DE2935716A1 - Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke eines films durch ausnutzung von infrarot-interferenzerscheinungen - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke eines films durch ausnutzung von infrarot-interferenzerscheinungenInfo
- Publication number
- DE2935716A1 DE2935716A1 DE19792935716 DE2935716A DE2935716A1 DE 2935716 A1 DE2935716 A1 DE 2935716A1 DE 19792935716 DE19792935716 DE 19792935716 DE 2935716 A DE2935716 A DE 2935716A DE 2935716 A1 DE2935716 A1 DE 2935716A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- film
- infrared
- infrared light
- interference
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10754778A JPS5535214A (en) | 1978-09-04 | 1978-09-04 | Method and device for film-thickness measurement making use of infrared-ray interference |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2935716A1 true DE2935716A1 (de) | 1980-03-06 |
DE2935716C2 DE2935716C2 (en, 2012) | 1987-07-09 |
Family
ID=14461940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792935716 Granted DE2935716A1 (de) | 1978-09-04 | 1979-09-04 | Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke eines films durch ausnutzung von infrarot-interferenzerscheinungen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4254337A (en, 2012) |
JP (1) | JPS5535214A (en, 2012) |
DE (1) | DE2935716A1 (en, 2012) |
FR (1) | FR2435019A1 (en, 2012) |
GB (1) | GB2033079B (en, 2012) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3135443A1 (de) * | 1981-09-08 | 1983-03-24 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Verfahren und fotometrische anordnung zur dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer schichten |
DE3248157A1 (de) * | 1981-12-29 | 1983-07-07 | Chugai Ro Kogyo Co., Ltd., Osaka | Vorrichtung zum messen der dicke einer beschichtung auf einer unterlage |
EP0197199A1 (en) * | 1985-03-22 | 1986-10-15 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Apparatus for and a method of measuring the thickness of a film |
EP0304795A3 (en) * | 1987-08-28 | 1990-09-12 | Agfa-Gevaert Ag | Device for checking of coated and uncoated foils |
EP0304793A3 (en) * | 1987-08-28 | 1990-09-12 | Agfa-Gevaert Ag | Device for the determination of the thickness of film bases |
EP0545738A3 (en, 2012) * | 1991-12-06 | 1994-01-05 | Hughes Aircraft Co | |
EP0577399A3 (en) * | 1992-06-29 | 1995-05-10 | Hughes Aircraft Co | Apparatus and method for metrology of the thickness of a thin layer of film having local deformations and variations in slope. |
WO2017067542A1 (de) * | 2015-10-22 | 2017-04-27 | Precitec Optronik Gmbh | Messvorrichtung und verfahren zur messung der dicke einer flächigen probe |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6134167Y2 (en, 2012) * | 1981-02-12 | 1986-10-06 | ||
JPS57150001U (en, 2012) * | 1981-03-17 | 1982-09-20 | ||
JPS57157105A (en) * | 1981-03-24 | 1982-09-28 | Kokusai Electric Co Ltd | Device for measuring thickness of thin film |
JPS5879401U (ja) * | 1981-11-25 | 1983-05-28 | 本田技研工業株式会社 | 車両用ホイ−ル |
US4522510A (en) * | 1982-07-26 | 1985-06-11 | Therma-Wave, Inc. | Thin film thickness measurement with thermal waves |
JPS6037226A (ja) * | 1983-08-10 | 1985-02-26 | Hitachi Ltd | 二部材の結合方法 |
JPS60127403A (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-08 | Anritsu Corp | 厚み測定装置 |
DE3373341D1 (en) * | 1983-12-27 | 1987-10-08 | Ibm Deutschland | White-light interferometer |
US4958930A (en) * | 1985-12-11 | 1990-09-25 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for monitoring thickness variations in a film web |
JPH0617774B2 (ja) * | 1987-06-22 | 1994-03-09 | 大日本スクリ−ン製造株式会社 | 微小高低差測定装置 |
DE3939877A1 (de) * | 1989-12-01 | 1991-06-06 | Siemens Ag | Messanordnung zur beruehrungslosen bestimmung der dicke und/oder thermischen eigenschaften von folien und duennen oberflaechenbeschichtungen |
DE3939876A1 (de) * | 1989-12-01 | 1991-06-06 | Siemens Ag | Messanordnung zur beruehrungslosen bestimmung der dicke und/oder thermischen eigenschaften von folien und duennen oberflaechenbeschichtungen |
JPH03285106A (ja) * | 1990-03-31 | 1991-12-16 | Photonics:Kk | 表面検査装置 |
US5293214A (en) * | 1991-12-06 | 1994-03-08 | Hughes Aircraft Company | Apparatus and method for performing thin film layer thickness metrology by deforming a thin film layer into a reflective condenser |
US5290586A (en) * | 1992-09-10 | 1994-03-01 | International Business Machines Corporation | Method to monitor Meta-Paete cure on metallized substrates |
US5406090A (en) * | 1993-02-22 | 1995-04-11 | Mattson Instruments, Inc. | Spectrometer and IR source therefor |
US5452953A (en) * | 1993-10-12 | 1995-09-26 | Hughes Aircraft Company | Film thickness measurement of structures containing a scattering surface |
FR2716531B1 (fr) * | 1994-02-18 | 1996-05-03 | Saint Gobain Cinematique Contr | Procédé de mesure d'épaisseur d'un matériau transparent. |
DE19601923C1 (de) * | 1996-01-12 | 1997-07-24 | Inst Chemo Biosensorik | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen organischer Substanzen |
US5752607A (en) * | 1996-03-18 | 1998-05-19 | Moen Incorporated | Process for distinguishing plumbing parts by the coatings applied thereto |
US5909282A (en) * | 1996-05-31 | 1999-06-01 | Tropel Corporation | Interferometer for measuring thickness variations of semiconductor wafers |
US6034774A (en) * | 1998-06-26 | 2000-03-07 | Eastman Kodak Company | Method for determining the retardation of a material using non-coherent light interferometery |
FR2780778B3 (fr) | 1998-07-03 | 2000-08-11 | Saint Gobain Vitrage | Procede et dispositif pour la mesure de l'epaisseur d'un materiau transparent |
US6470294B1 (en) * | 1999-04-13 | 2002-10-22 | Qualitek-Vib, Inc. | System and method for the on-line measurement of glue application rate on a corrugator |
GB0611156D0 (en) * | 2006-06-07 | 2006-07-19 | Qinetiq Ltd | Optical inspection |
JP5009709B2 (ja) * | 2007-07-20 | 2012-08-22 | 富士フイルム株式会社 | 厚み測定用光干渉測定装置 |
US9581433B2 (en) | 2013-12-11 | 2017-02-28 | Honeywell Asca Inc. | Caliper sensor and method using mid-infrared interferometry |
DE102015007054A1 (de) | 2015-06-02 | 2016-12-08 | Thomas Huth-Fehre | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Dicke von dünnen organischen Schichten |
CN108050947A (zh) * | 2018-01-02 | 2018-05-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种膜层厚度的检测方法 |
WO2020128593A1 (en) * | 2018-12-20 | 2020-06-25 | Arcelormittal | Measure of the degree of crystallinity of a polymer coating on a metal substrate |
JP7230540B2 (ja) * | 2019-01-31 | 2023-03-01 | セイコーエプソン株式会社 | 分光システム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1147406B (de) * | 1956-02-10 | 1963-04-18 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zur Messung von Dicke und Brechungsindex duenner, schwach absorbierender Schichten |
DE2054084A1 (de) * | 1969-11-05 | 1971-05-19 | Brun Senson Systems Inc | Verfahren und Gerat zur Unter druckung von Interferenzfehlern bei Zweistrahl Infrarotmessungen |
DE2414034A1 (de) * | 1973-03-26 | 1974-10-10 | Ibm | Verfahren zur messung der dicke mehrerer uebereinanderliegender schichten |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3238839A (en) * | 1962-03-29 | 1966-03-08 | Gen Electric | Optical thickness gauge |
US3601492A (en) * | 1967-11-20 | 1971-08-24 | Monsanto Co | Apparatus for measuring film thickness |
US3693025A (en) * | 1969-11-28 | 1972-09-19 | Brun Sensor Systems Inc | Apparatus and method for eliminating interference errors in dual-beam infrared reflection measurements on a diffusely reflecting surface by geometrical elimination of interference-producing specularly-reflected radiation components |
GB1382081A (en) * | 1972-03-14 | 1975-01-29 | Ici Ltd | Transmission spectra |
US3973122A (en) * | 1974-06-17 | 1976-08-03 | Ixcon Inc. | Measuring apparatus |
US4027161A (en) * | 1976-04-05 | 1977-05-31 | Industrial Nucleonics Corporation | Minimizing wave interference effects on the measurement of thin films having specular surfaces using infrared radiation |
-
1978
- 1978-09-04 JP JP10754778A patent/JPS5535214A/ja active Pending
-
1979
- 1979-08-23 GB GB7929457A patent/GB2033079B/en not_active Expired
- 1979-08-29 US US06/070,555 patent/US4254337A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-08-31 FR FR7921872A patent/FR2435019A1/fr active Granted
- 1979-09-04 DE DE19792935716 patent/DE2935716A1/de active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1147406B (de) * | 1956-02-10 | 1963-04-18 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zur Messung von Dicke und Brechungsindex duenner, schwach absorbierender Schichten |
DE2054084A1 (de) * | 1969-11-05 | 1971-05-19 | Brun Senson Systems Inc | Verfahren und Gerat zur Unter druckung von Interferenzfehlern bei Zweistrahl Infrarotmessungen |
DE2054084B2 (de) * | 1969-11-05 | 1973-03-08 | Brun Sensor Systems Ine , Columbus, Ohio (V St A ) | Zweistrahl-infrarotmessung im reflexions- oder durchstrahlungsverfahren |
DE2414034A1 (de) * | 1973-03-26 | 1974-10-10 | Ibm | Verfahren zur messung der dicke mehrerer uebereinanderliegender schichten |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3135443A1 (de) * | 1981-09-08 | 1983-03-24 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Verfahren und fotometrische anordnung zur dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer schichten |
DE3248157A1 (de) * | 1981-12-29 | 1983-07-07 | Chugai Ro Kogyo Co., Ltd., Osaka | Vorrichtung zum messen der dicke einer beschichtung auf einer unterlage |
EP0197199A1 (en) * | 1985-03-22 | 1986-10-15 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Apparatus for and a method of measuring the thickness of a film |
US4676647A (en) * | 1985-03-22 | 1987-06-30 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Film thickness measuring device and method |
EP0304795A3 (en) * | 1987-08-28 | 1990-09-12 | Agfa-Gevaert Ag | Device for checking of coated and uncoated foils |
EP0304793A3 (en) * | 1987-08-28 | 1990-09-12 | Agfa-Gevaert Ag | Device for the determination of the thickness of film bases |
EP0545738A3 (en, 2012) * | 1991-12-06 | 1994-01-05 | Hughes Aircraft Co | |
US5333049A (en) * | 1991-12-06 | 1994-07-26 | Hughes Aircraft Company | Apparatus and method for interferometrically measuring the thickness of thin films using full aperture irradiation |
EP0577399A3 (en) * | 1992-06-29 | 1995-05-10 | Hughes Aircraft Co | Apparatus and method for metrology of the thickness of a thin layer of film having local deformations and variations in slope. |
WO2017067542A1 (de) * | 2015-10-22 | 2017-04-27 | Precitec Optronik Gmbh | Messvorrichtung und verfahren zur messung der dicke einer flächigen probe |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4254337A (en) | 1981-03-03 |
FR2435019B1 (en, 2012) | 1984-02-24 |
DE2935716C2 (en, 2012) | 1987-07-09 |
GB2033079A (en) | 1980-05-14 |
GB2033079B (en) | 1983-05-18 |
JPS5535214A (en) | 1980-03-12 |
FR2435019A1 (fr) | 1980-03-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2935716C2 (en, 2012) | ||
DE69523459T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur detektion der position einer faltenlinie eines verpackungsstreifens | |
DE2853520C2 (en, 2012) | ||
DE3926349C2 (en, 2012) | ||
DE69021813T2 (de) | Apparat und Verfahren für die Ausmessung von dünnen mehrschichtigen Lagen. | |
DE1447253A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen interferometrischen Messung von Dickeoder Brechungsindex eines laufenden Films | |
DE2552541A1 (de) | Gleichzeitige durchlaessigkeit periodischer spektralkomponenten durch vielfach interferometrische geraete | |
DE19912500A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn | |
DE2721891A1 (de) | Stabiles zweikanalspektrometer mit einzelfilter | |
DE2428123A1 (de) | Anordnung zum nachweisen von fehlstellen mittels abtastung durch einen laserstrahl | |
DE3937851A1 (de) | Laser-doppler-geschwindigkeitsmesser | |
DE2054084A1 (de) | Verfahren und Gerat zur Unter druckung von Interferenzfehlern bei Zweistrahl Infrarotmessungen | |
DE2153315A1 (de) | Verfahren zur interferenzspektroskopischen Spektraluntersuchung einer Probe und Interferenz-Spektroskopiegerät zur Durchführung dieses Verfahrens | |
DE3607244A1 (de) | Vorrichtung zur erfassung der laengskanten eines stabfoermigen objekts | |
DE2909400C2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Dicke einer Kunststoffolienschicht mittels Infrarotlichts | |
DE3503086C1 (de) | Verfahren bzw.Vorrichtung zur Messung der Wanddicke von transparenten Gegenstaenden | |
EP0323564A2 (de) | Optische Fehlerinspektionsvorrichtung | |
DE2423340A1 (de) | Abtastverfahren | |
EP0716292A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens zum Messen einer Lage von Bahnen oder Bogen | |
DE69421649T2 (de) | Optische Prüfvorrichtung für die Füllung von Zigaretten | |
DE3685631T2 (de) | Absorptionsmesser zur bestimmung der dicke, feuchte oder anderer parameter eines films oder einer beschichtung. | |
DE3732149C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Charakterisieren einer Genauigkeitseigenschaft einer optischen Linse | |
DE2212498A1 (de) | Raman-Spektrometer | |
DE3401475C2 (en, 2012) | ||
DE19720330C1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Spannungen in Glasscheiben mit Hilfe des Streulichtverfahrens |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
OI | Miscellaneous see part 1 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ASAHI KASEI KOGYO K.K., OSAKA, JP |
|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: BLUMBACH, P., DIPL.-ING., 6200 WIESBADEN WESER, W. |
|
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |