DE3634132A1 - Sensoreinrichtung - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft den Aufbau eines Sensors,
der eine chemische oder physikalische Wechselwirkung mit dem
zu detektierenden Objekt (Menge) erfährt und der geeignet
ist, in chemischen Sensoreinrichtungen zum Dektektieren von
chemischen Mengen von Gasen bzw. von Mengen von chemischen
Gasen, der Feuchtigkeit bzw. des Feuchtigkeitsgehalts, von
Ionen etc. verwendet zu werden, sowie für die Verwendung in
Biosensoreinrichtungen zum Detektieren von physiologisch aktiven
Substanzen, wie beispielsweise Harnsäure und/oder Glucose,
verwendet zu werden, oder in physikalischen Sensoreinrichtungen
zum Detektieren von physikalischen Quantitäten an
elektromagnetischen Wellen, Temperaturen etc. verwendet zu
werden. Im einzelnen bezieht sich die Erfindung auf die
Struktur eines Sensors, der eine Oberfläche hat, die zu einer
geeigneten vorbestimmten optimalen Form gestaltet bzw.
geformt ist, und zwar durch ein künstliches reproduzierbares
Verfahren, wie beispielsweise eine Feinbearbeitungstechnik,
so daß die Struktur des Sensors bzw. der Sensor eine verbesserte
Leistungsfähigkeit aufweist.
Die Sensoren gemäß der vorliegenden Erfindung sind nicht nur
auf solche beschränkt, die in der Weise wirken, daß sie das
zu detektierende Objekt (bzw. die zu detektierende Menge)
direkt in ein elektrisches Signal umwandeln bzw. umsetzen,
sondern diese Sensoren umfassen auch solche, die eine indirekte
Umwandlungs- bzw. Umsetzungsaktion ausführen, beispielsweise
eine chemische oder physikalische Wechselwirkung
mit dem Objekt (bzw. der Menge) erfahren, so daß sie dasselbe
bzw. dieselbe in eine andere chemische oder physikalische
Quantität umwandeln bzw. umsetzen.
Es sei zunächst der Stand der Technik in näheren Einzelheiten
beschrieben:
Gassensoreinrichtungen sind dazu geeignet, ein spezifiziertes Bestandteilsgas bzw. eine spezifizierte Gaskomponente einer gasförmigen Mischung in Größen eines elektrischen Signals zu detektieren, zum Beispiel durch
(1) Anwendung eines Phänomens auf der festen Oberfläche eines Sensors, das aus der Adsorption des Gases durch die Oberfläche resultiert,
(2) Benutzung der Reaktivität eines Sensors mit dem Gas,
(3) Benutzung der Konzentrationspolarisation (elektromotorischen Kraft) aufgrund eines festen Elektrolyten, oder
(4) Benutzung der physikalischen Eigenschaften (Wärmeleitfähigkeit, Infrarotabsorption etc.) von Molekülen des Gases.
Gassensoreinrichtungen sind dazu geeignet, ein spezifiziertes Bestandteilsgas bzw. eine spezifizierte Gaskomponente einer gasförmigen Mischung in Größen eines elektrischen Signals zu detektieren, zum Beispiel durch
(1) Anwendung eines Phänomens auf der festen Oberfläche eines Sensors, das aus der Adsorption des Gases durch die Oberfläche resultiert,
(2) Benutzung der Reaktivität eines Sensors mit dem Gas,
(3) Benutzung der Konzentrationspolarisation (elektromotorischen Kraft) aufgrund eines festen Elektrolyten, oder
(4) Benutzung der physikalischen Eigenschaften (Wärmeleitfähigkeit, Infrarotabsorption etc.) von Molekülen des Gases.
Generell beruhen Halbleitergassensoreinrichtungen auf dem
Prinzip, daß dann, wenn Gasmoleküle (oder Radikale) durch
die Oberfläche eines Halbleiters (Sensors) vom n-Typ oder
p-Typ, der hauptsächlich aus einem Metalloyxid, wie beispielsweise
Zinnoxid (SnO2), Zinkoxid (ZnO), Nickeloxid (NiO) oder
Kobaltoxid (CoO), zusammengesetzt ist bzw. besteht, adsorbiert
werden, eine Übertragung von Elektronen oder ungleichmäßig
vorhandenen Ladungen zwischen dem Halbleiter und den adsorbierten
Molekülen (Radikalen) auftritt, so daß eine Raumladungsschicht
in der Nähe der Halbleiteroberfläche ausgebildet
wird, wodurch infolgedessen die elektrische Leitfähigkeit
des Halbleiters verändert wird, und die Veränderung
der Leitfähigkeit zeigt auf diese Weise das Vorhandensein
des Gases an. Wenn beispielsweise ein Halbleiter aus SnO2,
ZnO o. dgl. Metalloxid, der Leitfähigkeit vom n-Typ aufweist,
ein brennbares Gas adsorbiert, wie zum Beispiel Wasserstoff,
Kohlenmonoxid oder Kohlenwasserstoff, ergibt eine Übertragung
von Ladungen zwischen den adsorbierten Gasmolekülen und dem
Halbleiter (Donation von Elektronen durch die adsorbierten
Gasmoleküle) eine erhöhte elektrische Leitfähigkeit in der
Nähe der Halbleiteroberfläche. Infolgedessen ist die Änderung
der elektrischen Leitfähigkeit aufgrund der Adsorption
des Gases als eine Änderung der elektrischen Oberflächenleitfähigkeit
detektierbar. Das bedeutet, daß dann, wenn die
Oberfläche des Sensors relativ zu dessen Volumen erhöht wird,
beispielsweise durch Verminderung der Dicke desselben, das
Änderungsverhältnis der Leitfähigkeit zunimmt, so daß der
Sensor in vorteilhafter Weise leistungsfähig gemacht wird.
Jedoch sind viele der aktuellen Halbleitergassensoren polykristalline
Körper, die durch Sintern eines Pulvers erhalten
worden sind und bei denen im Körper des Sensors ein Kontaktteil
oder ein Hals- bzw. Verengungsteil zwischen Kristallkörnern
vorhanden ist. Wenn beispielsweise eine Grenzschicht
2 zwischen Kristallkörnern 1, die in Kontakt miteinander
sind, wie in Fig. 7 gezeigt ist, vorhanden ist, dann wird
eine Raumladungsschicht 3 über der Oberfläche der nach der
Atmosphäre zu freiliegenden Körner ausgebildet, und zwar
aufgrund des Einflusses von adsorbiertem Sauerstoff (Elektronenakzeptor),
so daß die beiden Körner einander durch die
Raumladungsschicht 3 kontaktieren. Demgemäß wird eine Elektronenbarriere,
die als Kurve 4 angedeutet ist, zwischen den
Körnern ausgebildet, wodurch die Bewegung von Elektronen
zwischen den Körnern gehemmt bzw. behindert wird. Es wird
angenommen, daß der adsorbierte Sauerstoff dann, wenn ein
brennbares Gas mit den Körnern in Kontakt kommt,
durch die Verbrennung verbraucht oder entfernt
wird, wodurch die Potentialbarriere, wie durch die
Kurve 5 in Fig. 7 angedeutet, vermindert und die elektrische
Leitfähigkeit erhöht wird. Bei einem aktuellen Halbleitergassensor
trägt der Kontaktteil an der Korngrenze einen
großen Teil zum Gasdetektionsmechanismus bei, und er ermöglicht
es, daß der Sensor ausgeprägte Änderungen in der elektrischen
Oberflächenleitfähigkeit erfährt. Andererseits hängen
die Ausgangssignalcharakteristika, d. h. die Leitfähigkeits-
Gaskonzentrations-Charakteristika, des Halbleitergassensors
von Änderungen in der winzigen Struktur des Kontaktteils
oder des Hals- bzw. Verengungsteils zwischen den Kristallkörnern
ab. Das ist großer Faktor, der bewirkt, daß sich die
Charakteristika bzw. Kenndaten von Sensor zu Sensor unterscheiden.
Grundsätzlich ist es daher notwendig, die Abmessung
und Form der Körner sowie den Zustand der Verschmelzung
zwischen den Körner mit guter Reproduzierbarkeit zu steuern.
Vom Standpunkt der Empfindlichkeit für Gas ist es außerdem
notwendig, die Adsorptionsfläche des Gases zu erhöhen, so
daß die in der Nähe der Sensoroberfläche ausgebildete Raumladungsschicht,
wie bereits beschrieben, in hohem Maße zu
der Leitfähigkeit beiträgt.
Wenn Sensoren mittels eines konventionellen Verfahrens, zum
Beispiel durch Sintern eines Pulvers, hergestellt werden sollen,
dann werden die Sintertemperatur und -zeit zusätzlich
zu dem Sintermittel, der Sintergasatmosphäre etc. empirisch
durch relatives Kontrollieren bzw. Steuern von indirekten
Bedingungen kontrolliert bzw. gesteuert. Nichtsdestoweniger
ist es, wenn auf eine solche Kontrolle bzw. Steuerung von
indirekten Bedingungen zurückgegriffen wird, nicht immer
möglich, nur einen einzigen Faktor jeweils zu kontrollieren
bzw. zu steuern. Zum Beispiel variieren in Abhängigkeit von
der Sinterzeit oder -temperatur wenigstens die Abmessungen
und Form der Kristallkörner, und der Zustand der Verschmelzung
zwischen den Körnern (Zustand der aneinander gebundenen
Körner) ändert sich auch. Aus diesem Grunde ist es extrem
schwierig, Sensoren mit guter Reproduzierbarkeit herzustellen,
die, wenn man sie vom Mikromaßstab bzw. vom mikroskopischen
Maßstab her betrachtet, im Aufbau identisch sind.
Als nächstes seien konventionelle Biosensoreinrichtungen beschrieben.
Generell umfassen Biosensoreinrichtungen einen als
Rezeptor bezeichneten Sensor, der durch Befestigen (Fixieren) bzw. festes
Anbringen einer einem lebenden Körper zugeordneten Substanz,
wie beispielsweise eines Enzyms, eines Antikörpers
oder einer Organelle oder eines Organoids des bzw. eines lebenden
Körpers, an einem geeigneten Substrat (zum Beispiel
einem Film) hergestellt wird, und einen Wandler zum Umwandeln
bzw. Umsetzen eines Gases oder einer entsprechenden
chemischen Substanz oder einer physikalischen Menge an Licht,
Wärme o. dgl., das bzw. die aus der Reaktion des Rezeptors
mit der zu detektierenden Substanz resultiert oder durch
diese Reaktion eliminiert wird, in ein elektrisches Signal.
Zum Beispiel wird der Rezeptor im Falle von Sensoreinrichtungen
für das Detektieren von Glucose dadurch hergestellt,
daß man ein Enzym (Glucoseoxidase, GOD) an einem Hochpolymerfilm
fixiert. Wenn die Glucose das Enzym GOD kontaktiert,
wird Wasserstoffperoxid (H2O2) gemäß der folgenden Reaktionsformel
gebildet:
Das erzeugte H2O2 wird in Größen eines elektrischen Signals
unter Verwendung einer elektrochemischen Einrichtung (Wandler)
detektiert, die beispielsweise eine Platinanode hat.
Auf diese Weise kann die Konzentration der zu detektierenden
Substanz, d. h. der Glucose, dadurch bestimmt werden, daß man
die Menge an resultierendem H2O2 detektiert. Obwohl die erzeugte
chemische Substanz auf diese Weise mittels des Wandlers
detektiert wird, sind auch Verfahren des Detektierens
von Licht oder von endothermischen, exothermischen o. dgl.
thermischen Phänomenen bekannt, die aus der Reaktion zwischen
dem Enzym und der zu detektierenden Substanz resultieren.
Wenn das Lichtemissionsphänomen benutzt wird, wird ein
Photodetektor als Wandler verwendet, wohingegen ein Thermistor
o. dgl. Temperatursensor zum Detektieren eines thermischen
Phänomens verwendet wird. In jedem Falle hängt die untere
Grenze der detektierbaren Konzentration der Objektsubstanz
fast immer von dem Betrag der Reaktion bzw. von dem
Ausmaß der Reaktion bzw. von der Reaktionsmenge zwischen dem
Rezeptor und der Substanz ab. Demgemäß kann die Detektionsempfindlichkeit
dadurch erhöht werden, daß man die dem lebenden
Körper zugeordnete Substanz, wie beispielsweise ein
Enzym, mit der höchstmöglichen Dichte fixiert bzw. am Substrat
anbringt oder daß man die Kontaktfläche des Rezeptors
mit der zu detektierenden Substanz erhöht. Jedoch ist die
Erhöhung der Fläche des Rezeptors physikalisch bzw. physisch
beschränkt, weil das Enzym o. dgl. üblicherweise an einem
flachen Substrat fixiert wird, und weiter deswegen weil die
Abmessungen des Rezeptors relativ zu den Abmessungen des
Wandlers betrachtet werden müssen bzw. auf die Abmessungen
des Wandlers abgeglichen werden müssen.
Als nächstes seien bisher bekannte Temperatursensoren beschrieben.
Temperatursensoren umfasen generell solche, die
dazu geeignet sind, Infrarotstrahlen zu detektieren, sowie
solche, bei denen die Änderung des elektrischen Widerstandswertes
bzw. des elektrischen Widerstands mit der Temperatur ausgenutzt
wird, und solche, bei denen eine thermische elektromotorische
Kraft ausgenutzt wird. Nachstehend seien sogenannte
Dünnfilmtemperatursensoren beschrieben, in denen das Temperaturmeßelement
ein dünner Film aus Platin, Nickel o. dgl.
Material ist, das einen großen Temperaturkoeffizienten des
Widerstandswerts bzw. des elektrischen Widerstands hat.
Die Temperaturmeßelemente für Dünnfilmtemperatursensoren
müssen die folgenden Erfordernisse erfüllen: Sie müssen einen
großen Temperaturkoeffizienten des Widerstandswerts bzw.
elektrischen Widerstands haben, der über einen weiten Temperaturbereich
hinweg konstant ist; sie müssen bei der Bezugstemperatur
(beispielsweise 0°C oder 100°C) einen niedrigen
Widerstandswert bzw. elektrischen Widerstandswert haben, so
daß sie austauschbar sind; sie müssen eine Widerstandswert
bzw. elektrischen Widerstandswert in einem leicht verwendbaren
Temperaturmeßbereich haben (beispielsweise einen Widerstandswert
R 0 von 100 Ω oder 1 kΩ bei 0°C), sie müssen klein
sein etc. Demgemäß wird ein konventionelles Temperaturmeßelement
in der Weise hergestellt, daß man einen dünnen Film aus
Platin, Nickel o. dgl. Metall, das eine hohe Reinheit hat,
aus einem Substrat aus Keramik o. dgl., das eine im größtmöglichen
Ausmaß planar bzw. eben gemachte Oberfläche hat,
durch Vakuumverfdampfung oder Kathodenzerstäubung ausbildet,
und daß man danach den Film durch Photoätzen oder eine andere
Technik zu einem Muster aus Linien, die eine spezifizierte
Breite haben, ausbildet. Um dem Temperaturmeßelement eine
minimalisierte Fläche und einen Widerstandswert R 0 zu geben,
der bei einer Bezugstemperatur (beispielsweise 0°C) angemessen
ist, beispielsweise 100 Ω oder 1 kΩ, wird das Muster in
einer Zickzackform (bzw. Mäanderform) mit einer minimalisierten
Linienbreite hergestellt. Jedoch ist es wegen der Beschränkungen,
welche die Verarbeitungstechnik aktuell beinhaltet,
insbesondere wenn Platin verwendet wird, schwierig,
ein Muster bis zu nur einigen Mikrometern Linienbreite und
Linienabstand zu erzielen, und infolgedessen ergeben sich
auf diese Weise Beschränkungen biem Minimalisieren der Abmessungen
des Temperaturmeßelements. Bei Temperaturmeßelementen,
die einen Widerstandswert R 0 von 1 kΩ haben, beträgt
die untere Abmessungsgrenze der Elemente angenähert 1 bis 2 mm2.
Kurz zusammengefaßt wird mit der vorliegenden Erfindung eine
Sensoreinrichtung zur Verfügung gestellt, die ein Substrat
und einen darauf ausgebildeten Sensor, der aus einem Metall,
Metalloxid, Halbleiter, dielektrischen oder organischen Material
ausgebildet und wenigstens auf seiner Oberfläche mit
einer Mehrzahl von Vorsprüngen versehen ist, die eine wahlfrei
vorbestimmte Form und wahlfreie vorbestimmte Abmessungen
haben, zur Verfügung gestellt.
Es sei hier darauf hingewiesen, daß unter einem Sensor im
Sinne der vorliegenden Erfindung insbesondere ein Meßwertgeber,
Meßfühler, Aufnehmer, Sensor o. dgl. verstanden werden
soll.
Die Erfindung sei nachstehend unter Bezugnahme auf die Figuren
der Zeichnung anhand einiger, besonders bevorzugter Ausführungsformen
näher erläutert; es zeigen:
Fig. 1 (a) bis 1 (g) framgentarische perspektivische Ansichten,
welche Sensoren gemäß Ausführungen der vorliegenden
Erfindung veranschaulichen;
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht, die schematisch eine
Halbleitersensoreinrichtung nach der Erfindung veranschaulicht,
in welcher einer der Sensoren vorgesehen
ist, die in den Fig. 1 (a) bis 1 (g) gezeigt
sind;
Fig. 3 und 4 fragmentarische schematische Ansichten zur
Veranschaulichung anderer Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 5 eine schematische Schnittdarstellung, die einen Sensor
nach der Erfindung veranschaulicht, der in einem
Feldeffekttransistor vorgesehen ist;
Fig. 6 eine fragmentarische perspektivische Ansicht, die
einen Sensor für die Verwendung in einer Dünnfilmtemperatursensoreinrichtung
zeigt und damit eine
weitere Ausführungsform der Erfindung veranschaulicht; und
Fig. 7 eine schematische Darstellung zur Erläuterung des
Detektionsmechanismus eines konventionellen Halbleitergassensors.
In der nun folgenden Beschreibung von bevorzugten Ausführungsformen
der Erfindung sei zunächst herausgestellt, daß
die oben erwähnten Vorsprünge (bzw. Vertiefungen) auf der
Oberfläche eines Substrats durch ein chemisches und/oder
physikalisches Feinbearbeitungsmittel, insbesondere ein
chemisches und/oder physikalisches Feinbearbeitungsverfahren
und/oder eine chemische und/oder physikalische Feinbearbeitungseinrichtung
ausgebildet werden, oder daß sie auf der
Oberfläche des Sensors durch ein chemisches und/oder physikalisches
Feinbearbeitungsmittel, insbesondere ein chemisches
und/oder physikalisches Feinbearbeitungsverfahren und/
oder eine chemische und/oder physikalische Feinbearbeitungseinrichtung,
ausgebildet werden. Alternativ können die Vorsprünge
durch selektive Filmbildungsmittel, insbesondere ein
slektives Filmbildungsverfahren und/oder eine selektive
Filmbildungseinrichtung, ausgebildet werden, oder durch ein
selektives Kristallwachsmittel, insbesondere ein selektives
Kristallwachsverfahren und/oder eine selektive Kristallwachseinrichtung,
wenn der Sensor hergestellt wird. Die Vorsprünge
haben den Zweck, einen Sensor zur Verfügung zu stellen,
der eine optimale Form bezüglich der Fühlcharakteristika
hat, so daß er eine verbesserte Leistungsfähigkeit aufweist.
Mit der vorliegenden Erfindung wird weiter eine gute Reproduzierbarkeit
bei der Herstellung von Sensoren erreicht, und
daher wird es durch die vorliegende Erfindung möglich gemacht,
Sensoren in größeren Mengen herzustellen, die gleichförmige
Betriebscharakteristika bzw. -kenndaten besitzen.
Die vorliegende Erfindung sei nun zunächst unter Bezugnahme
auf Halbleitergassensoreinrichtungen beschrieben, in denen
die Änderung eines Phänomens auf der Oberfläche eines Festkörpers
aufgrund der Adsorption (bzw. Desorption) eines Gases
ausgenutzt wird, und zwar werden insbesondere Änderungen
der elektrischen Leitfähigkeit eines Halbleitersensors ausgenutzt.
Die Fig. 1 (a) ist eine perspektivische Ansicht, die einen
Sensor für Halbleitergassensoreinrichtungen zeigt. Ein
Zinnoxidfilm wird selektiv auf der Oberfläche eines isolierenden
Substrats 11 aus Glas, Keramik o. dgl. durch Hochfrequenzkathodenzerstäubung,
Vakuumverdampfung oder Kristallwachstum
ausgebildet, wodurch Vorsprünge (oder Vertiefungen)
auf der Oberfläche des Zinnoxidfilms ausgebildet werden.
Alternativ wird ein gleichförmiger Zinnoxidfilm über bzw.
auf der Oberfläche des Substrats 11 durch Hochfrequenzkathodenzerstäubung
oder Vakuumverdampfung ausgebildet, und dieser
gleichförmige Zinnoxidfilm wird danach durch Feinbearbeitung
zu einer wellenartigen Form ausgebildet, wie dargestellt,
und zwar beispielsweise durch Photolithographie
und/oder durch einen Trockenätzprozeß, wie beispielsweise
durch chemisches Ätzen oder Plasmaätzen. Anstelle einer
Feinbearbeitung des Zinnoxidfilms kann auch so vorgegangen
werden, daß die Oberfläche des Substrats 11 sandgestrahlt
wird, um feine trapezoidförmige bzw. trapezförmige Vorsprünge
13 darauf auszubilden, und zwar gefolgt durch die Ablagerung
des bzw. eines Zinnoxids bzw. eines Zinnoxidfilms
auf der Oberfläche der Vorsprünge 13, so daß ein empfindlicher
Film 12 bzw. ein Sensorfilm 12 ausgebildet wird, der
Vorsprünge oder Vertiefungen hat. Diese drei Feinbarbeitungsverfahren
können wenigstens wiederholt praktiziert werden.
Die Form der Vorsprünge braucht nicht immer trapezoidförmig
bzw. trapezförmig zu sein, wie in Fig. 1 (a) veranschaulicht
ist, sondern sie kann auch pyramidal, konisch
oder halbkugelig o. dgl. sein. Zum Beispiel zeigt die Fig. 1 (b)
rechteckige bzw. quaderförmige Vorsprünge, und die Fig. 1 (c)
zeigt trapaz- bzw. schwalbenschwanzförmige Vorsprünge,
die durch anisotropisches Ätzen ausgebildet worden sind, Fig. 1 (d)
zeigt durch anisotropisches Ätzen ausgebildete
überhängende Vorsprünge (also insbesondere
Vorsprünge, bei denen der Winkel zwischen der flachen oberen
Oberfläche und den Seitenflächen des jeweiligen Vorsprungs
ein spitzer Winkel ist), Fig. 1 (e) zeigt Vorsprünge in maschenartiger
Anordnung (insbesondere in einer Anordnung, die
den Öffnungen eines Siebs entspricht) und Fig. 1 (f) zeigt
Vertiefungen in maschenartiger Anordnung (insbesondere in
einer Anordnung, die den Öffnungen eines Siebs entpricht).
Weiter können, wie aus Fig. 1 (g) ersichtlich ist, Vorsprünge
und/oder Vertiefungen nur auf dem äußeren Umfangsteil
des Substrats 11 ausgebildet sein, um ein Abblättern
des empfindlichen Films bzw. des Sensorfilms zu verhindern.
Die Vorsprünge oder Vertiefungen können periodisch oder in
anderer Weise angeordnet sein. Die Formen der Vorsprünge
oder Vertiefungen, die in den Fig. 1 (a) bis 1 (f) gezeigt
sind, sind auch bei den nachfolgend beschriebenen Ausführungsformen
verwendbar.
Unter Bezugnahme auf Fig. 1 (a) sei darauf hingewiesen, daß
der Abstand d zwischen dem Substrat 11 und der Bodenoberfläche
14 bzw. der untersten Oberfläche 14 der durch Feinbearbeitung
in dem empfindlichen Zinnoxidfilm 12 ausgebildeten
Vertiefungen vorzugsweise gleich der Dicke (Debyelänge)
der Raumladungsschicht ist. Da die Debyelänge mit der Energieposition
und der Dichte des Zinnoxids bzw. Zinnoxidfilms
auf dem Oberflächenniveau desselben variiert, kann der Abstand
d nicht speziell festgelegt werden, aber es kann gesagt
werden, daß der optimale Wert desselben gewöhnlich im
Bereich von 0,1 bis mehrere µm liegt. Wenn ein Element, das
eine katalytische Wirkung hat, wie beispielsweise Platin
oder Palladium, zu dem Filmbildungsmaterial hinzugefügt
wird, wenn der empfindliche Zinnoxidfilm ausgebildet werden
soll, kann eine verbesserte Detektionsempfindlichkeit
erzielt werden.
Wenn der Sensor ein brennbares Gas adsorbiert, erniedrigt
sich, wie durch die Kurve 5 in Fig. 7 veranschaulicht ist,
die Potentialbarriere, so daß sich eine erhöhte elektrische
Leitfähigkeit ergibt.
Die Gassensoren, die eine feinbearbeitete Oberfläche haben,
wie oben beschrieben, besitzen insbesondere die folgenden
Vorteile gegenüber den konventionellen Gassensoren:
(1) Der Kontaktteil oder der Hals- bzw. Verengungsteil zwischen
den Kristallkörnern in den konventionellen Gassensoren,
die aus einem gesinterten Körper hergestellt sind,
entspricht dem Abstand zwischen dem Substrat 11 und der
Bodenoberfläche 14 (tiefste Oberfläche) der Vertiefungen
des vorliegenden Sensors, so daß Gasdetektionscharakteristika
bzw. -kennwerte mit guter Reproduzierbarkeit erzielt
werden können, indem man den Abstand d durch die
Feinbearbeitung direkt steuert bzw. kontrolliert.
(2) Der Abstand der durch Feinbearbeitung erhaltenen Vorsprünge
oder Vertiefungen entspricht dem Kristallkorn
eines konventionellen gesinterten Körpers, und die Vorsprünge
oder Vertiefungen können in geeigneter Weise in
solchen Abmessungen ausgebildet werden, daß sie die spezifizierte
Form und die spezifizierten Abmessungen haben.
Infolgedessen ist das erhaltene Ergebnis äquivalent demjenigen,
das man erhält, wenn die Kristalle eine gleichförmige
Verteilung in einer Ebene haben. Die Gasdetektionscharakteristika
bzw. -kennwerte sind nach Wunsch
bzw. wie beabsichtigt kontrollierbar, insbesondere steuerbar,
wobei die gewünschten Charakteristika bzw. Kenndaten
in guter Reproduzierbarkeit erhalten werden (mit
verminderten Variationen bzw. Schwankungen).
(3) Bei einem vergrößerten Oberflächenbereich, der dem Sensor
pro Flächeneinheit des Substrats gegeben wird, hat
der Sensor eine vergrößerte Fläche für das Adsorbieren
eines Gases, so daß er eine verbesserte Gasdetektionsempfindlichkeit
aufweist, d. h. verbesserte Detektionscharakteristika
bzw. -kenndaten.
(4) Da die Abhängigkeit der elektrischen Leitfähigkeit nicht
nur von der Konzentration des Gases, sondern auch von
der Art des Gases dadurch verändert werden kann, daß man
den Abstand d verändert, ist eine sehr befriedigende
Gasselektivität erzielbar.
Es ist nicht nur Zinnoxid bzw. ein Zinnoxidfilm für
das Ausbilden eines Gassensors verwendbar, sondern hierfür
sind auch Zinkoxid, Nickeloxid, Kobaltoxid u. dgl. Halbleiter
vom n-Typ oder p-Typ in entsprechender Weise verwendbar. Vom
Standpunkt der Feinbearbeitungstechniken ist es jedoch wünschenswert,
einen Einkristall, der Aggregat bzw. eine Ansammlung
von feinen Kristallen oder amorphes Material zu
verwenden.
Die Fig. 2 ist eine schematische Darstellung, welche eine
Halbleitergassensoreinrichtung zeigt, die einen Sensor der
obigen Art aufweist.
Ein Zinnoxidfilm wird auf der oberen Oberfläche eines Keramiksubstrats
21 durch Hochfrequenzkatodenzerstäubung ausgebildet,
und die Oberfläche des Zinnoxidfilms wird durch
Photolithographie und/oder chemisches Ätzen feinbearbeitet.
Danach werden Platinelektroden 23 auf dem Film an dessen
entgegengesetzten Enden ausgebildet, die dazu dienen, die
elektrische Leitfähigkeit des erhaltenen Sensors 22 zu messen.
Ein Heizwiderstand 24 aus Platin und Elektroden 25 für
den Anschluß dieses Heizwiderstands sind auf der unteren
Oberfläche des Substrats vorgesehen, damit man den Sensor 22
während des Betriebs heizen kann. Zwischen den Elektroden 25
wird ein Strom fließen gelassen, um den Widerstand 24 zu erhitzen
und damit den Sensor 22 auf eine geeignete Temperatur
aufzuheizen. Wenn der Sensor 22 in diesem Zustand in einer
Gasamtmosphäre, d. h. dem Objekt, das detektiert werden soll,
angeordnet wird, verändert sich der elektrische Widerstandswert
des Sensors 22 aufgrund des Vorhandenseins des Gases
mit hoher Empfindlichkeit. Die Änderung wird über die gegenüberliegenden
Metallelektroden 23 detektiert, wodurch das
Vorhandensein des Gases detektierbar ist.
Als nächstes sei die vorliegende Erfindung unter Bezugnahme
bzw. Anwendung auf Halbleiterbiosensoreinrichtungen für das
Detektieren einer Substanz, basierend auf einer Reaktion
zwischen der Substanz und einem Rezeptor (Sensor), der ein
Enzym oder eine andere, einem lebenden Körper zugeordnete
Substanz umfaßt bzw. aufweist, beschrieben.
Die Fig. 3 ist eine fragmentarische schematische Darstellung,
die einen Sensor für diesen Zweck zeigt. Winzige Vorsprünge
(Vertiefungen), der periodisch oder zufällig bzw.
statisch angeordnet sind, sind, wie dargestellt, wenigstens
auf der Oberfläche eines Substrats 31 aus organischem
Hochpolymermaterial, wie beispielsweise Polyvinylalkohol
(PVA) Celluloseester ausgebildet, und zwar beispielsweise
durch chemisches Ätzen oder Plasmaätzen. Nachfolgend wird
eine einem lebenden Körper zugeordnete bzw. zugehörige Substanz
32, wie beispielsweise Glucoseoxidase, Invertase, Mutarotase,
Galactoseoxidase, Aminosäureoxidase, Urease,
Uricase, o. dgl. Enzym oder Milchsäurebakterium, Buttersäurebakterium,
Methanoxidationsbakterium o. dgl. Mikroorganismus
an die Oberfläche des feinbearbeiteten Substrats durch ein
kovalentes Bindeverfahren oder Adsorptionsverfahren fixiert,
so daß man einen Rezeptor (Sensor) erhält. Wenn der Rezeptor
auf diese Weise hergestellt worden ist, hat ein eine größere
Menge an einem lebenden Körper zugeordneter Substanz pro
Flächeneinheit des Substrats an dieses Substrat fixiert, und
eine größere Kontaktfläche mit der zu detektierenden Substanz
als ein konventioneller Rezeptor (Sensor), der eine
flache Oberfläche hat. Infolgedessen hat der Sensor eine höhere
Detektionsempfindlichkeit, oder er kann in seiner Gesamtheit
kleiner ausgebildet werden, als konventionelle Sensoren,
welche die gleiche Empfindlichkeit haben.
Wenn es unmöglich ist, die dem bzw. einem lebenden Körper
zugeordnete Substanz direkt an der Oberfläche des feinbearbeiteten
Substrats zu fixieren, oder wenn es schwierig ist,
ein zum Fixieren geeignetes Substrat feinzubearbeiten, ist
ein Sensor als Rezeptor verwendbar, der eine Doppelschichtstruktur
hat, wie in Fig. 4 gezeigt ist. Wie diese Figur
zeigt, wird zunächst ein Substrat 41 feinbearbeitet, und es
wird ein empfindlicher Film 42, an dem dieselbe, einem lebenden
Körper zugeordnete Substanz 43, wie oben erwähnt, fixiert
ist, auf der Substratoberfläche ausgebildet. Der empfindliche
Film 42 kann auf dem Substrat 41 beispielsweise
durch die Langmuir-Blodgett-Technik effektiv ausgebildet
werden. Weiter kann das Substrat, wenn ein Einkristall als
das Substrat 41 verwendet werden soll, unter Ausnutzung der
Abhängigkeit der chemischen Ätzgeschwindigkeit von der Ausrichtung
des Kristalls, d. h. durch anisotropische Ätztechnik,
feinbearbeitet werden. Wenn der Sensor physikalisch oder physisch
an eine elektrochemische Einrichtung oder einen Wandler,
beispielsweise einen Photodetektor oder einen Temperatursensor,
angekoppelt wird, um eine Sensoreinrichtung von
konventionellem Aufbau zu erhalten, ist die Einrichtung als
eine Biosensoreinrichtung betriebsfähig, die eine höhere Detektionsempfindlichkeit
als bisher bekannte Sensoreinrichtungen hat.
Die Biosensoreinrichtung kann so ausgebildet bzw. angepaßt
werden, daß sie ein elektrisches Ausgangssignal bei hoher
Empfindlichkeit abgibt, und zwar insbesondere in der Weise,
daß sie auf dem Kanalbereich eines Feldeffekttransistors
(FET) direkt oder mit einem Torisolationsfilm, der dazwischen
ausgebildet wird, vorgesehen wird.
Zwei n⁺-Bereiche, die sich im Abstand voneinander befinden,
werden in der Oberfläche eines Siliziumsubstrats vom p-Typ
ausgebildet, und ein Torisolationsfilm 52 aus Siliziumoxid
(SiO2) wird über bzw. auf der Substratoberfläche zwischen
den n⁺-Bereichen ausgebildet. Über bzw. auf dem Torisolationsfilm
52 wird eine Polyvinylalkoholschicht ausgebildet.
Winzige Vorsprünge (oder Vertiefungen) werden durch Plasmaätzen
zufällig bzw. statistisch auf der Oberfläche der Polyvinylalkoholschicht
ausgebildet. An der geätzten Oberfläche
wird Glucoseoxidase durch Adsorption fixiert, so daß man
einen Sensor 53 erhält. Im Abstand von dem Sensor 53 ist
diesem gegenüber eine Bezugselektrode 54 vorgesehen, und
zwar ist diese Bezugselektrode in einem solchen Abstand vom
Sensor 53 angeordnet, daß die zu detektierende Lösung zwischen
dem Sensor 53 und der Bezugselektrode 54 hindurchgehen
bzw. -strömen kann. Über bzw. zwischen dem Feldeffekttransistor
und der Bezugselektrode 54 in der Lösung wird ein vorbestimmtes
Potential vorgesehen. Eine leichte Änderung in
dem Potential aufgrund einer Reaktion zwsichen der Lösung
und dem Sensor wird in Größen einer Änderung des Torstroms
des Feldeffekttransistors detektiert und als größere Änderung
des Drainstroms I D ausgegeben, wenn man die Verstärkung
des Feldeffekttransistors ausnutzt.
Auf diese Weise ist der Sensor der vorliegenden Ausführungsform
in elektrischer oder physikalischer bzw physischer
Verbindung mit irgendeiner Art von bisher bekanntem Wandler
verwendbar, so daß sich auf diese Weise eine Biosensoreinrichtung
von verbesserter Leistungsfähigkeit ergibt.
Anwendung der Erfindung auf eine Dünnfilmtemperatursensoreinrichtung
Die Erfindung sei nun unter Bezugnahme auf eine Dünnfilmtemperatursensoreinrichtung
beschrieben, bei der ein Dünnfilmsensor
aus einem Material, wie beispielsweise Platin, das
einen großen Temperaturkoeffizienten des Widerstands hat,
als Temperaturmeßelement verwendet wird.
Die Fig. 6 ist eine perspektivische Ansicht, welche die
Sensoreinrichtung schematisch veranschaulicht.
Ein Substrat 61, das einen genügend niedrigeren spezifischen
Widerstand als ein Platinfilm hat, zum Beispiel ein Siliziumwafer
hohen Widerstands bzw. ein aus einem Siliziumeinkristall
geschnittenes Scheibchen hohen Widerstands wird durch
anisotropisches Ätzen wenigstens auf seiner Oberfläche feinbearbeitet,
so daß diese Oberfläche die Form von Wellen mit
flachen Maxima, die eine definierte oder unbestimmte Periode
haben, erhält, wie dargestellt, so daß dadurch trapezförmige
Vorsprünge oder Vertiefungen auf oder in der Oberfläche des
Substrats 61 ausgebildet werden. Nachfolgend wird ein Platinfilm
62 auf der geätzten Oberfläche des Substrats 61 mittels
Hochfrequenzkathodenzerstäubung ausgebildet, und dieser Film
wird danach zu einem Muster von Zickzacklinien von spezifizierter
Breite und spezifiziertem Abstand geformt, und zwar
beispielsweise durch Photoätzen oder Kathodenzerstäbungsätzen.
Der auf diese Weise hergestellte Platinfilm 62 dient
als Temperaturmeßelement, dessen Widerstandswert sich mit
der Temperatur ändert. Da der Widerstand des Platinfilmleiters
62 um einen Betrag, welcher den Vorsprüngen oder Vertiefungen
in der Substratoberfläche entspricht, größer ist,
als wenn ein konventionelles flaches Substrat verwendet
wird, kann das Temperaturmeßelement, das einen spezifizierten
R 0-Wert hat, beachtlich kleiner als ein entsprechendes
konventionelles Temperaturmeßelement sein. Weiterhin kann
man den Platinleitern, die in der Filmdicke und der Linienbreite
identisch sind, unterschiedliche Bezugswiderstandswerte
geben, indem man die bearbeitete Form des Substrats
oder den Abstand der Vorsprünge ändert. Das Substrat braucht
nicht immer einen hohen Widerstand zu haben, sondern es kann
so ausgebildet sein, daß es eine Oberfläche von erhöhtem
Widerstand hat, indem es nach der Feinbearbeitung thermisch
oxidiert wird oder indem es mit einem zusätzlichen isolierenden
Film bedeckt wird.
Wie oben in näheren Einzelheiten beschrieben worden ist, umfaßt
die Sensoreinrichtung nach der Erfindung einen kristallinen
bzw. kristallischen, feinkristallinen bzw. feinkristallischen
oder amorphen Sensor, der aus einem Halbleiter, einem
Metall, einem Metalloxid, einem dielektrischen oder einem
organischen Material hergestellt ist und auf oder in
dessen Oberfläche Vorsprünge und/oder Vertiefungen von wahlfreier
vorbestimmter Form und wahlfreien vorbestimmten Abmessungen durch
eine Feinbearbeitungstechnik ausgebildet sind. Auf diese Weise ist der
Sensor dadurch charakterisiert, daß seine Oberfläche so geformt
ist, daß er Fühlcharakteristika bzw. -kenndaten bzw.
Sensorkenndaten aufweist, die in beabsichtigter Weise kontrolliert
bzw. gesteuert erzeugt worden sind. Wie aus den
vorstehenden Ausführungsformen ersichtlich ist, kann die
Reaktion oder die Wechselwirkung zwischen der Substanz (Menge),
welche detektiert werden soll, und dem Sensor dadurch
verbessert werden, daß man den Oberflächenbereich erhöht
und die Form der Oberfläche ausnutzt. Demgemäß ist der hier
zur Verfügung gestellte Sensor als chemische Sensoreinrichtung,
Biosensoreinrichtung oder physikalische Sensoreinrichtung
von verbesserter Leistungsfähigkeit und Funktion sehr
brauchbar.
Claims (5)
1. Sensoreinrichtung, dadurch gekennzeichnet,
daß sie folgendes umfaßt: ein Substrat (11, 21, 31,
41, 51, 61) und einen darauf ausgebildeten Sensor (12, 22, 32,
42, 53, 62), der aus einem Metall, Metalloxid, Halbleiter, dieelektrischen
oder organischen Material hergestellt ist, wobei
der Sensor (12, 22, 32, 42, 53, 62) wenigstens auf seiner
Oberfläche mit einer Mehrzahl von Vorsprüngen (13) ausgebildet
ist, die eine wahlfreie vorbestimmte Form und wahlfreie
vorbestimmte Abmessungen haben.
2. Sensoreinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Vorsprünge (13) auf der
Oberfläche des Substrats (11, 21, 31, 41, 51, 61) durch chemische
oder physikalische Mittel, insbesondere ein chemisches
oder physikalisches Verfahren, ausgebildet sind.
3. Sensoreinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Vorsprünge (13) auf der
Oberfläche des Sensors (12, 22, 32, 42, 53, 62) durch chemische
oder physikalische Feinverarbeitungs- bzw. -bearbeitungsmittel,
insbesondere durch ein chemisches oder physikalisches
Feinbearbeitungsverfahren, ausgebildet sind.
4. Sensoreinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Selektivfilmausbildungsmittel
oder ein Selektivkristallwachsmittel, insbesondere
eine Selektivfilmausbildungseinrichtung und/oder ein
Selektivfilmausbildungsverfahren oder eine Selektivkristallwachseinrichtung
und/oder ein Selektivkristallwachsverfahren,
verwendet wird, wenn der Sensor (12, 22, 32, 42, 53, 62) ausgebildet
wird.
5. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor (53)
auf dem Kanalbereich eines Feldeffekttransistors ausgebildet
ist.
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