DE3307784A1 - Infrarot-wandler-geber fuer eine beruehrungslose temperaturmessung - Google Patents

Infrarot-wandler-geber fuer eine beruehrungslose temperaturmessung

Info

Publication number
DE3307784A1
DE3307784A1 DE19833307784 DE3307784A DE3307784A1 DE 3307784 A1 DE3307784 A1 DE 3307784A1 DE 19833307784 DE19833307784 DE 19833307784 DE 3307784 A DE3307784 A DE 3307784A DE 3307784 A1 DE3307784 A1 DE 3307784A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
devices
signal
signal processing
housing
transducer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19833307784
Other languages
English (en)
Other versions
DE3307784C2 (de
Inventor
Keikhosrow 07417 Franklin Lakes N.J. Irani
Michael 07928 Chatham N.J. MacBurney
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MIKRON INSTRUMENT CO Inc
Original Assignee
MIKRON INSTRUMENT CO Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MIKRON INSTRUMENT CO Inc filed Critical MIKRON INSTRUMENT CO Inc
Publication of DE3307784A1 publication Critical patent/DE3307784A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3307784C2 publication Critical patent/DE3307784C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/04—Casings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Description

.. . D , . ··" : Difjl.-Ing. Günther Koch
Europaische Patentvertreter K °
r. η . i α« λ Dipl.-Phys. Dr.Tino Haibach
European Patent Attorneys - zJ - «-"κ·· /
Dipl.-Ing. Rainer Feldkamp
D-8000 München 2 · Kaufingerstraße 8 · Telefon (0 89) 2 60 80 78 · Telex 5 29 513 wakai d
Datum: l\ . MärZ 1983
Unser Zeichen: 17637 - Fk/Vi
MIKRON INSTRUMENT COMPANY, Inc. 445 West Main Street, Wyckoff,
New Jersey 07481
U.S.A.
Infrarot-Wandler-Geber für eine berührungslose Temperaturmessung
Copy '
-υ--3
Die Erfindung bezieht sich auf einen Infrarot-Wandler-Geber für eine berührungslose Temperaturmessung und insbesondere auf einen derartigen Wandler-Geber, der die Strahlung eines Zielgegenstandes im Infrarot-Bereich oder auch im sichtbaren Bereich ausnutzt und lediglich zwei Drähte benötigt, um die Betriebsleistung zu empfangen und um das Ausgangssignal an Empfangs- oder Nutζeinrichtungen zu liefern.
Ein wesentlicher Bestandteil moderner Temperaturmeßsystetne wird durch den Wandler und den zugehörigen Geber gebildet. Der Wandler-Geber (der im folgenden in manchen Fällen als "Instrument" bezeichnet wird) soll normalerweise ein starkes lineares Ausgangssignal, vorzugsweise im Bereich von 4- bis 20 mA Gleichstrom, proportional zur Temperatur des Zielgegenstandes liefern. Ein Stromsignal dieser Art und mit dieser Größe kann in einfacher Weise zu Empfangs- oder Nutzausrüstungen übertragen werden, und zwar praktisch ohne Signalverluste aufgrund des Widerstandes der Jbertragungsleitung.
Derartige Instrumente, die die gewünschten Stromsignale liefern, waren bisher ausschließlich vom Kontakt-Typ, d. h. v-n einem Typ, bei dem eine direkte Berührung zwischen Wandler und dem Zielgegenstand besteht.
Andererseits ist es bereits bekannt, eine Oberflächentemperatur eines Gegenstandes berührungslos zu messen (US-PS 4 005 005). Diese Prinzipien einer berührungslosen Temperaturmessung wurden in großem Ausmaß in einer Vielzahl
copy]
von industriellen, wissenschaftlichen und medizinischen Anwendungen verwendet. Typische Wandler-Geber dieser Art bestehen aus einem Heßkopf,einer Elektronikbaugruppe, die von dem Meßkopf entfernt angeordnet ist, und aus einem Kabel oder einer Übertragungsleitung, die den Keßkopf und die Elektronikbaugruppe miteinander verbindet. Typischerweise enthält der Heßkopf optische Elemente zum Auffangen und Fokussieren der Strahlung, einen Detektor zum Empfang der aufgefangenen Strahlung, bestimmte elektronische Elemente sowie gegebenenfalls eine Visiereinrichtung. Dieser Keßkopf ist in der Nähe des Zielgegenstandes angeordnet. Die Elektronikbaugruppe dient typischerweise zur Verstärkung eines von dem Keßkopf gelieferten Signals und zur Verarbeitung des Signals, um unter anderem eine Einstellung auf vorgegebenes Emissionsvermögen, eine Linearisierung des Signals sowie eine Kompensation von Umgebungstemperatureinflüssen zu ermöglichen. Die Elektronikbaugruppe, die normalerweise im Bereich eines Kontrollraumes angeordnet ist, kann eine Vielzahl von mV- und oiA-Aussangssignalen liefern, so daß diese Baugruppe mit einer ausgewählten Anzeige- oder Steuereinrichtung verwendbar ist.
Das Kabel oder die übertragungsleitung verbindet den Meßkopf und die Elektronikbaugruppe. Das Kabel dieser bekannten Wandler-Geber kann irgendeine Anzahl von Leitern, ausgehend von zwei Leitern bis zu einer Vielzahl von Leitern, aufweisen und wird typischerweise durch ein abgeschirmtes Instrumentenkabel gebildet, um einen geeigneten Betrieb des Gesamtsystems sicherzustellen. Weil das von dem Keßkopf erzeugte Signal normalerweise keinen hohen Quellenwiderstand aufweist, stellt der
übertragungsleitungs-Widerstand einen begrenzenden Faktor hinsichtlich der Erzielung einer hohen Genauigkeit dar, wenn lange Kabel verwendet werden müssen.
Eine Schwierigkeit, die sich bei bekannten Zweidraht-Infrarot-Wandlerkonstrukticnen ergab, die in der Lage waren, mit üblichen Leistungsversorgungen zu arbeiten, die 12 bis 40 V Gleichspannung liefern und die das gewünschte Ausgangssignal mit 4· bis 20 mA Gleichstrom liefern, das proportional zur gemessenen Temperatur ist, ergab sich aus der Tatsache, daß ein maximaler Strom von 4- tnA bei 12 V (insgesamt 48 mW) für den Verbrauch durch den gesamten Wandler zur Verfügung steht. Bei bekannten Wandler-Gebern wurde zur Messung der Temperatur von eine niedrige Temperatur aufweisenden Gegenständen (d. h. in der Nähe von Raumtemperatur) die Technik des Zerhackens oder die des Abtastens der einfallenden Strahlung verwendet. Weiterhin war zur Kompensation von ümgebungstemperaturänderungen des Meßkopfes üblicherweise ein Hohlraum mit konstanter Temperatur als Bezugstemperaturquelle erforderlich. Beide dieser Techniken erfordern Betriebsleistung in einem derartigen Ausmaß, daß der minimale Leistungsbedarf von Geräten, die diese Wandler-Geber verwenden, die zur Verfügung stehenden 4-8 mW überschreitet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Wandler-Geber der eingangs genannten Art zu schaffen, der die erforderliche Genauigkeit und Empfindlichkeit aufweist, jedoch andererseits einen so geringen Leistungsbedarf an einer Zv/eidraht-Leitun^ aufweist, daß keine Zerhacker, Abtasteinrichtungen oder Bezugshohlräume erforderlich sind.
Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs Λ angegebene Erfindung gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Der erfindungsgemäße Wandler-Geber ermöglicht eine berührungslose Temperaturmessung und erzeugt das gewünschte Gleichstrora-Ausgangssignal mit 4- bis 20 mA, das linear proportional zur Temperatur ist. Hierbei werden lediglich zwei Drähte für die Leistungsversorgung und für das Ausgangssignsl sjo. die Nutzausrüstungen benötigt.
Weil der Wandler-Geber zur Fernanzeige dient, kann er mit zulässigen Temperatur- und Druckabsperreinrichtungen für einen sicheren Betrieb an gefährlichen Positionen verwendet werden, und er weist weiterhin keine beweglichen Teile auf. Die Eigenschaften des erfindungsgemäßen Wandler-Gebers sind entsprechend üblichen Temperaturmeßeinrichtungen, die nicht berührungslos arbeiten, wie beispielsweise Thermokreuze und Widerstandsthermometer, weit überlegen.
Im Gegensatz zu bekannten Systemen wird bei dem erfindungsgenäßen Wandler-Geber das gewünschte lineare Ausgangssignal durch einen in sich abgeschlossenen Wandler-Geber erzeugt, so daß es nicht erforderlich ist, eine Vielleiter—Übertragungsleitung zu verwenden. Eine einzige Einheit, die an einer ungeregelten Leistungsversorgung betrieben werden kann, liefert einen vielseitigen und äußerst erwünschten Zweidraht-Ausgang.
Der Leistungsbedarf des erfindungsgemäßen Wandler-Gebers ist sehr gering, so daß er ohne weiteres den gewünschten Gleichstrom-Ausgang von 4- bis 20 mA liefern kann. Selbstverständlich können auch andere weniger übliche Strombereiche verwendet werden, beispielsweise 10 bis 50 mA oder dergleichen. Selbst ein Betriebsstrombereich von 1 bis 5 rnA ist theoretisch möglich.
Der erfindungsgemäße Wandler-Geber weist ein Gehäuse einer Öffnung für den Eintritt der Strahlung von einem Zielgegenstand auf. In der Öffnung sind optische Einrichtungen und ein Strahlungsdetektor angeordnet, der die Strahlung von den optischen Einrichtungen empfängt. In dem Gehäuse sind weiterhin elektronische Bauteile in Abstand von den Wänden des Gehäuses angeordnet und diese elektronischen Bauteile sprechen auf ein von den Strahlungsdetektoreinrichtungen erzeugtes Signal an. Die elektronischen Bauteile verstärken das Ausgangssignal des Detektors auf einen geeigneten Pegel, führen eine Kompensation gegenüber Umgebungstemperaturänderungen durch, ermöglichen die erforderlichen externen Einstellungen für das Emissionsvermögen, linearisieren das Signal und liefern schließlich einen Ausgangsstrom (vorzugsweise in Bereich von 4- bis 20 mA für den vollen Skalenbereich) zur übertragung an eine "Last". Der Wandler-Geber kann trotz seiner Ausbildung für eine berührungslose Temperaturmessung mit einer Zweidraht-Leistungsversorgung betrieben werden und er liefert einen Zweidraht-Ausgang, der mit üblichen Meß-, Anzeige-, Aufzeichnungs- oder Steuergeräten verwendet werden kann.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von in der
' COPV
Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen noch naher erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform eines Infrarot-Wandler-Gebers für eine berührungslose Temperaturmessung,
Pig. 2 eine Querschnittsansicht entlang der Linie 2-2 nach Fig. 1,
Fig. 3 eine Ausführungsforni eines Blockschaltbildes des Wandler-Gebers.
In den Zeichnungen ist eine allgemein mit 10 bezeichnete Ausführungsform des Wandler-Gebers gezeigt.
Der Wandler-Geber 10 ist an einer nur ein Beispiel bildenden Halterung 12 befestigt, die in der Fraxis durch eine thermische oder andere Umgebungsbegrenzung, wie beispielsweise durch die Wand eines Kessels oder eines anderen Gefäßes gebildet sein kann. Der Wandler-Geber 10 ist auf einen Zielgegenstand gerichtet, der durch :en Buchstaben "T" bezeichnet ist, er steht jedoch mit diesem Zielgegenstand nicht in Berührung.
Vie dies aus den Fig. 1 und 2 zu erkennen ist, schließt der Wandler-Geb'sr 10 ein Gehäuse 14 ein, das bei der dargestellten Ausführungsforn eine allgemein langgestreckte Form aufweist. Das Gehäuse 14· des Wandler-Gebers besteht
"■? copy '
AS
zur Erzielung einer einfachen Montage und Demontage aus drei Teilen, doch könnten auch andere äquivalente Konstruktionen ohne weiteres verwendet werden. Bei der dargestellten Ausführungsform umfaßt das Gehäuse 14- einen Hauptteil 16, der eine Öffnung 18 (siehe Fig. 2) aufweist, die sich in einen Hohlraum 20 öffnet. Sine hintere Abdeckkappe 22 verschließt das hintere Ende des Gehäuses 14-, und eine Schutzkappe 2A- ist an der hinteren Abdeckkappe 22 beispielsweise durch eine Befestigungsschraube 26 befestigt. Die Schutzkappe 24- dient zum Schutz der elektrischen Verbindungen und der Steuereinrichtungen, die mit der hinteren Deckkappe 22 verbunden sind.
',7ie dies aus Fig. 2 zu erkennen ist, ist in dem Gehäuse 14- und in axialer Ausrichtung ciit der öffnung 13 eine optische Baugruppe 28 angeordnet. Die optische Baugruppe kann beugende oder reflektierende optische Elemente, wie beispielsweise eine Linse, einen konkaven Spiegel, !Faseroptiken oder irgendwelche Kombinationen derartiger Elemente einschließen, die dazu dienen, einfallende Strahlung von dem Zielgegenstand T zu sammeln und auf eine Detektorbaugruppe 30 zu lenken. Die von der optischen Baugruppe 28 übertragene Strahlung wird insbesondere auf der Detektorbaugruppe 30 aufgefangen und auf dieser fokussiert, Die Detektorbaugruppe 30 schließt vorzugsweise ein geeignetes Infrarot-Filter 32 und einen Infrarot-Detektor 34-bekannter Art ein (beispielsweise einen Detektor vom Silicium-, Germanium- oder Thermosäulen-Typ), wobei das Filter 32 dazu dient, unerwünschte Strahlung daran zu hindern, auf den Detektor 34- zu gelangen. Der Detektor 54-wandelt die einfallende Infrarot-Strahlung in ein elektrisches Signal um, das eine Funktion der Intensität der
λ\ο
einfallenden Strahlung ist. Die vorstehend beschriebenen optischen Bauteile können weiterhin ein nicht gezeigtes parallaxenfreies Visiersystem einschließen, um die Ausrichtung des Wandler-Gebers 10 auf den Zielgegenstand zu erleichtern.
In dem Hohlraum 20 des Gehäuses 14 sind gedruckte Schaltungen angeordnet, die mit der Bezugsziffer J>& bezeichnet sind und auf denen die allgemein mit der Bezugsziffer 38 bezeichneten elektronischen Bauteile des Wandler-Gebers befestigt sind. Bei einer bevorzugten Ausführungsform des Wandler-Gebers 10 erstrecken sich die gedruckten Schaltungen 3& von der hinteren Abdeckkappe 22 nach vorne und sie sind vorzugsweise in Abstand von den Wänden des Hohlraumes 20 gehaltert, so daß die elektronischen Bauteile 58 so weit wie möglich von den Wänden getrennt sind, damit thermische Wirkungen in dem Hohlraum 20 so weit wie möglich verringert werden.
Die elektronischen Bauteile 38 verstärken insgesamt das Ausgangssignal der Detektorbaugruppe 30 auf einen geeigneten .Pegel und wandeln dann das Signal derart, daß sich schließlich ein linearer Ausgangsstrom ergibt, der proportional zur Temperatur des Zielgegenstandes ist und der beispielsweise in einem Bereich von 4 bis 20 mA Gleichstrom für den vollen Skalenbereich liegt. Der Ausgangsstrom kann von dem Wandler-Geber 10 über eine Zweidraht-Ausgangs-/Versorgungsleitung 42 zu Meß-, Anzeige-, Aufzeichnungs- oder Steuergeräten geleitet werden, die in der Nähe oder in einer Entfernung von dem Wandler-Geber 10 angeordnet sind.
Copy f
Anhand der Pig. 2 und 3 wird der Aufbau und die Betriebsweise der elektronischen Bauteile 38 ausführlicher beschrieben.
Bei der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird das von dem Detektor 3^ erzeugte Signal zunächst durch eine erste und eine zweite Stufe bildende Verstärker ^4 und 46 verstärkt.
Der die erste Stufe bildende Verstärker 44 ist ein nichtinvertierender Operationsverstärker, vorzugsweise vom TJmschalt-Typ mit automatischem Nullpunkt, wie er unter der Typenbezeichnung IGL 7601 von der Firma Intersil erhältlich ist. Ein derartiger Operationsverstärker weist praktisch keine Offset-Spannung und keinen Temperaturkoeffizienten auf.
Der die zweite Stufe bildende Verstärker 46 ist ein Zweifach-Operationsverstärker. Der Verstärker 46 empfängt ein Signal von dem Verstärker 44 und verstärkt es unter Verwendung einer Hälfte des Verstärkers 46. Die Verstärkung des Verstärkers 46 ist von außen mit Hilfe eines Potentiometers 58 einstellbar (das schematisch in Fig. 2 gezeigt ist), das eine Kompensation von unterschiedlichen Emissionsvermögen der Zielgegenstände ermöglicht. Eine Kompensation von unterschiedlichen Detektorempfindlichkeiten wird weiter unten erläutert. Die Verstärkung des Detektors 34- vergrößert sich, wenn die Detektortemperatur ansteigt. Zur Kompensation kann ein Thermistor 49 zusammen mit dem Potentiometer 58 in der (nicht dargestellten) G-egenkopplungsschleife des Verstärkers 46 angeordnet werden. Der Thermistor 49, der elektrisch einen positiven
copy I
-Vf-
Temperaturkoeffizienten auf v/eist, ist in der in den Fig.
2 und 3 gezeigten Weise "benachbart zu dem Detektor 34 angeordnet, und sein Temperaturkoeffizient ist an die Temperature harakteristik des Detektors 34 angepaßt. Bei einer derartigen Anordnung ändern Änderungen des Gegenkopplungswiderstandes aufgrund der Widerstandsänderung des Thermistors 49 die Verstärkung des Verstärkers 4-6.
Es wird weiterhin eine Kompensation der Umgebungs-(Gehäuse) Temperaturen für das Signal des Verstärkers 46 verwendet. Es ist verständlich, daß der Detektor 34 nur dann ein Signal liefert, wenn die Temperatur des Ziels T von der des Detektors 34 abweicht. Wenn das Ziel T und der Detektor 34 die gleiche Temperatur aufweisen, so muß ein ■'Schein"-5ignal geschaffen werden, um ein Signal zu liefern, das die Zielteaperatur darstellt. In den Pig. 2 und
3 liefert ein passiver Heßfühler 48, der durch einen Thermistor mit einem negativen Temperaturkoeffizxenten gebildet wird, ein gehäusetemperatur-abhängiges Signal, das die Differenz zwischen dem Ausgangssignal des Detektors 34 und einer bekannten Bezugstemperatur nachbildet (beispielsweise 0 0G oder 0 0F). Dieses "Nachbildungs"-Signal wird bei der bevorzugten Ausführungsform durch eine Hälfte des Verstärkers 46 gepuffert und dann an einen Summierglied 50 zum Ausgangssignal von der anderen Hälfte des Verstärkers 46 hinzuaddiert, um ein zusammengesetztes nicht-lineares Ausgangssignal zu liefern, das die Temperatur des Zielgegenstandes T darstellt.
Unterschiedliche Zmissionseigenschaften des Zielgegenstandes können dadurch kompensiert werden, daß die Verstärkung des Verstärkers 46 eingestellt wird. Sine
COPY
Möglichkeit hierzu besteht in der Verwendung des obengenannten Potentiometers 58 als Spannungsteiler in der Gegenkopplungsschleife des Verstärkers 46. Die Kompensation des Emissionsvermögens könnte weiterhin durch Einstellung der Verstärkung des die erste Stufe bildenden Verstärkers 44· erreicht werden, wenn dies erwünscht ist. Eine weitere externe Einstellung (beispielsweise durch ein weiteres nicht gezeigtes Potentiometer) kann für die Einstellung der Gesamtverstärkung des Verstärkers 4-6 vorgesehen sein, um den Gesamtskalenbereich des Vandler-Gebers festzulegen.
Das zus cUhgi enge setzte Signal von dem Sumaierglied 50 wird einer Linearisierschaltung 52 zugeführt, die übliche Analog- oder Digitaltechniken verwendet (wie sie beispielsweise in der US-PS 4 081 678 beschrieben sind).
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung addiert die Linearisierschaltung 52 zum zusammengesetzten Signal von dem Summierglied 50 eine feste Spannung, die das Signal auf den absoluten Nullpunkt (0 K oder -273 °G) bezieht, und das zusammengesetzte, auf den absoluten Nullpunkt bezogene Signal wird dann in einer. Iz. Handel erhältlichen integrierten I-Iehrfunktions-Schaltungsnodul entsprechend der Gleichung
Vm = V
m out
verarbeitet, wobei der geeignete Exponent "m'! durch die Konstruktion der vorstehend beschriebenen Detektor- und Kompensationsschaltungen bestimmt ist. Bei der
bevorzugten Ausführungsform der Erfindung verwendet die Linearisierschaltung 52 als Mehrfunktionsmodul die integrierte Schaltung NOLH1OO94- CD der Firma National Semiconductor.
Das Ausgangssignal der Linearisierschaltung 52 wird einer Signalaufbereitungsschaltung 5^- zugeführt, die durch einen invertierenden Operationsverstärker gebildet ist. Die Signalaufbereitungsschaltung 5^· subtrahiert eine feste Spannung, um den 0 °K-Bezug zu beseitigen, der vorher in das Signal mit Hilfe der Linearisierschaltung 52 eingeführt worden war. An diesem Punkt ist das Signal linear von Anfang bis zum Ende des Temperaturbereichs. Dieses Spannungssignal kann dann ciit Hilfe eines Strom-/Spannungswandlers 56 umgewandelt werden, um ein lineares Stromsignal zu erzeugen, das proportional zur Temperatur des Zielgegenstandes T ist.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform des V/andler-Gebers 10 erzeugt der 5pannungs-/Stromwandler 56 ein lineares Stromsignal in einem Bereich von 0 bis 16 mA. Bei dieser Ausführungsform war ein Eingangsstrom von 4- mA Gleichstrom zum Betrieb der elektronischen Schaltungen erforderlich, so da_ß der Wandler-Geber 10 ein lineares Ausgangs signal von 4- bis 20 mA Gleichstrom erzeugte (dabei entsprechen A- mA Gleichstrom dem Anfang des gemessenen Temperaturbereichs und 20 mA Gleichstrom dem Ende dieses Bereiches). Verschiedene übliche Ausgangseinrichtungen, die für einen Zweidraht-oignaleingang ausgelegt sind, wie beispielsweise Aufzeichnungsgeräte, Steuergeräte und Anzeigegeräte und dergleichen (die in Fig. 3 als "LastM bezeichnet sind und die Bezugsziffer 60 aufweisen), können
I Copy *
eine Teaperaturanzeige in Abhängigkeit von dem Ausgangssignal des Wandler-Gebers 10 liefern. Der Eingangswiderstand der Last 50 kann sich zwischen O und 1500 Ohm ohne Verlust an Heßgenauigkeit ändern.
Wie dies aus Fig. 2 zu erkennen ist, weist die hintere Abdeckkappe 22 Schraubanschlüsse zura Anschluß der oben erwähnten Leitung 42 auf und ermöglicht weiterhin einen Zugang an Steuereinrichtungen', beispielsweise für das Potentiometer 53 (Emissionsvermögen) und für andere Eicheinstellungen.
Wie dies in Fig. 3 zu erkennen ist, besteht ein wesentlicher Vorteil des beschriebenen Wandler-Gebers daxin, daß er das gewünschte lineare Ausgangssignal unter Verwendung von lediglich zwei Drähten für die Eingangsleistung und für das Ausgangssignal liefern kann. Es ist aus Fig. 3 zu erkennen, daß eine einzige Gleichspannungsleistungsversorgung 62 an die beschriebene Ausführungsform des Wandler-Gebers 10 eine Gleichspannung von ungefähr 12 bis 40 V liefert. Der erforderliche Betriebsstrom wird dem Wandler-Geber 10 in Form eines konstanten Gleichstroms von 4 nA über einen Speiseregler 64 zugeführt. Dieser Speisestrom von 4 nA, der mit dem Ausgangssignal von 0 bis 16 mA am Verbindungspunkt 65 summiert wird, liefert den gewünschten Ausgangsstron von 4 bis 20 mA an die Last 60.
Der vorstehend beschriebene Wandler-Geber 10 erzielt bei einer äußerst wünschenswerten Zweidraht-Wandlerkonstrulction die Genauigkeit und Empfindlichkeit, die für eine zuverlässige berührungslose Kessung erforderlich ist. Wie
COPY }
- 2Λ -
dies zu erkennen ist, vermeidet der Wandler-Geber jedoch die Notwendigkeit eines Zerhackers oder einer Abtasteinrichtung sowie eines Bezugshohlraumes. Der Leistungsverbrauch des Wandler-Gebers 10 wurde daher so weit wie möglich verringert und es steht entsprechend eine ausreichende eingesparte Leistung für die elektronische Verarbeitung zur Verfügung, damit sich der gewünschte und erforderliche Bereich des linearen Ausgangsstromes ergibt. Bei den Wandler-Geber 10 sind in neuartiger Weise die Funktionen eines getrennten Meßkopfes und der elektronischen Signalverarbeitungseinheit bekannter Art miteinander integriert, und zwar in einem einzigen kompakten Gehäuse 14. Dieses Gehäuse 14 ist ausreichend robust, um normalen industriellen Umgebungseinflüssen zu widerstehen. Der Wandler-Geber 10 kann jedoch in eine (nicht gezeigte) Kühlflüssigkeitshülse eingesetzt oder mit einer (ebenfalls nicht gezeigten) Kühlluftbaugruppe verbunden werden, und wenn der Wandler-Geber auf diese Weise geschützt ist, kann er selbst den härtesten industriellen Bedingungen widerstehen. Wenn beispielsweise Wasser mit einer Temperatur von etwa 24 0G (75 0F) als Kühlmittel verwendet wird, so kann eine Umgebungstemperatur von 230 0C (45O 0F) zugelassen werden, wobei der Wasserverbrauch 15 l/h durch einen Kühlmantel hindurch beträgt. 3ei industriellen Anwendungen mit einer Verunreinigung durch Fremdkörper oder Dampf kann eine Sichtrohr-Luftanblasung bei ztininalem Luftverbrauch einen brauchbaren Betrieb über eine lange Zeit sicherstellen.
Leerseite

Claims (19)

  1. Patentanwälte: ::. : : .; !--pi-pl.-Ing. Curt Wallach Europäische Patentvertreter'' '"""' '"tfrp'-- ' n 9- Günther Koch European Patent Attorneys Dipl.-Phys. Dr.Tino Haibach
  2. Dipl.-Ing. Rainer Feldkamp
  3. D-8000 München 2 · Kaufingerstraße 8 · Telefon (0 89) 2 60 80 78 · Telex 5 29 513 wakai d
  4. Datum: 4. März 1983
  5. Unser Zeichen: 17 637 - Fk/Vi
  6. PATENTANSPRÜCHE:
  7. 7) Wandler-Geber für eine berührungslose Temperaturmessung, mit einem Gehäuse, mit einer in dem Gehäuse angeordneter. Öffnung für den Eintritt der Strahlung von einem Zielgegenstand in das Gehäuse, mit optischen Einrichtungen in der Öffnung und in axialer Ausrichtung mit dieser, und mit Strahlungsdetektoreinrichtungen, die in dem Gehäuse in optischer Ausrichtung mit den optischen Einrichtungen angeordnet sind und die von den optischen Einrichtungen übertragene Strahlung empfangen, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Gehäuse Signalverarbeitungseinrichtungen (36, 38, 46, 48, 50, 52) angeordnet sind, die ein von den Strahlungsdetektoreinrichtungen (30; erzeugtes elektrisches Detektorsignal verarbeiten und ein Zweidraht-Stromausgangssignal erzeugen, das linear proportional zur Temperatur des Zielgegenstandes (T) ist und im Bereich von 1 bis 50 m A Gleichstrom liegt.
    2. Wandler-Geber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse langgestreckt ist und hintereinander die optischen Einrichtungen (28), die Strahlungsdetektoreinrichtungen (30) und die Signalverarbeitungseinrichtungen (36, 38, 46, 48, 50, 52) aufnimmt.
    COPY ]
    3. Wandler-Geber nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß das Ausgangssignal der Signalverarbeitungseinrichtungen (3 8) ein Strom ist, der linear proportional zur Temperatur eines Zielgegenstandes ist und im Bereich von ungefähr 4 bis 20 mA Gleichstrom liegt.
    4. Wandler-Geber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß eine Zweidrahtleitung (42) vorgesehen ist, die elektrisch mit den Signalverarbeitungseinrichtungen (3 8) verbunden ist und die Betriebsleistungszuführungs- und Signalausgangs leitungseinr ich tungen für die Signalverarbeitungseinrichtungen (38) bildet, daß Leistungsversorgungs-Spannungsreglereinrichtungen (64) betriebsmäßig mit der Zweidrahtleitung (42) verbunden sind, um den Signalverarbeitungseinrichtungen (38) einen konstanten Eingangsstrom zuzuführen, und daß elektrische Schaltungseinrichtungen vorgesehen sind, die den Eingangsstrom und den Ausgangsstrom der Signalverarbeitungseinrichtungen (38) addieren, um das Ausgangssignal des Wandler-Gebers (10) zu liefern.
    5. Wandler-Geber nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß die Zweidraht-
    _ "Z. „
    Leitung elektrisch mit einer entfernt angeordneten Leistungsversorgung (62) und einer Last (60) verbindbar ist.
    Wandler-Geber nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungseinrichtungen (38) Verstärkereinrichtungen (44-) zur Verstärkung des Detektorsignals, Einrichtungen (4-8) zur Messung der Umgebungstemperatur in dem Gehäuse (14·) und zur Erzeugung · eines Umgebungstemperatursignals in Abhängigkeit von der Umgebungstemperatur in dem Gehäuse, Einrichtungen (50) zur Summierung des Umgebungstemperatursignals und des Detektorsignals und Einrichtungen (52, 54-) zur Linearisierung und Aufbereitung der summierten Signale einschließen.
    7· Wandler-Geber nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet , daß die Signalverarbeitungseinrichtungen einen Zweidraht-Ausgang liefern.
  8. 8. Wandler-Geber nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet , daß die Verstärkereinrichtungen selektiv einstellbare Einrichtungen (58) zur Kompensation des Emissionsvermögens einschließen.
  9. 9. Wandler-Geber nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet , daß die Zweidraht-
    copy
    Leitung (4-2) elektrisch rait den Signalverarbeitungseinrichtungen (38) verbunden ist, um die Betriebsleistungszufuhr- und Signalausgangseinrichtungen für die Signalverarbeitungseinrichtungen (38) zu bilden, daß Betriebsspannungs-Regeleinrichtungen (64) mit der Zweidraht-Leitung (42) verbunden sind, um einen konstanten Eingangsstrom an die Signalverarbeitur.gseinrichtungen (38) zu liefern, und daß elektrische Schaltungseinrichtungen zur Addition des Betriebsstromes und des Ausgangsstromes der Signalverarbeitungseinrichtungen vorgesehen sind, um das Ausgangssignal des Wandler-Gebers (10) zu liefern.
  10. 10. v/andler-Geber nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet , daß die Signalverarbeitungseinrichtungen (38) zu den Strahlungsdetektoreinrichtungen (30) benachbarte Einrichtungen (48) zur Messung der Temperatur der Strahlungsdetektoreinrichtungen und zur Erzeugung eines von der Temperatur der Detektoreinrichtungen abhängigen Signals und Einrichtungen (50) zur Zuführung des von der Temperatur der Detektoreinrichtungen abhängigen Signals an die Signalverarbeitungseinrichtungen derart umfassen, daß eine Kompensation des Detektorsignals gegenüber der Temperatur der Detektoreinrichtungen erzielt wird.
  11. 11. Wandler-Geber nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet , daß die Signalverarbeitungseinrichtungen ein Zweidraht-Ausgangssignal liefern.
    Copy
  12. 12. Wandler-Geber nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet , daß die Verstärkereinrichtungen selektiv einstellbare Einrichtungen (58) zur Kompensation des Emissionsvermögens einschließen.
  13. 13· Wandler-Geber nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet , daß eine Zweidraht-Leitung (42) elektrisch mit den Signalverarbeitungseinrichtungen (38) verbunden ist, um Betriebsleistungseingangs- und Signalausgangseinrichtungen für die SignalVerarbeitungseinrichtungen zu bilden, daß Betriebsspannungs-Eegeleinrichtungen (64-) betriebsmäßig mit der Zweidraht-Leitung (4-2) verbunden sind, um an die Signalverarbeitungseinrichtungen einen konstanten Eingangsstrom zu liefern, und daß elektrische Schaltungseinrichtungen vorgesehen sind, die den Ξϊη-gangsstrom und den Ausgangsstrom der Signalverarbeitungseinrichtungen addieren und das Ausgangssignal des Wandler-Gebers bilden.
    14·. Wandler-Geber für eine berührungslose Temperaturmessung, dadurch gekennzeichnet, daß ein allgemein langgestrecktes Gehäuse (14-) vorgesehen ist, daß in dem Gehäuse (14-) eine öffnung (18) für den Eintritt einer Strahlung von einem Zielgegenstand (T) in das Gehäuse ausgebildet ist, daß in der öffnung (18) optische Einrichtungen (28) in axialer Ausrichtung mit der Öffnung angeordnet sind, daß Strahlungsdetektoreinrichtungen (30) in dem Gehäuse (14-) in optischer Ausrichtung mit den optischen
    COPY ]
    Einrichtungen (28) angeordnet sind und die von den optischen Einrichtungen übertragene Strahlung empfangen, daß Signalverarbeitungseinrichtungen (38) in dem Gehäuse (14) zur Verarbeitung eines von den Detektoreinrichtungen (30) erzeugten Detektorsignals und zur Erzeugung eines Zweidraht-Ausgangsstromsignals angeordnet sind, das linear proportional zur Temperatur des Zielgegenstandes ist und im Bereich von ungefähr 1 bis 50 mA Gleichspannung liegt, und daß in dem Gehäuse (
  14. 14) Befestigungseinrichtungen für die Signalverarbeitungseinrichtungen angeordnet sind, wobei diese Befestigungseinrichtungen gedruckte Schaltungen (36) einschließen, die an dem Gehäuse (14) befestigt sind, um die Signalverarbeitungseinrichtungen in Abstand von den Wänden des Gehäuses (14) zu haltern.
  15. 15· Wandler-Geber nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet , daß das Ausgangsstroasignal im Bereich von ungefähr 4 bis 20 mA Gleichstrom liegt.
  16. 16. Wandler-Geber nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse (14) eine hintere Abdeckkappe (22) aufweist, an der die gedruckten Schaltungen (36) befestigt sind und von dieser aus in das Innere des Gehäuses vorspringen.
  17. 17· Wandler-Geber nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse eine rohrförmige Bohrung aufweist, daß die optischen Einrichtungen (28) in axialer Ausrichtung mit der
    COPY ί
    Bohrung angeordnet sind und daß die Detektoreinrichtungen (30) in dem Gehäuse (14) in axialer Ausrichtung mit der Bohrung und den optischen Einrichtungen angeordnet sind.
  18. 18. Wandler-Geber nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet , daß die hintere Abdeckkappe (22) in axialer Ausrichtung mit der Bohrung und von dieser entfernt angeordnet ist und daß die gedruckten Schaltungen (36) von der hinteren Abdeckkappe (22) nach vorne in Richtung auf die Bohrung vorspringen.
  19. 19. Wandler-Geber nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet , daß eine Zweidraht-Leitung (42) elektrisch mit den Signalverarbeitungseinrichtungen (38) verbunden ist, um den Zweidraht-Ausgang sowie eine Betriebsleistungszufuhreinrichtung für die Signalverarbeitungseinrichtungen (38) zu bilden, daß Betriebsspannungsregeleinrichtungen (64) betriebsmäßig mit der Zweidraht-Leitung (42) verbunden sind, um den SignalVerarbeitungseinrichtungen einen konstanten Eingangsstrom zuzuführen, und daß elektrische Schaltungseinrichtungen zur Addition des Eingangsstromes und des Ausgangsstromes der Signalverarbeitungseinrichtungen zur Bildung des Ausgangssignals des Wandler-Gebers vorgesehen sind.
    COPY
DE19833307784 1982-03-04 1983-03-04 Infrarot-wandler-geber fuer eine beruehrungslose temperaturmessung Granted DE3307784A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/354,605 US4527896A (en) 1982-03-04 1982-03-04 Infrared transducer-transmitter for non-contact temperature measurement

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3307784A1 true DE3307784A1 (de) 1983-11-17
DE3307784C2 DE3307784C2 (de) 1989-09-14

Family

ID=23394110

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833307784 Granted DE3307784A1 (de) 1982-03-04 1983-03-04 Infrarot-wandler-geber fuer eine beruehrungslose temperaturmessung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4527896A (de)
JP (1) JPS58202851A (de)
DE (1) DE3307784A1 (de)
GB (1) GB2119925B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3934007A1 (de) * 1989-03-31 1990-10-04 Fischer & Porter Co Zweidraht-fernmesseinrichtung

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4671458A (en) * 1985-02-25 1987-06-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Air conditioning apparatus
USRE34789E (en) * 1985-04-17 1994-11-15 Thermoscan Inc. Infrared electronic thermometer and method for measuring temperature
EP0786649B1 (de) * 1985-04-17 2002-07-03 Thermoscan Inc. Elektronisches Infrarotthermometer und Verfahren zur Temperaturmessung
JPS62112021A (ja) * 1985-11-11 1987-05-23 Minolta Camera Co Ltd 焦電型温度センサ
JPS62163937A (ja) * 1986-01-14 1987-07-20 Furuno Electric Co Ltd 赤外線センサを用いた温度測定装置
ATE109274T1 (de) * 1986-06-20 1994-08-15 Lehmann Martin Verfahren zum berührungslosen messen einer temperatur von einem körper sowie anordnung hierfür.
GB8629492D0 (en) * 1986-12-10 1987-01-21 Smiths Industries Plc Optical radiation sensor apparatus
GB8706507D0 (en) * 1987-03-19 1987-04-23 Land Infrared Ltd Radiation thermometer
US4817922A (en) * 1987-10-23 1989-04-04 The Goodyear Tire & Rubber Company Airspring height sensor
US4875782A (en) * 1988-01-25 1989-10-24 Normag Corporation Automated temperature probe apparatus and method
US4907895A (en) * 1988-03-31 1990-03-13 Ivac Corporation Optical chopper for infrared thermometer
US4867574A (en) * 1988-05-19 1989-09-19 Jenkofsky John J Ultra high speed infrared temperature measuring device
US5018872A (en) * 1988-11-01 1991-05-28 Diatek, Inc. Probe assembly for infrared thermometer
US4911559A (en) * 1988-11-01 1990-03-27 Diatek, Inc. Disposable probe cover assembly for medical thermometer
US5011296A (en) * 1989-01-12 1991-04-30 Square D Company Method of using infrared thermometer with remote fiber optic pickup
US4900162A (en) * 1989-03-20 1990-02-13 Ivac Corporation Infrared thermometry system and method
DE4004408A1 (de) * 1990-02-13 1991-08-14 Ultrakust Electronic Gmbh Infrarot-temperatursensor
US5066142A (en) * 1990-03-08 1991-11-19 Ivac Corporation Protective apparatus for a biomedical probe
DE69132890T2 (de) 1990-03-08 2002-08-29 Alaris Medical Syst Inc Thermisch isolierte Sonde
DE4024863A1 (de) * 1990-08-04 1992-02-06 Werner & Pfleiderer Verfahren zur temperaturmessung des mischgutes in einer mischkammer eines kneters
US5225883A (en) * 1991-06-05 1993-07-06 The Babcock & Wilcox Company Video temperature monitor
US5112215A (en) * 1991-06-20 1992-05-12 Physical Sciences, Inc. Apparatus for combustion, pollution and chemical process control
US6115441A (en) * 1991-07-09 2000-09-05 Dallas Semiconductor Corporation Temperature detector systems and methods
US5368038A (en) * 1993-03-08 1994-11-29 Thermoscan Inc. Optical system for an infrared thermometer
DE4331574C2 (de) * 1993-09-16 1997-07-10 Heimann Optoelectronics Gmbh Infrarot-Sensormodul
DE19526557A1 (de) * 1994-07-20 1996-01-25 Raytek Sensorik Gmbh Infrarot-Temperaturmeßgerät
DE19512243A1 (de) * 1995-03-31 1996-10-02 Raytek Gmbh Temperaturmeßgerät
US5650624A (en) * 1995-04-13 1997-07-22 Engelhard Sensor Technologies, Inc. Passive infrared analysis gas sensor
US5721430A (en) * 1995-04-13 1998-02-24 Engelhard Sensor Technologies Inc. Passive and active infrared analysis gas sensors and applicable multichannel detector assembles
US6030117A (en) 1996-11-12 2000-02-29 Trutek, Inc. Tympanic thermometer probe cover
US5833367A (en) 1996-11-12 1998-11-10 Trutek, Inc. Tympanic thermometer probe cover
FR2773213B1 (fr) * 1996-12-11 2001-08-24 Omega Engineering Procede et dispositif pour la mesure par infrarouge de la temperature d'une surface
AU7807898A (en) 1997-06-03 1998-12-21 Trutek, Inc. Tympanic thermometer with modular sensing probe
US5967992A (en) 1998-06-03 1999-10-19 Trutex, Inc. Radiometric temperature measurement based on empirical measurements and linear functions
US6123454A (en) 1999-06-11 2000-09-26 Trutek, Inc. Tympanic thermometer disposable probe cover with further stretching prevention structure
WO2001096825A1 (fr) * 2000-06-13 2001-12-20 Omron Corporation Pyrometre
US6669362B1 (en) 2002-09-20 2003-12-30 Radiant Innovation Inc. Two-way display infrared thermometer
US7434991B2 (en) * 2002-12-12 2008-10-14 Covidien Ag Thermal tympanic thermometer
CA2509033C (en) * 2002-12-12 2011-10-11 Sherwood Services Ag Thermal tympanic thermometer tip
US7354194B2 (en) 2003-01-06 2008-04-08 Covidien Ag Tympanic thermometer probe cover with film support mechanism
US7478946B2 (en) * 2003-01-06 2009-01-20 Covidien Ag Probe cover cassette with improved probe cover support
JP4085828B2 (ja) * 2003-01-31 2008-05-14 株式会社ジェイテクト トルク検出装置
DE10336097B3 (de) * 2003-08-06 2005-03-10 Testo Ag Visiereinrichtung für ein Radiometer sowie Verfahren
DE202005003298U1 (de) * 2005-03-02 2006-07-13 Argillon Gmbh Ultraschallzerstäuber
US20070248141A1 (en) * 2006-04-21 2007-10-25 Sherwood Services Ag Infrared thermometer and probe cover thereof
US8167483B2 (en) * 2009-01-15 2012-05-01 Fluke Corporation Temperature measurement instruments and methods for identifying a selected target area
US20110194585A1 (en) * 2010-02-09 2011-08-11 Abhishek Shrivastava Multiple object non-contact thermometer
US20110228810A1 (en) * 2010-02-09 2011-09-22 O'hara Gary Multiple object talking non-contact thermometer
US10533897B2 (en) * 2015-03-12 2020-01-14 Illinois Tool Works Inc. Method and apparatus for measuring temperature within a given temperature range using a selected temperature sensor
CN105910718A (zh) * 2016-06-08 2016-08-31 程桂红 一种模具温度检测系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4005605A (en) * 1974-07-22 1977-02-01 Mikron Instrument Company, Inc. Remote reading infrared thermometer
US4081678A (en) * 1976-03-01 1978-03-28 Macall Thomas F Through-the-lens thermometer apparatus
DE2705520A1 (de) * 1977-02-10 1978-08-17 Hans Clemens Kugler Temperaturmessgeraet zur beruehrungslosen temperaturmessung
US4142417A (en) * 1978-04-28 1979-03-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior Multichannel infrared pyrometer

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3448283A (en) * 1965-04-28 1969-06-03 Leeds & Northrup Co Radiation pyrometer system substantially independent of ambient temperature changes
US3580678A (en) * 1968-12-18 1971-05-25 Cross Electronics Inc Optical pyrometers
DE2405651B2 (de) * 1974-02-04 1980-08-14 Mannesmann Ag, 4000 Duesseldorf Pyrometer
US3925668A (en) * 1974-03-25 1975-12-09 F S Inc Spectral sensor and method
US4045670A (en) * 1976-09-24 1977-08-30 Williamson Corporation Portable precision radiometer
JPS5942249B2 (ja) * 1976-09-29 1984-10-13 株式会社千野製作所 放射温度計の補償回路
US4233512A (en) * 1978-10-02 1980-11-11 Norman C. Anderson Thermometer for remotely measuring temperature
US4301682A (en) * 1979-08-24 1981-11-24 Everest Charles E Infrared thermometer in making stress-degree measurements for irrigation purposes
JPS56140495A (en) * 1980-03-31 1981-11-02 Yokogawa Electric Works Ltd 2-wire type transmitter
US4456390A (en) * 1981-10-26 1984-06-26 Wahl Instruments, Inc. Noncontact temperature measuring device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4005605A (en) * 1974-07-22 1977-02-01 Mikron Instrument Company, Inc. Remote reading infrared thermometer
US4081678A (en) * 1976-03-01 1978-03-28 Macall Thomas F Through-the-lens thermometer apparatus
DE2705520A1 (de) * 1977-02-10 1978-08-17 Hans Clemens Kugler Temperaturmessgeraet zur beruehrungslosen temperaturmessung
US4142417A (en) * 1978-04-28 1979-03-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior Multichannel infrared pyrometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3934007A1 (de) * 1989-03-31 1990-10-04 Fischer & Porter Co Zweidraht-fernmesseinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
GB2119925A (en) 1983-11-23
US4527896A (en) 1985-07-09
GB8305999D0 (en) 1983-04-07
DE3307784C2 (de) 1989-09-14
GB2119925B (en) 1986-01-22
US4527896B1 (de) 1990-11-06
JPS58202851A (ja) 1983-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3307784A1 (de) Infrarot-wandler-geber fuer eine beruehrungslose temperaturmessung
DE69834242T2 (de) Strahlungsthermometer und verfahren zu seiner justierung
EP0442351B1 (de) Infrarot-Temperatursensor
DE3740693C2 (de) Optisches Strahlungssensorgerät
DE2255993A1 (de) Temperaturmesseinrichtung
DE2947549A1 (de) Faseroptisches temperaturmessgeraet
WO2009089852A1 (de) Wärmebildkamera
DE2518890B2 (de) Linearisierungsvorrichtung
EP0120102A1 (de) Temperaturmesseinrichtung
DE2606434C2 (de) Vorrichtung zur Messung von Kräften durch optoelektronische Bestimmung der Verformung von Prüfkörpern
DE3117158A1 (de) "einrichtung zum ueberwachen der abgaswerte von heizungsanlagen od.dergl."
DE1473505B2 (de) Einrichtung zur Luftdruckmessung in Flugzeugen
DE19929921B4 (de) Luftdurchflußmengenmesser mit wärmeerzeugendem Widerstand
DE102004056807A1 (de) Druck-, Kraft- und/oder Temperatursensor
DE102020126774A1 (de) Mehrkanalige thermoelektrische Messvorrichtung und Verfahren zur Fehlererkennung
EP0065128B1 (de) Einrichtung zur Bestimmung der Sättigungstemperatur einer heissen, unter Druck stehenden Flüssigkeit und Schaltungsanordnung zur Überwachung des Abstandes zur Sättigungstemperatur und der Dampfbildung unter Verwendung dieser Einrichtung
DE3820025C2 (de)
EP1096352B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Temperaturregelung
DE3023304C2 (de) Elektronischer Temperaturregler für Kühl- oder Gefriergeräte mit einem Kompressor
DE2129566A1 (de) Linearisierungsschaltung
EP0337409A2 (de) Strahlungsthermometer
DE2801347C3 (de) Schaltungsanordnung zur Kompensation des Einflusses von Temperaturschwankungen auf das Ausgangssignal eines optischen Halbleiterstrahlungsdetektors
DE60316406T2 (de) Vorrichtung und verfahren zur kalibration von fokalebenendetektoren
DE2451281B2 (de) Meßvers tärker
DE10035343C5 (de) Verfahren zur berührungslosen Temperaturmessung sowie Detektorkopf zur berührungslosen Temperaturmessung

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8331 Complete revocation