DE3838939A1

DE3838939A1 - Schaltung mit testfunktionsschaltung

Info

Publication number: DE3838939A1
Application number: DE3838939A
Authority: DE
Inventors: Hiroshi Segawa; Hideyuki Terane
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1987-11-17
Filing date: 1988-11-17
Publication date: 1989-06-01
Also published as: DE3838939C2; JPH01132979A; US4910734A

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schaltung mit einer Testfunktionsschaltung und insbesondere eine Schaltung mit einer Testschaltung zum Testen jedes der Schaltungsabschnitte, die eine Datenverarbeitungsschaltung bilden.

Da der Aufbau von Schaltungen, wie zum Beispiel hochintegrier ten Schaltungen, immer komplizierter wird, wird auch das Testen dieser Schaltungen immer komplizierter. Manchmal ist eine Testschaltung zwischen Schaltungsabschnitten, die die Schaltung bilden, eingefügt, um ein geeignetes Testen jedes dieser Schaltungsabschnitte für sich zu ermöglichen.

Fig. 1 ist eine Testschaltung vom Abtastregistriertyp, die zwi schen Schaltungsabschnitten zum Testen jedes der Schaltungs abschnitte eingefügt ist.

Beim Testen gibt die Testschaltung Testdaten in einen ge wünschten Schaltungsabschnitt ein und gibt die von dem be stimmten Abschnitt verarbeiteten Daten aus, um die Ausgangs daten zu überprüfen. Wenn die Schaltung den Schaltungsab schnitt nicht testet, arbeitet die gesamte, von einer Mehrzahl von Schaltungsabschnitten gebildete Schaltung normal.

Gemäß der Figur sind die Schaltungsabschnitte 1 a, 2 a und 3 a, die die Schaltung darstellen, zum Beispiel zusammengesetzte Logikschaltungen mit n Eingangsanschlüssen 11, 21 bzw. 31 und n Ausgangsanschlüssen 12, 22 bzw. 32.

Die Testschaltung weist n Abtastverriegelungsschaltungen 9 ₁-9 _n, die zwischen dem ersten Schaltungsabschnitt 1 a und dem zweiten Schaltungsabschnitt 2 a angeordnet sind, und n Abtastverriegelungsschaltungen 9 _n _{+ 1}-9 ₂ _n, die zwischen dem zweiten Schaltungsabschnitt 2 a und dem dritten Schaltungsab schnitt 3 a angeordnet sind, auf. Jede der Abtastverriegelungs schaltungen 9 ₁-9 ₂ _n hat einen ersten Eingangsanschluß a, einen zeiten Eingangsanschluß b, einen Steueranschluß c und einen Ausgangsanschluß d. Ein am ersten Eingangsanschluß a eingegebenes Signal oder ein am zweiten Eingangsanschluß b eingegebenes Signal wird entsprechend eines am Steueranschluß c eingegebenen Steuersignals C wahlweise am Ausgangsanschluß d abgegeben.

Fig. 2 ist eine schematische Darstellung eines Aufbaus einer allgemeinen Abtastverriegelungsschaltung, wie er auf die Ab tastverriegelungsschaltungen 9 ₁-9 _n von Fig. 1 angewendet ist.

Die Abtastverriegelungsschaltung wird von einem Mulitplexer 7 mit einem Inverter 4 und zwei Übertragungsgattern 5 und 6 und von einer Verriegelungsschaltung 8 gebildet. Wenn das am Steueranschluß c eingegebene Steuersignal C sich auf "L"- Pegel befindet, ist im Multiplexer 7 das Übertragungsgatter 5 leitend und das Übertragungsgatter 6 gesperrt. Folglich wird ein am ersten Eingangsanschluß a eingegebenes Signal DI ₁ zur Verriegelungsschaltung 8 übertragen. Befindet sich das Steuersignal C dagegen auf "H"-Pegel, ist das Übertra gungsgatter 5 gesperrt und das Übertragungsgatter 6 leitend. Folglich wird das am zweiten Eingangsanschluß b eingegebene Signal DI ₂ zur Verriegelungsschaltung 8 übertragen.

Die Verriegelungsschaltung 8 ist eine Verriegelungsschaltung vom Master-Slave-Typ, ist mit einem Taktsignal Φ synchroni siert und nimmt die Daten DI vom Multiplexer 7 an, wenn das Taktsignal Φ sich auf "H"-Pegel befindet, und hält und gibt die Daten DI ab, wenn sich das Taktsignal Φ auf dem "L"-Pegel befindet. Und zwar nimmt die Abtastverriegelungsschaltung das am ersten Eingangsanschluß a eingegebene Signal DI ₁ an, wenn das Steuersignal C sich auf dem "L"-Pegel befindet. Wenn sich das Steuersignal C auf dem "H"-Pegel befindet, nimmt sie das am zweiten Eingangsanschluß b eingegebene Signal DI ₂ an.

In Fig. 1 sind die ersten Eingangsanschlüsse a der Abtastver riegelungsschaltungen 9 ₁-9 _n der ersten bis n-ten Stufe je weils mit den Ausgangsanschlüssen 12 des ersten Schaltungsab schnitts 1 a verbunden. Die Ausgangsanschlüsse d sind mit den Eingangsanschlüssen 21 des zweiten Schaltungsabschnitts 2 a und mit den jeweiligen zweiten Eingangsanschlüssen b der Ab tastverriegelungsschaltungen 9 ₂-9 _n _{+ 1} der nachfolgenden Stufe verbunden.

Die ersten Eingangsanschlüsse a der Abtastverriegelungsschal tungen 9 _n _{+ 1}-9 ₂ _n der (n + 1)-ten bis 2 n-ten Stufen sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen 22 des zweiten Schaltungsab schnitts 2 a verbunden. Die Ausgangsanschlüsse d sind jeweils mit den Eingangsanschlüssen 31 des dritten Schaltungsab schnitts 3 a verbunden. Die Ausgangsanschlüsse d der Abtast verriegelungsschaltungen 9 _n _{+ 1}-9 ₂ _n _{- 1} der (n + 1)-ten bis (2 n - 1)-ten Stufen sind jeweils mit den zweiten Eingangsan schlüssen b der Abtastverriegelungsschaltungen 9 _n _{+ 2}-9 ₂ _n der nachfolgenden Stufe verbunden.

Die Steueranschlüsse c aller Abtastverriegelungsschaltungen 9 ₁-9 ₂ _n sind miteinander verbunden und empfangen das Steuer signal C. Die Eingangsanschlüsse 11 des ersten Schaltungsab schnitts 1 a sind jeweils mit den Dateneinganggsanschlüssen I ₁-I _n verbunden. Die Ausgangsanschlüsse 32 des Schaltungsab schnitts 3 a sind jeweils mit den Datenausgangsanschlüssen O ₁-O _n verbunden.

Im nachfolgenden wird der Betrieb der Testschaltung beschrie ben.

Der Betrieb der Testschaltung kann in den Arbeitsbetrieb, bei dem sich das Steuersignal C auf "L"-Pegel befindet, und den Verschiebebetrieb, bei dem sich das Steuersignal C auf "H"-Pegel befindet, unterteilt werden.

Beim Arbeitsbetrieb sind alle Abtastverriegelungsschaltungen 9 ₁-9 ₂ _n so angepaßt, daß sie das an den ersten Eingangsan schlüssen a eingegebene Signal aufnehmen. Daher werden die parallel von den Dateneingangsanschlüssen I ₁-I _n eingegebenen Daten in den ersten Schaltungsabschnitt 1 a eingegeben, und die im ersten Schaltungsabschnitt 1 a verarbeiteten Daten wer den über die Abtastverriegelungsschaltungen 9 ₁-9 _n auf den zweiten Schaltungsabschnitt 2 a übertragen. Die im zweiten Schaltungsabschnitt 2 a verarbeiteten Daten werden über die Abtastverriegelungsschaltungen 9 ₂ _n-9 _n _{+ 1} auf den dritten Schaltungsabschnitt 3 a übertragen, und die im dritten Schal tungsabschnitt 3 a verarbeiteten Daten werden von den Daten ausgangsanschlüssen O ₁-O _n parallel abgegeben. Damit führt beim Arbeitsbetrieb die aus den Schaltungsabschnitten 1 a, 2 a und 3 a gebildete gesamte Datenverarbeitungsschaltung fort laufend normale Datenverarbeitung synchron mit dem Taktsignal Φ durch.

Beim Schiebebetrieb sind alle Abtastverriegelungsschaltungen 9 ₁-9 ₂ _n so angepaßt, daß sie an den zweiten Eingangsanschlüs sen b eingegebene Signale aufnehmen, so daß die Abtastver riegelungsschaltungen 9 ₁-9 ₂ _n ein Schieberegister darstellen. Damit werden die am zweiten Eingangsanschluß der Abtastver riegelungsschaltungen 9 ₁ der ersten Stufe eingegebenen seriel len Daten SI aufeinanderfolgend zu den Abtastverriegelungs schaltungen 9 ₂-9 ₂ _n der nachfolgenden Stufen synchron mit dem Taktsignal Φ verschoben und vom Ausgangsanschluß d der Abtastverriegelungsschaltung 9 ₂ _n der letzten Stufe als Aus gangsdaten SO abgegeben. Durch Verbinden dieser zwei Betriebs arten können die Schaltungsabschnitte einzeln getestet werden.

Im folgenden wird der Test des zweiten Schaltungsabschnittes 2 a als Beispiel beschrieben.

Zuerst wird die Testschaltung durch Setzen des Steuersignals C auf den "H"-Pegel auf Schiebebetrieb gesetzt. Testdaten zum Testen des zweiten Schaltungsabschnittes 2 a werden vom zweiten Eingangsanschluß b der Abtastverriegelungsschaltung 9 ₁ der ersten Stufe seriell eingegeben und in den Abtastver riegelungsschaltungen 9 ₁-9 _n der ersten bis n-ten Stufe ge speichert. Danach wird die Testschaltung durch Setzen des Steuersignals C auf "L"-Pegel in den Arbeitsbetrieb gezogen, und die Ausgangsdaten der vom zweiten Schaltungsabschnitt 2 a verarbeiteten Testdaten werden zu den Abtastverriegelungs schaltungen 9 _n _{+ 1}-9 ₂ _n der (n + 1)-ten-2 n-ten Stufe übernom men. Danach wird die Testschaltung wieder auf den Schiebe betrieb umgeschaltet, und die in den Abtastverriegelungsschal tungen 9 _n _{+ 1}-9 ₂ _n gehaltenen Daten werden vom Ausgangsanschluß d der Abtastverriegelungsschaltung 9 ₂ _n der letzten Stufe durch Schiebebetrieb seriell nach außen abgegeben, um die Daten zu überprüfen.

In der vorstehend beschriebenen Testschaltung müssen die Test daten zum Testen jedes Schaltungsabschnittes seriell eingege ben werden, und die in jedem Schaltungsabschnitt verarbeiteten Daten müssen seriell abgenommen werden. Damit erfordert der Test einen langen Zeitabschnitt, und es ist schwierig, die Testdaten vorzubereiten.

Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Schaltung mit Test funktion, die einfach zu testen ist, zu schaffen.

Aufgabe der Erfindung ist es insbesondere, eine Schaltung mit Testfunktion zu schaffen, die zum wirksamen Testen ge eignet ist. Aufgabe der Erfindung ist es weiterhin, eine Schaltung mit Testfunktion zu schaffen, die zum Reduzieren der zum Testen erforderlichen Zeit geeignet ist. Aufgabe der Erfindung ist es darüber hinaus, eine Schaltung mit Testfunk tion zu schaffen, bei der das Vorbereiten von Testdaten ein fach ist. Aufgabe der Erfindung ist es ebenfalls, eine Schal tung mit Testfunktion zu schaffen, die eine geringere Anzahl von externen Anschlüssen zum Testen erfordert. Aufgabe der Erfindung ist es schließlich, eine Schaltung mit Testfunktion zu schaffen, die das Steuern zum Testen vereinfacht.

Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Schaltung mit Testfunk tion, die erfindungsgemäß eine Mehrzahl von Schaltungsab schnitten, eine Mehrzahl von Testschaltungen und eine Mehr zahl von Steuerungseinrichtungen aufweist. Die Mehrzahl von Schaltungsabschnitten stellt eine Datenverarbeitungsschaltung mit den Betriebsarten Arbeitsbetrieb und Testbetrieb dar. Die Mehrzahl von Testschaltungen ist entsprechend der Mehrzahl von Schaltungsabschnitten vorgesehen und läßt die Mehrzahl von Schaltungsabschnitten bei Arbeitsbetrieb als die Daten verarbeitungsschaltung arbeiten und testet die entsprechenden Schaltungsabschnitte bei Testbetrieb unabhängig voneinander. Die Mehrzahl von Steuerungseinrichtungen stellt Steuerungs signale entsprechend des Arbeitsbetriebs oder des Testbetriebs für jede der Mehrzahl von Testschaltungen zum Aktivieren der Mehrzahl der Testschaltungen zur Verfügung.

Die oben beschriebene Aufgabe wird ebenfalls gelöst durch eine Schaltung mit Testfunktion, die erfindungs gemäß eine Mehrzahl von Schaltungsabschnitten, eine Mehrzahl von Testschaltungen und eine Steuerungseinrichtung aufweist. Die Mehrzahl von Schaltungsabschnitten stellt eine Datenver arbeitungsschaltung mit den Betriebsarten Arbeitsbetrieb und Testbetrieb dar. Die Mehrzahl von Testschaltungen ist ent sprechend der Mehrzahl von Schaltungsabschnitten vorgesehen und läßt die Mehrzahl von Schaltungsabschnitten bei Arbeits betrieb als die Datenverarbeitungsschaltung arbeiten und testet die entsprechenden Schaltungsabschnitte bei Testbe trieb. Die Steuerungseinrichtung legt ein erstes Steuerungs signal entsprechend dem Arbeitsbetrieb an jede der Mehrzahl von Testschaltungen durch ein erstes Eingangssignal an und legt ein zweites Steuerungssignal entsprechend dem Testbetrieb an jede der Mehrzahl von Testschaltungen durch ein zweites Eingangssignal an, um so die Mehrzahl von Testschaltungen zu aktivieren.

Die wie oben beschrieben aufgebaute Schaltung mit Testfunk tionen kann an gewünschten Schaltungsabschnitten Testdaten parallel empfangen und kann das Resultat des Testens parallel ausgeben. Dadurch wird die Vorbereitung der Testdaten einfach, und die zum Testen erforderliche Zeit kann reduziert werden.

Weiterhin erfordert die wie oben beschrieben aufgebaute Schaltung mit Testfunktion eine geringere Anzahl von die Test schaltung steuernden Signalen, wodurch die zum Steuern er forderlichen externen Anschlüsse reduziert werden können und das Steuern des Testens erleichtern.

Weitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Figuren. Von den Figuren zeigt

Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Schaltung mit Testfunk tion vom Abtastregistertyp,

Fig. 2 ein Blockschaltbild, das den Aufbau einer allgemei nen Abtastverriegelungsschaltung zeigt

Fig. 3 ein Blockschaltbild, das eine Schaltung mit Test funktion in einer erfindungsgemäßen Ausführungsform zeigt;

Fig. 4 ein Blockschaltbild, das eine Schaltung mit Test funktion in einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;

Fig. 5 ein Blockschaltbild, das einen bestimmten Aufbau der in Fig. 4 gezeigten Steuerschaltung zeigt;

Fig. 6 ein Impuls-Zeit-Diagramm zum Erläutern des Betriebs der in Fig. 5 gezeigten Steuerschaltung und

Fig. 7 ein Blockschaltbild einer Steuerschaltung mit Test funktion in einer weiteren erfindungsgemäßen Aus führungsform.

Fig. 3 ist ein Blockschaltbild, das eine erfindungsgemäße Schaltung mit Testfunktion zeigt, bei der Testschaltungen vom Parallelabtastregistetyp zum Testen jedes der eine Daten verarbeitungsschaltung darstellenden Schaltungsabschnitte auf der Ausgangsseite jedes der Schaltungsabschnitte einge fügt sind.

Gemäß der Figur ist jeder der Schaltungsabschnitte 1 a, 2 a, . . ., ma zum Beispiel aus einer zusammengesetzten Logikschal tung gebildet und weist n Eingangsanschlüsse 11, 21, . . ., m 1 und n Ausgangsanschlüsse 12, 22, . . ., m 2 auf.

Die Testschaltungen sind aus n Parallelregistern (Einheits testschaltung) 1, 2, 3, . . ., m mit n jeweiligen Abtastver riegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n, 2 ₁-2 _n, . . ., m ₁-m _n darge stellt. Jede der Abtastverriegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n, 2 ₁-2 _n, . . ., m ₁-m _n weist einen ersten Eingangsanschluß a, einen zweiten Eingangsanschluß b, einen Steueranschluß c und einen Ausgangsanschluß d auf. Entsprechend eines am Steuer anschluß c eingegebenen Steuerungssignals C (C ₁-C _m) wird wahlweise entweder ein am ersten Eingangsanschluß a eingege benes Signal oder ein am zweiten Eingangsanschluß b eingegebe nen Signal am Ausgangsanschluß d abgegeben.

Die Funktion der Abtastverriegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n, 2 ₁-2 _n, . . ., m ₁-m _n wird zum Beispiel durch den in Fig. 2 gezeigten Aufbau erhalten. Und zwar nimmt die Schaltung, wenn das Steuerungssignal C sich auf "L"-Pegel befindet, ein am ersten Eingangsanschluß eingegebenes Signal synchron mit einem Taktsignal Φ auf und gibt dasselbe direkt ab, und wenn sich das Steuerungssignal C auf "H"-Pegel befindet, nimmt die Schaltung ein am zweiten Eingangsanschluß b eingegebenes Signal synchron mit einem Taktsignal Φ auf und gibt dasselbe direkt ab.

Das erste Parallelregister 1 ist auf der Ausgangsseite des ersten Schaltungsabschnittes 1 a angeordnet, das zweite Paral lelregister ist auf der Ausgangsseite des zweiten Schaltungs abschnittes 2 a angeordnet, und die gleiche Anordnung wird bis zum m-ten Parallelregister auf der Ausgangsseite des m-ten Schaltungsabschnittes ma wiederholt. Auf diese Weise sind Parallelregister 1-m auf der Ausgangsseite der entspre chenden Schaltungsabschnitte 1 a-ma angeordnet. Eine Reihen verbindung eines Schaltungsabschnittes und eines Parallel registers stellt einen Satz Schaltungselemente dar, und eine Reihenverbindung der Schaltungsabschnitte 1 a-ma stellt die gesamte Datenverarbeitungsschaltung dar.

Die n Eingangsanschlüsse 11 des ersten Schaltungsabschnittes 1 a sind jeweils mit den Dateneingangsanschlüssen I ₁-I _n ver bunden. Die ersten Eingangsanschlüsse a der Abtastverriege lungsschaltungen 1 ₁-1 _n, die das erste Parallelregister 1 darstellen, sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen 12 des ersten Schaltungsabschnittes 1 a verbunden. Die zweiten Ein gangsanschlüsse b sind entsprechend mit den Dateneingangsan schlüssen I ₁-I _n verbunden. Die Augangsanschlüsse d der Abtastverriegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n sind jeweils mit den Eingangsanschlüssen 21 des zweiten Schaltungsabschnittes 2 a verbunden.

In gleicher Weise sind die ersten Eingangsanschlüsse a der Abtastverriegelungsschaltungen 2 ₁-2 _n, die das zweite Paral lelregister darstellen, jeweils mit den Ausgangsanschlüssen 22 des zweiten Schaltungsabschnittes 2 a verbunden. Die zweiten Eingangsanschlüsse b sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen d der das erste Parallelregister 1 darstellenden Abtastverrie gelungsschaltungen 1 ₁-1 _n verbunden. Die Ausgangsanschlüsse d der Abtastverriegelungsschaltungen 2 ₁-2 _n sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen 31 des dritten Schaltungsabschnit tes 3 a verbunden. Die Anschlüsse der Abtastverriegelungsschal tungen sind in oben beschriebener Weise verbunden. Die ersten Eingangsanschlüsse a der Abtastverriegelungsschaltungen m ₁- m _n m, die das m-te Parallelregister m darstellen, sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen m 2 des m-ten Schaltungsabschnittes ma verbunden. Die zweiten Eingangsanschlüsse b sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen d der Abtastverriegelungsschal tungen (m - 1)₁-(m - 1)_n, die das (nicht gezeigte) (m - 1)-te Parallelregister m - 1 darstellen, verbunden. Die Ausgangsan schlüsse b der Abtastverriegelungsschaltungen m ₁-m _n sind jeweils mit den Datenausgangsanschlüssen O ₁-O _n verbunden.

Die Steuerungsanschlüsse c der jeweiligen Abtastverriegelungs schaltungen 1 ₁-1 _n, 2 ₁-2 _n, . . ., m ₁-m _n sind für jedes der Parallelregister 1, 2, . . ., m miteinander verbunden und empfangen voneinander unabhängig Steuersignale C ₁, C ₂, . . ., C _m.

Im folgenden wird der Betrieb der in Fig. 3 gezeigten Test schaltung beschrieben.

Der Betrieb der Testschaltung kann in die Betriebsarten Ar beitsbetrieb und Testbetrieb unterteilt werden.

Bei Arbeitsbetrieb sind alle Steuersignale C ₁, C ₂, . . ., C _m auf "L"-Pegel festgelegt. Dabei übernimmt jede der Abtastver riegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n, 2 ₁-2 _n, . . ., m ₁-m _n die am ersten Eingangsanschluß a eingegebenen Daten und gibt dieselben direkt am Ausgangsanschluß d ab. Die an den Dateneingangsan schlüssen I ₁-I _n eingegebenen Daten werden in den Schaltungs abschnitten 1 a-ma in Abhängigkeit von den (nicht gezeigten) Taktsignalen aufeinanderfolgend verarbeitet und danach von den Datenausgangsanschlüssen O ₁-O _n gleichzeitig parallel abgegeben.

Bei Testbetrieb werden nur einige der Steuersignale C ₁, C ₂, . . ., C _m auf "L"-Pegel gesetzt.

Nun wird der Fall beschrieben, bei dem zum Beispiel der zweite Schaltungsabschnitt 2 a getestet wird.

Steuersignale C ₁, C ₃-C _m werden auf "H"-Pegel gesetzt, und das Steuersignal C ₂ wird auf "L"-Pegel gesetzt. Dabei über nehmen die Abtastverriegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n die am je weiligen zweiten Eingangsanschluß b eingegebenen Daten und geben diese am jeweiligen Ausgangsanschluß d ab. Damit werden die an den Dateneingangsanschlüssen I ₁-I _n eingegebenen n Bittestdaten direkt in den zweiten Schaltungsabschnitt 2 a eingegeben. Die Abtastverriegelungsschaltungen 2 ₁-2 _n über nehmen die am jeweiligen ersten Eingangsanschluß a eingegebe nen Daten und geben dieselben am jeweiligen Ausgangsanschluß d ab, so daß die im zweiten Schaltungsabschnitt 2 a verarbei teten Daten an die Abtastverriegelungsschaltungen 2 ₁-2 _n übergeben werden, um dort an den Ausgangsanschlüssen d ab gegeben zu werden. Außerdem übernehmen die Abtastverriege lungsschaltungen 3 ₁-3 _n die am jeweiligen zweiten Eingangs anschluß b eingegebenen Daten und geben dieselben am jeweili gen Ausgangsanschluß d ab. In gleicher Weise übernehmen die Abtastverriegelungsschaltungen 4 ₁-4 _n, . . ., m ₁-m _n die am jeweiligen zweiten Eingangsanschluß b eingegebenen Daten und geben dieselben am jeweiligen Ausgangsanschluß d ab. Damit werden die an den Ausgangsanschlüssen d der Abtastverriege lungsschaltungen 2 ₁-2 _n abgegebenen Daten direkt von den Datenausgangsanschlüssen O ₁-O _n abgegeben.

Auf diese Weise werden die an den Dateneingangsanschlüssen I ₁-I _n eingegebenen n Bittestdaten über das erste Parallel register 1 in den zweiten Schaltungsabschnit 2 a ver arbeitet, und danach werden sie über das zweite Parallel register 2 bis hin zum m-ten Parallelregister m von den Daten ausgangsanschlüssen O ₁-O ₀ abgegeben. Bei Testbetrieb weist daher der Aufbau gleichwertig eine Stufe eines Parallelre gisters in der vorangehenden Stufe des zweiten Schaltungsab schnittes 2 a und (m - 1) Stufen von Parallelregistern, die in Reihe angeordnet sind, in der darauffolgenden Stufe davon auf. Und zwar arbeiten in diesem Fall andere Schaltungsab schnitte als der zweite Schaltungsabschnitt 2 a nicht. Der Schaltungsabschnitt 2 a und die Parallelregister 1-m ver arbeiten Daten synchron zum Taktsignal, so daß an den Daten eingangsanschlüssen I ₁-I _n eingegebene n Bitdaten im Schal tungsabschnitt 2 a verarbeitet werden, und danach werden sie von den Datenausgangsanschlüssen O ₁-O _n gleichzeitig parallel ausgegeben.

In einer elektrischen Schaltung mit Testfunktion gemäß dieser Ausführungsform können die Testdaten in nur einen gewünschten Schaltungsabschnitt parallel eingegeben werden, und die nur in diesem Schaltungsabschnitt verarbeiteten Daten können par allel ausgegeben werden. Daher wird die Vorbereitung der Test daten einfach, und der Test jedes Schaltungsabschnittes kann einfach ausgeführt werden, wodurch die zum Testen benötigte Zeit reduziert werden kann. Durch Verbinden einer vorgege benen Meßschaltung mit den Ausgangsanschlüssen O ₁-O _n kann das Ausgangssignal des gewünschten Schaltungsabschnittes zum Testen dieses Schaltungsabschnittes gemessen werden.

Die elektrische Schaltung mit Testfunktion gemäß dieser Aus führungsform ist wie oben beschrieben aufgebaut, und Steuer signale C ₁-C _m müssen an die m Paralleregister angelegt werden, wenn es m zu testende Schaltungsabschnitte gibt. Folg lich müssen m externe Anschlüsse vorgesehen werden, um die Steuersignale C ₁-C _m extern einzugeben.

Da die Zahl der Schaltungsabschnitte ansteigt, muß die Zahl der erforderlichen externen Anschlüsse erhöht werden. In einigen Fällen ist jedoch ein Erhöhen der Zahl der notwendigen externen Anschlüsse schwierig, wie zum Beispiel in einer inte grierten Halbleiterschaltung, bei der es eine strenge Begren zung des Aufbaus gibt. Außerdem macht ein Erhöhen der Anzahl der Steuersignale C das Steuern des Testens jedes Schaltungs abschnittes schwierig.

Im folgenden wird ein anderes Beispiel der vorliegenden Er findung beschrieben, das in der Lage ist, die oben beschrie benen Probleme zu lösen.

Fig. 4 ist ein Blockschaltbild, das eine elektrische Schaltung mit Testfunktion gemäß einer anderen Ausführungsform der Er findung darstellt.

Gemäß der Figur weist die elektrische Schaltung mit Testfunk tion m Schaltungsabschnitte 1 a, 2 a, . . ., ma, die eine Daten verarbeitungsschaltung EC darstellen, jeweils auf der Aus gangsseite der Schaltungsabschnitte vorgesehene Parallelre gister 1, 2, . . ., m (Einheitstestschaltung) zum unabhängigen Testen der Schaltungsabschnitte und eine Steuerschaltung CNT zum Steuern der Parallelregister 1, 2, . . ., m auf. Eine Kom bination eines Schaltungsabschnittes und eines zugehörigen Parallelregisters aus der Menge der Schaltungsabschnitte 1 a-ma und der Parallelregister 1-m stellt einen Satz Schaltungselemente dar, und eine Reihenschaltung der Schal tungselemente stellt die Datenverarbeitungsschaltung EC dar.

Die Schaltungsabschnitte 1 a, 2 a, . . ., ma, die Parallelregi ster 1, 2, . . ., m, die Dateneingangsanschlüsse I ₁-I _n und die Datenausgangsanschlüsse O ₁-O _n sind in der gleichen Weise aufgebaut wie die elektrische Schaltung des in Fig. 3 gezeig ten Ausführungsbeispieles. Und zwar sind die n Eingangsan schlüsse 11 des Schaltungsabschnittes 1 a jeweils mit den Dateneingangsanschlüssen I ₁-I _n der Datenverarbeitungsschal tung EC verbunden. In gleicher Weise sind die Eingangsan schlüsse 21 . . . m 1 der entsprechenden Schaltungsabschnitte 2 a . . . ma jeweils mit den Ausgangsanschlüssen d der Abtast verriegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n, . . ., (m - 1)₁-(m - 1)_n, die die Parallelregister 1 . . . (m - 1) der vorangehenden Stufen darstellen, verbunden. Die ersten Eingangsanschlüsse a der Abtastverriegelungsschaltungen 1 ₁-1 _n, . . ., m ₁-m _n, die die Parallelregister 1 . . . m darstellen, sind jeweils mit den Ausgangsanschlüssen 12 . . . m 2 der Schaltungsabschnitte 1 a-ma der vorangehenden Stufen verbunden. Die zweiten Ein gangsanschlüsse d sind jeweils mit den Eingangsanschlüssen 11-m 1 der vorangehenden Stufen verbunden. Die zweiten Ein gangsanschlüsse d sind jeweils mit den Eingangsanschlüssen 11-m 1 der Schaltungsabschnitte 1 a-ma der vorangehenden Stufen verbunden. Die Ausgangsanschlüsse d der das Parallel register m darstellenden Abtastverriegelungsschaltungen m ₁- m _n sind jeweils mit den Datenausgangsanschlüssen O ₁-O _n verbunden.

Die Steuerschaltung CNT weist zwei externe Anschlüsse I _c ₁, I _c ₂ und m Ausgangsanschlüsse O _c ₁-O _cm auf. An die Parallel register 1-m werden von den Ausgangsanschlüssen O ₁-O _cm Steuersignale C ₁-C _m angelegt.

Fig. 5 ist ein Blockschaltbild, das die Steuerschaltung CNT von Fig. 4 im einzelnen zeigt.

Gemäß dieser Figur weist die Steuerschaltung CNT (m + 1) rück stellbare Verriegelungsschaltungen RL₀-RL _m, m NICHT-ODER- Schaltungen NOR ₁-NOR _m mit je zwei Eingängen, einen ersten externen Anschluß I _c ₁, einen zweiten externen Anschluß I _c ₂ und m Ausgangsanschlüsse O _c ₁-O _cm auf.

Ein Dateneingangsanschluß RL _b der rückstellbaren Verriege lungsschaltung RL₀ ist mit einem Datenausgangsanschluß RL _c der rückstellbaren Verriegelungsschaltung RL _m verbunden. Der Dateneingangsanschluß RL _b der rückstellbaren Verriegelungs schaltung RL ₁ ist mit dem Datenausgangsanschluß RL _c der rück stellbaren Verriegelungsschaltung RL₀ verbunden. In gleicher Weise ist der Dateneingangsanschluß RL _b der rückstellbaren Verriegelungsschaltung RL _x mit dem Datenausgangsanschluß RL _c der rückstellbaren Verriegelungsschaltung RL _x _{- 1} (wobei x eine ganze Zahl von 1-m ist) verbunden. Jede der rückstellbaren Verriegelungsschaltungen RL₀-RL _m weist einen Taktanschluß RL _a und einen Rückstellanschluß RL _d auf. Die entsprechenden Taktanschlüsse RL _a sind mit dem ersten externen Anschluß I _c ₁ verbunden, und die entsprechenden Rückstellanschlüsse RL _d sind mit dem zweiten externen Anschluß I _c ₂ verbunden. Die ersten Eingangsanschlüsse der NICHT-ODER-Schaltungen NOR ₁- NOR _m sind zusammen mit dem Datenausgangsanschluß RL _c der rück stellbaren Verriegelungsschaltung RL₀ verbunden. Die zweiten Eingangsanschlüsse der NICHT-ODER-Schaltungen NOR ₁-NOR _m sind entsprechend mit den Datenausgangsanschlüssen RL _c der rückstellbaren Verriegelungsschaltungen RL ₁-RL _m verbunden. Die Ausgangsanschlüsse der NICHT-ODER-Schaltungen NOR ₁- NOR _m sind entsprechend mit den Ausgangsanschlüssen O _c ₁- O _cm der Steuerschaltung CNT verbunden.

In jeder der rückstellbaren Verriegelungsschaltungen RL₀- RL _m werden die Daten vom Dateneingangsanschluß RL _b übernommen, wenn am Takteingangsanschluß RL _a ein "H"-Pegel-Signal einge geben wird. Wird am Takteingangsanschluß RL _a ein "L"-Pegel- Signal eingegeben, werden die übernommenen Daten darin gehalten, und die gehaltenen Daten werden vom Datenausgangsanschluß RL _c ausgegeben. Wenn ein "H"-Pegel-Signal am Rückstellanschluß RL _d eingegeben wird, hält die rückstellbare Verriegelungs schaltung RL₀ das "H"-Signal. Wenn "H" am Rückstellanschluß RL _d eingegeben wird, hält jede der rückstellbaren Verriege lungsschaltungen RL ₁-RL _m das "L"-Signal.

Im folgenden wird kurz der Betrieb der in den Fig. 4 und 5 dargestellten vorliegenden Ausführungsform beschrieben.

Der Betrieb der elektrischen Schaltung mit Testfunktion dieser Ausführungsform kann in die Betriebsarten Arbeitsbetrieb MO und Testbetrieb MT, wie bei der elektrischen Schaltung mit Testfunktion der ersten Ausführungsform, unterteilt werden. In der vorliegenden Ausführungsform wird das Umschalten der Betriebsart durch ein an den ersten externen Anschluß I _c ₁ der Steuerschaltung CNT angelegtes Steuertaktsignal Φ _c und ein an den zweiten Eingangsanschluß I _c ₂ der Steuerschaltung CNT angelegtes Rückstellsignal RS gesteuert.

Der Arbeitsbetrieb MO kann durch Eingeben eines Rückstell signals RS mit "H"-Pegel am zweiten externen Anschluß I _c ₂ der Steuerschaltung CNT und Halten des ersten externen An schlusses I _c ₁ auf "L"-Pegel und damit auch Festhalten aller Steuersignale C ₁-C _m der Ausgangsanschlüsse O _c ₁-O _cm auf "L"-Pegel eingeleitet werden. Dabei verarbeitet die gesamte von den Schaltungsabschnitten 1 a, 2 a, . . ., ma gebildete Daten verarbeitungsschaltung EC aufeinanderfolgend Daten synchron mit einem nicht gezeigten Taktsignal Φ wie im ersten Ausfüh rungsbeispiel.

Der Testbetrieb MT kann durch Eingeben eines vorgegebenen Steuertaktsignales Φ _c und eines Rückstellsignals RS am ersten bzw. am zweiten externen Anschluß I _c ₁ bzw. I _c ₂ der Steuer schaltung CNT derart, daß nur eines der Steuersignale C ₁- C _m der Ausgangsanschlüsse O _c ₁-O _cm auf "L"-Pegel und die anderen Steuersignale auf "H"-Pegel gesetzt werden, einge leitet werden.

Es sei nun ein Fall angenommen, bei dem zum Beispiel der zweite Schaltungsabschnitt 2 a zu testen sei. Die von der Steuerschaltung CNT ausgegebenen Steuersignale C ₁, C ₃-C _m werden auf "H"-Pegel gesetzt, und nur das Steuersignal C ₂ wird auf "L"-Pegel gesetzt. Dabei übernimmt das Parallelre gister 1 die an die Dateneingangsanschlüsse I ₁-I _n angelegten Eingangsdaten und legt die Eingangsdaten direkt an den Schal tungsabschnitt 2 a als Eingang an. Unterdessen übernimmt das Parallelregister 2 die Ausgangsdaten vom Ausgangsanschluß 22 des Schaltungsabschnittes 2 a, und die Parallelregister 3-m übernehmen die Ausgangsdaten vom Ausgangsanschluß d der jeweiligen Parallelregister 2-(m - 1) der jeweils voran gehenden Stufe und geben diese direkt aus. Die Ausgangsdaten des Parallelregisters m werden von den Datenausgangsanschlüs sen O ₁-O _n abgegeben. Damit weist der Aufbau bei diesem Test betrieb gleichwertig eine Stufe eines Parallelregisters in der vorangehenden Stufe des zweiten Schaltungsabschnittes 2 a und (m - 1) Stufen von Parallelregistern, die in Reihe ange ordnet sind, in den nachfolgenden Stufen auf. Und zwar werden andere Schaltungsabschnitte als der zweite Schaltungsabschnitt übergangen, wodurch das Testen nur des zweiten Schaltungsab schnittes 2 a möglich ist.

Fig. 6 ist ein Impuls-Zeit-Diagramm, das den Betrieb der Steuerschaltung von Fig. 5 darstellt.

Im folgenden wird der Betrieb der elektrischen Schaltung mit Testfunktion gemäß des vorliegenden Ausführungsbeispieles mit Bezug auf das Impuls-Zeit-Diagramm im einzelnen beschrieben. Fig. 6 zeigt einen Fall, bei dem sich die Schaltung in der Zeit t ₀ bis t ₁ im Arbeitsbetrieb MO und nach dem Zeitpunkt t ₂ im Testbetrieb MT ₁-MT _m befindet.

Zuerst wird der Arbeitsbetrieb MO beschrieben. Wenn ein Rück stellsignal RS mit "H"-Pegel am zweiten externen Anschluß I _c ₂ zum Zeitpunkt t ₀ angelegt wird, wird ein "H"-Pegel-Signal vom Datenausgangsanschluß RL _c der rückstellbaren Verriege lungsschaltung RL₀ abgegeben, und ein "L"-Pegel-Signal wird von den Datenausgangsanschlüssen RL _c der jeweiligen rückstell baren Verriegelungsschaltungen RL _c-RL _m abgegeben. Dabei wird ein "H"-Pegel-Signal vom Ausgangsanschluß RL _c der rück stellbaren Verriegelungsschaltung RL₀ an den jeweiligen ersten Eingangsanschluß der zwei Eingänge aufweisenden NICHT-ODER- Schaltungen NOR ₁-NOR _m geliefert. Folglich gehen alle Aus gangssignale der NICHT-ODER-Schaltungen NOR ₁-NOR _m auf "L"- Pegel, und daher gehen alle von den Ausgangsanschlüssen O _c ₁-O _cm der Steuerschaltung CNT an die Parallelregister 1-m angelegten Steuersignale C ₁-C _m auf "L"-Pegel. Dies entspricht dem oben beschriebenen Arbeitsbetrieb MO, so daß die Datenverarbeitungsschaltung EC das oben beschriebene Ver arbeiten von Daten synchron mit dem nicht gezeigten Taktsignal Φ ausführt. Und zwar stellen die rückstellbare Verriegelungs schaltung RL₀ und die NICHT-ODER-Schaltungen NOR ₁-NOR _m eine pegelausgleichende Einrichtung dar, die alle Steuersi gnale C ₁-C _m auf "L"-Pegel ausgleicht, wenn die an den ersten und zweiten externen Anschluß I _c ₁ bzw. I _c ₂ angelegten Signale sich im oben beschriebenen Zustand befinden.

Im folgenden wird der Testbetrieb MT beschrieben. Zuerst wird die Steuerschaltung CNT durch das Rückstellsignal RS zum Zeit punkt t ₀ rückgestellt, und danach wird ein auf "H"-Pegel be findliches Steuertaktsignal Φ _c zum Zeitpunkt t ₁ am ersten externen Anschluß I _c ₁ eingegeben. Die rückstellbare Verriege lungsschaltung RL ₁ übernimmt die in der rückstellbaren Ver riegelungsschaltung RL₀ gehaltenen "H"-Pegel-Daten vom Ein gangsanschluß RL _b, und die rückstellbare Verriegelungsschaltung RL ₂ übernimmt die in der rückstellbaren Verriegelungsschaltung RL ₁ gehaltenen "L"-Pegel-Daten vom Eingangsanschluß RL _b. In gleicher Weise übernimmt eine entsprechende rückstellbare Verriegelungsschaltung RL _x die Daten der rückstellbaren Ver riegelungsschaltung RL _x _{- 1} (x ist eine ganze Zahl von 1-m) der vorangehenden Stufe, so daß die "H"-Pegel-Daten in der rückstellbaren Verriegelungsschaltung RL ₁ und "L"-Pegel-Daten in den anderen rückstellbaren Verriegelungsschaltungen RL₀, RL ₂-RL _m gehalten werden. Folglich wird das auf "L"-Pegel befindliche Steuersignal C ₁ von der NICHT-ODER-Schaltung NOR ₁ ausgegeben, und auf "H"-Pegel befindliche Steuersignale C ₂-C _m werden von den Ausgangsanschlüssen der NICHT-ODER- Schaltungen NOR ₂-NOR _m ausgegeben. Dieses entspricht dem den Schaltungsabschnitt 1 a von Fig. 4 testenden Testbetrieb MT ₁.

Danach, das heißt zum Zeitpunkt t ₂, wird das auf "H"-Pegel befindliche Steuertaktsignal Φ _c wieder am ersten externen Anschluß I _c ₁ eingegeben. Durch den selben Vorgang wie oben beschrieben werden die "H"-Pegel-Daten in der rückstellbaren Verriegelungsschaltung RL ₂ und die "L"-Pegel-Daten in anderen rückstellbaren Verriegelungsschaltungen RL ₀, RL ₁ und RL ₃- RL _m gehalten. Somit geht nur das Steuersignal C ₂ auf "L"- Pegel, und die anderen Steuersignale C ₁ und C ₃-C _m gehen auf "H"-Pegel, was dem den Schaltungsabschnitt 2 a testenden Testbetrieb MT ₂ entspricht.

In gleicher Weise wird jedesmal, wenn das auf "H"-Pegel be findliche Eingangssteuertaktsignal Φ _c am ersten externen An schluß I _c ₁ eingegeben wird, der zu testende Schaltungsab schnitt aufeinanderfolgend von dem den Schaltungsabschnitt 3 a testenden Testbetrieb, dem den Schaltungsabschnitt 4 a testenden Testbetrieb usw. ausgewählt, und die Abschnitte werden periodisch umgeschaltet. Und zwar stellen die rück stellbaren Verriegelungsschaltungen RL ₀-RL _m aufeinander folgende Auswahleinrichtungen zum aufeinanderfolgenden Aus wählen eines der Steuersignale C ₁-C _m und zum Bringen des selben auf den "L"-Pegel, wenn das Rückstellsignal RS und das Steuertaktsignal Φ _c mit einem später zu beschreibenden Verlauf angelegt werden, dar. Die rückstellbare Verriegelungs schaltung RL ₀ ist auch Teil der aufeinanderfolgenden Auswahl einrichtungen insofern, als es durch Übertragen des "H"-Pegels auf die rückstellbare Verriegelungsschaltung RL ₁ den Auswahl vorgang startet.

Wie oben beschrieben ist, werden nur der erste externe An schluß I _c ₁ und der zweite externe Anschluß I _c ₂ für die Steuer schaltung CNT bei dieser Ausführungsform benötigt, und das Testen der m Schaltungsabschnitte 1 a-ma kann unabhängig von der Anzahl n der zu testenden Schaltungsabschnitte von nur zwei externen Anschlüssen gesteuert werden. Durch al leiniges Eingeben des "H"-Pegel-Signals als ein Rückstell signal RS arbeitet die Datenverarbeitungsschaltung EC normal. Um Testbetrieb durchzuführen, braucht nur das Rückstellsignal RS als Schaltsignal auf den "H"-Pegel gesetzt und das Steuer taktsignal Φ _c eingegeben zu werden, um aufeinanderfolgend jeden der Schaltungsabschnitte 1 a-ma unabhängig zu testen, wodurch das Testen relativ einfach ausgeführt werden kann.

Fig. 7 ist ein Blockschaltbild der in Fig. 4 gezeigten Steuer schaltung gemäß einer anderen Ausführungsform.

Bei der Ausführungsform nach Fig. 5 wird die rückstellbare Verriegelungsschaltung RL ₀ als Einrichtung zum Umschalten der Betriebsarten Arbeitsbetrieb MO und Testbetrieb MT der Steuerschaltung CNT verwendet. Bei der vorliegenden Ausfüh rungsform ist ein dritter externer Anschluß I _c ₃ vorgesehen, an dem ein Betriebsartenumschaltsignal TE eingegeben wird. Die rückstellbare Verriegelungsschaltung RL ₀ zum Umschalten der Betriebsart in der Steuerschaltung CNT von Fig. 5 ist in der Steuerschaltung CNT′ von Fig. 7 nicht mehr vorhanden. Stattdessen ist der dritte externe Anschluß I _c ₃ vorgesehen, der mit dem jeweiligen ersten Eingangsanschluß der zwei Ein gänge aufweisenden NICHT-ODER-Schaltungen NOR ₁-NOR _m ver bunden ist. Die rückstellbare Verriegelungsschaltung RL ₁′ dient zum Halten des "H"-Signals, wenn ein "H"-Pegel-Signal am Rückstelleingangsanschluß RL _d eingegeben wird, wie dies die rückstellbare Verriegelungsschaltung RL ₀ von Fig. 5 getan hat. Der übrige Aufbau der Steuerschaltung CNT′ ist der gleiche wie der der Steuerschaltung CNT von Fig. 5.

Um die Datenverarbeitungsschaltung EC unter Verwendung der Steuerschaltung CNT′ auf Arbeitsbetrieb MO zu setzen, wird ein auf "H"-Pegel befindliches Betriebsartumschaltsignal TE am dritten externen Anschluß I _c ₃ eingegeben. Dadurch werden alle Steuersignale C ₁-C _m unabhängig vom Ausgang der rück stellbaren Verriegelungsschaltungen RL ₁′, RL ₂-RL _m auf "L"- Pegel gesetzt, wodurch der Arbeitsbetrieb eingeleitet wird.

Um den Testbetrieb MT einzuleiten, wird das Betriebsartum schaltsignal TE auf "L"-Pegel gesetzt, und das Rückstellsignal RS wird auf "H"-Pegel gesetzt. Folglich geht nur das Steuer signal C ₁ auf "L"-Pegel, und die anderen Steuersignale C ₂- C _m gehen auf "H"-Pegel, wodurch der den Schaltunsabschnitt 1 a testende Testbetrieb MT ₁ eingeleitet wird. Damit dienen in diesem Falle das Betriebsartumschaltsignal TE und das Rück stellsignal RS als Umschaltsignale vom Arbeitsbetrieb in den Testbetrieb.

Wie bei der oben beschriebenen Steuerschaltung CNT werden die Schaltungsabschnitte 2 a-ma jedesmal dann, wenn das Steuertaktsignal Φ _c eingegeben wird, aufeinanderfolgend aus gewählt, wodurch die Testbetriebsarten MT ₂-MT _m eingeleitet werden. Und zwar bilden in der Ausführungsform von Fig. 7 die rückstellbaren Verriegelungsschaltungen RL ₁′, RL ₂-RL _m die aufeinanderfolgenden Auswahleinrichtungen, und die NICHT- ODER-Schaltungen NOR ₁-NOR _m stellen die Pegelausgleichsein richtungen dar.

Wie oben beschrieben ist, ist gemäß der vorliegenden Erfindung die Anzahl der notwendigen externen Steuereingänge durch das Vorsehen der Pegelausgleichseinrichtung und der aufeinander folgenden Auwahleinrichtungen reduziert, wodurch eine Test schaltung zur Verfügung gestellt werden kann, die eine geringere Anzahl von externen Anschlüssen für die Steuerung erfordert, und wodurch das Testen einfacher ausgeführt werden kann.

Claims

1. Schaltung mit Testfunktion mit einer Mehrzahl von eine Datenverarbeitungsschaltung darstellenden Schaltungsabschnit ten (1 a-ma) mit den Betriebsarten Arbeitsbetrieb und Test betrieb, gekennzeichnet durch eine Mehrzahl von entsprechend der Mehr zahl von Schaltungsabschnitten (1 a-ma) vorgesehenen Test schaltungen (1-m), die die Mehrzahl von Schaltungsabschnit ten (1 a-ma) bei Arbeitsbetrieb als Datenverarbeitungsschal tung arbeiten läßt und die die Schaltungsabschnitte (1 a-ma) bei Testbetrieb unabhängig testet, und eine Mehrzahl von Steuereinrichtungen (c ₁-c _m), die Steuer signale entsprechend des Arbeitsbetriebs oder des Testbetriebs an jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) zum Aktivie ren der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) anlegt.

2. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Mehrzahl von Schaltungs abschnitten (1 a-ma) Eingangsanschlüsse (11-m 1) und Aus gangsanschlüsse (12-m 2) aufweist und
daß jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) eine Abtast verriegelungsschaltung (1 ₁-m _n) aufweist, wobei die Abtastver riegelungsschaltung (1 ₁-m _n) einen ersten Eingangsanschluß (a), einen zweiten Eingangsanschluß (b), einen Steueranschluß (c) und einen Abtastausgangsanschluß (d) aufweist, wobei der erste Eingangsanschluß (a) mit einem Ausgangsanschluß (12- m 2) des entsprechenden Schaltungsabschnittes (1 a-ma) verbun den ist, der zweite Eingangsanschluß (b) mit einem Eingangs anschluß (11-m 1) des entsprechenden Schaltungsabschnittes (1 a-ma) verbunden ist, der Steueranschluß (c) von der Steuereinrichtung (c ₁-c _m) Steuersignale (C ₁-C _m) empfängt und der Abtastausgangsanschluß (d) mit einem Eingangsanschluß (21-m 1) eines anderen Schal tungsabschnittes (2 a-ma) verbunden ist.

3. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Mehrzahl von Schaltungs abschnitten (1 a-ma) eine Mehrzahl von Sätzen von Eingangs anschlüssen (11-m 1) und Ausgangsanschlüssen (12-m 2) auf weist und daß jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) Abtastverriegelungsschaltungen (1 ₁-m _n), deren Anzahl der Anzahl an Eingangsanschlüssen (11-m 1) und Aus gangsanschlüssen (12-m 2) des entsprechenden Schaltungsab schnittes (1 a-ma) entspricht, aufweist.

4. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Steueranschlüsse (c) der Mehr zahl von Abtastverriegelungsschaltungen (1 ₁-m _n) der Test schaltungen (1-m) miteinander verbunden sind und Steuer signale (C ₁-C _m) empfangen.

5. Schaltung mit Testfunktion nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch eine Mehrzahl von Dateneingangsanschlüs sen (I ₁-I _n), an denen zu verarbeitende Daten oder Daten zum Testen eingegeben werden, und einen Datenaus gangsanschluß (O ₁-O _n), der die verarbeiteten oder die getesteten Daten ausgibt,
wobei jeder der Dateneingangsanschlüsse (I ₁-I _n) mit einem Eingangsanschluß (11-m 1) eines der Schaltungsabschnitte (1 a-ma) und mit einem zweiten Eingangsanschluß (b) der Abtastverriegelungsschaltung (1 ₁-m _n), die in der Testschal tung (1-m), die dem Schaltungsabschnitt (1 a-ma) ent spricht, enthalten ist, verbunden ist und
wobei der Ausgangsanschluß (O ₁-O _n) mit dem Abtast ausgangsanschluß (d) der Abtastverriegelungsschaltung (2 ₁- m _n), die in der einem anderen der Schaltungsabschnitte (2 a- ma) entsprechenden Testschaltung (2-m) enthalten ist, ver bunden ist.

6. Schaltung mit Testfunktion nach einem der Anprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Steuersignal (C ₁-C _m) ein den Arbeitsbetrieb definierendes erstes Signal und ein den Testbetrieb definierendes zweites Signal aufweist,
daß der erste Eingangsanschluß (a) und der Abtastausgangsan schluß (d) durch Anlegen des ersten Signals an den Steueran schluß (c) miteinander verbunden werden und
daß der zweite Eingangsanschluß (b) und der Abtastausgangs anschluß (d) durch Anlegen des zweiten Signals an den Steuer anschluß (c) miteinander verbunden werden.

7. Schaltung mit Testfunktion mit einer Mehrzahl von eine Datenverarbeitungsschaltung darstellenden Schaltungsabschnit ten (1 a-ma) mit den Betriebsarten Arbeitsbetrieb und Test betrieb, gekennzeichnet durch eine Mehrzahl von entsprechend der Mehr zahl von Schaltungsabschnitten (1 a-ma) vorgesehenen Test schatungen (1-m), die die Mehrzahl von Schaltungsabschnit ten (1 a-ma) bei Arbeitsbetrieb als Datenverarbeitungsschal tung arbeiten läßt und die die Schaltungsabschnitte (1 a- ma) bei Testbetrieb unabhängig testet, und
eine Steuereinrichtung (CNT), die aufgrund eines ersten Ein gangssignales ein dem Arbeitsbetrieb entsprechendes erstes Steuersignal an jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1- m) anlegt und aufgrund eines zweiten Eingangssignals ein dem Testbetrieb entsprechendes zweites Steuersignal an jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) anlegt und dadurch die Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) aktiviert.

8. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (CNT) zwei Eingangsanschlüsse, an denen das erste bzw. das zweite Ein gangssignal eingegeben wird, und Ausgangsanschlüsse, deren Anzahl der Anzahl Testschaltungen (1-m) entspricht und von denen das erste bzw. das zweite Steuersignal ausgegeben wird, aufweist.

9. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (CNT) eine Pegelausgleichseinrichtung (RL ₀, NOR ₁-NOR _m), die als Reaktion auf das erste Eingangssignal alle an die Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) angelegten ersten Steuersignale auf den gleichen Pegel bringt, und
eine Auswahleinrichtung (RL ₀-RL _m), die als Reaktion auf das zweite Eingangssignal nacheinander jeweils ein Steuersi gnal der an die Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) ange legten Steuersignale auswählt und nur das ausgewählte Steuer signal auf einen vorgeschriebenen Pegel bringt, aufweist.

10. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Pegelausgleichseinrichtung (RL ₀, NOR ₁-NOR _m) eine rückstellbare Verriegelungsschaltung und eine Anzahl von NOR-Schaltungen, deren Anzahl die gleiche ist wie die der Testschaltungen (1-m), aufweist.

11. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswahleinrichtung (RL ₀-RL _m) eine Mehrzahl von rückstellbaren Verriegelungsschaltungen, deren Anzahl die gleiche ist wie die der Testschaltungen (1-m), aufweist.

12. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (CNT) drei Eingangsanschlüsse, an denen das erste bzw. das zweite Ein gangssignal eingegeben werden, und Ausgangsanschlüsse, deren Anzahl jeder der Testschaltungen (1-m) entspricht und von denen das erste bzw. das zweite Steuersignal ausgegeben wird, aufweist.

13. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (CNT) eine Pegelausgleichseinrichtung (NOR ₁-NOR _m), die als Reak tion auf das erste Eingangssignal die an die Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) angelegten ersten Steuersignale auf den gleichenPegel bringt, und
eine Auswahleinrichtung (RL ₁′-RL _m), die als Reaktion auf das zweite Eingangssignal nacheinander jeweils ein Steuersi gnal der an die Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) angeleg ten zweiten Steuersignale auswählt und nur das ausgewählte Steuersignal auf einen vorgeschriebenen Pegel bringt, aufweist.

14. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Pegelausgleichseinrichtung (NOR ₁-NOR _m) NOR-Schaltungen, deren Anzahl gleich jener der Testschaltungen (1-m) ist, aufweist.

15. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswahleinrichtung (RL ₁′- RL _m) rückstellbare Verriegelungsschaltungen, deren Anzahl gleich jener der Testschaltungen (1-m) ist, aufweist.

16. Schaltung mit Testfunktion nach einem der Ansprüche 7 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Mehrzahl von Schaltungs abschnitten (1 a-ma) einen Eingangsanschluß und einen Aus gangsanschluß aufweist und
daß jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) eine Ab tastverriegelungsschaltung (1 ₁-m _n) aufweist, wobei die Abtastverriegelungsschaltung (1 ₁-m _n) einen ersten Eingangs anschluß (a), einen zweiten Eingangsanschluß (b), einen Steueranschluß (c) und einen Abtastausgangsanschluß (d) auf weist und wobei der erste Eingangsanschluß (a) mit einem Aus gangsanschluß (12-m 2) des entsprechenden Schaltungsab schnitts (1 a-ma) und der zweite Eingangsanschluß (b) mit einem Eingangsanschluß (11-m 1) des entsprechenden Schal tungsabschnitts (1 a-ma) verbunden sind, der Steueranschluß (c) ein erstes oder zweites Steuersignal von der Steuerein heit (CNT) erhält und der Abtastausgangsanschluß (d) mit einem Eingangsanschluß eines anderen Schaltungsabschnitts (2 a- ma) verbunden ist.

17. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Mehrzahl der Schaltungsab schnitte (1 a-ma) eine Mehrzahl von Sätzen von Eingangsan schlüssen und Ausgangsanschlüssen aufweist und daß jede der Mehrzahl von Testschaltungen (1-m) Abtastverriegelungs schaltungen (1 ₁-m _n) aufweist, deren Anzahl der Anzahl von Eingangsanschlüssen und von Ausgangsanschlüssen des entspre chenden Schaltungsabschnitts (1 a-ma) entspricht.

18. Schaltung mit Testfunktion nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Steueranschlüsse (c) der Mehr zahl von Abtastverriegelungsschaltungen (1 ₁-m _n) in den Test schaltungen (1-m) miteinander verbunden sind und das erste bzw. das zweite Steuersignal empfangen.

19. Schaltung mit Testfunktion nach einem der Ansprüche 1 bis 18, gekennzeichnet durch eine Mehrzahl von Dateneingangsanschlüs sen, an denen zu verarbeitende Daten oder Daten zum Testen eingegeben werden, und einen Datenausgangsanschluß, der verar beitete Daten oder getestete Daten ausgibt,
wobei jeder der Dateneingangsanschlüsse mit einem Eingangsan schluß (11-m 1) eines der Schaltungsabschnitte (1 a-ma) und mit einem zweiten Eingangsanschluß (b) der Abtastverriege lungsschaltung (1 ₁-m _n), die in der dem Schaltungsabschnitt (1 a-ma) entsprechenden Testschaltung (2-m) enthalten ist, verbunden ist und
wobei der Ausgangsanschluß mit dem Abtastausgangsanschluß (d) der Abtastverriegelungsschaltung (2 ₁-m _n), die in der einem anderen der Schaltungsabschnitte (2 a-ma) entsprechen den Testschaltung (2-m) enthalten ist, verbunden ist.

20. Eine Mehrzahl von Testschaltungen (1-m), die entspre chend einer Mehrzahl von eine Datenverarbeitungsschaltung mit den Betriebsarten Arbeitsbetrieb und Testbetrieb darstel lenden Schaltungsabschnitten (1 a-ma) vorgesehen sind, zum unabhängigen Testen entsprechender Schaltungsabschnitte (1 a-ma), gekennzeichnet durch eine Verbindungseinrichtung (1-m), die den entspechenden Schaltungsabschnitt (1 a-ma) mit einem anderen Schaltungsabschnitt (2 a-ma) verbindet und die den entsprechenden Schaltungsabschnitt (1 a-ma) bei Arbeitsbe trieb als seinen Abschnitt der Datenverarbeitungsschaltung arbeiten läßt und die den entsprechenden Schaltungsabschnitt (1 a-ma) bei Testbetrieb testet, und
eine Steuereinrichtung (c ₁-c _m), die an die Verbindungsein richtung (1-m) ein dem Arbeitsbetrieb bzw. dem Testbetrieb entsprechendes Steuersignal anlegt und dadurch die Verbin dungseinrichtung (1-m) aktiviert.

21. Testschaltungen nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der Schaltungsabschnitte (1 a-ma) einen Eingangsanschluß und einen Ausgangsanschluß aufweist und
daß die Verbindungseinrichtung (1-m) eine Abtastverriege lungsschaltung (1 ₁-m _n) aufweist, wobei die Abtastverriege lungsschaltung (1 ₁-m _n) einen ersten Eingangsanschluß (a), einen zweiten Eingangsanschluß (b), einen Steueranschluß (c) und einen Abtastausgangsanschluß (d) aufweist, wobei der erste Eingangsanschluß (a) mit einem Ausgangsanschluß (12-m 2) des entsprechenden Steuerabschnitts (1 a-ma) und der zweite Eingangsanschluß (b) mit einem Eingangsanschluß (11-m 1) des entsprechenden Schaltungsabschnitts (1 a-ma) verbunden sind, der Steueranschluß (c) ein Steuersignal von einer Steuereinrichtung (CNT) erhält und der Abtastausgangsanschluß (d) mit einem Eingangsanschluß (21-m 1) eines anderen Schal tungsabschnittes (2 a-ma) verbunden ist.

22. Testschaltungen nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der Schaltungsabschnitte (1 a-ma) eine Mehrzahl von Sätzen von Eingangsanschlüssen und Ausgangsanschlüssen aufweist und daß die Verbindungsein richtung (1-m) die Abtastverriegelungsschaltungen (1 ₁- m _n), deren Anzahl jener der Sätze von Eingangsanschlüssen und Ausgangsanschlüssen des entsprechenden Schaltungsab schnitts (1 a-ma) entspricht, aufweist.

23. Testschaltungen nach Anspruch 21 oder 22, dadurch gekennzeichnet, daß die Steueranschlüsse (c) der Mehr zahl von Abtastveriegelungsschaltungen (1 ₁-m _n) in den Ver bindungseinrichtungen (1-m) miteinander verbunden sind und das Steuersignal empfangen.