DE3532563A1 - Anordnung zur fluoreszenzoptischen messung von stoffkonzentrationen in einer probe - Google Patents
Anordnung zur fluoreszenzoptischen messung von stoffkonzentrationen in einer probeInfo
- Publication number
- DE3532563A1 DE3532563A1 DE19853532563 DE3532563A DE3532563A1 DE 3532563 A1 DE3532563 A1 DE 3532563A1 DE 19853532563 DE19853532563 DE 19853532563 DE 3532563 A DE3532563 A DE 3532563A DE 3532563 A1 DE3532563 A1 DE 3532563A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- carrier element
- light
- indicator layer
- excitation
- refractive index
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6428—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/77—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
- G01N21/7703—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator using reagent-clad optical fibres or optical waveguides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N2021/6463—Optics
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur fluoreszenzoptischen Messung von Stoffkonzentrationen in einer
Probe, mit einer Lichtquelle für Anregungsstrahlung, einem nach Anregung abhängig von der zu messenden Stoffkonzentration
fluoreszierenden Sensorelement, und einem Detektor für die Emissionsstrahlung, wobei das
Sensorelement ein zumindest an einem Bereich seiner Oberfläche mit der zu vermessenden Probe zumindest indirekt
in Kontakt bringbares Trägerelement aufweist, das für Anregungs- und Emissionsstrahlung transparent
ist und einen Brechungsindex η- aufweist, der größer
ist als der Brechungsindex n3 des vorliegenden Umgebungsmediums,
sodaß Lichtstrahlen die unter Auftreffwinkeln oC . - bezogen auf Senkrechte auf die Grenzflächen
zwischen Trägerelement und Umgebung - größer
n3
als cC n = arc sin — im Trägerelement unter Total-
als cC n = arc sin — im Trägerelement unter Total-
G1,3 n1
reflexion transportiert werden.
reflexion transportiert werden.
Eine Anordnung der eingangs genannten Art ist aus der US-PS 3 604 927 bekannt. Bei dieser bekannten An-Ordnung
erfolgt die Anregung der Probe mittels evaneszenten Wellen, welche bei Totalreflexion der Anregungsstrahlung an der Grenzschicht zwischen optisch dichterem
und optisch dünnerem Medium in letzterem entstehen und rasch exponentiell abklingen. Die Probe muß somit einen
kleineren Brechungsindex aufweisen als das totalreflektierende Trägerelement. Aufgrund der speziellen
Winkelanforderungen für den gerichteten, kollimierten Anregungsstrahl müssen die Flächen für den Ein- und
Austritt des Anregungslichtes aus dem Trägerelement speziell behandelt sein. Daraus ergibt sich ein sehr
aufwendiges Meßsystem mit hohen Ansprüchen an eine
exakte Positionierung, wobei aufgrund der geringen Eindringtiefe der evaneszenten Wellen in das fluoreszierende
Probenmedium nur geringe Signalintensitäten zu erwarten sind. Weiters ist anzumerken, daß die optischen
Eigenschaften der Probe im Bereich der evaneszenten Wellen, beispielsweise die Lichtabsorption durch nicht
fluoreszierende Stoffe, Einflußgrößen auf die Meßsignale darstellen.
Anordnungen zur Messung physikalischer oder chemischer Parameter und insbesonders von interessierenden
Stoffkonzentrationen mit Hilfe von lumineszierenden Indikatoren sind z.B. aus der DE-OS 25 08 637,
US-PS 3 612 866, GB-PS 1 190 583, EP-O 109 959-A1 oder
der EP-O 109 958-A1 bekannt.
Die letztgenannten Anordnungen basieren auf Sensorelementen, welche mit lumineszierenden Schichten
ausgestattet sind, welche ihrerseits mit der Probe in Kontakt gebracht werden und nach Lichtanregung Licht
in spektraler Abhängigkeit und/oder Intensitätsabhängigkeit von der zu messenden Größe abgeben. Ein Teil
dieses vom Sensorelement emittierten Lichtes wird mit Detektor en. gemessen, sodaß entsprechend physikalischer bzw.
chemischer Gesetze der Wechselwirkung zwischen Probenmedium und Lumineszenzschicht bzw. Indikatormaterial
auf die Größe der interessierenden Probenparameter geschlossen werden kann.
All diese Anordnungen haben den Nachteil, daß die Ausbeute an der zu bestimmenden Größe zuordenbarem
Emissionslicht relativ klein ist, wodurch das Auflösungsvermögen entsprechend den gegebenen Möglichkeiten der
verwendeten Detektoren (Photodetektoren) limitiert ist. Diesem Umstand kann auch nicht durch eine Erhöhung der
Intensität des Anregungslichtes entgegengewirkt werden, da die in diesem Zusammenhang bekannten bzw. verwendeten
lumineszierenden Indikatormaterialien mehr oder weniger starken Photozersetzungsprozessen unterliegen,
deren Umsatzrate proportional zur absorbierten Lichtmenge ist. Eine Erhöhung der Intensität des Anregungs-
lichtes würde also unmittelbar zu Alterungsprozessen im Indikatormaterial und damit wiederum zu einer Erhöhung
der Messungenauigkeit führen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Anordnung der eingangs genannten Art so zu verbessern,
daß die angeführten Nachteile der bekannten Anordnungen nicht auftreten und daß insbesondere die Ausbeute an
zum Detektor gelangendem Emissionslicht bei gegebenem Indikatormaterial erhöht wird, ohne daß die mit einer
Erhöhung der Intensität des Anregungslichts einhergehenden Nachteile in Kauf genommen werden müssen.
Dies wird gemäß der vorliegenden Erfindung dadurch erreicht, daß das Trägerelement zumindest an einem
Bereich seiner Oberfläche mit einer Indikatorschicht mit vorgegebenem Brechungsindex n~ bedeckt ist, die
auf der dem Trägerelement abgewandten Seite während der Messung mit der Probe in Kontakt steht, daß die zum
Detektor gelangende Emissionsstrahlung, und/oder die Anregungsstrahlung, in dem mit der Probe während der
Messung über die Indikatorschicht in Kontakt stehenden Bereich des Trägerelementes Winkel 0C1 aufweist, die
n2 ' kleiner als oCr, = arc sin — sind. Das mit dem In-
Gi,2 ni
dikatormaterial beschichtete Trägerelement weist also zumindest teilweise reflektierende Flächen auf, deren Form und Lage auf das Anregungs- und/oder Detektionssystem in einer Weise abgestimmt sind, daß sich eine lichtsammelnde bzw. lichtleitende Funktion des Trägerelements für Anregungs- und/oder Emissionslicht und zwar gerichtet zur Indikatorschicht und/oder zum Detektor ergibt.
dikatormaterial beschichtete Trägerelement weist also zumindest teilweise reflektierende Flächen auf, deren Form und Lage auf das Anregungs- und/oder Detektionssystem in einer Weise abgestimmt sind, daß sich eine lichtsammelnde bzw. lichtleitende Funktion des Trägerelements für Anregungs- und/oder Emissionslicht und zwar gerichtet zur Indikatorschicht und/oder zum Detektor ergibt.
Als Trägerelement wird in diesem Zusammenhang allgemein ein transparenter Körper verstanden, der zumindest
an einem Teil seiner Oberfläche mit der lumineszierenden Indikatorschicht in Kontakt steht und
in diesem Bereich zugleich die Indikatorschicht begrenzt, wobei der Ort der Indikatorschicht relativ zum
Trägerelement fixiert ist. Die nach Anregung fluoreszierende Indikatorschicht kann dabei durch chemische
oder physikalische Wechselwirkungen mit dem Trägerelement an dieses gebunden sein. Beispiele für
derartige Bindungen sind: Adhäsion von Flüssigkeitsfilmen, Adhäsion oder chemische Bindung (z.B. kovalente
Bidnung) von Poymerschichten - jeweils mit eingelagerten lumineszierenden Farbstoffen, Adsorption oder
chemische Bindung von lumineszierenden Farbstoffen direkt an das Trägerelement.
Reflexion im Trägerelement kann entweder durch Verspiegelung der entsprechenden Flächen nach bekannten
Methoden oder durch Einhalten der Bedingungen für die Totalreflexion erzielt werden. Totalreflexion
tritt dann ein, wenn Licht aus einem optisch dichteren Medium auf die Grenzfläche eines optisch dünneren fällt und der Einfallswinkel
größer ist,als der Grenzwinkel für die Totalreflexion.
Allgemein ist dieser Grenzwinkel durch die Brechungsindexunterschiede
der beiden aneinandergrenzenden Medien nach Gleichung 1 bestimmt.
(G. | 1) | sin O | Ga,b " | nb na |
; mit CXG | : Grenzwinkel für ,b die Totalre flexion |
na: | Brechungsindex des optisch dichteren Mediums |
|||||
nb: | Brechungsindex des optisch dünneren Mediums |
Der zuletzt beschriebene Fall der Totalreflexion an Grenzflächen von Medien unterschiedlicher optischer
Dichte ist bevorzugt gegenüber aer ebenfalls gegebenen Möglichkeit der Reflexion an verspiegelten Flächen anzuwenden.
Die Vorteile liegen dabei nicht nur im geringen Aufwand der Herstellung von Sensorelementen mit
total reflektierenden Flächen, sondern vor allem in der Möglichkeit die Lichtwege von Anregung und Emission zu
trennen, und damit das Anregungslicht vom Emissions(=Lumineszenz)licht
zu unterscheiden. Diese Unterscheidungsmöglichkeit wird im folgenden für die einzelnen bevorzugten
Ausgestaltungen der Erfindung gesondert aufgezeigt und beruht im wesentlichen auf der Winkelabhängigkeit
der Totalreflexion (Lichtstrahlen mit Einfallswinkel >eCr werden totalreflektiert - verbleiben also im
a,b
Medium des Trägerelements; Lichtstrahlen mit Einfallskeln <oC
Medium des Trägerelements; Lichtstrahlen mit Einfallskeln <oC
'G.
ra,b.
werden vom Lot gebrochen, verlassen also
das Trägerelement) .
Wie erwähnt ist dafür zu sorgen, daß die Umgebung der für Totalreflexion vorgesehenen Flächen aus Medien
mit kleinerem Brechungsindex besteht als das Medium des Trägerelements .
Beispiele für Träger- und Umgebungsmaterialien sind folgende:
Bezeichnung | Brechungsindex | |
Trägerelement | Glas Quarzglas Plexiglas Polycarbonate ungesättigte Polyester |
1,46-1,9 (je nach Glas type) 1,46 1,50 1,60 1,52 |
Umgebung: | Luft Wasser Silicon PVC mit Weichmacher |
1,00 1,33 1,40-1,58 1,5 |
Zur Umgebung: Polymeramterialien (Silicon, PVC) können dabei als Beschichtung der Trägerelemente
oder als Einbettmassen für diese Anwendung finden und zugleich als Haltevorrichtung
dienen oder mit einer solchen in Verbindung stehen.
Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung betrifft die häufig angewandte Technik der Lumineszenzmessung in
"Remission", beispielsweise mit Hilfe zweiarmiger Faserlichtleiter als Kopplungselement zwischen Lichtquelle,
-O-
Sensor und Photodetektor. Es ist dabei vorgesehen, daß das Trägerelement zylindrische bzw. prismatische Form
aufweist und an einer der Indikatorschicht gegenüberliegenden Deckfläche mit einem Ende eines lichtleitenden
Kopplungselementes, wie insbesonders einem Totalreflexion ausnützenden, mehrarmigen Faserlichtleiterbündel, in
Verbindung steht, dessen anderes Ende mit der Lichtquelle bzw. dem Detektor zusammenwirkt, und daß die Mantelfläche
des Trägerelementes zumindest annähernd senkrecht auf dieser Deckfläche steht.
über das gemeinsame Ende des im Bereich des Trägerelementes
statistisch vermischten Faserlichtleiterbündels kann beispielsweise sowohl Anregungslicht von der
Lichtquelle zur Indikatorschicht als auch Lumineszenzlicht von dort zum Detektor befördert werden.
Das Trägerelement für die fluoreszierende Indikatorschicht weist beispielsweise eine "total reflektierende"
Zylindermantelfläche auf. Die normal zur Zylinderachse geschnittene Deckfläche des im wesentlichen zylindrisch
ausgebildeten Trägerelements grenzt an einen zweiarmigen Faserlichtleiter; der Durchmesser des Trägerelements
ist im günstigsten Fall gleich dem Durchmesser des angrenzenden Endes des Faserlichtleiterbündels.
Die gegenüberliegende Grundfläche des Trägerelementes ist zumindest teilweise mit der Indikatorschicht
bedeckt und kann unterschiedlich geformt sein.
Im einfachsten Fall ist auch diese Fläche eine Schnittfläche normal zur Zylinderachse, bzw. zur Prismenachse
im Fall der Ausbildung des Trägerelementes als Prisma. Ein besonderer Vorteil derartiger Trägerelemente
liegt darin, daß auch die Lichtwege für die Anregungsstrahlung durch die reflektierende Mantelfläche begrenzt
werden, sodaß das Anregungslicht auf die Indikatorschicht gesammelt wird und Lichtwechselwirkungen mit der
Sensorumgebung vermieden werden.
Zur Vermeidung von (partieller) Rückreflexion des Anregungslichtes in das Kopplungselement kann die die
lumineszierende Schicht tragende "Grundfläche" des
Trägerelementes als einfach schief zur Deckfläche geschnittene Fläche, als kegelförmige Vertiefung, oder
als aufgesetzter Kegel ausgestaltet sein.
In einer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß die die Indikatorschicht tragende, dem
Kopplungselement gegenüberliegende Grundfläche des Trägerelementes zur Deckfläche unter einem Winkel ß
sin 0Co geneigt ist, für den gilt: sin ß>— ; wobei A.3
der halbe maximale Austrittswinkel des Anregungslichtes aus dem Kopplungselement ins Umgebungsmedium ist.
Der Winkel ß, den diese Schnittfläche bzw. die Erzeugenden der Kegelmantelfläche zu der normal auf die
Zylinder- bzw. Prismenachse stehenden Deckfläche einnehmen, ist somit auf den Austrittswinkel des Faserlichtleiters
abgestimmt.
Unter den in Gleichung 2 angegebenen Bedingungen können partiell rückreflektierte Anregungslichtstrahlen nicht
mehr im lichtleitenden Kopplungselement, bzw. im Faserlichtleiter, weitergeleitet werden:
nt
(Gl. 2) sin ß>·^^-—~ ; mit: n, = Brechungsindex des
n1 Materials des Träger
elementes
Dies gilt unter der Annahme gleichen Umgebungsmediums (beispielsweise Luft) an der Deckfläche und der Mantelfläche
des Trägerelementes.
Die reflektierten Strahlen des Anregungslichtes können die Deckfläche des Trägerelementes damit nur mehr
unter Winkeln verlassen, welche größer sind, als der maximale öffnungswinkel des Kopplungselementes ins Umgebungsmedium
und können somit im Kopplungselement nicht mehr zum Detektor geleitet werden.
Bei einer Anordnung, bei welcher das Trägerelement in Form einer Platte mit planparallelen Deckflächen ausgeführt und
die Indikatorschicht an einer der Deckflächen angeordnet ist, kann die Totalreflexion an den planparallelen
Deckflächen für den Transport von Anregungslicht zum Indikator und/oder von Emissionslicht vom Indikator
zum Detektor ausgenutzt werden. Die Lichteintritts- bzw.
Lichtaustrittsflächen für totalreflektierte Strahlen im Trägerelement sind Kantenflächen der planparallelen
Platte, die im wesentlichen senkrecht zu den planparallelen, totalreflektierenden Deckflächen liegen.
Wie bereits erwähnt, kann nach der vorliegenden Erfindung die Winkelabhängigkeit der Totalreflexion für
die Trennung der Strahlengänge von Anregungs- und Emissionslicht ausgenutzt werden. Dadurch können übliche
Maßnahmen zur Unterscheidung von Anregungs- und Lumineszenzlicht (Monochromatoren, optische Filter) zumindest
teilweise durch die Formgebung des Trägerelementes ersetzt werden. Es können demnach Photodetektoren bei
räumlicher Entfernung von der Lichtquelle in unmittelbarer Umgebung der Lichtaustrittsfläche für Emissionslicht
am Trägerelement positioniert werden. Durch den Entfall der Monochromatoren bzw. Filter sowie die Möglichkeit,
die Detektoren näher an den Entstehungsort des Emissionslichts heranzurücken, bzw. durch die Ausnützung
der Tatsache, daß die Lichtleitung mittels Totalreflexion praktisch verlustlos erfolgt, wird die
Lichtausbeute und damit die Meßgenauigkeit erhöht, ohne daß die Intensität des Anregungslichts angehoben
werden müßte.
In diesem Zusammenhang ist nach einer besonders vorteilhaften Ausführung der Erfindung vorgesehen, daß
die zur Anregung dienende Lichtquelle im wesentlichen normal zur Indikatorschicht angeordnet
ist und daß der. Detektor an zumindest einer im wesentlichen senkrecht zur Indikatorschicht liegenden
seitlichen Begrenzungsfläche des Trägerelementes angeordnet ist. Damit wird im Inneren des Trägerelementes
total reflektiertes Emissionslicht an zumindest einer seitlichen Kante des Trägerelementes detektiert ,wobei die
.Lichtanregung ohne Totalreflexion im Trägerelement erfolgt. Dabei
ist die Lichtquelle so angeordnet, daß die Achse des Anregungsstrahlenganges im wesentlichen senkrecht zur Indikatorschicht
und damit zur planparallelen Trägerplatte steht. Da für das dabei in das Trägerelement
eintretende Anregungslicht auf alle Fälle die Winkelbedingungen für Totalreflexion im Trägerelement
nicht erfüllt sind ist gewährleistet, daß kein Anregungslicht im Inneren des planparallelen Trägerelementes
durch Totalreflexion zum Detektor bzw. zu den Detektoren gelangt.
In diesem Zusammenhang ist es von Vorteil, wenn erfindungsgemäß die Indikatorschicht eine Deckfläche
des Trägerelementes vollständig bedeckt und der Brechungsindex n? der Indikatorschicht größer als der Brechungsindex
n3 des Umgebungsmediums ist.
Dabei ist es besonders vorteilhaft, wenn gemäß einer anderen Weiterbildung der Erfindung zwischen
Lichtquelle und Trägerelement eine Blendenanordnung vorgesehen ist, welche den Einfallswinkel des Anregungslichtes begrenzt. Dies dient zur Verminderung von
partiellen Reflexionen des Anregungslichtes im planparallelen Trägerelement. Dazu könnten auch andere
Maßnahmen zur Lichtbündelung (wie z.B. opt. Linsen) vorgesehen werden, welche Winkelabweichungen des Anregungslichtes
von der optischen Achse der Anregungsstrahlung reduzieren. Die lumineszierende Indikatorschicht
kann dabei eine der beiden planparallelen Deckflächen entweder ganz oder nur teilweise bedecken,
zum Beispiel nur in jenem Bereich, der mit der Probe in Kontakt steht.
Besonders vorteilhaft ist es dabei, wenn nach einer weiteren Ausbildung der Erfindung die Blendenanordnung
zwischen Lichtquelle und Trägerelement nur Anregungslicht mit Winkeln <. 90 relativ zum
Lichtweg zwischen Indikatorschicht und Detektor durchläßt, da damit die Gefahr, daß ein Teil des Anregungslichtes trotzdem durch teilweise Reflexion innerhalb
der planparallelen Deckflächen des Trägerelementes zum Detektor bzw. zu den Detektoren gelangt, weiter
verringert wird.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß zwischen der detektorseitigen Begren-
_ 13 ---■ ■
zungsfläche und dem Detektor eine Kopplungsschicht angeordnet
ist, die einen Brechungsindex rir aufweist, der
größer ist als der Brechungsindex r;3 der Umgebung des
Trägerelementes. Besonders vorteilhaft ist es dabei, wenn der Brechungsindex n, der Kopplungsschicht größer
oder gleich dem Brechungsindex n- des Trägerelements
selbst ist, wobei die Kopplungsschicht nach einer besonders bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung
aus einem, vorzugsweise auf dem Detektor aufgebrachten, Polymermaterial bestehen kann. Durch diese Ausgestaltungen
kann die Lichtübertragung von der jeweiligen Begrenzungs- bzw. Kantenfläche zum Detektor
durch indexangepaßte Medien zwischen Kantenfläche und Detektor verbessert werden (z.B.: Immersionsöl,
Polymerbeschichtung).
Der wesentliche Vorteil dieser Ausgestaltungen besteht darin, daß an den seitlichen Begrenzungsflächen ein deutlich größerer Anteil von Emissionslicht abgestrahlt wird als an den beiden planparallelen
Deckflächen, deren eine die Indikatorschicht trägt. Tab. 1 vergleicht die Emissionslichtanteile,
welche von den planparallelen Deckflächen und von den seitlichen Begrenzungsflächen abgestrahlt
werden. Die Brechungsindizes der an der Totalreflexion
beteiligten Medien (Trägerelement, Umgebung und lumineszierende Indikatorschicht), werden in drei
gebräuchlichen Kombinationen angegeben.
Tab. 1: Vergleich von Emissionslichtanteilen, welche an den planparallelen Deckschichten
0 und durch die normal dazu stehende(n)
Begrenzungsfläche(n) eines Trägerelementes abgestrahlt werden, wobei der
Brechungsindex der Indikatorschicht variert ist und die geometrischen Bedingungen
konstant angenommen sind.
Brechungsindiz es | n2 Indika tor schicht |
n3 Umge bung |
Emissionslichtan teile % des gesamten Lumineszenzlichtes |
Austritt an plan- paralle len Deck flächen |
Verhältnis der Lichtanteile |
Ω1 Trä- ger- ele- ment |
1,47 (Sili con) |
1,00 (Luft) |
Austritt an seitl. Begren zungsflä chen |
26,7 % | seitl./Deck fläche |
1,47 (Du- ran Glas) |
1,40 (Sili con) |
1,00 | 68,0 % | 29,3 % | 2,55 |
1,47 | 1,50 (PVC + Weich- mascher) |
1,00 | 68,1 % | 25,5 % | 2,33 |
1,47 | 49,7 % | 1,95 |
Die Tab. 1 zeigt, daß Brechungsindexunterschiede zwischen Trägerelement und Indikatorschicht in gewissen
Grenzen erlaubt sind. Als unkritisch für die Lichtausbeute an der seitlichen Begrenzungsfläche kann der
Fall n2<n. angesehen werden. Für den Fall n2>n1 treten
durch Totalreflexion zwischen Indikatorschicht und Trägerelement Verluste an der Lichtausbeute an der seitlichen
Begrenzungsfläche ein. Dieser entlang der Indikatorschicht totalreflektierte Lichtanteil, der in der
Tab. 1 nicht berücksichtigt ist, kann allerdings zumindest teilweise mitdetektiert werden, wenn die Indikatorschicht
die gesamte Deckfläche bedeckt und an der seitlichen Begrenzungsfläche des Trägerelements ebenfalls
an die photoempfindliche Schicht des Detektors angrenzt.
Tab. 1 zeigt weiters, daß für realistische Kombinationen von Trägerelement, Indikatorschicht und Umgebung
der seitlich abgestrahlte Lichtanteil an emittiertem Lumineszenzlicht zwei- bis zweieinhalb mal so groß
ist, als der von den beiden planparallelen Deckflächen abgestrahlte Anteil.
Ein weiterer Vorteil ergibt sich auch durch den bereits erwähnten Umstand, daß der (die) Detektor(en) direkt
an der (den) seitlichen Kante(n) positioniert werden kann (können), während zur Messung des von der planparallelen
Deckfläche abgestrahlten Lichtes Vorrichtungen zur Unterscheidung, z.B. Filter, von Anregungs- und
Lumineszenzlicht zwischen abstrahlender Fläche und Detektor vorgesehen werden müßten.
Der Detektor kann im wesentlichen normal zur Indikatorschicht
angeordnet sein, wobei die zur Anregung dienende Lichtquelle an einer im wesentlichen senkrecht
zur Indikatorschicht liegenden Begrenzungsfläche des Trägerlementes angeordnet ist, Diese Begrenzungsfläche
weist dabei einen Abstand zur vom Anregungslicht ausgeleuchteten Indikatorschicht auf, der zumindest eine einmalige
Totalreflexion des Anregungslichtes im Trägerelement ermöglicht. Zwischen der Begrenzungsfläche und
der Indikatorschicht kann dabei auch eine lichtundurchlässige Abdeckung um das Trägerelement angebracht sein,
die vorzugsweise von der Begrenzungsfläche einen Abstand aufweist. Damit erfolgt also der Lichttransport für das
Anregungslicht hauptsächlich mittels Totalreflexion innerhalb des planparallelen Trägerelements und das
Emissionslicht (Lumineszenzlicht) wird an zumindest einer der planparallelen Deckflächen des Trägerelements detektiert.
Um teilweise Absorption des Anregungslichtes durch die Indikatorschicht zu vermeiden, ist es dabei
vorteilhaft, nur jenen Teil der planparallelen Deckflächen mit der lumineszierenden Indikatorschicht zu bedecken,
der tatsächlich in Kontakt mit der Probe bringbar ist. Als Bedingungen für diese Art von Anordnung
gelten, daß die Brechungsindizes von sowohl Trägerelement als auch lumineszierender Indikatorschicht größer sind
als der Brechungsindex der Umgebung.
Das Anregungslicht wird im Inneren des planparallele
Deckflächen aufweisenden Trägerelements solange totalreflektiert, bis ein gegenüber der Umgebung erhöhter
Brechungsindex der angrenzenden Indikatorschicht einen
Durchtritt durch die Grenzfläche ermöglicht und somit die Anregung der lumineszierenden Moleküle gewährleistet
ist.
Da der Großteil des Anregungslichtes (Streulicht ausgenommen) weder die lumineszierende Indikatorschicht
noch die gegenüberliegende Deckfläche der planparallelen Platte des Trägerelementes in Richtung Umgebung verlassen
kann - an diesen Grenzflächen wird es total reflektiert - können Photodetektoren entweder an der der Indikatorschicht
gegenüberliegenden Deckfläche der planparallelen Platte oder an eine Meßgutkammer anschließend (z.B. für
die Messung transparenter Gase) oder an beiden Stellen im wesentlichen auf Deckung mit der lumineszierenden Indikatorschicht
angeordnet sein.
Der Vorteil dieser Art von Anordnungen besteht wieder darin, daß der (die) Detektor(en) näher den abstrahlenden
planparallelen Flächen positioniert werden kann (können), da optische Filter entweder weggelassen
werden können oder lediglich zur Absorption von gestreutem Anregungslicht vergleichsweise dünn ausgeführt
sein können. Außerdem bietet sich der Vorteil, das an den planparallelen Grenzflächen abgestrahlte Lumineszenzlicht
von beiden Seiten der planparallelen Platte zu detektieren, da kein Lichtweg für die Anregungsstrahlung
in diesem Bereich freigehalten werden muß. Vorteilhafterweise kann der Brechungsindex der
lumineszierenden Indikatorschicht klein gewählt werden, ohne aber die grundlegende Bedingung n2/>n., zu verletzen.
Dadurch können die durch die planparallelen Deckflächen abgestrahlten Lumineszenzlichtanteile vergrößert werden
(vgl. Tab. 1). Für eine effektive Beleuchtung sollte andererseits der Brechungsindex des Trägerelements nicht
wesentlich größer sein als jener der lumineszierenden Indikatorschicht, da für n.j>
n2 ein Teil des Anregungslichtes an der Grenzfläche Trägerelement/Indikatorschicht
ebenfalls total reflektiert wird.
Nach einer anderen Ausgestaltung der Erfindung können die Begrenzungsflächen zur Einleitung des Anre-
gungslichtes und zur Detektierung des Emissionslichtes
sowie die Indikatorschicht jeweils senkrecht zueinander angeordnet sein. Dies stellt im wesentlichen eine Korabination
der oben beschriebenen beiden bevorzugten Ausführungsvarianten dar.
Durch entsprechende Wahl der Grundfläche des planparallelen Trägerelemtenes ist es also möglich, sowohl
Anregung als auch Detektion an Kantenflächen bzw. seitlichen Begrenzungsflächen des Trägerelements durchzuführen.
Zusätzlich zur Detektion an den seitlichen Begrenzungsflächen ist es dabei auch möglich, Lumineszenzlicht, welches von den planparallelen Deckflächen abgestrahlt
wird zu detektieren.
Es ist dabei auch möglich, daß die Deckflächen des Trägerelements trapezförmig ausgebildet sind, was den
Vorteil hat, daß auch Materialkombinationen (Umgebung, Trägerelemente) möglich sind, für die der Grenzwinkel
der Totalreflexion > 45° ist.
Die Erfidung wird im folgenden anhand der in - der
Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiele näher erläutert. Die
Fig. 1- und 2 zeigen·jeweils unterschiedliche Ausführungsformen
von . Anordnungen nach der vorliegenden Erfindung in teilweise geschnittener,
schematischer Darstellung, Fig. 3 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel in
Schrägansicht,
Fig. 4 zeigt ein Detail eines anderen Ausführungsbeispiels in schematischer Darstellung,
Fig. 5 zeigt ein Detail eines weiteren Ausführungsbeispieles,
Fig. 6 zeigt die Lichtreflexionsbedingungen in einem Trägerelement eines anderen Ausführungsbeispiels nach der Erfindung und die
Fig. 6 zeigt die Lichtreflexionsbedingungen in einem Trägerelement eines anderen Ausführungsbeispiels nach der Erfindung und die
Fig. 7 bis 9 zeigen jeweils unterschiedliche Gestaltungen von Trägerelementen für Anordnungen
nach der vorliegenden Erfindung.
Die in Fig. 1 dargestellte Anordnung zur optischen Messung von Stoffkonzentrationen in einer Probe weist
ein Sensorelement 1 mit einem an einem Bereich seiner Oberfläche mit einer Indikatorschicht 2 versehenen Trägerelement
3 auf. An der mit der Indikatorschicht 2 versehenen Seite des Trägerelementes 3, welches in Form
einer Platte 4 mit planparallelen Deckflächen 5 ausgeführt ist, ist eine Meßgutkammer 6 vorgesehen, welche
über Einlaß 7 und Auslaß 8 von der zu messenden Probe durchspült sein kann.
An der der Indikatorschicht 2 abgewandten Seite ist im Inneren der Meßgutkammer 6 ein Detektor 9 angeordnet,
der als sogenannter Photodetektor ausgeführt ist und über Anschlüsse 10, 11 der nachgewiesenen Strahlung entsprechende
elektrische Signale an eine hier nicht weiter dargestellte Auswerteeinheit abgeben kann. An der der
Indikatorschicht 2 gegenüberliegenden Seite der Platte 4 ist an der planparallelen Deckfläche 5 ein weiterer
Detektor 9 angeordnet, der im wesentlichen gleich wie der im Inneren der Meßgutkammer 6 liegende ausgeführt
sein kann.
An einer im wesentlichen senkrecht zur Indikatorschicht 2 liegenden seitlichen Begrenzungsfläche 12 der
Platte 4 bzw. des Trägerelementes 3 ist eine Lichtquelle 13 angeordnet, die über die Fläche 12 Anregungslicht ins Innere der für die verwendete Strahlung transparenten
Platte 4 schickt. Im Bereich der Begrenzungsfläche 12 ist zur Vermeidung einer direkten Beleuchtung
der Detektoren 9 durch die Lichtquelle 13 eine Abdeckung 14 angeordnet.
Das Trägerelement 3 bzw. die planparallele Platte 4 weist einen Brechungsindex für die Strahlung der Lichtquelle
13 auf, der größer ist als der des an der indikatorfreien Oberfläche der Platte 4 vorliegenden Umgebungsmediums,
womit - wie dargestellt - das Anregungslicht von der Lichtquelle 13 im Inneren der planparallelen
Platte 4 unter Totalreflexion weitergeleitet wird. Erst im Bereich der Indikatorschicht 2, wo ein gegenüber
der Umgebung erhöhter Brechungsindex eine Aufhebung der Totalreflexion und einen Durchtritt durch die Grenzfläche
der Platte A ermöglicht, kann Anregungslicht aus der Platte 4 aus- und in die Indikatorschicht 2 eintreten.
Zufolge der Eigenschaft des verwendeten Indikatormaterials, welches entsprechend physikalischer bzw.
chemischer Gesetze mit dem nachzuweisenden Stoff aus der in der Meßgutkammer 6 befindlichen Probe in Wechselwirkung
tritt, wird durch das Anregungslicht (in Fig. 1 mit durchgezogenen Linien angedeutet) in der Indikatorschicht
2 Lumineszenz angeregt - das auf diese Weise emittierte Licht ist in Fig. 1 strichliert angedeutet.
Aufgrund spektraler Abhängigkeit und/oder Intensitätsabhängigkeit des Emissionslichtes von der zu messenden
Größe kann aus dem Signal der Detektoren 9 auf diese bzw. auf Änderung derselben geschlossen werden.
Da zufolge der Totalreflexion des Anregungslichtes im Trägerelement 3 ausgenommen von Streulichtanteilen
kein Anregungslicht zu den Detektoren 9 gelangen kann und andererseits zufolge der dargestellten geometrischen
Verhältnisse für das von der Indikatorschicht 2 ausgehende Emissionslicht die geometrischen Bedingungen für
die Totalreflexion an den planparallelen Deckflächen 5 nicht erfüllt sind, sind vor den Detektoren 9 keine FiI-ter
erforderlich um Anregungs- und Emissionslicht in spektraler Hinsicht unterscheiden zu können. Da weiters
damit auch die Detektoren 9 sehr nahe an die Indikatorschicht 2 herangerückt werden können, ist eine hohe
Ausbeute an Emissionslicht möglich ohne die Intensität des Anregungslichtes zu steigern, was eine Erhöhung der
Meßgenauigkeit erlaubt.
Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel ist im Unterschied zu Fig. 1 die Lichtquelle 13 nun im
wesentlichen normal zu der hier die gesamte Oberfläche der planparallelen Deckfläche 5 bedeckenden Indikatorschicht
2 angeordnet. Mittels einer Blendenanordnung 15 wird der Einfallswinkel cL des Anregungslichtes auf geringe
Werte begrenzt womit partielle Reflexion des An-
re^ungsiichtes verringert wird. Dieses kann damit zwar
durch die planparallele Platte k hindurch zur Indikatorschicht
2 nicht aber zu dem an der seitlichen Begrenzungsfläche 12 angeordneten Detektor 9 gelangen. Die
Meßgutkammer ist wiederum mit 6, der Einlaß mit 7 und der Auslaß mit 8 bezeichnet.
Das von der Indikatorschicht 2 im Bereich der Meßgutkammer 6 nach Anregung durch die Lichtquelle 13 ausgesandte
Emissionslicht ist wiederum strichliert eingezeichnet - ab einem gewissen Abstand von der Meßgutkarnmer
6 in Richtung zum Detektor 9 werden wieder die Bedingungen für die Totalreflexion im Inneren des Trägerelements
3 erfüllt. Es ist also auch mit dieser Anordnung ohne zusätzliche Filter möglich sicherzustellen,
daß zum Detektor 9 nur Emissionslicht gelangt.
Bei dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel ist im wesentlichen eine Kombination der Anordnung
nach den Fig. 1 und 2 gegeben. Die Lichtquelle 13 ist wie in Fig. 1 an einer seitlichen Begrenzungsfläche des
Trägerelementes 3 bzw. der dieses bildenden planparallelen Platte A angeordnet und mit einer Abdeckung 14 versehen.
An zwei, zu der die Lichtquelle aufweisenden Begrenzungsfläche senkrecht stehenden seitlichen Begrenzungsflächen
sind Detektoren 9 angeordnet; die Indikatorschicht 2 ist an einer sowohl zu der den Detektoren
9 als auch zu der der Lichtquelle 13 zugewandten seitlichen Begrenzungsfläche senkrecht stehenden Deckfläche
5 aufgebracht; die Meßgutkammer ist hier nicht eigens dargestellt.
Zufolge der dargestellten geometrischen Bedingungen ist sichergestellt, daß für in das Trägerelement 3 eintretendes
Anregungslicht - im Hinblick auf die senkrecht zur Eintrittskante liegenden Detektoren 9 - an den
Austrittskanten zu den Detektoren die Bedingungen für Totalreflexion erfüllt sind. Damit ist auch mit dieser
Anordnung sichergestellt, daß die Lichtleitung von der Anregungslichtquelle 13 zu Indikatorschicht 2 sowie von
der Indikatorschicht 2 zu den Detektoren 9 unter Aus-
BAD ORIGINAL
nutzung der Totalreflexion im Trägerelement 3 erfolgen
kann und daß von den Detektoren w abgesehen von Streulichtanteilen
im wesentlichen nur Emissionslicht registriert wird. Unter Umständen Kann sich bei einer derartigen
Anordnung aber die Anordnung von Anregungslichtfiltern für das Streulicht günstig erweisen, die allerdings
nur sehr dünn ausgeführt werden müssen.
In Fig. A ist die Anordnung einer Kopplungsschicht
15' zwischen der seitlichen Begrenzungsfläche 12 des Trägerelements 3 und dem Detektor 9 dargestellt, welche
auch beispielsweise aus einem direkt auf dem Detektor 9 aufgebrachten Polymermaterial bestehen kann. Der Brechungsindex
dieser Kopplungsschicht 15' ist größer als der Brechungsindex der Umgebung des Trägermaterials und
vorzugsweise größer oder gleich dem Brechungsindex des Trägerelements selbst. Auf diese Weise kann die Lichtübertragung
zum Detektor 9 durch die lichtsammelnde Wirkung der Kopplungsschicht 15' verbessert werden.
Das in Fig. 5 dargestellte Detail betrifft eine An-Ordnung unter Ausnutzung der häufig angewandten Technik
der Lumineszenzmessung in "Remission". Dazu ist ein zweiarmiges Faserlichtleiterbündel 16 vorgesehen, das
eine Vielzahl von einzelnen, Totalreflexion ausnützenden Lichtleitern aufweist und in hier nicht dargestellter
Weise mit einem Teil der Lichtfasern mit einer Lichtquelle
und mit einem anderen Teil der Lichtfasern mit einem Detektor in Verbindung steht. Das Ende 17 des mit
einer Umhüllung 18 versehenen Faserlichtleiterbündels steht mit einem Trägerelement 3 für die Indikatorschicht
2 in Verbindung, welches zylindrisch oder prismatisch ausgebildet ist. Durch die senkrecht auf die Deckfläche
5 stehende Mantelfläche bzw. Mantelflächen 19 wird sowohl eine Sammlung des Anregungslichtes auf die Indikatorschicht
2 als auch eine Sammlung des von der Indikatorschicht ausgehenden Emissionslichtes in Richtung zum
Ende 17 des Faserlichtleiterbünüels 16 erreicht. Diese Wirkung könnte an sich auch durch ein Verspiegeln der
Mantelfläche 19 erzielt werden - unter Ausnützung der
Totalreflexion im Trägerelement 3 gestaltet sich jedoch dessen Herstellung wesentlich einfacher.
In Fig. 6 ist ein Trägerelement 3 zur Anwendung in einer Anordnung gemäß Fig. 5 dargestellt, wobei hier
zur Vermeidung partieller Rückreflexion des Anregungslichtes in das nicht dargestellte Faserlichtleiterbündel
die die Indikatorschicht 2 tragende Grundfläche des Trägerelements unter einem Winkel ß zur Deckfläche 5 geneigt
angeordnet ist. Unter der Annahme, daß der maximal mögliche Austrittswinkel (im Hinblick auf Totalreflexion
im Lichtleiter) vom Faserlichtleiterbündel ins Umgebungsmedium ^C beträgt muß der Winkel ß folgende Beziehung
erfüllen:
sin
sin ß y· — ; mit: n* .... Brechungsindex
sin ß y· — ; mit: n* .... Brechungsindex
1 des Trägerele-
Dies unter der Annahme, daß an der Mantel- und Deckfläche Umgebungsmedium mit gleichem Brechungsindex
(z.B. Luft) vorliegt.
Durch diese Neigung der die Indikatorschicht 2 tragenden Grundfläche kann also sichergestellt werden,
daß an dieser Grundfläche partiell reflektierte Anregungslicht nicht mehr retour im Faserlichtleiter zum Detektor
transportiert werden kann.
Die Fig. 7 bis 9 zeigen verschiedene Möglichkeiten, die erforderliche Neigung der die Indikatorschicht 2
tragenden Grundfläche an einem zylindrisch oder prismatisch ausgebildeten Trägerelement 3 zu realisieren.
Soferne das Faserlichtleiterbündel bei einer Anordnung nach den Fig. 6 bis 9 direkt (ohne Luftspalt) bzw.
über eine indexangepaßte Kopplungsschicht an die Deckfläche des Trägerelements anschließen sollte, so müßte
der unterschiedliche Brechungsindex in der angegebenen Beziehung für ß unter Umständen noch separat berücksichtigt
werden,
85 08 29
Kr/Lu/Fe
Kr/Lu/Fe
Claims (1)
- Patenansprüche1.J Anordnung zur fluoreszenzoptischen Messung von Stoffkonzentrationen in einer Probe, mit einer Lichtquelle für Anregungsstrahlung, einem nach Anregung abhängig von der zu messenden Stoffkonzentration fluoreszierenden Sensorelement, und einem Detektor für die Emissionsstrahlung, wobei das Sensorelement ein zumindest an einem Bereich seiner Oberfläche mit der zu vermessenden Probe zumindest indirekt in Kontakt bringbares Trägerelement aufweist, das für 'f Anregungs- und Emissionsstrahlung transparent ist ;.und einen Brechungsindex η. aufweist, der größer ist * als der Brechungsindex n3 des vorliegenden Umgebungsmediums, sodaß Lichtstrahlen -die unter Auftreffwinkeln eC, - bezogen auf Senkrechte auf die Grenzflächen zwischen Trägerelement und Umgebung -n3
großer als oC„ = arc sin —- im Trägerelement unter Totalrefelxion transportiert werden, dadurch gekennzeichnet, daß das Trägerelement (3) zumindest an einem Bereich seiner Oberfläche mit einer Indikatorschicht (2) mit vorgegebenem Brechungsindex np bedeckt ist, die auf der dem Trägerelement (3) abgewandten Seite während der Messung mit der Probe in Kontakt steht, daß die zum Detektor (9) gelangende Emissionsstrahlung, und/oder die Anregungsstrahlung, in dem mit der Probe während der Messung über die Indikatorschicht (2) in Kontakt stehenden Bereich des Trägerelementes (3) Winkel aC Λ aufweist, die kleiner alsn? '
eC η - arc sin — sind.G1,2 n1 ■*-2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Trägerelement (3) zylindrische bzw, prismatische Form aufweist und an einer der Indikatorschicht (2) gegenüberliegenden Deckfläche (5) mit einem Ende (17) eines lichtleitenden Kopplungselementes (16), wie insbesonderes einem Totalreflexion ausnützenden, mehrarmigen Faserlichtleiterbündel, in Verbindung steht, dessen anderes Ende mit der Lichtquelle bzw. dem Detektor zusammenwirkt, und daß die Mantelfläche (19) des Trägerelements (3) zumindest annähernd senkrecht auf diese Deckfläche (5) steht.3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die die Indikatorschicht (2) tragende, dem Kopplungselement (16) gegenüberliegende Grundfläche des Trägerelementes (3) zur Deckfläche (5) unter einemsinoC 3Winkel ß geneigt ist, für den gilt: sin ß>—*-- ;n1 wobei oC 2 der halbe maximale Austrittswinkel desAnregungslichtes aus dem Kopplungselement (16) ins Umgebungsmedium ist.A. Anordnung nach Anspruch 1, wobei das Trägerelement in Form einer Platte mit planparallelen Deckflächen ausgeführt und die Indikatorschicht an einer der Deckflächen vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, daß die zur Anregung dienende Lichtquelle (13) im wesentlichen normal zur Indikatorschicht (2) angeordnet ist und daß der Detektor (9) an zumindest einer im wesentlichen senkrecht zur Indikatorschicht (2) liegenden seitlichen Begrenzungsfläche (12) des Trägerelementes (3) angeordnet ist.5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Indikatorschicht (2) eine Deckfläche (5) des Trägerelementes (3) vollständig bedeckt und der Brechungsindex n2 der Indikatorschicht (2) größerals der Brechungsindex n3 des Umgebungsmediums ist.6. Anordnung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Lichtquelle (13) und Trägerelement (3) eine Blendenanordnung (15) vorgesehenist, welche den Einfallswinkel des Anregungslichtes begrenzt.7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenanordnung zwischen Lichtquelle und Trägerelement nur Anregungslicht mit Winkeln kleiner als 90° relativ zum Lichtweg zwischen Indikatorschicht und Detektor durchläßt.8. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der detektorseitigen Begrenzungsfläche (12) und dem Detektor (9) eine Kopplungsschicht (15') angeordnet ist, die einen Brechungsindex ηα aufweist, der größer ist als der Brechungsindex n^ der Umgebung des Trägerelementes (3).9. Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Brechungsindex n- der Kopplungsschicht (15') größer oder gleich dem Brechungsindex n- des Trägerelementes (3) ist,10. Anordnung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekenn-' zeichnet, daß die Kopplungsschicht (15') aus einem, vorzugsweise direkt auf den Detektor (9) aufgebrachten, Polymermaterial besteht.11. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Begrenzungsflächen zur Einleitung des Anregungslichtes und zur Detektierung des Emissionslichtes sowie die Indikatorschicht (2) jeweils senkrecht zueinander angeordnet sind.12. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Deckflächen (5) des Trägerelementes (3) trapezförmig ausgebildet sind.08 28
Kr/Lu/Fe
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT0295584A AT383684B (de) | 1984-09-17 | 1984-09-17 | Anordnung zur fluoreszenzoptischen messung von stoffkonzentrationen in einer probe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3532563A1 true DE3532563A1 (de) | 1986-03-27 |
DE3532563C2 DE3532563C2 (de) | 1988-06-23 |
Family
ID=3543017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853532563 Granted DE3532563A1 (de) | 1984-09-17 | 1985-09-12 | Anordnung zur fluoreszenzoptischen messung von stoffkonzentrationen in einer probe |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4703182A (de) |
JP (1) | JPH0678982B2 (de) |
AT (1) | AT383684B (de) |
DE (1) | DE3532563A1 (de) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0244394A2 (de) * | 1986-04-23 | 1987-11-04 | AVL Medical Instruments AG | Sensorelement zur Bestimmung von Stoffkonzentrationen |
US5131406A (en) * | 1989-09-20 | 1992-07-21 | Martin Kaltenbach | Guide for introduction of catheters into blood vessels and the like |
DE4128846A1 (de) * | 1991-08-30 | 1993-03-04 | Rainer Klein | Integriert-optischer stoffsensor |
US5353792A (en) * | 1992-09-25 | 1994-10-11 | Avl Medical Instruments Ag | Sensing device |
DE19702557A1 (de) * | 1997-01-24 | 1998-07-30 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur Erfassung von diffus emittiertem Licht |
EP1653222A1 (de) | 2004-11-01 | 2006-05-03 | Terumo Kabushiki Kaisha | Lichtwellenleiter und Fluoreszenzsensor mit dem Lichtwellenleiter |
DE10101576B4 (de) * | 2001-01-15 | 2016-02-18 | Presens Precision Sensing Gmbh | Optischer Sensor und Sensorfeld |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8629283D0 (en) * | 1986-12-08 | 1987-01-14 | Gen Electric Co Plc | Radiation meters |
JPH0799353B2 (ja) * | 1987-03-31 | 1995-10-25 | 株式会社島津製作所 | 塩基配列決定装置 |
GB8714503D0 (en) * | 1987-06-20 | 1987-07-22 | Pa Consulting Services | Detector |
DK163194C (da) * | 1988-12-22 | 1992-06-22 | Radiometer As | Fremgangsmaade ved fotometrisk in vitro bestemmelse af en blodgasparameter i en blodproeve |
US5564419A (en) * | 1987-11-25 | 1996-10-15 | Radiometer A/S | Method of photometric in vitro determination of the content of oxygen in a blood sample |
US5166515A (en) * | 1989-06-22 | 1992-11-24 | Applied Research Systems Ars Holding, N.V. | Method of optical analysis of a fluid including an optical waveguide |
US5619586A (en) * | 1990-12-20 | 1997-04-08 | Thorn Emi Plc | Method and apparatus for producing a directly viewable image of a fingerprint |
US5192510A (en) * | 1991-01-30 | 1993-03-09 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for performing fluorescent assays which separates bulk and evanescent fluorescence |
US5340715A (en) * | 1991-06-07 | 1994-08-23 | Ciba Corning Diagnostics Corp. | Multiple surface evanescent wave sensor with a reference |
US5156976A (en) * | 1991-06-07 | 1992-10-20 | Ciba Corning Diagnostics Corp. | Evanescent wave sensor shell and apparatus |
JPH07318481A (ja) * | 1994-05-25 | 1995-12-08 | Daikin Ind Ltd | 光学的測定方法およびその装置 |
AT403745B (de) * | 1996-02-29 | 1998-05-25 | Avl Verbrennungskraft Messtech | Messanordnung mit einem für anregungs- und messstrahlung transparentem trägerelement |
WO1998023945A1 (en) * | 1996-11-27 | 1998-06-04 | Optical Analytic Inc. | Perimeter light detection apparatus for enhanced collection of radiation |
DE19651935A1 (de) * | 1996-12-14 | 1998-06-18 | Ruckstuhl Thomas | Detektionssystem für den optischen Nachweis von Molekülen |
DE19735144C2 (de) | 1997-08-13 | 2000-02-24 | Wolfram Bohnenkamp | Reflexionsfluorimeter |
GB9903283D0 (en) * | 1998-06-01 | 1999-04-07 | Farfield Sensors Ltd | Device |
US6701032B1 (en) | 1999-05-27 | 2004-03-02 | Farfield Sensors Limited | Device for housing a planar optical component |
DE19947616C2 (de) * | 1999-10-01 | 2003-05-28 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Bestimmung von Substanzen, wie z.B. DNA-Sequenzen, in einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
AT410600B (de) | 1999-12-02 | 2003-06-25 | Hoffmann La Roche | Messkammer mit lumineszenzoptischen sensorelementen |
DE10245432A1 (de) * | 2002-09-27 | 2004-04-08 | Micronas Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren mindestens eines Lumineszenz-Stoffs |
US7285789B2 (en) * | 2003-06-06 | 2007-10-23 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Optical device for surface-generated fluorescence |
DE102006041756A1 (de) * | 2006-09-04 | 2008-03-06 | Robert Bosch Gmbh | Werkzeugmaschinenüberwachungsvorrichtung |
EP1944599A3 (de) | 2007-01-11 | 2008-11-12 | Fujifilm Corporation | Fluoreszenzanalysegerät |
JP2013019819A (ja) * | 2011-07-13 | 2013-01-31 | Tokai Kogaku Kk | 蛍光分析装置 |
GB2495703A (en) * | 2011-10-12 | 2013-04-24 | Crowcon Detection Instr Ltd | Optical sensor without wavelength filter |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3604927A (en) * | 1966-11-16 | 1971-09-14 | Block Engineering | Total reflection fluorescence spectroscopy |
GB1495912A (en) * | 1975-02-24 | 1977-12-21 | Beckman Instruments Inc | Fluorometer |
US4399099A (en) * | 1979-09-20 | 1983-08-16 | Buckles Richard G | Optical fiber apparatus for quantitative analysis |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US360927A (en) * | 1887-04-12 | Dredger | ||
GB1190583A (en) * | 1966-10-19 | 1970-05-06 | Mini Of Power | Improvements in or relating to Gas Detectors |
US3612866A (en) * | 1969-07-08 | 1971-10-12 | Brian Stevens | Instrument for determining oxygen quantities by measuring oxygen quenching of fluorescent radiation |
US3669545A (en) * | 1971-05-06 | 1972-06-13 | Wilks Scientific Corp | Apparatus and method for analysis by attenuated total reflection |
DE2508637C3 (de) * | 1975-02-28 | 1979-11-22 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V., 3400 Goettingen | Anordnung zur optischen Messung von Blutgasen |
US4050895A (en) * | 1975-09-26 | 1977-09-27 | Monsanto Research Corporation | Optical analytical device, waveguide and method |
US4564598A (en) * | 1982-07-12 | 1986-01-14 | Syntex (U.S.A.) Inc. | Limited volume method for particle counting |
US4532425A (en) * | 1982-08-04 | 1985-07-30 | Elscint Inc. | Gamma camera with light guide having greater index of refraction |
US4447546A (en) * | 1982-08-23 | 1984-05-08 | Myron J. Block | Fluorescent immunoassay employing optical fiber in capillary tube |
AT379688B (de) * | 1982-11-22 | 1986-02-10 | List Hans | Sensorelement zur bestimmung des o2-gehaltes einer probe |
AT377095B (de) * | 1982-11-23 | 1985-02-11 | List Hans | Sensorelement zur bestimmung des o2-gehaltes einer probe sowie verfahren zur herstellung desselben |
-
1984
- 1984-09-17 AT AT0295584A patent/AT383684B/de active
-
1985
- 1985-09-12 DE DE19853532563 patent/DE3532563A1/de active Granted
- 1985-09-16 US US06/776,586 patent/US4703182A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-09-17 JP JP60206191A patent/JPH0678982B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3604927A (en) * | 1966-11-16 | 1971-09-14 | Block Engineering | Total reflection fluorescence spectroscopy |
GB1495912A (en) * | 1975-02-24 | 1977-12-21 | Beckman Instruments Inc | Fluorometer |
US4399099A (en) * | 1979-09-20 | 1983-08-16 | Buckles Richard G | Optical fiber apparatus for quantitative analysis |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Analytical Chemistry, Vol. 56, No. 1, 1984, S. 16A-34A * |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0244394A2 (de) * | 1986-04-23 | 1987-11-04 | AVL Medical Instruments AG | Sensorelement zur Bestimmung von Stoffkonzentrationen |
EP0244394A3 (en) * | 1986-04-23 | 1989-04-19 | Avl Ag | Sensor element for determining the concentration of substances |
US5131406A (en) * | 1989-09-20 | 1992-07-21 | Martin Kaltenbach | Guide for introduction of catheters into blood vessels and the like |
DE4128846A1 (de) * | 1991-08-30 | 1993-03-04 | Rainer Klein | Integriert-optischer stoffsensor |
US5353792A (en) * | 1992-09-25 | 1994-10-11 | Avl Medical Instruments Ag | Sensing device |
DE19702557A1 (de) * | 1997-01-24 | 1998-07-30 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur Erfassung von diffus emittiertem Licht |
DE19702557C2 (de) * | 1997-01-24 | 1999-06-17 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur Erfassung von diffus emittiertem Licht |
DE10101576B4 (de) * | 2001-01-15 | 2016-02-18 | Presens Precision Sensing Gmbh | Optischer Sensor und Sensorfeld |
EP1653222A1 (de) | 2004-11-01 | 2006-05-03 | Terumo Kabushiki Kaisha | Lichtwellenleiter und Fluoreszenzsensor mit dem Lichtwellenleiter |
EP1653222B1 (de) * | 2004-11-01 | 2019-02-27 | Terumo Kabushiki Kaisha | Lichtwellenleiter und Fluoreszenzsensor mit dem Lichtwellenleiter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AT383684B (de) | 1987-08-10 |
ATA295584A (de) | 1986-12-15 |
US4703182A (en) | 1987-10-27 |
JPH0678982B2 (ja) | 1994-10-05 |
JPS6177745A (ja) | 1986-04-21 |
DE3532563C2 (de) | 1988-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3532563A1 (de) | Anordnung zur fluoreszenzoptischen messung von stoffkonzentrationen in einer probe | |
DE69816809T2 (de) | Vorrichtung für fluoreszenznachweis | |
EP1240503B1 (de) | Teststreifen-analysesystem, medizinischer teststreifen, und verfahren zur analytischen untersuchung einer probe mit hilfe eines teststreifen-analysesystems | |
DE69533119T2 (de) | Spektroskopische Messvorrichtung zur Analyse von Medien | |
DE112014004680B4 (de) | ATR-Element, Eintauchprüfkopf und Spektrofotometer | |
DE2260561C3 (de) | DurchfluBküvette zur fotometrischen Analyse von Fluidproben | |
WO2012079103A2 (de) | Vorrichtung zur photometrischen bzw. spektrometrischen untersuchung einer flüssigen probe | |
DE3000034A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum messen der richtungsverteilungseigenschaften der von einem teilchen zurueckgestrahlten strahlungsenergie | |
DE102006041338B3 (de) | Plasmonenresonanzsensor | |
DE102013114244B3 (de) | ATR-Infrarotspektrometer | |
DE102008007823B3 (de) | Wellenleiterkern und Biosensor | |
DE19704731B4 (de) | Meßgerät zur Durchführung von Lumineszenzmessungen | |
DE3831346A1 (de) | Refraktometer mit brechzahlabhaengiger aperturteilung | |
DE60125844T2 (de) | Fluidisch verbesserte in-vitro-Diagnose-Prüfkammer | |
DE102016225808A1 (de) | Lichtabgabe- und Sammelvorrichtung zum Messen einer Raman-Streuung einer Probe | |
DE3211725A1 (de) | Detektor zur verwendung in optischen messgeraeten | |
EP2619550A1 (de) | Sensor zur überwachung eines mediums | |
DE3723388C2 (de) | ||
DE19920184C2 (de) | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde | |
DE4433305A1 (de) | Faseroptische Sonde | |
DE10131724B4 (de) | Optisches Absorptions-Messgerät | |
DE3024061A1 (de) | Refraktometer | |
DE102011111545B3 (de) | Anordnung zur Inspektion von transparenten Proben | |
CH447382A (de) | Lichtelektrischer Flüssigkeitsdetektor | |
DE3221867C2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Konzentration von Teilchen in Flüssigkeiten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |