DE2926842C2 - Schaltung zum Lesen von Strömen elektrischer Ladungen und Ladungstransferfilter unter Verwendung dieser Schaltung - Google Patents
Schaltung zum Lesen von Strömen elektrischer Ladungen und Ladungstransferfilter unter Verwendung dieser SchaltungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltung zum Lesen von Strömen elektrischer Ladungen, mit einem ersten Transistor
und einem mit diesen in Serie geschalteten zweiten Transistor am Eingangspunkt der Ladungsmenge
und mit einer ersten am Verbindungspunkt der beiden Transistoren liegenden Kapazität
Die Erfindung betrifft weiter ein Ladungstransferfüter,
das eine Schaltung der vorstehend angegebenen Gattung enthält
Ein Ladungstransferfilter z. B. in der Ausführungsform eines Transversalfilters besteht bekanntlich aus
(Q5) und des fünften Transistors (Qt), wobei der 25 einem Halbleiter, der mit einer Isolierschicht bedeckt ist
zweite Transistor (Qi) steuerelektrodenseitig auf der die Elektroden angeordnet sind. An diese Elektroden
werden periodische Potentiale angelegt die den Transport der das zu behandelnde Signal darstellenden
elektrischen Ladunespakete bewirken. Die Elektroden
Verbind^ngspunkt (F) des zweiten" Transistors 30 sind parallel zu einander und transversal zu der Rich-
(Q3) und des dritten Transistors (Q4), tung des Ladungstransportes angeordnet. Einige von
ihnen bestehen aus zwei verschieden großen Teilen, und die unter diesen Elektroden eintreffenden Ladungen
werden zur Erzielung einer Bewertung des Signals differenziell gelesen.
Das Lesen einer Ladungsmenge unter einer Elektrode kann nach zwei Methoden durchgeführt werden:
einen dritten, zwischen dem konstanten Potential (Vdd) und einer zweiten Klemme des zweiten
Transistors (Q3) liegenden Transistor (Q);
einen vierten Transistor (Q5) und einen fünften
Transistor (Qi), in Serie zwischen dem ersten konstanten Potential Cr'oD) und dem Bezugspotential
der Schaltung;
eine zweite Kapazität (CE) zwischen der Steuerelektrode
des ersten Transistors (Qi) und dem
Verbindungspunkt (E) des vierten Transistors
ebenfalls an diesem Verbindungspunkt (E) liegt; eine dritte Kapazität (CF) zwischen der Steuerelektrode
des ersten Transistors (Qt) und dem
wobei diese Steuerschaltung ι11« erste Kapazität
(Ca) lädt den ersten Transistor (Q2) in der Sättigung
und damit den Eingangspunkt B der Ladungen bei deren Zufluß auf konstantem Potential hält, so daß
dieser Zufluß eine Potentialänderung im Verbindungunsgpunkt (A) des ersten und des zweiten Transistors
(Qi, Qi) erzeugt die das Lesesignal bildet
2. Schaltung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine am Eingangspunkt (B) liegende viert?
Kapazität (Cg) zur Speicherung der Ladungen.
3. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 2, gekennzeichnet durch einen sechsten Transistor (Qi)
zum Rücksetzen der Schaltung auf Null.
4. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet daß die Transistoren
MOS-Transistoren sind.
5. Schaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Transistor (Qi) ein Verarmungstransistor
ist.
6. Schaltung nach Anspruch S, dadurch gekennzeichnet
daß der zweite, dritte und vierte Transistor (Qi. (?4, Qi) Verarmungstransistoren sind.
7. Schaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, gekennzeichnet durch eine fünfte Kapazität (Cl)
zwischen dem Verbindungspunkt (A) des ersten und zweiten Transistors (Q2 und Q3) und einem siebten
Transistor (Q%), der ein Vorladen der fünften Kapazität (Cl) ab einem zweiten konstanten Potential (Vp)
ermöglicht, das kleiner als oder gleich dem ersten konstanten Potential (VDD) ist.
8. Schaltung nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch eine das Ausgangssignal liefernde Schaltung
zur Entnahme und zum Aufrechterhalten des am Verbindungspunkt (S\) der fünften Kapazität (CL)
und des siebten Transistors (Q)) verfügbaren Signals.
9. Ladungstransferfilter, bestehend aus einem
— nach einer sogenannten Spannungslesemethode, die darin besteht, die betrachtete Elektrode während
der Einspeisung der Ladung zu isolieren und die Veränderung des Potentials zu beobachten. Bekanntsrmaßen
erfordert diese Methode einen hohen Kapazitätswert, der aus dem Substrat, der Isolierschicht
und den Elektroden besteht, und führt zu geringen V/erten des Ausgangssignals. Außerdem
führen einerseits Raumladungen unter den Elektroden zu Nichtlinearitäten und andererseits erlaubt
diese Methode keine große Genauigkeit hinsichtlich der oben erwähnten Bewertungskoeffizienten·,
nach einer sogenannten Strom- oder Ladungslesemethode, die darin besteht, das Potential an der
Elektrode konstant zu halten und den entsprechenden Strom bei Eincpeisung der Ladungen zu integrieren.
Die letztgenannte Methode vermeidet die erwähnten Nachteile der Spannungslesemethode, erfordert aber
Verstärker mit hohem Verstärkungsfaktor. Diese haben den Nachteil, daß sie schwierig auf dem gleichen Substrat
wie das Filter zu integrieren sind und viel Leistung verbrauchen.
Eine Schaltung der einleitend angegebenen Gattung ist aus der DE-OS 24 47 160 in Form einer Inverterstufe
als Bestandteil eines digital arbeitenden Schieberegistersbekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltung der einleitend angegebenen Art zu schaffen,
die integrationsfähig ist und sich insbesondere auf dem Substrat eines Ladungstransferfilters integrieren läßt.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des Patentanspruches 1 angegebenen
Merkmale gelöst
Die Patentansprüche 2 bis 8 betreffen vorteilhafte Ausführungsformen und Weiterbildungen dieser Schaltung,
während Gegenstand der Ansprüche 9 und 10 ein Ladungstransferfilter ist, das mit einer derartigen Schaltung
ausgestattet ist.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung erläutert Es zeigt
F i g. 1 eine Ausführungsform der Leseschaltung,
F i g. 2 Diagramme der der Schaltung zugeführten Signale oder der von dieser Schaltung gelieferten Signale;
F i g. 3 das Schema eines bekannten Ladungstransfer-Fdters,
das zusammen mit der Schaltung zur Anwendung gelangt, im Schnitt und in Draufsicht
In F i g. 1 sind zwei MOS-Transistoren Q2 und Q3, im
folgenden als TMOS bezeichnet, dargestellt, deren Verbindungspunkt
(Drainelektrode von Q2 und Sor-ceelektrode
von Q3) mit Λ bezeichnet ist Mit A ist ebenso eine
Kapazität Ct verbunden, deren anderer Anschluß an Masse liegt. Der anderen Klemme (Sourceelektrode)
des TMOS Q2 (Punkt B) wird die zu messende Ladungsmenge
über eine Kapazität Cg, die zwischen Punkt B und Masse liegt, zugeführt Wenn die in dieser Figur
dargestellte Schaltung zusammen mit einem Lp.dungstransferfilter
zur Anwendung gelangt, besteht die Kapazität Cg aus der Elektrode, an der der Lesevorgang
durchgeführt werden soll, aus dem Halbleitersubstrat, in dem die Ladungen übertragen werden sollen, und aus
der Isolierschicht, die die beiden Elemente voneinander trennt einschließlich der Kapazität der Raumladungszone, die sich im Halbleiter unter der betreffenden Elektrode
befindet
Die Transistoren Q2 und Q3 werden durch eine Schaltung
gesteuert, die die Ladung der Kapazität CA mit Hilfe eines einzigen, für diesen Schaltungstyp relativ
niedrigen Potentialwert V00, im Normalfall 12 Volt, ermöglicht
Zu diesem Zweck wird dem Gate des TMOS Q2 ein Signal Φ3 zugeführt, dem Gate des TMOS Q3
(Punkt E) wird das gleiche Signal über eine Kapazität Ce
zugeführt; Q3 liegt drainseitig (Punkt F) einerseits über
eine Kapazität Cf an der Signalleitung Φ3 und andererseits
an einem vierten TMOS Qa, dessen andere Anschlußelektrode
am konstanten Potential Vdd und dessen
Gate an der Taktleitung <Praz liegen. An Punkt E
liegt eine aus den beiden Ί MOS Q5 und Qt bestehende
Stufe, wobei Qj und Qi in Serie (Verbindungspunkt E)
zwischen der Spannungsquelle Vdd und Masse geschaltet sind und durch die Signale Φκαζ bzw. Φα gesteuert
werden.
Die Schaltung nach F i g. 1 umfaßt ein Return-to-Zero-System, das die gesamte Schaltung auf Null setzt
und durch einen TMOS Qi gebildet wird, der zwischen Punkt B und Masse liegt und durch das dem Gate zugeführte
Signal Φ/tAZ gesteuert wird.
Die Schaltung weist zudem noch an Punkt A folgende Schaltelemente auf:
— eine Kapazität Cl, deren eine Klemme mit A verbunden
ist und deren andere an einem Verbindungspunkt Sj iicgt;
— einen TMOS Q9, der zwischen einer das konstante Potential Vp liefernden Spannungsquelle und dem
Verbindungspunkt S\ liegt und durch das Signal <Pc
gesteuert wird.
Die Schaltung besteht schließlich aus einer am Verbindungspunkt Si liegenden Ausgangsstufe. Diese Ausgangsstufe
umfaßt fünf MOS-Transistoren (Q10 bis Qh)
und eine Kapazität Ch- Die TMOS Qi0 und Qw sind in
Serie zwischen der Spannungsquelle V00 (Drainelektrode
von Qw) und Masse (Sourceelektrode von Qn) geschaltet; Q\o Hegt gateseitig am Punkt Si, Qu Hegt gateseitig
an Masse. Am gemeinsamen Punkt G von Qw und Qu liegt eine Anschlußelektrode des TMOS Q12, dessen
andere Elektrode mit H bezeichnet wird; das Gate von Qu wird durch ein Signal Φεόη angesteuert Zwischen
Punkt H und Masse liegt die Kapazität Ch. Die letzten
beiden TMOS Q)3 und Qu sind analog wie die TMOS
Qio und Qn mit der Spannungsquelle Vdd und Masse
verbunden; ihr gemeinsamer Punkt stellt den Schaltungsausgang S2 dar; das Ausgangssignal wird an diesem
Punkt gegen Masse abgenommen.
Bei dieser Ausführungsform sind die TMOS Qx, Q6,
Q), Qio, Q12 und Qi3 Anreicherungs-TMOS, während die
TMOS Qz1 Q3, Q«, Qs, Qu und Qm Vertrmungs-TMOS
sind. Die TMOS Qn und Qu können auch uurch Anreicherungs-TMOS
unter der Bedingung ersetzt werden, daß ihr Gate nicht mehr mit ihrer Sourceelektrode, sondern
mit ihrer Drainelektrode verbunden wird.
F i g, 2 zeigt die Diagramme der der Schaltung nach F i g. 1 zugeführten Signale, sowie die Diagramme (a)
und (b) periodischer Signale, die die Steuersignale des in F i g. 3 dargestellten Ladungstransferfiliers sein können,
das zusammen mit der Schaltung nach F i g. 1 zur Anwendung gelangen kann.
Das Diagramm (a) zeigt ein Potential Φ\ der Periode
Ti, dessen Amplitude zwischen Null und Vdd annähernd
rechteckig schwankt wobei die Dauer der Amplitude Vdd die Dauer To der Amplitude Null um 2 r übersteigt.
Das Diagramm (b) zeigt ein Potential Φι gleicher
Form und gleicher Periode wie Φ\, das aber Φ\ um
(r+ T0) nacheilt.
Das Diagramm (c) zeigt das Potential 0/Mzder Periode
T, das mit der abfallenden Flanke von φ (Zeitpunkt fi) au den Wert V00 ansteigt und diesen Wert während
einer Dauer Ti von z. B. annähernd gleich T/8 beibehält
Das Diagramm (d) zeigt das Potential ^3 dp.r Periode
T, weiches Vdd während einer Dauer Ti des Auftretens
einer Ladungsmenge entspricht, wobei l\ kleiner als
(T- To)istund<?iMzumTi + T6 nacheilt
Das Diagramm (e) zeigt das Potential Φ€ der Periode
T, welches Vdd während einer Dauer T3 von z. B. annähernd
Ti entspricht wobei Φο dem Potential Φ3 um Ti
nacheilt und im Zeitpunkt h mit der ansteigenden Flan·
ke von Φ2 auf Null zurückgeht.
Das Diagramm (f) zeigt das Potential Φεοη der Periode
T, "-elches VDD während einer Dauer Ts von z. B.
annähernd Ti entspricht und der abfallenden Flanke von
Φ3 geringfügig (Tt) r.icheilt.
Die Periode Tkann beispielsweise in der Größenordnung zwischen einer Mikrosekunde und einigen zehn
Mikrosekunden liegen. Die Schaltung nach Fig. 1 arbeitet in der folgenden Weise: Die TMOS Q2 und Q3
haben die Aufgabe, die Potentiale an den Punkten A und Ader Schaltung aufzubauen.
Nach dem Zeitpunkt ii, bei dem das Potential Φι auf
Null zurückgeht, wird der Schaltung das Signal Φηαζ^τ
eine Dauer Ti zugeführt. Dieses Signal Φκαζ entlädt die
Kpazität Cg. Das Signal Φηαζ schaltet außerdem über
die TMOS Q* und Q5 die Spannung VDd an die Punkte F
und E. Der durch das Signal Φ3 gesteuerte TMOS Qi ist
dann gesperrt, und die Kapazitäten Ce und Cf werden
aufgeladen.
Zum Zeitpunkt U geht das Signal 0r,\z auf Null zurück und sperrt die TMOS Q4 und Q5 und nach einer
Verzögerung Te in der Größenordnung von beispielsweise 20 bis 50 ns nimmt das Signal Φ>
den Wert VDD an. Hierdurch werden die Punkte fund Fauf die Spannung
2 Vdd gelegt, so daß die Kapazitäten Ce und Cf weiterhin geladen bleiben. Außerdem sind jetzt Q2 und Qj
leitend. TMOS Qy. der jetzt als Triode arbeitet, ermöglicht, das Potential des Punktes A auf den Wert des
Punktes F, d. h. 2 V0D, zu bringen. TMOS Q2, der gateseitig eine Spannung von Vco und drainseitig eine Spannung knapp unter 2 Vdd (wegen der Entladung der Kapazität Cf in die Kapazität Ca) aufweist, arbeitet nun im
Sättigungsbereich und das Potential am Punkt β nimmt nun den Wert VDD - V7-an, bei dem sich der TMOS Qi
nicht mehr im Durchlaßzustand befindet, wenn man Vr als die Schwellenspannung des TMOS φ bezeichnet,
vorausgesetzt, diese ist gleich u€T SchwcücriSpaTiriUr.g
der anderen Verarmungs-TMOS der Schaltung. Die eben beschriebene Aufladung am Punkt B erfolgt während der Zeit T2.
Während der Zeit T2 beträgt der Endwert (V0) des
Potentials an A:
5 oder unter BerücksichtigungderGleichungen(l)und(2):
"2 V0
00
wobei mit VA 0 die Anfangsspannung an A zum Zeitpunkt to bezeichnet wird und die Anfangsspannung an 30 —
Cf 2 V0D beträgt Wenn das Signal Φ( den Wert Vdd
während einer Dauer T3 einnimmt, wird TMOS Q6 als
Schalter betrieben, der die Kapazität Ce entlädt und
damit den TMOS Q3 sperrt.
Das Signal <Pc steuert ebenso den TMOS Q* der es
erlaubt, dsn Punkt Si dsr K2nazität Cl suf ein Bezu"!?-
potential VP vor dem Zeitpunkt I2 des Wideranstiegs des
Signals Φι zu bringen. Das Potential Vp ist kleiner als
oder gleich 2 VDo- Nach einer Dauer Ti, nach dem Φε
Null geworden ist, beträgt das Potential an den Klemmen von Cc.
ίο wodurch der von dem unbekannten Ausdruck Va 0 abhängige Ausdruck V0 eliminiert werden konnte.
Die sich anschließende Stufe, die aus den TMOS Qi0
und Qu sowie aus der Kapazität Ch besteht, erlaubt die
Entnahme des Signals an S\ und dessen Aufrechterhal-
is ten am Ausgang an Si mit niedriger Impedanz.
Die Signalentnahme erfolgt während einer Zeit T5,
die der Periode T4 der Entladung von A um einige Nap.csekur.den folgt {Zeit Tj). Die Periode Ti dauert vom
Zeitpunkt t3 bis zum Zeitpunkt des Abfalls von Signal
Φι. TMOS Qj ist dann durch das Rücksetzen des Signals
Φι auf Null gesperrt, wodurch jegliche Veränderung am
Punkt A während der Signalentnahme unterbunden wird. Die Verwendung von Verarmungs-TMOS CQu,
Qu) als Widerstandselemente hat in dieser Stufe den
Die hier beschriebene Schaltung zum Lesen von Strömen elei' Irischer Ladungen weist neben den oben erwähnten Vorteilen noch die folgende Vorteile auf:
die Arbeitsspannungen überschreiten nicht den Wert Vdd, der für diesen Schaltungstyp sehr gering,
beispielsweise 12 Volt sein kann, so daß einerseits die Sättigungsvorspannung des TMOS Qj mit der
vorteilhaften Wirkung für das Potential am Punkt B und andererseits ein erheblicher Spannungshub am
Punkt A gewährleistet wird:
Zum Zeitpunkt f2 nimmt das Signal Φ7 erneut den
Wert von VDd an, und mit einer Verzögerung r wird das
Signal Φ\ wieder auf Null zurückgesetzt (Zeitpunkt fj).
Wird das Ladungstransferfilter von Signalen wie Φ\ und Φι angesteuert, strömt zu diesem Zeitpunkt f3 die zu
messende Ladungsmenge in die Kapazität Cr Wird ein
solches Filter verwendet, bewirkt das Auftreten einer Ladungsmenge Qs unter einer Elektrode eine Verminderung des Potentials an Punkt B. Hierdurch wird in der
Schaltung nach F i g. 1 der TMOS Q1 wieder in den
Durchlaßbereich geschaltet und ein Strom ausgelöst der Punkt B auf das Potential VOo — Vt bringt und Q2
erneut gesperrt Dieser Vorgang wird durch die Entladung der Kapazität Ca um eine der Ladungsmenge Qs
entsprechende Ladungsmenge ausgelöst
-^-und wird:
dies wird durch die Steuerschaltung der TMOS Q2
und Qj ermöglicht die während der Dauer T2 ein
Potential im Punkt Ebewirkt:
eine Entnahme des an A konstant gehaltenen Signals, dessen Wert sich unabhängig vom Anfangszustand des Systems einstellt.
65
rA\
(2)
Außerdem sind, ausgehend von der oben beschriebenen Ausführungsform, verschiedene Varianten möglich
wie z. B.:
der Anschluß einer Folgestufe in A, die aus zwei in analoger Weise wie die TMOS Qi0 und Qn geschalteten TMOS besteht:
TMOS Qio durch einen Verarmungs-TMOS zu ersetzen, um die harmonische Verzerrung zu reduzieren, wenn die Spannung Vp an Si zu einem sehr viel
kleineren Signalmittelwert als Vdd führt;
ganz allgemein die Anreicherungs-TMOS Qi und Q6 durch Verarmungs-TMOS unter der Bedingung
zu ersetzen, daß die Amplituden der Signale Φ€ und
Φλαζangepaßt werden;
die Verarmungs-TMOS Q3, Q4 und Q5 gleichfalls
durch Anreicherungs-TMOS zu ersetzen, unter der Bedingung, daß die Amplituden der Steuersignale
Φ\ und 0R/tzangepaßt werden;
die einzige Spannungsquelle Vdd durch mehrere, für die verschiedenen Schaltungspunkte unterschiedliche Spannungsquellen zu ersetzen, insbe-
sondere für die Drainelektroden der TMOS Q4 und
Q5 (mit Vbo4
< Vdds, um die Arbeitsweise von Qj
als Triode zu erhalten), was eine viel größere Regelungsbreite der Spannung am Punkt Fund folglich
der Spannung für die Vorladung am Punkt A ermöglicht.
In den F i g. 3{a) und 3(b) ist das Schema eines ladungsgekoppelten Transversalfilters (in der angelsächsischen Literatur als CCD-Filter bekannt) dargestellt,
das in Verbindung mit der erfindungsgemäßen Schaltung zur Anwendung gelangen kann.
Derartige Filter sind bekannt und insbesondere in einem Artikel »Transversal filtering using charge-transfer devices«, veröffentlicht durch IEEE, Journal of Solid-
State Circuits (April 1973, Vol. SC 8, No. 2, Seite 148), beschrieben. Diese Filter weisen ein Schieberegister auf.
Das Eingangssignal wird an jeder Stufe mit einem Bewertungskoeffizienten abgegriffen und die verschiedenen so erhaltenen Signale werden zu dem Ausgangssi-
gnal des Filters addiert.
Die Schaltung besteht aus einem Halbleitersubstrat 1, bedeckt durch eine Isolierschicht 41, die selbst durch
zwei Elektrodenschichten überdeckt ist, und zwar Speicherelektroden (11 bis 16 und 21 bis 23 in der Figur) und
Transferelektroden (32 bis 36), die gegeneinander durch eine Schicht 40 isoliert sind. An zwei gegenüberliegenden Seiten der Schaltung ist je eine Diode D-, bzw. D, im
Substrat 1 angeordnet. Die Aufgabe der ersten Diode (Di) ist es, in das Substrat 1 nach einer der bekannten
Techniken eine Ladungsmenge zu injizieren, die dem Eingangssignal E entspricht; die Aufgabe der zweiten
Diode (D1) ist es, die Ladungen zu sammeln und abzuleiten.
Diese Schaltung ist in der F i g. 3(b) in Draufsicht und teilweise im Querschnitt längs der FofipiiänZungsäCuSc
ox der Ladungen in F i g. 3(a) dargestellt.
Die elektrischen Ladungen werden von D1 in Richtung ox mit Hilfe der eben erwähnten in Richtung ox
angeordneten Elektroden nach D3 transportiert, die EIemente eines Schieberegisters darstellen. Je eine von
zwei Speicherelektroden (die Elektroden 11,12; 13,14
und 15,16 in der Figur) ist in zwei Teile geteilt, um den
oben erwähnten Bewertungskoeffizienten zu bilden. Diesen geteilten Elektroden wird am Punkt B das verfügbare Signal zugeführt, während den nicht geteilten
Elektroden das Signal Φ\ zugeführt wird. In der zweiten
Schicht sind die Transferelektroden angebracht, denen entweder das Signal Φ\ oder das Signal Φι zugeführt
wird.
Bei der bekannten Arbeitsweise wird der Transport einer bestimmten Ladungsmenge, die dem Eingangssignal E entspricht, durch die Signale Φ\ und Φ-ι an den
Elektroden ausgelöst und nacheinander unter jede der Elektroden durchgeführt. Zwei Schaltungen L\ bzw. Li
lesen die Ladungen während ihres Transportes unter jeder geteilten Elektrode (11, 12,13, 14, 15 und 16). Lx
liest die Ladungsmenge an den Halbelektroden 11, 13 und 15, die alle mit einem dem Punkt B in F i g. 1 entsprechenden Punkt B\ verbunden sind. Li liest die La-
dungsmenge an den den eben erwähnten Halbelektroden gegenüberstehenden Halbelektroden 12,14 und 16,
die am Punkt B2 analog B\ verbunden sind. Bei dieser
Anordnung besteht die Kapazität Q aus der Elektrode, an der der Lesevorgang durchgeführt werden soll, aus
der Isolierschicht, auf der die Elektrode angeordnet ist und aus dem Halbleitersubstrat Die Elemente Li und Li
liefern je ein Lesesignal Si bzw. S2, das dem Differenzverstärker A] zugeführt wird, der ein Signal S liefert.
Dieses Signal stellt somit den Abtastwert des gefilterten Signals dar.
Bei dieser Anwendung der Schaltung nach F i g. 1 und eines Transversalfilters setzt sich das oben erwähnte
Rücksetzen auf Null in eine Ableitung der unter den geteilten Elektroden befindlichen Ladungen in Richtung
der nicht geteilten Elektroden um, die auf dem Potential Φ\ bis zum Zeitpunkt /3 gehalten werden.
Die erfindungsgemäße Verwendung der Schaltungen L\ und L2, die leicht in einem Ladungstransferfilter integrierbar sind, erlaubt das Filter und die zugehörigen
Leseelemente auf dem gleichen Halbleitersubstrat zu integrieren.
Claims (1)
- Patentansprüche:1. Schaltung zum Lesen von Strömen elektrischer Ladungen mit einem ersten Transistor (Qi) und einem mit diesem in Serie geschalteten zweiten Transistor (Q3) am Eingangspunkt (B) der Ladungsmenge und mit einer ersten, am Verbindungspunkt (A) der beiden Transistoren liegenden Kapazität (Ca), gekennzeichnet durch eine Steuerschaltung für die beiden Transistoren (Q2, Qi), die an einem ersten konstanten Potential (VDd) Hegt und folgende Schaltelemente umfaßt:IO durch eine Isolierschicht bedeckten Halbleiter, auf der die Steuerelektroden für den Ladungstransfer angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Lesevorgang einer Ladungsmenge unter einer Elektrode mit Hilfe einer Schaltung nach den vorangehenden Ansprüchen durchgeführt wird.10. Filier nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherkapazität (Cg) aus dem Substrat, der Isolierschicht und der Elektrode, unter der der Lesevorgang durchgeführt wird, besteht
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1978
- 1978-07-04 FR FR7819933A patent/FR2430694A1/fr active Granted
-
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- 1979-06-28 US US06/052,931 patent/US4355244A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-07-02 GB GB7922950A patent/GB2030396B/en not_active Expired
- 1979-07-03 DE DE2926842A patent/DE2926842C2/de not_active Expired
- 1979-07-04 JP JP8490379A patent/JPS5537093A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2030396B (en) | 1982-10-27 |
US4355244A (en) | 1982-10-19 |
GB2030396A (en) | 1980-04-02 |
JPH0377685B2 (de) | 1991-12-11 |
FR2430694A1 (fr) | 1980-02-01 |
JPS5537093A (en) | 1980-03-14 |
DE2926842A1 (de) | 1980-01-17 |
FR2430694B1 (de) | 1982-12-17 |
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