DE3047216A1 - "integrierter ccd-bildabtaster mit ladungsuebertragung im zwischenzeilenintervall" - Google Patents
"integrierter ccd-bildabtaster mit ladungsuebertragung im zwischenzeilenintervall"Info
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Description
BESCHREIBUNG
Die Erfindung betrifft einen CCD-Bildabtaster (CCD = Charge-Coupled-Device), also einen photoelektrischen Bildabtaster
mit Ladungsverschiebelementen, der außerdem eine Mehrzahl von Photosensorelementen mit PN-Übergang enthält,
die im folgenden als "PN-Photosensoren" bezeichnet werden. Zur gattungsgemäßen Definition der hier in Rede stehenden
CCD-Bildabtaster wird auf den Oberbegriff des Patentanspruchs 1 verwiesen.
Seit kurzem sind für Videokameras entwickelte CCD-Bildabtaster mit Ladungsübertragung im Zwischenzeilenintervall
bekannt, die eine Mehrzahl von mit CCD-Elementen verwirklichte Schieberegister und eine Mehrzahl von CCD-Photosensorelementen
aufweisen. Sämtliche Elektroden des Bildsensors bestehen aus sogenanntem "semitransparenten PoIysilizium".
Wegen der Teildurchlässigkeit der auf den CCD-Photosensorelementen aufgebrachten Polysilizium-Elektrode
zeigen die bekannten CCD-Bildabtaster eine niedrige Blauempfindlichkeit
.
Um die Blau-Empfindlichkeit zu verbessern, wurde bereits vorgeschlagen PN-Photosensoren zu verwenden, die jeweils
jedem CCD-Schieberegisterelement zugeordnet sind. In diesem Fall werden jedoch am Bildsensor Übertrag-Gate-Elektroden
benötigt, um die durch Photoeffekt im PN-Übergang der Photodiode angesammelten Ladungen in das betreffende CCD-Schieberegisterelement
zu übertragen. Diese Gate-Elektrode ist zusätzlich zu den ohnehin schon zweilagigen Elektrodenschichten
erforderlich, die unvermeidbarerweise für den Schiebebetrieb des Schieberegisters benötigt werden. Es
wird also eine dreilagige Elektrodenanordnung erforderlich.
Der Erfindung liegt damit die Aufgabe zugrunde, einen CCD-
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τεη meer - Müller - Steinmeister Sharp K.K. - 1539~GER-T
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Bildabtaster mit Ladungsübertragung im Zwischenzeilenintervall und hoher Empfindlichkeit zu schaffen, der sich mit
hoher Integrationsdichte herstellen läßt und eine geringere Elektrodenanzahl für die Ladungsübertragung bzw. den
Schieberegisterbetrieb benötigt, als vergleichbare Bildabtaster nach dem Stand der Technik. Insbesondere soll
auch eine kostengünstige Serienherstellung ermöglicht werden .
Die erfindungsgemäße Lösung ist im Patentanspruch 1 angegeben. Vorteilhafte Weiterbildungen des Erfindungsgedankens
sind in Unteransprüchen gekennzeichnet.
Erfindungsgemäß sind bei einem CCD-Bildabtaster der oben
beschriebenen Art die PN-Photosensorelemente über eine Oberflächenkanal-Potentialsperre
mit einem versenkten Kanalbereich des CCD-Halbleiterbauelements verbunden. Eine über
dem versenkten Kanalbereich aufgebrachte Polysilizium-Spelcher- oder -registerelektrode erstreckt sich bis zu dem erwähnten
Oberflächenkanal, der zwischen dem versenkten Kanal und der PN-Photodiode liegt, wodurch sich die Übertrag-Gate-Elektrode
vermeiden läßt.
Vorzugsweise weist eine erfindungsgemäß konstruierte Aufnahme-Zelleneinheit
in Vertikalausrichtung Schieberegister mit 488 Schieberegisterelementen, die zu 385 Spalten geordnet
sind, so daß sich insgesamt eine 488 χ 385-CCD-Bildsensormatrix
mit Ladungsübertragung im Zwischenzeilenintervall ergibt.
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Bei einer bevorzugten Ausführungsform wird die Polysilizium-Speicherelektrode
mit einem Signal mit drei Ansteuerpegeln gespeist. Der erste und zweite Ansteuerpegel dient als Takt-
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impuls für den Schiebebetrieb. Der dritte Pegel dient als Zeitsteuersignal zur übertragung der in den Photodioden
durch Lichteinwirkung angesammelten Ladungen in die vertikalen CCD-Schieberegister. Die Ausgangssignale der vertikalen
CCD-Schieberegister gelangen in Parallelform in ein horizontales CCD-Schieberegister, welches seinerseits über
einen Ausgangsverstärker ein Video-Ausgangssignal abgibt.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sowie weitere Einzelheiten werden nachfolgend unter Bezug auf die Zeichnung
näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 das Blockschaltbild eines bekannten CCD-Bildabtasters
mit Zwischenzeilen-Ladungsübertragung einschließlich der im Bildabtaster-Halbleiter
baustein enthaltenen PN-Photosensorelemente;
Fig. 2 die Schnittdarstellung einer einzelnen Zelle
des herkömmlichen CCD-Bildabtasters nach Fig. 1;
Fig. 3 die zeitbezogene Paralleldarstellung von Steuer- oder Treibersignalen, welche beim herkömmlichen
CCD-Bildabtaster nach Fig. 1 erforderlich sind;
Fig. 4 in Blockbilddarstellung eine Ausführungsform
eines erfindungsgemäßen CCD-Bildabtasters mit Zwischenzeilen-Ladungsübertragung;
Fig. 5 die Draufsicht auf einen Abschnitt des CCD-Bildabtasters nach Fig. 4 zur Erläuterung wesentlicher
Einzelheiten;
Fig. 6 eine Schnittdarstellung, gesehen in Richtung der Pfeile an der Schnittführungslinie VI-VI
in Fig. 5;
Fig. 7 die Schnittdarstellung, gesehen in Richtung der Pfeile an der Schnittführungslinie VII-VII in
Fig. 5;
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Fig. 8 die zeitbezogene Darstellung von Treiberoder Steuersignalen für den CCD-Bildsensor
nach Fig. 4;
Fig. 9 die zeitbezogene Darstellung eines anderen und 10 Beispiels von Treibersignalen für den CCD-Bildsensor
nach Fig. 4 und
Fig. 11 in schematischer Darstellung die Potentialverhältnisse
am PN-Übergang, dem Oberflächenkanal sowie dem versenkten Kanal beim CCD-Bildabtaster
gem. Fig. 4.
Um das Verständnis der Erfindung zu erleichtern, soll zunächst unter Bezug auf die Figuren 1 bis 3 ein herkömmlicher
CCD-Bildabtaster mit PN-Photosensorelementen beschrieben wer-
den, bei dem ein Ladungsübertrag während der Zwischenzeilendauer
erfolgt.
Die schematische Darstellung der Fig. 1, die in Draufsicht-Blockschaltbilddarstellung
den erwähnten bekannten CCD-BiIdabtaster zeigt, weist eine Mehrzahl von vertikalen CCD-Schieberegistern
10 auf, deren endseitig verfügbare Daten in Parallelform in ein CCD-Horizontalschieberegister 12 gelangen.
Jedes CCD-Speicherelement 100 eines einzelnen CCD-Vertikalschieberegisters 10 ist mit einem PN-Photosensorelement
über eine Potentialsperre 16 und ein übertrag- oder Transfer-Gate 18 verbunden. Das CCD-Vertikalschieberegister 10 umfaßt
beispielsweise 488 CCD-Speicherelemente 100. Jeweils zwei benachbarte CCD-Speicherelemente 100. im Vertikalschieberegister
10 sind miteinander verbunden und bilden ein Speicherelement für eine Binärζiffer, also für 1 Bit. Die
jeweils ungeradzahligen CCD-Speicherelemente 100 werden durch ein erstes Taktsignal 0γ gespeist. Sin zweites Taktsignal
0V mit zum ersten Taktsignal 0V entgegengesetzter Phase
2 1
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(vgl. Fig. 3) gelangt auf die geradzahligen CCD-Speicherelemente 100. Dem Horizontalschieberegister 12 werden Taktsignale
0„ und 0H zugeführt und am Ausgang erscheinen
über einen Ausgangsverstärker 20 Videoausgangsignale V
Die Fig. 2 läßt den konstruktiven Aufbau einer Einzelzelle erkennen. Eine N -Diffusionsschicht 22 und eine N -Diffusionsschicht
24 sind auf ein P-Typ-Halbleitersubstrat 26 unter Einhaltung eines festgelegten Abstands aufgebracht
und bilden ein Photosensorelement 14 mit PN-Übergang bzw. einen versenkten Kanalbereich für das CCD-Speicherelement
100. Zwischen den Diffusionsschichten 22 und 24 liegt ein Oberflächenkanal 28, der als Potentialsperre 16 wirkt. Eine
lichtdurchlässige Isolationsschicht 30 aus SiO2 ist auf dem
Halbleitersubstrat 26 aufgebracht und überdeckt die Substratoberfläche.
Eine Polysilizium-Transfergateelektrode 32 ist über dem Kanalbereich 28 aufgebracht. Eine Polysilizium-Speicherelektrode
34 ist über der N~-Diffusionsschicht 24 und über dem Oberflächenkanal 28 aufgetragen.
Die Speicherelektrode 34 überdeckt also den versenkten Kanalbereich
und erstreckt sich über die Transfergateelektrode 32. Das erwähnte erste bzw. zweite Taktsignal 0V bzw. 0V
beaufschlagt die Speicherelektrode 34 um einen Schieberegisterbetrieb zu ermöglichen. Ein Ubertrag-Taktsignal 0TG
wird der Transfergateelektrode 32 zugeführt, um den Ladungsübertrag von den im PN-Übergang des Photosensorelements
durch Lichteinwirkung entstandenen Ladungen zum versenkten Kanal des CCD-Speicherelements 100 zu bewirken. Eine lichtundurchlässige Aluminiumschutzschicht 36 überdeckt das Sub-
strat/ausgenommen die N -Diffusionsschicht 22.
Bei diesem bekannten CCD-Bildsensor wird außer der Transfergateelektrode
32 auch die zweilagig ausgebildete Speicher-
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elektrode 34 benötigt. Dies bedeutet, daß eine Polysilizium-Elektrodenschicht
in drei Lagen aufgebracht werden muß. Dadurch wird die Herstellung vergleichsweise kompliziert und
teuer.
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Mit der Erfindung läßt sich die Transfergateelektrode 32
vermeiden.
Die Figuren 4 bis 7 zeigen eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen
CCD-Bildabtasters für Zwischenzeilen-Ladungsübertragung gemäß der Erfindung. Die aus den Figuren
1 und 2 bereits bekannten Teile sind mit den gleichen Bezugshinweisen gekennzeichnet.
Das CCD-Vertikalschieberegister 10 umfaßt 488 CCD-Speicherelemente
100. Weiterhin sind 385 solcher CCD-Vertikalschieberegister 10 in Parallelform mit dem CCD-Horizontalschieberegister
12 verbunden, so daß sich insgesamt eine 488 χ 385-Matrixanordnung eines Bildsensors ergibt. Ein einzelnes
CCD-Speicherelement 100 ist mit dem zugeorndeten PN-Photosensorelement
14 wiederum über die Potentialsperre 16 verbunden.
Ein erstes Taktsignal 0y speist die ungeradzahligen CCD-Speicherelemente 100 und ein zweites Taktsignal
0V wird in Gegenphase zum ersten Taktsignal 0y den unge-
Ί radzahligen CCD-Speicherelementen 100 zugeführt (vgl. Fig.
8). Die Frequenz der beiden Taktsignale 0V und 0V wird
vorzugsweise zu 15,75 KHz gewählt, während die Betriebsfrequenz der Taktsignale 0H und 0H für das Horizontal-
schieberegister zu 7,15 MHz gewählt wird. 30
Die Figuren 5 bis 7 lassen den konstruktiven Aufbau eines erfindungsgemäßen CCD-Bildabtasters in Einzelheiten erkennen,
Die N~-Diffusionsschicht 24 ist auf dem P-Typ-Halbleitersub-
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strat 26 aufgebracht, um den versenkten Kanalbereich 38 für das CCD-Vertikalschieberegister 10 zu bilden. Die N+-
Diffusionsschicht 22 liegt ebenfalls über dem P-Typ-Halbleitersubstrat
26, so daß sich das PN-Photosensorelement 14 ergibt. Die N+-Diffusionsschicht 22 und die N~-Diffusionsschicht
24 sind räumlich voneinander getrennt, wobei zwischen beiden der Oberflächenkanal 28 entsteht. Ein Kanalbegrenzer
oder Kanalstopper 40 ist zwischen zwei benachbarten PN-Photosensorelementen 14 und zwischen einem jeweiligen
PN-Photosensorelement 14 und dem angrenzenden versenkten Kanalbereich 38 ausgebildet, der dem betreffenden
Photosensorelement 14 nicht zugeordnet ist. Der versenkte Kanalbereich 38 ist so gewählt, daß sein Potential
stets höher liegt, als das des Oberflächenkanals 38, wie das Potentialschaubild der Fig. 11 zeigt.
Die gesamte Oberfläche des Halbleitersubstrats 26 ist durch die transparente Si02-lsolationsschicht 3O überdeckt. Über
der Isolationsschicht 30 liegt eine erste Polysilizium-Speicherelektrode
42, welche den versenkten Kanalbereich 38 und den Oberflächenkanal 28 überdeckt. Außerdem ist über
der Isolationsschicht 30 eine zweite Polysilizium-Speicherelektrode 44 aufgebracht, welche den versenkten Kanalbereich
38 überdeckt, der von der ersten Speicherelektrode 42 nicht erfaßt wird. Die erste und die zweite Speicherelektrode
und 44 überlappen sich geringfügig, wie die Fig. 7 erkennen läßt und sie sind in Vertikalrichtung hintereinander ausgerichtet,
um das CCD-Vertikalschieberegister 10 zu erhalten. Die lichtundurchlässige Aluminiumschicht 36 überdeckt die
erste und zweite Speicherelektrode 42 und 44.
Die benachbarte erste und zweite Speicherelektrode 42 und sind miteinander verbunden und erhalten das gleiche Takt-
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signal 0V oder 0V . Insbesondere wird ein bestimmtes Paar
aus erster und zweiter Speicherelektrode 42, 44 mit dem ersten Taktsignal 0V versorgt, während das angrenzende
Paar aus erster und zweiter Speicherelektrode 42, 44 mit dem zweiten Taktsignal 0V beaufschlagt wird, wie die Fig.
7 erkennen läßt. Das erste und zweite Taktsignal 0V und
0y wird jeweils mit drei unterschiedlichen Ansteuerpegeln
zugeführt, was anhand der Fig. 8 erläutert wird. Zum Zeitpunkt eines hohen Signalpegels werden im PN-Photosensorelement
14 durch Lichteinwirkung angesammelte Ladungen in den versenkten Kanalbereich 38 des CCD-Speicherelements 100
übertragen. Der jeweils mittlere Pegel und der niedere Pegel dienen als Schiebetaktsignal des CCD-Vertikalschieberegisters
10, um die gespeicherten Ladungen in Richtung auf das CCD-Horizontalschieberegister 12 zu übertragen. Beim
Auftreten des Zwischenpegels bzw. des niedrigen Pegels werden die im PN-Photosensorelement 14 aufgrund von Lichteinwirkung
gesammelten Ladungen nicht in den versenkten Kanalbereich 38 übertragen. Zu bevorzugende Spannungswerte für
den hohen, mittleren bzw. niederen Pegel sind 11V, 6V bzw. OV.
Es ist bekannt, wie und weshalb sich elektrische Ladungen
im Photosensorelement 14 mit PN-Übergang aufgrund eines auftreffenden Lichtstrahls sammeln. Die so gesammelten
Ladungen werden in den versenkten Kanalbereich 38 übertragen, wenn das Taktsignal 0V oder 0V hohen Signalpegel
aufweist (t12-t13, t 22"t23f t32"t33 ·*"* vgl* Fig* 8) ' da
in diesem Fall die Potentialpegel der Potentialsperre 16 hochliegen. Aus den Figuren 4 und 8 ist ersichtlich, daß
die in den ungeradzahligen CCD-Speicherelementen 100 zugeordneten Photosensorelementen 14 gesammelten Ladungen in
den versenkten Kanalbereich 38 übertragen werden, wenn das
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erste Taktsignal 0 mit hohem Signalpegel vorliegt. Das
Potential am PN-Übergang wird auf das Potential der Potentialsperre 16 zurückgesetzt, sobald der Übertragvorgang
beendet ist. Die so übertragenen Ladungen werden sodann innerhalb des CCD-Vertikalschieberegisters 10 zum
CCD-Horizontalschieberegister 12 hin verschoben in Abhängigkeit
von der Umschalt- oder Wiederholungsfrequenz Niedrigpegel/Zwischenpegel des ersten bzw. zweiten Taktsignals
0™ bzw. 0y_. Der Schiebevorgang ist beendet bis das zweite
Taktsignal 0y hohen Signalpegel zeigt. Das Photosensorelement
14 sammelt wiederum erneut elektrische Ladung an, bis der nächste Hochpegel des ersten Taktsignals
0y erscheint.
Die in den geradzahligen CCD-Speicherelementen 100 zugeordneten Photosensorelementen 14 gesammelten Ladungen werden
in den versenkten Kanalbereich 38 übertragen, sobald das zweite Taktsignal 0V hohen Signalpegel aufweist. Sodann
V2
werden die übertragenen Ladungen im CCD-Vertikalschieberegister 10 gegen das CCD-Horizontalschieberegister 12 in Abhängigkeit von der Wiederholungsrate oder der Frequenz der Umschaltung "Niedrigpegel/Hochpegel" des ersten bzw. zweiten Taktsignals 0V bzw. 0V verschoben. Der Schiebevorgang ist abgeschlossen, sobald das erste Taktsignal 0y den nächsten Hochpegel zeigt. In den PN-Photosensorelementen 14 beginnt die Ladungsansammlung erneut , sobald der erwähnte Übertragvorgang beendet ist und die Ladungsansammlung dauert an, bis der nächste Hochpegel des zweiten Taktsignals <L, erscheint.
werden die übertragenen Ladungen im CCD-Vertikalschieberegister 10 gegen das CCD-Horizontalschieberegister 12 in Abhängigkeit von der Wiederholungsrate oder der Frequenz der Umschaltung "Niedrigpegel/Hochpegel" des ersten bzw. zweiten Taktsignals 0V bzw. 0V verschoben. Der Schiebevorgang ist abgeschlossen, sobald das erste Taktsignal 0y den nächsten Hochpegel zeigt. In den PN-Photosensorelementen 14 beginnt die Ladungsansammlung erneut , sobald der erwähnte Übertragvorgang beendet ist und die Ladungsansammlung dauert an, bis der nächste Hochpegel des zweiten Taktsignals <L, erscheint.
2
Diese Betriebsabläufe wiederholen sich und führen durch
das erläuterte Zeilensprungverfahren zu einem entsprechenden Videoausgangsignal VQut am Ausgang des Verstärkers
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Der Betrieb des CCD-Bildabtasters ist jedoch nicht auf
die zweiphasige Betriebsweise mit Zeilensprung beschränkt. Es läßt sich mit entsprechender Anpassung ebenso eine dreiphasige
oder vierphasige Ansteuerung verwirklichen. Auch sind die Taktsignale 0V und 0V nicht auf die in Fig. 8
dargestellte Signalform beschränkt. Die Fig. 9 zeigt vielmehr
ein anderes Beispiel für den Signalverlauf der Taktsignale 0y bzw. 0V , die sich ebenfso für den CCD-Bildabtaster
gemäß Fig. 4 eignen.
Die Fig. 8 veranschaulicht Taktsignale 0V und 0„ , die
V1 V2
sich bei Zeilensprungbetrieb auch für eine Bild- bzw. HaIbbildspeicherung
(Rahmenspeicherung) eignen. Ein anderes Beispiel für den Verlauf der Taktsignale 0V und 0y zeigt
die Fig. 10, die ebenfalls für die Halb- oder Feldspeicherung bei Zeilensprungbetrieb eignen.
sich
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Claims (6)
- PATENTANWÄLTETER MEER-MÜLLER-STEINMEISTERBeim Europaischen Patentamt zugelassene Vertreter — Professional Representatives before the European Patent Office Mandatalres agrees pres !'Office europeen de· brevetsDIpL-Chem. Dr. N. tar Meer Dipl -Ing. H. Steinmeister DipL-Ιηα. F. E. Müller Slekerwall 7Triftstrasse 4, Siekerwall 7,D-8OOO München 22 d-4soo Bielefeld 11539-GER-T 15. Dezember 1980Mü/Kü/vLSHARP KABUSHIKI KAISHA 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka, JapanIntegrierter CCD-Bildabtaster mit Ladungsübertragung im ZwischenzeilenintervallPriorität: 15. Dezember 1979, Japan, Nr. 54-163380PATENTANS PRÜCHE\). CCD-Bildabtaster mit Ladungsübertragung im Zwischenzeilenintervall mit mindestens- einem vertikalen CCD-Schieberegister mit einer Mehrzahl von CCD-Speicherelementen;- einer Mehrzahl von entlang dem vertikalen CCD-Schieberegister angeordneten Photosensorelementen mit PN-Übergang, die jeweils einem der Mehrzahl von CCD-130037/0709ORIGINAL INSPECTEDTER MEER - MUULER . STEINMEISTERSharp k.K. - 1539-GER-TSpeicherelementen zur Bildung einer Sensoreinheit zugeorndet sind, wobei die Anordnung so getroffen ist, daß innerhalb der Sensoreinheit jeweils zwischen einem Photosensorelement mit PN-Übergang und dem jeweils zugeordneten CCD-Speicherelement eine Potentialsperre oder ein Potentialwall vorliegt, gekennzeichnet durch- einen versenkten Kanalbereich (38) und- eine für die Auslösung des Schiebebetriebs im CCD-Vertikalschieberegister (10) bestimmte und auf dem versenkten Kanalbereich 38 angeordnete Speicherelektrode (42, 44), welche die Potentialsperre (16) überdeckt und bis zur Kante des zugeordneten aus der Mehrzahl von PN-Photosensorelementen reicht.
- 2. CCD-Bildabtaster nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet , daß das vertikale CCD-Schieberegister (10) und die Mehrzahl von Photosensorelementen (14) in ein Halbleitersubstrat integriert sind und daß zur Ausbildung der Potentialsperre (16) ein Oberflächenkanal (28) vorgesehen ist, der zwischen dem versenkten Kanalbereich (38) und dem in der Sensoreinheit enthaltenen Photosensorelement ausgebildet ist.
- 3. CCD-Bildabtaster nach Anspruch 1 oder 2,gekennzeichnet durch ein Signaltreiberquelle, welche die Speicherelektrode mit einem Treibersignal (0V bzw. 0y2) beaufschlagt, das durch drei Pegel gekennzeichnet ist, wobei ein unterer und ein Zwischenpegel als Taktsignal für die Schiebeoperation im vertikalen CCD-Schieberegister unc130037/0709ORIGINAL INSPECTEDCOPYTER MEER -MÖLLER ■ STE.NMEISTERder hohe Pegel als Takt- oder Zeitsteuersignal, zur übertragung von im jeweiligen Photosensorelemente enthaltene Ladungen zum versenkten Kanal im zugeordneten CCD-Speicherelement dienen.
- 4. CCD-Bildabtaster nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bildung eines matrixförmigen Bildabtasters, eine Mehrzahl von vertikalen CCD-Schieberegistern vorhanden ist.
- ■5. CCD-Bildabtaster nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildabtastermatrix 385 Spalten von vertikalen CCD-Schieberegistern aufweist und daß zu jedem vertikalen CCD-Schieberegister 488 CCD-Speicherelemente gehören.
- 6. CCD-Bildabtaster nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch ein horizontalesVz)
CCD-Schiebercgister, welches die Ausgangssignale derl'o) 385 Spalten der vertikalen CCD-Schieberegister in Paralllform aufnimmt und einen daran angeschlossenen. Verstärker zur Erzeugung eines Videosignals entsprechend dem Ausgangssignal des horizontalen CCD-Schieberegisters.130037/0709
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