wird.
Ein durch die Absperrschieber 217, 218 und 221 bestimmter
Raum wird durch den Exhaustor 222 in ausreichender Weise
evakuiert. Dann wird der Absperrschieber 221 geschlossen,
während die Absperrschieber 217, 220, 216 und 218 geöffnet
werden. In diesem Zustand ist der HV-Bereich auf der Seite
des Röntgenspektrum-Nachweissystems 300 vom UHV-Bereich auf
der Seite der UHV-Vorrichtung 213 getrennt. Der im Vakuum
auf der Seite des Nachweissystems 300 verbleibende Wasser
gehalt kontaminiert nicht das Vakuum auf der Seite der
UHV-Vorrichtung 213. Durch eine Manipulation der Absperr
schieber, so daß der Differenzdruck nicht zur Wirkung ge
bracht wird, wie oben beschrieben wurde, kann das Weich
strahlen-Durchlaßfenster 241 auf ein Maß so dünn wie annähernd
100 nm reduziert werden. Die weichen Röntgenstrahlen
können leistungsfähig gemessen werden. Es ist deshalb möglich,
die weichen Röntgenstrahlen, die von den Lichtelementen
emittiert werden, in der Größenordnung von 1 keV oder
darunter zu messen. Die Vorgänge des Öffnens und Schließens
der Absperrschieber 216-221 sind nicht auf die oben er
wähnten begrenzt.
Es ist zu bemerken, daß dieselben Wirkungen wie in den jeweils
oben besprochenen Beispielen auch bei Verwendung
einer Gallium enthaltenden Legierung anstelle von Gallium,
wie es in den Beispielen 16 und 18 angewende wird, er
langt werden können. Es wird im folgenden ein Herstellungs
verfahren sowie eine Funktion im Fall der Verwendung einer
als Ersatz für das Gallium 203 im Beispiel 16 (s. Fig. 21)
zur Anwendung gelangenden Legierung gegeben, die aus 75,5
Gew.-% an Gallium und 24,5 Gew.-% an Indium besteht. Diese
Legierung mit den angegebenen Gewichtsanteilen hat einen
Schmelzpunkt von 15,7°C. Wenn die Legierung einmal ge
schmolzen worden ist, liegt sie aufgrund einer Unter
kühlungserscheinung auch dann im verflüssigten Zustand vor,
wenn der Schmelzpunkt oder ein tieferer Punkt, z. B. 10°C,
durch die Temperatur erreicht wird.
Die aus 75,5 Gew.-% an Gallium und 24,5 Gew.-% an Indium
bestehende Legierung 203 wird auf das Trägerelement 202 auf
getragen, um das Bauelement des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen
201 zu verbinden. Die genannte Legierung ist eine Flüssig
keit, weshalb das Trägerelement 202 bei Raumtemperatur in
einem gewöhnlichen Laboratorium ohne sein Erhitzen verbunden
werden kann. Die Vakuumkammer unterliegt einer Wärmebehandlung
normalerweise bei 150°C. Die aus 75,5 Gew.-% an Gallium
und 24,5 Gew.-% an Indium bestehende Legierung 203
nimmt während des Wärmebehandlungsvorgangs einen flüssigen
Zustand an. Somit besteht keine Möglichkeit, wonach die
auf einem Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen
dem Bauelement des Vakuumtrennfensters 201 und dem dieses
Element 201 lagernden Trägerelement 202 beruhende Spannung
auf die Fensterschicht für Weichstrahlen 32 aufgebracht wird,
wodurch ansonsten diese Schicht beschädigt würde. Ferner
wird die genannte Legierung im verflüssigten Zustand in
einer Einbaustelle einer üblichen Versuchseinrichtung
nicht verfestigt. Deshalb wirkt die auf Volumenänderungen
der Legierung, die durch das Erstarren hervorgerufen werden,
zurückzuführende Spannung nicht auf die Weichstrahlen-Durch
laßschicht.
Ferner hat die aus 75,5 Gew.-% an Gallium und 24,5 Gew.-%
an Indium bestehende Legierung eine Viskosität und Oberflächen
spannung. Das Bauelement des Vakuumtrennfensters
201 wird, wie beispielsweise in Fig. 24 gezeigt ist, mit
einem ICF152-Flansch aus rostfreiem Strahl (SUS304) unter
Verwendung der vorstehend definierten Legierung verbunden.
Diese Legierung mit den oben angegebenen Gewichtsanteilen an
Gallium und Indium fließt auch dann nicht aus, wenn sie
auf 150°C erwärmt wird, und deshalb wird das
Bauelement des Vakuumtrennfensters 201 eindeutig festgehalten. Der UHV-Bereich
B und der Druckreduktionsbereich A können luftdicht gehalten
werden. Die aus 75,5 Gew.-% Gallium und 24,5 Gew.-% Indium
bestehende Legierung hat eine höhere Viskosität als Gallium
und ist insofern gut dem rostfreien Stahl (SUS304) angepaßt.
Zusätzlich liegt der Dampfdruck von Gallium oder Indium bei
1,33 · 10-8 Pa oder darunter bei 150°C. Das ultrahohe Vakuum
wird insofern während des Wärmebehandlungsprozesses, der notwendig
ist, um das ultrahohe Vakuum zu erreichen, nicht
kontaminiert.
Bei der oben gegebenen Beschreibung wurde der Fall der Ver
wendung der Legierung behandelt, die aus 75,5 Gew.-% an Gallium
und 24,5 Gew.-% an Indium besteht und den minimalen
Schmelzpunkt von 15,7°C hat, wobei diese Legierung als
die Gallium enthaltende Legierung definiert wurde. Die Legierung
ist jedoch nicht hierauf beschränkt. Wie den Zu
standsdiagrammen der beigefügten Fig. 25 und 26 zu entnehmen
ist, zeigt unter den Gallium-Indium-Legierungen eine solche
mit einem Gewichtsanteil an Indium, der kleiner als etwa
30% ist, einen Schmelzpunkt von 15,7-29,8°C. Ferner
zeigt unter den Gallium-Zinn-Legierungen eine solche mit
einem Gewichtsanteil an Zinn, der kleiner als etwa 15% ist,
einen Schmelzpunkt von 20,5-29,8°C unter den 29,8°C, d. h.
dem Schmelzpunkt von Gallium. Bei einer Wärmebehandlung wird
die Legierung verflüssigt. Auf die Vakuumtrennfenster für Weichstrahlen
wird keine Spannung aufgebracht, die auf einem Unter
schied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen dem
Bauelement des Vakuumtrennfensters und dem Trägerelement
beruht. Deshalb kann eine Dicke der Fensterschicht
soweit wie möglich vermindert werden. Es ist auch
möglich, leistungsfähig die Röntgenstrahlung des Weichstrahlen
bereichs zu übertragen. Ferner zeigen die Gallium-Indium-
und die Gallium-Zinn-Legierung im verflüssigten Zustand eine
Viskosität und Oberflächenspannung. Es ist deshalb ein Auf
rechterhalten der Luftdichtheit des Druckreduktionsbereichs
und des UHV-Bereichs zu erreichen. Ferner haben die Gallium
enthaltenden Legierungen, d. h. die Gallium-Indium- und die
Gallium-Zinn-Legierung, einen niedrigen Dampfdruck bei einer
Wärmebehandlungs- oder thermischen Trocknungstemperatur.
Während des Wärmebehandlungsvorgangs kontaminieren diese Le
gierungen das ultrahohe Vakuum nicht. Deshalb ist eine Wärme
behandlung, die zum Erreichen des ultrahohen Vakuums not
wendig ist, durchführbar.
Vorstehend wurde beispielhaft der Fall erörtert, wobei das
Bauelement des Vakuumtrennfensters für Weichstrahlen mit dem eine Öffnung
aufweisenden Trägerelement verbunden wird, um das
Bauelement des Vakuumtrennfensters zum
Herausführen der weichen Röntgenstrahlen zu lagern. Die An
ordnung ist jedoch keineswegs hierauf beschränkt. Es ist
selbstverständlich möglich, in der Anwendung auf denjenigen
Fall, wobei zwei Substanzen mit unterschiedlichen Wärme
dehnungskoeffizienten verbunden werden, keine Spannung aus
zuüben.
Wie beschrieben wurde, werden erfindungsgemäß die Vakuumbe
reiche durch die Fensterschicht getrennt. Auf der Grundlage dieser
Konstruktion werden die folgenden Effekte hervorgerufen.
Der Durchlaßgrad von Strahlung im Vakuumtrennfenster
kann erhöht werden. Die Verzerrung und Streuung von
Strahlung in der Fensterschicht kann darüber hinaus vermindert
werden. Ferner sind die Vakuumbereiche durch das Fensterschicht
element getrennt. Auf der Grundlage dieser Konstruktion
werden diejenigen Wirkungen geboten, daß der Durchlaßgrad
der Strahlung im Vakuumtrennfenster erhöht
werden kann. Außerdem können die Verzerrung und Streuung
im Fensterelement vermindert werden.
Darüber hinaus kann die Dicke der Fensterschicht mit 1 µm oder
darunter festgesetzt werden. Durch diese Ausbildung werden die folgenden
Effekte erzielt, daß nämlich der Durchlaßgrad der
Strahlung gesteigert werden kann und ferner das für die Fensterschicht
verwendete Material keiner Beschränkung unterliegt.
Des weiteren wird für die Fensterschicht ein Wärmebeständigkeits
vermögen gegenüber Temperaturen, die gleich oder höher als
100°C sind, vorgesehen. Diese Ausbildung bringt die Wirkungen
hervor, wonach die Fensterschicht ausgezeichnet auch in
einer Hochtemperaturatmosphäre zu verwenden ist, um Wärme
aufzunehmen, und darüber hinaus kann eine für das ultrahohe
Vakuum notwendige Wärmebehandlung durchgeführt werden.
Ferner kann der Wellenlängenbereich der Strahlung so ausgelegt werden,
daß er ein Röntgenstrahlenbereich wird. Folglich werden Wirkungen
hervorgerufen, daß der Durchlaßgrad der Röntgenstrahlung
gesteigert und ferner die Verzerrung und Streuung der
Röntgenstrahlung in der Fensterschicht vermindert werden können.
Außerdem kann der Röntgenstrahlenbereich so projektiert werden, daß
er zum weichen Röntgenstrahlenbereich wird. Bei dieser Ausbildung
werden die Wirkungen geboten, wobei der Durchlaßgrad
der weichen Röntgenstrahlung erhöht wird. Ferner können die
Verzerrung und Streuung der weichen Röntgenstrahlung in der
Fensterschicht herabgesetzt werden.
Des weiteren kann der Wellenlängenbereich der Strahlung so ausgelegt werden,
daß er zum IR-Strahlenbereich wird. Durch diese Ausbildung
werden die folgenden Effekte erzielt. Der Durchlaßgrad der
IR-Strahlung kann erhöht werden. Darüber hinaus werden die
Verzerrung und Streuung der IR-Strahlung in der Fensterschicht
vermindert.
Darüber hinaus kann der Wellenlängenbereich so bestimmt werden,
daß er zum sichtbaren Strahlungsbereich wird. Auf der Grund
lage dieser Ausbildung werden die folgenden Wirkungen erzielt.
Der Durchlaßgrad der sichtbaren Strahlung kann gesteigert
werden. Außerdem können die Verzerrung und Streuung
der sichtbaren Strahlen vermindert werden.
Des weiteren kann der Wellenlängenbereich so projektiert
werden, daß er zum UV-Strahlungsbereich wird. Durch diese
Konstruktion werden die Resultate erzielt, daß der Durchlaß
grad der UV-Strahlung erhöht werden kann, und darüber hinaus
können die Verzerrung und Streuung der UV-Strahlung in der
Fensterschicht herabgesetzt werden.
Außerdem kann der UV-Strahlenbereich so festgelegt werden, daß er
zum Vakuum-UV-Strahlenbereich wird. Diese Ausbildung führt
zu den folgenden Wirkungen. Der Durchlaßgrad der Vakuum-UV-
Strahlung kann erhöht werden. Weiterhin können die Verzerrung
und Streuung der Vakuum-UV-Strahlung in der Fensterschicht
vermindert werden.
Durch die Schicht, die aus Metall oder einer Legierung
besteht, die eine Flüssigkeit im Temperaturbereich
der zur Anwendung gelangenden Umgebung produzieren, zwischen
der Fensterschicht und dem Trägerelement
werden die folgenden Vorteile erzielt.
Die Einwirkung der Spannung, die auf der mit der Erstarrung einhergehenden Vo
lumenänderung beruht, auf
die Fensterschicht wird verhindert. Es ist auch zu erreichen, ein
Einwirken der Spannung auf die Dünnschicht zu verhindern,
die auf dem Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen
dem Trägerelement und der Dünnschicht beruht, und
zwar während der Wärmebehandlung, die für das ultrahohe Vakuum
notwendig ist. Insofern kann die Dicke der Dünn
schicht mit 1 µm oder weniger festgesetzt werden. Die
Durchlaßgrade der Strahlung im weichen Röntgenstrahlungsbereich
und im IR-Strahlungsbereich des Vakuumtrennfensters
werden erhöht. Ferner können die Verzerrung und Streuung
in der Fensterschicht vermindert werden.
Darüber hinaus kann wenigstens einer aus der Mehrzahl der
Vakuumbereiche so ausgelegt werden, daß er ein ultrahoher Vakuumbe
reich in der Größenordnung von 1,33 · 10-5 Pa wird. Durch
diese Auslegung werden die folgenden Effekte erzielt. Der
ultrahohe Vakuumbereich und der Vakuumbereich werden ge
trennt. Der Durchlaßgrad der Strahlung kann darüber hinaus ge
steigert werden.
Wird die Fensterschicht als Dickschicht ausgestaltet,
besteht keine Notwendigkeit, die
mit dem Schmelzen und Abdichten im O-Ring verbundene Spannung
auf die Dickschicht aufzubringen. Es wird keine Doppel
brechung hervorgerufen. Ferner kann auch hier verhindert werden, daß
die auf dem Unterschied im Wärmedehnungskoeffizienten zwischen
dem Trägerelement und der Dickschicht beruhende Spannung
während der für das ultrahohe Vakuum notwendigen Wärme
behandlung auf die Dickschicht einwirkt.
Claims (13)
1. Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster, enthaltend:
- - eine die Strahlung durchlassende Fensterschicht,
- - ein Trägerelement, das diese Fensterschicht trägt, und
- - ein Metall oder eine Legierung, das/die zwischen der Fensterschicht sowie dem Trägerelement vorgesehen ist, und in einem Temperaturbereich einer Betriebsumgebung eine flüssige Phase aufweist, wobei durch die Fensterschicht eine Trennung in verschiedene Vakuumbereiche erfolgt.
2. Vakuumtrennfenster nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Dicke der Fensterschicht 1 µm oder
weniger beträgt.
3. Vakuumtrennfenster nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Fensterschicht ein
Hitzebeständigkeitsvermögen gegenüber Temperaturen von
mindestens 100°C besitzt.
4. Vakuumtrennfenster nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß das Metall Gallium und die
Legierung eine solche ist, die Gallium enthält.
5. Vakuumtrennfenster nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Gallium enthaltende Legierung
entweder eine Gallium-Indium- oder eine Gallium-Zinn-
Legierung ist.
6. Vakuumtrennfenster nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Gallium-Indium-Legierung eine solche
ist, die 75,5 Gew.-% an Gallium und 24,5 Gew.-% an Indium
enthält.
7. Vakuumtrennfenster nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß wenigstens einer der Vakuumbereiche ein
Ultrahochvakuumbereich in der Größenordnung von 1,33 · 10-5 Pa
(10-7 Torr) ist.
8. Verwendung eines Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfensters
nach einem der Ansprüche 1 bis 7 für eine Strahlung im
Röntgenstrahlenbereich.
9. Verwendung eines Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfensters
nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Röntgen
strahlenbereich ein Bereich weicher Röntgenstrahlen ist.
10. Verwendung eines Strahlendurchlaß-Vakuumtrennfensters nach
einem der Ansprüche 1 bis 7 für eine Strahlung im
Infrarotstrahlenbereich.
11. Verwendung eines Strahlendurchlaß-Vakuumtrennfensters nach
einem der Ansprüche 1 bis 7 für eine Strahlung im Bereich
sichtbarer Strahlen.
12. Verwendung eines Strahlendurchlaß-Vakuumtrennfensters nach
einem der Ansprüche 1 bis 7 für eine Strahlung im Bereich
von Ultraviolettstrahlen.
13. Verwendung eines Strahlendurchlaß-Vakuumtrennfensters nach
Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Ultraviolett
strahlenbereich ein Vakuum-UV-Strahlenbereich ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP661792 | 1992-01-17 | ||
JP13058192 | 1992-05-22 | ||
JP4343525A JP3022014B2 (ja) | 1992-01-17 | 1992-12-01 | 光透過型真空分離窓及び軟x線透過窓 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4301146A1 DE4301146A1 (de) | 1993-07-22 |
DE4301146C2 true DE4301146C2 (de) | 1998-01-29 |
Family
ID=27277248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4301146A Expired - Fee Related DE4301146C2 (de) | 1992-01-17 | 1993-01-18 | Strahlungsdurchlaß-Vakuumtrennfenster und seine Verwendung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5317618A (de) |
JP (1) | JP3022014B2 (de) |
DE (1) | DE4301146C2 (de) |
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JP3022014B2 (ja) | 2000-03-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee | ||
8370 | Indication of lapse of patent is to be deleted | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |