JPS6050972A - 薄膜太陽電池 - Google Patents
薄膜太陽電池Info
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- JPS6050972A JPS6050972A JP58157975A JP15797583A JPS6050972A JP S6050972 A JPS6050972 A JP S6050972A JP 58157975 A JP58157975 A JP 58157975A JP 15797583 A JP15797583 A JP 15797583A JP S6050972 A JPS6050972 A JP S6050972A
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- Japan
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- type layer
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- solar cell
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/075—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は金属基板上にn層を基板側としたp −i −
n構造を有する半導体薄膜、例えばシランのグロー放電
分解によって形成された非晶質シリコン膜を有する薄膜
太陽電池に関する。
n構造を有する半導体薄膜、例えばシランのグロー放電
分解によって形成された非晶質シリコン膜を有する薄膜
太陽電池に関する。
太陽電池は太陽光或は電灯光を電気エネルギーに変換す
るものとして最近とみに注目されているが、光電変換活
性領域を形成するための半導体層としては、単結晶シリ
コン、多結晶シリコンのほかに非晶質シリコン(以下a
−8iと記す)が利用されている。第1図にa−8i膜
を用いた太陽電池の構造の例を示す。第1図においてス
テンレス鋼基板1の上に先ずシラン(8iH,)にフォ
スフイン(PH3)を添加したガスをグロー放電法によ
り分解してa−8i膜の0層2を堆積させ、次いで8i
H,のみの分解により1層3を、さらにシボラン(B2
H6)を添加することにより9層4を全体の2−8i膜
厚が1μmになる程度に堆積させたものである。9層4
上には蒸着などによって、例えばITO(インジウムす
ず酸化物)からなる透明導電膜5が被着され、その上に
格子状の集電金属電極6が設けられている。この太陽電
池に透明導電膜5を通して光7が入射すると光起電力を
生じ、光起電力は基板1と電極6から取り出される。透
明導電膜5は反射防止膜を兼ねるもので、ITOに限ら
ず5n02からなってもよくあるいは光を透過できる程
度の厚さの金属薄膜と反射防止膜(Sin。
るものとして最近とみに注目されているが、光電変換活
性領域を形成するための半導体層としては、単結晶シリ
コン、多結晶シリコンのほかに非晶質シリコン(以下a
−8iと記す)が利用されている。第1図にa−8i膜
を用いた太陽電池の構造の例を示す。第1図においてス
テンレス鋼基板1の上に先ずシラン(8iH,)にフォ
スフイン(PH3)を添加したガスをグロー放電法によ
り分解してa−8i膜の0層2を堆積させ、次いで8i
H,のみの分解により1層3を、さらにシボラン(B2
H6)を添加することにより9層4を全体の2−8i膜
厚が1μmになる程度に堆積させたものである。9層4
上には蒸着などによって、例えばITO(インジウムす
ず酸化物)からなる透明導電膜5が被着され、その上に
格子状の集電金属電極6が設けられている。この太陽電
池に透明導電膜5を通して光7が入射すると光起電力を
生じ、光起電力は基板1と電極6から取り出される。透
明導電膜5は反射防止膜を兼ねるもので、ITOに限ら
ず5n02からなってもよくあるいは光を透過できる程
度の厚さの金属薄膜と反射防止膜(Sin。
8 i層2 、8 i3N4 、 T 120sなど)
とを重ねた構造でも差支えない。
とを重ねた構造でも差支えない。
本発明はこのようなp−1−n構造をもつ薄膜太陽電池
の変換効率をさらに向上させることを目的とする。
の変換効率をさらに向上させることを目的とする。
本発明は、そのような構造をもつ太陽電池のp属とni
の間のi層のp層に近い側が、例えはほう素を含む反応
ガスのグロー放電分解によりほう素を0.5〜5X 1
017原子数/ cr/lを添加した層からなることに
よシ上記の目的を達成するものである。
の間のi層のp層に近い側が、例えはほう素を含む反応
ガスのグロー放電分解によりほう素を0.5〜5X 1
017原子数/ cr/lを添加した層からなることに
よシ上記の目的を達成するものである。
〔発明の実施例〕
本発明による薄膜太陽電池は、例えは第2!Ωような構
造を有し、図から明らかなようにs++jl1吋に示し
た1層3のpJ脅4に近い側に2層4 +=n+in゛
族元素(鋒寿イ11う素)添加量に比して低い゛°献嘔
。
造を有し、図から明らかなようにs++jl1吋に示し
た1層3のpJ脅4に近い側に2層4 +=n+in゛
族元素(鋒寿イ11う素)添加量に比して低い゛°献嘔
。
素賂加量を有する1層8が形成されている。このような
構造を有する太陽電池として、ステンレス・鋼基板1の
上にPH,、/S 1H4=10 ’の比でP)13ガ
スを8 s H4ガスに混入してグロー放電法により1
層2を堆積し1次いでSiH,のみの1層3と馬ル/
S i H4のガス比を10−6とした1層8を、i贋
金体の膜厚のなかで1層3と1層80膜厚をいろいろ変
化させて成長させ、さらにnの上にH2H,/5iH4
==10”の比のガスから2層4を積層して太陽電池を
製作した。なおこの場合1層8の中に取り込まれるほう
素の量は約I X 1017原子数/ Caでへる。各
太陽電池のAM−1(100m V、/ 7 の光照射
下での特性金測定した結果を第1表に示す。
構造を有する太陽電池として、ステンレス・鋼基板1の
上にPH,、/S 1H4=10 ’の比でP)13ガ
スを8 s H4ガスに混入してグロー放電法により1
層2を堆積し1次いでSiH,のみの1層3と馬ル/
S i H4のガス比を10−6とした1層8を、i贋
金体の膜厚のなかで1層3と1層80膜厚をいろいろ変
化させて成長させ、さらにnの上にH2H,/5iH4
==10”の比のガスから2層4を積層して太陽電池を
製作した。なおこの場合1層8の中に取り込まれるほう
素の量は約I X 1017原子数/ Caでへる。各
太陽電池のAM−1(100m V、/ 7 の光照射
下での特性金測定した結果を第1表に示す。
第 1 表
第1表から明らかなように、B、H,/SiH,のガス
比が10’の時1層膜中の11う素を添加する領域には
最適値がありi贋金体膜厚に対しSiH,のみの1層3
が30%、B*He/ 8 + H4の比が10−6で
形成し7た1層8が70%のとき太陽電池特性はすぐれ
た特性を有し、変換効率に著しい向上を示した。
比が10’の時1層膜中の11う素を添加する領域には
最適値がありi贋金体膜厚に対しSiH,のみの1層3
が30%、B*He/ 8 + H4の比が10−6で
形成し7た1層8が70%のとき太陽電池特性はすぐれ
た特性を有し、変換効率に著しい向上を示した。
第3図にB、H67Si H,の比をO5ppm〜5p
pmの範囲で変化させた場合において、i層内のほう素
を添加しない)ffi 3の割合によって効率が変化す
る様子を示す。B2H6/SiH,の比が2.3.5p
pmの場合には第2表圧示すような最適点が存在するこ
とがわかった。なおり2H6/SiH,の比が1)1k
IO’より大きくなった場合は、開放電圧、形÷1因子
が1層8を設けない場合より低くなり、本癲I明の効果
は得られなかった。
pmの範囲で変化させた場合において、i層内のほう素
を添加しない)ffi 3の割合によって効率が変化す
る様子を示す。B2H6/SiH,の比が2.3.5p
pmの場合には第2表圧示すような最適点が存在するこ
とがわかった。なおり2H6/SiH,の比が1)1k
IO’より大きくなった場合は、開放電圧、形÷1因子
が1層8を設けない場合より低くなり、本癲I明の効果
は得られなかった。
第 2 表
これらの特性向上の主な要因は、短絡光電流の増加と形
状因子の改善である。この要因解析するために、太陽電
池の形状因子の波長依存性を調べた。その結果を第4図
に示す。B、H,を添加しない太陽電池に比べ、添加し
た太陽電池の形状因子は長波長側でその感度が改善され
ている。第5図(a)に示すように、短波長光9の入射
の場合・短絡光電流は入射光側に近いi層で発生するキ
ャリアが支配的となり、第5図(blに示すように長波
長光10の入射の場合、短絡光電流は基板側に近いi層
で発生するキャリアが支配的となる。つまり、ITO/
p−1−n/ステンレス基板と形成されたa−8i太て
1電池において、短波長光の場合は、入射光側近・HI
QA 、層で発生したキャリアのうち、正孔はp形層I
IJ\・ ・i正孔に比べ長い。逆に長波長光の場合は、基板側に
近いi層で発生したキャリアのうち正孔はp:1゛ 狐層へ、を子はn形層の走行するが、正孔の走行:距離
は電子に比べて長い。通常不純物を添加しないa−8i
膜の電気伝導度の温度依存性からめた活性化エネルギー
は、約0.65eVであり、弱いn形の電気伝導を示す
。このようなi層を太陽電池に使用した場合太陽電池の
エネルギーバンドプロファイルは第6図(a)の太陽電
池断面模型に対応してその下に示された第6図(b)中
点線51に示すようになり、i層中の内蔵電界の分布は
、第6図(C1中点線52で示すようにi層内の電界分
布に均一性がなくなり、p−i界面近傍に強い電界領域
があり、基板側に近いi層では弱い電界領域、n−1界
面で強い電界領域という分布になっていると推察される
。従って基板側に近い1層で発生したキャリアのうちp
層へと走行する正孔の数は内蔵電界不均一性により再結
合の影響を受け、減少すると思われる。これに対し入射
光側に近いi層に微量の■族元素を添加した場合のエネ
ルギーバンドプロファイルは、第6図(1))中実線6
1で示すよJ’J推察される。従って基板側に近いi層
で発生したキャリアのうちp層へと走行する正孔は再結
合の影響が減少し、特性が改善される。第■族元素の添
加量を増加し、さらにその層の膜厚を厚くすると、逆に
入射光側に近い層で発生したキャリアn/金属基板の構
造を有する薄膜太陽電池のi層を、■族元素を添加しな
い層ばかりでなくp層に近い側に設けられた■族元素を
添加した層とから構成することにより、i層内の電界分
布を均一にし、光の入射により発生したキャリアの走行
中における再結合の影響を少なくし、短絡光電流の増加
と形状因子の改善をもたらして変換効率の高い薄膜太陽
電池を得るものである。本発明は薄膜太陽電池の製造装
、置奮特に追加、変更することなく、太陽電池の特性改
善を可能にするのでその効果はすこぶる大きい。
状因子の改善である。この要因解析するために、太陽電
池の形状因子の波長依存性を調べた。その結果を第4図
に示す。B、H,を添加しない太陽電池に比べ、添加し
た太陽電池の形状因子は長波長側でその感度が改善され
ている。第5図(a)に示すように、短波長光9の入射
の場合・短絡光電流は入射光側に近いi層で発生するキ
ャリアが支配的となり、第5図(blに示すように長波
長光10の入射の場合、短絡光電流は基板側に近いi層
で発生するキャリアが支配的となる。つまり、ITO/
p−1−n/ステンレス基板と形成されたa−8i太て
1電池において、短波長光の場合は、入射光側近・HI
QA 、層で発生したキャリアのうち、正孔はp形層I
IJ\・ ・i正孔に比べ長い。逆に長波長光の場合は、基板側に
近いi層で発生したキャリアのうち正孔はp:1゛ 狐層へ、を子はn形層の走行するが、正孔の走行:距離
は電子に比べて長い。通常不純物を添加しないa−8i
膜の電気伝導度の温度依存性からめた活性化エネルギー
は、約0.65eVであり、弱いn形の電気伝導を示す
。このようなi層を太陽電池に使用した場合太陽電池の
エネルギーバンドプロファイルは第6図(a)の太陽電
池断面模型に対応してその下に示された第6図(b)中
点線51に示すようになり、i層中の内蔵電界の分布は
、第6図(C1中点線52で示すようにi層内の電界分
布に均一性がなくなり、p−i界面近傍に強い電界領域
があり、基板側に近いi層では弱い電界領域、n−1界
面で強い電界領域という分布になっていると推察される
。従って基板側に近い1層で発生したキャリアのうちp
層へと走行する正孔の数は内蔵電界不均一性により再結
合の影響を受け、減少すると思われる。これに対し入射
光側に近いi層に微量の■族元素を添加した場合のエネ
ルギーバンドプロファイルは、第6図(1))中実線6
1で示すよJ’J推察される。従って基板側に近いi層
で発生したキャリアのうちp層へと走行する正孔は再結
合の影響が減少し、特性が改善される。第■族元素の添
加量を増加し、さらにその層の膜厚を厚くすると、逆に
入射光側に近い層で発生したキャリアn/金属基板の構
造を有する薄膜太陽電池のi層を、■族元素を添加しな
い層ばかりでなくp層に近い側に設けられた■族元素を
添加した層とから構成することにより、i層内の電界分
布を均一にし、光の入射により発生したキャリアの走行
中における再結合の影響を少なくし、短絡光電流の増加
と形状因子の改善をもたらして変換効率の高い薄膜太陽
電池を得るものである。本発明は薄膜太陽電池の製造装
、置奮特に追加、変更することなく、太陽電池の特性改
善を可能にするのでその効果はすこぶる大きい。
第1図は従来の薄膜太陽電池の断面図、第2図は本発明
の一実施例の断面図、第3図は本発明の実施例におりる
i層中のほう素添加の厚さの割合による効率の変化を示
す線図、第4図は本発明の実施例および従来の太陽電池
の形状因子の波長依]肴;曲線図、第5図に+l 、
(+)lは太陽電池に光が入射した場合のキャリアの振
舞いを示す模式図で、(a)は1短波長光、(b)は長
波長ブ0の場合、第6図(a)〜(C1は(a)に示す
太陽電池断面模型の位置に対応して、(b)は?(ンド
フロファイル、(C)は電界分布を示した模表゛図であ
る。 1・・・ステンレス鋼基板、2・ a−8i−n層、3
−= a−8i −i層、4 ・−a−8i−p層、5
・・透明導電膜、8・・・はう素添加a−8i−i 層
。 時M午出瀬人 ノ目 旧 裕 部 第4図 75図 χ ?6図
の一実施例の断面図、第3図は本発明の実施例におりる
i層中のほう素添加の厚さの割合による効率の変化を示
す線図、第4図は本発明の実施例および従来の太陽電池
の形状因子の波長依]肴;曲線図、第5図に+l 、
(+)lは太陽電池に光が入射した場合のキャリアの振
舞いを示す模式図で、(a)は1短波長光、(b)は長
波長ブ0の場合、第6図(a)〜(C1は(a)に示す
太陽電池断面模型の位置に対応して、(b)は?(ンド
フロファイル、(C)は電界分布を示した模表゛図であ
る。 1・・・ステンレス鋼基板、2・ a−8i−n層、3
−= a−8i −i層、4 ・−a−8i−p層、5
・・透明導電膜、8・・・はう素添加a−8i−i 層
。 時M午出瀬人 ノ目 旧 裕 部 第4図 75図 χ ?6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)金属基板上にn層を基板側にしたp−1−n構造を
有する半導体薄膜を有し、p層側からの光の入射による
光起電力を生ずるものにおいて、1層の1層に近い側が
ほう素を0.5ないし5 X 1017原子数/ ct
Aを添加した層からなることを特徴とする薄膜太陽電池
。 2、特許請求の範囲第1項記載の電池において、はう素
を2X1017原子数/crI添加した層の厚さがi贋
金体の厚さの30チであることを特徴とする薄膜太陽電
池。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58157975A JPS6050972A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 薄膜太陽電池 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58157975A JPS6050972A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 薄膜太陽電池 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6050972A true JPS6050972A (ja) | 1985-03-22 |
JPH0586677B2 JPH0586677B2 (ja) | 1993-12-13 |
Family
ID=15661513
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58157975A Granted JPS6050972A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 薄膜太陽電池 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6050972A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4692558A (en) * | 1983-05-11 | 1987-09-08 | Chronar Corporation | Counteraction of semiconductor impurity effects |
JPS62224981A (ja) * | 1986-03-27 | 1987-10-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 非晶質半導体素子 |
JPH0232569A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Mitsubishi Electric Corp | アモルファス太陽電池 |
US5032884A (en) * | 1985-11-05 | 1991-07-16 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Semiconductor pin device with interlayer or dopant gradient |
WO2009101925A1 (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-20 | Tokyo Electron Limited | 太陽光発電薄膜を基材に直接に形成した太陽電池 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS56150876A (en) * | 1980-04-24 | 1981-11-21 | Sanyo Electric Co Ltd | Photovoltaic device |
-
1983
- 1983-08-31 JP JP58157975A patent/JPS6050972A/ja active Granted
Patent Citations (2)
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