DE19512243A1 - Temperaturmeßgerät - Google Patents
TemperaturmeßgerätInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Temperaturmeßgerät gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1.
Zur Temperaturmessung, insbesondere zur berührungslosen
Messung von Meßobjekttemperaturen, werden üblicherweise
sogenannte Pyrometer verwendet. Das Wirkprinzip eines
Pyrometers besteht darin, die von der Oberfläche eines
Meßobjektes ausgehende Infrarotstrahlung in geeigneter
Weise zu erfassen und in einen Temperaturwert umzuset
zen. Dabei wird das Meßsignal nicht alleine durch die
physikalischen Eigenschaften des Meßobjektes bestimmt,
sondern es wird auch durch die Temperaturen des Detek
tors und der Umgebung beeinflußt. So emittiert der op
tische Kanal selbst Infrarotstrahlung, die auf den De
tektor gelangt und in das Meßsignal eingeht. Es sind
daher schon eine Vielzahl von Vorschlägen gemacht wor
den, um diese unerwünschten Temperatureinflüsse auf das
Meßsignal zu kompensieren.
Nach der US-A-4 142 417 werden zwei Infrarotdetektoren
in Brückenschaltung verwendet, wobei nur ein Detektor
mit der Strahlung des Meßobjektes beaufschlagt wird,
während der zweite Infrarotdetektor abgedunkelt bleibt.
Das Ausgangssignal des abgedunkelten Infrarotdetektors
dient zur Kompensation des Temperaturkoeffizienten des
ersten Infrarotdetektors. Diese Kompensationsschaltung
ist relativ aufwendig, da zwei Infrarotdetektoren benö
tigt werden, wobei diese Detektoren untereinander nur
geringe Fertigungstoleranzen aufweisen dürfen. Die Ko
sten für zwei gleichartige Infrarotdetektoren sind ent
sprechend hoch.
Eine Lösung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 wird
beispielsweise in der DE-C-33 07 784 beschrieben. Sie
basiert darauf, die Temperatur des Infrarotdetektors
und die Temperatur der Umgebung mit zwei Meßfühlern un
abhängig voneinander zu messen und an geeigneter Stelle
innerhalb der Schaltung des Pyrometers zur Kompensation
zu verwenden. Es wird dabei ein spezieller Meßfühler
angegeben, dessen Temperaturkoeffizient an die Tempera
turcharakteristik des Detektors angepaßt ist und der
zwecks Anpassung der Verstärkung in die Gegenkopplungs
schleife eines Verstärkers eingebaut wird. Der zweite
Meßfühler, der gegenüber dem ersten Meßfühler einen ne
gativen Temperaturkoeffizienten aufweist, wird zur Bil
dung eines gehäusetemperaturabhängigen Kompensationssi
gnals verwendet. Die Losung ist durch die Verwendung
von zwei Meßfühlern mit verschiedenen Temperaturkoeffi
zienten relativ aufwendig und insbesondere für ein Py
rometer mit separatem, sehr kleinem Meßkopf aus techno
logischen Gründen wenig geeignet.
Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, daß
Temperaturmeßgerät gemäß dem Oberbegriff des Anspruches
1 dahingehend weiterzuentwickeln, daß es schaltungs
technisch einfacher und kostengünstiger herstellbar
ist.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale
des Anspruches 1 gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Bei der erfindungsgemäßen Lösung wird lediglich ein
einziger Meßfühler verwendet, durch den alle erforder
lichen Kompensationssignale erzeugt werden können. Es
wird davon ausgegangen, daß im thermisch ausgeglichenen
Zustand die Temperatur des Detektors auch ein Maß für
die Umgebungstemperatur ist und daher die Verwendung
von zwei Meßfühlern physikalisch nicht begründet ist.
Die Eigenerwärmung des Detektors aufgrund der Absorp
tion von Wärmestrahlung bleibt erwiesenermaßen vernach
lässigbar klein.
Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung wer
den anhand der nachfolgenden Beschreibung und der
Zeichnung näher erläutert.
In der Zeichnung ist als Blockschaltbild ein Tempera
turmeßgerät dargestellt, enthaltend
- a) einen Detektor 1 zur Erzeugung eines Detektorsignals Um in Abhängigkeit von der Temperaturstrahlung eines nicht dargestellten Meßobjekts,
- b) einen Meßfühler 2 zur Erzeugung eines der Temperatur des Detektors 1 entsprechenden Meßfühlersignals
- c) sowie den Einfluß der Temperatur des Detektors kom pensierende Signalverarbeitungseinrichtungen 3, 4, 5, 7 zur Erzeugung eines Meßsignals entsprechend der Temperatur des Meßobjekts.
Der Meßfühler 2 steht in thermischem Kontakt mit dem
als Infrarotdetektor ausgebildeten Detektor 1. Der Meß
fühler 2 wird beispielsweise durch einen temperaturab
hängigen Widerstand, einen sogenannten Thermistor, ge
bildet.
Die Signalverarbeitungseinrichtungen bestehen im we
sentlichen aus einer ersten, zweiten, dritten und vier
ten Signalverarbeitungseinrichtung 3, 4, 5 und 7. Die
erste Signalverarbeitungseinrichtung 3 wird im vorlie
genden Ausführungsbeispiel durch eine Mehrfachstrom
quelle 3 gebildet, in die das Meßfühlersignal, d. h. die
über den Thermistor abfallende Spannung, eingespeist
wird, um drei detektortemperaturabhängige elektrische
Teilsignale, im vorliegenden Fall Teilströme, zu erzeu
gen. Diese Teilströme werden mit einer
Operationsverstärkerschaltung und einem Multitransi
stor-Array erzeugt, wobei die Kollektorströme der Mul
titransistoren die temperaturgesteuerten Teilströme
darstellen.
Die zweite und dritte Signalverarbeitungseinrichtung
werden bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel durch
jeweils einen Multiplizierer 4, 5 gebildet, während die
vierte Signalverarbeitungseinrichtung durch eine Sum
mierstufe 7 verwirklicht wird.
Anhand des Blockschaltbildes wird nachfolgend die Funk
tionsweise des erfindungsgemäßen Temperaturmeßgerätes
erläutert:
Als Meßfühler 2 kommt ein Thermistor mit positivem Tem peraturkoeffizienten zur Anwendung. Der Widerstand des Meßfühlers kann direkt als Steuergröße verwendet werden oder es wird die über diesen Meßfühler abfallende Span nung (bei konstantem Querstrom) als Steuergröße für die weitere Signalverarbeitung verwendet.
Als Meßfühler 2 kommt ein Thermistor mit positivem Tem peraturkoeffizienten zur Anwendung. Der Widerstand des Meßfühlers kann direkt als Steuergröße verwendet werden oder es wird die über diesen Meßfühler abfallende Span nung (bei konstantem Querstrom) als Steuergröße für die weitere Signalverarbeitung verwendet.
Die als Mehrfachstromquelle 3 ausgebildete erste
Signalverarbeitungseinrichtung erzeugt drei Teilströme
I₁ (T), I₂ (T) und I₃ (T)
Die beiden Signalverarbeitungeinrichtungen werden durch Steilheits-Multiplizierer 4 und 5 gebildet. Diese elek tronischen Schaltungen zeichnen sich dadurch aus, daß zusätzlich zu den von Operationsverstärkern bekannten Eingängen Up und Un weitere Steuereingänge Ia, Ib vor handen sind. Durch geeignete Beschaltung dieser zu sätzlichen Eingänge Ia, Ib wird die Steilheit G der Multiplizierer verändert.
Die beiden Signalverarbeitungeinrichtungen werden durch Steilheits-Multiplizierer 4 und 5 gebildet. Diese elek tronischen Schaltungen zeichnen sich dadurch aus, daß zusätzlich zu den von Operationsverstärkern bekannten Eingängen Up und Un weitere Steuereingänge Ia, Ib vor handen sind. Durch geeignete Beschaltung dieser zu sätzlichen Eingänge Ia, Ib wird die Steilheit G der Multiplizierer verändert.
Für das Ausgangssignal I₄(T) des Steilheits-Multipli
zierers 4 gilt formelmäßig folgender Zusammenhang:
I₄(T) = Ia/Ib * G * Um [1]
wobei
Ia, Ib = Steuersignale an den Eingängen Ia und Ib des Multiplizierers
G = nominelle Steilheit des Multipli zierers
Um = verstärktes Meßsignal des Detektors.
Ia, Ib = Steuersignale an den Eingängen Ia und Ib des Multiplizierers
G = nominelle Steilheit des Multipli zierers
Um = verstärktes Meßsignal des Detektors.
Das von einem Verstärker 6 verstärkte Meßsignal des De
tektors 1 ist von der Temperatur des Detektors 1 abhän
gig. Für thermische Detektoren gilt die folgende Abhän
gigkeit
Um = Um(E) * (1 + α₁T) [2]
wobei der Temperaturkoeffizient α₁ vom Detektortyp ab
hängig ist. Typische Werte für α₁ liegen im Bereich von
-1%/K bis +1%/K. Die folgenden Erläuterungen beziehen
sich auf einen Temperaturkoeffizienten α₁ < 0.
Um die detektortemperaturabhängige Detektorempfindlich
keit zu kompensieren ist es bei einem negativen Tempe
raturkoeffizienten im Signal Um erforderlich, die Tem
peraturabhängigkeit des ersten Teilstroms I₁(T) ent
sprechend der folgenden Beziehung einzustellen:
I₁(T) = I₁ * (1 + α₁T) [3]
Dadurch erhält man für das Ausgangssignal I₄(T) des
Multiplizierers 4 in Verbindung mit Formel [1]:
I₄(T) = [Ia/Ib * (1 + α₁T)] * G * Um(E) * (1 + α₁T) [4a]
Darin sind Ia, I₁ und Um(E) temperaturunabhängige Grö
ßen, wodurch auch das Ausgangssignal I₄(T) des Multi
plizierers 4 temperaturunabhängig ist:
I₄(T) = Ia/I₁ * G * Um(E) [4b]
Der in der Mehrfachstromquelle 3 erzeugte zweite Teil
strom I₂(T) erzeugt mit Hilfe des Widerstandes R₂ die
Eingangsspannung Up für den Steilheitsmultiplizierer 5.
Für diesen Multiplizierer gilt (analog zur Formel [1])
die Beziehung
I₅(T) = Ia/b * G * R₂ * I₂(T) [5]
Für I₂(T) wird analog zur Formel [3] die folgende Tem
peraturabhängigkeit eingestellt:
I₂(T) = I₂ * (1 + α₂T) [6]
Auf den invertierenden Eingang Un des Multiplizierers 5
wird ebenfalls ein Strom Ic gegeben, der über einen Wi
derstand R₃ fließt. Dadurch kann der konstante Anteil
innerhalb von I₂(T) variiert und speziell auch auf 0
eingestellt werden. Dadurch vereinfacht sich die Formel
[6] und man erhält für I₂ (T):
I₂(T) = I₂ * α₂T [7]
Der dritte Teilstrom I₃(T) steuert den Übertragungsfak
tor des Steilheits-Multiplizierers 5. Für diesen Strom
gilt ebenfalls eine lineare Beziehung zur Meßgröße Tem
peratur
I₃(T) = I₃ * (1 + α₃T) [8]
Für das Ausgangssignal des Multiplizierers 5 erhält man
aus den Formeln [5], [7], [8] ein detektortemperaturab
hängiges, nichtlineares Offsetsignal I₅(T):
I₅(T) = [I₃ * (1 + α₃T)/Ib * G * R₂ * I₂ * α₂T [9a]
beziehungsweise umgeformt
I₅(T) = α₂′ * T + α₃′ * T² [9b]
Das Ausgangssignal des Multiplizierers 5 ist entspre
chend der Formel [9b] durch ein Polynom zweiter Ordnung
mit der Meßtemperatur T verknüpft. Durch geeignete Wahl
der Temperaturkoeffizienten α₂′ und α₃′ erhält man im
interessierenden Temperaturbereich von 0°C bis 85°C
eine sehr gute Näherung für den zugrundeliegenden phy
sikalischen Zusammenhang: Das Ausgangssignal I₅(T) ist
ein detektortemperaturabhängiges, nichtlineares Offset
signal für ein Meßsignal, daß man für die Berücksichti
gung der Infrarotstrahlung aus der Umgebung des Meßob
jekts benötigt.
Das Offsetsignal I₅(T) wird in einer Summierstufe mit
dem verstärkten und empfindlichkeitskompensierten De
tektorsignal I₄(T) zusammengeführt. Dadurch erhält man
ein offset- und empfindlichkeitskompensiertes Meßsignal
I₇(T), das eine eindeutige Abbildung der Temperatur des
Meßobjekts darstellt. In einer nachgeschalteten Li
nearisierungsstufe 8 kann aus diesem Meßsignal auf
schaltungstechnischem oder rechentechnischem Wege die
Temperatur Tm des Meßobjekts bestimmt und ausgegeben
werden.
In einem weiteren Ausführungsbeispiel wird das Signal
des Detektors 1 auf vereinfachte Weise kompensiert. Als
Temperaturfühler 2 wird ebenfalls ein Thermistor ver
wendet, der als Teil einer Brückenschaltung mit mehre
ren Ausgangssignalen arbeitet. Die Ausgangssignale wer
den durch ein Multitransistor-Array erzeugt, wobei die
Kollektorströme des Multitransistors die temperaturge
steuerten elektrischen Teilsignale darstellen. Eine
Vereinfachung wird durch das Einspeisen eines ersten
Teilstromes I₁′ (T) in den Steuereingang Ia des Steil
heitsmultiplizierers 4 erreicht. Bei einem Temperatur
koeffizienten α′₁ < 0 ergibt sich für I₁′ (T):
I₁′ (T) = I₁′ * (1 + α₁′T) [3′]
Das Ausgangssignal I₄′ (T) des Multiplizierers 4 ergibt
sich durch folgende Beziehung:
I₄′ (T) = [I₁ * (1 + α₁′T)/Ib] * G * Um * (1 + α₁T) [4a′]
und bei α₁′ = -α₁ ergibt sich:
I₄′(T) = I₁ * G/Ib * Um * (1-α₁²T²) [4b′]
wobei mit α₁²T² « 1 der verbleibende Fehler hinrei
chend klein ist.
Claims (9)
1. Temperaturmeßgerät, enthaltend
- a) einen Detektor (1) zur Erzeugung eines Detektorsignals (Um) in Abhängigkeit von der Temperaturstrahlung eines Meßobjekts,
- b) einen Meßfühler (2) zur Erzeugung eines der Temperatur des Detektors entsprechenden Meßfühlersignals
- c) sowie den Einfluß der Temperatur des Detektors kompensierende Signalverarbeitungseinrichtungen (3, 4, 5, 7) zur Erzeugung eines Meßsignals (I₇(T)) entsprechend der Temperatur des Meßob jekts,
gekennzeichnet durch folgende Signalverarbeitungs
einrichtungen:
- d) eine vom Meßfühlersignal gespeiste erste Signal verarbeitungseinrichtung (Mehrfachstromquelle 3) zur Erzeugung von wenigstens drei detektortempe raturabhängigen elektrischen Teilsignalen (I₁(T), I₂(T), I₃(T)),
- e) eine das Detektorsignal (Um) mit dem ersten Teilsignal (I₁(T)) verarbeitende, die detektortemperaturabhängige Detektorempfindlich keit kompensierende zweite Signalverarbeitungs einrichtung (Multiplizierer 4) zur Erzeugung ei nes empfindlichkeitskompensierten Detek torsignals (I₄ (T)),
- f) eine das zweite und dritte Teilsignal (I₂(T), I₃(T)) multiplizierende dritte Signalverarbei tungseinrichtung (Multiplizierer 5) zur Erzeu gung eines detektortemperaturabhängigen, nicht linearen Offsetsignals (I₅(T))
- g) sowie eine das empfindlichkeitskompensierte De tektorsignal (I₄(T)) und das nichtlineare Off setsignal (I₅(T)) summierende vierte Signalver arbeitungseinrichtung (Summierstufe 7) zur Er zeugung eines offset- und empfindlichkeits kompensierten Meßsignals (I₇(T)).
2. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßfühler (2) in thermischem Kontakt mit dem
Detektor 1 steht.
3. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßfühler (2) durch einen temperaturabhängi
gen Widerstand gebildet wird.
4. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Signalverarbeitungseinrichtung durch
integrierte Halbleiterschaltungen in Form von Mehr
fachtransistoren oder Mehrfachstromquellen gebildet
wird.
5. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite und dritte Signalverarbeitungsein
richtung durch jeweils einen Multiplizierer (4, 5)
gebildet wird.
6. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen Detektor (1) und erster signalverarbei
tender Einrichtung (Multiplizierer 4) ein Verstärker
(6) für das Detektorsignal vorgesehen ist.
7. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sich an die vierte signalverarbeitende Einrich
tung (Summierstufe 7) eine Linearisierungsstufe (8)
anschließt.
8. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die drei Teilsignale der ersten Signalverarbei
tungseinrichtung durch drei Teilströme (I₁(T),
I₂(T), I₃(T)) gebildet werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995112243 DE19512243A1 (de) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Temperaturmeßgerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995112243 DE19512243A1 (de) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Temperaturmeßgerät |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19512243A1 true DE19512243A1 (de) | 1996-10-02 |
Family
ID=7758530
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995112243 Withdrawn DE19512243A1 (de) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Temperaturmeßgerät |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19512243A1 (de) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4142417A (en) * | 1978-04-28 | 1979-03-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior | Multichannel infrared pyrometer |
DE3307784C2 (de) * | 1982-03-04 | 1989-09-14 | Mikron Instrument Co., Inc., 07481 Wyckoff, N.J., Us | |
DE3930828C2 (de) * | 1989-09-14 | 1991-07-11 | Wolfgang Dipl.-Ing. 8000 Muenchen De Knappe | |
DE3637222C2 (de) * | 1985-11-11 | 1993-06-17 | Minolta Camera K.K., Osaka, Jp | |
US5232284A (en) * | 1988-04-12 | 1993-08-03 | Citizen Watch Co., Ltd. | Radiation clinical thermometer |
US5246292A (en) * | 1992-05-28 | 1993-09-21 | Eli Gal | Temperature measurement apparatus |
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1995
- 1995-03-31 DE DE1995112243 patent/DE19512243A1/de not_active Withdrawn
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Legal Events
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