DE3714244C2 - Verfahren zum Erfassen und Darstellen von Lesesignalen von Magnetstreifenspuren - Google Patents
Verfahren zum Erfassen und Darstellen von Lesesignalen von MagnetstreifenspurenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erfassen und
Darstellen von Lesesignalen von Magnetstreifenspuren über
Analog-/Digitalwandler und/oder der Qualität der
Beschriftung von Datenbits.
Magnetkarten finden heute in vielen Bereichen des täglichen
Lebens Anwendung. Nur als Beispiel sollen Scheckkarten,
Bankomat-Karten, Kundenkarten und Zugangskarten zu Sicher
heitsbereichen erwähnt werden. Die Reihe läßt sich beliebig
fortsetzen.
Die Informationen, welche auf dem Magnetstreifen ent
halten sind, werden mit einem speziellen Magnetkarten
schreibgerät als Datenbits auf dem Magnetstreifen auf
gebracht. Fährt ein Magnetkopf dann über den Magnet
streifen, werden durch die Datenbits Flußwechsel er
zeugt, die eine Spannung in der Lesespule induzieren.
Eine bestimmte Folge von Datenbits bzw. Flußwechseln
kann dann digitalisiert und dargestellt sowie in die
Information umgesetzt werden.
Es liegt auf der Hand, daß die Qualität eines gesamten
Systems, welches mit Magnetkarten arbeitet, im wesent
lichen von der Qualität der Beschriftung des Magnet
streifens abhängt. Je schlechter die Beschriftung ist
bzw. auch je mehr Beschädigungen der Magnetstreifen
aufweist, um so höher ist die Anzahl der Störungen in
dem System, welches durch die Magnetkarte in Gang
gesetzt wird. Das Suchen der Fehler ist bis heute eine
komplizierte Angelegenheit, zeitraubend und kost
spielig. Um beispielsweise die Qualität einer Beschrif
tung beurteilen zu können, muß der Abstand der Daten
bits voneinander ermittelt werden. Ein bestimmter
Abstand sowie ein Toleranzbereich für bestimmte Daten
bits wird von einer ISO-Norm vorgeschrieben. Da die
Beschriftung sehr schnell, d. h. im Bereich von Micro
sekunden erfolgt, können die Abstände der einzelnen
Datenbits zueinander schwanken, wodurch das Auslesen
der Datenbits erheblich erschwert bzw. gestört wird. Um
den Abstand der Datenbits voneinander zu ermitteln,
wurde bislang der Null-Durchgang zwischen zwei Fluß
wechseln ermittelt und der Abstand zweier Null-Durch
gänge voneinander bestimmt.
Wie insbesondere aus der später beschriebenen Fig. 6
ersichtlich, ist es in vielen Fällen sehr schwierig, die
exakte Lage des Null-Durchganges zu bestimmen. Der Jitter,
das ist die Zeitabweichung von Flußwechsel zu Flußwechsel,
wurde bislang graphisch überhaupt nicht erfaßt, so daß auch
keine Aussage über die Qualität einer Karte getroffen
werden konnte.
Aus der JP 60-258767 ist ein Verfahren der o. g. Art
bekannt, bei dem die Zeit zwischen zwei Flusswechseln
ermittelt wird. Aus allen ermittelten Zeiten wird ein
Mittelwert gebildet und danach die Abweichungen der
einzelnen Werte von diesem Mittelwert in einem Jitter-
Diagramm dargestellt.
Der Erfinder hat sich zum Ziel gesetzt, ein Verfahren und
eine Vorrichtung der o. g. Art zu entwickeln, mit welchem
eine Karte sowohl auf ihren digitalen Code als auch auf
ihre physikalischen Eigenschaften hin untersucht werden
kann. In beiden Bereichen soll die Magnetkarte auf die
Einhaltung der Grenzwerte, wie sie durch die ISO-Normen
vorgegeben sind, überprüft werden. Desweiteren sollen
direkt Zeitabweichungen zwischen Flusswechsel dargestellt
und die Lage dieser Abweichungen bestimmt werden können.
Zur Lösung dieser Aufgabe führt ein Verfahren entsprechend
dem Anspruch 1.
Durch die Detektierung der Datenbits, d. h. den Spitzenwerten, die die Umkehrpunkte der Magnetisierung darstellen,
wird eine wesentlich größere Meßgenauigkeit
erreicht. Auch bei einer großen Signalabschwächung des
Lesesignals, wie dies beispielsweise bei einem schweren
Kratzer auf der Magnetkarte zu beobachten ist, verschiebt
sich die Umkehrspitze in der x-Richtung nicht. Lediglich
die Amplitude, d. h. der Ausschlag in y-Richtung, wird
geringer. Diese Art der Detektierung ist somit ein Teil der
vorliegenden Erfindung.
Der zweite Teil der Erfindung ist in der Darstellung des
Jitterdiagrammes zu sehen. Nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren wird die Zeit gemessen, welche zwischen der
Aufnahme der Lesesignale von zwei benachbarten Datenbits
besteht.
Als Grenzwerte dienen hier selbstverständlich die oben
genannten Spitzenwerte der Datenbits bzw. die Umkehr
punkte des Flußwechsels. Die Messung erfolgt auf 1 µs
genau. Für eine bestimmte Schnelligkeit des Magnet
kopfes wird in der ISO-Norm ein bestimmter Zeitabstand
zwischen einzelnen Bits vorgeschrieben. Bei 80 mm/sec.
sollte der Abstand für ein 0-Bit 1511 µs betragen. In
dem erfindungsgemäßen Jitterdiagramm wird eine
Schwankung des tatsächlichen Abstandes von dieser
Normzeit dargestellt. Die Normzeit ist hierbei die
x-Achse, die Abweichungen der 1-Bits werden einerseits
der x-Achse und die Abweichungen der 0-Bits anderer
seits der x-Achse dargestellt. Ferner erfolgt sowohl
einerseits wie auch andererseits der x-Achse eine
getrennte Darstellung der positiven und der negativen
Abweichungen. Gleichzeitig wird in dem Diagramm auch
eine Grenzwertlinie für die erlaubte Toleranz der Ab
weichungen gezogen. Somit ist es bei diesem erfindungs
gemäßen Verfahren durch einen Blick allein auf das
Jitterdiagramm möglich, eine Aussage über die Qualität
der Kartenbeschriftung, d. h. über die Abweichung der
Abstände der einzelnen Datenbits voneinander, zu
treffen.
In einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens
werden in einem Arbeitsgang sowohl die Analogwerte der
Karte erfaßt und mittels eines A-D-Wandlers digitali
siert. Im gleichen Arbeitsgang erfolgt auch die
Zeitmessung der Datenbitabstände. Allerdings kann ein
zum Erfassen der Analysedaten vorgesehener Rechner
nicht gleichzeitig die digitalisierten Lesesignale und
die Bitzeiten empfangen und auswerten. Deshalb werden
die Bitzeiten zwischengespeichert und nach Beendigung
des Lesens des Magnetstreifens bzw. der Aufnahme der
digitalisierten Lesesignale vom Rechner abgerufen.
Im Analyseergebnis können dann die digitalen Werte den
ermittelten physikalischen Eigenschaften unmittelbar
zugeordnet werden. D. h., es ist möglich, aus der Zeit
messung der Bitabstände die Datenbits der Karteninfor
mation zu generieren.
In einer verbesserten Ausführungsform der Erfindung ist
vorgesehen, auch die Analog-/Digitalwerte als Spitzen
werte in einer sogenannten Hüllkurve darzustellen.
Hierdurch ist eine einfache digitale Analyse bzw.
Fehlererkennung möglich. Sollte sich beispielsweise ein
Kratzer auf dem Magnetstreifen befinden, so wird dieser
als Einbruch in der Hüllkurve dargestellt. Erfindungs
gemäß ist hierzu zur besseren Analyse der Art und des
Ausmaßes des Fehlers vorgesehen, die Hüllkurve in
x-Achsenrichtung auseinandergezogen in einer
sogenannten Lupe darzustellen. Hierbei können
detaillierte Aussagen über digitale Fehler getroffen
werden.
Ferner ist auch vorgesehen, sowohl bei der Hüllkurve
wie bei der Lupe wie auch beim Jitter bestimmte
Schwellenwerte vorzusehen, unterhalb deren eine Analyse
unterbleibt. Diese Schwellenwerte sollen veränderbar
sein.
Als Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sollte
der Magnetkopf, ggfs. über einen Verstärker, mit einem
A-D-Wandler verbunden sein und letzterer wiederum an
einen Steuerrechner angeschlossen sein. Dieser
Steuerrechner hat auch einen Eingang für ein
Analysegerät, in welchem die Zeitmessung der Datenbits
und deren Zwischenspeicherung erfolgt.
Dieses Analysegerät ist über eine Datenrückgewinnungs
elektronik mit dem Verstärker bzw. dem Magnetkopf ver
bunden. Ferner sollte der Steuerrechner auch eine
direkte Verknüpfung mit der Datenrückgewinnungs
elektronik aufweisen, so daß auch die Datenbits direkt
ohne die Erfassung des digitalisierten Lesesignales
bzw. der Bitzeiten erfolgen kann. Damit ist eine
zusätzliche Möglichkeit der gesamten Vorrichtung
gegeben.
Durch diese Vorrichtung, welche separat betrieben oder
auch beispielsweise in einem Personal-Computer inte
griert sein kann, wird die Möglichkeit geschaffen, auf
einfache und sichere Weise sowohl digitale Fehler einer
Magnetkarte zu analysieren als auch eine Aussage über
die Qualität eines Magnetkartenschreibers zu treffen.
Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Er
findung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der
Zeichnung; diese zeigt in
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Funktionsübersicht
für eine Magnetkartenanalyse;
Fig. 2 eine Draufsicht auf eine
Magnetkartenseite;
Fig. 3 einen Ausschnitt aus einem Lesesignal;
Fig. 4 eine Darstellung von Spitzenwerten des Lese
signals;
Fig. 5 eine nähere Erläuterung der Darstellung nach
Fig. 4;
Fig. 6 eine lupenartig vergrößerte Darstellung des
Lesesignals;
Fig. 7 eine erfindungsgemäße Darstellung des aufbe
reiteten Lesesignals;
Fig. 8 eine nähere Erklärung der Darstellung nach
Fig. 7;
Fig. 9 eine nähere Erklärung eines weiteren Teils der
Darstellung nach Fig. 7;
Fig. 10 eine Darstellung des Lesesignals entsprechend
Fig. 4 mit Fehlern im Magnetstreifen;
Fig. 11 eine Darstellung des Lesesignals entsprechend
Fig. 6 mit näherer Darstellung nach Fig. 10;
Fig. 12 eine erfindungsgemäße Darstellung der Fehler
aufbereitung von Fig. 10.
Eine Magnetkarte 1 besteht in der Regel aus einem
Kunststoffstreifen 2, auf dessen einer Seite 3 ein
Magnetstreifen 4 aufgebracht ist (siehe Fig. 2). Dieser
Magnetstreifen 4 enthält eine Vielzahl von Informa
tionen, welche mit speziellen Geräten geschrieben sind
und gelesen werden können. Diese Informationen setzen
sich wiederum aus einer Vielzahl von Datenbits zu
sammen.
Die physikalische Länge der einzelnen Datenbits auf dem
Magnetstreifen 4 ist durch ISO-Normen mit
entsprechenden Toleranzen definiert. In Fig. 3 sind
vier aufeinanderfolgende Bits als Teil eines
Lesesignals dargestellt. Die ersten beiden Bits sind
0-Bits, die beiden darauffolgenden Bits sind 1-Bits,
wobei die Bits durch Flußwechsel 5 die in einem
Magnetkopf induzierte Lesespannung verändern. Ein
derartiger Magnetkopf 6, welcher über den
Magnetstreifen 4 fährt, ist schematisch in Fig. 1
dargestellt. Die im Magnetkopf 6 durch den Flußwechsel
induzierte Lesespannung wird in der
Magnetkarten-Schreib-Lese-Einheit durch einen Ver
stärker 8 verstärkt. Dieses verstärkte Signal wird dann
in einem A-D-Wandler 9, gesteuert durch einen Steuer
rechner 10, digitalisiert.
Eine Datenrückgewinnungselektronik 11 erzeugt aus dem
Lesesignal einen seriellen Bitstrom, der dem Digital
teil eines Analysegerätes 12 zugeführt wird. Gleich
zeitig werden Impulse für die Zeitmessung erzeugt,
wobei im Analysegerät 12 die Erfassung der Zeitmessung
und das Zwischenspeichern der Daten erfolgt. Das
normale Lesen der Datenbits geschieht über die
Verknüpfung 13.
Somit müssen im vorliegenden Fall zwei Grundtätigkeiten
unterschieden werden. Mit der Grundfunktion
"Karten-Lesen" wird die Magnetkarte 1 ohne Aktivierung
der Analogteile, d. h. des A-D-Wandlers 9 und des
Analysegerätes 12, gelesen. Der Steuerrechner 10 über
nimmt die Steuerung der Magnetkarten-Schreib-Lese-Ein
heit. Die aufbereiteten Datenbits werden über die Ver
knüpfung 13 empfangen, analysiert und angezeigt. Der
gleiche Vorgang wird auch für die Kontrolle von ge
schriebenen Daten verwendet.
Bei der Durchführung der Kartenanalyse steuert der
Rechner die Magnetkarten-Schreib-Lese-Einheit und
aktiviert den A-D-Wandler 9. Hierdurch wird das Analog
signal digitalisiert, welches als digitalisiertes Lese
signal 14 ansteht.
Das Analysegerät 12 arbeitet dagegen autark und
speichert die Zeiten der Bits ab. Letzteres bedeutet,
daß die Zeit bestimmt wird, welche der Magnetkopf 6 von
einem Bit zum nächsten Bit bei konstanter Lesegeschwin
digkeit benötigt. Nach dem Lesezyklus holt sich der
Steuerrechner 10 die in der Leitung 15 anstehenden
Bitzeiten und wertet sie aus.
Da der Rechner während der Analogfunktion, d. h.
während der Analyse zeitlich limitiert ist, werden die
Datenbits aus der Verknüpfung 13 direkt mit der Daten
rückgewinnungselektronik 11 ignoriert. Wird jedoch auch
eine digitale Darstellung gewünscht, so wird aus dem
Analysegerät über die Zeitmessung der Bitabstände die
entsprechende Information generiert und angezeigt.
Die Darstellung des verstärkten Lesesignals geschieht
in einer sogenannten Hüllkurve 16, wie sie in Fig. 4
gezeigt ist. In der Hüllkurve 16 werden nur die
Spitzenwerte in ihrer Größe und Position dargestellt.
Unterschreitet ein Spitzenwert den vorgegebenen Min
destpegel, so wird diese Linie hell nachgezeichnet.
Der Mindestpegel 17 ist als weiße Linie sichtbar, der
Basiswert 18 als durchgezogene Linie.
In Fig. 5 ist zur Erklärung der Hüllkurve diese in
Richtung der x-Achse, die gleichzeitig den Basiswert 18
bildet, vergrößert dargestellt. Dabei zeigt die Lage
auf der x-Achse die Position des Spitzenwertes, während
die y-Achse die Spannung darstellt. Der Abstand von
Bildpunkt zu Bildpunkt beträgt ca. 78 mV.
In Fig. 6 ist die sogenannte Lupe 19 dargestellt. D.
h., daß hier die Hüllkurve auseinandergezogen ist. So
können Stellen, die in der Hüllkurve dunkel erscheinen,
näher untersucht werden. Auch Phasensprünge werden in
der Lupe 19 eindeutiger.
Wesentlich nach der vorliegenden Erfindung ist die Dar
stellung des sogenannten Jitterdiagramms 20 gemäß Fig.
7.
Mit diesem Jitterdiagramm kann vor allem die Qualität
der Kartenbeschreibung bestimmt werden. Diese Qualität
hängt im wesentlichen von dem Abstand der Bits
zueinander ab. Bei einer konstanten Bewegung des
Magnetkopfes über den Magnetstreifen werden
unterschiedliche Bitlängen durch Zeitschwankungen
(Jitter) im Lesesignal erkennbar. Die Abstände von
Flußwechsel zu Flußwechsel werden von der
Zeitmeßeinheit des Analysegerätes 12 mit einer Genauig
keit von ca. 1 µs gemessen und gespeichert. Die
erlaubten Toleranzen sind ebenfalls in ISO-Normen fest
gelegt. Wird beispielsweise ein Magnetstreifen zu
schnell beschrieben, so gibt dies später Probleme beim
Lesen der Karte, d. h., die Qualität der Karte läßt zu
wünschen übrig. Probleme entstehen auch vor allem dann,
wenn die Abstände der einzelnen Bits schwanken, d. h.,
wenn der Abstand von aufeinanderfolgenden Bits einmal
zu kurz und einmal zu lang ist. Damit beginnt der
Jitter zu "pumpen" und es kommt zu Gleichlauf
schwankungen.
Die erlaubten Toleranzen sind im übrigen für 0-Bits und
1-Bits unterschiedlich. Für einen 0-Bit beträgt der
Abstand der Flußwechsel 1511 µs (bei 210 BPI), für
einen 1-Bit die Hälfte davon bei einer
Lesegeschwindigkeit von ca. 80 mm/sec. Die
erfindungsgemäße Zeitmessung ist im übrigen 1 µs genau.
In dem Jitterdiagramm 20 wird die Zeitabweichung der
einzelnen Bits von ihrem Sollwert dargestellt. Dabei
zeigen die Striche oberhalb der x-Achse 21 die
Abweichungen der 1-Bits und die Striche unterhalb der
x-Achse die Abweichungen der 0-Bits (siehe Fig. 8).
Ein durchgezogener Strich 22 bedeutet eine positive Ab
weichung einer Hälfte eines 1-Bits. Ein durchgezogener
Strich 23 ausgehend von der x-Achse 21 nach unten kenn
zeichnet die Größe der positiven Abweichung eines
0-Bits. Eine gestrichelte Linie 24 nach oben sowie eine
gestrichelte Linie 25 nach unten bedeuten jeweils eine
negative Abweichung der Hälfte eines 1-Bits bzw. eines
ganzen 0-Bits.
In Fig. 9 sind noch zusätzlich zu den Abweichungen
auch die Grenzwertlinien dargestellt, wobei die
unterschiedlich punktierten Grenzwertlinien 26 und 27
jeweils eine unterschiedliche prozentuale Abweichung
darstellen.
Fig. 10 zeigt nun ein Beispiel einer Hüllkurve 16a,
welche zwei gravierende Fehlerbereiche 28 und 29
aufweist. Hier ist mit einem spitzen Gegenstand über
den Magnetstreifen 4 gekratzt worden.
In Fig. 11 erkennt man den Fehlerbereich 28 in der Lupe
19a. In Fig. 12 sind schließlich auch die durch die
Fehlerbereiche 28 und 29 erzeugten Abweichungen im
Jitterdiagramm 20 sichtbar gemacht.
Um den Jitter zu detektieren wird im übrigen eine soge
nannte Peak-to-Peak-Detektierung gewählt. D. h., daß nur
die Scheitelwerte 30 (siehe Fig. 6) bzw. die Umkehr
punkte des Flusses detektiert werden. Diese Methode hat
sich deshalb als wesentlich günstiger erwiesen, weil
die übliche Detektierung der Lage des Null-Durchgangs
sehr unsichere Ergebnisse bringt. Insbesondere ist dies
aus Fig. 6 ersichtlich, wo der Null-Durchgang 31 erheb
lich streuen kann.
Die Umkehrspitze verschiebt sich dagegen auch bei einer
großen Signalabschwächung nicht, während der
Null-Durchgang 31 sehr vom Rauschen bzw. von der
Amplitude abhängt. Beispielsweise bei einem Hüllkurven-
Einbruch, wie er als Fehlerbereich 28 oder 29 in Fig.
10 gezeigt ist, bleibt der Spitzenwert 30 in der
x-Richtung gleich, er verschiebt sich lediglich in der
y-Koordinate.
Wie oben bereits erwähnt, kann der Steuerrechner 10 aus
technischen Gründen nicht gleichzeitig vom Analysegerät
12 und über die Verknüpfung 13 direkt mit der Karten
information gefüttert werden. Deshalb werden die
Jitterdaten zusammen mit der Zeitmessung im Analyse
gerät zwischengespeichert und später abgerufen. Die
Karteninformation kann wiederum aus den Zeitdaten der
Bits generiert und dem Digitalteil des Analysegeräts 12
zur Verfügung gestellt werden. D. h. in der Regel
werden die A-D-Werte einer Kartenspur über des
A-D-Wandler 9 und die Zeitwerte, d. h. die Qualität der
Kartenbeschreibung, über das Analysegerät 12 ermittelt,
während die Digitaldaten, d. h. die Karteninformation,
aus den Zeitdaten des Analysegerätes 12 generiert
werden. Allerdings ist an eine Erweiterung der Geräte
insoweit gedacht, als zwei Spuren auf der Magnetkarte
gleichzeitig gelesen werden sollen. Daraus resultiert
dann eine kürzere Zeit für den Steuerrechner.
Claims (8)
1. Verfahren zum Erfassen und Darstellen von Lesesignalen
von Magnetstreifenspuren
und/oder der Qualität der Aufzeichnung von Datenbits, wobei
die Zeit zwischen benachbarten Datenbits durch Abtasten mit
vorbestimmter Geschwindigkeit ermittelt, die örtliche Position
von den Umkehrpunkte der Magnetisierung berechnet
und die Abweichungen von einer durch die vorbekannte Norm der zu untersuchenden Magnetstreifen gegebenen Soll-Position als Funktion des
Abtastortes in einem
Diagramm (Jitterdiagramm) dargestellt werden und
wobei die Abweichun
gen der 1-Bits von der Soll-Position einerseits der x-Achse und die Abweichungen
der 0-Bits von der Sollposition andererseits der x-Achse dargestellt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
sowohl einerseits wie andererseits der x-Achse eine
getrennte Darstellung der positiven und der negativen
Abweichungen erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß beidseits der x-Achse Grenzwertlinien
gezogen werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß in einem Arbeitsgang über einen A-D-
Wandler die Lesesignale digitalisiert und einem
Steuerrechner zugeführt sowie die Zeitmessung zwischen den
Datenbits in einem Analysegerät zwischengespeichert und
nach Beendigung des Lesens des Magnetstreifens vom Rechner
abgerufen werden.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
aus der Zeitmessung der Bitabstände die Datenbits der
Karteninformation generiert werden.
6. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die A-D-Werte als Spitzenwerte
in einer Hüllkurve dargestellt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Spitzenwerte aus der Hüllkurve in x-Achsenrichtung
auseinandergezogen in einer Lupe dargestellt werden.
8. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schwellenwerte für die
Darstellung des Jitters und/oder der Hüllkuve und/oder der
Lupe veränderbar sind.
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DE19873714244 DE3714244C2 (de) | 1987-04-29 | 1987-04-29 | Verfahren zum Erfassen und Darstellen von Lesesignalen von Magnetstreifenspuren |
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DE19873714244 DE3714244C2 (de) | 1987-04-29 | 1987-04-29 | Verfahren zum Erfassen und Darstellen von Lesesignalen von Magnetstreifenspuren |
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DE3714244A1 DE3714244A1 (de) | 1988-11-17 |
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Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4006426C2 (de) * | 1990-03-01 | 1993-11-18 | Siemens Nixdorf Inf Syst | Verfahren zum Auswerten binärer Informationen einer Magnetspeicherkarte |
GB9719583D0 (en) * | 1997-09-16 | 1997-11-19 | Ncr Int Inc | A method of authenticating a magnetic card |
EP1126398A3 (de) | 2000-01-24 | 2002-08-21 | Kabushiki Kaisha Sankyo Seiki Seisakusho | Magnetkartenleser sowie Wiedergabe- und Demodulationsverfahren |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0040952A1 (de) * | 1980-05-27 | 1981-12-02 | Sperry Corporation | Präzisions-Impulslängendetektor |
DD159686A1 (de) * | 1981-06-12 | 1983-03-23 | Frank Schwier | Pruefung von magnetbaendern und magnetkoepfen |
-
1987
- 1987-04-29 DE DE19873714244 patent/DE3714244C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0040952A1 (de) * | 1980-05-27 | 1981-12-02 | Sperry Corporation | Präzisions-Impulslängendetektor |
DD159686A1 (de) * | 1981-06-12 | 1983-03-23 | Frank Schwier | Pruefung von magnetbaendern und magnetkoepfen |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 60-258767 A mit Abstract (englisch) * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3714244A1 (de) | 1988-11-17 |
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