JPS6245079A - 太陽電池用基板およびその製法 - Google Patents

太陽電池用基板およびその製法

Info

Publication number
JPS6245079A
JPS6245079A JP60184559A JP18455985A JPS6245079A JP S6245079 A JPS6245079 A JP S6245079A JP 60184559 A JP60184559 A JP 60184559A JP 18455985 A JP18455985 A JP 18455985A JP S6245079 A JPS6245079 A JP S6245079A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
silicon compound
solar cell
cell substrate
substrate according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60184559A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0566753B2 (ja
Inventor
Kenji Yamamoto
憲治 山本
Kazunaga Tsushimo
津下 和永
Takehisa Nakayama
中山 威久
Yoshihisa Owada
善久 太和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd filed Critical Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Priority to JP60184559A priority Critical patent/JPS6245079A/ja
Publication of JPS6245079A publication Critical patent/JPS6245079A/ja
Publication of JPH0566753B2 publication Critical patent/JPH0566753B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は太lll電池用基板およびその製法に関する。
さらに詳しくは、金属基体または絶縁物基体上にシリコ
ン化合物の薄膜を表面に凹凸をつけて堆積し、さらにそ
の上に薄膜電穫を設けた太陽電池用基板およびその製法
に関する。
〔従来の技術] 本出願人は、太陽電池用基体上に表面が凹凸状の電気絶
縁性非晶質シリコン化合物の薄膜を形成し、その上に薄
膜電極を堆積させ、該薄膜N極上に薄膜太陽電池を形成
することによって、受光面を通過し透明電極や太陽電池
の光起電力素子層を介して基板に到達した入射光または
反射光が、凹凸を有する薄膜電極のために乱反射する構
造を有する太陽電池用基板についてすでに出願した(特
開[60−10788号)。同基板における非晶質シリ
コン化合物の凹凸は、太陽電池が発電に利用できる光の
波長程度の大きさの、多数のこぶ状突起によって形成さ
れる。かがる太陽電池用基板において裏面電極によって
乱反射した光は、再び光起電力素子層の活性領域に取込
まれ、見かけの光量の増加をもたらすため、太陽電池の
変換効率の改善など性能の向上が図られる。
[発明が解決しようとする問題点] 従来技術では、基体上に設けられ、表面に凹凸を有する
シリコン化合物の結晶構造が非晶質であることが特徴で
あったが、非晶質化合物では、表面にこぶ状の突起によ
り凹凸を形成することは可能であるが、この凹凸は不均
一で、乱反射を有効に利用することができなかった。ま
た球状の突起物は形成されなかった。
本発明は多結晶構造、または非晶質シリコン化合物の中
に微結晶を含む構造のシリコン化合物を用いて、表面に
球状またはこぶ状突起を多数有する太陽電池用基板を提
供するものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、金属箔または絶縁体の板を基体となし、該基
体上にシリコン化合物の薄膜を設け、該シリコン化合物
の薄膜の表面に非晶質半導体とオーミック接触する薄膜
電極を設けてなる太陽電池用基板において、前記シリコ
ン化合物の薄膜が前記薄膜電極と接する表面に直径0.
1〜10μm、高さ0.1〜10fの球状またはこぶ状
突起を多数有するように形成された太陽電池用基板に関
する。
さらに本発明は、前記シリコン化合物の薄膜をDC放電
型、RF放電型もしくは両者混有型のグロー放電分解法
によって基体上に平行に磁界を印加しながら堆積させる
ことによって形成することを特徴とする太陽電池用基板
の製造方法に関する。
[作用および実施例] 以下、図面を参照しながら本発明を説明する。
第1図は本発明の太陽電池用基板の一実施態様を例示す
る概念図である。第1図に示した実施例においては、本
発明の基板(4)は金属箔または絶縁体の基体(1)、
表面に凹凸を有するシリコン化合物の薄膜(2および薄
PIA電極(3)より構成されている。
さらに第2図に概念的に例示したように、太陽電池は、
前記(1)、(2、(3)よりなる本発明の基板(4)
上に光起電力素子層(5)および光透過性電極層(6)
をグロー放電分解法またはスパッタ蒸着法などによって
形成することによって作製される。
そのときの作製条件を選ぶことにより基板(4)の薄膜
電極(3)表面の凹凸パターン構造が該光起電力素子層
(5)および電極層(6)にも再現され、いきおい太陽
電池の受光面(7)にも凹凸パターン構造が現われる。
かかる太陽電池において入射光は受光面(71および各
接触面部分において散乱され、薄膜電極(3)表面での
乱反射と相乗する結果、光起電力素子層(5)に取込ま
れる光mが増加する。
本発明に用いられる基体(1)としては、たとえばアル
ミニウム、銅、クロム、鉄、ニッケル、黄銅、洋白、ス
テンレス銅などの厚さ5通〜2mm、好ましくは50J
s1〜1 mmの金属またはガラス板などの絶縁体があ
げられる。これらの材料は250〜300℃の耐熱性を
有し、かつ凹凸を有するシリコン化合物の薄膜の形成に
本質的に支障をきたすような突起やピッ1〜を該Wi膜
形成側表面に含まないものである必要がある。
シリコン化合物としては、α−8i1α−3iC。
α−3iN、α−3iONなどの非晶質シリコン化合物
(α−は非晶質をあられす) 、SiC、SiN 。
5ho2などの多結晶シリコン化合物があげられるが、
特に前記非晶質シリコン化合物に微結晶のSiC、Si
N 、 Sin、などが共存するシリコン化合物が好ま
しい。そのばあい、微結晶は、シリコン化合物に対し2
0原子%以上含有されることが好ましく、さらに好まし
くは50原子%以上である。しかし、該微結晶が100
原子%含まれるばあい、突起ができにくくまたは突起が
不揃いとなりやすいので、少くとも01原子%の非晶質
シリコンと共存することが望ましい。シリコン化合物薄
膜(2)の厚さは、基体(1)と電極(3)を絶縁する
のに充分な厚さ0.5〜100Iであることが好ましい
。球状またはこぶ状の突起を多数形成するという観点か
ら1〜10ρがさらに好ましい。
シリコン化合物の薄膜(′2Jは、球状またはこぶ状突
起を多数有するように形成される。その突起の大きさは
直径0.1〜io、、高さ約01〜10μm、好ましく
は両者とも0.2〜3加である。
また、同一の大きさの突起が多数形成されることが好ま
しい。突起の大きさが0.1〜10−の範囲内よりも小
さなばあいまたは大きなばあいはいずれも、太陽電池を
有効に発電させる波長の光を効果的に反射させることが
できないので好ましくない。
また、本発明に用いられるシリコン化合物の薄l f2
+は電気絶縁性を有し、室温での電気伝導度が光照射時
においても10−7(Ω・cm) −’以下のものであ
る。
非晶質シリコン化合物、多結晶シリコン化合物とも、ス
パッター蒸着法、イオン化蒸着法、プラズマCVDを含
むCVD法、イオンビーム蒸着法などによって形成でき
る。しかし、非晶質シリコン化合物と微結晶のシリコン
化合物が共存する薄膜をえるためには、前記方法によっ
ては形成しがたい。そのばあい、直流電界を印加でき、
かつ該直流電界の存する領域の一部もしくは全部の領域
においてこれと直交する磁界を印加できる装置を用いた
DC放電型、RF放電型もしくは両者混有型のグロー放
電分解法を用いることによって容易に形成できる。この
グロー放電分解法により、微結晶の共存するシリコン化
合物の膜をえるためには、所望の膜組成と突起の形状に
応じてガス組成を調整する必要がある。
すなわちシリコン化合物を堆積させるシラン類またはシ
ラン類と炭化水素やアンモニアなどの浪合物からなる原
料ガスを水素ガスなどで希釈したガスを用いるのが有利
である。たとえば目的のシリコン化合物がSiCである
とき、水素ガスで原料ガス中のシラン類を40容積%以
下(ただし通常0.1容積%以上)に希釈したばあいに
非晶質中に微結晶の球状突起を有するシリコン化合物が
形成される。通常、希釈された濃度が40容積%以上に
なると球状の突起がこぶ状になる。また、60容積%以
上になると突起は形成されず平滑な表面となる。
本発明に用いられるNIP電極(3)は、たとえば銀、
アルミニウム、モリブデン、ステンレス鋼、アンチモン
、クロム、ニクロム、白金などのような適正な電気伝導
度を有する金属またはそれらのシリサイドなどの薄膜で
ある。該薄膜の材料として、好ましくは光を効果的に乱
反射するために反射率の高い物質を用いるのがよく、た
とえば〜、へ、MまたはAuなとの薄膜が有効に用いら
れる。かかる電極(3)を、凹凸を有するシリコン化合
物の薄膜(2)上に300〜10.000人の厚さにな
るよう、蒸着またはスパッタなどの方法により設けて本
発明の太陽電池用基板(4)をえる。
電極(3)の厚さが300人未満であると充分な電気伝
導性がえられず太陽電池特性が低下し、io、 ooo
人を超えるとシリコン化合物の薄膜の凹凸が再現されず
、いずれも好ましくない。
さらに電IU (3)として用いたん、仮、Cr、 N
i、#、PtまたはAuなどのIMP上に[TO、5n
o2などの酸化物、前記酸化物にフッ素をドープしたフ
ッ化物、もしくはMO1■1、V 、 Ptなとのシリ
コンとシリサイドを形成する金属などの保護材料をごく
薄く形成したものを使用すると、電橋としての機能や性
能が安定する。また、前記保護材料として透明導電性の
材料を用いるばあいは前述におけるよりも電極層を厚く
形成してよい。
本発明の基板(4)上に形成される光起電力素子層(5
)には、たとえばp−1−n接合型半導体、p−n接合
型半導体、ヘテロ接合型半導体、 P−i−n−p−i−nなどの多層接合半導体など従来
より太陽電池に用いられている半導体が適用される。
また本発明の基板(4)を用いて製造した太陽電池の受
光面(71上にさらに酸化ジルコニウム膜などの反射防
止膜や種々の保護膜が形成されてもよい。
つぎに本発明を実施例にもとづいてさらに詳細に説明す
るが、本発明はかかる実施例のみに限定されるものでは
ない。
基体として5LIS(steel use 5tain
less)を用い、その上にシリコン化合物薄膜をSj
 Ha、CHa 、Haの混合ガスをグロー放電分解し
て形成した。グロー放電分解装置として第3図に概念的
に示す装置を用いた。同装置内では基#1(12)を図
の上側の電極(11)上に設けた。電界を両電極間に上
下方向に印加し、約200ガウスの磁界Bを電界に垂直
な方向に、すなわち基板(12)と平行な方向に印加し
た。ガス導入口(16)を通じて導入したガスの組成は
5LH4ガス10SCCH,CHaガスioscCAl
、 H2ガス 100SCCHであった。RFパワーは
RF電1(14)よりマツチングボックス(13)を通
じて提供された。DC電圧はOC電11i (15)よ
りマツチングボックス(13)を通じて印加された。R
「パワー:200W、 DC電圧: −200V 、 
DC電流:  300mAの条件でDC放電とRFtI
i電との混在したグローtll電下に約1時間、シリコ
ン化合物薄膜を厚さ5如にわたり堆積させた。このよう
にして形成された薄膜の加速電圧20kVでのSEH(
scanningelectron m1crosco
pe)像の写真を第4A図および第4B図に示す。これ
らの図から、えられたシリコン化合物(Si   C)
1は、その表面に0.6 0.4 主として球状の粒子を有し、粒子の直径は約2証である
ことがわかる。球状の突起は結晶質であり、それ以外の
突起は非晶質であった。なお、粒子の直径は堆積条件に
より変化させることができる。シリコン化合物膜上に厚
さ1000人の〜薄膜電極(3)を堆積させた。その上
に保護のための5n02を200人の厚さにコートした
。以上のようにして作成した基板上に、グロー放電分解
法またはスパッタ蒸着法により、非晶質シリコン系光起
電力素子層(5)を形成し、さらに光透過性電極(6)
を蒸着形成し、太陽電池を製造した。
[発明の効果] 以上のようにして作製される太陽電池においては、受光
面(71から入射した光および一旦光起電力素子層に入
射したのち反射した光が基板(4)の薄膜電極(3)の
表面で乱反射する結果、光起電力素子層(5)の活性領
域に取込まれる光示が増加し、太陽電池の変換効率が改
善され性能が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の太陽電池用基板の一実施態様を例示す
る概念図である。第2図は本発明の基板を用いた太陽電
池の一実施態様を例示する概念図である。第3図は本発
明の基板の製作に用いたグロー放電分解装置の概念図で
ある。第4A図および第4B図はえられたシリコン化合
物の薄膜のSEN &を示す写真である。 (図面の主要符号) (1):基体 (2):シリコン化合物の?4税 (3):薄li!電極 (4)二太陽電池用基板 (5):光起電力素子層 (6):光透過性電極層 才1図 一一一」 CIf”、を酒

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、金属箔または絶縁体の板を基体となし、該基体上に
    シリコン化合物の薄膜を設け、該シリコン化合物の薄膜
    の表面に非晶質半導体とオーミック接触する薄膜電極と
    を設けてなる太陽電池用基板において、前記シリコン化
    合物の薄膜が、前記薄膜電極と接する表面に直径0.1
    〜10μm、高さ0.1〜10μmの球状またはこぶ状
    の突起を多数有するように形成されたことを特徴とする
    太陽電池用基板。 2、前記シリコン化合物の薄膜の室温での電気伝導度が
    光照射時においても10^−^7(Ω・cm)^−^1
    以下である特許請求の範囲第1項記載の太陽電池用基板
    。 3、前記シリコン化合物の薄膜の厚さが0.5〜100
    μmである特許請求の範囲第1項記載の太陽電池用基板
    。 4、前記シリコン化合物の薄膜が多結晶シリコン化合物
    よりなる膜、または非晶質中に微結晶が共存するシリコ
    ン化合物よりなる膜である特許請求の範囲第1項記載の
    太陽電池用基板。 5、前記シリコン化合物の薄膜が、非晶質シリコン化合
    物中に粒径0.1〜10μmの結晶粒子を多数含む特許
    請求の範囲第1項記載の太陽電池用基板。 6、前記薄膜電極がAg、Cu、Cr、Ni、Al、P
    t、Auまたはそれらのシリサイドよりなる薄膜である
    特許請求の範囲第1項記載の太陽電池用基板。 7、前記薄膜電極の厚さが300〜10,000Åであ
    る特許請求の範囲第1項記載の太陽電池用基板。 8、前記薄膜電極がAg、Cu、Cr、Ni、Al、P
    tまたはAuの薄膜上に酸化物、フッ化物もしくは他の
    金属をごく薄く形成せしめたものである特許請求の範囲
    第1項記載の太陽電池用基板。 9、金属箔または絶縁体の板よりなる基体上に、表面に
    直径0.1〜10μm、高さ0.1〜10μmの球状ま
    たはこぶ状の突起を多数有するシリコン化合物の薄膜を
    、DC放電型、RF放電型もしくは両者混有型のグロー
    放電分解法にて基体上に平行に磁界を印加しながら堆積
    させることによって形成し、その上に非晶質半導体とオ
    ーミック接触する薄膜電極を設けることよりなる太陽電
    池用基板の製造方法。 10、前記グロー放電分解が、水素ガスで原料ガス中の
    シラン類を40容積%以下に希釈したガス雰囲気中で行
    なわれる特許請求の範囲第9項記載の太陽電池用基板の
    製造方法。
JP60184559A 1985-08-22 1985-08-22 太陽電池用基板およびその製法 Granted JPS6245079A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60184559A JPS6245079A (ja) 1985-08-22 1985-08-22 太陽電池用基板およびその製法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60184559A JPS6245079A (ja) 1985-08-22 1985-08-22 太陽電池用基板およびその製法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6245079A true JPS6245079A (ja) 1987-02-27
JPH0566753B2 JPH0566753B2 (ja) 1993-09-22

Family

ID=16155322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60184559A Granted JPS6245079A (ja) 1985-08-22 1985-08-22 太陽電池用基板およびその製法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6245079A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03125480A (ja) * 1989-10-11 1991-05-28 Hitachi Ltd 太陽電池
JPH03190283A (ja) * 1989-12-20 1991-08-20 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置の形成方法
JPH04177880A (ja) * 1990-11-13 1992-06-25 Canon Inc 太陽電池および該太陽電池の製造方法
US5244509A (en) * 1990-08-09 1993-09-14 Canon Kabushiki Kaisha Substrate having an uneven surface for solar cell and a solar cell provided with said substrate
US5284525A (en) * 1990-12-13 1994-02-08 Canon Kabushiki Kaisha Solar cell
WO1999010933A1 (en) * 1997-08-21 1999-03-04 Kaneka Corporation Thin film photoelectric transducer
US6420644B1 (en) * 1999-11-26 2002-07-16 Mitsui High-Tec, Inc. Solar battery and method of treating a board for a solar battery
WO2010146651A1 (ja) * 2009-06-15 2010-12-23 Wang Haibiao 光電転換器の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59152672A (ja) * 1983-02-19 1984-08-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置
JPS59152673A (ja) * 1983-02-19 1984-08-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置作製方法
JPS60119784A (ja) * 1983-12-01 1985-06-27 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 絶縁金属基板の製法およびそれに用いる装置
JPS60175465A (ja) * 1984-02-21 1985-09-09 Nippon Sheet Glass Co Ltd 太陽電池基板

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59152672A (ja) * 1983-02-19 1984-08-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置
JPS59152673A (ja) * 1983-02-19 1984-08-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置作製方法
JPS60119784A (ja) * 1983-12-01 1985-06-27 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 絶縁金属基板の製法およびそれに用いる装置
JPS60175465A (ja) * 1984-02-21 1985-09-09 Nippon Sheet Glass Co Ltd 太陽電池基板

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03125480A (ja) * 1989-10-11 1991-05-28 Hitachi Ltd 太陽電池
JPH03190283A (ja) * 1989-12-20 1991-08-20 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置の形成方法
US5244509A (en) * 1990-08-09 1993-09-14 Canon Kabushiki Kaisha Substrate having an uneven surface for solar cell and a solar cell provided with said substrate
JPH04177880A (ja) * 1990-11-13 1992-06-25 Canon Inc 太陽電池および該太陽電池の製造方法
US5284525A (en) * 1990-12-13 1994-02-08 Canon Kabushiki Kaisha Solar cell
WO1999010933A1 (en) * 1997-08-21 1999-03-04 Kaneka Corporation Thin film photoelectric transducer
US6297443B1 (en) 1997-08-21 2001-10-02 Kaneka Corporation Thin film photoelectric transducer
EP2136410A1 (en) * 1997-08-21 2009-12-23 Kaneka Corporation Thin film photoelectric converter
US6420644B1 (en) * 1999-11-26 2002-07-16 Mitsui High-Tec, Inc. Solar battery and method of treating a board for a solar battery
WO2010146651A1 (ja) * 2009-06-15 2010-12-23 Wang Haibiao 光電転換器の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0566753B2 (ja) 1993-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4064521A (en) Semiconductor device having a body of amorphous silicon
US4142195A (en) Schottky barrier semiconductor device and method of making same
US4317844A (en) Semiconductor device having a body of amorphous silicon and method of making the same
CA1252229A (en) Multijunction semiconductor device
CA1090455A (en) Solar cell and method for the manufacture thereof
CA1091361A (en) Semiconductor device having an amorphous silicon active region
US4196438A (en) Article and device having an amorphous silicon containing a halogen and method of fabrication
EP0179547B1 (en) Thin film solar cell with free tin on transparent conductor
JPS6325515B2 (ja)
JPS6091626A (ja) アモルフアスシリコンpin半導体装置の製造方法
JPS61222181A (ja) 電流コレクタグリツドの製造方法及びそのための材料
JPS59972A (ja) 絶縁層を組み込む補償アモルフアス太陽電池
US4226643A (en) Method of enhancing the electronic properties of an undoped and/or N-type hydrogenated amorphous silicon film
JPS6245079A (ja) 太陽電池用基板およびその製法
JP2000138384A (ja) 非晶質半導体素子及びその製造方法
JP2805353B2 (ja) 太陽電池
US8563852B2 (en) Solar cell having improved electron emission using amorphous diamond materials
EP0321136B1 (en) Low light level solar cell
JPS58103178A (ja) 耐熱性薄膜太陽電池
JPS6010788A (ja) 太陽電池用基板
JPH04290274A (ja) 光電変換装置
JP2975751B2 (ja) 光起電力装置
JPS6050972A (ja) 薄膜太陽電池
JP2757896B2 (ja) 光起電力装置
JP2020505786A (ja) シングル型、タンデム型ならびにヘテロ接合型太陽電池装置およびその形成方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term