DE4027896C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Clusterionen-Aufdampfvorrichtung
nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Fig. 1 ist ein Schnitt durch eine konventionelle Vorrichtung,
die z. B. in der JP-PS 54-9592 (1979) beschrieben ist. Die Fi
gur zeigt einen Vakuumbehälter, in dem ein vorbestimmtes Va
kuum unterhalten wird, und eine Evakuierungsleitung 2 zur Eva
kuierung des Vakuumbehälters 1, wobei die Evakuierungsleitung
an eine Evakuierungseinrichtung (nicht gezeigt) angeschlossen
ist. Ein Tiegel 3 hat einen Deckel 3a mit einer oder mehreren
Düsenöffnungen 3b mit einem Innendurchmesser von 1-2 mm. Der
Tiegel 3 ist mit einem Aufdampfmaterial 4, z. B. Aluminium,
beschickt. Eine Tiegelhaltestange 5 ist an einer Tiegel
haltebasis 7 über einen isolierenden Haltekörper 6 befe
stigt. Eine Einrichtung 8 zum Heizen des Tiegels 3 ist bei
spielsweise ein Heizfaden. Eine Wärmeabschirmplatte 9 nimmt
die Strahlungswärme vom Heizfaden 8 auf. Der Tiegel 3, der
Heizfaden 8 und die Wärmeabschirmplatte 9 bilden eine Ver
dampfungsquelle 12 zum Erhitzen und Verdampfen des Auf
dampfmaterials 4 unter Bildung eines Clusterstrahls 17, der
aus Clustern 26 des Aufdampfmaterials besteht. Eine Grund
platte 10 ist an dem Vakuumbehälter 1 über eine Halterung
11 befestigt.
Eine Glühemissionseinrichtung 13 dient der Aussendung von
Glühelektronen 14 zur Ionisierung. Die Glühemissionseinheit
13 umfaßt gemäß Fig. 2 eine Glühkathode bzw.
einen Ionisierungsdraht 15 und eine
Elektronenextraktionselektrode 16 zur Beschleunigung der
vom Ionisierungsdraht 15 emittierten Glühelektronen 14, so
daß der Clusterstrahl 27 mit den Glühelektronen 14 be
strahlt wird. Eine Abschirmplatte 17 dient der Abschirmung
der vom Ionisierungsdraht 15 abgestrahlten Wärme. Die Glüh
emissionseinrichtung 13 und die Abschirmplatte 17 bilden
eine Ionisierungseinrichtung 18 zur Ionisierung des von der
Verdampfungsquelle 12 emittierten Clusterstrahls 17. Der
Ionisierungsdraht 15 und die Elektronenextraktionselektrode
16 sind üblicherweise auf einer zylindrischen, konischen
oder achssymmetrischen Polygonfläche angeordnet, die den
Clusterstrahl 27 umgibt. Der Ionisierungsdraht 15 und die
Elektronenextraktionselektrode 16 sind an Stellen angeord
net, die einem Austrittswinkel des Clusterstrahls von
10-20°, gemessen von der Strahlmitte, entsprechen. Eine
Beschleunigungselektrode 19 ist vorgesehen, so daß eine
Spannung zwischen die Beschleunigungselektrode 19 und die
Elektronenextraktionselektrode 16 gelegt werden kann. Ein
isolierender Tragkörper 20 haltert die Elektronenextrak
tionselektrode 16 und die Beschleunigungselektrode 19 iso
liert. Der isolierende Tragkörper 20 ist auf der Grund
platte 10 über einen Ständer 21 und einen Isolierkörper 22
befestigt. Ein Substrat 23 ist in dem Vakuumbehälter 1 mittels
einer Substrathalterung 24 und eines Iso
lierkörpers 25 angeordnet. Mit 28 sind
die von der Ionisierungseinrichtung 18 ioni
sierten Cluster bezeichnet.
Die konventionelle Vorrichtung wird wie
folgt betrieben:
Beim Aufdampfen einer Aluminiumdünnschicht auf das Substrat
23 wird zuerst Aluminium 4 als Aufdampfmaterial in
Tiegel 3 angeordnet. Der Vakuumbehälter 1 wird durch
die Evakuierungseinrichtung auf ein Vakuum von ca. 10-4 Pa
evakuiert. Dann werden dem Heizfaden 8 Strom
zur Erzeugung von Wärme zugeführt, und das Aluminium 4 im
Tiegel 3 bis zur Verdampfung erhitzt, und zwar ent
weder durch die Strahlungswärme vom Heizfaden 8 oder durch
die Kollision mit den vom Heizfaden 8 emittierten Glühelek
tronen. Wenn der Tiegel 3 auf eine solche Temperatur er
wärmt ist, daß der Dampfdruck des Aluminiums 4 ca.
10-10-3 Pa beträgt, wird Alumi
niumdampf aus der Düse 3b ausgestoßen. Zu diesem Zeitpunkt
bewirkt die Druckdifferenz zwischen dem Inneren des Tiegels
3 und dem Inneren des Vakuumbehälters 1 eine adiabatische
Expansion des Aluminiumdampfs, was in der Bildung des
Clusterstrahls 27 resultiert, der aus den sogenannten Clu
stern, d. h. aus Aggregaten einer Vielzahl von lose anein
ander gebundenen Atomen, besteht.
Der Clusterstrahl 27 wird mit den aus dem Ionisierungsdraht
15 von der Elektronenextraktionselektrode in Richtung zur
Mittenachse des Clusterstrahls 27 extrahierten Glühelek
tronen 14 bestrahlt. Durch die Bestrahlung werden einige
Cluster des Clusterstrahls in ionisierte Cluster 28 auf
grund der Ionisierung eines Atoms im Cluster umgewandelt.
Somit werden die ionisierten Cluster 28 in geeigneter Weise
durch ein zwischen der Beschleunigungselektrode 9 und der
Elektronenextraktionselektrode 16 erzeugtes elektrisches
Feld beschleunigt und treffen auf das Substrat 23 mit der
kinetischen Energie auf, die sie erhalten haben, als die
nichtionisierten neutralen Cluster 26 aus dem Tiegel 3 aus
gestoßen wurden. Infolgedessen wird eine Aluminiumdünn
schicht auf das Substrat 23 aufgedampft.
Bei dieser konventionellen Vorrichtung
sind der Ionisierungsdraht 15 und die Elek
tronenextraktionselektrode 16, die die Glühemissionsein
richtung bilden, auf einer zylindrischen Fläche angeordnet,
die den Clusterstrahl 27 umgibt. Daher ist ein oberer Ab
schnitt der Glühemissionseinrichtung 13 ständig dem Clu
sterstrahl 27 ausgesetzt. Wenn die Intensität des Clu
sterstrahls erhöht würde, um eine höhere Aufdampfgeschwin
digkeit zu erzielen, würde der Clusterstrahl auf der Elek
tronenextraktionselektrode 16 oder dergleichen kondensieren
unter Hervorrufen einer Reaktion der Cluster mit dem Elek
trodenmaterial oder Aufbringen des Aufdampfmaterials 4 auf
die Elektrode 16, was zu Problemen wie
z. B. einer sehr schnellen Verformung der Elektrode 16
führt. Zur Beseitigung dieser Probleme ist es notwendig,
die Ionisierungseinrichtung 18 häufig zu ersetzen. Ferner
besteht die Gefahr eines Kurzschlusses aufgrund einer star
ken Verformung der Elektronenextraktionselektrode.
Weiterhin ergeben sich bei der Ionisierung eines Cluster
strahls hoher Intensität Schwierigkeiten bei der Kontrolle
der Ionisierungsbedingungen aufgrund der Erzeugung eines
Plasmas zwischen dem Ionisierungsdraht 15 und der Elektro
nenextraktionselektrode 16 infolge einer hohen Dampfdichte
an der Glühemissionseinrichtung. Insbesondere dann, wenn
als Aufdampfmaterial 4 ein Element mit geringer Austritts
arbeit eingesetzt wird, wird durch das Aufbringen des Ele
ments auf den eine hohe Temperatur aufweisenden Ionisie
rungsdraht 15 die Austrittsarbeit an der Drahtoberfläche
vermindert, was zu einer sehr Steigerung der
Glühemissionsmenge und damit zu Störungen wie etwa einem
Versagen der Stromversorgung für die Ionisierung führt.
Andererseits geht eine Vergrößerung des Durchmessers der
Glühemissionseinrichtung 13 mit dem Ziel der Verhinderung
der Bestrahlung der Glühemissionseinrichtung 13 durch den
Clusterstrahl mit einer Vergrößerung der Außenabmessungen
der Ionisierungseinrichtung 18 einher, so daß es nicht mög
lich ist, eine kompakte Vorrichtung zu bauen, die in bezug
auf Evakuierungszeit und Kosten günstig ist.
Eine einfache Möglichkeit der Kontrolle der Bestrahlung der
Glühemissionseinrichtung 13 mit dem Clusterstrahl ist der
Einsatz einer Glühemissionseinrichtung mit divergierender
Konusform. Tatsächlich ist bereits eine Ionisierungeinrich
tung, die in Fig. 3 gezeigt ist, aus der Literatur bekannt:
W. Knauer und R.L. Poeschei, Ionized cluster beam deposi
tion, J.Vac.Sci.Technol., B6 (1), 1988, S.456-460. Diese
Anordnung, die ursprünglich für analytische Untersuchungen
von Edelgas-Clusterstrahlen verwendet wurde, wurde in eine
Ionisierungseinrichtung zur Schichtabscheidung umgewandelt,
wobei ein Clusterstrahl 27a ein Loch 4 in einer Abschirm
platte 40 durchsetzt und durch das Innere von divergieren
den Elektronenextraktionselektroden 16 und eines Ionisie
rungsdrahts 15 geschickt wird. Dabei ergeben sich jedoch
Probleme beispielsweise hinsichtlich der Bearbeitungstech
nik, und zwar Schwierigkeiten beim exakten Formen einer
Vielzahl von konischen Elektronenextraktionselektroden und
bei der Montage der Elektroden mit guter Reproduzierbar
keit.
Eine Clusterionen-Aufdampfvorrichtung der eingangs genannten
Art ist aus der US-PS 48 12 326 bekannt. Weiterhin ist aus der
JP-OS 63-0 42 365 eine ähnliche Vorrichtung bekannt, bei der
eine Hilfselektrode zwischen Effusionstiegel und Ionisierungs
einrichtung vorgesehen ist, die eine unerwünschte Bedampfung,
z. B. der Ionisierungseinrichtung, verhindern soll.
Die bekannten Vorrichtungen weisen jedoch die obengenannten
Nachteile ebenfalls auf.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Clusterionen-
Aufdampfvorrichtung der eingangs genannten Art dahingehend
weiterzubilden, daß in konstruktiv einfacher Weise eine hohe
Betriebssicherheit gewährleistet wird.
Diese Aufgabe wird durch die im Kennzeichen des Patentanspru
ches 1 angegebenen Merkmale gelöst. Bevorzugte Ausführungsfor
men der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Beschreibung von Ausfüh
rungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen in:
Fig. 1 einen Schnitt durch eine konventionelle Vor
richtung;
Fig. 2 eine teilgeschnittene Perspektivansicht
eines wichtigen Teils der bekannten Vorrich
tung;
Fig. 3 einen Schnitt durch einen Teil einer bekannten
Ionisierungseinrichtung;
Fig. 4 einen Schnitt durch ein Ausführungsbeispiel
der Vorrichtung nach der Erfindung;
Fig. 5 eine teilgeschnittene Perspektivansicht
eines wichtigen Teils der Vorrichtung gemäß
einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 6, 7 und 8 Darstellungen der Verteilung des elektrischen
Potentials in einem wichtigen Teil der Vor
richtung gemäß einem Ausführungsbeispiel der
Erfindung;
Fig. 9 ein Diagramm von Messungen der Ionenstromdich
teverteilung auf einem Substrat in der Vor
richtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der
Erfindung;
Fig. 10 einen Schnitt durch ein anderes Ausführungs
beispiel der Vorrichtung nach der Erfindung;
und
Fig. 11 einen Schnitt durch ein weiteres Ausführungs
beispiel der Vorrichtung nach der Erfindung.
Fig. 4 zeigt eine Glühemissionseinrichtung 13, die Glüh
elektronen zur Ionisierung emittiert. Wie Fig. 5 im ein
zelnen zeigt, ist die Glühemissionseinrichtung in Ringform ausgebildet,
in einer Horizontalebene angeordnet und hat eine Öffnung
zum Durchtritt eines Clusterstrahls 27. Die Größe der Öff
nung ist so bemessen, daß ein Clusterstrahl mit einem Aus
trittswinkel von wenigstens 15°, vorteilhafterweise wenig
stens 30°, gemessen von der Mittenachse des Clusterstrahls
27, durchtreten kann. Die Glühemissionseinrichtung 13 um
faßt einen Ionisierungsdraht 15 und eine Elektronenextrak
tionselektrode 16, wodurch die vom Ionisierungsdraht 15
abgegebenen Glühelektronen beschleunigt werden und den
Clusterstrahl 27 bestrahlen. Der Abstand zwischen dem Ioni
sierungsdraht 15 und der Elektronenextraktionselektrode 16
sollte ca. 5±0,2mm betragen, um die gewünschten
Glühemissionscharakteristiken zu erzielen. Da sowohl der
Ionisierungsdraht 15 als auch die Extraktionselektrode 16
Flachform haben, kann der Abstand mit guter Reproduzier
barkeit und hoher Genauigkeit eingestellt werden. Auch wenn
der Öffnungsdurchmesser der Glühemissionseinrichtung 13 so
vorgegeben ist, daß er einem Austrittswinkel von wenigstens
30° entspricht, kann die Glühemissionseinrichtung 13 kom
pakt gebaut werden, weil der Durchmesser des Clusterstrahls
27 im Bereich der Austrittsöffnung einer Düse 3b ver
gleichsweise klein ist und die Elektronenextraktionselek
trode 16 Flachform hat und sehr dünn
gemacht werden kann. Eine Abschirmplatte 17,
die in einem unteren Teil der Glühemissionseinrichtung 13
angeordnet ist, verringert die Strahlungswärme vom Ioni
sierungsdraht 15 und verhindert die Direktbestrahlung der
Glühemissionseinrichtung 13 mit dem Clusterstrahl 27, der
in einem großen Austrittswinkel aus
tritt. Eine Reflexionselektrode 29 lenkt die Flugbahn der
ionisierenden Glühelektronen 14, die im wesentlichen
vertikal nach oben aus der Glühemissionseinrichtung 13 extra
hiert werden, derart ab, daß der Clusterstrahl 27a, der die
Glühemissionseinrichtung 13 passiert hat, mit den Glühelek
tronen 14 bestrahlt wird. Das elektrische Potential der
Reflexionselektrode 29 kann etwa gleich dem
elektrischen Potential des Ionisierungsdrahts 15 vorgegeben
sein. 30 ist eine maschenförmige Steuerelektrode, deren
Potential zweckmäßigerweise zur Steuerung des Bereichs ein
gestellt ist, in dem die zur Ionisierung bestimmten Glüh
elektronen 14 vorhanden sind, wodurch die Ionenverteilung
im Clusterstrahl 27a willkürlich gesteuert wird. Die Glüh
emissionseinrichtung 13, die Abschirmplatte 17, die Refle
xionselektrode 29 und die Steuerelektrode 30 bilden eine
Ionisierungseinrichtung 18. 19 ist eine Beschleunigungs
elektrode. Die Reflexionselektrode 29 und die Beschleuni
gungselektrode 19 sind teilweise maschenförmig, um die
Fläche für das Auftreffen des Clusterstrahls 27a zu verringern.
Was die Werkstoffe für die Einzelteile betrifft, so kann
der Ionisierungsdraht 15 ein Wolframdraht sein, während für
die Elektronenextraktionselektrode 16, die Reflexionselek
trode 29 und die Steuerelektrode 30 Molybdän oder Tantal
verwendet werden, die durch chemisches Ätzen oder funken
erosives Bearbeiten zu Maschenform geformt sind. Für die
Abschirmplatte 17 kann ein hochschmelzendes Metall oder
Keramik verwendet werden. Wenn als das Aufdampfmaterial 4
Aluminium eingesetzt wird, kann eine Verlängerung der Be
triebslebensdauer der Abschirmplatte 17
dadurch erzielt werden, daß als Material für die Abschirm
platte 17 ultrahochdichtes Graphit
eingesetzt wird.
Die so aufgebaute Vorrichtung arbeitet wie folgt.
Es wird zuerst auf den Betrieb der Ionisierungseinrichtung
18 Bezug genommen. Nur ein zentraler Teil des Cluster
strahls 27 tritt durch die Abschirmplatte 17. Daher
wird die Glühemissionseinrichtung 13 überhaupt nicht von
dem Clusterstrahl 27a bestrahlt. Andererseits wird dem
Ionisierungsdraht 15 ein elektrischer Strom zur Erzeugung
von Wärme zugeführt. Eine Spannung von 50-500 V wird
zwischen den Ionisierungsdraht 15 und die Elektronenextrak
tionselektrode 16 gelegt, wodurch die Glühelektronen 14
vertikal nach oben extrahiert werden. Die Flugbahnen der
Glühelektronen 14 werden in Richtung zur Mittenachse des
Clusterstrahls durch ein elektrisches Feld umgelenkt, das
von der Reflexionselektrode 29 erzeugt wird, deren elektri
sches Potential ungefähr gleich dem elektrischen Potential
des Ionisierungsdrahts 15 ist. Somit wird der Clusterstrahl
27a nach Durchsetzen der Abschirmplatte 17 mit den Glüh
elektronen 14 bestrahlt, was in der Bildung ionisierter
Cluster 28 resultiert. Der Stromwert der vom Ionisierungs
draht 15 extrahierten Glühelektronen 14 ist normalerweise auf einen
Bereich von ca. 50-1000 mA eingestellt. Ein Teil des auf
die Abschirmplatte 17 auftreffenden Clusterstrahls 27 wird
so, wie er ist, ohne erneute Verdampfung abgeschieden. Da
der Abstand zwischen der Abschirmplatte 17 und der Verdamp
fungsquelle 12 jedoch groß ist, kann durch die Abscheidung
kein Kurzschluß hervorgerufen werden. Bei einem Experi
ment unter Einsatz von Aluminium als Aufdampfmaterial für
die Aufbringung einer Aluminiumdünnschicht mit einer Auf
dampfgeschwindigkeit von 66 nm/min wurde beispielsweise
gefunden, daß die Vorrichtung über den langen Zeitraum
von wenigstens 40 h im Dauerbetrieb arbeiten kann; dieser
Wert entspricht dem Hundertfachen oder mehr des bisher
erreichten Werts.
Nunmehr wird der Betrieb der Steuerelektrode 30 beschrie
ben.
Die Steuerelektrode 30 dient zur Steuerung des Ionisie
rungsbereichs in der Ionisierungseinrichtung 18, um die
Ionenverteilung im Clusterstrahl 27a zu vergleichmäßigen.
Fig. 6 zeigt ein Beispiel der Resultate von zahlenmäßigen
Berechnungen der elektrischen Potentialverteilung in der
Ionisierungseinrichtung 18, wobei Äquipotentiallinien in
Abständen von 0,5 kV angegeben sind. Fig. 7 zeigt vergrö
ßert die Resultate von zahlenmäßigen Berechnungen der
Potentialverteilung in dem von der Strichpunktlinie in Fig.
6 begrenzten Bereich, wobei das Potential der Steuerelek
trode 30 als ungefähr gleich dem Potential (4,5 kV) des
Ionisierungsdrahts 15 angenommen ist. Fig. 8 zeigt ebenso
in vergrößerter Form die Resultate von zahlenmäßigen Be
rechnungen der Potentialverteilung in dem von der Strich
punktlinie in Fig. 6 begrenzten Bereich, wobei das Poten
tial der Steuerelektrode 30 als ungefähr gleich dem Poten
tial (5 kV) der Elektronenextraktionselektrode 16 angenom
men ist. Der schraffierte Bereich A in den Fig. 7 und 8
bezeichnet jeweils den Bereich, in dem die Glühelektronen
für die Ionisierung vorhanden sind. Die Fig. 7 und 8 zei
gen, daß es durch geeignete Einstellung des elektrischen
Potentials der Steuerelektrode 30 möglich ist, den Bereich
der Anwesenheit der ionisierenden Glühelektronen einzustellen
und dadurch den Ionisierungsbereich in der Ionisierungsein
richtung 18 zu steuern.
Fig. 9 zeigt die Resultate von Messungen der Ionenstrom
dichteverteilung auf dem Substrat 23, und zwar für ver
schiedene Werte des elektrischen Potentials Vc der Steuer
elektrode 30, im Fall des Aufdampfens einer Aluminiumdünn
schicht auf das Substrat 23 mit einer Beschleunigungsspan
nung von 5 kV und einer Aufdampfgeschwindigkeit von
66 nm/min unter Anwendung der beschriebenen Vorrichtung.
Durch geeignete Einstellung
des elektrischen Potentials der Steuerelektrode 30 war es
möglich, eine extrem flache Verteilung der Ionenstromdichte
zu erzielen, wobei das Maximum-Minimum-Verteilungsverhält
nis ca. 3:1 ist, und zwar auch bei der hohen Beschleuni
gungsspannung von 5 kV.
Die Steuerelektrode 30 wird zwar von dem Clusterstrahl 27a
bestrahlt, aber durch die Bestrahlung wird der Ionisie
rungsbetrieb nicht instabil, weil die Steuerelektrode 30
anders als die Glühemissionseinrichtung 13 nur zum Ein
stellen eines elektrischen Potentials dient. Die Abschei
dung des Clusterstrahls 27a auf die Steuerelektrode 30 kann
je nach dem Dampfdruck des eingesetzten Aufdampfmate
rials 4 ein Problem sein. Dieses Problem kann jedoch da
durch gelöst werden, daß die Steuerelektrode 30 so ausge
legt wird, daß sie heizbar ist, indem ein Strom durch sie
geschickt wird.
Das obige Ausführungsbeispiel wurde unter Bezugnahme auf
die Verwendung eines Wolframdrahts als Ionisierungsdraht 15
beschrieben. Dieser kann auch anders geformt sein bzw.
aus anderen Materialien bestehen, da die Glühemissionsein
richtung 13 im vorliegenden Fall Flachform haben kann.
Beispielsweise sind als Ionisationsdraht 15 auch Platten
oder Flächenkörper aus Wolfram, Tantal, Lanthanhexa
borid (LaB6), das Glühelektronen bei niedriger Temperatur
emittiert, und dergleichen einsetzbar.
Das obige Ausführungsbeispiel wurde unter Bezugnahme
auf die Verwendung einer ringförmigen Steuerelektrode 30
beschrieben. Der gleiche Effekt kann mit anderen Elek
trodenformen, z.B. einer Konusform wie in Fig. 10, erzielt
werden.
Bei dem obigen Ausführungsbeispiel ist die Ionisierungs
einrichtung 18 im wesentlichen rotationssymmetrisch in
bezug auf die Mittenachse des Clusterstrahls 27 gebildet
und hat eine kreisrunde Öffnung. Es ist jedoch auch mög
lich, den gleichen Effekt wie oben zu erzielen, wenn andere
Formen, z. B. eine viereckige oder polygonale Elektrode
oder Öffnung, verwendet werden.
Das obige Ausführungsbeispiel wurde unter Bezugnahme auf
die Ionisierungseinrichtung 18 mit Steuerelektrode 30 zur
Realisierung einer gleichmäßigen Ionenverteilung erläutert.
Eine Ionisierungseinrichtung ohne Steuerelektrode ist ebenfalls verwen
bar, weil das Aufbringen einer Dünnschicht keine erhebli
che Gleichmäßigkeit der Ionenverteilung erfordert. Auch in
diesem Fall wird der gleiche Effekt wie oben hinsichtlich
der Stabilität des Ionisierungsbetriebs, der Betriebsle
bensdauer der Elektroden usw. erzielt.
In der obigen Beschreibung des Ausführungsbeispiels ist die
Elektronenextraktionselektrode 16 an der Oberseite des
Ionisierungsdrahts 15 vorgesehen, um die Glühelektronen 14
nach oben zu extrahieren. Wie Fig. 11 zeigt, können jedoch
Elektronenextraktionselektroden 16a, 16b an der Ober- und
der Unterseite des Ionisierungsdrahts 15 vorgesehen sein,
um die Glühelektronen auf beiden Seiten des Ionisierungs
drahts 15 zu extrahieren und dadurch den Strom der ionisie
renden Glühelektronen 14 zu erhöhen. In diesem Fall wird
das reflektierende elektrische Feld für die nach unten
extrahierten Glühelektronen 14 von der Abschirmplatte 17
erzeugt, die auf im wesentlichen das gleiche Potential wie
der Ionisierungsdraht 15 eingestellt ist.
Claims (25)
1. Clusterionen-Aufdampfvorrichtung zum Aufdampfen einer Dünn
schicht eins Aufdampfmaterials auf ein Substrat, mit einem
Vakuumbehälter (1), der auf einem vorbestimmten Unterdruck ge
halten wird, mit einer Effusionszelle als Verdampfungsquelle
(3), mit Ionisierungseinrichtungen und Beschleunigungselektro
den (19) mit strahlbegrenzenden Eigenschaften, wobei die Ioni
sierungseinrichtungen eine senkrecht zur Mittelachse der Vor
richtung angeordnete Glühkathode (15) zur Elektronenemission
und eine Abschirmplatte (17) zum Abschirmen gegenüber der Ver
dampfungsquelle (3) und eine Ablenkelektrode (29) umfassen, um
die Elektronen auf den Clusterstrahl (27a) auszurichten,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ionisierungseinrichtung eine Glühemissionseinrichtung (13) umfaßt, die in einer zur Mittenachse orthogonalen Ebene angeordnet ist,
daß die Abschirmplatte (17) zwischen der Glühemissionseinrich tung (13) und der Verdampfungsquelle (3) derartig angeordnet ist, daß eine direkte Bestrahlung durch den Clusterstrahl (27) verhindert wird, und
daß eine Reflexionselektrode (29) vorgesehen und derart ange bracht ist, daß die aus der Glühemissionseinrichtung (13) im wesentlichen parallel zur Mittenachse austretenden Glühelek tronen (14) in Richtung zur Mittenachse gerichtet ist.
daß die Ionisierungseinrichtung eine Glühemissionseinrichtung (13) umfaßt, die in einer zur Mittenachse orthogonalen Ebene angeordnet ist,
daß die Abschirmplatte (17) zwischen der Glühemissionseinrich tung (13) und der Verdampfungsquelle (3) derartig angeordnet ist, daß eine direkte Bestrahlung durch den Clusterstrahl (27) verhindert wird, und
daß eine Reflexionselektrode (29) vorgesehen und derart ange bracht ist, daß die aus der Glühemissionseinrichtung (13) im wesentlichen parallel zur Mittenachse austretenden Glühelek tronen (14) in Richtung zur Mittenachse gerichtet ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühemissionseinrichtung (13) eine Durchtrittsöffnung zum
Durchtritt des Clusterstrahls aufweist, die solche Größe
und Form hat, daß sie in Austrittsrichtung des Cluster
strahls (27) divergiert, so daß der Clusterstrahl sie mit
einem Austrittswinkel von wenigstens 15° durchsetzt, wobei
der Austrittswinkel in einer die Mittenachse des Cluster
strahls enthaltenden Schnittebene gemessen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühemissionseinrichtung (13) eine Extrak
tionselektrode (16) zur Beschleunigung der Elektronen
aufweist, wobei der Abstand zwischen der Glühkathode (15) und
der Extraktionselektrode (16) einige Milli
meter beträgt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ablenkelektrode (29) durch chemisches Ätzen
oder funkenerosives Bearbeiten maschenförmig ausgebildet
ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ablenkelektrode (29) aus Molybdän besteht.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ablenkelektrode (29) aus Tantal besteht.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Abschirmplatte (17) aus einem hochschmelzenden
Metall besteht.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Abschirmplatte (17) aus Keramik besteht.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Aufdampfmaterial (4) Aluminium ist und die Ab
schirmplatte (17) ultrahochdichtes Graphit aufweist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühkathode (15) und die Ablenkelektrode (29) auf ungefähr glei
che elektrische Potentiale eingestellt sind.
11. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühkathode (15) ein Wolframdraht ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühkathode ein Wolframblech umfaßt.
13. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühkathode ein Tantalblech umfaßt.
14. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühkathode Lanthanhexaborid (LaB6) umfaßt.
15. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ionisierungseinrichtung eine Steuerelektrode (30)
zur Steuerung des Bereichs, in dem die Glühelektronen (14) zur
Ionisierung vorhanden sind, aufweist, wobei die Steuer
elektrode (30) lose in die Durchtrittsöffnung eingesetzt ist und die
Ionisierungseinrichtung die Ionenverteilung im Cluster
strahl (27) willkürlich steuert.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektrode (30) Ringform hat.
17. Vorrichtung nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektrode (30) konisch geformt ist.
18. Vorrichtung nach Anspruch 16 oder 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektrode (30) durch chemisches Ätzen oder
funkenerosives Bearbeiten maschenförmig ausgebildet ist.
19. Vorrichtung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektrode (30) Molybdän aufweist.
20. Vorrichtung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektrode (30) Tantal aufweist.
21. Vorrichtung nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuerelektrode (30) widerstandsheizbar ist.
22. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Durchtrittsöffnung kreisrund ist, so daß der Clusterstrahl in
einer in Austrittsrichtung divergierenden Konusform aus
tritt.
23. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Durchtrittsöffnung vieleckig ist, so daß der Clusterstrahl in
einer in Austrittsrichtung divergierenden vieleckigen Pyra
midenform austritt.
24. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Glühemissionseinrichtung (13) einen Ionisierungs
draht (15) zur Emission der Glühelektronen (14) und zwei
Glühelektronen-Extraktionselektroden (16a, 16b) zum Be
schleunigen der Glühelektronen und Bestrahlen des Cluster
strahls (27) aufweist, wobei die Extraktionselektro
den (16a, 16b) auf beiden Seiten des Ionisierungsdrahts
(15) - in Austrittsrichtung des Clusterstrahls gesehen -
angeordnet sind.
25. Vorrichtung nach Anspruch 24,
dadurch gekennzeichnet,
daß das elektrische Potential der Abschirmplatte (17) unge
fähr gleich dem elektrischen Potential der Glühkathode
(15) eingestellt ist.
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