DE3938826C2 - - Google Patents

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DE3938826C2
DE3938826C2 DE3938826A DE3938826A DE3938826C2 DE 3938826 C2 DE3938826 C2 DE 3938826C2 DE 3938826 A DE3938826 A DE 3938826A DE 3938826 A DE3938826 A DE 3938826A DE 3938826 C2 DE3938826 C2 DE 3938826C2
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Germany
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memory
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testing
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Hidetada Hadano Kanagawa Jp Fukunaka
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
DE3938826A 1988-11-30 1989-11-23 Verfahren und vorrichtung zum testen eines speichers Granted DE3938826A1 (de)

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DE3938826C2 true DE3938826C2 (enExample) 1991-06-27

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