JPH04160348A - 赤外線水分測定装置 - Google Patents

赤外線水分測定装置

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JPH04160348A
JPH04160348A JP2284340A JP28434090A JPH04160348A JP H04160348 A JPH04160348 A JP H04160348A JP 2284340 A JP2284340 A JP 2284340A JP 28434090 A JP28434090 A JP 28434090A JP H04160348 A JPH04160348 A JP H04160348A
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JP
Japan
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light
output voltage
photoelectric conversion
infrared
reference light
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Application number
JP2284340A
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English (en)
Inventor
Yasuo Saito
保雄 斉藤
Atsushi Misawa
三沢 淳
Kenji Konishi
賢治 小西
Yoshihiko Sugino
杉野 嘉彦
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IIOSU KK
Japan Tobacco Inc
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IIOSU KK
Japan Tobacco Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被測定物に近赤外線の測定光と参照光とを照
射し、該被測定物からの測定光の反射光量と参照光の反
射光量に基づいて該被測定物の水分値を測定する赤外線
水分測定装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、近赤外線を利用して水分値を測定する装置はいわ
ゆる赤外線水分計として知られており、水分に対して高
い吸収特性を示す近赤外領域の測定光とこの測定光付近
の波長で水に吸収されにくい参照光を被測定物に交互に
照射し、この測定光と参照光の被測定物からの各反射光
量を求め、参照光の反射光量と測定光の反射光量とを比
較することにより被測定物の色や成分などのちがいによ
る影響を低減して被測定物の水分値を測定するものであ
る。
第5図は従来の赤外線測定装置の一例を示すブロンク図
である。
光源41からの光は集光レンズ42で収束されて回転デ
ィスク43のフィルタ43a、43bによって測定光あ
るいは参照光にされ、反射板44を介して測定光と参照
光とが交互に試料Sに照射される。
また、試料Sからの反射光は集光レンズ45で集光され
てPbSで構成された赤外線検出器46に導かれ、この
赤外線検出器46は受光出力電圧を増幅器47に出力す
る。
そして、この増幅器47で増幅された電圧信号により、
マイクロコンピュータ等で構成された演算装置48で水
分値が演算される。
第6図は増幅器47の回路を示す図であり、いわゆいる
オートゲインコントロール(AGC) を構成している
すなわち、増幅器47の帰還抵抗471は、LED47
1 aとCd5471bとテフォト力フラの構造になっ
ており、LED471aに供給される電圧に応してCd
547 l bが抵抗値、すなわち、帰還抵抗471自
体の抵抗値が変わるようになってい′る。そして、この
増幅器47は、参照光についての出力電圧と基準電圧と
の偏差信号■。
によっLED471 aを駆動し、フィードバック制御
により、参照光についての出力電圧を一定レベルにコン
トロールする。
この、参照先についての出力電圧のコントロールは、演
算装置48で電圧信号をアナログ/ディジタル変換する
のに適したレベルにし、試料の反射率や測定距離の変動
に対して、各波長の出力電圧が大きく変動しないように
するためのものである。
なお、増幅率(A)は次式(1)になる。
A=1+Rf/R+  ・・・・・・(1)演算装置4
8における測定水分値は、参照光の受光出力に対応する
電圧出力■、と測定光の受光出力に対応する電圧出力v
Aの比の対数を演算し、例えば次式(2)により求めら
れる。
M = K +  + K2  ・log(Vu / 
Va  )  −・”(2)なお、Mは水分値、Kl、
に2はキャリブレーションにより予め設定された係数で
あり、具体的には、同一試料について赤外線水分測定装
置と乾燥法などの基準水分測定法とでそれぞれ測定を行
って回帰分析により係数Kl  、に2が求められる。
ここで、参照光は、試料Sまでの距離の変動や試料Sの
表面状態等の要因による測定誤差を軽減するためのもの
であるが、従来の装置では、この測定誤差が完全にはな
くならない。
この測定誤差の大きな要因は、例えば第4図に曲線Pで
示したように、赤外線検出器46を構成するPbS等の
入射光強度に対する出力電圧の非線形性にある。
すなわち、水分値Mは、前掲の式(2)によって求める
ものであるが、例えば測定距離が変動して■8、vAが
変動しても、この距離変動による■、。
■4への作用が等しければ、V、、V、の絶対値が変化
するだけで、その比は一定になる。したがって、この場
合には水分値Mは変動しないで測定誤差が現れない。
しかし、前記のように近赤外光電変換素子の特性が非線
形であると、上記のようにはならず測定誤差が現れてし
まう。
そこで本発明は、近赤外光電変換素子の特性による測定
誤差をなくした赤外線水分測定装置を提供することを課
題とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記の課題を解決するためになした本発明の赤外線水分
測定装置は、被測定物に近赤外線の測定光と参照光とを
照射し、該被測定物からの測定光と参照光との各反射光
を近赤外光電変換素子で受光し、上記測定光と参照光と
にそれぞれ対応する該近赤外光電変換素子の受光出力電
圧に基づいて上記被測定物の水分値を測定するようにし
た赤外線水分測定装置において、入力される制御信号に
応じて増幅率を変えることができるとともに前記近赤外
光電変換素子の受光出力電圧を増幅する増幅手段と、前
記参照光に対応する受光出力電圧についての上記増幅手
段からの出力電圧が一定レベルになるように該増幅手段
に前記制御信号を出力するとともに、該制御信号で指定
した該増幅手段の増幅率と該増幅手段からの出力電圧と
に基づいて前記近赤外光電変換素子の入射光量−出力電
圧特性を線形に補正した補正出力電圧を求め、前記測定
光と参照光とに対応する上記各補正出力電圧から前記被
測定物の水分値を演算する制御手段と、を備えたことを
特徴とする。
〔作 用〕
本発明の赤外線水分測定装置において、前記増幅手段か
らは、前記近赤外光電変換素子の受光出力電圧を増幅し
た出力電圧が得られる。一方、制御手段は、参照光に対
応する受光出力電圧の上記近赤外光電変換素子からの出
力電圧が一定レベルになるように制御信号を出力して増
幅手段の増幅率を制御する。
したがって、制御手段は増幅手段からの出力電圧とこの
増幅手段の増幅率により、近赤外光電変換素子からの出
力されている増幅前の受光出力電圧を求めることができ
、この受光出力電圧により近赤外光電変換素子の入射光
量−出力電圧特性を線形に補正した補正出力電圧を求め
ることができる。
したがって、演算に使用する電圧出力が近赤外光電変換
素子における入射光強度に対して直線的に比例するもの
となり、近赤外光電変換素子の特性による測定誤差がな
くなる。
〔実施例] 第1図は本発明実施例の赤外線水分測定装置を示すブロ
ック図であり、1は測定光と参照光の光束を生成すると
ともに試料Sからの反射光を検出するための光学系、2
は光学系1からのアナログ信号を処理するアナログ処理
部、3はアナログ処理部にからの信号に基づいて水分値
を演算・表示するディジタル処理部である。
光学系1は、光源11、第1集光レンズ12、回転ディ
スク13、ディスク回転用モータ14、反射板15、第
2集光レンズ16、凹面鏡17、凸面鏡18、PbSで
構成された赤外線検出器19を含んでいる。
第2図に示すように、回転ディスク13には、水分によ
って吸収されやすい近赤外領域の光(測定光)を選択透
過する測定波干渉フィルタ13a1と、水分によって殆
ど吸収されない近赤外領域の2種類の光(第1参照光お
よび第2参照光)をそれぞれ選択透過する参照波干渉フ
ィルタ13a2.13a3、それに可視光を選択透過す
る可視光干渉フィルタ13a4がそれぞれディスクの同
一円周上で取付けられており、ディスク回転用モータ1
4によって回転ディスク13が回転されると、上記各フ
ィルタ13aが第1集光レンズ12と反射板15間の光
路を順番に横切るようになっている。
なお、回転ディスク13の近傍には光センサなどによっ
て回転ディスク13の回転位置を検出する回転位置検出
器13bが配設されており、この回転位置検出器13b
の位置検出によって上記光路位置に来たフィルタの種類
すなわち測定光、参照光および可視光の種類がアナログ
処理部2で識別される。
光源11からの光は第1集光レンズ12で収束されて回
転ディスク13のフィルタ13aによって測定光、参照
光あるいは可視光にされ、反射板15を介して第2集光
レンズ16から試料Sに照射される。そして、試料Sか
らの反射光は凹面鏡17で集光されて凸面鏡18を介し
て赤外線検出器19に導かれ、この赤外線検出器19は
受光出力電圧をアナログ処理部2に出力する。なお、赤
外線検出器19における入射光強度と出力電圧との関係
は前記第4図のものと同じである。
赤外線検出器19からの出力電圧は回転ディスク13の
回転に伴って交流信号となり、この信号は交流増幅部2
1で増幅されて同期整流部22に入力される。また、回
転位置検出器13bからの位置検出信号は同期信号発生
部23に入力され、この同期信号発生部23は回転ディ
スク13の回転に伴って光学系1の光路を横切るフィル
タ13aの種類に応じた同期信号を発生して上記同期整
流部22に供給する。
同期整流部22の出力端子は、フィルタ13aの種類に
対応して上記同期信号毎に予め設定されており、交流増
幅部21から入力される電圧信号について、測定光によ
る電圧信号、2種類の参照光による電圧信号を、それぞ
れ同期信号から識別し、それぞれ整流して選択的に各出
力端子に出力する。そして、各電圧信号はディジタル処
理部3のアナログ入力部31に出力される。
なお、モータ制御部25は、ディジタル処理部3の演算
処理部31を構成するマイクロプロセッサの制御により
ディスク回転用モータ14の回転を制御する。また、温
度センサ26による装置内の検出温度はアナログ入力部
31を介して演算処理部31に入力され、温度補償がお
こなわれる。
第3図は交流増幅部21の回路を示す図であり、交流増
幅部21はプログラマブルゲインコントロールアンプで
構成されている。
すなわち、赤外線検出器19の出力電圧を増幅する増幅
器21aの帰還抵抗21bは予め抵抗値が設定されてい
る複数の抵抗器Rfl〜Rいを並列に接続したもので、
この抵抗器Rfl〜Rfnは、ディジタル処理部3から
の制御信号で動作するスイッチSWによって切換接続さ
れる。
この抵抗器Rfl〜Rf、、を切換接続することにより
、交流増幅部21における増幅率(A、〜A、)が選択
的に切換られる。また、増幅率(A、)は次式(3)に
なる。
Ai =1+Rfi/R,・・・・・・(3)なお、前
記従来の増幅器47では、帰還抵抗471のCd547
1の抵抗値は温度によっても変化するので、この従来の
増幅器47では正確な増幅率を知ることができず、従来
の装置では赤外線検出器46の実際の出力電圧を検出す
ることができなかったが、この実施例においては、交流
増幅部21の増幅率(A、)は分かっているので、赤外
線検出器19の実際の出力電圧を検出することができ。
ディジタル処理部3は、A/D変換器等を備えたアナロ
グ入力部31、マイクロプロセッサ等でディジタルデー
タの処理を行う演算処理部32、測定結果を表示する表
示部33、キーボード入力部34および交流増幅部22
に制御信号を出力するディジタル出力部35を含んでい
る。
アナログ処理部2の同期整流部22からの測定光の電圧
信号と参照光の電圧信号はアナログ入力部31でそれぞ
れ電圧値を示すディジタルデータに変換され、このデー
タに基づいて演算処理部32は参照光の電圧信号が一定
レベルになるようにディジタル出力部35から交流増幅
部22に制御信号を出力し、交流増幅部22の増幅率を
設定する。
また、演算処理部32は、交流増幅部22に設定した増
幅率(A、)とそのときの電圧信号(v  −′)のデ
ータとに基づいて赤外線検出器19からの受光出力電圧
(V)を演算し、この受光出力電圧(V)と次式(4)
により、第4図に破線Qで示したような赤外線検出器1
9における仮想的な特性すなわち、入射光強度と出力電
圧とが直線的な特性であるとした場合の電圧データ(V
)に変換する。
V=a、+a、 ・ v+a3・ v” +a、−v”
 −−−−−−(4)ただし、a+  *az  g 
 :+  、a=は赤外線検出器19の特性により予め
設定された係数である。
この変換は、参照光と測定光との何れについても行い、
参照先に対応する電圧データ(V、l)と測定光に対応
する電圧データ(■A)から、前掲の式(2)により水
分値(M)を演算する。
そして得られた水分値(M)を表示部33に表示する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、被測定物に近赤外
線の測定光と参照光とを照射し、この被測定物からの反
射光を近赤外光電変換素子で受光し、測定光と参照光と
にそれぞれ対応する近赤外光電変換素子の受光出力電圧
に基づいて被測定物の水分値を測定するようにした赤外
線水分測定装置において、増幅率を既知な値に変えるこ
とができる増幅手段で近赤外光電変換素子の受光出力電
圧を増幅して参照先に対応する増幅手段からの出力電圧
を一定レベルにし、増幅手段の増幅率とこの増幅手段か
らの出力電圧とに基づいて近赤外光電変換素子の入射光
量−出力電圧特性を線形に補正した補正出力電圧を求め
、測定光と参照光とに対応する各補正出力電圧から被測
定物の水分値を演pするようにしたので、近赤外光電変
換素子の非線形な特性による測定誤差をなくすことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の赤外線水分測定装置を示すブロ
ック図、 ・第2図は実施例における回転ディスクを示す図、第3
図は実施例における交流増幅部の回路を示す図、 第4図は本発明に係わる近赤外光電変換素子おける入射
光強度−出力電圧特性の一例を示す図、 第5図は従来の赤外線測定装置の一例を示すブロック図
、 第6図は従来の赤外線測定装置における増幅器の回路を
示す図である。 1・・・光学系、2・・・アナログ処理部、3・・・デ
ィジタル処理部、  19・・・赤外線検出器、21・
・・交流増幅部、31・・・演算処理部。 特許出願人    日本たばこ産業株式会社同    
株式会社イーオス 第3図 第4因 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被測定物に近赤外線の測定光と参照光とを照射し、該被
    測定物からの測定光と参照光との各反射光を近赤外光電
    変換素子で受光し、上記測定光と参照光とにそれぞれ対
    応する該近赤外光電変換素子の受光出力電圧に基づいて
    上記被測定物の水分値を測定するようにした赤外線水分
    測定装置において、 入力される制御信号に応じて増幅率を変えることができ
    るとともに前記近赤外光電変換素子の受光出力電圧を増
    幅する増幅手段と、 前記参照光に対応する受光出力電圧についての上記増幅
    手段からの出力電圧が一定レベルになるように該増幅手
    段に前記制御信号を出力するとともに、該制御信号で指
    定した該増幅手段の増幅率と該増幅手段からの出力電圧
    とに基づいて前記近赤外光電変換素子の入射光量−出力
    電圧特性を線形に補正した補正出力電圧を求め、前記測
    定光と参照光とに対応する上記各補正出力電圧から前記
    被測定物の水分値を演算する制御手段と、 を備えたことを特徴とする赤外線水分測定装置。
JP2284340A 1990-10-24 1990-10-24 赤外線水分測定装置 Pending JPH04160348A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006023284A (ja) * 2004-06-11 2006-01-26 Shimadzu Corp 紫外可視近赤外分光光度計用検出装置
JP2006226968A (ja) * 2005-02-21 2006-08-31 Ricoh Co Ltd 媒体種類判別装置

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