DE4125411A1 - Schaltung zur dynamischen eingangssignal-abfrage fuer kapazitive digital/analog-umsetzer - Google Patents
Schaltung zur dynamischen eingangssignal-abfrage fuer kapazitive digital/analog-umsetzerInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf Abfrage-Schaltungen bzw.
Abfrage-MOSFET-Schalter und insbesondere auf einen Ab
frage-MOSFET-Schalter, der einen konstanten Kanalwider
stand RDS hat, wodurch das Entstehen von Verzerrungen
des abgefragten Signals vermieden ist.
Fig. 2 zeigt einen herkömmlichen Analog-Abfrageschal
ter, der einen N-Kanal-MOSFET 3 enthält, dessen Gate an
eine Spannung +V angeschlossen ist, dessen Source über
einen Leiter 2 eine analoge Eingangsspannung VIN auf
nimmt und dessen Drain über einen Abtast- bzw. Abfrage
kondensator 5 mit einem Leiter 7 verbunden ist. Der
Leiter 7 ist an einen Schaltungsaufbau angeschlossen,
in dem die abgefragte Spannung benötigt wird. Ein N-Ka
nal-MOSFET 6 ist "Erdungstransistor", der einen Belag
des Abfrage-Kondensators 5 mit Masse verbindet, wenn
dieser über den Abfrage-MOSFET 3 auf die Spannung VIN
aufgeladen wird. Die Grundmaterial- bzw. Sustrat-Elek
trode des MOSFET 3 ist an eine Spannung -V angeschlos
sen. Ein Problem der Schaltung nach Fig. 2 besteht
darin, daß die Gate-Source-Schwellenspannung, die teil
weise den Kanalwiderstand RDS des MOSFET 3 bestimmt,
ziemlich niedrig ist, nämlich typischerweise nur einige
wenige Volt beträgt. Bei einer Änderung von VIN zwi
schen +5V und -5V ändert sich die Gate-Source-Spannung
beträchtlich. Diese Änderung der Gate-Source-Spannung
verursacht eine Änderung des Kanalwiderstands des Ab
frage-MOSFET 3. Ferner ist die Schwellenspannung VTN
des MOSFET 3 stark von der Spannung zwischen der
Source-Elektrode und der Substrat-Elektrode desselben
abhängig. Wenn sich die Spannung VIN ändert, ändert
sich die Source-Substrat-Spannung beträchtlich, wodurch
weitere Änderungen des Kanalwiderstands des Abfrage
MOSFET 3 als Funktion der Eingangsspannung VIN entste
hen. Infolgedessen entstehen in beträchtlichem Ausmaß
harmonische Verzerrungen an dem Abfragewert von VIN,
der an dem Abfrage-Kondensator 5 durch dessen Laden
über den Kanalwiderstand RDS des Abfrage-MOSFET 3 ge
speichert wird. Wenn der Leiter 7 an die Kondensator-
Anordnung eines kapazitiven Digital/Analog-Umsetzers
(C-DAU) angeschlossen ist, verursachen die harmonischen
Verzerrungen folglich Fehler der von dem DAU zur Dar
stellung der sich zeitlich ändernden analogen Eingangs
spannung VIN abgegebenen digitalen Ausgangsspannung.
Auf ganz ähnliche Weise rufen herkömmliche CMOS-Durch
laßschaltglieder harmonische Verzerrungen hervor.
Demgemäß liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine
MOSFET-Abfrageschaltung zu schaffen, bei der das Ent
stehen von harmonischen Verzerrungen an Abfrageproben
einer analogen Eingangsspannung vermieden ist.
Ferner soll mit der Erfindung eine MOSFET-Abfrageein
richtung geschaffen werden, bei der der Kanalwiderstand
bei Änderungen der abgefragten analogen Eingangsspan
nung im wesentlichen konstant gehalten ist.
Mit der Erfindung soll ein Analog-Abfrageschalter für
einen kapazitiven Digital/Analog-Umsetzer mit verrin
gerter harmonischer Verzerrung geschaffen werden.
Zur Lösung der Aufgabe wird mit der Erfindung gemäß ei
nem Ausführungsbeispiel eine verzerrungsarme Spannungs-
Abfrageschaltung geschaffen, die einen Abfrage-MOSFET
enthält, der an seiner Source-Elektrode eine abzufra
gende, sich zeitlich ändernde Eingangsspannung auf
ninmt. Ein Abfrage-Kondensator ist mit einem ersten An
schluß an die Drain-Elektrode des Abfrage-MOSFET und
mit einem zweiten Anschluß an die Drain-Elektrode eines
Erdungs-MOSFET angeschlossen. Ein Mitlaufspannungs-Kon
densator ist mit einem ersten Anschluß an die Gate-
Elektrode des Abfrage-MOSFET und an einen ersten MOSFET
angeschlossen, der den ersten Anschluß des Mitlaufspan
nungs-Kondensators sowie die Gate-Elektrode des Abfra
ge-MOSFET auf eine erste Spannung auflädt. Der erste
MOSFET lädt den ersten Anschluß des Mitlaufspannungs-
Kondensators und die Gate-Elektrode des Abfrage-MOSFET
entsprechend einem ersten Steuersignal auf. Ein in be
zug auf das erste Steuersignal verzögertes zweites
Steuersignal wird an das Gate eines zweiten MOSFET an
gelegt, dessen Drain-Elektrode mit dem zweiten Anschluß
des Mitlaufspannungs-Kondensators verbunden ist. Das
verzögerte Steuersignal hält den zweiten MOSFET einge-
schaltet, bis das Laden der Gate-Elektrode des Abfrage
MOSFET und des ersten Anschlusses des Abfrage-Kondensa
tors beendet ist. Danach schaltet das zweite Steuersi
gnal einen dritten MOSFET ein, durch den der erste und
zweite Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators hoch
gelegt werden. Das zweite Steuersignal wird von der Ba
sis des dritten MOSFET weggeschaltet, wodurch die Gate-
Elektrode des Abfrage-MOSFET elektrisch isoliert wird.
Änderungen der sich zeitlich verändernden Eingangsspan
nung werden über die Gate-Source-Kapazität des Abfrage
MOSFET zu dessen Gate-Elektrode eingekoppelt. Zugleich
wird die Eingangsspannung an eine Source-Folger-Schal
tung angelegt, deren Ausgangssignal über ein CMOS-
Durchlaßschaltglied zu der Substrat-Elektrode des Ab
frage-MOSFET geleitet wird, wodurch der Substrateffekt
des Abfrage-MOSFET konstant gehalten wird. Mit der be
schriebenen Schaltung werden durch eine Modulation des
Kanalwiderstands des Abfrage-MOSFET verursachte harmo
nische Verzerrungen dadurch vermieden, daß die Gate-
Source-Spannung und die Source-Substrat-Spannung im we
sentlichen von der Eingangsspannung unabhängig gehalten
werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausfüh
rungsbeispiels unter Bezugnahme auf die Zeichnungen nä
her erläutert.
Fig. 1 ist ein Schaltbild des erfindungsgemäßen
Abfrage-MOSFET-Schalters gemäß einem Aus
führungsbeispiel.
Fig. 2 ist ein Schaltbild eines herkömmlichen Ab
frage-MOSFET-Schalters.
Fig. 3 ist ein Zeitdiagramm für die Beschreibung
der Funktion der Schaltung nach Fig. 1.
Gemäß Fig. 1 enthält eine Spannungs-Abfrageschaltung 1
einen Eingangsleiter 2, der eine sich zeitlich verän
dernde analoge Eingangsspannung VIN aufnimmt. Die Span
nung VIN ist an die Source-Elektrode eines N-Kanal-Ab
frage-MOSFET 3 angelegt. (Es ist für den Fachmann er
sichtlich, daß gemäß Fig. 1 "Source"-Elektrode belie
big festgelegt ist, so daß daher die Source und der
Drain eines MOSFET vertauschbar sind, von denen die
Elektrode mit der höchsten Spannung für einen N-Kanal-
MOSFET und mit der niedrigsten Spannung für einen P-Ka
nal-MOSFET als Source wirkt und die andere als Drain
wirkt.) Die Drain-Elektrode des Abfrage-MOSFET 3 ist
über einen Leiter 4 mit einem Belag eines Abfrage-Kon
densators 5 verbunden, dessen anderer Belag über einen
Leiter 7 mit der Drain-Elektrode eines Erdungs-N-Kanal-
MOSFET 6 sowie ferner mit dem Eingang einer Verarbei
tungsschaltung wie mit einer Kondensator-Anordung 10
eines kapazitiven Digital/A-Umsetzers verbunden ist.
Die Körper-, Massen- oder Substrat-Elektrode des Abfra
ge-MOSFET 3 ist über einen Leiter 16 mit einem CMOS-
Übertragungs-Schaltglied verbunden, das aus einem P-Ka
nal-MOSFET 14 und einem N-Kanal-MOSFET 15 besteht. Der
andere Anschluß des CMOS-Übertragungs-Schaltglieds 14,
15 ist über einen Leiter 12 mit der Source-Elektrode
und der Substrat-Elektrode eines N-Kanal-Source-Folger-
MOSFET 11 verbunden, dessen Drain-Elektrode an die
Spannung +V angeschlossen ist. Das Gate des MOSFET 11
ist an den Leiter 2 angeschlossen. Eine an den Leiter
12 angeschlossene Stromquelle 13 bestimmt den Source-
Strom des Source-Folger-MOSFET 11.
Ein Spannungssignal VA, dessen Kurvenform in Fig. 3
gezeigt ist, wird an die Gate-Elektrode des P-Kanal-
MOSFET 14 des Übertragungs-Schaltglieds sowie ferner an
die Gate-Elektrode eines N-Kanal-MOSFET 18 angelegt,
dessen Source an die Spannung -V angeschlossen ist und
dessen Drain mit dem Leiter 16 verbunden ist. Das Kom
plement von VA, nämlich VA wird an die Gate-Elektrode
des N-Kanal-MOSFET 15 des Übertragungs-Schaltglieds an
gelegt.
Die Gate-Elektrode des Abfrage-MOSFET 3 ist über einen
Leiter 20 mit einem Belag eines Mitlaufspannungs-Kon
densators 21 mit 2,0 pF verbunden, dessen anderer Belag
über einen Leiter 22 mit der Source eines N-Kanal-
MOSFET 23 und dem Drain eines N-Kanal-MOSFET 24 verbun
den ist. Das Gate des MOSFET 23 nimmt ein zweites Steu
ersignal VB auf, dessen Kurvenform in Fig. 3 gezeigt
ist, während der Drain des MOSFET 23 an die Spannung +V
angeschlossen ist. Die Gate-Elektrode des MOSFET 24 ist
über einen Leiter 25 mit dem Ausgang eines CMOS-Inver
ters 26 und mit einem Belag eines Kondensators 27 mit
1,2 pF verbunden, dessen anderer Belag geerdet ist. Die
Source-Elektrode des MOSFET 24 ist an die Spannung -V
angeschlossen.
Der Eingang des Inverters 26 ist über eine Leiter 30
mit dem Ausgang eines CMOS-Inverters 31 verbunden. Der
Eingang des CMOS-Inverters 31 nimmt das Signal VA auf,
welches auch an den Eingang eines CMOS-Inverters 33A,
33B angelegt wird. Der CMOS-Inverter 33A, 33B enthält
einen N-Kanal-MOSFET 33B, dessen Source an die Spannung
-V angeschlossen ist und dessen Drain mit der Drain-
Elektrode eines P-Kanal-MOSFET 33A verbunden ist. Die
Source des MOSFET 33A ist statt mit +V mit Masse ver
bunden. Die Drains der Anhebungs-MOSFET der CMOS-Inver
ter 26 und 31 sind an +V angeschlossen, wie es durch
die Invertersymbole hierfür in Fig. 1 dargestellt ist.
Der Leiter 30 ist mit der Gate-Elektrode eines Source-
Folger-N-Kanal-MOSFET 32 verbunden, dessen Drain an +V
angeschlossen ist und dessen Source mit dem Leiter 20
verbunden ist. Die Substrat-Elektrode des MOSFET 32 ist
mit dem Ausgang des Inverters 33A, 33B verbunden.
Bei der folgenden Erläuterung der Funktion der Abfrage-
Schaltung 1 ist angenommen, daß +V=+5 V ist und
-V=-5 V ist. Wenn zu Beginn die Schaltung 1 nicht in
die Abfrage-Betriebsart geschaltet ist, sind gemäß Fig.
3 das Signal VA auf +5 V und das Signal VB auf -5 V.
Der MOSFET 18 ist eingeschaltet, während die Substrat-
Elektrode, nämlich die P-Quellen-Elektrode des MOSFET 3
auf der Spannung -V liegt. Während der Betriebsart ohne
Abfrage ist es anzustreben, die Substrat-Elektrode des
Abfrage-MOSFET 3 auf negative Spannung zu legen, um ei
ne Durchlaß-Vorspannung der Source-Substrat-Diode zu
verhindern.
Die Spannung an dem Leiter 30 ist anfänglich -V, so daß
der MOSFET 32 gesperrt ist. Die Spannung an dessen Sub
strat-Elektrode, die an den Ausgang des Inverters (33A,
33B) angeschlossen ist, ist gleichfalls -V. Der MOSFET
23 ist anfänglich abgeschaltet, da das Signal VB die
Spannung -V hat. Der MOSFET 24 ist eingeschaltet, wo
durch die Leitung 22 an -V angelegt ist.
Bei einem Abfrage-Vorgang erfolgt als erstes an dem Si
gnal VA ein Übergang 39 (Fig. 3) von +5 V auf -5 V. Die
Kapazität C2 des Kondensators 27, die ungefähr 1,2 pF
beträgt, ruft in Verbindung mit dem Widerstand eines
Absenk-MOSFET in dem Inverter 26 eine Verzögerung von
ungefähr 30 ns vor dem Abschalten des MOSFET 24 hervor.
Während dieser Verzögerungsszeit steigt die Spannung an
dem Leiter 30 auf +V an, wodurch der MOSFET 32 einge
schaltet wird. Der MOSFET 19 wird ausgeschaltet, nach
dem er zuvor bei dem Signal VA mit +5 V eingeschaltet
gehalten wurde und den Leiter 20 auf -V gehalten hat.
Dabei wird der Leiter 20 um eine Schwellenspannung an
die Spannung +V herangezogen. Als Schwellenspannung des
MOSFET 32 ist 1 V anzunehmen. Da die Spannung +V die
Spannung +5 V ist, steigt die Spannung an dem Leiter 20
plötzlich auf +4 V an, wodurch der Kondensator 21 und
das Gate des Abfrage-MOSFET 3 während der durch den In
verter 26 und den Kondensator 27 hervorgerufenen Verzö
gerungszeit auf +4 V aufgeladen werden. Danach ist der
MOSFET 24 ausgeschaltet, wodurch der Leiter 22 elek
trisch potentialfrei wird.
Wenn VA zu "Null" wird, werden die Übertragungs-Schalt
glied-MOSFET 14 und 15 eingeschaltet, während der
MOSFET 18 ausgeschaltet wird. Die Spannung an dem Lei
ter 12 ist dann VIN abzüglich der Schwellenspannung VTN
des Source-Folger-MOSFET 11 und wird direkt an den Sub
strat-Elektroden- bzw. P-Quellen-Leiter 16 angelegt,
wodurch an dem Abfrage-MOSFET 3 eine konstante Source-
Substrat-Spannung aufrecht erhalten wird.
Als nächstes erfolgt an dem Signal VB ein Übergang 40
(Fig. 3) von -5 V auf +5 V, wodurch der MOSFET 23 einge
schaltet wird. Hierdurch werden der Leiter 22 und der
daran angeschlossene Belag des Mitlaufspannungs-Konden
sators 21 von Massepotential auf +5 V abzüglich der
Schwellenspannung des MOSFET 23 von 1 V, nämlich auf un
gefähr +4 V angehoben. Hierdurch wird die Spannung an
dem Leiter 20 von +4 V auf ungefähr +8 V angehoben, wo
durch der MOSFET 32 vollständig ausgeschaltet wird. Als
nächstes tritt an dem Signal VB ein Übergang 41 von +V
auf -V auf, wodurch der MOSFET 23 ausgeschaltet wird.
Danach ist der Leiter 22 wiederum elektrisch potential
frei. Infolgedessen ist auch der Leiter 20 elektrisch
potentialfrei.
Irgendwelche Änderungen bei der Eingangsspannung VIN
werden dann auf kapazitive Weise über die Gate-Source-
Kapazität CGS von dem Leiter 2 zu dem Leiter 20 gekop
pelt, da kein anderer Ladungs-Flußweg besteht. Daher
bleibt trotz der Änderungen der Spannung VIN die Gate-
Source-Kapazität des Abfrage-MOSFET 3 konstant. Infol
gedessen wird der Abfrage-Kondensator 5 durch den Strom
geladen, der von der Spannung VIN über die Source, den
Kanalwiderstand und den Drain des Abfrage-MOSFET 3
fließt, wobei vorausgesetzt ist, daß der MOSFET 6 mit
tels einer (nicht gezeigten) Auswerte-Schaltung einge
schaltet gehalten ist, wie einer solchen für die Kon
densatoranordnung 10 des kapazitiven Digital/Analog-Um
setzers oder eines geschalteten Kondensator-Integra
tors.
Auf diese Weise hält die Spannungs-Abfrage-Schaltung
nach Fig. 1 den Kanalwiderstand RDS des Abfrage-MOSFET
3 dadurch konstant, daß trotz Änderungen der Eingangs
spannung VIN während einer Eingangsspannungs-Abfrage
die beiden Spannungen VGS und VSB konstant gehalten
werden. Dadurch werden die harmonischen Verzerrungen
der an dem Abfrage-Kondensator 5 gespeicherten Abbilder
der Spannung VIN in starkem Ausmaß verringert.
In der Fig. 3 sind die Kurvenformen der Eingangsspan
nung VIN sowie der an den Leitern 20, 16 und 22 jeweils
auftretenden Spannungen V20, V16 bzw. V22 dargestellt.
Es ist anzumerken, daß der große Wert 2,0 pF des Mit
laufspannungs-Kondensators 21 dazu notwendig ist, si
cherzustellen, daß keine kapazitive Spannungsteilung
über den Kondensator 21 und eine äquivalente Kapazität
aus Streukapazitäten 36 und 37 des Abfrage-MOSFET 3
auftritt, sobald der MOSFET 23 die Spannung an dem Lei
ter 22 von Massepotential auf ungefähr +4 V anhebt.
Hierdurch ist bei der Abfrage der höchste Pegel an dem
Leiter 20 und der niedrigste Kanalwiderstand RDS des
MOSFET 3 sichergestellt.
Der Grund für das Verbinden der Substrat-Elektrode des
MOSFET 32 mit dem Ausgang des Inverters 33A, 33B be
steht darin, die Gegenvorspannung an einer Diode zu
verringern, die aus der N-Source-Elektrode des MOSFET
32 und der P-Quellen-Zone besteht, in welche diese ge
bildet ist, wenn die Spannung an dem Leiter 20 auf un
gefähr +8 V angehoben ist. Diese Gegenvorspannung würde
13 V betragen, was zu nahe an der zulässigen Source-Sub
strat-Sperrdurchbruchs-Spannung liegt.
Eine verzerrungsarme kapazitive Abfrage-Schaltung ent
hält einen Abfrage-MOSFET, dessen Source-Elektrode eine
sich zeitlich ändernde abzufragende Eingangsspannung
aufnimmt. Ein Mitlaufspannungs-Kondensator ist mit ei
nem ersten Anschluß an die Gate-Elektrode des Abfrage
MOSFET und mit einem ersten MOSFET verbunden, der im
Ansprechen auf ein erstes Steuersignal den Mitlaufspan
nungs-Kondensator an dem ersten Anschluß auf eine erste
Spannung auflädt. Ein verzögertes zweites Steuersignal
wird an das Gate eines zweiten MOSFET angelegt, dessen
Drain-Elektrode mit dem zweiten Anschluß des Mitlauf
spannungs-Kondensators verbunden ist, um den Absen
kungs-MOSFET eingeschaltet zu halten, bis das Laden des
Abfrage-Kondensators beendet ist. Dann schaltet ein
drittes Steuersignal einen dritten MOSFET ein, wodurch
beide Anschlüsse des Mitlaufspannungs-Kondensators an
gehoben werden. Das zweite Steuersignal schaltet dann
den dritten MOSFET aus, wodurch die Gate-Elektrode des
Abfrage-MOSFET elektrisch isoliert wird. Änderungen der
sich zeitlich ändernden Eingangsspannung werden über
die Gate-Source-Kapazität des Abfrage-MOSFET zu dessen
Gate-Elektrode übertragen. Die Eingangsspannung wird
zugleich an eine Source-Folger-Schaltung angelegt, de
ren Ausgang über ein CMOS-Übertragungsschaltglied mit
der Substrat-Elektrode des Abfrage-MOSFET verbunden
ist. Mit der Schaltung werden durch eine Modulation des
Kanalwiderstands des Abfrage-MOSFET verursachte harmo
nische Verzerrungen dadurch vermieden, daß die Gate-
Source-Spannung und die Source-Substrat-Spannung von
der Eingangsspannung unabhängig gehalten werden.
Claims (9)
1. Verzerrungsarme Schaltung zum Abfragen einer
Eingangsspannung, gekennzeichnet durch
- a) einen Abfrage-MOSFET (3) mit Source-, Drain-, Gate- und Substrat-Elektrode, wobei die Source- Elektrode die Eingangsspannung (VIN) aufnimmt,
- b) einen Abfrage-Kondensator (5) mit einem an die Drain-Elektrode angeschlossenen ersten Anschluß und einem an einen Erdungs-MOSFET (6) angeschlossenen zwei ten Anschluß,
- c) einen Mitlaufspannungs-Kondensator (21) mit einem ersten Anschluß, der über einen ersten Leiter (20) an die Gate-Elektrode des Abfrage-MOSFET ange schlossen ist,
- d) eine über den ersten Leiter an die Gate- Elektrode des Abfrage-MOSFET angeschlossene erste Ein richtung (31 bis 33) zum Aufladen des ersten Anschlus ses des Mitlaufspannungs-Kondensators und der Gate- Elektrode auf eine erste Spannung, wobei die erste Ein richtung an dem ersten Leiter einen Hochimpedanz-Zu stand hervorruft, wenn die erste Spannung erreicht ist,
- e) eine an den zweiten Anschluß des Mitlauf spannungs-Kondensators angeschlossene zweite Einrich tung (22 bis 27) zum Anlegen einer zweiten Spannung an den zweiten Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators während des Ladens des ersten Anschlusses des Mitlauf spannungs-Kondensators,
- f) eine dritte Einrichtung (22 bis 27) zum An legen einer dritten Spannung an den zweiten Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators für das Erzeugen ei ner Spannung an dem ersten Leiter, die gleich ihre er sten Spannung zzgl. der Differenz zwischen der dritten und der zweiten Spannung ist, und zum drauffolgenden Hervorrufen eines Hochimpedanz-Zustandes an dem zweiten Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators, wobei Ände rungen der Eingangsspannung kapazitiv über die Gate- Source-Kapazität des Abfrage-MOSFET auf den ersten Lei ter gekoppelt werden, und
- g) einen 1 : 1-Puffer (11 bis 15), an dessen Eingang die Eingangsspannung angelegt ist und dessen Ausgang mit der Substrat-Eletrode des Abfrage-MOSFET verbunden ist, wodurch die Gate-Source-Spannung und die Source-Sub strat-Spannung des Abfrage-MOSFET und damit der Kanal widerstand des Abfrage-MOSFET im wesentlichen von den Änderungen der Eingangsspannung unabhängig sind.
2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die erste Einrichtung (31 bis 33) einen ersten
MOSFET (32) enthält, an dessen Gate das erste Steuersi
gnal angelegt ist und dessen Source mit dem ersten Lei
ter (20) verbunden ist.
3. Schaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die erste Einrichtung (31 bis 33) einen ersten
CMOS-Inverter (31) enthält, an dessen Eingang das erste
Steuersignal angelegt ist und dessen Ausgang mit dem
Gate des ersten MOSFET (32) verbunden ist.
4. Schaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß die erste Einrichtung (31 bis 33) einen zwei
ten CMOS-Inverter (33) enthält, an dessen Eingang die
erste Steuerspannung angelegt ist und dessen Ausgang
mit einer Substrat-Elektrode des ersten MOSFET (32)
verbunden ist, wobei der zweite CMOS-Inverter einen An
hebe-P-Kanal-MOSFET (33A) enthält, dessen Source mit
einem Masseleiter verbunden ist.
5. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß die zweite Einrichtung (22
bis 27) einen zweiten MOSFET (24) enthält, dessen
Source mit einem ersten Speisespannungsleiter verbunden
ist, dessen Drain mit dem zweiten Anschluß des Mitlauf
spannungs-Kondensators (21) verbunden ist und an dessen
Gate ein Signal angelegt ist, das in bezug auf das er
ste Steuersignal verzögert ist, um den zweiten MOSFET
auszuschalten, nachdem der erste Leiter (20) auf die
erste Spannung aufgeladen wurde.
6. Schaltung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich
net, daß die dritte Einrichtung (22 bis 27) einen drit
ten MOSFET (23) enthält, dessen Source mit dem zweiten
Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators (21) verbun
den ist und an dessen Gate ein zweites Steuersignal an
gelegt ist, das nach dem verzögerten Signal auftritt,
um die dritte Spannung an den zweiten Anschluß des Mit
laufspannungs-Kondensators anzulegen, wobei das dritte
Steuersignal den dritten MOSFET ausschaltet, nachdem
die dritte Spannung erreicht wurde.
7. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß der 1 : 1-Puffer (11 bis 15)
einen Source-Folger-MOSFET (11) enthält, an dessen Gate
die Eingangsspannung (VIN) angelegt ist und dessen
Source mit der Substrat-Elektrode des Abfrage-MOSFET
(3) verbunden ist.
8. Schaltung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeich
net, daß die Source des Source-Folger-MOSFET (11) über
ein durch das erste Steuersignal (VA) gesteuertes CMOS-
Übertragungsschaltglied (14, 15) mit der Substrat-Elek
trode des Abfrage-MOSFET (3) verbunden ist und daß die
Schaltung einen MOSFET (18) enthält, an dessen Gate das
erste Steuersignal angelegt ist, dessen Source mit ei
nem Speisespannungsleiter verbunden ist und dessen
Drain mit der Substrat-Elektrode des Abfrage-MOSFET
verbunden ist.
9. Verzerrungsarmes Verfahren zum Abfragen einer
Eingangsspannung, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) die Eingangsspannung an die Source eines Abfrage-MOSFET und an den Eingang eines 1 : 1-Puffers angelegt wird,
- b) das Ausgangssignal des 1 : 1-Puffers an die Substrat-Elektrode des Abfrage-MOSFET angelegt wird,
- c) ein erstes Steuersignal an das Gate eines ersten MOSFET angelegt wird, dessen Source mit dem Gate des Abfrage-MOSFET und einem ersten Anschluß eines Mit laufspannungs-Kondensators verbunden ist, um das Gate des Abfrage-MOSFET und den ersten Anschluß auf eine er ste Spannung aufzuladen,
- d) eine Spannung an das Gate eines zweiten MOSFET angelegt wird, dessen Source mit einem Speise- Spannungsleiter verbunden ist, um den zweiten MOSFET während des vorangehenden Schrittes im Einschaltzustand zu halten, und dann eine andere Spannung an das Gate des zweiten MOSFET angelegt wird, um diesen auszuschal ten, nachdem die erste Spannung erreicht worden ist,
- e) eine dritte Steuerspannung an das Gate ei nes dritten MOSFET angelegt wird, dessen Source mit dem zweiten Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators ver bunden ist, um die Spannung an dem zweiten Anschluß des Mitlaufspannungs-Kondensators durch eine zweite Span nung zu erhöhen und dadurch die Spannung an dem Gate des Abfrage-MOSFET anzuheben, und dann die dritte Steu erspannung abgeschaltet wird, um den dritten MOSFET auszuschalten, und
- f) Änderungen der Eingangsspannung über die Gate-Source-Kapazität des Abfrage-MOSFET an das Gate des Abfrage-MOSFET angelegt werden, wobei die Gate-Source-Spannung und die Source-Substrat- Spannung des Abfrage-MOSFET im wesentlichen konstant bleiben und der Kanalwiderstand des Abfrage-MOSFET im wesentlichen von der Eingangsspannung unabhängig ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/602,705 US5084634A (en) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | Dynamic input sampling switch for CDACS |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4125411A1 true DE4125411A1 (de) | 1992-04-30 |
Family
ID=24412457
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4125411A Withdrawn DE4125411A1 (de) | 1990-10-24 | 1991-07-31 | Schaltung zur dynamischen eingangssignal-abfrage fuer kapazitive digital/analog-umsetzer |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5084634A (de) |
JP (1) | JPH05151795A (de) |
DE (1) | DE4125411A1 (de) |
FR (1) | FR2668667A1 (de) |
GB (1) | GB2249233A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4300984B4 (de) * | 1992-01-17 | 2005-06-30 | Burr-Brown Corp., Tucson | Bootstrap-MOSFET-Abtastschaltstufe |
DE10049007B4 (de) * | 1999-10-08 | 2008-07-03 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Folge- und Halteschaltkreis |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2298979B (en) * | 1992-09-08 | 1997-03-26 | Fujitsu Ltd | Analog-to-digital converters |
GB9218987D0 (en) * | 1992-09-08 | 1992-10-21 | Fujitsu Ltd | Voltage storage circuits |
GB2283626B (en) * | 1993-11-05 | 1998-02-18 | Motorola Inc | Driver circuits |
US5422583A (en) * | 1994-03-08 | 1995-06-06 | Analog Devices Inc. | Back gate switched sample and hold circuit |
US5500612A (en) * | 1994-05-20 | 1996-03-19 | David Sarnoff Research Center, Inc. | Constant impedance sampling switch for an analog to digital converter |
US5638072A (en) * | 1994-12-07 | 1997-06-10 | Sipex Corporation | Multiple channel analog to digital converter |
GB2301720B (en) * | 1995-06-01 | 2000-05-24 | Motorola Inc | A MOS switching circuit |
JPH09134970A (ja) * | 1995-09-08 | 1997-05-20 | Sharp Corp | サンプリング回路および画像表示装置 |
US5650744A (en) * | 1996-02-20 | 1997-07-22 | Vlsi Technology, Inc. | Charge neutralizing system for circuits having charge injection problems and method therefor |
US5872469A (en) * | 1996-04-05 | 1999-02-16 | Analog Devices, Inc. | Switched capacitor circuit adapted to store charge on a sampling capacitor related to a sample for an analog signal voltage and to subsequently transfer such stored charge |
US5945872A (en) * | 1997-11-06 | 1999-08-31 | Analog Devices, Inc. | Two-phase boosted CMOS switch drive technique and circuit |
US6118326A (en) * | 1997-11-06 | 2000-09-12 | Analog Devices, Inc. | Two-phase bootstrapped CMOS switch drive technique and circuit |
US6072355A (en) * | 1998-01-22 | 2000-06-06 | Burr-Brown Corporation | Bootstrapped CMOS sample and hold circuitry and method |
FR2793970B1 (fr) * | 1999-05-20 | 2001-08-31 | St Microelectronics Sa | Procede de commande d'un commutateur d'un dispositif de capacite commutee, et dispositif de capacite commutee correspondant |
JP2001126492A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Agilent Technologies Japan Ltd | トラックアンドホールド回路 |
US6265911B1 (en) * | 1999-12-02 | 2001-07-24 | Analog Devices, Inc. | Sample and hold circuit having improved linearity |
US6310565B1 (en) | 2000-02-03 | 2001-10-30 | Lucent Technologies Inc. | Sampling switch having an independent “on” impedance |
US6329848B1 (en) * | 2000-04-27 | 2001-12-11 | Maxim Integrated Products, Inc. | Sample and hold circuits and methods |
US6798269B2 (en) * | 2000-07-25 | 2004-09-28 | Stmicroelectronics S.R.L. | Bootstrap circuit in DC/DC static converters |
US6486816B2 (en) * | 2001-04-03 | 2002-11-26 | Texas Instruments Incorporated | CDAC operation at low supply voltages |
US6525574B1 (en) * | 2001-09-06 | 2003-02-25 | Texas Instruments Incorporated | Gate bootstrapped CMOS sample-and-hold circuit |
DE60308346D1 (de) * | 2003-07-03 | 2006-10-26 | St Microelectronics Srl | Mit Spannungserhöhung betriebene Abtastschaltung und zugehöriges Ansteuerverfahren |
US7123038B1 (en) * | 2003-12-17 | 2006-10-17 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for performing on-chip sampling over an extended voltage range |
JP4128545B2 (ja) | 2004-05-20 | 2008-07-30 | 富士通株式会社 | サンプリングスイッチ |
US7453291B2 (en) * | 2004-09-09 | 2008-11-18 | The Regents Of The University Of California | Switch linearized track and hold circuit for switch linearization |
JP5030088B2 (ja) * | 2007-03-20 | 2012-09-19 | 株式会社半導体理工学研究センター | トラックアンドホールド回路 |
JP5018245B2 (ja) * | 2007-05-31 | 2012-09-05 | 株式会社日立製作所 | アナログスイッチ |
US7728650B2 (en) * | 2007-06-15 | 2010-06-01 | Qualcomm Incorporated | Switches with passive bootstrap of control signal |
US7830199B2 (en) * | 2008-07-02 | 2010-11-09 | Analog Devices, Inc. | Dynamically-driven deep n-well circuit |
US7928794B2 (en) * | 2008-07-21 | 2011-04-19 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for a dynamically self-bootstrapped switch |
US8289066B2 (en) * | 2009-12-30 | 2012-10-16 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd. | Gate control circuit for high bandwidth switch design |
US8248283B2 (en) | 2010-06-11 | 2012-08-21 | Texas Instruments Incorporated | Multi-channel SAR ADC |
US8115518B1 (en) * | 2010-08-16 | 2012-02-14 | Analog Devices, Inc. | Integrated circuit for reducing nonlinearity in sampling networks |
US8786318B2 (en) * | 2011-06-08 | 2014-07-22 | Linear Technology Corporation | System and methods to improve the performance of semiconductor based sampling system |
JP5700707B2 (ja) * | 2012-03-28 | 2015-04-15 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | ブートストラップスイッチ回路 |
US8994439B2 (en) * | 2012-04-19 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, image display device, storage device, and electronic device |
US8710896B2 (en) | 2012-05-31 | 2014-04-29 | Freescale Semiconductor, Inc. | Sampling switch circuit that uses correlated level shifting |
US9106210B2 (en) * | 2013-03-14 | 2015-08-11 | Analog Devices, Inc. | Low-distortion programmable capacitor array |
CN103346765A (zh) * | 2013-07-09 | 2013-10-09 | 东南大学 | 一种栅源跟随采样开关 |
US9378844B2 (en) * | 2013-07-31 | 2016-06-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device including transistor whose gate is electrically connected to capacitor |
US9362914B2 (en) | 2014-05-13 | 2016-06-07 | Mediatek Inc. | Sampling circuit for sampling signal input and related control method |
US9473165B2 (en) * | 2014-08-21 | 2016-10-18 | Qualcomm Incorporated | Reducing signal dependence for CDAC reference voltage |
US10295572B1 (en) | 2018-04-12 | 2019-05-21 | Nxp Usa, Inc. | Voltage sampling switch |
TWI789249B (zh) * | 2022-02-22 | 2023-01-01 | 瑞昱半導體股份有限公司 | 靴帶式開關 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3983414A (en) * | 1975-02-10 | 1976-09-28 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Charge cancelling structure and method for integrated circuits |
JPS55163694A (en) * | 1979-06-01 | 1980-12-19 | Fujitsu Ltd | Sample holding circuit |
JPS609370B2 (ja) * | 1980-12-24 | 1985-03-09 | 富士通株式会社 | バッファ回路 |
JPS5894232A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | Toshiba Corp | 半導体アナログスイッチ回路 |
JPS58121809A (ja) * | 1982-01-14 | 1983-07-20 | Toshiba Corp | 増幅回路 |
JPS5919436A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-01-31 | Toshiba Corp | 転送回路 |
US4651037A (en) * | 1983-06-07 | 1987-03-17 | Nec Corporation | Precision analog switching circuit employing MOS transistors |
JPS59231915A (ja) * | 1983-06-15 | 1984-12-26 | Nec Corp | 半導体装置 |
US4595845A (en) * | 1984-03-13 | 1986-06-17 | Mostek Corporation | Non-overlapping clock CMOS circuit with two threshold voltages |
SU1274147A1 (ru) * | 1985-01-07 | 1986-11-30 | Новосибирский электротехнический институт связи им.Н.Д.Псурцева | Электронный ключ |
JPS6350208A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-03 | Sony Corp | スイツチ回路 |
US4804870A (en) * | 1987-08-07 | 1989-02-14 | Signetics Corporation | Non-inverting, low power, high speed bootstrapped buffer |
JPH0756931B2 (ja) * | 1988-04-18 | 1995-06-14 | 三菱電機株式会社 | 閾値制御型電子装置およびそれを用いた比較器 |
-
1990
- 1990-10-24 US US07/602,705 patent/US5084634A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-06-17 GB GB9112983A patent/GB2249233A/en not_active Withdrawn
- 1991-07-18 FR FR9109094A patent/FR2668667A1/fr not_active Withdrawn
- 1991-07-30 JP JP3190301A patent/JPH05151795A/ja active Pending
- 1991-07-31 DE DE4125411A patent/DE4125411A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4300984B4 (de) * | 1992-01-17 | 2005-06-30 | Burr-Brown Corp., Tucson | Bootstrap-MOSFET-Abtastschaltstufe |
DE10049007B4 (de) * | 1999-10-08 | 2008-07-03 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Folge- und Halteschaltkreis |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5084634A (en) | 1992-01-28 |
GB9112983D0 (en) | 1991-08-07 |
JPH05151795A (ja) | 1993-06-18 |
FR2668667A1 (fr) | 1992-04-30 |
GB2249233A (en) | 1992-04-29 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |