JPS62163937A - 赤外線センサを用いた温度測定装置 - Google Patents
赤外線センサを用いた温度測定装置Info
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- JPS62163937A JPS62163937A JP559386A JP559386A JPS62163937A JP S62163937 A JPS62163937 A JP S62163937A JP 559386 A JP559386 A JP 559386A JP 559386 A JP559386 A JP 559386A JP S62163937 A JPS62163937 A JP S62163937A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、温度測定装置に係り、特には、物体から放出
される赤外線を検出し、この赤外線エネルギからその物
体の温度を測定できるようにした赤外線センサを用いた
温度測定装置に関する。
される赤外線を検出し、この赤外線エネルギからその物
体の温度を測定できるようにした赤外線センサを用いた
温度測定装置に関する。
〈従来の技術〉
第５図は従来例の赤外線センサを用いた温度測定装置の
ブロック図である。第５図において、１は赤外線センサ
素子の絶対温度Ｔ０をダイオード等を使用して検出する
素子温度検出回路、２は増幅器である。素子温度検出回
路１は、増幅器２を介して次式（１１で表される信号を
出力するようになっている。
ブロック図である。第５図において、１は赤外線センサ
素子の絶対温度Ｔ０をダイオード等を使用して検出する
素子温度検出回路、２は増幅器である。素子温度検出回
路１は、増幅器２を介して次式（１１で表される信号を
出力するようになっている。
ｖｌ ＝ａＴ０＋ｂ・・・・・（１）
ただし、ａ、ｂ：定数
Ｔｏ ：赤外線センサ素子３の絶対温度３は、放射エネ
ルギを吸収し、熱に変換する材料で構成された赤外線セ
ンサ素子である。センサ素子３は被測定物体４から次式
（２）で表される赤外線エネルギＰを受けてこの赤外線
エネルギＰを電圧に変換して出力するものであって、そ
の出力電圧■は次式（３）で表される。
ルギを吸収し、熱に変換する材料で構成された赤外線セ
ンサ素子である。センサ素子３は被測定物体４から次式
（２）で表される赤外線エネルギＰを受けてこの赤外線
エネルギＰを電圧に変換して出力するものであって、そ
の出力電圧■は次式（３）で表される。
Ｐｃｃ （σ／ ２）（１−ｃｏｓ θ）（ｔＴ’ ＋
ＲＴｓ’−Ｔｏ ’）＋（σ／ ２）（１＋ｃｏｓ θ
）（Ｔ ｃ’ Ｔｏ ’ ）・・・・・（２） 但し、σ：ステファンポルツマン定数 θ：視野角 ε：放射率 Ｔｓ：物体４の周囲の絶対温度 ＴＣ：センサ素子３以外の装置の絶対温度 Ｔ：物体４の絶対温度 Ｒ：物体４の光反射率 ＶｃｃＫＰ ・・・・・・・・（３）但し、Ｋ：比例
定数 ５はセンサ素子３からの出力電圧■を増幅する増幅器、
６は全波整流回路、７はピークホールド回路、８はバッ
ファである。
ＲＴｓ’−Ｔｏ ’）＋（σ／ ２）（１＋ｃｏｓ θ
）（Ｔ ｃ’ Ｔｏ ’ ）・・・・・（２） 但し、σ：ステファンポルツマン定数 θ：視野角 ε：放射率 Ｔｓ：物体４の周囲の絶対温度 ＴＣ：センサ素子３以外の装置の絶対温度 Ｔ：物体４の絶対温度 Ｒ：物体４の光反射率 ＶｃｃＫＰ ・・・・・・・・（３）但し、Ｋ：比例
定数 ５はセンサ素子３からの出力電圧■を増幅する増幅器、
６は全波整流回路、７はピークホールド回路、８はバッ
ファである。
この従来例では、ＴＣ−ＴＯ、ＲＴｓ’ ＃Ｏとみなす
ことにより、前記式（２）を次式（４）に置換している
。
ことにより、前記式（２）を次式（４）に置換している
。
Ｐｏｃσ （εＴ４−Ｔ０′）・・・（４）前記式（４
）はＴｏｓをＴｏの摂氏温度とした場合、二項定理によ
り、次式（５）に変換できる。
）はＴｏｓをＴｏの摂氏温度とした場合、二項定理によ
り、次式（５）に変換できる。
Ｐ（Ｘ： ｔ εＴ’ （ａ Ｔｏｓ＋ ｂ）
・・・（５１９は混同回路である。混合回路９は、前記
式（１）と式（３）との各値を混合して出力するように
なっている。したがって、混合回路９の出力は、次式（
６）％式％ １０は４乗根補正回路である。４乗根補正回路１０は、
前記式（６）を４乗根補正して次式（７）で表される補
正出力を増幅器１１を介して与える。
・・・（５１９は混同回路である。混合回路９は、前記
式（１）と式（３）との各値を混合して出力するように
なっている。したがって、混合回路９の出力は、次式（
６）％式％ １０は４乗根補正回路である。４乗根補正回路１０は、
前記式（６）を４乗根補正して次式（７）で表される補
正出力を増幅器１１を介して与える。
ＴｃｃＫｌ Ｐ ・・・（７）
〈発明が解決しようとする問題点〉
このような構成を有する従来例の装置では、式（２）を
簡略化した式（４）により物体４の温度を測定する情報
を得るようにしているがら、式（２）の第２項内のＲＴ
ｓ’を無視していることになる。また、放射率εによる
誤差の補正も行っていないから、物体４の材質とか、明
暗とか、あるいはその表面の粗さ等による測定誤差が大
きくなるという欠点がある。さらに、ダイオード等によ
り構成された素子温度検出回路１による補正もＴ＞＞Ｔ
、の場合では有効であるものの、ＴＮＴ、の場合には、
式（５）による補正では誤差が大きくなるという欠点が
ある。
簡略化した式（４）により物体４の温度を測定する情報
を得るようにしているがら、式（２）の第２項内のＲＴ
ｓ’を無視していることになる。また、放射率εによる
誤差の補正も行っていないから、物体４の材質とか、明
暗とか、あるいはその表面の粗さ等による測定誤差が大
きくなるという欠点がある。さらに、ダイオード等によ
り構成された素子温度検出回路１による補正もＴ＞＞Ｔ
、の場合では有効であるものの、ＴＮＴ、の場合には、
式（５）による補正では誤差が大きくなるという欠点が
ある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、被測定物体の温度測定を行うにあったで、適宜の補
正を行うことによって、温度測定の精度を高めることが
できる赤外線センサを用いた温度測定装置を提供するこ
とを目的とする。
て、被測定物体の温度測定を行うにあったで、適宜の補
正を行うことによって、温度測定の精度を高めることが
できる赤外線センサを用いた温度測定装置を提供するこ
とを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
本発明は、このような目的を達成するために、次のよう
な構成をとる。
な構成をとる。
即ち、本発明に係る赤外線センサを用いた温度測定装置
は、被測定物体から照射される赤外線を検出する赤外線
センサ素子と、 前記赤外線センサ素子の温度を検出する温度検出手段と
、 前記赤外線センサ素子が受けるエネルギの算出に関連し
た補正データを得るための適宜の補正データ検出手段と
、 前記エネルギの算出に関連した補正係数を予め記憶して
いる補正係数記憶手段と、 前記赤外線センサ素子、温度検出手段および補正データ
検出手段からの出力データを与えられ、前記補正係数記
憶手段に記憶された補正係数に基づいて演算処理して被
測定物体の温度を算出する演算処理手段を具備したこと
を特徴としている。
は、被測定物体から照射される赤外線を検出する赤外線
センサ素子と、 前記赤外線センサ素子の温度を検出する温度検出手段と
、 前記赤外線センサ素子が受けるエネルギの算出に関連し
た補正データを得るための適宜の補正データ検出手段と
、 前記エネルギの算出に関連した補正係数を予め記憶して
いる補正係数記憶手段と、 前記赤外線センサ素子、温度検出手段および補正データ
検出手段からの出力データを与えられ、前記補正係数記
憶手段に記憶された補正係数に基づいて演算処理して被
測定物体の温度を算出する演算処理手段を具備したこと
を特徴としている。
〈作用〉
前記演算処理回路は、赤外線センサ素子から与えられた
検出信号に対して、温度検出手段、補正データ検出手段
および記憶手段から与えられた各種の補正データおよび
補正係数によって、例えば、測定物体の放射率、反射率
の補正や素子温度の補正などを適宜に行うことにより、
精度よく被測定物体の温度を測定する。
検出信号に対して、温度検出手段、補正データ検出手段
および記憶手段から与えられた各種の補正データおよび
補正係数によって、例えば、測定物体の放射率、反射率
の補正や素子温度の補正などを適宜に行うことにより、
精度よく被測定物体の温度を測定する。
〈実施例〉
第１図は本発明の一実施例に係る温度測定装置のブロッ
ク図である。第１図において、第５図と対応する部分に
は同一の符号を付す。第１図において、１は素子温度検
出回路、２は増幅器、３は赤外線センサ素子、４は被測
定物体、５は増幅器、６は全波整流回路、７はピークホ
ールド回路である。これらは第３図のそれらと同様のも
のであるから、それらの詳細な説明については省略する
。
ク図である。第１図において、第５図と対応する部分に
は同一の符号を付す。第１図において、１は素子温度検
出回路、２は増幅器、３は赤外線センサ素子、４は被測
定物体、５は増幅器、６は全波整流回路、７はピークホ
ールド回路である。これらは第３図のそれらと同様のも
のであるから、それらの詳細な説明については省略する
。
センサ素子３の出力は、増幅器５、全波整流回路６、ピ
ークホールド回路７、Ａ／Ｄ変換回路１３を介してＣＰ
Ｕ１４に読み込まれる。センサ素子３の温度を検出する
素子温度検出回路１の出力は、増幅器２、Ａ／Ｄ変換回
路１２を介してＣＰＵ１４に読み込まれる。前述した補
正データ検出手段に対応する周囲温度検出回路１５は、
物体４の周囲温度を検出するもので、例えば、素子温度
検出回路１と同様に構成される０周囲温度検出回路１５
の出力は、増幅器１６、Ａ／Ｄ変換回路１７を介してＣ
ＰＵＩ ４に読み込まれる。前述した補正係数記憶手段
に対応するＥＥＦＲＯＭＩ ８は、物体４の放射率ε、
反射率Ｒおよび比裟１１定数に等の補正係数を記憶して
いる。
ークホールド回路７、Ａ／Ｄ変換回路１３を介してＣＰ
Ｕ１４に読み込まれる。センサ素子３の温度を検出する
素子温度検出回路１の出力は、増幅器２、Ａ／Ｄ変換回
路１２を介してＣＰＵ１４に読み込まれる。前述した補
正データ検出手段に対応する周囲温度検出回路１５は、
物体４の周囲温度を検出するもので、例えば、素子温度
検出回路１と同様に構成される０周囲温度検出回路１５
の出力は、増幅器１６、Ａ／Ｄ変換回路１７を介してＣ
ＰＵＩ ４に読み込まれる。前述した補正係数記憶手段
に対応するＥＥＦＲＯＭＩ ８は、物体４の放射率ε、
反射率Ｒおよび比裟１１定数に等の補正係数を記憶して
いる。
なお、端子１９・・・は、その他の補正データ検出手段
を接続する端子である。また、端子２０．２１・・・は
、センサ素子３が複数個ある場合に、それぞれのセンサ
素子の出力電圧ＶのＡ／Ｄ変換値が与えられる端子であ
る。
を接続する端子である。また、端子２０．２１・・・は
、センサ素子３が複数個ある場合に、それぞれのセンサ
素子の出力電圧ＶのＡ／Ｄ変換値が与えられる端子であ
る。
ＣＰＵ１４は、物体４の放射率ε、反射率Ｒ１比較定数
Ｋ、等のプリセットデータが書き込まれているＥＥＦＲ
ＯＭＩ８の補正係数を泪いて、予め定められたプログラ
ムに従って、Ｔ′、Ｔｏ′、放射率ε、反射率Ｒの補正
を行うようになっている。
Ｋ、等のプリセットデータが書き込まれているＥＥＦＲ
ＯＭＩ８の補正係数を泪いて、予め定められたプログラ
ムに従って、Ｔ′、Ｔｏ′、放射率ε、反射率Ｒの補正
を行うようになっている。
次に、前記実施例を用いて物体４の温度測定を行う際の
処理手順を説明する。
処理手順を説明する。
王皿±土
この処理では、前記式（１１において、センサ素子３以
外の装置の絶対温度Ｔｃをセンサ素子３の絶対温度Ｔ０
に等しいと置いた場合の次式（１）′により、絶対温度
Ｔを算出している。
外の装置の絶対温度Ｔｃをセンサ素子３の絶対温度Ｔ０
に等しいと置いた場合の次式（１）′により、絶対温度
Ｔを算出している。
Ｐ＝Ｋ （εＴ’ ＋ＲＴｓ’−Ｔ、’ ）第２図は、
前記全体温度Ｔの算出手順を示したフローチャートであ
る。
前記全体温度Ｔの算出手順を示したフローチャートであ
る。
比例定数Ｋ、放射率εおよび反射率Ｒは、あらかじめＥ
ＥＦＲＯＭＩ ８にプリセットデータとして書き込まれ
ている。
ＥＦＲＯＭＩ ８にプリセットデータとして書き込まれ
ている。
まず、ステップａにおいて、センサ素子３が物体４から
受けるエネルギＰをＣＰＵ１４に読み込み、ステップｂ
に移行する。
受けるエネルギＰをＣＰＵ１４に読み込み、ステップｂ
に移行する。
ステップｂにおいて、素子温度検出回路１の出力からセ
ンサ素子３の絶対温度Ｔ０がＣＰＵ１４に読み込まれ、
ステップＣに移行する。
ンサ素子３の絶対温度Ｔ０がＣＰＵ１４に読み込まれ、
ステップＣに移行する。
ステップＣにおいて、前記ステップｂで読み込まれた絶
対温度Ｔ０についてＴ％の演算を行い、ステップｄにｆ
多行する。
対温度Ｔ０についてＴ％の演算を行い、ステップｄにｆ
多行する。
ステップｄにおいて、周囲温度検出回路１５で検出され
た物体４の周囲温度ＴｓがＣＰＵ１４に読み込まれて、
ステップｅに移行する。
た物体４の周囲温度ＴｓがＣＰＵ１４に読み込まれて、
ステップｅに移行する。
ステップｅにおいて、前記ステップｄで読み込まれた周
囲温度Ｔｓについて、Ｔｓ’の演算が行われて、ステッ
プｆに移行する。
囲温度Ｔｓについて、Ｔｓ’の演算が行われて、ステッ
プｆに移行する。
ステップｆにおいて、前記ＥＥＰＲＯＭＩ ８より、比
例定数Ｋ、放射率εおよび反射率ＲをＣＰＵ１４に読み
込んで、ステップｇに移行する。
例定数Ｋ、放射率εおよび反射率ＲをＣＰＵ１４に読み
込んで、ステップｇに移行する。
ステップｇにおいて、
ε
の演算を行って、ステップｈに移行する。
ステップｈにおいて、前記ステップｇで算出されたＴ４
を４乗根補正して、ＴｏｃＫ＋Ｐを算出し、ステップｉ
に移行する。
を４乗根補正して、ＴｏｃＫ＋Ｐを算出し、ステップｉ
に移行する。
ステップｉにおいて、前記ステップｈで算出したＴを出
力し、フローが終了する。
力し、フローが終了する。
王風訳ｌ
この処理手順例では、前記（１）′において、放射率ε
＃ｌ （従って、反射率Ｒ＃０）としたときに得られる
次式（１，１”によって絶対温度Ｔを求めていＰ＝Ｋ
（Ｔ’−７，’ ） 、’、Ｔ’ −−＋ ＴＯ’ ・ ・ ・（１１
”第３図は前記処理手順を示したフローチャートである
。
＃ｌ （従って、反射率Ｒ＃０）としたときに得られる
次式（１，１”によって絶対温度Ｔを求めていＰ＝Ｋ
（Ｔ’−７，’ ） 、’、Ｔ’ −−＋ ＴＯ’ ・ ・ ・（１１
”第３図は前記処理手順を示したフローチャートである
。
比例定数には、あらかじめＥＥＰＲＯＭｌ８にプリセッ
トデータとして書き込まれている。
トデータとして書き込まれている。
まず、ステップミルステップＣは、第２図で説明した手
順と同様に行われ、ＴＯ’が算出される。
順と同様に行われ、ＴＯ’が算出される。
ステップｄにおいて、ＥＥＰＲＯＭｌ Ｂから定数Ｋが
ＣＰＵ１４に読み込まれて、ステップｅに移行する。
ＣＰＵ１４に読み込まれて、ステップｅに移行する。
ステップｅにおいて、
Ｔ’ ” ＋Ｔｏ ’
に
の演算が行われて、ステップｆに移行する。
ステップｆにおいて、前記ステップｅで算出されたＴを
４乗根補正して、ＴｃｃＫ＋Ｐを算出し、ステップｇに
移行する。
４乗根補正して、ＴｃｃＫ＋Ｐを算出し、ステップｇに
移行する。
ステップｇにおいて、前記ステップｈで算出したＴを出
力し、フローを終了する。
力し、フローを終了する。
手順例■
手順例Ｉにおいて、物体４の温度測定を行うために、物
体４の周囲温度Ｔｓが測定されている必要がある。この
周囲温度Ｔｓは、第１図で示したような周囲温度検出回
路１５を特別に設けなくとも、前記手順例■を応用する
ことによっても測定できる。即ち、被測定物体４の温度
測定の場合には該物体４に向けて設置されるセンサ素子
３を、物体４の周囲に向けて設置する。このようにする
と、弐（１１“において、ＴをＴｓに置き換えられるの
で、手順■と同様にしてＴｓｅｃＫ＋Ｐのデータを得る
ことができる。
体４の周囲温度Ｔｓが測定されている必要がある。この
周囲温度Ｔｓは、第１図で示したような周囲温度検出回
路１５を特別に設けなくとも、前記手順例■を応用する
ことによっても測定できる。即ち、被測定物体４の温度
測定の場合には該物体４に向けて設置されるセンサ素子
３を、物体４の周囲に向けて設置する。このようにする
と、弐（１１“において、ＴをＴｓに置き換えられるの
で、手順■と同様にしてＴｓｅｃＫ＋Ｐのデータを得る
ことができる。
第４図はこの処理手順を示したフローチャートである。
ステップミルステップｆは手順■と同様に行われるで、
同図では省略している。ステ・ノブｆが終了するとステ
ップｇに移行する。
同図では省略している。ステ・ノブｆが終了するとステ
ップｇに移行する。
ステップｇにおいて、物体４の周囲温度Ｔｓの測定であ
るか否かが判断される。Ｔｓの測定であればステップｈ
に、Ｔｓの測定でなければステップｉにそれぞれ移行す
る。
るか否かが判断される。Ｔｓの測定であればステップｈ
に、Ｔｓの測定でなければステップｉにそれぞれ移行す
る。
Ｔｓの測定である場合、ステップｈにおいて、前記ステ
ップｆで算出されたＴをＴｓに置き換えて、ＲＡＭに書
き込む、一方、Ｔｓの測定でない場合、ステップｉにお
いて、ＴｓｌｃＯにリセットとして、ＲＡＭに書き込ん
で、フローを終了する。
ップｆで算出されたＴをＴｓに置き換えて、ＲＡＭに書
き込む、一方、Ｔｓの測定でない場合、ステップｉにお
いて、ＴｓｌｃＯにリセットとして、ＲＡＭに書き込ん
で、フローを終了する。
したがって、前記処理手順■におけるステップｄにおい
て、周囲温度Ｔｓは前記ＲＡＭに書き込まれた周囲温度
Ｔｓのデータを、ＣＰＵ１４が読み込むことになる。
て、周囲温度Ｔｓは前記ＲＡＭに書き込まれた周囲温度
Ｔｓのデータを、ＣＰＵ１４が読み込むことになる。
なお、上述の実施例では、物体４の温度を測定する場合
についてのみ説明したが、必要に応じて、複数個の赤外
線センサ素子を用いて、複数の被測定物体間の温度差を
測定することも可能である。
についてのみ説明したが、必要に応じて、複数個の赤外
線センサ素子を用いて、複数の被測定物体間の温度差を
測定することも可能である。
また、被測定物体の最高温度、最低温度あるいは平均値
温度を適宜に演算出力することも容易に実現できる。
温度を適宜に演算出力することも容易に実現できる。
また、実施例では、ＥＥＰＲＯＭに比例定数に１放射率
εおよび反射率Ｒを書き込むとして説明したが、本発明
はこれに限られるものではない。例えば、赤外線センサ
素子の取り付は角度、前記赤外線センサ素子に関連して
設けられるフィルターの透過率、視野角、定数の変化、
赤外線センサ素子個々の補正定数、周囲温度補正定数等
の種々の補正定数を書き込むことができる。このように
することにより、被測定物体の温度を一層精度よく測定
できるようになる。
εおよび反射率Ｒを書き込むとして説明したが、本発明
はこれに限られるものではない。例えば、赤外線センサ
素子の取り付は角度、前記赤外線センサ素子に関連して
設けられるフィルターの透過率、視野角、定数の変化、
赤外線センサ素子個々の補正定数、周囲温度補正定数等
の種々の補正定数を書き込むことができる。このように
することにより、被測定物体の温度を一層精度よく測定
できるようになる。
また、実施例で説明したようにして得られた演算結果は
、必要に応してメモリに格納し、ディスプレイ表示やデ
ータ伝送等によって適宜にとりだされる。さらに、この
ようなメモリに格納するのは、演算結果のみに限られず
、複数のセンサによって得られたデータであってもよい
ことは勿論である。
、必要に応してメモリに格納し、ディスプレイ表示やデ
ータ伝送等によって適宜にとりだされる。さらに、この
ようなメモリに格納するのは、演算結果のみに限られず
、複数のセンサによって得られたデータであってもよい
ことは勿論である。
〈発明の効果〉
上述したように、本発明に係る赤外線センサを用いた温
度測定装置は、赤外線センサ素子の他に、１１？ｉ記赤
外線センサ素子の温度を測定する温度検出手段と、温度
補正データを与える適宜の補正データ検出手段を備え、
これらのデータと、予め記憶された補正係数とを用いて
演算処理することによって、被測定物体の温度測定を行
っている。
度測定装置は、赤外線センサ素子の他に、１１？ｉ記赤
外線センサ素子の温度を測定する温度検出手段と、温度
補正データを与える適宜の補正データ検出手段を備え、
これらのデータと、予め記憶された補正係数とを用いて
演算処理することによって、被測定物体の温度測定を行
っている。
したがって、本発明によれば、従来装置では行っていな
かったような例えば、被測定物体の放射率、反射率の補
正など多種類の補正を行うことができるので、被測定物
体の温度を精度よく測定することができる。
かったような例えば、被測定物体の放射率、反射率の補
正など多種類の補正を行うことができるので、被測定物
体の温度を精度よく測定することができる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示したブロック図、
第２図及び第３図は前記実施例のデータ処理手順を示し
たフローチャート、第４図は本実施例によって物体４の
周囲温度を測定す、る場合のデータ処理手ｉｌｌを示し
たフローチャート、第５図は従来の赤外線検出装置の構
成を示したブロック図である。 １・・・素子温度検出回路、３・・・赤外線センサ素子
、４・・・被測定物体、１４・・・ＣＰＵ、１５・・・
周囲温度検出回路、１８・・・ＥＥＰＲＯＭ。 第 １ 図 第２図 第３図
第２図及び第３図は前記実施例のデータ処理手順を示し
たフローチャート、第４図は本実施例によって物体４の
周囲温度を測定す、る場合のデータ処理手ｉｌｌを示し
たフローチャート、第５図は従来の赤外線検出装置の構
成を示したブロック図である。 １・・・素子温度検出回路、３・・・赤外線センサ素子
、４・・・被測定物体、１４・・・ＣＰＵ、１５・・・
周囲温度検出回路、１８・・・ＥＥＰＲＯＭ。 第 １ 図 第２図 第３図
Claims (4)
- （１）被測定物体から照射される赤外線を検出する赤外
線センサ素子と、 前記赤外線センサ素子の温度を検出する温度検出手段と
、 前記赤外線センサ素子が受けるエネルギの算出に関連し
た補正データを得るための適宜の補正データ検出手段と
、 前記エネルギの算出に関連した補正係数を予め記憶して
いる補正係数記憶手段と、 前記赤外線センサ素子、温度検出手段および補正データ
検出手段からの出力データを与えられ、前記補正係数記
憶手段に記憶された係数に基づいて演算処理して被測定
物体の温度を算出する演算処理手段を具備したことを特
徴とする赤外線センサを用いた温度測定装置。 - （２）前記補正データ検出手段は、被測定物体の周囲温
度を検出する手段であることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の赤外線センサを用いた温度測定装置。 - （３）前記被測定物体の周囲温度を検出する手段は、特
許請求の範囲第１項に記載した被測定物体から照射され
る赤外線を検出する赤外線センサ素子を、被測定物体の
周囲に向けることによって検出するものであることを特
徴とする特許請求の範囲第２項記載の赤外線センサを用
いた温度測定装置。 - （４）前記補正係数記憶手段は、少なくとも被測定物体
の放射率εと反射率Ｒと、前記赤外線センサ素子が被測
定物体から受ける赤外線エネルギＰを、Ｐ＝Ｋ（εＴ＾
４＋ＲＴｓ＾４−Ｔ＿０＾４）（但し、Ｔは被測定物体
の絶対温度、Ｔｓは被測定物体の周囲温度、Ｔ＿０は赤
外線センサ素子の絶対温度）で表したときの比例定数Ｋ
とを記憶しているものであることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の赤外線センサを用いた温度測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP559386A JPS62163937A (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 赤外線センサを用いた温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP559386A JPS62163937A (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 赤外線センサを用いた温度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62163937A true JPS62163937A (ja) | 1987-07-20 |
Family
ID=11615530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP559386A Pending JPS62163937A (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 赤外線センサを用いた温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPS62163937A (ja) |
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1986
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