DE2801347C3 - Schaltungsanordnung zur Kompensation des Einflusses von Temperaturschwankungen auf das Ausgangssignal eines optischen Halbleiterstrahlungsdetektors - Google Patents
Schaltungsanordnung zur Kompensation des Einflusses von Temperaturschwankungen auf das Ausgangssignal eines optischen HalbleiterstrahlungsdetektorsInfo
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-
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs.
Ein an Spannung liegender Strahlungsdetektor so
erfährt bei Lichteinfall eine Stromänderung, die dem durch ihn bei Dunkelheil durchfließenden Dunkelstrom
fiberlagert ist. Bei einer Modulation in Form eines Wechsellichteinfalles geschieht uie Oberlagerung in
Form eines Wechselstromes. js
Das Detektorsignal besteht demnach aus den Komponenten
Dunkelstrom / = (77und
Wechselstrom I ~ (T).
Wechselstrom I ~ (T).
40
In Strahlungsdetektoren auf Halbleiterbasis sind
sowohl der Dunkelstrom / = (T)a\s auch der durch das
Wechsellicht hervorgerufene Wechselstrom / ~ (T) temperaturabhängig. Dabei beeinflussen Temperatur·
änderungen die Empfindlichkeit der Strahlungsdetektor <r,
ren auf das Wechsellicht, in deren Folge sich temperaturabhängige Amplitudenschwankungen ergeben. Beispielsweise wird bei Halbleiterdetektoren das
Wechselstromsignal mit steigender Temperatur kleiner. Damit wird die Genauigkeit des Meßsystems oft ;<
> erheblich eingeschränkt.
Ein bekannter Strahlungsdetektor besitzt zur Kompensierung des Einflusses der Umgebungstemperatur
neben dem Meßfühler aus einem Halbleitermaterial einen Bezugsfühler aus dem gleichen Halbleitermaterial. <-,<-,
Die beiden Meßfühler mit dergleichen steilen Kennlinie werden durch eine Heizung auf einem Temperaturarbeitspunkt gehalten, der auf dem Mittelwert des steilen
Teiles der Kennlinie liegt. Damit soll die maximal mögliche Ansprechempfindlichkeit erreicht werden. Die wi
Temperatur der Meßfühler wird dabei in einem Regelkreis geregelt, in dem der Bezugsmeßfühler den
Istwertgeber bildet. Er liefert dem Regelkreis die herrschende Umgebungstemperatur. Bei einem Abfall
dieser Temperatur unter den Wert, bei dem die hr>
maximale Temperaturabhängigkeit der Meßfühler vorliegt, wird mit dem Regelkreis über eine Heizeinrichtung eine Aufheizung vorgenommen und damit die
Einstellung der Temperatur auf den vorbestimmten Wert vorgenommen. Nachteilig ist die notwendige
Aufheizung der Meßfühler vor Meßbegtnn und die fehlende Möglichkeit der Feststellung der Erreichung
der Arbeitstemperatur. Bei der hohen Temperaturempftndlichkeit der Meßfühler muß der Arbeispunkt genau
eingehalten werden. Die Genauigkeit der Heizungsregelung geht entscheidend in das Meßergebnis ein. Die
erforderliche Heizeinrichtung mit der Steuerung vergrößert das Gerät und verlangt eine geeignete
Energieversorgung (DE-PS 19 64 190).
Bei einem weiteren bekannten Infrarot-Gasanalysator mit Transistorverstärker erfolgt die Kompensation
der temperaturbedingten Änderung der Detektorempfindlichkeit dadurch, daß ein in der Nähe des Detektors
im selben Gehäuse angeordneter Thermistor von der jeweiligen Umgebungstemperatur des Detekiors beeinflußt wird und sich dadurch seine elektrischen
Eigenschaften ändern. Der Thermistor ist als Shunt in den Rückkopplungszweig des Verstärkers eingefügt
und ändert die Verstärkung in Abhängigkeit von der Umgebungstemperatur des Detektors. Mit der vorhandenen räumlichen Anordnung des Thermistors ist dieser
jedoch nur imstande, die allgemeine Umgebungstemperatur des Detektors zu erfassen, die von der wirklichen
Temperatur des Oetektors abweichen kann (J. Sei. Instrum, 1964. Seiten 732 - 735).
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer Schaltungsanordnung der im Oberbegriff des Patentanspruchs genannten Art, durch welche die Temperaturabhängigkeit ohne zusätzliche Temperaturmeß- und
Regeleinrichtungen ausgeglichen wird.
Die Lösung der Aufgabe erfolgt gemäß dem Kennzeichen des Patentanspruchs.
Die Vorteile dieser Lö'ung werden im wesentlichen darin deutlich, daß der Temperaturgang sowohl für den
Dunkelstrom als auch für den Wechselstrom im gleichen System, nämlich dem Dete.ktorkr: tall, entsteht Damit
ist ein eventueller Fehler zwischen der Signalquelle und einem Temperaturaufnehmer nicht möglich. Die Temperaturkompensation erfolgt ohne zeitliche Verschiebung. Die temperaturabhängige Änderung des Dunkelstromes ist das Maß für die Temperatur, sie wird als
Stellgröße zur Korrektur des Wechselstromes verwendet.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand der Zeichnung im folgenden beschrieben. Dabei zeigen
in schematischer Darstellung die
Fig. 1 die Abhängigkeit des Dunkelstromes I=(T)
von der Temperatur.
Fig. 2 die Abhängigkeit des Wechselstromes I~(T) von der Temperatur.
F i g. 3 die Abhängigkeit der temperaturabhängigen Größen l=(T)und l~ (T)voneinander.
F i g. 4 ein Blockschaltbild zur Temperaturkompensation.
Die Modulation des Gleichlichteinfalls durch Zerhak
ken gibt die Möglichkeit, den Signalstrom als Wechselstrom I-(T) vom Dunkelstrom /=»(77 als Gleichstrom
zu unterscheiden.
Für das Beispiel wird ein PbSe-Detektor zugrunde
gelegt. Die Fig. I zeigt den Dunkelstrom I=(T) in
Abhängigkeit von der Temperatur T, die Fig. 2 die
Abhängigkeit des Wechselstromes I-(T) von der
Temperatur T bei konstanter Intensität des Wechsellichtes.
Die F i g. 3 zeigt den temperaturabhängigen Wechselstrom I~ (T) in Abhängigkeit vom temperaturabhängi-
gen Dunkelstrom I=(T). Dabei ergibt sich für die
verwendeten PbSe-Detektoren in guter Näherung ein linearer Zusammenhang zwischen Ι~(Τ)υηά I- (T). Die
Gerade hat die Neigung
C =
zur Abszisse Dunkelstrom /= (T).
Mit B als Dunkelstrom /= bei der Abgleichtemperatur
und D als Wechselstrom /~ bei der Abgleichtemperatur ergibt sich mit der Neigung C:
ι ο
Damit ist
(T) = D + C [Z = (T)- B]
(1)
Der korrigierte (temperaturunabhängige) Meßstrom
ist /·*. Er entsteht aus dem tempera Unabhängigen
Wechselstrom /~ (T) dividiert durch den Temperaturfaktor Q(T)
J* =
(T)
Q(T) ■
Damit ist aus (1)
Damit ist aus (1)
D + C[_l = (T)- B]
Q(T)
Für die Abgleichtemperatur ist /* =D,
daraus
D =
D + C · [/ = (D- B] Q(T)
(2)
(3)
(4)
(5)
Q{T)
=
Mit dem bekannten Wert A=-^, der beim Abgleich
aus den PbSe-DetektorsignaJen gewonnen wird, ergibt sich der Temperaturfaktor mit
Q(T) = 1 + A [J = (T) - B] .
Als temperaturabhängige Größe enthält die Gleichung (7) nur den Dunkelstrom /= (T).
Mit der Messung des Wechselstromes /~ (T) und des Dunkelstromes I=(T) läßt sich damit Ober Q(T) der
temperaturunabhängige Meßstrom
(T)
Q(T)
bestimmen.
Das Blockschaltbild, Fig.4, zeigt die Temperaturkompensation für den PbSe-Detektor.
Das von dem Strahlungsdetektor 1 kommende Ausgangssignal wird von der Trennstufe 2 in den
temperaturabhängigen Dunkelstrom /=/7?und den aus
der modulierten Strahlung entstandenen temperaturabhängigen Wechselstrom I~(T) zerlegt. Aus dem
Dunkelstrom I=(T)v/\rd in der Rech»nschahung 3 der
Temperaturfaktor
Q(T) = 1 + A ■ U = (T) - B]
als Korrektursignal gebildet und dem Dividierer 4
zugeleitet. In diesem wird der gleichfalls anliegende Wechselstrom I~(T) durch das Korrektursignal dividiert.
Das am Ausgang anstehende Meßstromsignal
em
ist temperaturunabhängig.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Schaltungsanordnung zur Kompensation des Einflusses von Temperaturschwankungen auf das Ausgangssignal eines optischen Halbleiterstrahlungsdetektors, der mit einer gechoppten Meßstrahlung beaufschlagt ist und bei dem das Verhältnis temperaturbedingter Änderungen des im Ausgangssignal enthaltenen Wechselstrom- und Dunkelstromanteils konstant ist, gekennzeichnet durcha) eine dem Strahlungsdetektor (1) nachgeschaltete Trennstufe (2) zur Zerlegung des Ausgangssignals in seinen Wechselstromanteil und seinen Dunkelstromanteil,b) eine Rechenschaltung (3) zur Ermittlung eines temperaturabhängigen Korrektursignals aus dem Ounkelstromanteil sowie aus vorgegebenen Materialkonsianten des Strahiungsdctck- tors(l).c) einen Dividierer (4) zur Bildung des Quotienten des Wechselstromanteils und des Korrektursignals.25
Priority Applications (1)
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DE19782801347 DE2801347C3 (de) | 1978-01-13 | 1978-01-13 | Schaltungsanordnung zur Kompensation des Einflusses von Temperaturschwankungen auf das Ausgangssignal eines optischen Halbleiterstrahlungsdetektors |
Publications (3)
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DE2801347A1 DE2801347A1 (de) | 1979-07-19 |
DE2801347B2 DE2801347B2 (de) | 1980-05-14 |
DE2801347C3 true DE2801347C3 (de) | 1981-02-19 |
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Family Applications (1)
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Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE4114592A1 (de) * | 1991-05-03 | 1992-11-05 | Licentia Gmbh | Photodetektoranordnung |
-
1978
- 1978-01-13 DE DE19782801347 patent/DE2801347C3/de not_active Expired
Also Published As
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DE2801347B2 (de) | 1980-05-14 |
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