JPH0933428A - 水分計の検量線作成装置 - Google Patents
水分計の検量線作成装置Info
- Publication number
- JPH0933428A JPH0933428A JP20397795A JP20397795A JPH0933428A JP H0933428 A JPH0933428 A JP H0933428A JP 20397795 A JP20397795 A JP 20397795A JP 20397795 A JP20397795 A JP 20397795A JP H0933428 A JPH0933428 A JP H0933428A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- moisture meter
- measured
- calibration curve
- moisture
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】被測定物の材質等の変化や、水分計に機差があ
っても高精度の検量線作成が可能な装置を提供する。 【構成】被測定物３を乾燥する乾燥手段８と、被測定物
３の重量を測定する重量測定手段５と、被測定物３に含
まれる水分による赤外線吸収率を測定するための第１の
水分計７と、これら重量測定手段５で測定された重量信
号及び第１の水分計７で測定された測定信号に基き検量
線を演算するとともに、基準体を第１の水分計７及び第
２の水分計１７で測定したときの各測定信号に基き第２
の水分計１７の測定信号が第１の水分計７の測定信号に
対応するよう補正値を演算する処理手段とを備えたこと
を特徴とする水分計の検量線作成装置。
っても高精度の検量線作成が可能な装置を提供する。 【構成】被測定物３を乾燥する乾燥手段８と、被測定物
３の重量を測定する重量測定手段５と、被測定物３に含
まれる水分による赤外線吸収率を測定するための第１の
水分計７と、これら重量測定手段５で測定された重量信
号及び第１の水分計７で測定された測定信号に基き検量
線を演算するとともに、基準体を第１の水分計７及び第
２の水分計１７で測定したときの各測定信号に基き第２
の水分計１７の測定信号が第１の水分計７の測定信号に
対応するよう補正値を演算する処理手段とを備えたこと
を特徴とする水分計の検量線作成装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、赤外線を利用して被
測定対象の水分率を測定する水分計の検量線作成装置に
関するものである。
測定対象の水分率を測定する水分計の検量線作成装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、赤外線を利用して水分率を測定す
る水分計として、水分の吸収波長帯における被測定対象
からの反射光ないし透過光の測定信号と、水分の非吸収
帯における反射光ないし透過光の１または２の比較信号
との比率信号である赤外線吸収率から被測定対象の水分
率を求める２色または３色赤外線水分計が知られてい
る。
る水分計として、水分の吸収波長帯における被測定対象
からの反射光ないし透過光の測定信号と、水分の非吸収
帯における反射光ないし透過光の１または２の比較信号
との比率信号である赤外線吸収率から被測定対象の水分
率を求める２色または３色赤外線水分計が知られてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、水分計
の出力である赤外線の水分による吸収率と水分率との関
係は、被測定物の種類、材質、組成等により大きく異な
るため、測定対象毎に検量線を作成する必要がある。ま
た、水分計が異なるとその機差により誤差が生じるおそ
れがあった。
の出力である赤外線の水分による吸収率と水分率との関
係は、被測定物の種類、材質、組成等により大きく異な
るため、測定対象毎に検量線を作成する必要がある。ま
た、水分計が異なるとその機差により誤差が生じるおそ
れがあった。
【０００４】この発明の目的は、以上の点に鑑み、被測
定物の材質等の変化や、水分計に機差があっても高精度
の検量線作成が可能な装置を提供することである。
定物の材質等の変化や、水分計に機差があっても高精度
の検量線作成が可能な装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、被測定物を
乾燥する乾燥手段と、被測定物の重量を測定する重量測
定手段と、被測定物に含まれる水分による赤外線吸収率
を測定するための第１の水分計と、これら重量測定手段
で測定された重量信号及び第１の水分計で測定された測
定信号に基き検量線を演算するとともに、基準体を第１
の水分計及び第２の水分計で測定したときの各測定信号
に基き第２の水分計の測定信号が第１の水分計の測定信
号に対応するよう補正値を演算する処理手段とを備える
ようにした水分計の検量線作成装置である。
乾燥する乾燥手段と、被測定物の重量を測定する重量測
定手段と、被測定物に含まれる水分による赤外線吸収率
を測定するための第１の水分計と、これら重量測定手段
で測定された重量信号及び第１の水分計で測定された測
定信号に基き検量線を演算するとともに、基準体を第１
の水分計及び第２の水分計で測定したときの各測定信号
に基き第２の水分計の測定信号が第１の水分計の測定信
号に対応するよう補正値を演算する処理手段とを備える
ようにした水分計の検量線作成装置である。
【０００６】
【実施例】図１は、この発明の水分計の検量線作成装置
の一実施例を示す構成説明図である。この水分計の検量
線作成装置１は、重量測定手段によって測定された被測
定物に含まれる水分による赤外線吸収データに基いて被
測定物の検量線を自動作成し、この作成された検量線の
データをもとに水分測定装置２の水分計において水分の
測定を行うようなものである。
の一実施例を示す構成説明図である。この水分計の検量
線作成装置１は、重量測定手段によって測定された被測
定物に含まれる水分による赤外線吸収データに基いて被
測定物の検量線を自動作成し、この作成された検量線の
データをもとに水分測定装置２の水分計において水分の
測定を行うようなものである。
【０００７】図において、３は検量線を作成しようとす
る紙のような被測定物、４は被測定物３を載せる載置
台、５は電子天秤のような重量測定手段で、載置台４上
の被測定物３の重量を測定し、パソコンのような処理手
段６へ重量信号データを出力する。また、７は被測定物
３に含まれる水分による赤外線吸収率を測定するための
水分計である。８はヒータ、赤外線加熱ランプ、マイク
ロ波・高周波加熱装置等の乾燥手段で、被測定物３を乾
燥する。この加熱温度を温度計９で検出し、制御手段１
０でサイリスタ等の操作手段１１を駆動し、所定の温度
に制御する。また、全体を恒温槽のような断熱容器１２
としている。
る紙のような被測定物、４は被測定物３を載せる載置
台、５は電子天秤のような重量測定手段で、載置台４上
の被測定物３の重量を測定し、パソコンのような処理手
段６へ重量信号データを出力する。また、７は被測定物
３に含まれる水分による赤外線吸収率を測定するための
水分計である。８はヒータ、赤外線加熱ランプ、マイク
ロ波・高周波加熱装置等の乾燥手段で、被測定物３を乾
燥する。この加熱温度を温度計９で検出し、制御手段１
０でサイリスタ等の操作手段１１を駆動し、所定の温度
に制御する。また、全体を恒温槽のような断熱容器１２
としている。
【０００８】１３は水分計７の出力を増幅器で増幅し、
Ａ／Ｄ変換器でデジタル信号としてパソコンのような処
理手段６に出力する演算手段で、水分計７から直接、処
理手段６に測定信号を出力できるものであれば、省略で
きる。
Ａ／Ｄ変換器でデジタル信号としてパソコンのような処
理手段６に出力する演算手段で、水分計７から直接、処
理手段６に測定信号を出力できるものであれば、省略で
きる。
【０００９】２は水分測定装置で、例えばオンライン上
の水分計１７の測定信号を演算手段１６に出力し、この
演算手段１６は、検量線作成装置１で得られ直接または
間接的に入力された検量線データ等を用いて、水分率の
測定を行い、デジタル的に表示したり、外部に出力でき
る。
の水分計１７の測定信号を演算手段１６に出力し、この
演算手段１６は、検量線作成装置１で得られ直接または
間接的に入力された検量線データ等を用いて、水分率の
測定を行い、デジタル的に表示したり、外部に出力でき
る。
【００１０】検量線作成は、以下のようにして行う。処
理手段６からの信号で重量測定手段５をリセットし、被
測定物３を載置台４に乗せ、水分計７の測定信号、重量
測定手段５の重量信号を処理手段６で取り込む。次に、
乾燥手段８をオンとし制御手段１０で所定温度とする。
測定を開始すると処理手段６は、例えば所定時間間隔で
重量測定手段５の重量信号と水分計７の測定信号とを繰
り返し取得する。そして、所定時間経過するか、又は重
量信号の変化率が十分小さくなり絶乾状態と判断される
と、処理手段６は乾燥手段８をオフとし、絶乾時の重量
信号データと、水分計の測定信号データを取り込み、測
定を終了する。
理手段６からの信号で重量測定手段５をリセットし、被
測定物３を載置台４に乗せ、水分計７の測定信号、重量
測定手段５の重量信号を処理手段６で取り込む。次に、
乾燥手段８をオンとし制御手段１０で所定温度とする。
測定を開始すると処理手段６は、例えば所定時間間隔で
重量測定手段５の重量信号と水分計７の測定信号とを繰
り返し取得する。そして、所定時間経過するか、又は重
量信号の変化率が十分小さくなり絶乾状態と判断される
と、処理手段６は乾燥手段８をオフとし、絶乾時の重量
信号データと、水分計の測定信号データを取り込み、測
定を終了する。
【００１１】そして、重量信号データを絶乾時でｙ０、
各時点でｙｉとすれば、各時点での正しい基準の水分率
ｚｉが処理手段６で次式により得られる（ｉ＝０，１，
２，…）。
各時点でｙｉとすれば、各時点での正しい基準の水分率
ｚｉが処理手段６で次式により得られる（ｉ＝０，１，
２，…）。
【００１２】 ｚｉ＝［（ｙｉ−ｙ０）／ｙｉ］×１００［％］ （１） また、水分計７の測定信号として得られる、水分の吸収
波長帯における被測定物３からの反射光の測定信号Ｓ
と、水分の非吸収帯における反射光の１または２の比較
信号Ｓ１、Ｓ２を、処理手段６に入力させ、赤外線吸収
率であるその比率信号ｘｉが、絶乾時をｘ０とし、次式
で求まる（ｉ＝０，１，２，…）。
波長帯における被測定物３からの反射光の測定信号Ｓ
と、水分の非吸収帯における反射光の１または２の比較
信号Ｓ１、Ｓ２を、処理手段６に入力させ、赤外線吸収
率であるその比率信号ｘｉが、絶乾時をｘ０とし、次式
で求まる（ｉ＝０，１，２，…）。
【００１３】 ｘｉ＝２Ｓ／（Ｒ１＋Ｒ２） （２） そして、こうして得られた（２）式の水分計７の比率信
号ｘｉと、（１）式の水分率ｚｉとが一次式で表せると
すれば、上記ｚｉ，ｘｉのデータから最小自乗法等によ
って次式のような検量線が求まる。
号ｘｉと、（１）式の水分率ｚｉとが一次式で表せると
すれば、上記ｚｉ，ｘｉのデータから最小自乗法等によ
って次式のような検量線が求まる。
【００１４】 ｚ＝ｐｘ＋ｑ （３） ｚは水分率、ｐ，ｑは定数、ｘは水分計の測定信号に基
く比率信号である。この（３）式によりｘを測定するの
みで水分率ｚが演算で求められる。
く比率信号である。この（３）式によりｘを測定するの
みで水分率ｚが演算で求められる。
【００１５】以上のように自動的に求められた検量線パ
ラメータデータ（この場合ｐ，ｑ）は通信回線１５等に
出力されて、水分測定装置２の演算手段１６に直接入力
され、水分計１７の出力の水分率測定演算に用いられ
る。また、プリンタ１４に出力された検量線データによ
り人間が演算手段１６に手動で検量線パラメータを間接
的に入力させてもよい。つまり、水分計１７についての
測定信号から演算手段１８において、比率出力ｘを求
め、上記（３）式のような検量線に基き、水分率ｚに換
算され、赤外線による水分率測定が行われる。なお、演
算手段１６は、パソコンのようなものでもよく、又は小
形化して、水分計１７に組み込み一体としてもよい。
ラメータデータ（この場合ｐ，ｑ）は通信回線１５等に
出力されて、水分測定装置２の演算手段１６に直接入力
され、水分計１７の出力の水分率測定演算に用いられ
る。また、プリンタ１４に出力された検量線データによ
り人間が演算手段１６に手動で検量線パラメータを間接
的に入力させてもよい。つまり、水分計１７についての
測定信号から演算手段１８において、比率出力ｘを求
め、上記（３）式のような検量線に基き、水分率ｚに換
算され、赤外線による水分率測定が行われる。なお、演
算手段１６は、パソコンのようなものでもよく、又は小
形化して、水分計１７に組み込み一体としてもよい。
【００１６】ところで、上記第１の水分計７と第２の水
分計１７との間には、光源、フイルタ、素子等に起因す
る機差があり、上記測定信号Ｓ、Ｒ１、Ｒ２が一致せず
互換性がなく、第１の水分計７での検量線データがその
まま使用できないことがある。この場合、次のように機
差補正を行い、各水分計の特性を一致させておく。
分計１７との間には、光源、フイルタ、素子等に起因す
る機差があり、上記測定信号Ｓ、Ｒ１、Ｒ２が一致せず
互換性がなく、第１の水分計７での検量線データがその
まま使用できないことがある。この場合、次のように機
差補正を行い、各水分計の特性を一致させておく。
【００１７】つまり、上記検量線作成装置１等におい
て、標準の第１の水分計７で第１の基準体３１を測定し
たときの測定信号出力Ｒ１、Ｓ、Ｒ２をα、β、γと
し、第２の基準体３２を測定したときの測定信号出力を
δ、ε、ζとする。そして、上記検量線作成装置１にお
いて、補正される第２の水分計１７で同じ第１の基準体
３１を測定したときの測定信号出力Ｒ１、Ｓ、Ｒ２を
ａ、ｂ、ｃとし、同じ第２の基準体３２を測定したとき
の測定信号出力をｄ、ｅ、ｆとする。なお、基準体は、
分光特性がほぼ一定の基準体またはこれと異なる基準体
とされている。このとき機差補正値は、処理手段６によ
り、例えば各々次のように演算される。
て、標準の第１の水分計７で第１の基準体３１を測定し
たときの測定信号出力Ｒ１、Ｓ、Ｒ２をα、β、γと
し、第２の基準体３２を測定したときの測定信号出力を
δ、ε、ζとする。そして、上記検量線作成装置１にお
いて、補正される第２の水分計１７で同じ第１の基準体
３１を測定したときの測定信号出力Ｒ１、Ｓ、Ｒ２を
ａ、ｂ、ｃとし、同じ第２の基準体３２を測定したとき
の測定信号出力をｄ、ｅ、ｆとする。なお、基準体は、
分光特性がほぼ一定の基準体またはこれと異なる基準体
とされている。このとき機差補正値は、処理手段６によ
り、例えば各々次のように演算される。
【００１８】 Ｒ１の補正値 Ａ＝（α／ａ）・（δ／ｄ）＝（αδ）／（ａｄ） （４） Ｓ の補正値 Ｂ＝（β／ｂ）・（ε／ｅ）＝（βε）／（ｂｅ） （５） Ｒ２の補正値 Ｃ＝（γ／ｃ）・（ζ／ｆ）＝（γζ）／（ｃｆ） （６） これらを用いて、補正される水分計１７の測定信号出力
Ｒ１、Ｓ、Ｒ２とすれば、比率信号ｘは、２色、３色方
式では次式から求められる。
Ｒ１、Ｓ、Ｒ２とすれば、比率信号ｘは、２色、３色方
式では次式から求められる。
【００１９】 Ｓ／Ｒ１＝（Ｂ・Ｓ）／（Ａ・Ｒ１） （７） Ｓ／（Ｒ１＋Ｒ２）＝（Ｂ・Ｓ）／（Ａ・Ｒ１＋Ｃ・Ｒ２） （８） このようにして、第２の水分計１７の各測定信号出力Ｒ
１、Ｓ、Ｒ２は、標準の第１の水分計７の基準値α、
β、γ、δ、ε、ζに対応するよう補正演算すること
で、第２の水分計１７の測定信号は第１の水分計７に対
応するようになり、互換性を持たせることができる。つ
まり、これらの補正値パラメタデータは、演算手段１６
に入力されて機差補正が行なわれ、上記標準の水分計７
で求めた（３）式の検量線により水分計１７についての
正しい水分率ｚの測定が行われる。
１、Ｓ、Ｒ２は、標準の第１の水分計７の基準値α、
β、γ、δ、ε、ζに対応するよう補正演算すること
で、第２の水分計１７の測定信号は第１の水分計７に対
応するようになり、互換性を持たせることができる。つ
まり、これらの補正値パラメタデータは、演算手段１６
に入力されて機差補正が行なわれ、上記標準の水分計７
で求めた（３）式の検量線により水分計１７についての
正しい水分率ｚの測定が行われる。
【００２０】なお、上記第１の基準体３１、第２の基準
体３２を用いた機差補正は、第１の基準体３１のみ測定
して補正してもよいし、第２の基準体３２のみを測定し
て補正してもよいし、また、上記のように両方の基準体
３１、３２を測定して補正してもよい。
体３２を用いた機差補正は、第１の基準体３１のみ測定
して補正してもよいし、第２の基準体３２のみを測定し
て補正してもよいし、また、上記のように両方の基準体
３１、３２を測定して補正してもよい。
【００２１】更に、こうした補正されたＲ１、Ｓ、Ｒ２
を用いて、特公昭６１−６１６２３で示される ［２Ｓ／（Ｒ１＋Ｒ２）］・ｆ（Ｒ１／Ｒ２） （９） のような補正関数をあらかじめ実験的に求め、これを用
い水分率演算を行なってもよい。なお、この（９）式の
ような補正演算関数、補正方法は種々のものが考えら
れ、Ｆ，Ｇを異なる関数とし水分率Ｚは一般的には次式
となる。
を用いて、特公昭６１−６１６２３で示される ［２Ｓ／（Ｒ１＋Ｒ２）］・ｆ（Ｒ１／Ｒ２） （９） のような補正関数をあらかじめ実験的に求め、これを用
い水分率演算を行なってもよい。なお、この（９）式の
ような補正演算関数、補正方法は種々のものが考えら
れ、Ｆ，Ｇを異なる関数とし水分率Ｚは一般的には次式
となる。
【００２２】 Ｚ＝Ｆ（Ｓ，Ｒ１，Ｒ２）・Ｇ（Ｒ１，Ｒ２） （１０） この補正関数を処理手段６で求め、その他の水分計に組
み込むことで、被測定物３の例えば紙の種別によらな
い、種別毎の個別検量線が不要で１本の検量線で済む検
量線フリーとして水分率測定用の水分計となる。
み込むことで、被測定物３の例えば紙の種別によらな
い、種別毎の個別検量線が不要で１本の検量線で済む検
量線フリーとして水分率測定用の水分計となる。
【００２３】このように、検量線の自動測定、検量線フ
リーの関数の演算を標準の水分計のみで行いデータを取
得し、標準の水分計とその他の水分計との機差補正を実
施し特性を合わせておくことで、標準の水分計のデータ
をそのままその他の水分計に用いることができる。
リーの関数の演算を標準の水分計のみで行いデータを取
得し、標準の水分計とその他の水分計との機差補正を実
施し特性を合わせておくことで、標準の水分計のデータ
をそのままその他の水分計に用いることができる。
【００２４】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、被測定
物を乾燥する乾燥手段と、被測定物の重量を測定する重
量測定手段と、被測定物に含まれる水分による赤外線吸
収率を測定するための第１の水分計と、これら重量測定
手段で測定された重量信号及び第１の水分計で測定され
た測定信号に基き検量線を演算するとともに、基準体を
第１の水分計及び第２の水分計で測定したときの各測定
信号に基き第２の水分計の測定信号が第１の水分計の測
定信号に対応するよう補正値を演算する処理手段とを備
えるようにした水分計の検量線作成装置である。このた
め、検量線の作成が自動的に行え、従来のような面倒な
手動作業が不要となり、大幅な省力化が図れる。また、
基準体を測定したときの信号が標準の水分計の基準値に
対応するように補正して水分率を測定するようにしてい
るので、水分計毎に若干の特性の差異により出力が相違
する機差があったとしても、機差の影響は除去され、最
適な標準の検量線により高精度の正しい水分測定信号が
常に得られ、また、紙等の品種の変化に対しても自動的
に対応でき、大幅な工数低減が図れる。
物を乾燥する乾燥手段と、被測定物の重量を測定する重
量測定手段と、被測定物に含まれる水分による赤外線吸
収率を測定するための第１の水分計と、これら重量測定
手段で測定された重量信号及び第１の水分計で測定され
た測定信号に基き検量線を演算するとともに、基準体を
第１の水分計及び第２の水分計で測定したときの各測定
信号に基き第２の水分計の測定信号が第１の水分計の測
定信号に対応するよう補正値を演算する処理手段とを備
えるようにした水分計の検量線作成装置である。このた
め、検量線の作成が自動的に行え、従来のような面倒な
手動作業が不要となり、大幅な省力化が図れる。また、
基準体を測定したときの信号が標準の水分計の基準値に
対応するように補正して水分率を測定するようにしてい
るので、水分計毎に若干の特性の差異により出力が相違
する機差があったとしても、機差の影響は除去され、最
適な標準の検量線により高精度の正しい水分測定信号が
常に得られ、また、紙等の品種の変化に対しても自動的
に対応でき、大幅な工数低減が図れる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
１ 検量線作成装置 ２ 水分測定装置 ３ 被測定物 ４ 載置台 ５ 重量測定手段 ６ 処理手段 ７、１７ 水分計 ８ 乾燥手段 ９ 温度計 １０ 制御手段 １１ 操作手段 １２ 断熱容器 １３、１６ 演算手段 １４ プリンタ １５ 通信回線
Claims (2)
- 【請求項１】被測定物を乾燥する乾燥手段と、被測定物
の重量を測定する重量測定手段と、被測定物に含まれる
水分による赤外線吸収率を測定するための第１の水分計
と、これら重量測定手段で測定された重量信号及び第１
の水分計で測定された測定信号に基き検量線を演算する
とともに、基準体を第１の水分計及び第２の水分計で測
定したときの各測定信号に基き第２の水分計の測定信号
が第１の水分計の測定信号に対応するよう補正値を演算
する処理手段とを備えたことを特徴とする水分計の検量
線作成装置。 - 【請求項２】請求項１の検量線作成装置で求めた上記検
量線データ又は補正値データに基き水分率を測定するこ
とができる第２の水分計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20397795A JPH0933428A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 水分計の検量線作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20397795A JPH0933428A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 水分計の検量線作成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0933428A true JPH0933428A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16482763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20397795A Pending JPH0933428A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 水分計の検量線作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0933428A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002303572A (ja) * | 2001-04-03 | 2002-10-18 | A & D Co Ltd | 水分計 |
| JP2003509679A (ja) * | 1999-09-17 | 2003-03-11 | シーイーエム・コーポレーション | マイクロ波加熱中の重量測定誤差を修正する方法 |
| JP2008196919A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Japan Atomic Energy Agency | 溶融金属の重量測定装置 |
| JP2010091376A (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-22 | Nippon Steel Corp | 焼結原料の含有水分量測定装置 |
| JP2010107223A (ja) * | 2008-10-28 | 2010-05-13 | Nippon Steel Corp | 焼結原料の含有水分量測定方法及び含有水分量測定装置 |
| CN106841563A (zh) * | 2017-03-03 | 2017-06-13 | 上海事凡物联网科技有限公司 | 一种可燃物含水率的测量装置及测量方法 |
-
1995
- 1995-07-18 JP JP20397795A patent/JPH0933428A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003509679A (ja) * | 1999-09-17 | 2003-03-11 | シーイーエム・コーポレーション | マイクロ波加熱中の重量測定誤差を修正する方法 |
| JP4908707B2 (ja) * | 1999-09-17 | 2012-04-04 | シーイーエム・コーポレーション | マイクロ波加熱中の重量測定誤差を修正する方法 |
| JP2002303572A (ja) * | 2001-04-03 | 2002-10-18 | A & D Co Ltd | 水分計 |
| JP2008196919A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Japan Atomic Energy Agency | 溶融金属の重量測定装置 |
| JP2010091376A (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-22 | Nippon Steel Corp | 焼結原料の含有水分量測定装置 |
| JP2010107223A (ja) * | 2008-10-28 | 2010-05-13 | Nippon Steel Corp | 焼結原料の含有水分量測定方法及び含有水分量測定装置 |
| CN106841563A (zh) * | 2017-03-03 | 2017-06-13 | 上海事凡物联网科技有限公司 | 一种可燃物含水率的测量装置及测量方法 |
| CN106841563B (zh) * | 2017-03-03 | 2020-02-14 | 上海事凡物联网科技有限公司 | 一种可燃物含水率的测量装置及测量方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6283629B1 (en) | Method of calibrating a radiation thermometer | |
| US20100103976A1 (en) | Infrared target temperature correction system and method | |
| US5680871A (en) | Whole-body plethysmograph | |
| JPH0245718A (ja) | 光電色彩計の分光感度補正機構 | |
| FI67625B (fi) | Foerfarande foer eliminering av maetningsfel vid fotometeranalys | |
| JPH0933428A (ja) | 水分計の検量線作成装置 | |
| US5295746A (en) | High resolution digital thermometer | |
| GB2195448A (en) | Flowmeter calibration | |
| EP3348969B1 (en) | Measurement of a fluid parameter and sensor device therefore | |
| CN110095427A (zh) | 水分仪测量误差自校准方法、装置和系统、存储介质 | |
| JPH0464417B2 (ja) | ||
| CN115185306A (zh) | 一种基于fpga的石英加速度计i/f转换电路温控系统 | |
| JPH07260680A (ja) | 赤外線センサ | |
| US6267928B1 (en) | Capnometer | |
| JPS62163937A (ja) | 赤外線センサを用いた温度測定装置 | |
| JPH02134522A (ja) | Ｈ↓２ｏ吸収補正型放射温度計 | |
| JPH05288611A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH02147837A (ja) | 光学濃度計 | |
| JPH01235834A (ja) | レーザ方式ガスセンサにおける信号処理方式 | |
| JPS60127433A (ja) | 温度検出装置の校正方法 | |
| JPH08285767A (ja) | 水分計 | |
| IE49064B1 (en) | Graphite tube temperature measurement | |
| JPH04160348A (ja) | 赤外線水分測定装置 | |
| JPH1068692A (ja) | 近赤外分析装置 | |
| JPH02259572A (ja) | 血糖値測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040304 |