DE3238179C2 - - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 26
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 25
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 6
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 45
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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Description
Die Erfindung betrifft einen Infrarot-Gasanalysator zur konti
nuierlichen Bestimmung der Konzentration eines mehr
atomigen, nichtelementaren Gases gemäß dem
Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein bekannter Gasanalysator (DE-PS 25 11 771) weist
eine Infrarot-Strahlungsquelle, ein Blendenrad zur
Erzeugung einer Infrarot-Wechsellichtstrahlung, eine
Meßkammer bzw. Absorptionsküvette zur Aufnahme des
zu analysierenden Gases und zwei im Strahlungsgang
hinter der Absorptionsküvette angeordnete Infrarot-
Detektoren auf, wobei einem der Detektoren ein Filter
vorgeschaltet ist, dessen Zentralwellenlänge im Absorp
rionsmaximum des zu analysierenden Gases liegt. Nach
teil dieses Analysators ist, daß ein geregelter Antrieb
für das Blendenrad erforderlich ist, um eine konstante
Drehzahl zu gewährleisten. Überdies wird die für den
zweiten Detektor bestimmte Infrarot-Strahlung durch
Reflexion an dem dem ersten Detektor vorgelagerten
Filter gewonnen. Oberflächenfehler und -verunreinigun
gen beeinflussen die Infrarot-Strahlung für den zweiten
Detektor, was zu Meßfehlern führt.
Bei einem anderen bekannten Gasanalysator (DE-PS
22 25 319) wird eine Infrarot-Wechsellichtstrahlung
mit Hilfe mehrerer Infrarot-Quellen erzeugt, die in
bestimmter, zeitlicher Zuordnung zueinander angesteuert
werden. Nachteil dieses Analysators ist, daß eine genau
definierte Taktfolge der die Infrarot-Quellen steuern
den Schalter einzuhalten ist, um eine ordnungsgemäße
Funktion dieses Gasanalysators aufrecht zu erhalten.
Dazu ist eine aufwendige Schaltung nötig.
Ein weiterer bekannter Gasanalysator (DE-OS 27 41 129)
weist eine Auswerteschaltung auf, die eine Quotienten
schaltung umfaßt. Nachteil dieses Analysators ist es,
daß zur Auswertung des Meßsignals eine Trennung und
Speicherung von Teilsignalen erforderlich ist, wozu
aufwendige Abtast- und Halteschaltungen vorzusehen
sind.
Bei einem anderen bekannten Gasanalysator (US-PS
43 46 296), der ebenfalls ein Blendenrad zur Erzeugung
einer Infrarot-Wechsellichtstrahlung aufweist, wird
eine Eichung zur Null- bzw. Endpunkteinstellung be
schrieben, die mit Hilfe eines Nullgases bzw. eines
Prüfgases erfolgt. Nachteilig ist hier, daß die Wechsel
lichtstrahlung einen gesteuerten Antrieb für das Blen
denrad erfordert und daß die Kalibrierung sehr aufwen
dig ist. Eine Nachkalibrierung ist ebenso aufwendig
wie die Grundeinstellung des Analysators, es ist auch
hier ein Prüfgas erforderlich.
In Hengstenberg/Strum/Winkler: "Messen, Steuern und
Regeln in der Chemischen Technik", Band II, 3. Auflage
1980 ist auf den Seiten 24 und 25 ein Einstrahl-Wechsel
lichtphotometer beschrieben. Bei dieser Anordnung ist
im Strahlengang eines Strahlers zwischen diesem und
einer Absorptionsküvette, die vom zu analysierenden
Gas durchströmt wird, eine drehbare Filterscheibe vorge
sehen. Auf der synchron umlaufenden Filterscheibe sind
radialsymmetrisch zwei Interferenzfilter angebracht.
Der Durchlaßbereich des ersten Filters liegt in einem
Bereich, in dem das nachzuweisende Gas sein Absorptions
maximum hat. Das zweite Filter hat seinen Durchlaßbe
reich an einer Stelle, wo das Gas nur geringe oder
möglichst keine Absorption aufweist. Die Filterscheibe
greift nun so in den Strahlengang ein, daß nacheinander
in periodischer Folge abwechselnd ein Meßlichtbündel
(wenn das erste Filter im Strahlengang liegt) und ein
Vergleichslichtbündel (wenn das zweite Filter im Strah
lengang liegt) auf einen photoelektrischen Empfänger
trifft. Aus den am Ausgang des photoelektrischen Empfän
gers zeitlich nacheinander anstehenden Meß- und Ver
gleichssignalen wird mit elektronischen Mitteln das
Verhältnis gebildet und als Meßwert ausgegeben. Der
Quotient ist ein Maß für die Konzentration des nachzu
weisenden Gases.
Bei diesem beschriebenen Photometer wird, ebenso wie
bei Photometern, die mit einem rotierenden Blendenrad
zur Modulation der Strahlung arbeiten, ein zusätzli
cher, eventuell geregelter Antrieb benötigt, um die
Blenden- bzw. Filterscheibe mit einer konstanten Dreh
zahl anzutreiben.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, einen Infrarot-Gas
analysator zur kontinuierlichen Bestimmung der Konzen
tration eines mehratomigen, nichtelementaren Gases
zu schaffen, der einen einfachen, optisch-mechanischen
Aufbau, insbesondere eine einfache Einrichtung zur
Erzeugung einer Infrarot-Wechsellichtstrahlung auf
weist.
Diese Aufgabe wird bei einem Gasanalysator der eingangs
genannten Art dadurch gelöst, daß die Mittel zur
Erzeugung der Infrarot-Wechsellichtstrahlung aus einer
getakteten Gleichspanungsquelle bestehen, die in einem
Frequenzbereich von 3 bis 30 Hz arbeitet, daß die bei
den Infrarot-Detektoren im Strahlengang unmittelbar
hinter der Absorptionsküvette angeordnet sind, daß
die Auswerteschaltung eine Quotientenschaltung umfaßt
und daß die Absorptionsküvette einen Einlaß sowie einen
Auslaß aufweist.
Die Verwendung einer getakteten Gleichspannungsquelle
zur Erzeugung einer Infrarot-Wechsellichtstrahlung
hat den Vorteil, daß die zeitliche Intensitätsänderung
der Strahlung wesentlich größer ist als bei Verwendung
eines Blendenrads; Störungen durch Streulicht wirken
sich weniger auf das Meßsignal aus, das überdies wesent
lich besser detektierbar ist.
Aus der DE-AS 24 00 221 ist im Zusammenhang mit Gasanalysatoren wohl
die Verwendung von elektrisch gepulsten thermischen Strahlen bekannt.
Dieser Gasanalysator ist jedoch mit Drucksensoren ausgestattet und
weist einen völlig anderen Strahlenverlauf auf, so daß er nichts zur
Lösung der vorgenannten Aufgabe beitragen kann.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind
in den Ansprüchen 2 bis 5 gekennzeichnet.
Besonders vorteilhaft ist es, daß das Filter austausch
bar ist. Dadurch kann der Infrarot-Gasanalysator pro
blemlos auf die Bestimmung verschiedener Gase umge
stellt werden.
Besonders vorteilhaft ist es, daß gemäß Anspruch 5 zur Nachkalibrierung
des Null- und des Endpunktes der Meßwertanzeige ledig
lich ein Nullgas, also ein Gas ohne die zu bestimmende
Komponente erforderlich ist, das wesentlich preiswerter
als ein Prüfgas ist.
Der Infrarot-Gasanalysator ist insbeson
dere als Betriebsmeßgerät vorgesehen. Einsatzbereiche sind
die Feuerungsüberwachung auf CO2 im Verbrennungsabgas, die
Raumluftüberwachung z. B. in Gewächshäusern u. a. m.
Die Erfindung wird nachstehend anhand einer in der Zeich
nung dargestellten Ausführungsform erläutert. Mit 1 ist
eine Infrarot-Strahlungsquelle bezeichnet, die von einer getakteten
Gleichspannungsquelle 9 versorgt wird und deren Strahlen
gang eine Absorptionsküvette 2 mit Zu- und Ableitung für
das Gasgemisch angeordnet ist. Die getaktete Gleichspannungsquelle 9 hat
eine Frequenz zwischen ca. 3-30 Hz. Die Infrarot-Strahlungsquelle
1 kann sowohl eine Glühfadenlampe oder eine andere Infra
rot-Strahlungsquelle sein. Zur Bündelung und Begrenzung
des Strahlenganges können außerdem eine Linse, ein Spiegel
und/oder eine Blende vorhanden sein, die in der Figur
nicht dargestellt sind. Im Strahlengang sind nach der
Absorptionsküvette 2 zwei Infrarot-Detektoren 4 a und 4 b ange
ordnet, deren Ausgänge über je einen Verstärker 5 a, 5 b,
Kondensator 6 a, 6 b mit je einem Eingang eines Synchron
gleichrichters 7 a, 7 b verbunden sind. Die Synchrongleich
richter 7 a, 7 b werden von der getakteten Gleichspannungsquelle 9 gesteuert. Dem
Infrarot-Detektor 4 a ist ein Filter 3 vorgeschaltet. Es ist
ein Interferenzfilter, dessen Durchlaßbereich mit dem
größten Absorptionsmaximum des Gases übereinstimmt, dessen
Konzentration gemessen wird. Damit wird eine Querempfind
lichkeit, die von der Überlagerung der Absorptionsbanden
mit anderen im zu bestimmenden Gas enthaltenen Komponenten
herrührt, beseitigt. Die Ausgänge der Synchrongleichrich
ter 7 a, 7 b führen zu einer Quotientenschaltung ε. Beide
Bausteine sind für sich bekannt und z. B. in Tietze/Schenk:
"Halbleiter-Schaltungstechnik", 5. Auflage, S. 235 und 683
beschrieben. Der Ausgang der Quotientenschaltung 8 ist
über einen geschlossenen Kontakt eines zweipoligen Um
schalters 10 mit dem Eingang eines Operationsverstärkers
11 verbunden, in dessen Rückkopplungszweig ein veränderba
rer Widerstand 16 geschaltet ist. An den Ausgang des Opera
tionsverstärkers 11 ist eine in der Figur nicht dargestell
te Meßwertanzeige angeschlossen. Der Mittelabgriff eines
aus Widerständen 12, 13 gebildeten ersten Spannungsteilers, von
dem der Widerstand 13 einstellbar ist, führt über den ande
ren geschlossenen Kontakt des zweipoligen Umschalters 10
ebenfalls zum Eingang des Operationsverstärkers 11. Den
freien Enden der Widerstände 12, 13 wird eine Referenzspan
nung zugeführt. Zwischen dem Ausgang der Quotientenschal
tung 8 und dem Bezugspotential ist ein zweiter Spannungsteiler, ge
bildet aus einem Widerstand 14 und einem einstellbaren Wi
derstand 15, geschaltet. Der Mittelabgriff des Spannungs
teilers führt zu einem anderen Umschaltkontakt desjenigen
Poles des Umschalters 10, der mit dem Ausgang der Quotien
tenschaltung 8 verbunden ist.
Die von der Infrarot-Strahlungsquelle 1 ausgehende Wechsellicht
strahlung durchdringt die Absorptionsküvette 2, die vom
Gas, dessen Konzentration bestimmt werden soll, durchströmt
wird. Je höher die Konzentration ist, um so mehr wird die
Strahlung durch Absorption geschwächt. Die Intensität des
aus der Absorptionsküvette austretenden Strahlenbündels
wird von den Infrarot-Detektoren 4 a, 4 b gleichzeitig erfaßt
und in elektrische Signale, die verstärkt und gleichge
richtet werden, umgewandelt. Mit dem Filter 3 wird die
Querempfindlichkeit beseitigt, so daß der Infrarot-Detektor 4 a
aus der Wechsellichtstrahlung nur den Wellenlängenbereich
detektiert, in dem die nachzuweisende Stoffkomponente eine
charakteristische Absorption besitzt. Die Zusammenschal
tung aus dem Infrarot-Detektor 4 b, Verstärker 5 b, Kondensator
6 b, Synchrongleichrichter 7 b ist vorgesehen, um die Einflüsse aus
zuschalten, die durch Verschmutzung der Absorptionsküvette
2 und durch die sich ändernden Eigenschaften der Bauele
mente Infrarot-Strahlungsquelle, Infrarot-Detektor und Verstärker ent
stehen. Aus den gleichgerichteten Signalen am Ausgang der
Synchrongleichrichter 7 a, 7 b wird in der Quotientenschaltung 8 das
Verhältnis gebildet und über den Umschalter 10 und den
Operationsverstärker 11 der Meßwertanzeige zugeleitet. Das
Verhältnis ist ein Maß für die Konzentration des Gases.
Zur Einstellung des Nullpunktes der Meßwertanzeige wird in
die Absorptionsküvette 2 ein sogenanntes Nullgas, d. h. ein
Gas, in dem die zu bestimmende Komponente nicht enthalten ist,
geleitet. Der Umschalter 10 ist in eine erste, untere Stellung zu legen,
in der der Ausgang der Quotientenschaltung 8 mit dem Ein
gang des Operationsverstärkers 11 verbunden ist. Mit dem
anderen Pol des Umschalters 10 wird gleichzeitig durch
Verstellen des Widerstandes 13 ein so großer Teil der am ersten
Spannungsteiler mit den Widerständen 12, 13 liegenden Referenzspannung zur
Meßspannung addiert, daß die Meßwertanzeige den Nullpunkt
anzeigt.
Zur Kalibrierung des Endpunktes der Meßwertanzeige wird
das zu bestimmende bzw. zu messende Gas einer bestimmten Konzentration (z. B.
20 Vol.-%) durch die Absorptionsküvette 2 geleitet. Der Wi
derstand 16 ist nun so zu verstellen, daß die Meßwertan
zeige den Meßbereichsendwert anzeigt. Dabei befindet sich
der Umschalter 10 noch in der ersten, unteren Stellung.
Zur Kalibrierung des Infrarot-Gasanalysators wird der
Umschalter 10 in eine zweite, obere Stellung gebracht,
in der der Eingang des Operationsverstärkers 11 mit
dem Mittenabgriff des zweiten Spannungsteilers mit den Widerständen 14, 15 verbunden
ist. Danach wird ein sogenanntes Nullgas, d. h. ein
Gas, das die zu bestimmende Komponente nicht enthält,
in die Absorptionsküvette geleitet. Der Widerstand 15
ist nun so zu verstellen, daß die Meßwertanzeige einen
frei wählbaren Konzentrationswert (z. B. den Meßbereichs
endwert von 20%) anzeigt.
Im Betrieb des Gasanalysators ändern sich durch Alte
rung und Verschmutzung die Strahlungsintensität der
Glühlampe und die Transmissionseigenschaften der Fen
ster der Absorptionsküvette und die des Filters. Über
dies ändert sich die Empfindlichkeit der Infrarot-Detektoren.
Aus diesem Grund ist ab und zu eine Nachkalibrie
rung des Null- und des Endpunktes der Meßwertanzeige
nötig. Dazu ist aufgrund des gegebenen Aufbaus des
Gasanalysators lediglich ein Nullgas erforderlich, das
wesentlich preiswerter als ein Prüfgas ist.
Der Nullpunkt der Meßwertanzeige wird durch den Wider
stand 13 eingestellt. Dabei befindet sich der Umschal
ter in der ersten, unteren Stellung.
Der Endpunkt 10 der Meßwertanzeige wird eingestellt,
indem der Schalter 10 in die zweite, obere Stellung
gebracht wird, die den Mittenabgriff des zweiten Spannungs
teilers mit den Widerständen 14, 15 mit dem Eingang des Operationsverstär
kers 11 verbindet. Der Widerstand 16 im Rückkopplungs
zweig des Operationsverstärkers wird nun so verstellt,
daß die Meßwertanzeige den zuvor frei wählbaren Gas
konzentrationswert (z. B. den Meßbereichsendwert von
20%) anzeigt.
Claims (7)
1. Infrarot-Gasanalysator zur kontinuierlichen Bestimmung der Konzentra
tion eines mehratomigen, nichtelementaren Gases mit
- - einer Infrarot-Strahlungsquelle,
- - mit Mitteln zur Erzeugung einer Infrarot-Wechsellicht strahlung,
- - einer Absorptionsküvette zur Aufnahme des zu analysieren den Gases,
- - zwei im Strahlengang hinter der Absorptionsküvette ange ordneten Infrarot-Detektoren, wobei einem Infrarot-Detek tor ein Filter vorgeschaltet ist, dessen Zentralwellen länge im Absorptionsmaximum des zu analysierenden Gases liegt, und
- - einer Auswerteschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die Mittel zur Erzeugung der Infrarot-Wechsellichtstrah lung aus einer getakteten Gleichspannungsquelle (9) be stehen, die in einem Frequenzbereich von 3 bis 30 Hz arbeitet,
- - die beiden Infrarot-Detektoren (4 a, 4 b) im Strahlengang unmittelbar hinter der Absorptionsküvette (2) angeordnet sind,
- - die Auswerteschaltung eine Quotientenschaltung (8) umfaßt und daß
- - die Absorptionsküvette (2) einen Einlaß und einen Auslaß aufweist.
2. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Filter (3) ein Interferenzfilter ist.
3. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1 und 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Filter (3) austauschbar ist.
4. Infrarot-Gasanalysator nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Infrarot-Strahlungsquelle (1) eine Glühlampe ist.
5. Infrarot-Gasanalysator nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswerteschaltung
- - einen ersten Spannungsteiler mit einem Widerstand (12) und einem veränderbaren Widerstand (13) sowie
- - einen mit dem Ausgang der Quotientenschaltung (8) verbun denen zweiten Spannungsteiler mit einem Widerstand (14) und einem veränderbaren Widerstand (15) aufweist, die über
- - einen Umschalter (10) mit
- - einem einen Rückkopplungszweig mit einem veränderbaren Widerstand (16) aufweisenden Operationsverstärker (11) verbindbar sind, dessen Ausgang an eine Meßwertanzeige angeschlossen ist,
wobei in einer ersten, unteren Stellung des Umschalters
(10) der Mittenabgriff des ersten Spannungsteilers (Widerstand 12, veränderbarer
Widerstand (13) sowie der Ausgang der Quotientenschaltung (8) mit dem
Operationsverstärker (11) verbunden sind und in einer zwei
ten, oberen Stellung des Umschalters (10) der Mittenabgriff
des zweiten Spannungsteilers (Widerstand 14, veränderbarer Widerstand 15) mit dem Operationsver
stärker (11) verbunden ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823238179 DE3238179A1 (de) | 1982-10-15 | 1982-10-15 | Anordnung zur messung der konzentration eines gases |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823238179 DE3238179A1 (de) | 1982-10-15 | 1982-10-15 | Anordnung zur messung der konzentration eines gases |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3238179A1 DE3238179A1 (de) | 1984-04-19 |
DE3238179C2 true DE3238179C2 (de) | 1989-02-23 |
Family
ID=6175744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19823238179 Granted DE3238179A1 (de) | 1982-10-15 | 1982-10-15 | Anordnung zur messung der konzentration eines gases |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3238179A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19749891A1 (de) * | 1997-11-12 | 1999-05-20 | Dittrich Elektronik J | Verfahren zur Messung einer Gaskonzentration mittels eines Infrarotsensors |
DE10221708A1 (de) * | 2002-05-16 | 2003-12-04 | Infratec Gmbh Infrarotsensorik | Verfahren und NDIR-Gasanalysator zur Bestimmung der Konzentration von Gasen und Dämpfen |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6120840A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Horiba Ltd | 赤外線分析計の校正機構 |
DE3506372A1 (de) * | 1985-02-21 | 1986-08-21 | Dr. Thiedig + Co, 1000 Berlin | Verfahren zur messung der konzentration eines gases und vorrichtung zu dessen durchfuehrung |
DE3512861A1 (de) * | 1985-04-04 | 1986-10-09 | Dr. Thiedig + Co, 1000 Berlin | Vorrichtung zur kontinuierlichen messung der konzentration eines gases |
DE3544015A1 (de) * | 1985-12-13 | 1987-06-19 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Gasanalysevorrichtung |
DE3619301A1 (de) * | 1986-06-07 | 1987-12-10 | Ruhrgas Ag | Verfahren und einrichtung zur messung der aldehydkonzentration in abgasen |
DE3819987C2 (de) * | 1988-06-11 | 1996-03-28 | Draegerwerk Ag | Schaltungsanordnung zum Betreiben einer pulsmodulierten Infrarot-Strahlungsquelle insb. für einen Infrarot-Gasanalysator |
DE4320861A1 (de) * | 1993-06-23 | 1995-01-05 | Hekatron Gmbh | Schaltungsanordnung für einen optischen Melder zur Umweltüberwachung und Anzeige eines Störmediums |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1494281A (fr) * | 1966-07-27 | 1967-09-08 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Appareil d'analyse non dispersif fonctionnant à l'aide d'une radiation infra-rouge |
US3734631A (en) * | 1971-05-28 | 1973-05-22 | Hewlett Packard Co | Nondispersive infrared gas analyzer employing solid state emitters and photodetectors |
DE2400221C3 (de) * | 1974-01-03 | 1978-06-01 | Bergwerksverband Gmbh, 4300 Essen | Nichtd'ispers'ives Infrarot-Gasanalysengerät |
DE2511771B2 (de) * | 1975-03-18 | 1977-02-17 | Adrian, Werner, Prof. Dr.-Ing., 7505 Ettlingen; Borkenstein, Robert F., Prof., Bloomington, Ind. (V.St.A.) | Anordnung zum bestimmen des alkoholgehaltes im blut |
DE2741129C2 (de) * | 1977-09-13 | 1986-08-21 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator |
US4346296A (en) * | 1980-08-15 | 1982-08-24 | Andros Analyzers Incorporated | Non-dispersive infrared gas analyzer |
-
1982
- 1982-10-15 DE DE19823238179 patent/DE3238179A1/de active Granted
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19749891A1 (de) * | 1997-11-12 | 1999-05-20 | Dittrich Elektronik J | Verfahren zur Messung einer Gaskonzentration mittels eines Infrarotsensors |
DE19749891B4 (de) * | 1997-11-12 | 2004-08-26 | Jürgen Dittrich | Verfahren zur Messung der Konzentration eines Gases in einem Gasgemisch, insbesondere in Luft, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE10221708A1 (de) * | 2002-05-16 | 2003-12-04 | Infratec Gmbh Infrarotsensorik | Verfahren und NDIR-Gasanalysator zur Bestimmung der Konzentration von Gasen und Dämpfen |
DE10221708B4 (de) * | 2002-05-16 | 2004-09-30 | Infratec Gmbh Infrarotsensorik Und Messtechnik | Verfahren zur Bestimmung der Konzentration von Gasen und Dämpfen und nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator zur Durchführung des Verfahrens |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3238179A1 (de) | 1984-04-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01N 21/61 |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: DR. THIEDIG + CO, 1000 BERLIN, DE |
|
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |