DE3516020C2 - Alkalifreies Glas mit niedriger Wärmedehnung für Photomasken und optische Elemente - Google Patents

Alkalifreies Glas mit niedriger Wärmedehnung für Photomasken und optische Elemente

Info

Publication number
DE3516020C2
DE3516020C2 DE3516020A DE3516020A DE3516020C2 DE 3516020 C2 DE3516020 C2 DE 3516020C2 DE 3516020 A DE3516020 A DE 3516020A DE 3516020 A DE3516020 A DE 3516020A DE 3516020 C2 DE3516020 C2 DE 3516020C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
glass
thermal expansion
cao
mgo
zno
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3516020A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3516020A1 (de
Inventor
Brain Franklin
Karl-Heinz Mader
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Schott Glass Technologies Inc
Original Assignee
Schott Glass Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Schott Glass Technologies Inc filed Critical Schott Glass Technologies Inc
Publication of DE3516020A1 publication Critical patent/DE3516020A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3516020C2 publication Critical patent/DE3516020C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/076Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
    • C03C3/089Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing boron
    • C03C3/091Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing boron containing aluminium
    • C03C3/093Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing boron containing aluminium containing zinc or zirconium
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S501/00Compositions: ceramic
    • Y10S501/90Optical glass, e.g. silent on refractive index and/or ABBE number
    • Y10S501/903Optical glass, e.g. silent on refractive index and/or ABBE number having refractive index less than 1.8 and ABBE number less than 70

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Description

Bei der Herstellung von Halbleitern werden Schaltmuster auf eine Substratplatte (Si oder GaAs) mit dem folgenden allgemeinen Prozeß aufgedruckt. Eine Siliziumplatte wird oxidiert, um eine dünne SiO₂ Oberflächenschicht zu bilden. Die oxidierte Oberfläche wird dann mit einem Photoresist-Material beschichtet, welches bei Bestrahlung mit UV-Licht oder Elektronenstrahlen polymerisiert. Nach dem Aufbringen des Photoresists wird die Platte mit einer Photomaske versehen, die das Negativ des aufzudruckenden Schaltmusters enthält, und wird UV-Licht oder Elektronenstrahlen ausgesetzt. Bereiche, in welchen die Strahlung durch die Photomaske hindurchgeht, werden polymerisiert, und Bereiche, in denen die Strahlung durch die Photomaske blockiert ist, werden nicht polymerisiert. Unpolymerisierter Photoresist wird entfernt. Die freiliegende SiO₂-Oberfläche wird dann abgetragen und das darunter liegende Silizium wird freigelegt, welches jetzt mit unterschiedlichen Fremdkomponenten dotiert werden kann, um den eigentlichen Halbleiter herzustellen. Schließlich wird der aufpolymerisierte Photoresist selbst entfernt.
Die Funktion der Photomaske liegt darin, das Schaltmuster auf dem Substrat zu markieren. Die Produktion von komplexen integrierten Schaltkreisen umfaßt 12 oder mehr aufeinanderfolgende Schritte des oben genannten photolithographischen Prozesses.
Drei Grundtypen von Photomasken werden in der Halbleiterindustrie benutzt. Sie haben sich mit der zunehmenden Komplexität von integrierten Schaltungen entwickelt.
Der erste Typ sollte Photomasken "mit hoher Ausdehnung" genannt werden und benutzt im allgemeinen Soda-Kalkglas (Fensterglas) und weißes Kronglas, die thermische Ausdehnungskoeffizienten 100×10-7°C-1 haben. Schaltkreismuster werden auf die Maske gedruckt unter Benutzung von Filmemulsionen oder durch einen kombinierten Eisenchromüberzug. Aufgrund des hohen thermischen Ausdehnungskoeffizienten werden die Photomasken in Kontakt mit dem Substrat benutzt, um Störeffekte zu minimalisieren. Dieser Kontakt führt zur Abnutzung des Schaltkreismusters, und die Photomasken können nur für eine begrenzte Anzahl von Belichtungen benutzt werden, was ihren Gebrauch unerwünscht teuer macht. Eine andere Schwierigkeit der Photomasken mit hoher Ausdehnung liegt darin, daß der Alkaligehalt des Glases chemisch mit den Emulsionen reagiert, so daß die erreichbare Schärfe begrenzt wird. Alkali schlägt sich auf der Oberfläche der Photomaske aufgrund von Reaktionen mit Luftfeuchtigkeit nieder, und kann zu feinen Löchern, die die Schaltkreisqualität beeinflussen, und zu Ablöseeffekten, die die Brauchbarkeit der Photomaske selbst begrenzen, führen. Deshalb werden Photomasken mit hoher Ausdehnung hauptsächlich benutzt, um Apparate mit großen Schaltkreisabmessungen herzustellen (5-10 µm), die nicht charakteristisch für die heutigen integrierten Schaltkreise sind.
Zur zweiten Kategorie gehören die Photomasken mit niedriger Ausdehnung. Es sind gewöhnlich Borosilikat- und Aluminosilikatgläser mit thermischen Ausdehnungskoeffizienten 50×10-7°C-1. Diese Materialien mit geringerem thermischem Ausdehnungskoeffizient erlauben kontaktlose Belichtung der Schichten und deshalb längere Lebensdauern der Masken und eine größere kritische Schaltkreisschärfe (2-5 µm). Der Alkaligehalt dieser Gläser ist wiederum ein kritisches Problem, da er die Bildung von feinen Lochdefekten in der Photomaske beeinflußt. Der Zusammenhang zwischen dem Alkaligehalt und den feinen Lochdefekten in Photomasken wurde von Izumitani et al diskutiert in "Oberflächenstrukturprobleme von Hochpräzisionsglassubstraten für Photomasken" Hoya Optics, Menlo Park, CA 1976.
Die dritte Kategorie umfaßt Photomasken mit extrem niedriger Ausdehnung, typisch dafür ist geschmolzenes Siliziumdioxid, mit einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten unter 1×10-7°C-1. Der sehr niedrige Ausdehnungskoeffizient ist nützlich, da er minimale Störungen in den aufgebrachten Schaltmustern hervorruft und damit höhere Schärfen erlaubt. Da geschmolzenes Siliziumdioxid alkalifrei ist, kann kein alkalibegründeter Angriff oder andere Defekte auftreten während der Herstellung der Photomaske. Geschmolzenes Siliziumdioxid kann nicht in konventionellen Schmelzeinheiten, wie sie für Multikomponentengläser benutzt werden, hergestellt werden, es ist teurer zu produzieren und häufig in der optischen Qualität schlechter als das, was man in der Materialklasse mit niedriger Ausdehnung herstellen kann. Gegenwärtig werden zur Herstellung von integrierten Schaltkreisen hauptsächlich die beiden ersten Materialklassen benutzt; Photomasken mit hoher Ausdehnung für Schaltkreise mit einem niedrigen Integrationsgrad und Materialien mit niedriger Ausdehnung für besonders kritische Anwendungen.
Die Tabellen 1 und 2 geben eine Zusammenfassung der Zusammensetzung und der Eigenschaften der am häufigsten gebrauchten Photomaskengläser mit niedriger Ausdehnung (LE-30, E-6, CGW7740 und PMG-1).
Tabelle 2
Zusammensetzungen von handelsüblichen Photomasken Gläsern
Alle dieser Gläser haben thermische Ausdehnungskoeffizienten zwischen 30 und 50×10-7°C-1. Alle enthalten Alkali, das wie oben erwähnt unerwünscht ist hinsichtlich seiner schädlichen Einflüsse auf die Produktionsausbeute und Leistungsfähigkeit der fertigen Photomaske.
Aus der US-PS 4 391 916 ist ein alkalifreies Glas auf Basis von SiO₂/Al₂O₃ mit Zumischungen von CaO, MgO, ZnO und PbO zur Verwendung als Photomaskenmaterial bekannt, bei welchem die oben erwähnten, auf den Alkaligehalt zurückzuführenden Nachteile nicht auftreten. Mit diesen Gläsern werden aber lediglich thermische Ausdehnungskoeffizienten im Bereich von ca. 40×10-7 bis 50×10-7°C erreicht. Nach wie vor besteht jedoch das Bedürfnis nach einem relativ preisgünstigen Photomaskenmaterial für hochintegrierte Schaltkreise mit thermischen Ausdehnungskoeffizienten von 40 und darunter.
Aufgabe der Erfindung ist daher die Schaffung eines alkalifreien optischen Glases mit einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten 40,5 zur Verwendung als Photomaskenmaterial, welches im Vergleich mit herkömmlichen alkalihaltigen Photomaskengläsern mit niederigem Ausdehnungskoeffizienten oder alkalifreien Gläsern mit thermischen Ausdehnungskoeffizienten zwischen 40 und 50 gleich gute oder bessere Eigenschaften hinsichtlich der Herstellung und Verwendung als Photomaske aufweist, und wobei das Glas zusätzlich noch, als Substrat beschichtet, sowohl für lichtdurchlässige als auch reflektierende optische Elemente in optischen Geräten verwendet werden kann.
Diese Ziele werden durch die vorliegende Erfindung mit einem optischen Qualitätsglas erreicht, welches einen Brechungsindex nd von mindestens 1,50, bevorzugt 1,54 bis 1,57, eine Abbezahl vd von mindestens 55, bevorzugt 56-59, einer Dichte von nicht mehr als 3,0, bevorzugt 2,80-2,91, und einem thermischen Expansionskoeffizienten α (20-300°C) nicht größer als 40,5×10-7°C-1, bevorzugt 35,5 bis 39,0×10-7°C-1, welches kein Alkali enthält und welches mindestens 90 Mol-% SiO₂, B₂O₃, Al₂O₃, MgO, CaO, BaO und ZnO enthält, und in Gew.-% besteht aus:
Summe MgO+CaO+BaO+ZnO=21-33,5, bevorzugt 23-33,5 insbesondere 28-31 oder 26,5-33,5, typisch ist um 30%.
Die Zusammensetzung dieser Erfindung besteht in Mol.-% aus:
Summe MgO+CaO+BaO+ZnO=13-31,5, bevorzugt 15-31,5 insbesondere 23-26,5, typisch ist um 26 Mol-%.
Die Glaszusammensetzung mit niedriger Expansion dieser Erfindung, besonders geeignet zum Gebrauch als Photomaskenglas, ist von den herkömmlichen Gläsern völlig verschieden. Die Bereichsgrenzen (in Gew.-% oder den entsprechenden äquivalenten Mol.-%) sind kritisch für alle Komponenten des Glases, besonders für Bariumoxid und Zinkoxid.
Wird eine Siliziumdioxidmenge größer als die angegebene benutzt, wird die resultierende Glasviskosität unbefriedigend hoch; ist die Menge dieser Komponente kleiner als angegeben, ist der thermische Ausdehnungskoeffizient zu hoch. Ein B₂O₃-Gehalt, größer als angegeben, bewirkt eine Phasentrennung des Glases; ein Gehalt niedriger als angegeben ruft eine zu hohe Glasviskosität hervor. Al₂O₃-Mengen, größer als angegeben machen das Glas instabil und Kristallisation wird beobachtet; Mengen, kleiner als angegeben, bewirken einen zu hohen thermischen Ausdehnungskoeffizienten.
Magnesiumoxid ist keine notwendige Komponente in der Glaszusammensetzung dieser Erfindung; jedoch wird es bevorzugt, daß diese Komponente anwesend ist. Magnesiumoxidmengen, größer als die angegebenen Bereiche, sind in der Zusammensetzung nicht mehr homogen mischbar, machen das Glas instabil und Kristallisation wird beobachtet. Dasselbe gilt für die Wahlkomponente Calziumoxid in bezug auf die angegebenen Bereiche.
Bariumoxid ist eine der am meisten kritischen Komponenten in der Glaszusammensetzung dieser Erfindung, z. B. wird sich der thermische Ausdehnungskoeffizient durch Änderungen dieser Komponente stärker ändern als durch Änderungen anderer Komponenten dieses Glases. Bariumoxidmengen, geringer als die angegebenen Bereiche, rufen eine Phasentrennung in dem Glas hervor; Mengen, größer als angegeben, machen den thermischen Ausdehnungskoeffizienten zu hoch. Im allgemeinen ist ein Bariumoxidgehalt um 9,15 bis 9,35 Gew.-% (um 4,24-4,26 Mol-%) bevorzugt.
Ähnlich kritisch ist der Zinkoxidgehalt, um die gewünschten Eigenschaften der Glaszusammensetzung dieser Erfindung zu erreichen. Mengen, niedriger als angegeben, rufen einen zu hohen α-Wert hervor; Mengen, größer als angegeben, sind in der Glaszusammensetzung nicht homogen löslich und machen das Glas instabil. Zusätzlich wird Kristallisation beobachtet. Besonders bevorzugte Mengen von Zinkoxid liegen um 14,5-17,1 Gew.-% (um 12,5 bis 15 Mol-%).
Andere Wahlkomponenten sind Ceroxid, Bleioxid und die Läutermittel Antimonoxid und Arsenoxid. Ceroxidmengen, höher als angegeben machen die Transmissionseigenschaften in dem wichtigen Bereich von 350 bis 700 nm zu schlecht. Zu große Mengen an Läutermittel bewirken eine ungeeignete Läuterung des Glases. Bleioxidmengen höher als angegeben bewirken einen zu hohen α-Wert.
Das erfindungsgemäße Glas kann mit konventionellen Herstellungsmethoden, die normalerweise für diesen Glastyp gebraucht werden, hergestellt werden. Beispielsweise werden die üblichen Rohmaterialien, entsprechend den Oxiden, die in dem erfindungsgemäßen Glas gebraucht werden, Oxide als solche, Carbonate, Nitrate, Hydroxide etc., in Mengen zusammengeschmolzen, die der gewünschten Menge in dem fertigen Glas entsprechen. Typische Schmelztemperaturen sind 1200-1600°C. Konventionelle Schmelztiegel oder Wannen, z. B. mit Graphit ausgekleidet, keramische oder Platinbehälter können benutzt werden. Die homogene Schmelze wird dann konventionell weiterbehandelt, d. h. geläutert, in Formen gegossen, allmählich gekühlt, etc.
Das erfindungsgemäße Glas mit niedriger Expansion wird bevorzugt gebraucht, wie erwähnt, in Photomasken. Das erfindungsgemäße Glas kann für eine Vielzahl anderer Dinge benutzt werden, z. B., ohne das Ziel und den Gebrauch des erfindungsgemäßen Glases einschränken zu wollen, für Verwendungen, die Substrate für photoelektrische Anwendungen einschließen, Fenster, Linsen, Spiegel etc. oder andere optische Komponenten, die seine besonderen Eigenschaften erfordern, d. h. für solche, die eine hohe Wärmeschockbeständigkeit haben, für allgemeine Verwendungszwecke, wo Hochqualitätsspiegel mit minimalen thermischen Verformungen gebraucht werden, etc. Die erfindungsgemäßen Gläser können gegossen, geformt oder anderweitig in jede gewünschte Form oder Gestalt gebracht werden.
In den nachfolgenden Beispielen sind, so weit nichts anderes vermerkt ist, Temperaturangaben in °C wiedergegeben und beziehen sich Mengen- und %-Angaben auf das Gewicht.
Beispiele A-F
Im folgenden wird eine Herstellung des Glases beschrieben, das unten als bevorzugte Zusammensetzung A bezeichnet wird. Entsprechende Verfahren werden zur Herstellung der anderen Glaszusammensetzungen benutzt, die in Tabelle 3 zusammengefaßt sind.
Glasherstellung
Das folgende Gemengematerial wurde gewogen und sorgfältig gemischt.
Menge (kg)
Siliziumdioxid
0,723
Borsäure 0,073
Aluminiumhydroxid 0,249
Magnesiumcarbonat 00,057
Calciumcarbonat 0,059
Bariumnitrat 0,209
Mennige 0,007
Antimontrioxid 0,006
Das gemischte Gemenge wird dann in einem Platintiegel mit der Kapazität von 0,5 l geschmolzen, der durch Induktion auf 1530°C erhitzt wird. Nach dem Schmelzen wird das Glas homogenisiert und geläutert bei 1580°C für 5 Stunden.
Das Glas wird dann in graphitausgekleidete Stahlformen gegossen und getempert, wobei eine Tempertemperatur von ungefähr 700°C und eine Kühlrate von 30°C pro Stunde benutzt wird. Das spannungsfreie, getemperte Glas kann dann zu optischen Elementen geschliffen und poliert werden unter Benutzung von konventionellen Techniken.
Tabelle 3 enthält mehrere Beispiele des erfindungsgemäßen Glases sowie ihre Eigenschaften. Die Beispiele A, B und C sind bevorzugt.
Tabelle 3
Tabelle 4
Mol-%-Werte entsprechend den Gew.-%-Werten von Tabelle 3

Claims (5)

1. Alkalifreies Glas zur Verwendung als Photomaske und als optisches Element in Gestalt eines beschichteten Substrats mit einem Brechungsindex 1,50, einer Abbezahl 55, einer Dichte 3,0 und einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten 40,5×10-7/°C im Temperaturbereich von 20-300°C, dadurch gekennzeichnet, daß es, berechnet in Gew.-%, besteht aus: SiO₂ 50-60 B₂O₃ 1,6 Al₂O₃ 12-15 MgO 0-2,5 CaO 0-5,1 BaO 9-10 ZnO 12-18 CeO₂ 0-5 As₂O₃+Sb₂O₃ 0-1,5 PbO 0-1
Summe MgO+CaO+BaO+ZnO=21-33,5
2. Alkalifreies Glas mit einem Brechungsindex 1,50, einer Abbezahl 55, einer Dichte 3,0 und einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten 40,5×10-7/°C im Temperaturbereich von 20-300°C, dadurch gekennzeichnet, daß es, berechnet in Mol-%, besteht aus: SiO₂ 58-66,5 B₂O₃ 2-5 Al₂O₃ 8-11 MgO 0-4 CaO 0-6,5 BaO 3-5 ZnO 10-16 CeO₂ 0-2,5 As₂O₃+Sb₂O3 0-0,5 PbO 0-0,5
Summe MgO+CaO+BaO+ZnO=13-31,5
3. Glas nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es, berechnet in Gew.-%, besteht aus: SiO₂ 50-56 B₂O₃ 2-3,7 Al₂O₃ 12-15 MgO 1,5-2,5 CaO 2-3 BaO 9-10 ZnO 14-18 CeO₂ 0-5 As₂O₃+Sb₂O₃ 0-1,5 PbO 0-1
Summe MgO+CaO+BaO+ZnO=26,5-33,5
4. Glas nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß es, berechnet in Mol.-%, besteht aus: SiO₂ 58-65 B₂O₃ 2-3,8 Al₂O₃ 8-11 MgO 2,8-4 CaO 2,5-3,5 BaO 3-5 ZnO 10-16 CeO₂ 0-2,5 As₂O₃+Sb₂O3 0-0,5 PbO 0-0,5
Summe MgO+CaO+BaO+ZnO=23-26,5
5. Glas nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es, berechnet in Gew.-%, besteht aus: SiO₂ 50,5-55,6 B₂O₃ 3,2-3,7 Al₂O₃ 12,4-14,5 MgO 1,8-2,1 CaO 2,5-2,55 BaO 9,2-9,3 ZnO 14,6-17,1 As₂O₃+Sb₂O₃ 0,4-0,45 PbO 0-0,5
DE3516020A 1984-05-08 1985-05-04 Alkalifreies Glas mit niedriger Wärmedehnung für Photomasken und optische Elemente Expired - Fee Related DE3516020C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/608,304 US4554259A (en) 1984-05-08 1984-05-08 Low expansion, alkali-free borosilicate glass suitable for photomask applications

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3516020A1 DE3516020A1 (de) 1985-11-14
DE3516020C2 true DE3516020C2 (de) 1994-07-07

Family

ID=24435904

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3516020A Expired - Fee Related DE3516020C2 (de) 1984-05-08 1985-05-04 Alkalifreies Glas mit niedriger Wärmedehnung für Photomasken und optische Elemente

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4554259A (de)
JP (1) JPS60239342A (de)
DE (1) DE3516020C2 (de)
FR (1) FR2564087B1 (de)
GB (1) GB2158431B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3808573A1 (de) * 1987-06-15 1988-12-29 Jenaer Glaswerk Veb Photomaskenglas niedriger ausdehnung mit verbesserten hafteigenschaften

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6042247A (ja) * 1983-08-16 1985-03-06 Asahi Glass Co Ltd 低膨張性ガラス
JPS62123041A (ja) * 1985-08-09 1987-06-04 Hoya Corp レ−ザ−ガラスから白金インクル−ジヨンを消去する方法
JP2634063B2 (ja) * 1988-06-22 1997-07-23 東芝硝子株式会社 固体撮像素子用カバーガラス
US5213916A (en) * 1990-10-30 1993-05-25 International Business Machines Corporation Method of making a gray level mask
GB9525111D0 (en) 1995-12-08 1996-02-07 Pilkington Plc Glass and glass products
WO1997031877A1 (en) * 1996-02-29 1997-09-04 British Technology Group Limited Organic polyacid/base reaction cement
GB2310663A (en) * 1996-02-29 1997-09-03 British Tech Group Organic polyacid/base reaction cement
US6306926B1 (en) 1998-10-07 2001-10-23 3M Innovative Properties Company Radiopaque cationically polymerizable compositions comprising a radiopacifying filler, and method for polymerizing same
US6352763B1 (en) 1998-12-23 2002-03-05 3M Innovative Properties Company Curable slurry for forming ceramic microstructures on a substrate using a mold
US6247986B1 (en) * 1998-12-23 2001-06-19 3M Innovative Properties Company Method for precise molding and alignment of structures on a substrate using a stretchable mold
US6306948B1 (en) * 1999-10-26 2001-10-23 3M Innovative Properties Company Molding composition containing a debinding catalyst for making ceramic microstructures
US6821178B2 (en) 2000-06-08 2004-11-23 3M Innovative Properties Company Method of producing barrier ribs for plasma display panel substrates
US7176492B2 (en) * 2001-10-09 2007-02-13 3M Innovative Properties Company Method for forming ceramic microstructures on a substrate using a mold and articles formed by the method
US7033534B2 (en) * 2001-10-09 2006-04-25 3M Innovative Properties Company Method for forming microstructures on a substrate using a mold
US6642295B2 (en) * 2001-12-21 2003-11-04 Eastman Kodak Company Photoresist nanocomposite optical plastic article and method of making same
EP1996525B1 (de) * 2006-02-10 2019-05-22 Corning Incorporated Glaszusammensetzungen mit hoher wärme- und chemikalienbeständigkeit und verfahren zu deren herstellung
US7995631B2 (en) * 2006-04-14 2011-08-09 Raytheon Company Solid-state laser with spatially-tailored active ion concentration using valence conversion with surface masking and method
US8658283B2 (en) * 2007-05-14 2014-02-25 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Laminated glass for window and glass window member
WO2009078936A2 (en) 2007-12-14 2009-06-25 Miasole Photovoltaic devices protected from environment
US9782949B2 (en) 2008-05-30 2017-10-10 Corning Incorporated Glass laminated articles and layered articles
US20120037229A1 (en) * 2008-05-30 2012-02-16 David Francis Dawson-Elli Photovoltaic glass laminated articles and layered articles
US20120094084A1 (en) * 2010-10-15 2012-04-19 William Keith Fisher Chemically-strengthened glass laminates
TWI614227B (zh) 2012-02-29 2018-02-11 康寧公司 低cte之無鹼硼鋁矽酸鹽玻璃組成物及包含其之玻璃物件
KR20220003632A (ko) 2013-08-15 2022-01-10 코닝 인코포레이티드 알칼리-도핑 및 알칼리가-없는 보로알루미노실리케이트 유리
JP6584013B2 (ja) 2013-08-15 2019-10-02 コーニング インコーポレイテッド Cteが中程度から高いガラスおよびそれを備えたガラス物品
JP6497407B2 (ja) * 2017-03-31 2019-04-10 Agc株式会社 無アルカリガラス基板
US10188970B1 (en) * 2018-03-26 2019-01-29 Water Solutions, Inc. Rotary drum screen for thin stillage filtration
CN109748496B (zh) * 2019-01-29 2021-12-14 中国建筑材料科学研究总院有限公司 一种硼硅酸盐玻璃、防光晕输入窗玻璃及其制备方法和用途
JPWO2021015057A1 (de) * 2019-07-25 2021-01-28
KR20220037436A (ko) * 2019-07-25 2022-03-24 에이지씨 가부시키가이샤 적층 부재

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3326703A (en) * 1963-05-10 1967-06-20 Corning Glass Works Heat-absorbing glass
NL6609666A (de) * 1966-07-09 1968-01-10
NL6709718A (de) * 1967-07-13 1969-01-15
JPS4936803B1 (de) * 1970-07-28 1974-10-03
JPS5827643B2 (ja) * 1979-07-13 1983-06-10 株式会社日立製作所 非直線抵抗体およびその製法
US4321317A (en) * 1980-04-28 1982-03-23 General Motors Corporation High resolution lithography system for microelectronic fabrication
US4476216A (en) * 1981-08-03 1984-10-09 Amdahl Corporation Method for high resolution lithography
JPS5832038A (ja) * 1981-08-14 1983-02-24 Hoya Corp フオトエツチングマスク用無アルカリガラス
US4411972A (en) * 1981-12-30 1983-10-25 International Business Machines Corporation Integrated circuit photomask
US4501819A (en) * 1982-12-23 1985-02-26 Kabushiki Kaisha Ohara Kogaku Garasu Seizosho Glass for a photomask
US4421593A (en) * 1983-04-11 1983-12-20 Rca Corporation Reverse etching of chromium

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3808573A1 (de) * 1987-06-15 1988-12-29 Jenaer Glaswerk Veb Photomaskenglas niedriger ausdehnung mit verbesserten hafteigenschaften

Also Published As

Publication number Publication date
GB2158431B (en) 1987-12-02
DE3516020A1 (de) 1985-11-14
US4554259A (en) 1985-11-19
FR2564087A1 (fr) 1985-11-15
GB8511542D0 (en) 1985-06-12
JPH0146461B2 (de) 1989-10-09
FR2564087B1 (fr) 1988-01-22
GB2158431A (en) 1985-11-13
JPS60239342A (ja) 1985-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3516020C2 (de) Alkalifreies Glas mit niedriger Wärmedehnung für Photomasken und optische Elemente
DE69733717T2 (de) Gläser für anzeigetafel und photovoltaische vorrichtungen
DE69402991T2 (de) Gläser mit einer höher Liquidus-Viskosität für flache Anzeigevorrichtungen
DE60015783T2 (de) Glaskeramik für Lichtfilter und Lichtfilter
DE69206667T2 (de) Alkalifreies Glas
DE3882039T2 (de) Alkalifreies glas.
DE102006052787B4 (de) Optisches Glas
DE102006013599B4 (de) Bleifreie optische Gläser der Schwerflintlage, deren Verwendung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE19934072C2 (de) Alkalifreies Aluminoborosilicatglas, seine Verwendungen und Verfahren zu seiner Herstellung
DE102007025601B4 (de) Optische Gläser der Bariumschwerflintlage, deren Verwendung und Verfahren zur Herstellung eines optischen Elements
DE69212052T2 (de) Alkalifreies Glas
DE3343418C2 (de)
DE19739912C1 (de) Alkalifreies Aluminoborosilicatglas und dessen Verwendung
DE60300706T2 (de) Optisches Glas
DE4013392C2 (de)
US4640900A (en) Low expansion glass
DE60126186T2 (de) Optische Gläser die unter Betriebsbedingungen bei UV-Belichtung in Bezug auf ihren Brechungsindex möglichst stabil sind
DE3906280C2 (de)
DE3730410A1 (de) Substrat zur verwendung bei einem elektronischen anzeigegeraet, einer solarzelle und dergleichen mit duennem film
DE2820940C3 (de) Optisches Glas mit den optischen Daten Brechungsindex nD gleich 1,770 bis 1,875 und Abbe-Zahl vD gleich 37,5 bis 28,5
DE602004005793T2 (de) Optisches Glas mit niedriger fotoelastischer Konstante
DE3501100C2 (de)
DE60300906T2 (de) Optisches Glas mit anomaler Dispersion
DE3207315C2 (de) Alkalifreies Glas für eine Maske zur Fotoätzung und seine Verwendung
DE2755899A1 (de) Optisches glas

Legal Events

Date Code Title Description
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: SCHMITZ, W., DIPL.-PHYS., PAT.-ANW., 6200 WIESBADE

8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: FUCHS, J., DR.-ING. DIPL.-ING. B.COM. LUDERSCHMIDT

8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee