DE3486402T2 - Verfahren zum Herstellen eines elektrisch isolierten metallischen Substrats als kontinuierliches Band. - Google Patents
Verfahren zum Herstellen eines elektrisch isolierten metallischen Substrats als kontinuierliches Band.Info
- Publication number
- DE3486402T2 DE3486402T2 DE3486402T DE3486402T DE3486402T2 DE 3486402 T2 DE3486402 T2 DE 3486402T2 DE 3486402 T DE3486402 T DE 3486402T DE 3486402 T DE3486402 T DE 3486402T DE 3486402 T2 DE3486402 T2 DE 3486402T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substrate
- insulating layer
- counter electrode
- metallic substrate
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 25
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 55
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 12
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 5
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 3
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010951 brass Substances 0.000 claims description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 2
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 claims description 2
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 claims 1
- MZFIXCCGFYSQSS-UHFFFAOYSA-N silver titanium Chemical compound [Ti].[Ag] MZFIXCCGFYSQSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 claims 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 22
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 12
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 9
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 3
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052990 silicon hydride Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000851 Alloy steel Inorganic materials 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910019714 Nb2O3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910003465 moissanite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/54—Apparatus specially adapted for continuous coating
- C23C16/545—Apparatus specially adapted for continuous coating for coating elongated substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C14/021—Cleaning or etching treatments
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/56—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
- C23C14/562—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/02—Pretreatment of the material to be coated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C16/0227—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/036—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
- H01L31/0392—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1876—Particular processes or apparatus for batch treatment of the devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/20—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
- H01L31/206—Particular processes or apparatus for continuous treatment of the devices, e.g. roll-to roll processes, multi-chamber deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/05—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
- H05K1/053—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate the metal substrate being covered by an inorganic insulating layer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Processes Specially Adapted For Manufacturing Cables (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren für die Herstellung eines kontinuierlichen Bandes eines elektrisch isolierten metallischen Substrats für den Einsatz in einer Solarzelle, einer gedruckten Schaltung oder einem integrierten Schaltkreis.
- In der Vergangenheit hat man Solarbatterien verwendet, welche eine Vielzahl von Solarzellen enthalten, die in einem bestimmten Muster auf einem Substrat angeordnet und in Serie geschaltet sind, und es wurden ebenfalls gedruckte schaltungen mit hoher Wärmefestigkeit und geringer Wärmeleitfähigkeit eingesetzt.
- Da in solchen Solarbatterien die verwendeten Solarzellen in Serie geschaltet sein müssen, ist es hier notwendig, benachbarte Zellen elektrisch gegeneinander zu isolieren. Wenn zum Beispiel das in der Solarzelle eingesetzte Substrat ein metallisches Substrat ist, so muß dieses Substrat einer Isolierbehandlung unterzogen werden. Üblicherweise umfaßt eine solche Behandlung ein Glanzschleifen der Oberfläche eines ausgerollten Bandes eines metallischen Substrats, welches dann mit einer Schutzfolie versehen wird, und anschließend wird das Band durch Chemisches Beizen oder Pressen in eine bestimmte Form geschnitten wird, wonach die Schutzfolie entfernt und dann das Substrat einer Isolierbehandlung unterzogen wird, um auf diese Weise eine Isolierschicht darauf auszubilden. Auf der so hergestellten Isolierschicht wird anschließend durch Bedampfung oder Kathodenzerstäubung eine gemusterte Gegenelektrode ausgebildet. Die Gegenelektrode kann über die gesamte Oberfläche ausgebildet und dann durch Chemisches Beizen mit einem Muster versehen werden.
- In dem vorstehend beschriebenen Herstellungsverfahren müssen die geschnittenen Substrate einzeln gehandhabt werden, was einen großen Arbeitsaufwand erfordert, und die notwendigen zahlreichen Handhabungsverfahren verringern das Endergebnis und die Produktivität. Im Hinblick auf die Durchführung der einzelnen Bearbeitungsschritte ist iin allgemeinen günstig den Produktionsprozeß in Losen abzuwickeln.
- Bei der Herstellung der aktiven Schichten einer Solarzelle muß das Substrat mindestens auf eine Temperatur von 200 bis 350ºC erwärmt werden und daher muß diese Isolierschicht eine solche Temperatur aushalten können. Aus diesem Grund wird ein Harz mit einer guten Wärmefestigkeit, wie zum Beispiel ein Polyimid, als Material für die Herstellung der Isolierschicht eingesetzt. Das Verfahren für die Herstellung einer Isolierschicht aus einem solchen Harzmaterial beinhaltet die Schritte der Beschichtung eines metallischen Substrats mit einem Polyimidharz durch Zentrifugalbeschichtung oder Eintauchen und anschließender Erwärmung der Harzschicht, um das Harz auszuhärten und zu entgasen. Dieses Verfahren ist jedoch sehr kompliziert und verursacht eine hohe Ausschußrate. Allgemein gilt: je höher die Temperatur bei der Herstellung der Schicht ist, umso besser ist die Qualität der hergestellten Solarzelle. Bei der Herstellung einer Solarzelle unter Verwendung eines Substrats mit einer Isolierschicht aus Polyimidharz od.dgl. darf die Temperatur für die Anfertigung der Schicht höchstens 250ºC betragen, da sich sonst in der Gegenelektrode Risse bilden, wenn das Substrat einer höheren Temperatur ausgesetzt wird. Außerdem bildet sich während der Erwärmung in der aus dem Harz bestehenden Isolierschicht eine Kondensation, um H&sub2;O und Verunreinigungen auszuscheiden, wodurch die Leistung der Solarzelle beeinträchtigt wird.
- Daher ist die Verwendung eines Substrats mit einer aus einem Harz bestehenden Isolierschicht für die Herstellung einer Solarzelle von hoher Qualität nicht von Vorteil.
- Aufgrund der erforderlichen Wärmefestigkeit und geringen Leitfähigkeit verlangt das Verwendungsgebiet gedruckter Schaltungen die Entwicklung von gedruckten Schaltungen in Form eines isolierten metallischen Substrats.
- Auf dem Gebiet der Herstellung von Solarzellen ist es bekannt (EP 0 041 773 A1), eine Isoliershicht aus SiO&sub2; oder Si&sub3;N&sub4; auf ein Substrat auf zutragen. Diese Materialien haben eine kristalline Form.
- Für den kontinuierlichen Auftrag von amorphen isolierenden Barrieren aus Silikon ist es bekannt (FR-A-2 497 604), ein Plasma-CVD-Verfahren oder eine Methode der Kathodenzerstäubung einzusetzen.
- Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht daher darin, ein Verfahren für die kontinuierliche Herstellung einer Isolierschicht aus einem anorganischen Material und einer Gegenelektrode auf einem metallischen Substrat anzubieten und, falls notwendig, das Substrat anschließend zu reinigen, die Gegenelektrode mit einem Muster zu versehen und das hergestellte isolierte Substrat zu beschneiden, wodurch der Arbeitsaufwand, die Herstellkosten, die Verfahrensschritte und die Bearbeitung zu reduzieren, während das Endergebnis, die Produktivität sowie die Wärmefestigkeit erhöht und außerdem die Leistung der Solarzelle selbst verbessert werden.
- Mit der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren für die Herstellung eines kontinuierlichen Bandes eines metallischen Substrats mit einer elektrischen Isolierschicht vorgeschlagen, welches die Merkmale von Anspruch 1 aufweist. Weitere Ausgestaltungen und Abwandlungen dieses Verfahrens sind Gegenstand der Unteransprüche.
- Das in der vorliegenden Erfindung eingesetzte Substrat besteht aus einer Metallplatte, welche zum Beispiel aus Eisen, Aluminium, Nickel, Kupfer, Zink, sowie einer ihrer Legierungen, oder aus rostfreiem Stahl und Messing besteht, sowie aus einer Platte aus einem Metall oder einem Harz, welche mit einem anderen Metall, wie zum Beispiel Aluminium oder Silber, oberflächenbehandelt ist. Das verwendete metallische Substrat ist vorzugsweise ein kontinuierliches Band, welches eine Dicke von etwa 0,03 bis 2,0 mm und eine Breite von etwa 10 bis 500 mm hat. Das kontinuierliche Band ist vorzugsweise ein schleifenförmiges Material in Form einer Rolle, die eine entsprechende Handhabung ermöglicht.
- Die Oberfläche des metallischen Substrats wird vorzugsweise mit Hilfe eines üblichen Verfahrens geschliffen, da eine solche Schleifbehandlung die Isolierschicht gegen schädliche Auswirkungen auf das Endergebnis schützen kann, welche zum Beispiel durch einen elektrischen Kontakt über in der Isolierschicht vorhandene nadelförmige Lunker entstehen können.
- Um das Endergebnis noch weiter zu verbessern, wird vorzugsweise eine hochtechnische Bearbeitung, wie zum Beispiel ein kombiniertes elektrochemisches Schleifverfahren eingesetzt, um die Leistung des isolierten Substrats noch weiter zu verbessern. Wenn man das Endergebnis zu einem gewissen Grad unbeachtet läßt, so ist es vom Standpunkt der Produktionskosten von Vorteil, wenn man ein nicht geschliffenes Substrat verwendet, dessen Oberflächenrauhigkeit Rmax nicht mehr als 0,5 um beträgt, und die zum Beispiel zwischen 0,3 bis 0,5 um liegt. Wenn die Oberflächenrauhigkeit eines geschliffenen metallischen Substrats Rmax ≤ 0,3 um beträgt und eine Isolierschicht in einer Dicke von etwa 2,0 um aufgetragen wird, kann das vorstehend erwähnte Auftreten eines elektrischen Kontaktes auf Null reduziert werden, verglichen mit dem Fall, in dem die gleiche Isolierschicht auf ein Substrat aufgetragen wird, dessen Oberflächenrauhigkeit Rmaa etwa 0,5 um beträgt. Im Falle einer Oberflächenrauhigkeit von Rmax ≤ 0,2 ist das Endergebnis, selbst wenn die Dicke der aufgetragenen Schicht etwa 1,5 um beträgt, das gleiche, wie in dem Fall, in dem ein Substrat mit einer Oberflächenrauhigkeit von Rmax = 0,3 um verwendet und eine Schicht mit einer Dicke von etwa 2,0 um aufgetragen wird. Wenn das Substrat im Rahmen eines kombinierten hochtechnischen elektrochemiscnen Verfahren geschliffen wird, welches eine Oberflächenrauhigkeit von Rmax ≤ 0,05 gewährleistet, kann eine perfekte elektrische Isolierung auch dann erreicht werden, wenn die Dicke der aufgetragenen Isolierschicht nur 1 um beträgt. Im Hinblick auf die Haftfestigkeit sollte die Oberflächenrauhigkeit mindestens 0,005 um betragen. Wenn die Oberflächenrauhigkeit weniger als 0,005 um beträgt, so besteht die Gefahr, daß sich die Isolierschicht ablöst.
- Die im Rahmen der vorliegenden Erfindung hergestellte Isolierschicht wird auf das kontinuierliche metallische Substrat mit Hilfe des üblichen Plasma-CVD-Verfahrens aufgebracht, bei dem entweder Siliziumwasserstoffgas allein oder aber ein geeignetes Gasgemisch verwendet wird, welches durch Vermischung von Siliziumwasserstoffgas mit einem Kohlenwasserstoffgas, wie zum Beispiel Methan oder Ethylen, Ammoniakgas, Wasserstoff und Sauerstoff hergestellt wird, oder mit Hilfe des üblichen Verfahrens der Kathodenzerstäubung, bei dem ein Gasgemisch aus einem inerten Gas, wie zum Beispiel Argon oder Helium mit Wasserstoff, ein Kohlenwasserstoffgas und ein Silikon enthaltendes Verbundgas eingesetzt werden und eine Fangelektrode verwendet wird, welche aus SiC, Graphit, Silikon od.dgl. besteht. Die Dicke der Isolierchicht ist nicht besonders begrenzt, liegt jedoch vorzugsweise zwischen 0,1 bis 200 um, und noch in noch bevorzugterer Weise zwischen 0,5 bis 20 um.
- Im Hinblick auf die Durchschlagspannung wird für die Zusammensetzung der Isolierschicht ein Material verwendet welches einen großen Bandabstand hat, d.h. zum Beispiel Si(1-x-y) CxNy:H (darin ist x = 0,1 bis 0,9, y ist 0 bis 0,9 und x + y ≤ 1), oder Si(1-x-y) (darin sind x und y wie oben definiert) Außerdem ist die Isolierschicht wegen der erforderlichen strukturellen Elastizität und der Festigkeit gegen das Auftreten von Rissen nicht monokristallin und besonders amorph. Vom Standpunkt der erreichten Isolierung ist es von Vorteil, ein Material zu verwenden, welches 10&supmin;&sup6; Ω cm&supmin;¹ oder weniger hat, vorzugsweise jedoch 10&supmin;&sup8; Ω. cm&supmin;¹ oder weniger.
- Die Isolierschicht enthält einen Gewichtsanteil von mindestens 10 Kohlenstoffatomen. Wenn der Kohlenstoffgehalt weniger als 10 % beträgt, sinkt die dielektrische Durchschlagspannung auf 50 V/um oder weniger, wodurch die isolierende Leistung ungenügend wird. Wenn der Kohlenstoffgehalt 30 % oder mehr beträgt, steigt die dielektrische Durchschlagspannung bis auf 100 V/um oder einen höheren Wert an, was für einen durch Glimmentladung hergestellten Halbleiter von Vorteil ist. Für die Herstellung der Isolierschicht einer integrierten Schaltung oder einer gedruckten Schaltung wird vorzugsweise ein Material mit hohem Kohlenstoffgehalt verwendet, da dessen Wärmeleitfähigkeit sehr hoch ist.
- Wenn für das Plasma-CVD-Verfahren ein Verfahren mit einer parallelen Plattenelektrode eingesetzt wird, bei dem das Substrat in einem Abstand von ± 3 cm von dem Plasmabereich angeordnet wird, oder aber ein Verfahren mit einer parallelen Plattenelektrode eingesetzt wird, bei dem eine Elektrode mit einem Magneten eingesetzt wird, der so positioniert ist, daß er ein Magnetfeld erzeugt, welches parallel zu dieser Elektrode verläuft, ist der durch das Plasma an der aufgetragenen Isiolierschicht verursachte Schaden sehr gering, und daher kann man auf diese Weise eine Isolierschicht herstellen, welche weniger Fehlerstellen aufweist.
- Wenn der Auftrag der Isolierschicht dadurch durchgeführt wird, daß man die Prozeßtemperatur von 100ºC auf 400ºC erhöht, so können die Haftfestigkeit und die Wärmestabilität dieser Schicht erhöht und die internen spannungen einer solchen Schicht reduziert werden. Wenn außerdem die Differenz (Vb) des Gleichstrompotentials in dem Plasma-CVD-Verfahren 10 V oder weniger beträgt, so ist es möglich, gleichzeitig zwei Folien eines isolierten Substrats herzustellen, indem man zwei schleifenförmige metallische Bänder sowie einen Satz von Plasma-CVD- Elektroden verwendet.
- Im Rahmen der vorliegenden Erfindung wird nach der Ausbildung der Isolierschicht auf einem metallischen Substrat auf dieses Substrat eine Gegenelektrode aufgebracht.
- Die Gegenelektrode besteht aus einer einfachen Schicht oder einer mehrfachen Schicht, welche mit Hilfe der üblichen chemischen Zerstäubungsmethode hergestellt wird, bei der als Fangelektrode ein Metall, wie zum Beispiel Aluminium, Nickel, Chrom, Molybden, Silber, Gold, Kupfer oder eine Legierung dieser Metalle eingesetzt wird, oder aber ein elektrisch leitendes Oxyd, wie zum Beispiel ITO, SnO&sub2; oder Cd&sub2;SnOy verwendet wird, oder aber mit Hilfe der üblichen chemischen Bedampfungsmethode, bei der das vorstehend erwähnte Metall, dessen Legierung oder das elektrisch leitende Oxyd mit Hilfe eines Elektronenstrahls oder eines elektrischen Widerstandes erwärmt wird. Die Dicke der Elektrode wird im allgemeinen so gewählt, daß sie in einem Bereich von 20 um (200 Å) und 100 um liegt, vorzugsweise jedoch in einem Bereich zwischen 40 und 100 um (400 bis 10.000 Å).
- Der Auftrag der Gegenelektrode mit Hilfe des Kathodenzerstäubungsverfahrens kann über die gesamte Oberfläche der Elektrode ohne Verwendung einer Maske erfolgen, oder aber sie kann mit Hilfe einer Maske mit einem betimmten Muster versehen werden. Wenn der Auftrag der Gegenelektrode im Kathodenzerstäubungsverfahren bei einer Temperatur durchgeführt besitzt die so hergestellte Elektrode einen geringen elektrischen Widerstand und eine erhöhte Haftfestigkeit.
- Das für die Gegenelektrode verwendete Material ist nicht besonders begrenzt und es kann hierfür ein für eine Gegenelektrode geeignetes konventionelles Material verwendet werden. Beispiele von geeigneten Materialien für die Ausbildung der Gegenelektrode sind unter anderem Metalle, wie zum Beispiel Aluminium, Chrom, Nickel, Molybden, SUS, Silber, Kupfer oder Gold; ITO; SnO&sub2;: CdxSnO&sub2; od.dgl. Für Solarzellen wird vorzugsweise eine Gegenelektrode eingesetzt, welche eine erste Schicht aus Aluminium, Ag, TiAg oder Cr aufweist, die mit einem elektrisch leitenden Film aus einem Oxyd beschichtet wird, wie zum Beispiel ITO, SnO&sub2;, CdxSnOy, oder aber ein Metalloxyd (TiO&sub2;, Nb&sub2;O&sub3;), das wegen seinem Reflexionsvermögen eine Dicke von höchstens einigen um (zehn Å) haben darf.
- Die vorliegende Erfindung wird mit Hilfe der beigefügten Zeichnungen im Einzelnen beschrieben und erklärt, welche in den Fig. 1 bis 10 Schnittansichten verschiedener Vorrichtungen für die Durchführung der Erfindung zeigen.
- In der Fig. 1 wird ein kontinuierliches Band eines metallischen Substrats 11 von einer in einer Zufuhrkammer 1 installierten Zufuhrrolle 12 durch einen in einer Trennwand 40 vorgesehenen Schlitz in eine Plasmakammer 2 kontinuierlich oder intermittierend mit einer Rate von etwa 0,01 bis 100 m/min eingeleitet. In der Plasmakammer 2 ist eine Hochfreguenzelektrode 21 für den Auftrag einer Isolierschicht mit Hilfe der Plasma-CVD-Methode vorgesehen, sowie eine Heizvorrichtung 22 für das Substrat 11 sowie (nicht gezeigte) Einrichtungen für die Einleitung und Ableitung von Gasen.
- Das in die Plasmakammer 2 geleitete metallische Substrat 11 wird, während es durch die Heizvorrichtung 22 erwärmt wird, zu einem Schlitz 43 in der Trennwand 42 bewegt. Ein Gasgemisch mit einer bestimmten Zusammensetzung wird in die Plasmakammer 2 geleitet, so daß der darin herrschende Gasdruck auf einem Wert von 1,33 bis 1.333 Pa (0,01 bis 10 Torr) gehalten werden kann. Das eingeleitete Gas wird mit Hilfe einer von der Hochfrequenzelektrode erzeugten Hochfreguenzspannung von zum Beispiel 1 kHz bis 200 Mhz in Plasma umgewandelt und auf das sich mit der Erwärmung bewegende metallische Substrat 11 aufgetragen, wodurch eine lsolierschicht gebildet wird.
- Das mit der Isolierschicht versehene metallische Substrat 11 wird durch den Schlitz 43 in eine Kathodenzerstäubungskammer 3 eingeleitet. In dieser Kathodenzerstäubungskammer 3 ist ein Paar Kathodenelektroden 23 angeordnet, welches aus eine Fangelektrode und eine Anode umfaßt, sowie eine Heizvorrichtung 24 für das mit der Isolierschicht versehene Substrat sowie (nicht gezeigte) Mittel für die Einleitung und Ableitung von Gasen.
- Das vorzugsweise während seiner Erwärmung mit Hilfe der Heizvorrichtung 24 in die Kathodenzerstäubungskammer 3 eingeleitete isolierte Substrat 11 wird zu einem Schlitz 45 in einer Trennwand 44 bewegt. Das Mittel für die Einleitung von Gasen leitet Argongas oder Heliumgas in die Kathodenzerstäubungskammer 3, so daß der darin herrschende Gasdruck auf einem Wert von etwa 0,013 bis 1,33 Pa (10&supmin;&sup4; bis 1 Torr) gehalten werden kann. Das eingeleitete Gas wird mit Hilfe der Anode des Elektrodenpaars 23 in Plasma verwandelt und das Plasmagas trifft auf die Fangelektrode, um die in der Fangelektrode enthaltenen Atome in dem Plasma zu zerstäuben. Die zerstäubten Atome setzen sich auf der Isolierschicht des sich vorzugsweise mit der Erwärmung bewegenden Substrats 11 ab, wodurch eine Gegenelektrode ausgebildet wird.
- Das mit der Isolierschicht versehene metallische Substrat 11 wird zusammen mit der Gegenelektrode durch einen Schlitz 45 geleitet und auf eine Wickelwalze 13 aufgewickelt, welche in einer Wickelkammer 4 installiert ist.
- Der in der Fig. 1 gezeigte Apparat kann, falls notwendig, mit einer Reinigungskammer 8 und einer Trocknungskammer 9 ausgestattet werden, wie sie in der Fig. 6 gezeigt sind, um die Oberfläche des metallischen Substrats 11 zu reinigen.
- Die in der Fig. 2 gezeigte Vorrichtung besitzt eine Zwischenkammer 5, welche zwischen der Zufuhrkammer 1 und der Plasmakammer 2 angeordnet ist, sowie eine zwischen der Plasmakammer 2 und der Kathodenzerstäubungskammer 3 angeordnete Zwischenkammer 6, und schließlich eine zwischen der Kathodenzerstäubungskammer 3 und der Wickelkammer 4 angeordnete Zwischenkammer 7, welche für die Ableitung der Gase und die Regelung des Innendruckes eingesetzt werden können. Mit Hilfe dieser Ausführungsart kann die wechselseitige Diffusion von Gasen zwischen benachbarten Kammern vermieden werden und so ist es möglich, in stabiler Weise ein Produkt von hoher Qualität zu erreichen. Der Druck in der Plasmakammer 2, der Kathodenzerstäubungskammer 3 und den Zwischenkammern 5, 6 und 7 wird vorzugsweise so geregelt, daß der Druck in den Zwischenkammern nicht mehr als 2/3, vorzugsweise nicht mehr als 1/2 und noch bevorzugter nicht mehr als 1/10 des Druckes in einer der benachbarten Kammern ausmacht, welche den niedrigeren Druck aufweist.
- Die in der Fig. 2 gezeigte Vorrichtung kann, falls dies gewünscht sein sollte, mit einer in der Fig. 6 gezeigten Reinigungskammer 8 und einer Trocknungskammer 9 ausgestattet werden, um darin die Oberfläche des metallischen Substrats 11 zu reinigen.
- Wie in der Fig. 3 gezeigt, kann die Zwischenkammer 6 mit Mitteln 16 für die Zuleitung von Maskierungen ausgerüstet werden, um eine Maske 17 bereitzustellen und um die relative Positionierung einer solchen Maske gegenüber dem isolierten Substrat zu erreichen. Die Zwischenkammer 7 kann mit Mitteln 18 für die Aufwicklung der Maske 17 ausgestattet sein, welche von den Mitteln 16 für die Zufuhr der Maske zugeführt werden. Mit Hilfe dieser Ausführungsart wird, während das isolierte Substrat 11 an die Kathodenzerstäubungskammer 3 geliefert wird, die relativ zu dem isolierten Substrat positionierte Maske ebenfalls in die Kathodenzerstäubungskammer 3 geleitet, um darin mit Hilfe dieser Maske 17 eine Gegenelektrode zu bilden. Dies ermöglicht die kontinuierliche Herstellung einer gemusterten Gegenelektrode.
- Bei dem Einsatz des kontinuierlichen Bandes des mit einer Isolierschicht versehenen metallischen Substrats 11 kann eine Wickelvorrichtung 15 für die Aufwicklung einer Schutzfolie 14 in der Zufuhrkammer 1 installiert werden, wie dies in der Fig. 4 gezeigt ist. In dieser Ausführungsart kann das mit der Schutzfolie 14 versehene metallische Substrat 11 verwendet werden, und auf diese Weise kann das metallische Substrat mit sauberer Oberfläche ohne vorherige Reinigungsbehandlung an die Plasmakammer 2 geliefert werden, während die Schutzfolie aufgewickelt wird. Wenn außerdem zusammen mit der Wickelkammer 4 Zufuhrmittel 19 für die Zuleitung einer Schutzfolie 20 vorgesehen sind, wird das isolierte Substrat zusammen mit der Gegenelektrode aufgewickelt, während die Schutzfolie zugeführt wird, um so ein Produkt herzustellen, bei dem die Oberfläche der Gegenelektrode geschützt ist.
- Wie in der Fig. 5 gezeigt, können die in der Fig. 3 gezeigten Mittel 16 für die Zufuhr der Maske und die Mittel 18 für die Aufwicklung der Maske mit der in der Fig. 4 gezeigten Vorrichtung zusammengebaut werden. Mit Hilfe dieser Vorrichtung wird die Herstellung des Musters während der Ausbildung der Gegenelektrode erreicht.
- Wie in der Fig. 6 gezeigt, kann außerdem vor der Zulieferung des metallischen Substrats 11 an die Plasmakammer 2 dieses Substrat in der Reinigungskammer 8 nach einem üblichen Verfahren gereinigt und dann mit Hilfe von Trocknern 25, wie zum Beispiel einem Infrarottrockner oder einem abgeschirmten Trockner getrocknet werden, welche, falls notwendig, einer Plasmabehandlung mit einem Gas unterzogen werden, wie zum Beispiel mit Stickstoff, Wasserstoff, Argon oder Helium, um damit die Oberfläche des Substrats zu reinigen. Das gereinigte Substrat wird an die Plasmakaminer 2, die Zwischenkammer 10 und die Kathodenzerstäubungskammer 3 geliefert, um darauf die Isolierschicht und die Gegenelektrode auszubilden, wonach es aufgewickelt wird. Für die Reinigung in der Reinigungskammer 8 kann die übliche Reinigung durch eine Reinigung mit einem dampfförmigen Lösungsmittel ergänzt werden.
- Statt den In den Fig. 3 oder 5 gezeigten Vorrichtungen, mit deren Hilfe, wie in der Fig. 7 gezeigt, die gemusterte Gegenelektrode mit Hilfe der Maske hergestellt wird, kann das mit der Isolierschicht und der Gegenelektrode versehene metallische Substrat auch an eine Beizkammer 33 geliefert werden, in der durch Bedrucken der Gegenelektrode mit Hilfe von Mitteln 34 auf dieser ein resistenter Film ausgebildet wird. Alternativ wird ein auf die gesamte Oberfläche der Gegenelektrode aufgetragener resistenter Film mit Hilfe von Belichtungsmitteln 35 unter Verwendung einer (nicht gezeigten) Photomaske belichtet, um so darauf ein Muster zu bilden, gefolgt von einer Beizbehandlung mit Hilfe von Plasmaätzmitteln 36, um dadurch diese Gegenelektrode mit einem Muster zu versehen.
- Die in der Fig. 7 gezeigte Vorrichtung kann mit der Wickelvorrichtung 15 für die Schutzfolie und der in der Fig. 4 gezeigten Vorrichtung 19 für die Zufuhr der Schutzfolie zusammengefaßt werden, um die in der Fig. 8 gezeigte Vorrichtung zu bilden.
- Außerdem kann in in den vorstehend beschriebenen Ausführungsarten der vorliegenden Erfindung eine Schneidkammer 31 vorgesehen werden. In dieser Ausführungsart wird das metallische Substrat 11 sukzessive durch die Plasmakammer 2, eine Zwischenkammer 28 für die differentielle Ableitung, die Kathodenzerstäubungskammer 3 und die Zwischenkammern 29 und 30 für die differentielle Ableitung von Gasen geleitet und dann in Form eines kontinuierlichen Bandes in die Schneidkammer 31 geleitet.
- In der Schneidkammer 31 wird das kontinuierliche Produkt mit Hilfe der Schneidmittel 32, wie zum Beispiel einer Presse, einem Beizittel oder einem Laser auf eine vorbestiminte Länge abgeschnitten. Wenn sich dabei Abfälle bilden, können diese Abfälle mit Hilfe einer Induktionswalze 38 auf eine Wickelwalze 37 für Abfälle aufgewickelt werden.
- Wenn die Differenz des Potentials (Vb) zwischen der Hochfrequenzelektrode und dem metallischen Substrat auf einen Wert von 10 V oder weniger geregelt wird, ist es, wie in der Fig. 10 gezeigt, möglich, gleichzeitig Isolierschichten auf zwei metallischen Substraten 11a und 11b auszubilden. In dieser Ausführungsart der vorliegenden Erfindung sind in der Plasmakammer 2 zwei Zufuhrrollen 12a und 12b installiert und die Abgabe von Plasma wird mit Hilfe einer einzigen Heizvorrichtung 22 und eine einzige eine Heizvorrichtung enthaltende Hochfrequenzelektrode 21a durchgeführt. Wie in der Fig. 10 gezeigt, können die die Heizvorrichtung enthaltende Hochfrequenzelektrode 21a und die Heizvorrichtung 22 zwischen den Substraten 11a und 11b horizontal übereinanderliegend angeordnet werden. Als Alternative können die die Heizvorrichtung enthaltende Hochfrequenzelektrode 21a und die Heizvorrichtung 22 vertikal zwischen den Substraten 11a und 11b angeordnet werden, wobei die gesamte Vorrichtung um 90º gedreht wird. Die die Isolierschicht enthaltenden isolierten Substrate werden an die Kathodenzerstäubungskammer 3 geleitet, wo die Gegenelektroden auf den jeweiligen Isolierschichten mit Hilfe von einem Paar Elektroden 23a und 23b und den Heizvorrichtungen 24a und 24b ausgebildet werden. Die Produkte werden in den Wickelkammern 4a und 4b auf die Wickelwalzen 13a und 13b aufgerollt.
- Obwohl sich die vorstehend beschriebenen Ausführungsatn der Erfindung auf eine Methode für die Herstellung der Isolierschicht mit Hilfe des Plasma-CVD-Verfahrens mit anschließender Ausbildung der Gegenelektrode mit Hilfe eines Kathodenzerstäubungsverfahrens beziehen, kann die Isolierschicht auch mit Hilfe eines Kathodenzerstäubungsverfahrens hergestellt werden, während die Gegenelektrode mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens ausgebildet werden kann.
- Im Rahmen der vorliegenden Erfindung können die Isolierschicht und die Gegenelektrode mit Hilfe einer einzigen Vorrichtung kontinuierlich auf dem fortlaufenden Band eines metallischen Substrats ausgebildet werden. Daher sind Handhabungsarbeiten zwischen den einzelnen Prozeßschritten nicht erforderlich, wodurch die erforderliche Zeit und der Arbeitsaufwand reduziert und das gewünschte Produkt mit großer Geschwindigkeit kostengünstig Kosten hergestellt werden kann. Da außerdem das erfindungsgemäße Verfahren in einem geschlossenen Kreis durchgeführt werden kann, besteht keine Möglichkeit einer Kontaminierung durch Staub, wodurch das erreichte Endergebnis verbessert wird. Außerdem kann das Verfahren automatisch durchgeführt werden, da die einzelnen Verfahrensschritte bis zur Ausbildung des Musters auf der Gegenelektrode und, falls gewünscht, bis zu dem Schneidvorgang kontinuierlich abgewickelt werden kann.
Claims (12)
1. Verfahren für die Herstellung eines kontinuierlichen
Bandes eines elektrisch isolierten metallischen
Substrats für den Einsatz in einer Solarzelle, einer
gedruckten Schaltung oder einem integrierten
Schaltkreis, bei dem eine Isolierschicht aus einem
nicht monokristallinen Material bestehend aus Si(1-x-
y)CyNx:H (darin ist x 0,1 bis 0,9, 0 < y < 0,1 und x +
y ≤ 1) oder aus Si(1-x-y)CyOx:H (worin x und y so wie
oben definiert sind) mit Hilfe eines Plasma-de
métallisation-Verfahrens oder eines
Kathodenzerstäubungsverfahrens auf ein kontinuierliches
Band eines metallischen Substrats aufgetragen wird, und
bei dem eine Gegenelektrode mit Hilfe des Verfahrens
der Kathodenzerstäubung oder der Aufdampfung auf diese
Isolierschicht aufgetragen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
diese Isolierschicht aus einem amorphen Material
hergestellt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
diese Gegenelektrode aus einer einfachen Schicht oder
einer vielfachen Schicht bestehend aus Aluminium,
Chrom, Nickel, Molybden, Kupfer, Zink, Silber, Zinn und
einer ihrer Legierungen, einem ihrer Metalloxide, einer
Titan-Silber-Legierung, Nichrom, SUS oder aus ITO
hergestellt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
das kontinuierliche Band des metallischen Substrats ein
auf eine Walze aufgewickeltes schleifenförmiges
Material ist.
5. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
das metallische Substrat aus Eisen, Aluminium, Nickel,
Kupfer, Zink oder einer ihrer Legierungen, rostfreiem
Stahl, Messing oder einem oberflächenbehandelten Metall
hergestellt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
die Oberfläche des metallischen Substrats geschliffen
wird, bevor diese Isolierschicht darauf aufgetragen
wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Oberflächenrauhigkeit der geschliffenen Oberfläche
des Substrats Rmax ≤ 0,5 um beträgt.
8. Verfahren nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Oberflächenrauhigkeit der geschliffenen Oberfläche
des Substrats Rmax ≤ 0,2 um beträgt.
9. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
das de métallisation-Plasmaverfahren oder das Verfahren
der Kathodenzerstäubung eine mit Hilfe von parallelen
Plattenelektroden durchgeführte Methode ist, das heißt,
eine Methode, in der das Substrat in einem Abstand von
± 3 cm von dem Plasmaentladungsbereich angeordnet ist,
oder aber eine Methode mit parallelen
Plattenelektroden, in der mit Hilfe einer Elektrode ein
Magnet installiert wird, welcher so angeordnet ist, daß
eine Magnetfeldkomponente parallel zu der
Plattenelektrode verläuft.
10. Verfahren nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Auftrag dieser Isolierschicht bei einer
Substrattemperatur von 100 bis 400ºC durchgeführt
wird.
11. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Gegenelektrode unter Verwendung von Maskierungen in
Form von Mustern aufgetragen wird.
12. Verfahren nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Auftrag der Gegenelektrode bei einer
Substrattemperatur im Bereich von Raumtemperatur bis
400ºC durchgeführt wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58227244A JPS60119784A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | 絶縁金属基板の製法およびそれに用いる装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3486402D1 DE3486402D1 (de) | 1995-09-21 |
DE3486402T2 true DE3486402T2 (de) | 1996-04-04 |
Family
ID=16857773
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3486402T Expired - Fee Related DE3486402T2 (de) | 1983-12-01 | 1984-11-27 | Verfahren zum Herstellen eines elektrisch isolierten metallischen Substrats als kontinuierliches Band. |
DE8484114295T Expired - Lifetime DE3485829T2 (de) | 1983-12-01 | 1984-11-27 | Verfahren und vorrichtung zur kontinuierlichen herstellung eines isolierten substrates. |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8484114295T Expired - Lifetime DE3485829T2 (de) | 1983-12-01 | 1984-11-27 | Verfahren und vorrichtung zur kontinuierlichen herstellung eines isolierten substrates. |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4585537A (de) |
EP (2) | EP0144055B1 (de) |
JP (1) | JPS60119784A (de) |
KR (1) | KR900008504B1 (de) |
AT (2) | ATE126551T1 (de) |
CA (1) | CA1267864A (de) |
DE (2) | DE3486402T2 (de) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6245079A (ja) * | 1985-08-22 | 1987-02-27 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 太陽電池用基板およびその製法 |
JPH065772B2 (ja) * | 1987-04-03 | 1994-01-19 | 昭和アルミニウム株式会社 | 薄膜太陽電池用基板の製造方法 |
FR2614317B1 (fr) * | 1987-04-22 | 1989-07-13 | Air Liquide | Procede de protection de substrat polymerique par depot par plasma de composes du type oxynitrure de silicium et dispositif pour sa mise en oeuvre. |
US4763601A (en) * | 1987-09-02 | 1988-08-16 | Nippon Steel Corporation | Continuous composite coating apparatus for coating strip |
JPH0244738A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電子装置作製方法 |
US5322716A (en) * | 1989-07-04 | 1994-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for producing magnetic recording medium |
US5190631A (en) * | 1991-01-09 | 1993-03-02 | The Carborundum Company | Process for forming transparent silicon carbide films |
JPH06112625A (ja) * | 1991-10-18 | 1994-04-22 | Tokyo Kakoki Kk | 処理室の密閉構造 |
US5395662A (en) * | 1992-07-24 | 1995-03-07 | Dielectric Coating Industries | Improvements in high reflective aluminum sheeting and methods for making same |
US5431963A (en) * | 1993-02-01 | 1995-07-11 | General Electric Company | Method for adhering diamondlike carbon to a substrate |
US6074901A (en) * | 1993-12-03 | 2000-06-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process for crystallizing an amorphous silicon film and apparatus for fabricating the same |
JPH09508178A (ja) * | 1994-01-21 | 1997-08-19 | ザ カーボランダム カンパニー | 炭化ケイ素のスパッタリングターゲット |
US5480695A (en) * | 1994-08-10 | 1996-01-02 | Tenhover; Michael A. | Ceramic substrates and magnetic data storage components prepared therefrom |
EP0865663A1 (de) * | 1995-12-08 | 1998-09-23 | Balzers Aktiengesellschaft | Hf-plasmabehandlungskammer bzw. pecvd-beschichtungskammer, deren verwendungen und verfahren zur beschichtung von speicherplatten |
US5755759A (en) * | 1996-03-14 | 1998-05-26 | Eic Laboratories, Inc. | Biomedical device with a protective overlayer |
ATE203781T1 (de) * | 1996-04-03 | 2001-08-15 | Alusuisse Tech & Man Ag | Beschichtungssubstrat |
GB9712338D0 (en) | 1997-06-14 | 1997-08-13 | Secr Defence | Surface coatings |
JPH11246971A (ja) * | 1998-03-03 | 1999-09-14 | Canon Inc | 微結晶シリコン系薄膜の作製方法及び作製装置 |
US6489034B1 (en) * | 2000-02-08 | 2002-12-03 | Gould Electronics Inc. | Method of forming chromium coated copper for printed circuit boards |
US6489035B1 (en) | 2000-02-08 | 2002-12-03 | Gould Electronics Inc. | Applying resistive layer onto copper |
US6441301B1 (en) | 2000-03-23 | 2002-08-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Solar cell and method of manufacturing the same |
US6622374B1 (en) | 2000-09-22 | 2003-09-23 | Gould Electronics Inc. | Resistor component with multiple layers of resistive material |
KR20020080159A (ko) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | 에프디테크 주식회사 | 유기 전계발광 표시 소자의 자동 제조를 위한아이티오전극 증착 장치 및 방법 |
KR100619614B1 (ko) * | 2001-10-19 | 2006-09-01 | 죠스케 나카다 | 발광 또는 수광용 반도체 모듈 및 그 제조 방법 |
US20030151118A1 (en) * | 2002-02-14 | 2003-08-14 | 3M Innovative Properties Company | Aperture masks for circuit fabrication |
US6821348B2 (en) * | 2002-02-14 | 2004-11-23 | 3M Innovative Properties Company | In-line deposition processes for circuit fabrication |
US20040040506A1 (en) * | 2002-08-27 | 2004-03-04 | Ovshinsky Herbert C. | High throughput deposition apparatus |
US7147900B2 (en) * | 2003-08-14 | 2006-12-12 | Asm Japan K.K. | Method for forming silicon-containing insulation film having low dielectric constant treated with electron beam radiation |
EP1518941A1 (de) * | 2003-09-24 | 2005-03-30 | Sidmar N.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Stahlprodukten mit metallischer Beschichtung |
SE527179C2 (sv) * | 2003-12-05 | 2006-01-17 | Sandvik Intellectual Property | Tunnfilmssolcell eller tunnfilmsbatteri, innefattande en zirkoniumoxidbelagd bandprodukt av ferritiskt kromstål |
GB0406049D0 (en) * | 2004-03-18 | 2004-04-21 | Secr Defence | Surface coatings |
US7820020B2 (en) * | 2005-02-03 | 2010-10-26 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for plasma-enhanced physical vapor deposition of copper with RF source power applied through the workpiece with a lighter-than-copper carrier gas |
JP4650113B2 (ja) * | 2005-06-09 | 2011-03-16 | 富士ゼロックス株式会社 | 積層構造体、ドナー基板、および積層構造体の製造方法 |
JP2008108978A (ja) * | 2006-10-26 | 2008-05-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 立体回路基板の絶縁膜形成方法および絶縁膜形成装置 |
DE102006055862B4 (de) * | 2006-11-22 | 2008-07-03 | Q-Cells Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen einer elektrischen Solarzellen-Kontaktstruktur an einem Substrat |
WO2008129726A1 (ja) * | 2007-03-31 | 2008-10-30 | Konica Minolta Opto, Inc. | 光学フィルムの製造方法、光学フィルム、偏光板及び表示装置 |
EP1988186A1 (de) * | 2007-04-24 | 2008-11-05 | Galileo Vacuum Systems S.p.A. | Multikammer-Vakuumbeschichtungssystem |
WO2008155786A1 (en) * | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Cisel S.R.L. - Circuiti Stampati Per Applicazioni Elettroniche | Photovoltaic module and modular panel made with it to collect radiant solar energy and its transformation into electrical energy |
PL2031082T3 (pl) * | 2007-08-31 | 2015-03-31 | Aperam Alloys Imphy | Metalowe podłoże o teksturze krystalograficznej, układ o teksturze krystalograficznej, ogniowo fotowoltaiczne i moduł fotowoltaiczny zawierające taki układ i sposób powlekania cienkimi warstwami |
WO2009121685A1 (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | Applied Materials Inc., A Corporation Of The State Of Delaware | Method for depositing of barrier layers on a plastic substrate as well as coating device therefor and a layer system |
FR2934715B1 (fr) * | 2008-07-30 | 2010-08-27 | Serge Crasnianski | Installation et procede de fabrication de cellules solaires. |
US20100236629A1 (en) * | 2009-03-19 | 2010-09-23 | Chuan-Lung Chuang | CIGS Solar Cell Structure And Method For Fabricating The Same |
DE102010061732A1 (de) * | 2010-11-22 | 2012-05-24 | Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Aufbringen einer Schutzschicht auf einem Substrat |
US20120137972A1 (en) * | 2010-12-07 | 2012-06-07 | Canon Anelva Corporation | Film forming apparatus |
US20160014878A1 (en) * | 2014-04-25 | 2016-01-14 | Rogers Corporation | Thermal management circuit materials, method of manufacture thereof, and articles formed therefrom |
CN110911516B (zh) * | 2019-11-29 | 2021-06-04 | 尚越光电科技股份有限公司 | 一种柔性cigs太阳能电池片层叠串焊装置 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2382432A (en) * | 1940-08-02 | 1945-08-14 | Crown Cork & Seal Co | Method and apparatus for depositing vaporized metal coatings |
DE1002584B (de) * | 1940-12-14 | 1957-02-14 | Dr Georg Hass | Verfahren zur Verbesserung der Haftfestigkeit von metallischen UEberzuegen |
CH236117A (de) * | 1941-08-16 | 1945-01-15 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Herstellung von metallisierten Bändern aus Isolierstoff. |
US3480922A (en) * | 1965-05-05 | 1969-11-25 | Ibm | Magnetic film device |
US4317844A (en) * | 1975-07-28 | 1982-03-02 | Rca Corporation | Semiconductor device having a body of amorphous silicon and method of making the same |
GB1601427A (en) * | 1977-06-20 | 1981-10-28 | Siemens Ag | Deposition of a layer of electrically-conductive material on a graphite body |
US4331526A (en) * | 1979-09-24 | 1982-05-25 | Coulter Systems Corporation | Continuous sputtering apparatus and method |
DE2941559C2 (de) * | 1979-10-13 | 1983-03-03 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Verfahren zum Abscheiden von Silizium auf einem Substrat |
US4410558A (en) * | 1980-05-19 | 1983-10-18 | Energy Conversion Devices, Inc. | Continuous amorphous solar cell production system |
US4400409A (en) * | 1980-05-19 | 1983-08-23 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method of making p-doped silicon films |
JPS5842126B2 (ja) * | 1980-10-31 | 1983-09-17 | 鐘淵化学工業株式会社 | アモルファスシリコンの製造方法 |
GB2095030B (en) * | 1981-01-08 | 1985-06-12 | Canon Kk | Photoconductive member |
US4438723A (en) * | 1981-09-28 | 1984-03-27 | Energy Conversion Devices, Inc. | Multiple chamber deposition and isolation system and method |
JPS58103178A (ja) * | 1981-12-15 | 1983-06-20 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 耐熱性薄膜太陽電池 |
US4492181A (en) * | 1982-03-19 | 1985-01-08 | Sovonics Solar Systems | Apparatus for continuously producing tandem amorphous photovoltaic cells |
US4485125A (en) * | 1982-03-19 | 1984-11-27 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method for continuously producing tandem amorphous photovoltaic cells |
US4398054A (en) * | 1982-04-12 | 1983-08-09 | Chevron Research Company | Compensated amorphous silicon solar cell incorporating an insulating layer |
US4462332A (en) * | 1982-04-29 | 1984-07-31 | Energy Conversion Devices, Inc. | Magnetic gas gate |
-
1983
- 1983-12-01 JP JP58227244A patent/JPS60119784A/ja active Pending
-
1984
- 1984-11-27 DE DE3486402T patent/DE3486402T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1984-11-27 AT AT91120878T patent/ATE126551T1/de not_active IP Right Cessation
- 1984-11-27 DE DE8484114295T patent/DE3485829T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-11-27 EP EP84114295A patent/EP0144055B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-11-27 AT AT84114295T patent/ATE78522T1/de not_active IP Right Cessation
- 1984-11-27 EP EP91120878A patent/EP0478010B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-11-28 CA CA000468803A patent/CA1267864A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-01 KR KR1019840007583A patent/KR900008504B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1984-12-03 US US06/677,773 patent/US4585537A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0144055B1 (de) | 1992-07-22 |
EP0478010B1 (de) | 1995-08-16 |
CA1267864C (en) | 1990-04-17 |
KR900008504B1 (ko) | 1990-11-24 |
DE3486402D1 (de) | 1995-09-21 |
KR850004370A (ko) | 1985-07-11 |
EP0478010A2 (de) | 1992-04-01 |
EP0478010A3 (en) | 1992-05-13 |
ATE126551T1 (de) | 1995-09-15 |
JPS60119784A (ja) | 1985-06-27 |
CA1267864A (en) | 1990-04-17 |
DE3485829T2 (de) | 1992-12-10 |
EP0144055A3 (en) | 1988-09-21 |
ATE78522T1 (de) | 1992-08-15 |
DE3485829D1 (de) | 1992-08-27 |
US4585537A (en) | 1986-04-29 |
EP0144055A2 (de) | 1985-06-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3486402T2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines elektrisch isolierten metallischen Substrats als kontinuierliches Band. | |
DE4423184C2 (de) | Mit einer harten Kohlenstoffschicht beschichtetes Substrat sowie Verfahren und Vorrichtung zu dessen Herstellung | |
DE3785826T2 (de) | Maske zum Niederschlag von Pastenmaterial. | |
DE69318608T2 (de) | Verfahren zum Anbringen eines Kohlenstoffschutzfilms auf eine Magnetplatte durch Kathodenzerstäubung mit einer eine Gleichstromvorspannung überlagernden Wechselspannung | |
DE3316693C2 (de) | ||
DE3872859T2 (de) | Verfahren zur metallisierung eines kieselsaeure-, quartz-, glas- oder saphirsubstrates und so erhaltenes substrat. | |
DE3850285T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von dünnen supraleitenden Schichten. | |
EP2179426B1 (de) | Mehrschichtsystem mit kontaktelementen und verfahren zum erstellen eines kontaktelements für ein mehrschichtsystem | |
DE3938830C2 (de) | ||
EP2596151B1 (de) | Verfahren und anordnung zur herstellung von supraleitenden magnesiumdiboridschichten auf substraten | |
DE3590588T1 (de) | Leitendes Verbundgebilde | |
DE2300813C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines verbesserten Dünnschicht-Kondensators | |
DE3930301A1 (de) | Vorrichtung zur herstellung von duennschichten | |
DE1446270B2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer dünnen, freitragenden Folie durch Vakuumaufdampfen | |
EP1019945B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur oberflächenbehandlung von substraten | |
EP0555518B1 (de) | Verfahren für die Behandlung einer Oxidschicht | |
EP0084330A2 (de) | Mehrschichten-Flächengebilde | |
EP2028695A1 (de) | Verfahren zur Erzeugung einer transparenten leitfähigen Oxidbeschichtung | |
DE68917779T2 (de) | Josephson-Einrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung. | |
DE69206843T2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Farbfilters und farbelektrooptische Vorrichtung | |
DE3718789A1 (de) | Transparenter leitender film und verfahren zu seiner herstellung | |
WO2019038093A1 (de) | Verfahren zum herstellen einer elektrisch leitfähigen folie | |
EP1339895B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur oberflächenbehandlung elektrisch isolierender substrate | |
DE10055636C2 (de) | Transparenter leitfähiger Film und Verfahren zur Herstellung des Films | |
DE102017205417A1 (de) | Verfahren zur Ausbildung einer mit poly- oder einkristallinem Diamant gebildeten Schicht |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |