DE3028114C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3028114C2
DE3028114C2 DE3028114A DE3028114A DE3028114C2 DE 3028114 C2 DE3028114 C2 DE 3028114C2 DE 3028114 A DE3028114 A DE 3028114A DE 3028114 A DE3028114 A DE 3028114A DE 3028114 C2 DE3028114 C2 DE 3028114C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
inch
ohms
square
copper
resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE3028114A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3028114A1 (de
Inventor
Steven Randall St. Clair Shores Mich. Us Stoetzer
Robert Emerson Port Huron Mich. Us Wiley
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Acheson Industries Inc
Original Assignee
Acheson Industries Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Acheson Industries Inc filed Critical Acheson Industries Inc
Publication of DE3028114A1 publication Critical patent/DE3028114A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3028114C2 publication Critical patent/DE3028114C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0073Shielding materials
    • H05K9/0081Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding
    • H05K9/0092Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding comprising electro-conductive pigments, e.g. paint, ink, tampon printing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22FWORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F9/00Making metallic powder or suspensions thereof
    • B22F9/02Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes
    • B22F9/04Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes starting from solid material, e.g. by crushing, grinding or milling
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D5/00Coating compositions, e.g. paints, varnishes or lacquers, characterised by their physical nature or the effects produced; Filling pastes
    • C09D5/24Electrically-conducting paints
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Überzugszusammensetzung nach den Ansprüchen 1 bis 4 und eine Verwendung dieser Zusammensetzung gemäß den Ansprüchen 5 und 6.
Zum Stand der Technik seien die folgenden Druckschriften zitiert: Die US-Patentschriften 27 50 303, 29 80 719, 30 74 818, 31 42 814, 33 82 203, 39 98 993, 41 23 562, 27 50 307, 35 01 353, 35 32 528, 36 53 931, 38 67 738, 38 67 739, 37 16 427, 30 60 062, die deutschen Patentschriften 19 41 328 und 7 15 530 und die Datenblätter von Acheson Colloids Co. betreffend Electrodag 112, 414, 424 und 433.
Aus der DE-PS 7 15 530 ist es bekannt, einen elektrisch leitenden Überzug auf der Grundlage eines Bindemittelharzes oder einer entsprechenden Lösung herzustellen, in der Kupferteilchen dispergiert werden. Im konkret vorliegenden Fall ist hieraus ein Lack zur Herstellung stromleitender Überzüge bekannt, der Kupferpulver, ein Acryl- oder Vinylharz als Binder und ein organisches Lösungsmittel enthält. Jedoch weist dieser Lack wie alle zum Stand der Technik gehörigen Überzüge dieses Typs den Hauptnachteil auf, daß während der Lagerung und des Gebrauchs das Kupfer oxidiert und die elektrischen Eigenschaften sich soweit ändern, daß schädliche Einwirkungen auftreten. Unter verschiedenen Einsatzbedingungen ist die Änderung der elektrischen Eigenschaften so groß, daß ein zuvor leitender Überzug ein isolierender Überzug wird. Versuche, diese Änderungen der elektrischen Eigenschaften zu überwinden führten zum Ersatz von leitenden Kupferteilchen durch teurere Edelmetalle, wie z. B. Silber, Gold und Platin, was natürlich zu entscheidenden Erhöhungen der Kosten solcher Überzüge beitrug. Es ist daher schon seit langem nach einem Kupferdispersionsüberzug gesucht worden, der nach Aufbringen in Filmform auf ein Substrat noch gute elektrische Leitfähigkeit besitzt, selbst wenn der Überzug für längere Zeiten höheren Temperaturen ausgesetzt wird. In der Vergangenheit hat man auch die Behandlung der Kupferteilchen variiert, um deren Oxidation und die damit zusammenhängende Änderung der elektrischen Eigenschaften zu vermeiden. Einige der aufgezeigten Lösungswege bestanden in der Behandlung des Kupfers mit Chemikalien, wie z. B. Nitrobenzol, Benzotriazol, Chromsalzen, Silikaten und dergleichen. Andere Behandlungsvorschläge umfaßten den Einsatz von Alkoholen und Stearaten von hohem Molekulargewicht. Diese Versuche waren ineffektiv und insgesamt nicht erfolgreich. Weiterhin ist festzuhalten, daß viele dieser Oberflächenbehandlungen dazu führten, daß die Kupferteilchen eher einen elektrischen Isolator als den gewünschten elektrischen Leiter bildeten.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ausgehend von dem Stand der Technik, eine Kupferpulver enthaltende Überzugszusammensetzung anzugeben, die auch unter ungünstigen Bedingungen über längere Zeit eine hohe elektrische Leitfähigkeit aufweist und die umweltverträglich ist. Weiterhin ist es die Aufgabe der Erfindung, besonders geeignete Anwendungsgebiete für eine derartige Überzugszusammensetzung anzugeben.
Gelöst wird diese Aufgabe durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 und der Ansprüche 5 und 6.
Die erfindungsgemäße Überzugszusammensetzung enthält Kupferpulver von hoher Reinheit mit einer Partikelgröße von weniger 200 Micron. Das Bindemittel kann aus einem Harz der in dem Anspruch angegebenen Thermoplast- bzw. Duroplastgruppen bestehen. Schließlich enthält die Zusammensetzung noch ein organisches Titanat, das mindestens einen Dialkylpyrophosphat mit 1 bis 8 C-Atomen und gegebenenfalls mindestens einen Alkoxyrest aufweist. Die erfindungsgemäße Zusammensetzung hat eine Reihe von Vorteilen. Der eine besteht darin, daß der Überzug seine elektrische Leitfähigkeit auch bei erhöhten Temperaturen in einem Bereich von 71 bis hinauf zu Temperaturen von 93 und selbst noch höheren Temperaturen beibehält. Die Zusammensetzung kann als ein Überzug-Lufttrocknungs-System eingesetzt werden, das durch Sprühen aufgebracht wird und keinen weiteren Schutzüberzug erforderlich macht. Die erfindungsgemäße Zusammensetzung kann auch auf andere Weise, wie z. B. Aufbürsten oder Tauchen aufgebracht werden. Ein weiterer Vorteil ist, daß sie an der Luft trocknet. Die Einsatzzwecke der erfindungsgemäßen Zusammensetzung umfassen den Schutz gegen elektromagnetische Interferenz, die Herstellung von gedruckten Schaltungen durch Siebdruck und ähnliche Anwendungszwecke, für die ein Überzugsfilm hoher Leitfähigkeit benötigt wird. Die Vorteile gegenüber dem Stand der Technik sind vermutlich auf die Anwesenheit der besonderen organischen Titanate zurückzuführen, wobei es z. Z. nicht vollkommen verständlich ist, warum die vorliegende Erfindung zu den in hohem Maße einsatzfähigen Überzügen herausragender elektrischer Leitfähigkeit führt, insbesondere im Bereich der EMI-Schutzüberzüge.
Obwohl die vorliegende Erfindung in erster Linie zur Ausbildung der gewünschten elektrischen Eigenschaften des Kupfers in Überzügen oder Filmen eingesetzt worden ist, so ist jedoch als nicht zu vernachlässigender Nebeneffekt auch zu beachten, daß die erfindungsgemäßen Kupferüberzüge ein verbessertes Aussehen aufweisen.
Die Überzugszusammensetzungen der vorliegenden Erfindung besitzen die wünschenswerten Eigenschaften der leichten Herstellbarkeit, der langen Lagerzeit, der leichten Anbringbarkeit und - was am wichtigsten ist - der annehmbaren elektrischen Eigenschaften selbst bei Einsatz unter höheren Temperaturen.
Das in den Überzugszusammensetzungen eingesetzte Pigmentmaterial besteht im wesentlichen aus Kupfer. Zum Beispiel kann das Pigmentmaterial im wesentlichen aus reinem Kupfer für die Elektrotechnik (pure electrical grade copper) und/oder aus Kupferlegierungen für die Elektrotechnik (electrical grade copper alloy) bestehen. Normalerweise besitzen die für die Zwecke der vorliegenden Erfindung eingesetzten Kupferteilchen eine Reinheit von 95% und größer und vorzugsweise von 99% und größer.
Die mittlere Pigmentteilchengröße sollte im wesentlichen unter 200 µm und vorzugsweise unter 50 µm liegen.
Als Bindeharz können in der erfindungsgemäßen Zusammensetzung eine Reihe von verschiedenen Materialien eingesetzt werden. Das Bindeharz ist vorzugsweise ein thermoplastisches Harzmaterial, das mit den Kupferteilchen und dem in die Überzugszusammensetzung eingebrachten Titanatmaterial verträglich ist. Duroplastische Harze (thermosetting resins) können auch als Bindeharz eingesetzt werden. Das Bindeharz wird ausgewählt aus wenigstens einem Bestandteil der Gruppe bestehend aus thermoplastischem Acryl-, Vinyl-, Urethan-, Alkyd-, Polyester-, Kohlenwasserstoff-, Fluorelastomer- und Celluloseharzen und aus duroplastischen Acryl-, Polyester-, Epoxy-, Urethan- und Alkydharzen. Das ausgewählte Bindeharz sollte im wesentlichen ein solches sein, daß z. B. leicht für das Aufbringen von Sprühüberzügen geeignet ist und es sollte sowohl mit dem Kupfer als auch mit dem Titanat nicht ragieren.
Das Gewichtsverhältnis von Pigment zu Bindemittel in der Überzugszusammensetzung sollte im wesentlichen im Bereich zwischen ungefähr 20 : 1 und ungefähr 4 : 1 liegen.
Das organische Titanatmaterial, das in der Überzugszusammensetzung eingesetzt wird, ist ein solches, das dem auf ein Substrat aufgebrachten Überzug eine gute Wärmestabilität aufprägt. Weiterhin ermöglicht das Titanatmaterial dem Überzug ein Beibehalten der guten elektrischen Leitfähigkeit während einer längeren Einwirkung von höheren Temperaturen. Das in die Zusammensetzung eingebrachte organische Titanat soll etwa 1/2% bis ungefähr 18% bezogen auf das Gewicht des Pigmentmaterials in der Zusammensetzung ausmachen. Vorzugsweise sollte es im Bereich von ungefähr 2 Gew.-% bis ungefähr 12 Gew.-% des Pigmentmaterials liegen. Besonders gute Ergebnisse werden im Bereich von ungefähr 3% bis ungefähr 10% erzielt. Das organische Titanatmaterial kann beispielsweise vom Pyrophosphat-Typ sein. Gute Ergebnisse werden mit einem organischen Titanat erhalten, das mindestens einen Dialkylpyrophosphatrest vom 1-8 C-Atomen und mindestens einen Alkoxyrest mit 1-8 C-Atomen aufweist. Wie hierin beschrieben, ermöglicht es das organische Titanatmaterial dem auf ein Substrat aufgebrachten Überzug, eine elektrische Leitfähigkeit von unter 150 Ohm/Quadrat und vorzugsweise unter 10 Ohm/Quadrat bei einer Dicke von 0,025 mm (1/1000 Zoll) und bei einem Einwirken von Temperaturen oberhalb von 71°C zu behalten.
Eine Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß als organisches Titanat ein Titan-Chelat verwendet wird. In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wird ein Kupferpulver bzw. eine Kupferlegierung vorgesehen, deren Partikelgröße geringer als etwa 50 µm ist.
Weiterhin ist es möglich, der Zusammensetzung ein thixotropes Mittel in Form von feinzerteilter Kieselerde oder hydratisierten Silikaten in einer Menge von etwa 0,7 bis 7 Gew.-% (bezogen auf den Gesamtfeststoffgehalt) zuzusetzen.
Mit den erfindungsgemäßen Überzügen und ihren Ausgestaltungen können auch Ergebnisse von unter 5 Ohm/Quadrat erreicht werden. Für einige Anwendungsfälle ist auch noch eine Leitfähigkeit von 150 Ohm/Quadrat zufriedenstellend, aber in den meisten elektrischen Anwendungsfällen sind Widerstandswerte unter ungefähr 10 Ohm/Quadrat wünschenswert.
Die bevorzugt eingesetzten Titanate sind die folgenden:
1) Isopropyltri(dioctylpyrophosphato)titanat
2) Titanyldi(dioctylpyrophosphat)oxyacetat
3) Tri(butyloctylpyrophosphato)isopropyltitanat-mono(dioctylhydrogen) phosphit
4) Titanyldi(butyloctylpyrophosphat)di(dioctylhydrogenphosphit)- oxyacetat
5) Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat-mono(dioctylhydrogen) phosphit
6) Di(butylmethylpyrophosphat)ethylentitanat-mono(dioctylhydrogenphosph-at).
Der organische Lösungsmittel enthaltende Träger kann aus üblichen organischen Lösungsmitteln oder Lösungsmittelmischungen bestehen, die für das Auflösen oder Dispergieren des Bindeharzes geeignet sind. Wegen der bekannten Neigung der organischen Titanate, mit Wasser zu reagieren, sollte der Lösungsmittelträger einen sehr geringen Gehalt an Wasser haben oder im wesentlichen frei von Wasser sein. Weil der eine Zweck der Überzugszusammensetzung darin besteht, einen elektromagnetischen Interferenzschutz auf die Innenflächen von Kunststoffgehäusen von elektronischen Ausrüstungen aufzubringen, sollte die Lösungsmittelmischung nicht nur mit dem Harz und den Kupferteilchen verträglich sein, sondern auch mit dem Material der Kunststoffbehälter bzw. -umhüllungen, d. h. diese Kunststoffmaterialien nicht angreifen. Im Falle vieler lösungsmittelempfindlicher Kunststoffe hat sich z. B. eine Mischung von Isopropanol und Toluol als einsatzfähig herausgestellt. Um das Aufbringen zu erleichtern, ist es im allgemeinen wünschenswert, daß die Überzugszusammensetzung einen niedrigen Gesamtfeststoffgehalt besitzt. Viele der üblichen Lösungsmittel wie Ketone, Alkohole, Acetate können als Verdünner eingesetzt werden. Im allgemeinen sind geeignete Lösungsmittel die Ketone, die aromatischen Lösungsmittel, Alkohole, aliphatische Lösungsmittel und Mischungen davon.
Der prozentuale Gehalt an Gesamtfeststoffen in der Überzugszusammensetzung sollte im Bereich von ungefähr 20 Gew.-% bis ungefähr 85 Gew.-% und vorzugsweise im Bereich von ungefähr 40 Gew.-% bis ungefähr 80 Gew.-% liegen.
In den nachfolgenden Beispielen wurde zur Erleichterung der Vergleiche das Formulierungsverfahren im wesentlichen beibehalten. Zusätzlich zu den kleinen Schrotkornmühlen (shot mills) können natürlich auch größere Vorrichtungen wie Kugelmühlen, Steinmühlen, Attritoren (fortlaufend arbeitende oder unterbrochen arbeitende) Mischer mit hoher Scherwirkung eingesetzt werden.
Beispiel Nr. 1±)
Die Testüberzüge wurden durch Aufsprühen auf ein reines Glassubstrat und Lufttrocknung innerhalb eines Zeitraums von 24 Stunden hergestellt, ehe die anfängliche Messung und die nachfolgenden Messungen in den angegebenen Intervallen durchgeführt wurden.
Beispiel Nr. 2
Äthylmethacrylatharz, Acryloid B-72
10,0
Kupferpulver MD 750 Cu-Pigment 40,0
Toluol 20,0
Methyläthylketon 20,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR 62ES (Ken-Rich) 5,0
Abgerauchte kolloidale Kieselerde (Cabosil M-5) 0,5
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
9,93 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 13,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 34,5 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 3
Methylmethacrylatharz, Acryloid A-11
7,0
Kupferpartikel RL 500 70,0
Methyläthylketon 20,0
Methylisobutylketon 20,0
Isopropyltri(dioctylpyrophosphato)titanat KR38S organisches Titanat (Ken-Rich) 1,4
Bentonit-Ton Bentone 27 2,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,616 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,616 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,716 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 4
Thermoplastisches Vinylharz, Union Carbide Corp.
10,0
Kupferpartikel RL 500 120,0
Butylacetat 60,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit 8,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
2,92 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 2,82 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 4,00 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 5
Thermoplastisches Vinylharz, Union Carbide Corp. - VYND
5,0
Kupferpartikel RL 500 50,0
Methyläthylketon 40,0
Titanyldi(butyloctylpyrophosphat)di(dioctylhydrogenphosphit)oxyaceta-t KR158FS 5,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
10,24 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 11,56 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 14,88 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 6
Harzester-Überzugsharz Cellolyn 102
5,4
Äthylcellulose 5,4
Butanol 3,2
Xylol 2,2
Methyläthylketon 16,7
Butylacetat 11,0
Kupferpulver RL 500 50,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 9,0
abgerauchte kolloidale Kieselerde Cab-O-Sil M-5 1,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,563 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,605 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,735 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 7
Methylmethacrylatharz, Acryloid A-11
5,0
Toluol 30,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 8,0
Bentonit-Ton Bentone 34 1,5
Kupferpulver RL 500 60,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,184 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,196 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,208 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 8
Äthylcellulose
8,0
Xylol 49,0
Butanol 3,0
denaturierter Äthylalkohol 10,0
Tri(butyloctylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogenphosphit) KR58FS 6,0
Kupferpulver RL 500 40,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,584 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,604 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,660 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 9
Nitrocellulose
4,2
Toluol 3,2
Äthanol 12,0
Kupferpulver RL 500 36,0
Titanyldi(butyloctylpyrophosphat)di(dioctylhydrogenphosphit)oxyaceta-t KR158FS 1,8
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
3,2 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 3,2 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 3,2 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 10
Methylmethacrylatharz Elvacite 2008
10,0
Celluloseacetatbutyrat CAB 381-20 0,5
Kupferpulver RL 500 50,0
Toluol 20,0
Methyläthylketon 24,5
Titanyldi(butyloctylpyrophosphat)di(dioctylhydrogenphosphit)oxyaceta-t KR158FS 8,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
1,63 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 1,71 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 1,93 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 11
duroplastisches Acrylharz, Acryloid AT-50
20,0
Toluol 10,0
Kupferpulver RL 500 69,0
Isopropyltri(dioctylpyrophosphato)titanat KR-38S 6,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Härten: 20 min bei 159°C.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,124 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,128 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,128 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 12
Celluloseacetatbutyrat CAB 381-20
5,0
Kupferpulver RL 500 40,0
Methyläthylketon 49,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 3,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,728 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,796 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,928 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 13
Methylmethacrylatharz, Acryloid B-82
5,0
Kupferpulver RL 500 90,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 7,0
Toluol 40,0
Isopropanol 10,0
abgerauchte kolloidale Kieselerde Cabosil M-5 1,5
Butanol 5,0
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
1,28 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 1,38 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 2,15 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 14
Polyester-Desmophen 1300
10,0
Kupferpulver RL 500 50,0
Tri(butyloctylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogenphosphit) KR58FS 6,5
Methyläthylketon 10,0
Butylacetat 20,0
Polyisocyanat Mondur CB-75 18,0
Formulierungsverfahren:
1) Dispersion von KR58FS in Lösungsmitteln und Einbringen mit RL 500 und Des. 1300 in eine 8-Unzen-Schrotkugelmühle für 15 min.
2) Zugabe von Mondur CB-75 und kräftiges Durchmischen.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
24,9 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 24,5 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 29,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 15
Vinylharz, Union Carbide Corp. VAGH
8,0
Kupferpulver RL 500 60,0
Methylisobutylketon 40,0
Titanyldi(octylpyrophosphat)oxyacetat KR138S 8,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,616 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,736 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,952 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 16
Polyester-Überzugsharz INOLEX 5171-200
10,0
Kupferpulver RL 500 80,0
Toluol 30,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 9,0
Polyisocyanat Desmodur N-75 9,0
Formulierungsverfahren:
1) Vordispersion des Titanats in Lösungsmitteln.
2) Einbringen zusammen mit RL 500 und Polyester in eine 8-Unzen-Schrotkugelmühle für 15 min.
3) Zusammenbringen mit dem Polyisocyanat.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
2,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 2,54 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 3,02 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 17
duroplastisches Epoxyharz, Epon 1001
7,0
Harnstoffharz, Uformite F-492 3,0
Toluol 20,0
Methyläthylketon 20,0
Kupferpulver RL 500 70,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 5,0
Bentonit, Bentone 26 1,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Aushärten: 15 min bei 149°C.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
8,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 8,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 11,2 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 18
duroplastisches Polyesterharz, Cyplex 1600
18,0
härtbares Harnstoffharz, Beetle 80 3,0
Paratoluolsulfonsäure PTSA 0,2
Kupferpulver RL 500 140,0
Di(butylmethylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogen)phosphit KR62ES 9,0
Toluol 10,0
Butylacetat 10,0
Äthylenglycolmonoäthyläther, Cellosolve 10,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Aushärten: 60 min bei 149°C.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
137,6 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 136,0 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 136,0 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 19
Methylbutylmethacrylatcopolymer, Acryloid B-66
13,6
Kupferpulver, RL 500 Kupferpigment 54,3
Toluol 18,3
Äthanol, Jaysol 9,2
Titanyldi(octylpyrophosphat)oxyacetat Kr138S 4,5
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,417 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,447 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,498 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 20
Methylbutylmethacrylatcopolymer, Acryloid B-66
13,6
Kupferpulver, RL 500 Pigment 55,0
Toluol 18,3
Äthanol, Jaysol 5,0
Äthylenglycolmonoäthyläther, Cellosolve 4,3
Bentonit, Bentone 34 1,5
Tri(butyloctylpyrophosphat)isopropyltitanat mono(dioctylhydrogenphosphit) KR58FS 2,3
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr.1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
0,129 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 0,144 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 0,159 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Beispiel Nr. 21
duroplastisches Fluoroelastomerharz, Viton
10,0
Butylacetat 50,0
Titanyldi(butyloctylpyrophosphat)di(dioctylhydrogenphosphit)oxyaceta-t KR158FS 5,0
Kupferpulver, RL 500 Kupferpigment 80,0
Methyläthylketon 20,0
Formulierungsverfahren wie bei Beispiel Nr. 1.
Ergebnisse für einen aufgebrachten Überzug von 0,025 mm (1/1000 Zoll) Dicke:
Anfänglicher Widerstand-
13,6 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 1h bei 71°C- 18,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)
Nach 24h bei 71°C- 26,4 Ohm/Quadrat bei 0,025 mm (1/1000 Zoll)

Claims (6)

1. Überzugszusammensetzung, welche Kupferpulver, ein Harz und organisches Lösungsmittel als Träger enthält, dadurch gekennzeichnet, daß die Zusammensetzung als Kupferpulver Kupfer oder eine Kupferlegierung, mit einer Reinheit größer als 95% und einer Teilchengröße unter etwa 200 µm; als Bindemittel ein Harz aus der Gruppe der Thermoplaste Acryl-, Vinyl-, Urethan-, Alkyd-, Polyester-, Kohlenwasserstoff-, Fluorelastomer- und Cellulose-Harze und der Duroplaste Acryl-, Polyester-, Epoxy-, Urethan- und Alkyd-Harze in einer Menge von etwa 3 bis etwa 15 Gew.-%; und ein organisches Titanat in einer Menge von etwa 1/2 bis 18 Gew.-%, bezogen auf das Gewicht des Pigmentmaterials, enthält, wobei das organische Titanat mindestens einen Dialkylpyrophosphat- Rest mit 1-8 C-Atomen und gegebenenfalls mindestens einen Alkoxyrest mit 1-8 C-Atomen aufweist, wobei die Zusammensetzung einen Gesamtfeststoffgehalt im Bereich von etwa 40 bis etwa 85 Gew.-% hat und das Gewichtsverhältnis von Pigment zu Bindemittelharz im Bereich von etwa 20 : 1 bis etwa 4 : 1 liegt.
2. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das organische Titanat ein Titan-Chelat ist.
3. Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Kupfer oder die Kupferlegierung eine Partikelgröße von weniger als etwa 50 µm hat.
4. Zusammensetzung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie zusätzlich mindestens ein thixotropes Mittel aus der Gruppe feinzerteilte Kieselerde und hydratisierte Silikate enthält, wobei das Mittel in einer Menge von etwa 0,1 bis 7 Gew.-%, bezogen auf den Gesamtfeststoffgehalt, vorliegt.
5. Verwendung der Zusammensetzung nach den Ansprüchen 1 bis 4 für einen Überzug auf der Umhüllung von elektronischen Baugruppen und elektronischen Geräten.
6. Verwendung nach Anspruch 5 als Überzug in einer Dicke von 0,025 mm.
DE19803028114 1979-07-26 1980-07-24 Ueberzugszusammensetzung zum aufpraegen einer guten elektrischen leitfaehigkeit auf ein substrat und verfahren zur herstellung und aufbringung des ueberzugs Granted DE3028114A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/060,771 US4305847A (en) 1979-07-26 1979-07-26 Copper coating composition for shielding electronic equipment and the like

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3028114A1 DE3028114A1 (de) 1981-02-12
DE3028114C2 true DE3028114C2 (de) 1991-07-11

Family

ID=22031642

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803028114 Granted DE3028114A1 (de) 1979-07-26 1980-07-24 Ueberzugszusammensetzung zum aufpraegen einer guten elektrischen leitfaehigkeit auf ein substrat und verfahren zur herstellung und aufbringung des ueberzugs

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4305847A (de)
JP (1) JPS5636553A (de)
CA (1) CA1148346A (de)
DE (1) DE3028114A1 (de)
FR (1) FR2462770A1 (de)
GB (1) GB2055386B (de)
NL (1) NL187402C (de)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4404125A (en) * 1981-10-14 1983-09-13 General Electric Company Polyphenylene ether resin compositions for EMI electromagnetic interference shielding
US4486225A (en) * 1982-06-07 1984-12-04 Mpd Technology Corporation Production of highly reflective metal flake
US4482374A (en) * 1982-06-07 1984-11-13 Mpd Technology Corporation Production of electrically conductive metal flake
ES523024A0 (es) * 1982-06-07 1984-11-01 Mpd Technology Un procedimiento para preparar escamas metalicas
JPS6088027A (ja) * 1983-10-20 1985-05-17 Toyobo Co Ltd 導電性樹脂組成物
GB8418518D0 (en) * 1984-07-20 1984-08-22 Tioxide Group Plc Compositions incorporating titanium compounds
DE3564636D1 (en) * 1984-07-31 1988-09-29 Mitsubishi Petrochemical Co Copper-type conductive coating composition
JPS6167702A (ja) * 1984-09-07 1986-04-07 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 導電性粉末及びこれを用いた導電性組成物
US5017784A (en) * 1985-03-11 1991-05-21 Savin Corporation Thermal detector
US4619741A (en) * 1985-04-11 1986-10-28 Olin Hunt Specialty Products Inc. Process for preparing a non-conductive substrate for electroplating
US4631117A (en) * 1985-05-06 1986-12-23 Olin Hunt Specialty Products Inc. Electroless plating process
US4678716A (en) * 1985-08-06 1987-07-07 Chomerics, Inc. Electromagnetic shielding
US4629756A (en) * 1985-11-04 1986-12-16 E. I. Du Pont De Nemours And Company Heat reflective polymer blends
US4684560A (en) * 1985-11-29 1987-08-04 Olin Hunt Specialty Products, Inc. Printed wiring board having carbon black-coated through holes
US4724005A (en) * 1985-11-29 1988-02-09 Olin Hunt Specialty Products Inc. Liquid carbon black dispersion
JPS62225573A (ja) * 1986-03-28 1987-10-03 Fukuda Metal Foil & Powder Co Ltd 導電性ペ−スト用銅粉
DE3700178A1 (de) * 1986-03-31 1987-10-01 Mitsubishi Gas Chemical Co Elektromagnetische wellen abschirmende thermoplastische harzmasse
US4622108A (en) * 1986-05-05 1986-11-11 Olin Hunt Specialty Products, Inc. Process for preparing the through hole walls of a printed wiring board for electroplating
US4622107A (en) * 1986-05-05 1986-11-11 Olin Hunt Specialty Products Inc. Process for preparing the through hole walls of a printed wiring board for electroplating
JPS6355807A (ja) * 1986-08-27 1988-03-10 古河電気工業株式会社 導電性ペ−スト
US4718993A (en) * 1987-05-29 1988-01-12 Olin Hunt Specialty Products Inc. Process for preparing the through hole walls of a printed wiring board for electroplating
US4997674A (en) * 1987-06-30 1991-03-05 Akzo America Inc. Conductive metallization of substrates via developing agents
US5068150A (en) * 1988-02-01 1991-11-26 Mitsui Kinzoku Kogyo Kabushiki Kaisha Copper powder for electroconductive paints and electroconductive paint compositions
US5061566A (en) * 1989-12-28 1991-10-29 Chomerics, Inc. Corrosion inhibiting emi/rfi shielding coating and method of its use
DE4124458A1 (de) * 1991-07-24 1993-01-28 Degussa Emi-abschirmpigmente, verfahren zu deren herstellung und deren verwendung
US5968600A (en) * 1995-09-15 1999-10-19 Egyptian Lacquer Mfg. Co. EMI/RFI-shielding coating
US5696196A (en) * 1995-09-15 1997-12-09 Egyptian Lacquer Mfg. Co. EMI/RFI-shielding coating
US6013203A (en) * 1998-08-19 2000-01-11 Enthone-Omi, Inc. Coatings for EMI/RFI shielding
KR100500542B1 (ko) * 2001-12-26 2005-07-12 주식회사 인트켐 Emi 도료 조성물
US8192811B2 (en) * 2003-03-14 2012-06-05 Graham Packaging Pet Technologies Inc. Delamination-resistant multilayer container, preform and method of manufacture
US8617745B2 (en) 2004-02-06 2013-12-31 A123 Systems Llc Lithium secondary cell with high charge and discharge rate capability and low impedance growth
JP5460948B2 (ja) 2004-02-06 2014-04-02 エー123 システムズ, インコーポレイテッド 高速充放電性能を備えたリチウム二次電池
FR2912416A1 (fr) 2007-02-12 2008-08-15 Primo Pack Utilisation d'une resine plastifiante pour la protection de surfaces.
PL2191482T3 (pl) 2007-09-13 2017-08-31 Henkel Ag & Co. Kgaa Kompozycja przewodząca prąd elektryczny
US8167190B1 (en) 2011-05-06 2012-05-01 Lockheed Martin Corporation Electrically conductive polymer compositions containing metal particles and a graphene and methods for production and use thereof
CN107674580A (zh) * 2017-11-08 2018-02-09 常熟市晓轶金属配件厂 一种吐丝管

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE715530C (de) * 1939-01-13 1941-12-23 Fritz Wermer Fa Dr Lack zur Herstellung stromleitender UEberzuege
US3074818A (en) * 1960-02-03 1963-01-22 Gen Electric Insulated conductor and method of producing same
US3142814A (en) * 1961-08-10 1964-07-28 Sprague Electric Co Titanate ester resistor
NL299131A (de) * 1962-10-11
US3573230A (en) * 1968-10-16 1971-03-30 Acheson Ind Inc Electrically conductive,low friction fluorocarbon polymer coating method
DE1941328A1 (de) * 1969-08-14 1971-03-04 Grillo Werke Ag Mittel zum Schutz metallischer Oberflaechen gegen atmosphaerische Korrosion
US3602632A (en) * 1970-01-05 1971-08-31 United States Steel Corp Shielded electric cable
JPS524027B2 (de) * 1971-12-18 1977-02-01
US3790697A (en) * 1972-10-30 1974-02-05 Okonite Co Power cable shielding
US3983075A (en) * 1974-06-21 1976-09-28 Kennecott Copper Corporation Copper filled conductive epoxy
US4187389A (en) * 1975-04-11 1980-02-05 Sola Basic Industries, Inc. Shielded electrical conductor terminations and methods of making same
US4138369A (en) * 1976-10-02 1979-02-06 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Pressure sensitive conductor and method of manufacturing the same
US4070518A (en) * 1976-10-15 1978-01-24 E. I. Du Pont De Nemours And Company Copper metallizations
US4143238A (en) * 1977-02-28 1979-03-06 Belden Corporation Shielded ultra-miniature cable

Also Published As

Publication number Publication date
DE3028114A1 (de) 1981-02-12
JPS5636553A (en) 1981-04-09
GB2055386A (en) 1981-03-04
NL8004291A (nl) 1981-01-28
CA1148346A (en) 1983-06-21
NL187402C (nl) 1991-09-16
GB2055386B (en) 1983-03-30
US4305847A (en) 1981-12-15
FR2462770B1 (de) 1984-03-30
NL187402B (nl) 1991-04-16
FR2462770A1 (fr) 1981-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3028114C2 (de)
DE69732417T2 (de) Verfahren zum entwirren von hohlen kohlenstoff-mikrofasern, elektrisch leitfähige, transparente kohlenstoff-mikfrofaser aggregationsfilme und beschichtungszusammensetzung für die herstellung eines solchen films
DE3102015C2 (de)
DE10297325T5 (de) Spannungsveränderliches Trägermaterial
US4382981A (en) Method for shielding electronic equipment by coating with copper containing composition
DE2811028A1 (de) Energiekabel, insbesondere isolierueberzug fuer ein energiekabel
DE3543924A1 (de) Flexibles schaltungssubstrat mit elektrisch leitfaehiger klebeschicht und seine herstellung
DE2460482C3 (de) Verfahren zum Herstellen eines leitenden Überzugs
DE2809818A1 (de) Silberzusammensetzungen
DE102013000638A1 (de) Polymerdickfilm-Lotlegierungsleiterzusammensetzung
DE3631632A1 (de) Verfahren zur schaffung elektrisch leitfaehiger schaltkreise auf einer grundplatte
DE3613060A1 (de) Ueberzugsmittel mit hoher elektrischer leitfaehigkeit und dessen verwendung zur herstellung von ueberzuegen
EP0348795A2 (de) Verbundmaterialien aus einem Trägermaterial und elektrisch leitfähigen Polymerfilmen
EP0090215A2 (de) Transparente Leitschicht
DE1519311A1 (de) Elektrostatisches Spritzen
DE2655137C2 (de) Verfahren zur elektrochemischen Bearbeitung metallischer Oberflächen
DE3030453C2 (de)
DE2164844A1 (de) Pulverförmige Überzugsmittel für die elektrophoretische Beschichtung
DE19927520C2 (de) Gegen gepulste Spannungsstöße beständige Emaildrähte
DE2031446A1 (de) Schutzuberzug fur dünne ferromagneti sehe Schichten
DE1809572A1 (de) Glasurmittel enthaltender Isolationswerkstoff zur Herstellung elektronischer Mikroschaltungen bzw.unter Verwendung solchen Isolationswerkstoffes hergestelltes Schaltungselement und Verfahren zur Herstellung elektronischer Mikroschaltungen
DE2310284B2 (de) Verfahren zu elektrischem Aufbringen von Glasteilchen auf einen Körper aus Halbleitermaterial
DE2309171A1 (de) Kathodische schutzschaltung bzw. -anordnung
DE19643670A1 (de) Überspannungs-Schutzmaterial zur Verwendung bei Schaltungsplatten
DE2166805A1 (de) Leitlack

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition