DE4123759A1 - Verfahren und anordnung zum ermitteln unabsichtlicher fehler auf testsignalplatten - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten mit Mitteln zur Fehlererfassung. Es ist allgemein bekannt, zum Prüfen von Abspielgeräten für plattenförmige Datenträger Testsignalplatten zu verwenden, die mit absichtlichen Feh­ lern beziehungsweise dropouts versehen sind. So wird bei­ spielsweise zum Prüfen von CD-Abspielgeräten die Blockfehler­ rate, die sich aus Fehlern der Platte und des Abspielgerätes zusammensetzt, erfaßt und beispielsweise in Zeitintervallen von einer Sekunde angezeigt, um Rückschlüsse auf die Quali­ tät des Gerätes zu ermöglichen.

Testsignalplatten sind, da unabsichtliche Fehler zu einer fehlerhaften Gerätebewertung führen, sorgsam zu behandeln. Dies ist jedoch unter den rauhen Bedingungen einer Gerätefer­ tigung in Massenproduktionen nur schwer realisierbar, so daß zahlreiche Testsignalplatten benötigt werden. Weiterhin kann der Zeitpunkt, ab dem eine Testsignalplatte durch unabsicht­ liche Fehler eine objektive Aussage über das zu testende Ge­ rät nicht mehr zuläßt, nur unzureichend bestimmt werden, da eine Trennung zwischen absichtlichen und unabsichtlichen Feh­ lern durch ungenügend sorgfältige oder mehrfache Handhabung nicht vorgenommen werden kann.

Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, Aussagen hinsichtlich unabsichtlicher beziehungsweise zusätzlicher Fehler, wie beispielsweise Kratzer und Verschmutzungen, auf Testsignalplatten zu ermöglichen.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Verfahren mit den Merkmalen nach Anspruch 1 und einer Anordnung mit den Merkmalen des Anspruches 6 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildun­ gen sind in den Unteransprüchen angegeben.

Gemäß der Erfindung nach Anspruch 1 werden Orte oder Zeit­ punkte des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Testsignalplatte vorgesehener Fehler bestimmt und wäh­ rend der Fehlererfassung ausgeblendet beziehungsweise unter­ drückt, so daß ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden und eine Aussage über die Verwendbarkeit der Testsi­ gnalplatte zur objektiven Gerätebewertung ermöglicht wird.

Zum Bestimmen der Orte oder des Ortes oder der Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler wird mindestens eine auf der Testsignalplatte vorgesehene Markierung verwendet. Diese Markierung ist vorzugsweise ein auf der Abtast- oder Label­ seite der Testsignalplatte aufgebrachter farbiger Punkt oder eine farbige Fläche, die mit einem Fotodetektor zur Bereit­ stellung eines Ausblendsignals abgetastet wird. Für platten­ förmige Datenträger in Form von sogenannten CD's beziehungs­ weise Compact Disc's sind aufgrund der Reflexionseigenschaf­ ten insbesondere mindestens ein schwarzer Punkt oder eine schwarze Fläche, vorzugsweise am Außenrand der CD, geeignet. Der Fotodetektor liefert bei jedem Umlauf einen Impuls, der aufgrund der bekannten Zuordnung der Markierung zum absicht­ lichen Fehler- bzw. Störort in einfacher Weise mit einer ent­ sprechenden Verzögerung oder unmittelbar als Start­ und/oder Stopsignal einer Fehlererfassungseinrichtung zuge­ führt wird. Durch Ausblenden beziehungsweise Unterdrücken der absichtliche Fehler - bzw. Störorte kennzeichnenden Si­ gnale werden dann nur noch die zusätzlichen, unabsichtlichen Fehler mit der Fehlererfassungseinrichtung erfaßt und somit eine Aussage hinsichtlich unabsichtlicher beziehungsweise zusätzlicher Fehler der Testsignalplatte und damit ihrer wei­ teren Verwendbarkeit zum Prüfen von Abspielgeräten ermög­ licht.

Die Fehlererfassungseinrichtung ist eine Fehlererfassungs­ schaltung mit Start/Stoppeingang und wird vorzugsweise von einem über ein Gatter an einer Fehlerimpulse bereitstellen­ den Einrichtung angeschlossenen Zähler gebildet.

Andererseits können zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auf­ tretens absichtlicher Fehler auf CD's auch Subcode-Daten in Verbindung mit der Umdrehungsgeschwindigkeit der Testsignal­ platte oder mindestens ein Bit eines Subcodes, beispielsweise im Subcode-Kanal Q verwendet werden.

Die Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Test­ signalplatten mit Mitteln zur Fehlererfassung, die zur Durch­ führung des Verfahrens erforderlich ist, weist zusätzlich zu den Mitteln zur Fehlererfassung ein erstes Mittel zum Bestim­ men eines oder mehrerer Orte oder Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler sowie ein zweites Mittel zum Ausblenden absichtlicher Fehler auf.

Das erste Mittel ist vorzugsweise ein auf der Label- oder Ab­ tastseite der Testsignalplatte angeordneter farbiger, vor­ zugsweise schwarzer Punkt oder eine farbige beziehungsweise schwarze Fläche und ein bei jedem Umlauf der Testsignalplat­ te einen von dem Punkt beziehungsweise der Fläche abgeleite­ ten Impuls bereitstellender Fotodetektor.

Wird eine dem erforderlichen Ausblendimpuls entsprechende Markierung in Form eines farbigen Punktes oder einer farbi­ gen Fläche verwendet, kann das vom Fotodetektor bereitge­ stellte Signal unmittelbar als Stop/Start-Signal zum Steuern der Fehlererfassungseinrichtung verwendet werden. Anderen­ falls wird zwischen dem Fotodetektors und der Fehlererfas­ sungseinrichtung eine Verzögerungsschaltung vorgesehen, mit der die Beziehung zwischen einem von der Markierung abgelei­ teten Impuls des Fotodetektors und der oder den Fehlerorten beziehungsweise Fehlerzeitpunkten hergestellt wird.

Das erste Mittel zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftre­ tens absichtlicher Fehler kann auch eine im Verlauf des Her­ stellungsprozesses in die Testsignalplatte eingebrachte und mit der Abtasteinrichtung zum Bereitstellen eines Ausblendsi­ gnals detektierbare Markierung sein. Diese testsignalplatten­ interne Markierung kann von Subcode-Daten oder mindestens einem Bit in einem Subcode, beispielsweise im Subcode-Kanal Q gebildet werden. Orte beziehungsweise Zeitpunkte absichtli­ cher Fehler werden dann in Verbindung mit der Umdrehungsge­ schwindigkeit der Testsignalplatte bestimmt und zum Ausblen­ den absichtlicher Fehler verwendet, um ausschließlich unab­ sichtliche Fehler zu erfassen.

Das Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten durch Ausblenden von Orten oder Zeitpunkten absichtlicher Fehler wird in der Regel ausreichend sein, da es relativ un­ wahrscheinlich ist, daß unabsichtliche Fehler ausschließlich an Orten oder zu Zeitpunkten absichtlicher Fehler auftreten. Sollen dennoch auch unabsichtliche Fehler in Bereichen ab­ sichtlicher Fehler festgestellt werden, so ist das angegebe­ ne Verfahren in seiner Umkehrung dahingehend anzuwenden, daß Orte oder Zeitpunkte zwischen den absichtlichen Fehlern aus­ geblendet und ein Vergleich mit der absichtlichen Fehlerrate durchgeführt werden. Eine Differenz zwischen vorgegebener Fehlerrate und ermittelter Fehlerrate gibt dann Auskunft über das Vorliegen unabsichtlicher Fehler in Bereichen ab­ sichtlicher Fehler.

Mit bekannten Fehlererfassungseinrichtungen, mit denen insbe­ sondere digitale Abspielgeräte plattenförmiger Datenträger generell ausgestattet sind, können dadurch mit geringem Auf­ wand in vorteilhafter Weise absichtliche und unabsichtliche Fehler auf Testsignalplatten unterschieden werden. Das ermög­ licht eine Aussage über die weitere Verwendbarkeit der Test­ signalplatte zur objektiven Gerätebewertung und Testsignal­ platten können aufgrund des Feststellens unabsichtlicher Feh­ ler über einen längeren Zeitraum verwendet werden, so daß der zum Prüfen von Abspielgeräten erforderliche Aufwand ver­ ringert wird. Von besonderem Vorteil ist weiterhin, daß das Verfahren sowohl für vorhandene Testsignalplatten durch zu­ sätzliche äußere Markierung als auch für spezielle Testsi­ gnalplatten mit eigens zur Selbsttestung vorgesehenen testsi­ gnalplatteninternen Markierungen anwendbar ist.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand von zwei Ausführungs­ beispielen in Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler von Testsignalplatten TSP mit testsignalplatten­ interner Markierung,

Fig. 2 Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler von Testsignalplatten TSP mit äußerer Markierung.

Eine Testsignalplatte TSP in Form einer optischen Platte be­ ziehungsweise CD wird Fig. 1 und Fig. 2 entsprechend mit einer Abtasteinrichtung LP, die ein Lightpen beziehungsweise Laserabtaster ist, abgetastet und an der Abtasteinrichtung LP ist eine Fehlererfassungseinrichtung FE angeschlossen, die einen Start/Stoppeingang AB aufweist, mit dem eine Aus­ blendschaltung ABS verbunden ist. Diese Ausblendschaltung ist Fig. 1 entsprechend ebenfalls an der Abtasteinrichtung LP und Fig. 2 entsprechend an einem Fotodetektor FD ange­ schlossen.

Mit der Fig. 1 entsprechenden Anordnung werden unabsichtli­ che Fehler von Testsignalplatten TSP unter Verwendung einer testsignalplatteninternen Markierung erfaßt, während die Fig. 2 entsprechende Anordnung dem Ermitteln von unabsichtli­ chen Fehlern von Testsignalplatten mit äußerer Markierung dient. Den Ausführungsbeispielen liegt das Verfahren zugrun­ de, zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler von Testsignalplat­ ten TSP, die beispielsweise durch deren Gebrauch zum Prüfen von Abspielgeräten auftreten können, die Orte oder Zeitpunk­ te des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Testsignalplatte vorgesehener Fehler zu bestimmen und wäh­ rend der Fehlererfassung auszublenden, so daß ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.

Zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler ist eine Markierung erforderlich, da die Fehlererfas­ sungseinrichtung FE nicht in der Lage ist, zwischen unab­ sichtlichen und absichtlichen Fehlern zu unterscheiden.

Die Markierung zur Orts- oder Zeitbestimmung absichtlicher Fehler ist in einer ersten Ausführungsart Fig. 1 entspre­ chend testsignalplattenintern vorgesehen. Hierzu wird be­ reits im Herstellungsprozeß der Testsignalplatte TSP im soge­ nannten Subcode-Kanal Q eins der normaler Weise auf Null ge­ setzten Bit auf Eins gesetzt. Da die Orte beziehungsweise Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler in Beziehung zu dem im Subcode-Kanal Q gesetzten Bit bekannt sind, wird dann mit der Ausblendschaltung ABS die Fehlererfassungsein­ richtung FE während der Orte beziehungsweise Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler über den Start-/Stoppeingang AB blockiert, so daß von der Fehlererfassungseinrichtung FE ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.

Zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler bei äußerer Markierung der Testsignalplatte TSP mit einem schwarzen Punkt, wird ei­ ne zweite Ausführungsart gemäß Fig. 2 verwendet. Mit dem Fo­ todetektor FD wird der auf der Testsignalplatte TSP aufge­ brachte Punkt während jeder Umdrehung der Testsignalplatte TSP abgetastet und ein Impuls erzeugt, der zum Bereitstellen des Ausblendsignals für auf der Testsignalplatte TSP absicht­ lich vorgesehener Fehler mit der Ausblendschaltung ABS ver­ wendet wird. Diese Ausblendschaltung ist ein Rechner, in dem die Orte beziehungsweise Zeitpunkte des Auftretens absichtli­ cher Fehler in Beziehung zur außen auf der Testsignalplatte TSP vorgesehene Markierung gespeichert sind. Es werden mit dem Fotodetektor FD von der Testsignalplatte TSP abgeleitete Impulse dem Rechner zugeführt, die Orte beziehungsweise Zeit­ punkte absichtlicher Fehler berechnet und der Fehlererfas­ sungseinrichtung FE vom Rechner an diesen Orten beziehungs­ weise Zeitpunkten ein entsprechendes Ausblendsignal zuge­ führt. Sollte die Fehlererfassungseinrichtung FE nicht über einen Start/Stoppeingang AB verfügen, kann das Ausblendsi­ gnal einem Gatter zugeführt werden, über das gleichfalls die Fehlersignale die Fehlererfassungseinrichtung FE erreichen. Die Verwendung eines Rechners als Ausblendschaltung ABS ist insbesondere vorteilhaft, da die Markierung auf der Testsi­ gnalplatte TSP willkürlich aufgebracht und die Beziehung zwi­ schen den Orten beziehungsweise Zeitpunkten absichtlicher Fehler zur Markierung in einem ersten Lauf durch Vergleich mit dem bekannten Fehlermuster der Testsignalplatte TSP abge­ leitet werden kann. Dadurch ist diese Anordnung insbesondere geeignet, um ein großes Spektrum unterschiedlicher Testsi­ gnalplatten TSP hinsichtlich unabsichtlicher Fehler zu unter­ suchen und den Vorgang der Markierung zu vereinfachen der anderenfalls durch visuelle Zuordnung zu den absichtlichen Fehlerorten erfolgt.

Claims (10)

1. Verfahren zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Test­ signalplatten (TSP) mit Mitteln zur Fehlererfassung, dadurch gekennzeichnet, daß Orte oder Zeitpunkte des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Test­ signalplatte (TSP) vorgesehener Fehler ermittelt, wäh­ rend der Fehlererfassung ausgeblendet und ausschließ­ lich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Bestimmen der Orte oder des Ortes oder der Zeitpunk­ te des Auftretens absichtlicher Fehler mindestens eine auf der Testsignalplatte (TSP) vorgesehene Markierung verwendet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich­ net, daß zum Bestimmen der Orte oder des Ortes oder der Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler ein auf der Abtastseite oder auf der Labelseite der Testsignal­ platte (TSP) aufgebrachter farbiger Punkt oder eine far­ bige Fläche verwendet wird, der oder die mit einem Foto­ detektor (FD) zur Bereitstellung eines Ausblendsignals abgetastet wird oder werden.

4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich­ net, daß zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler Subcode-Daten in Verbindung mit der Umdrehungsgeschwindigkeit der Testsignalplatte (TSP) verwendet werden.

5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich­ net, daß zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler mindestens ein Bit eines Subcodes verwendet wird.

6. Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Test­ signalplatten (TSP) mit Mitteln zur Fehlererfassung, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich zu den Mitteln zur Fehlererfassung ein erstes Mittel zum Bestimmen ei­ nes oder mehrerer Orte oder Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler und ein zweites Mittel zum Ausblen­ den absichtlicher Fehler vorgesehen sind.

7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das erste Mittel zum Bestimmen eines oder mehrerer Orte oder Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler ein auf der Abtastseite oder auf der Labelseite der Testsi­ gnalplatte (TSP) angeordneter farbiger Punkt oder eine farbige Fläche und ein bei jedem Umlauf der Testsignal­ platte (TSP) einen Impuls zum Bereitstellen eines Aus­ blendsignals erzeugender Fotodetektor (FD) ist.

8. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das erste Mittel zur Ort- oder Zeitbestimmung des Auf­ tretens absichtlicher Fehler mindestens eine im Verlauf des Herstellungsprozesses in die Testsignalplatte (TSP) eingebrachte und mit der Abtasteinrichtung zum Bereit­ stellen eines Ausblendsignals detektierbare Markierung ist.

9. Anordnung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das zweite Mittel zum Ausblenden ab­ sichtlicher Fehler eine einen Start-/Stoppeingang (A, B) aufweisende Fehlererfassungseinrichtung (FE) ist.

10. Anordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Fehlererfassungseinrichtung (FE) ein Zähler ist, der über ein Gatter an einer Fehlerimpulse bereitstel­ lenden Einrichtung angeschlossen ist und das Gatter mit einer Ausblendsignale bereitstellenden Ausblendschal­ tung (ABS) verbunden ist.