JPS61144874A - 電荷転送装置 - Google Patents

電荷転送装置

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JPS61144874A
JPS61144874A JP59267708A JP26770884A JPS61144874A JP S61144874 A JPS61144874 A JP S61144874A JP 59267708 A JP59267708 A JP 59267708A JP 26770884 A JP26770884 A JP 26770884A JP S61144874 A JPS61144874 A JP S61144874A
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JP
Japan
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impurity layer
transfer
type impurity
charge transfer
charge
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Application number
JP59267708A
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English (en)
Inventor
Tetsuo Yamada
哲生 山田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/10Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode not carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • H01L29/1025Channel region of field-effect devices
    • H01L29/1062Channel region of field-effect devices of charge coupled devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14831Area CCD imagers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は電荷転送装置に関し、特にインターライン転送
型固体撮像装置に係わる。
〔発明の技術的背景〕
従来、インターライン型固体撮像装置としては、第5図
〜第8図に示すものが知られてる。ここで、15図は固
体撮像@麿の平面図、第6図は第5図を部分的に(点線
領域)拡大した平面図、第7図は第5図のx−X線に沿
う断面図、第8図は第7図のポテンシャル図である。
図中の1はN型のシリコン基板である。この基板1の表
面にはP型不純物層2が形成されている。
この不純物層2には、電荷を矢印Aの方向に転送する複
数の垂直レジスタ3が並列に設けられている。これら垂
直レジスタ3間には、夫々光電交換素子4が設けられて
いる。また、同不純物層2には、前記垂直レジスタの各
最終電荷転送段と結合して水平レジスタ5が設けられて
いるとともに、この水平レジスタ5と近接して出力回路
6が設けられている。また、前記P型の不純物層2には
水平レジスタ5の電荷転送路7を形成するN型不純物層
8、チャネルを分離するための高濃度不純物層9が夫々
設けられている。前記基板1上には絶縁膜10が設けら
れ、この絶縁1110内に垂直レジスタ3の一部を構成
する最終転送電極11が埋設されている。同絶縁111
10内には水平レジスタ5の一部を構成する第1の転送
電極12が前記最終転送電極11に結合して埋設されて
いるとともに、該転送電極12と対をなすM2の転送電
極13が設けられている。なお、図中の14は前記電荷
転送路7の転送方向日に直交する方向に幅が広がる延長
路を示す。こうした構造の装置において、光電変換素子
4で光電変換された信号電荷は垂直レジスタ3に同時に
並列転送されて該垂直レジスタ3により紙面の下方に向
かって並列転送され、水平レジスタ5の対応する転送段
に並列転送される。また、水平レジスタ5に並列転送さ
れた信号電荷列は矢印Cに向かって直列に転送され、出
力回路6で電圧信号として出力される。
〔背景技術の問題点〕
しかしながら、従来の固体撮像装置によれば、次に示す
問題点を有する。即ち、第8図に示す如く、水平レジス
タ5の第1の転送電極12の下のN型不純物層8内に形
成される電位分布は破線15に示すように、かつ転送さ
れるべき電荷は斜線16に示すようになって、第6図の
X−X線に沿って電荷はほとんど一様に形成される。そ
の結果、転送電荷は第6図の点Pから延長路14側にも
蓄積される。従って、一部の電荷は破線17に沿って迂
回しながら転送されてその実効的転送長は大幅に長くな
り、転送時間の長大化即ち高速転送における非転送効率
の増加をもたらす。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、迂回転送路
の形成を無くして高速転送動作化をなしえる電荷転送装
置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、垂直レジスタが形成されるべき不純物層の不
純物濃度を、水平レジスタが形成されるべき不純物濃度
より高くすることにより、同一電極電圧に対して水平レ
ジスタの転送路電位を垂直レジスタの転送路電位より高
くし、もって電荷が迂回して迂回転送路を形成すること
を無くし、高速転送動作化を図ったことを骨子とする。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例に係るインターライン転送型固
体撮像装置を第1図〜第4図を参照して説明する。ここ
で、第1図は固体Wi像装置の平面図、第2図は第1図
を部分的に(点線領域)拡大した平面図、第3図は第2
図のx−X線に沿う断面図、第4図は第3図のポテンシ
ャル図である。
なお、従来と同部材のものは同符号を用いて説明を省略
する。
図中の21は、N型のシリコン基板1の表面に設けられ
た第1のP型の不純物層である。この第1のP型の不純
物層21には、該不純物層21に対し相対的に低濃度の
第2のP型の不純物層22が設けられている。前記第1
のP型の不純物層21には垂直レジスタ23が設けられ
、また第2のP型の不純物層22には水平レジスタ24
が設けられている。ここで、前記不純物層21.22は
、例えばまず第2のP型の不純物層22の濃度を実現す
るための不純物をイオン注入等により第1のP型の不純
物層21全体にわたってイオン注入し、しかる後筒2の
P型の不純物層形成予定部を除いた領域(第1のP型の
不純物層)21にひきつづきイオン注入等を行ない、更
に熱工程を得てドライブインすることにより行なう。
しかして、本発明によれば、水平レジスタ24が形成さ
れている第2のP型の不純物層22の不純物濃度が、垂
直レジスタ23が形成されている第1のP型の不純物層
21の不純物濃度より低濃度となっているため、第1の
転送電極12の下のN型不純物層8に形成される電位分
布は第8図に示す如く破125.26となり、電位差2
7が生ずる。その結果、水平レジスタ5の電荷転送路1
0の実効的幅を第4図の斜線27内に局在化させ、転送
電荷が第2図の点Pを越えて延長路に広がるのを防ぐこ
とができる。従って、電荷の8速転送動作が可能となる
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明によれば、電荷の迂回転送路の
形成を無くし、高速転送動作化なしえるインターライン
転送型固体va像装置等の信頼性の高い電荷転送装置を
提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るインターライン転送型
固体+1aIIl装置の平面図、第2図は第1図を部分
的に拡大した平面図、第3図は第2図のX−X線に沿う
断面図、第4図は第3図のポンテンシャル図、第5図は
従来のインターライン転送型固体m像装置の平面図、第
6図は第5図を部分的に拡大した平面図、第7図は第6
図のx−X線に沿う断面図、第8図は第7図のポンテン
シャル図である。 1−N型のシリコン基板、4・・・光電変換素子、6・
・・出力回路、7・・・電荷転送路、8・・・N型不純
物層、9・・・高濃度不純物層、11・・・最終転送電
極、12.13・・・転送電極、14・・・延長路、2
1・・・第1のP型の不純物層、22・・・第2のP型
の不純物層、23・・・垂直レジスタ、24・・・水平
レジスタ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 1 図 第 3 図 第 4 図 第 5 図 第 6wJ 第 8 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1導電型の半導体基板と、この基板上に設けられた第
    2導電型の不純物層と、この不純物層上に並列に設けら
    れた複数の垂直レジスタと、同不純物層上に垂直レジス
    タの各最終電荷転送段と結合して設けられ、電荷を垂直
    レジスタの電荷転送方向とは直交する方向に転送する水
    平レジスタとを具備し、前記垂直レジスタが形成される
    べき不純物層の不純物濃度が、水平レジスタが形成され
    るべき不純物層の不純物濃度より高いことを特徴とする
    電荷転送装置。
JP59267708A 1984-12-19 1984-12-19 電荷転送装置 Pending JPS61144874A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59267708A JPS61144874A (ja) 1984-12-19 1984-12-19 電荷転送装置
DE8585116012T DE3577948D1 (de) 1984-12-19 1985-12-16 Ladungsverschiebeanordnung.
EP85116012A EP0185343B1 (en) 1984-12-19 1985-12-16 Charge transfer device
US07/057,304 US4721989A (en) 1984-12-19 1987-06-04 CCD with transfer channel at lower potential than supply channel

Applications Claiming Priority (1)

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JP59267708A JPS61144874A (ja) 1984-12-19 1984-12-19 電荷転送装置

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US (1) US4721989A (ja)
EP (1) EP0185343B1 (ja)
JP (1) JPS61144874A (ja)
DE (1) DE3577948D1 (ja)

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Publication number Publication date
DE3577948D1 (de) 1990-06-28
US4721989A (en) 1988-01-26
EP0185343A1 (en) 1986-06-25
EP0185343B1 (en) 1990-05-23

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