DE4123759B4 - Verfahren und Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten - Google Patents

Abstract

Verfahren zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten (TSP) mit einer Fehlererfassungsschaltung, dadurch gekennzeichnet, daßOrte oder Zeitpunkte des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Testsignalplatte (TSP) vorgesehener Fehler ermittelt, während der Fehlererfassung ausgeblendet und ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.

Description

• Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten mit Mitteln zur Fehlererfassung. Es ist allgemein bekannt, zum Prüfen von Abspielgeräten für plattenförmige Datenträger Testsignalplatten zu verwenden, die mit absichtlichen Fehlern beziehungsweise dropouts versehen sind. So wird beispielsweise zum Prüfen von CD-Abspielgeräten die Blockfehlerrate, die sich aus Fehlern der Platte und des Abspielgerätes zusammensetzt, erfaßt und beispielsweise in Zeitintervallen von einer Sekunde angezeigt, um Rückschlüsse auf. die Qualität des Gerätes zu ermöglichen.
• Testsignalplatten sind, da unabsichtliche Fehler zu einer fehlerhaften Gerätebewertung führen, sorgsam zu behandeln. Dies ist jedoch unter den rauhen Bedingungen einer Gerätefertigung in Massenproduktionen nur schwer realisierbar, so daß zahlreiche Testsignalplatten benötigt werden. Weiterhin kann der Zeitpunkt, ab dem eine Testsignalplatte durch unabsichtliche Fehler eine objektive Aussage über das zu testende Gerät nicht mehr zuläßt, nur unzureichend bestimmt werden, da eine Trennung zwischen absichtlichen und unabsichtlichen Fehlern durch ungenügend sorgfältige oder mehrfache Handhabung nicht vorgenommen werden kann.
• Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, Aussagen hinsichtlich unabsichtlicher beziehungsweise zusätzlicher Fehler, wie beispielsweise Kratzer und Verschmutzungen, auf Testsignalplatten zu ermöglichen.
• Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Verfahren mit den Merkmalen nach Anspruch 1 und einer Anordnung mit den Merkmalen des Anspruches 6 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
• Gemäß der Erfindung nach Anspruch 1 werden Orte oder Zeitpunkte des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Testsignalplatte vorgesehener Fehler bestimmt und während der Fehlererfassung ausgeblendet beziehungsweise unterdrückt, so daß ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden und eine Aussage über die Verwendbarkeit der Testsignalplatte zur objektiven Gerätebewertung ermöglicht wird.
• Zum Bestimmen der Orte oder des Ortes oder der Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler wird mindestens eine auf der Testsignalplatte vorgesehene Markierung verwendet. Diese Markierung ist vorzugsweise ein auf der Abtast- oder Labelseite der Testsignalplatte aufgebrachter farbiger Punkt oder eine farbige Fläche, die mit einem Fotodetektor zur Bereitstellung eines Ausblendsignals abgetastet wird. Für plattenförmige Datenträger in Form von sogenannten CD's beziehungsweise Compact Disc's sind aufgrund der Reflexionseigenschaften insbesondere mindestens ein schwarzer Punkt oder eine schwarze Fläche, vorzugsweise am Außenrand der CD, geeignet. Der Fotodetektor liefert bei jedem Umlauf einen Impuls, der aufgrund der bekannten Zuordnung der Markierung zum absichtlichen Fehler- bzw. Störort in einfacher Weise mit einer entsprechenden Verzögerung oder unmittelbar als Start- und/oder Stopsignal einer Fehlererfassungseinrichtung zugeführt wird. Durch Ausblenden beziehungsweise Unterdrücken der absichtliche Fehler- bzw. Störorte kennzeichnenden Signale werden dann nur noch die zusätzlichen, unabsichtlichen Fehler mit der Fehlererfassungseinrichtung erfaßt und somit eine Aussage hinsichtlich unabsichtlicher beziehungsweise zusätzlicher Fehler der Testsignalplatte und damit ihrer weiteren Verwendbarkeit zum Prüfen von Abspielgeräten ermöglicht.
• Die Fehlererfassungseinrichtung ist eine Fehlererfassungsschaltung mit Start-/Stoppeingang und wird vorzugsweise von einem über ein Gatter an einer Fehlerimpulse bereitstellenden Einrichtung angeschlossenen Zähler gebildet.
• Andererseits können zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler auf CD's auch Subcode-Daten in Verbindung mit der Umdrehungsgeschwindigkeit der Testsignalplatte oder mindestens ein Bit eines Subcodes, beispielsweise im Subcode-Kanal Q verwendet werden.
• Die Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten mit Mitteln zur Fehlererfassung, die zur Durchführung des Verfahrens erforderlich ist, weist zusätzlich zu den Mitteln zur Fehlererfassung ein erstes Mittel zum Bestimmen eines oder mehrerer Orte oder Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher. Fehler sowie ein zweites Mittel zum Ausblenden absichtlicher Fehler auf.
• Das erste Mittel ist vorzugsweise ein auf der Label- oder Abtastseite der Testsignalplatte angeordneter farbiger, vorzugsweise schwarzer Punkt oder eine farbige beziehungsweise schwarze Fläche und ein bei jedem Umlauf der Testsignalplatte einen von dem Punkt beziehungsweise der Fläche abgeleiteten Impuls bereitstellender Fotodetektor.
• Wird eine dem erforderlichen Ausblendimpuls entsprechende Markierung in Form eines farbigen Punktes oder einer farbigen Fläche verwendet, kann das vom Fotodetektor bereitgestellte Signal unmittelbar als Stop/Start-Signal zum Steuern der Fehlererfassungseinrichtung verwendet werden. Anderenfalls wird zwischen dem Fotodetektor und der Fehlererfassungseinrichtung eine Verzögerungsschaltung vorgesehen, mit der die Beziehung zwischen einem von der Markierung abgeleiteten Impuls des Fotodetektors und dem oder den Fehlerorten beziehungsweise Fehlerzeitpunkten hergestellt wird.
• Das erste Mittel zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler kann auch eine im Verlauf des Herstellungsprozesses in die Testsignalplatte eingebrachte und mit der Abtasteinrichtung zum Bereitstellen eines Ausblendsignals detektierbare Markierung sein. Diese testsignalplatteninterne Markierung kann von Subcode-Daten oder mindestens einem Bit in einem Subcode, beispielsweise im Subcode-Kanal Q gebildet werden. Orte beziehungsweise Zeitpunkte absichtlicher Fehler werden dann in Verbindung mit der Umdrehungsgeschwindigkeit der Testsignalplatte bestimmt und zum Ausblenden absichtlicher Fehler verwendet, um ausschließlich unabsichtliche Fehler zu erfassen.
• Das Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten durch Ausblenden von Orten oder Zeitpunkten absichtlicher Fehler wird in der Regel ausreichend sein, da es relativ unwahrscheinlich ist, daß unabsichtliche Fehler ausschließlich an Orten oder zu Zeitpunkten absichtlicher Fehler auftreten. Sollen dennoch auch unabsichtliche Fehler in Bereicher absichtlicher Fehler festgestellt werden, so ist das angegebene Verfahren in seiner Umkehrung dahingehend anzuwenden, daß Orte oder Zeitpunkte zwischen den absichtlichen Fehlern ausgeblendet und ein Vergleich mit der absichtlichen Fehlerrate durchgeführt werden. Eine Differenz zwischen vorgegebener Fehlerrate und ermittelter Fehlerrate gibt dann Auskunft über das Vorliegen unabsichtlicher Fehler in Bereichen absichtlicher Fehler.
• Mit bekannten Fehlererfassungseinrichtungen, mit denen insbesondere digitale Abspielgeräte plattenförmiger Datenträger generell ausgestattet sind, können dadurch mit geringem Aufwand in vorteilhafter Weise absichtliche und unabsichtliche Fehler auf Testsignalplatten unterschieden werden. Das ermöglicht eine Aussage über die weitere Verwendbarkeit der Testsignalplatte zur objektiven Gerätebewertung und Testsignalplatten können aufgrund des Feststellens unabsichtlicher Fehler über einen längeren Zeitraum verwendet werden, so daß der zum Prüfen von Abspielgeräten erforderliche Aufwand ver ringert wird. Von besonderem Vorteil ist weiterhin, daß das Verfahren sowohl für vorhandene Testsignalplatten durch zusätzliche äußere Markierung als auch für spezielle Testsignalplatten mit eigens zur Selbsttestung vorgesehenen testsignalplatteninternen Markierungen anwendbar ist.
• Nachfolgend wird die Erfindung anhand von zwei Ausführungsbeispielen in Zeichnungen näher erläutert.
• Es zeigen:
• 1 Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler von Testsignalplatten TSP mit testsignalplatteninterner Markierung
• 2 Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler von Testsignalplatten TSP mit äußerer Markierung.
• Eine Testsignalplatte TSP in Form einer optischen Platte beziehungsweise CD wird 1 und 2 entsprechend mit einer Abtasteinrichtung LP, die ein Lightpen beziehungsweise Laserabtaster ist, abgetastet und an der Abtasteinrichtung LP ist eine Fehlererfassungseinrichtung FE angeschlossen, die einen Start/Stoppeingang AB aufweist, mit dem eine Ausblendschaltung ABS verbunden ist. Diese Ausblendschaltung ist 1 entsprechend ebenfalls an der Abtasteinrichtung LP und 2 entsprechend an einem Fotodetektor FD angeschlossen.
• Mit der 1 entsprechenden Anordnung werden unabsichtliche Fehler von Testsignalplatten TSP unter Verwendung einer testsignalplatteninternen Markierung erfaßt, während die 2 entsprechende Anordnung dem Ermitteln von unabsichtlichen Fehlern von Testsignalplatten mit äußerer Markierung dient. Den Ausführungsbeispielen liegt das Verfahren zugrunde, zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler von Testsignalplatten TSP, die beispielsweise durch deren Gebrauch zum Prüfen von Abspielgeräten auftreten können, die Orte oder Zeitpunkte des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Testsignalplatte vorgesehener Fehler zu bestimmen und während der Fehlererfassung auszublenden, so daß ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.
• Zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler ist eine Markierung erforderlich, da die Fehlererfassungseinrichtung FE nicht in der Lage ist, zwischen unabsichtlichen und absichtlichen Fehlern zu unterscheiden.
• Die Markierung zur Orts- oder Zeitbestimmung absichtlicher Fehler ist in einer ersten Ausführungsart 1 entsprechend testsignalplattenintern vorgesehen. Hierzu wird bereits im Herstellungsprozeß der Testsignalplatte TSP im sogenannten Subcode-Kanal Q eins der normaler Weise auf Null gesetzten Bit auf Eins gesetzt. Da die Orte beziehungsweise Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler in Beziehung zu dem im Subcode-Kanal Q gesetzten Bit bekannt sind, wird dann mit der Ausblendschaltung ABS die Fehlererfassungseinrichtung FE während der Orte beziehungsweise Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler über den Start-/Stoppeingang AB blockiert, so daß von der Fehlererfassungseinrichtung FE ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.
• Zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler bei äußerer Markierung der Testsignalplatte TSP mit einem schwarzen Punkt, wird eine zweite Ausführungsart gemäß 2 verwendet. Mit dem Fotodetektor FD wird der auf der Testsignalplatte TSP aufgebrachte Punkt während jeder Umdrehung der Testsignalplatte TSP abgetastet und ein Impuls erzeugt, der zum Bereitstellen des Ausblendsignals für auf der Testsignalplatte TSP absichtlich vorgesehener Fehler mit der Ausblendschaltung ABS verwendet wird. Diese Ausblendschaltung ist ein Rechner, in dem die Orte beziehungsweise Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler in Beziehung zur außen auf der Testsignalplatte TSP vorgesehene Markierung gespeichert sind. Es werden mit dem Fotodetektor FD von der Testsignalplatte TSP abgeleitete Impulse dem Rechner zugeführt, die Orte beziehungsweise Zeitpunkte absichtlicher Fehler berechnet und der Fehlererfassungseinrichtung FE vom Rechner an diesen Orten beziehungsweise Zeitpunkten ein entsprechendes Ausblendsignal zugeführt. Sollte die Fehlererfassungseinrichtung FE nicht über einen Start/Stoppeingang AB verfügen, kann das Ausblendsignal einem Gatter zugeführt werden, über das gleichfalls die Fehlersignale die Fehlererfassungseinrichtung FE erreichen. Die Verwendung eines Rechners als Ausblendschaltung ABS ist insbesondere vorteilhaft, da die Markierung auf der Testsignalplatte TSP willkürlich aufgebracht und die Beziehung zwischen den Orten beziehungsweise Zeitpunkten absichtlicher Fehler zur Markierung in einem ersten Lauf durch Vergleich mit dem bekannten Fehlermuster der Testsignalplatte TSP abgeleitet werden kann. Dadurch ist diese Anordnung insbesondere geeignet, um ein großes Spektrum unterschiedlicher Testsignalplatten TSP hinsichtlich unabsichtlicher Fehler zu untersuchen und den Vorgang der Markierung zu vereinfachen der anderenfalls durch visuelle Zuordnung zu den absichtlichen Fehlerarten erfolgt.

Claims (7)

1. Verfahren zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten (TSP) mit einer Fehlererfassungsschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß Orte oder Zeitpunkte des Auftretens eines oder mehrerer absichtlich auf der Testsignalplatte (TSP) vorgesehener Fehler ermittelt, während der Fehlererfassung ausgeblendet und ausschließlich unabsichtliche Fehler erfaßt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Bestimmen der Orte oder des Ortes oder der Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler mindestens eine auf der Testsignalplatte (TSP) vorgesehene Markierung verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum Bestimmen der Orte oder des Ortes oder der Zeitpunkte des Auftretens absichtlicher Fehler ein auf der Abtastseite oder auf der Labelseite der Testsignalplatte (TSP) aufgebrachter farbiger Punkt oder eine farbige Fläche verwendet wird, der oder die mit einem Fotodetektor (FD) zur Bereitstellung eines Ausblendsignals abgetastet wird oder werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler Subcode-Daten in Verbindung mit der Umdrehungsgeschwindigkeit der Testsignalplatte (TSP) verwendet werden.
5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Orts- oder Zeitbestimmung des Auftretens absichtlicher Fehler mindestens ein Bit eines Subcodes verwendet wird.
6. Anordnung zum Ermitteln unabsichtlicher Fehler auf Testsignalplatten (TSP) mit einer Fehlererfassungsschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß eine einen Start-/Stoppeingang (A, B) aufweisende Fehlererfassungsschaltung (FE) als zweites Mittel zum Ausblenden absichtlicher Fehler vorgesehen ist, die mit einem Fotodetektor (FD) als erstes Mittel zum Bereitstellen eines Ausblendsignals für absichtliche Fehler verbunden ist.
7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Fehlererfassungsschaltung (FE) ein Zähler ist, der über ein Gatter an einer Fehlerimpulse bereitstellenden Einrichtung angeschlossen ist und das Gatter mit einer Ausblendsignale bereitstellenden Ausblendschaltung (ABS) verbunden ist.