DE2920356C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE2920356C2 DE2920356C2 DE2920356A DE2920356A DE2920356C2 DE 2920356 C2 DE2920356 C2 DE 2920356C2 DE 2920356 A DE2920356 A DE 2920356A DE 2920356 A DE2920356 A DE 2920356A DE 2920356 C2 DE2920356 C2 DE 2920356C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- quartz resonator
- quartz
- frequency
- resonance
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02157—Dimensional parameters, e.g. ratio between two dimension parameters, length, width or thickness
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02015—Characteristics of piezoelectric layers, e.g. cutting angles
- H03H9/02023—Characteristics of piezoelectric layers, e.g. cutting angles consisting of quartz
Description
Die Erfindung betrifft einen Quarzresonator entsprechend
dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Es sind bereits Quarzresonatoren dieser Art bekannt, die
aus einer rechteckförmigen Quarzplatte bestehen, die
nach einer Drehung um etwa 35° um die X-Achse des
Koordinatensystems des Quarzkristalls ausgeschnitten
sind (J. J. Royer "Proceedings of the 27th Annual Symposium
on Frequency Control" 1973, Seiten 30 bis 34). Derartige
Quarzresonatoren sind jedoch nicht ohne weiteres in Armbanduhren
oder dergleichen Kleingeräten verwendbar, da
derartige Quarzplatten ein Verhältnis von Länge zu Dicke
von mindestens 30 aufweisen müssen, weil bei einem geringeren
Wert dieses Verhältnisses Instabilitäten des
Q-Faktors in Abhängigkeit von der Temperatur auftreten,
und weil keine ausreichende Isolation des aktiven Bereichs
der Quarzplatte von der Stützstruktur erzielbar ist. Um
Wechselwirkungen zwischen unerwünschten Schwingungsformen
und der Stützstruktur möglichst gering zu halten, wurde
in diesem Zusammenhang ein Verhältnis von Länge zu Dicke
von etwa 60 vorgesehen.
Es ist deshalb Aufgabe der Erfindung, einen Quarzresonator
mit einem AT-Schnitt zu schaffen, der derart kleine Abmessungen
aufweist, daß er in einem Quarzoszillator für
eine Kleinuhr oder dergleichen verwendbar ist, welcher
Quarzresonator einerseits innerhalb der für eine Massenproduktion
geeigneten Toleranzgrenzen herstellbar ist und
andererseits einen ausreichend hohen Gütefaktor und eine
sehr gute Frequenz-Temperaturcharakteristik aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den Gegenstand
des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen
der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung beispielsweise
näher erläutert werden. Es zeigt:
Fig. 1 die kristallographischen Achsen eines
rechteckigen Quarzresonators mit AT-Schnitt gemäß der
Erfindung,
Fig. 2 eine Perspektivansicht eines abgewandelten
Ausführungsbeispiels eines Quarzresonators gemäß der
Erfindung,
Fig. 3 eine graphische Darstellung der Abhängigkeit
des Frequenz-Temperatur-Koeffizienten
von dem Verhältnis w/t bei einer Ausführungsform
eines rechteckigen AT-Quarzresonators gemäß der Erfindung,
Fig. 4 graphische Darstellungen der Resonanzfrequenzen
bei unterschiedlichen Abmessungsverhältnissen,
Fig. 5 bevorzugte Werte von Abmessungsverhältnissen
bei einem Quarzresonator gemäß der Erfindung,
Fig. 6 ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Quarzresonators
gemäß der Erfindung und
Fig. 7 eine Temperaturcharakteristik eines
Quarzresonators gemäß der Erfindung.
Fig. 1 zeigt die kristallographischen Achsen eines
rechteckigen Quarzresonators im AT-Schnitt, im folgenden kurz
AT-Quarzresonator genannt, nach der Erfindung. Mit 1 ist eine
Quarzkristallplatte bezeichnet; die Platte 1 wird gegenüber
den neuen Achsen X, Y′ und Z′ unter etwa
35° um die X-Achse gedreht. Die Quarzkristallplatte hat eine
Länge l (auf der X-Achse), eine Breite w (in Richtung der Z′-
Achse) und eine Dicke t (in Richtung der Y′-Achse). Ein rechteckiger
AT-Quarzresonator wird dadurch hergestellt, daß
Elektroden auf den beiden Hauptoberflächen entsprechend der X-Z′-Ebene der Quarzkristallplatte
1 durch Aufdampfen oder Aufsprühen
ausgebildet werden.
Fig. 2 ist eine Perspektivansicht eines rechteckigen AT-Quarzresonators
nach der Erfindung, wobei der Quarzresonator mit 2
und die beiden Endbereiche des Quarzresonators in Längsrichtung
mit 3 bezeichnet sind; die beiden Endbereiche 3 haben
abgeschrägte Kantenform. Der Grund, warum beide Endabschnitte
in Form von abgeschrägten Kanten gefertigt sind, besteht darin,
eine Kopplung zwischen Störresonanzen und der Hauptresonanz
zu schwächen und eine Verschlechterung des Gütefaktors zu verhindern,
wenn der Quarzresonator abgestützt wird.
Die Endabschnitte des Quarzresonators können die Form von
planen, abgeschrägten Kanten auf einer Seite oder konvexe
Form (Form einer Linse) haben, die anders als die Form einer
abgeschrägten Kante ist. Ein einfacher, rechteckiger Quarzresonator
wie die Quarzkristallplatte 1 in Fig. 1 eignet sich
für eine Massenherstellung. Ein rechteckiger AT-Quarzresonator
wird dadurch fertiggestellt, daß Elektroden aus einem metallischen
Film sowohl auf und unterhalb die X-Z′-Ebene des Quarzresonators
2 aufgedampft oder aufgesprüht werden und der Quarzresonator
2 durch Drahtverbindungen gelagert und anschließend
in einer Kapsel untergebracht wird. Die Dimensionen w (Breite) und l
(Länge) sind äußerst bedeutende Faktoren für den rechteckigen
AT-Quarzresonator. Bei einem Quarzresonator in Miniaturgröße
sollten die beeinträchtigenden Störresonanzfrequenzen ausreichend
weit von der Resonanzfrequenz der Haupt-Dickenscherresonanz
entfernt sein, so daß die negativen Einflüsse beseitigt
sind, welche durch die Störresonanzen, wie beispielsweise
Flächenschwingungen, hervorgerufen werden. Im folgenden
wird auf die Wahl der Länge l Bezug genommen.
Die Störresonanz mit großem Frequenzbereich entlang der Länge
ist eine Biegeresonanz
dabei istf
eine Resonanzfrequenz, ρ die Dichte eines Quarzes und n
eine gerade Zahl entsprechend der Ordnung einer Oberschwingung ist. Wenn n zu klein ist,
verschlechtern sich der Gütefaktor und die Frequenz-Temperatur-
Charakteristik, weshalb vorzuziehen ist, daß n größer als 18
ist, wobei die Praktikabilität in Betracht zu ziehen ist. Die
Biegeresonanzfrequenz stimmt mit der Hauptresonanzfrequenz
überein, wenn n = 18 und n = 20; dann wird das Dimensionsverhältnis
Länge/Dicke l/t mit n = 18 und n = 20 berechnet und der
Zentrale- bzw. Mittelwert dieses Verhältnisses ausgewählt. Die
Grund-Dickenscherresonanzfrequenz, d. h. eine Hauptresonanz ist
gegeben durch
dabei ist C′₆₆ eine Elastizitätskonstante.
Bei einem AT-Quarzresonator wird l/t zu 14,5 und
16,2 berechnet; vorzugsweise wird dieses Verhältnis l/t aus
dem Bereich von 14,5 bis 16,2 gewählt.
Im folgenden wird auf die Breite w im Falle eines dünnen, rechteckigen
AT-Quarzresonators Bezug genommen; die Breitenscherresonanz
und die in Breitenrichtung wirkende Resonanz sollten
beseitigt sein. Daher ist es erforderlich, zu prüfen, ob oder
ob nicht die Änderung des Frequenz-Temperatur-Koeffizienten
der Dickenscherresonanzfrequenz gegenüber der Breitendimension
in dem Umfang liegt, der praktisch verwendet wird, wobei die
Toleranz berücksichtigt wird.
Fig. 3 zeigt ein Diagramm zur Veranschaulichung der gegenseitigen
Beziehungen zwischen einem Frequenz-Temperatur-Koeffizienten
und w/t, wobei die Neigung der Frequenz-Temperatur-
Kennlinien der Dickenscherresonanz bei Raumtemperatur bei
einem Längen-Dickenverhältnis l/t = 5,7 des Quarzresonators 2
entsprechend dem rechtwinkligen AT-Resonator nach Fig. 2 ist,
während das Breiten/Dicken-Verhältnis w/t dieses Quarzresonators
zwischen 4,5 und 3,0 variiert.
Die Schnittwinkel der bei dem Test verwendeten Probe beträgt
35°20′. Aus dem Korrelationsdiagramm ist ersichtlich, daß
der Temperaturkoeffizient δ (Δ f/f)/δ t nicht kontinuierlich
weiterverläuft, d. h. eine Unstetigkeit hat, wenn w/t = 3,0, 3,8
und 4,5 ist. Als Grund für diese Unstetigkeit wird angenommen, daß
es die vorstehend erwähnte Breitenscherresonanz und in
Breitenrichtung sich ausdehnende Resonanz (width-extensional
resonance) sind. Die Breitenscherresonanzfrequenz ergibt sich
durch
die vorstehend erwähnte Resonanzfrequenz
in Breitenrichtung ergibt sich zu
Wenn die
Resonanzfrequenzen der beiden Resonanzen gleich der Resonanzfrequenz
der Dickenscherresonanzfrequenz sind, wird w/t zu
1,5n und 1,9n berechnet. Obgleich diese Resonanzen nur auftreten,
wenn n eine im allgemeinen ungerade Zahl ist, stimmt
der Unstetigkeitspunkt in Fig. 3 mit der Breitenscherresonanz
für n = 3 überein, wenn w/t = 4,5 ist, und stimmt mit der Breitenscherresonanz
für n = 2 überein, wenn w/t = 3,0 ist. Im Falle
einer Resonanz in Breitenrichtung ist w/t = 3,8 (in Fig. 3).
Dies bedeutet, daß der Einfluß der Resonanz in Breitenrichtung
und der Breitenscherresonanz auf den Frequenz-Temperatur-
Koeffizienten der Dickenscherresonanz auch dann eintritt, wenn
n eine gerade Zahl ist. Aus dem Diagramm nach Fig. 3 zur Veranschaulichung
der Korrelation ist ersichtlich, daß die Genauigkeit
der Herstellung an dem Bereich endet, an welchem die
Neigung des Frequenz-Temperatur-Koeffizienten groß ist, was
daher nicht für eine Massenproduktion geeignet ist. Aus Fig. 3
ist ersichtlich, daß der Wert w/t aus dem Bereich 3,1 bis 3,7
für einen Bereich geringer Neigung vorzuziehen ist. Um die
Resonanzfrequenz der Dickenscherresonanz auf 4,2 MHz festzulegen,
beträgt die Dicke t etwa 0,4 mm und die Toleranz der Breite w
ist der realistische Bereich.
Der negative Einfluß, der durch Störresonanzen mit hoher Empfindlichkeit
auf die Frequenz-Temperatur-Charakteristiken
und den Gütefaktor des Quarzresonators hervorgerufen wird,
kann in dem vorstehend erwähnten Dimensionsbereich beseitigt
werden. Um bessere Frequenz-Temperatur-Charakteristiken und
einen besseren Gütefaktor zu erhalten, sollten Störresonanzen
mit schwachem Frequenzbereich ebenso wie Störresonanzen mit
hohem Frequenzbereich beseitigt werden.
Um die Störresonanzfrequenzen mit schwachem Frequenzbereich
im einzelnen zu studieren, wie dies hinsichtlich des in
Perspektivansicht dargestellten Quarzresonators nach Fig. 2
erfolgt ist, wurden die beiden Endbereiche 3 des Quarzresonators
2 folgendermaßen gewählt: Die Kantenlänge l₀ wurde
derart gewählt, daß l₀/l = 0,22 und die Dicke t₀ wird derart
gewählt, daß t₀/t = 0,45 sind. Der Mittelwert des Breiten/
Dickenverhältnisses w/t 3,3 und der Mittelwert des Längen/
Dickenverhältnisses l/t 15,7 des Quarzresonators werden gewählt
und die Probe des Quarzresonators, deren Länge l und deren
Breite w über und unterhalb der Mittelwerte von 14,5 und 16,2
liegen, wie dies vorstehend erwähnt ist, wird zur Ermittlung
des Frequenzansprechverhaltens gemessen, das in Fig. 4
graphisch dargestellt ist.
Fig. 4a zeigt die verschiedenen Resonanzfrequenzen in einem
rechteckigen AT-Quarzresonator als Ergebnis einer Änderung
des Verhältnisses Breite/Dicke, wobei entlang der Abszisse
das Verhältnis w/t und entlang der Ordinate eine Frequenzkonstante
ft aufgetragen sind. Fig. 4b zeigt verschiedene
Resonanzfrequenzen in einem rechteckigen AT-Resonator als
Ergebnis der Änderung des Verhältnisses Länge/Dicke, wobei
entlang der Abszisse l/t aufgetragen ist. Die Linien in Fig. 4a
und 4b sind tatsächlich gemessene Werte, die miteinander verbunden
sind (um die dargestellten Kurven zu ergeben).
Eine Linie E zeigt eine Dickenscher-Resonanzgrundfrequenz
der Hauptresonanz, deren Frequenzkonstante etwa 1665 kHz mm
beträgt. Die anderen Linien sind jeweils Störresonanzen und,
obgleich die Art der Resonanzen derselben unterschiedlich ist,
kann die Neigung der Frequenzkonstante gegenüber w/t und l/t
experimentell bestimmt werden. Die Neigung dieser Linien ist
durch Linien innerhalb des Mikrobereichs dargestellt, in
welchem die Störresonanzfrequenzen, die bei der Bestimmung
von w/t und l/t beachtet werden müssen, gerade Linien F, G,
H und I sind.
Die Frequenzkonstanten dieser vier Störresonanzen sind
durch die Funktionen von w/t und l/t wie folgt dargestellt:
Gerade Linie F:f F t = -78,8 w/t - 99,5 l/t + 3490
Gerade Linie G:f G t = -260 w/t - 47,3 l/t + 3250
Gerade Linie H:f H t = -412 w/t - 61,2 l/t + 4020
Gerade Linie J:f I t = -29,5 w/t - 102 l/t + 3320
Wenn die Hauptresonanzfrequenzkonstante f E t ist, sollten
folgende Gleichungen erfüllt werden:
f E t ≦ f F t; f E t ≧ f G t; f E t ≦ f -H t; f E t ≧ f I t
Dabei ist f E t = 1665 (kHz mm); da die Rate der Frequenzverschlechterung,
welche durch die Dicke der Elektrode bei der
Resonanz hervorgerufen wird, größer als diejenige der Störresonanz
ist, kann die Frequenzkonstante in der Größenordnung
von 10 (kHz mm) geändert werden. Demzufolge können die vorstehenden
Gleichungen folgendermaßen dargestellt werden:
f E t - 10 ≦ f F t; f E t + 10 ≧ f G t; f E t- - 10 ≦ f H t; f E t + 10 ≧ f I t
somit ergibt sich:
1655 ≦ -78,8 w/t - 99,5 l/t + 3490
1675 ≧ -260 w/t - 47,3 l/t + 3250
1655 ≦ -412 w/t - 61,2 l/t + 4020
1675 ≧ -29,5 w/t - 102 l/t + 3320
1675 ≧ -260 w/t - 47,3 l/t + 3250
1655 ≦ -412 w/t - 61,2 l/t + 4020
1675 ≧ -29,5 w/t - 102 l/t + 3320
Wenn w/t und l/t die vorstehenden vier Gleichungen erfüllen,
können die Störresonanzen mit großem Frequenzbereich bzw.
großem Frequenzgang beseitigt werden und gleichzeitig können -
wie in dem Betriebsdiagramm nach Fig. 3 dargestellt ist, die
Hauptresonanzfrequenz gegenüber den Störresonanzfrequenzen
mit geringem Frequenzbereich entfernt liegen.
Fig. 5 zeigt einen Bereich (w/t, lt), welcher die vorstehenden
vier Gleichungen erfüllt, wobei entlang der Abszisse w/t und
entlang der Ordinate l/t aufgetragen sind. Für die in Fig. 5
gezeigten Punkte ergeben sich folgende Werte, wobei jeweils
der erste Wert dem Verhältnis w/t und der zweite Wert dem
Verhältnis l/t entsprechen:
A:3,16 15,94B:3,40 15,75C:3,49 15,52D:3,30 15,17
Ein Bereich innerhalb des Vierecks, das durch die Punkte A,
B, C und D gebildet wird, erfüllt die vorstehenden vier
Gleichungen.
Fig. 6 stellt eine Ausführungsform eines AT-Quarzresonators
nach der Erfindung dar, wobei die Y-Z′-Ebene des Quarzresonators
dargestellt und die Seitenfläche desselben geneigt
ist; die X-Y′-Ebenen sind entgegen dem Uhrzeigersinn um
etwa 5° um die X-Achse geneigt, welche senkrecht zur Zeichenebene
verläuft, worauf besonders hingewiesen wird.
Die Seitenfläche des Quarzresonators ist geneigt, um die
Frequenz-Temperatur-Charakteristik des Quarzresonators als
Äquivalent gegenüber derjenigen einer unendlichen Platte zu
bestimmen, da die Biegungstemperatur der Frequenz-Temperatur-
Charakteristik höher als diejenige einer unendlichen Platte
wegen der piezoelektrischen Anisotropie wird, wenn das Verhältnis
w/t des Quarzresonators klein wird. Zu diesem Zeitpunkt
wird der Wert w/t des Bereichs in Fig. 5 bestimmt, wobei der
Breitenwert der oberen oder unteren Oberfläche der X-Z′-Ebene
verwendet wird, wie in Fig. 6 gezeigt ist. Obgleich beide
Endbereiche in Längsrichtung des Quarzresonators in dem Experiment
kantenförmig abgeschrägt sind, wobei die Länge der
Kante l₀/l = 0,22±0,04 und die Dicke des Endbereichs t₀/t =
0,45±0,20 entsprechend Fig. 2 gewählt ist, ist der Bereich
nahezu der gleiche wie das Viereck, das in Fig. 5 gezeigt ist.
Der Quarzresonator kann in konvexer Form nach Art einer Linse
(lenz) bearbeitet sein; anstelle einer Bearbeitung in Form
einer abgeschrägten Kante kann der Quarzresonator auch die
Form einer planen, abgeschrägten Kante oder plankonvexe Form
auf einer Seite haben.
Fig. 7 gibt die Temperaturcharakteristik einer Ausführungsform
eines rechteckigen AT-Quarzresonators nach der Erfindung
wieder, wobei J die Frequenz-Temperatur-Charakteristik und k
die Temperaturcharakteristik des Ersatzwiderstandes darstellen.
Der Schnittwinkel dieses Beispiels beträgt 35°24′ und der
optimale Schnittwinkel kann dadurch verändert werden, daß die
Breite des Quarzresonators geändert wird. Wie in Fig. 7 gezeigt
ist, zeigt der rechteckige AT-Quarzresonator eine gute
Frequenz-Temperatur-Charakteristik und eine flache Temperaturcharakteristik
des Ersatz- bzw. Verlustwiderstandes.
Der in Fig. 5 dargestellte Dimensionsbereich ist weit genug, um
eine Genauigkeit bei der Herstellung und eine Massenherstellung
zu ermöglichen; wenn die Hauptresonanzfrequenz des Quarzresonators
etwa 4 MHz beträgt, beträgt dessen Dicke etwa 0,4 mm, seine
Breite etwa 1,3 mm, seine Länge etwa 6,2 mm; dadurch läßt sich
ein rechteckiger AT-Quarzresonator mit äußerst kleiner Größe
erreichen.
Durch die Erfindung ist es somit möglich, einen rechteckigen
AT-Quarzresonator in Miniaturgröße zu schaffen, der nahezu
keinerlei negativen Einflüssen ausgesetzt ist, die durch Störresonanzen
hervorgerufen werden. Außerem hat der erfindungsgemäße
Quarzresonator gute Frequenz-Temperatur-Charakteristik,
einen großen Gütefaktor, eine gute Temperaturcharakteristik
seines Ersatzwiderstandes und außerdem ist eine Massenproduktion
möglich, wobei die Genauigkeit seiner Herstellung beibehalten
werden kann.
Claims (4)
1. Quarzresonator mit den folgenden Merkmalen:
- a) er besteht aus einer rechteckförmigen Quarzplatte,
die nach einer Drehung um etwa 35° um die X-Achse
(Länge l) des Koordinatensystems des Quarzkristalls
ausgeschnitten ist (AT-Schnitt), wobei die sich
durch die Drehung ergebenden neuen Achsen Y und Z
mit Y′ (Dicke t) und Z′ (Breite w) bezeichnet werden,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur Erzielung einer die Verwendung in einer Kleinuhr oder dergleichen ermöglichenden Miniaturisierung - b) das Verhältnis w/t einen Wert zwischen 3,1 und 3,7 und das Verhältnis l/t einen Wert zwischen 14,5 und 16,2 hat.
2. Quarzresonator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Werte von w/t und l/t innerhalb eines durch vier
Koordinatenpunkte A (3, 16; 15, 94) B (3, 40; 15, 57) C
(3, 49; 15, 12) und D (3, 30; 15, 17) mit der Abszisse w/t
und der Ordinate l/t bestimmten Vierecks liegen.
3. Quarzresonator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Endabschnitte der Quarzplatte
in Längsrichtung eine sich zu dem betreffenden Ende hin
verringernde Dicke aufweisen.
4. Quarzresonator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden in der X-Y′-Ebene beziehungsweise
in einer dazu parallelen Ebene liegenden Seitenflächen
der Quarzplatte um etwa 5° zu der Flächennormalen der
Hauptflächen geneigt, um die X-Achse im Gegenuhrzeigersinn
gemessen, ausgebildet sind (Fig. 6).
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6028578A JPS54151390A (en) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | Crystal oscillator of rectangular at cut |
JP6028478A JPS54151389A (en) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | Crystal oscillator of rectangular at cut |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2920356A1 DE2920356A1 (de) | 1979-11-22 |
DE2920356C2 true DE2920356C2 (de) | 1987-10-15 |
Family
ID=26401356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792920356 Granted DE2920356A1 (de) | 1978-05-19 | 1979-05-19 | Rechteckiger quarzresonator mit at-schnitt |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4247797A (de) |
CH (1) | CH634717B (de) |
DE (1) | DE2920356A1 (de) |
FR (1) | FR2426338A1 (de) |
GB (1) | GB2021311B (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2043996B (en) * | 1978-12-27 | 1983-09-07 | Nihon Dempa Kogyo Co | Thickness shear quartz crystal oscillator |
DE3004331C2 (de) * | 1980-02-06 | 1983-06-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zu Dickenscherungsschwingungen anregbare Resonatorplatte |
US4551598A (en) * | 1983-09-28 | 1985-11-05 | Stewart-Warner Corporation | Illuminated membrane switch |
FR2565033B1 (fr) * | 1984-05-22 | 1987-06-05 | Labo Electronique Physique | Dispositif de transduction ultrasonore a reseau d'elements transducteurs piezoelectriques |
FR2589247B1 (fr) * | 1985-10-25 | 1988-06-10 | Labo Electronique Physique | Appareil d'exploration de milieux par echographie ultrasonore comprenant un reseau d'elements transducteurs piezoelectiques |
EP0459631B1 (de) * | 1990-04-27 | 1998-08-12 | Seiko Epson Corporation | In AT-Richtung geschnittenes Kristalloszillatorelement und sein Herstellungsverfahren |
US6469423B2 (en) * | 1993-10-18 | 2002-10-22 | Seiko Epson Corporation | Rectangular at-cut quartz element, quartz resonator, quartz resonator unit and quartz oscillator, and method of producing quartz element |
US5572082A (en) * | 1994-11-14 | 1996-11-05 | Sokol; Thomas J. | Monolithic crystal strip filter |
JP5028061B2 (ja) * | 2006-10-05 | 2012-09-19 | 日本電波工業株式会社 | 水晶振動子 |
JP5883665B2 (ja) * | 2012-01-31 | 2016-03-15 | 日本電波工業株式会社 | 水晶振動片及び水晶デバイス |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2306909A (en) * | 1939-06-09 | 1942-12-29 | Bell Telephone Labor Inc | Piezoelectric crystal apparatus |
US2574257A (en) * | 1947-01-11 | 1951-11-06 | Cambridge Thermionic Corp | Method for manufacturing piezoelectric crystals free of conflicting modes of vibration |
US2505121A (en) * | 1949-03-04 | 1950-04-25 | James Knights Company | Method of finishing crystals |
US3311854A (en) * | 1962-06-13 | 1967-03-28 | Bell Telephone Labor Inc | Single crystal quartz filter elements, transducers and delay lines |
US3143672A (en) * | 1962-09-14 | 1964-08-04 | Bell Telephone Labor Inc | Single crystal quartz filter elements, oscillators and transducers |
GB1401042A (en) * | 1972-05-30 | 1975-07-16 | Suisse Horlogerie | Quartz crystal resonator |
US3792294A (en) * | 1972-10-19 | 1974-02-12 | Bell Telephone Labor Inc | Rectangular at-cut crystal plate |
US4167686A (en) * | 1973-12-21 | 1979-09-11 | Hitohiro Fukuyo | Miniaturized at-cut piezoelectric crystal resonator |
JPS5093793A (de) * | 1973-12-21 | 1975-07-26 | ||
JPS5626336Y2 (de) * | 1975-04-08 | 1981-06-23 | ||
US4076987A (en) * | 1976-12-10 | 1978-02-28 | Societe Suisse Pour L'industrie Horlogere Management Services S.A. | Multiple resonator or filter vibrating in a coupled mode |
JPS53131785A (en) * | 1977-04-21 | 1978-11-16 | Toshiba Corp | Thickness slip vibrator |
-
1978
- 1978-12-18 FR FR7835532A patent/FR2426338A1/fr active Granted
- 1978-12-22 GB GB7849788A patent/GB2021311B/en not_active Expired
-
1979
- 1979-04-25 US US06/033,229 patent/US4247797A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-05-19 DE DE19792920356 patent/DE2920356A1/de active Granted
- 1979-05-21 CH CH475379A patent/CH634717B/fr unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH634717B (fr) | |
FR2426338A1 (fr) | 1979-12-14 |
GB2021311B (en) | 1982-08-18 |
FR2426338B1 (de) | 1983-10-21 |
DE2920356A1 (de) | 1979-11-22 |
US4247797A (en) | 1981-01-27 |
GB2021311A (en) | 1979-11-28 |
CH634717GA3 (de) | 1983-02-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2948331C2 (de) | ||
DE2600138C2 (de) | Einrichtung auf der Basis der akustischen Oberflächenwellen mit einem zur Übertragung der akustischen Oberflächenwellen dienenden Trägerkörper aus piezoelektrischem Material und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE3108166C2 (de) | Stimmgabelquarzkristallschwinger mit Schwingungskopplung | |
DE2805491C2 (de) | Quarzschwinger mit Dickenscherschwingung | |
DE60302851T2 (de) | Akustiche Oberflächenwellenvorrichtung und Verfahren zur Einstellung ihrer Temperaturcharakteristik | |
DE2327176B2 (de) | Quarzkristall-Resonator für Frequenzen über 1 MHz | |
DE2920356C2 (de) | ||
DE2936225C2 (de) | ||
DE2934091A1 (de) | At-quarzresonator | |
DE2701416A1 (de) | In gekoppelter form schwingendes piezoelektrisches quarzelement | |
DE2351665A1 (de) | Rechtwinklige at-geschnittene quarzkristallplatte | |
DE3620558C2 (de) | ||
DE2640886B2 (de) | Piezoelektrischer Mikroresonator | |
DE2256624A1 (de) | Quarzkristallschwinger und verfahren zu seiner herstellung | |
DE4017023C2 (de) | Piezoelektrische Vorrichtung mit Schwingungsrichtung in Dickenerstreckung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE3009531C2 (de) | ||
DE2713672C2 (de) | Frequenzselektive Anordnung | |
EP0054723A1 (de) | Akustischer Oberflächenwellenresonator | |
DE3324084A1 (de) | Piezoelektrischer resonator in form einer stimmgabel | |
DE3006040C2 (de) | Elektrodenanordnung für Stimmgabelquarzkristallschwinger | |
DE3135102C2 (de) | Modengekoppelte Quarzstimmgabel | |
DE903351C (de) | Piezoelektrischer Quarzkristall | |
DE2913798A1 (de) | Piezoelektrischer schwinger | |
DE2746154A1 (de) | Quarzschwinger | |
DE2703335C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: SEIKO INSTRUMENTS AND ELECTRONICS LTD., TOKIO, JP |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |