DE2754685C2 - Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen Ionendetektor - Google Patents
Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen IonendetektorInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen
Ionendetektor nach dem Oberbegriff des Anspruches 1. Eine derartige Vorrichtung ist aus »Review of Scientific
Instruments« 41 (1970), Seite 1513 bekannt.
Die bekannte Vorrichtung wird für aus einem Quadrupol-Massenfilter austretende Ionen eingesetzt
und weist zwei in bezug auf die Quadrupolachse schräg stehende Ablenknetze auf, zwischen denen die Ionen
durch ein elektrostatisches Feld in den Eingang eines Ionendetektors gelenkt werden.
Bei einer derartigen Vorrichtung wirkt sich allerdings nachteilig aus, daß Multipol-Massenfilter die Eigenschaft
besitzen, daß die zu untersuchenden Ionen bei ihrem Austritt aus dem Massenfilter eine von der
Ionenmasse und der Phase des Multipol-Hochfrequenzfeldes abhängige Energie- und Wmkelverteilung aufweisen.
Diese massenabhängigen Energie- und Winkelverteilungen der Ionen bewirkt eine mehr oder minder
große Massenabhängigkeit der Ionen-Umlenkung und
damit einen unzureichenden Wirkungsgrad für den Nachweis.
Demgegenüber liegt der Erfindung die Aufgabe
ίο zugrunde, die eingangs genannte Vorrichtung dahingehend
zu verbessern, daß eine zuverlässige und wirkungsvolle Führung der zu untersuchenden Ionen
zwischen Massenfilter und Ionendetektor gewährleistet ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einem Massenspektrometer der eingangs genannten Art
gemäß dem Kennzeichen des Anspruches 1 gelöst.
Zwischen Leiter und Gehäuse wird eine elektrische Spannung gelegt, und zwar derart, daß der Leiter ein
dem Vorzeichen der Ionenladung entgegengesetztes Potential aufweist
Zur Erklärung der Wirkungsweise ist zu beachten, daß eine koaxiale Anordnung von elektrischen Leitern
folgende Potentialverteilung besitzt
Dabe' sind η bzw. />
die Radien von Innen- bzw. Außenleiter und U0 das Potential des Innenleiters.
Gelangen nun geladene Teilchen (Ladung q) in ein derartiges Feld, so erfahren sie eine radial zur
Leiteranordnung gerichtete Kraft vom Betrag
K = grad £/(/■) · q.
unter deren Wirkung sie sich auf ellipsenartigen Bahnen um den Ionenleiter bewegen. Besitzen die geladenen
Teilchen eine axiale Geschwindigkeitskomponente, so gehen die ebenen Bahnen in ellipsenartige Schraubenbahnen
über. Die Bewegung der Ionen erfolgt damit vom Radialfeld geführt in axialer Richtung.
Diese idealisiert dargestellten Verhältnisse liegen — zumindest in einiger Entfernung von der Eintritts- und
der Austrittsöffnung — angenähert auch bei der Erfindung vor.
Weitere vorteilhafte Ausbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun anhand der Zeichnung im einzelnen erläutert. Dabei
zeigt
F i g. 1 eine schematische Schnittdarstellung eines ersten Ausführungsbeispiels mit einem durchgezogenen
Führungsdraht,
F i g. 2 eine schematische Darstellung eines zweiten Ausführungsbeispiels,
F i g. 3 eine schematische Darstellung eines dritten Ausführungsbeispiels mit zur Achse des Massenfilters
hin gebogenem freien Ende des Führungsdrahtes und
F i g. 4 eine schematische Darstellung eines vierten Ausführungsbeispiels mit zwei Ionendetektoren.
Das in F i g. 1 teilweise dargestellte Massenspektrometer besteht aus einem Quadrupol-Massenfilter 10 und
einem zu dessen Achse 11, die strichpunktiert angedeutet ist, versetzten Sekundärelektronenvervielfacher
12 als Ionendetektor. Quadrupol-Massenfilter 10 und Sekundärelektronenvervielfacher 12 sind ionenoptisch
durch eine Ionenführungsvorrichtung 13 verbun-
den. Die Vorrichtung 13 besteht aus einem zwischen Quadrupol-Massenfilter 10 und Sekundärelektronenvervielfacher
12 senkrecht zu deren Längsachsen sich erstreckenden Gehäuse 14, in dessen Längsachse ein
Metalldraht 16 gespannt ist, der an den Stirnflächen 17 des Gehäuses 14 mittels Isolierungen 18 befestigt ist.
Der Draht 16 ist auf ein elektrisches Potential vorgespannt, das die aus dem Quadrupol-Massenfilter
10 austretenden Ionen anzieht, die mitteis des Sekundärelektronenvervielfachers 12 detektiert w erden
sollen. Das Gehäuse 14 besitzt jeweils eine mit dem Quadrupol-Massenfilter 10 und dem Sekundärelektronenvervielfacher
12 in Verbindung stehende Öffnung 19 bzw. 21, wobei die Öffnungen 19,21 so angeordnet sind,
daß der wesent'iche Teil der zu untersuchenden Ionen vom Quadrupol-Massenfilter 10 durch die Öffnung 19 in
das Gehäuse 14 eintreten und aus dem Gehäuse 14 durch die Öffnung 21 zum Sekundärelektronenvervielfacher
12 austreten kann. In der Richtung der Achse 11 des Quadrupol-Massenfilters besitzt das Gehäuse 14
eine Öffnung 22 zum Austritt gegebenenfalls vorhandener oder durch Entladung von Ionen am Metalldraht 16
entstehender Neutralteilchen. Die Öffnung 22 liegt dabei der öffnung 19 für den Eintritt der Teilchen aus
dem Quadrupol-Massenfilter 10 gegenüber. Mit der ersten Dynode des Sekundärelektronenvervielfachers
12 ist bei der Öffnung 21 ein rohrförmiger Ansatz 23 verbunden, der mit der Öffnung 21 zum Heraustreten
der Ionen aus der Vorrichtung 13 eine ionenoptische Linse bildet. Der rohrförmige Ansatz 23 ist dabei für die
zu untersuchenden Ionen elektrisch anziehend vorgespannt. Das Gehäuse 14 wird gegebenenfalls auf einem
Potential gehalten, das dem Potential des Metalldrahtes 16 vorzeichenmäßig entgegengesetzt ist.
Beim Ausführungsbeispiel der Fig. 2 ist der Metalldraht
16 lediglich an einem Ende, nämlich in der Nähe des Sekundärelektronenvervielfachers 12, isoliert gegen
das Gehäuse 14 an der dort befindlichen Stirnfläche 17 eingespannt, vährend der Metalldraht 16 im Gehäuse
14 in Höhe der Öffnung 19 zum Quadrupol-Massenfilter 10 frei endet. Dem freien Ende 26 des Metalldrahtes 16
gegenüber befindet sich eine Platte 27, die gleichsinnig zur Ladung der zu untersuchenden Ionen vorgespannt
ist, so daß sie diese abstößt.
Die Wirkungsweise des in Fig.2 dargestellten Ausführungsbeispiels entspricht im wesentlichen der
des in F i g. 1 dargestellten, wobei lediglich die Teilchen durch die Platte 27 eine vergrößerte Geschwindigkeitskomponente entlang des Metalldrahtes 16 zum Sekundärelektronenvervielfacher
12 hin erfahren.
Beim in F i g. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel ist der in der Nähe des Sekundärelektronenvervielfachers
12 an der dort befindlichen Stirnfläche 17 eingespannte Metalldraht 16 mit seinem freien Ende beim Massenfilter
10 in die öffnung 19 zum Eintritt der zu untersuchenden Ionen in das Gehäuse 14 derart
hineingebogen, daß sein freies Ende 28 mit der Achse des Quadrupol-Massenfilters 10 im wesentlichen fluchtet.
So können die aus dem Quadrupol-Massenfilter 10 durch die Öffnung 19 austretenden Ionen direkt durch
den führenden Metalldraht 16 aufgenommen und an ihm entlang in ellipsenartigen Schraubenbahnen bis in Höhe
der Austrittsöffnung 21 geführt werden.
In F i g. 4 ist eine Vorrichtung 13 dargestellt, die zur
Multipolachse symmetrisch aufgebaut ist Das Gehäuse 14 besitzt an beiden Enden auf der Seite, die dem
Quadrupol-Massenfilter 10 gegenüberliegt, je eine Öffnung 21. Die zu untersuchenden Ionen treten aus
dem Gehäuse 14 durch die Öffnungen 21 in die zugeordneten Sekundärelektronenvervielfacher 12, 12'
ein. Die die Ionen führenden Metalldrähte 16 und 16' sind an den beiden Stirnflächen 17 des Gehäuses 14
mittels Isolierungen 18 eingespannt und in der Mitte zwischen den Öffnungen 19 und 22 so angeordnet, daß
sie sich in ihrer Achse fluchtend im Zentrum der
2t) Eintrittsöffnung gegenüber stehen, ohne sich zu
berühren. Im dargestellten Ausführungsbeispiel sind die sich dort gegenüberstehenden Drahtenden mittels einer
kleinen Glasperle 29 mechanisch stabil und gleichzeitig elektrisch isoliert verbunden.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach F i g. 4 können beide Drähte auf verschiedene elektrische Potentiale
gelegt werden, wobei vorzugsweise ein Draht ein positives Potential besitzt, während der zweite Draht
auf einem negativen Potential liegt. Durch einfaches Umpolen der Drahtspannungen wird der zu untersuchende
lonenstrom dann auf getrennte Detektoren gelenkt. So kann zum Beispiel der eine Sekundärelektronenvervielfacher
12 mit einer hohen Verstärkung ausgestattet sein, um empfindliche Einzelionenstrom-Messungen
durchführen zu können, während der zweite Sekundärelektronenvervielfacher 12' für die Messung
des Totalionenstroms eine entsprechend geringe Verstärkung aufweist. Durch einfaches Umpolen der
Drahtspannungen und gleichzeitiges Umschalten des Quadrupols vom Einzelmassen-Filter zu einem Hochpaß-Filter,
das aber einer Grenzmasse alle höheren Massen durchläßt, wird die Möglichkeit eröffnet, sowohl
den Einzelionenstrom als auch den Totalionenstrom sehr genau und ohne Zerstörung der Detektoren zu
messen.
Andererseits ergibt sich bei Sekundärelektronenvervielfachern 12, 12' mit im wesentlichen gleicher
Verstärkung und entgegengesetzter Vorzeichenwahl der Vorspannungen der beiden Drähte 16, 16' die
Möglichkeit, bei entsprechender Polung der ersten Dynoden in einem der Sekundärelektronenvervielfacher
positive und im anderen Sekundärelektronenvervielfacher negative Ionen gleicher Masse nachzuweisen,
da das Quadrupol-Massenfilter 10 sowohl auf positive als auch gleichermaßen auf negative Ionen massentrennend
wirkt.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen Ionendetektor, mit
einem Gehäuse, welches eine mit der Achse des Massenfilters fluchtende Eintrittsöffnung, eine mit
der Achse des Massenfi'ters nicht-fluchtende Austrittsöffnung
und ein die Ionen zwischen Eintrittsund Austrittsöffnung führendes elektrostatisches
Feld aufweist, wobei der Ionendetektor derart an die Austrittsöffnung angekoppelt ist, daß ein Ziehfeld
für die Ionen in das Gehäuse eingreift, dadurch
gekennzeichnet, daß das elektrostatische Feld durch einen innerhalb des Gehäuses (13)
angeordneten linienförmigen Leiter (16) erzeugt wird, der sich auf ein die Ionen anziehenden
Potential befindet.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der linienförmige Leiter (16) gerade ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Leiter (16) senkrecht zur Achse
(11) des Massenfilters (10) verläuft.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (13) eine
mit der Achse (11) des Massenfilters (10) fluchtende
Austrittsöffnung (22) für Neutralteilchen aufweist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Leiter (16) gerade
ist und im Bereich der Eintrittsöffnung (19) endet und daß in Richtung der Verlängerung seines Endes
eine davon elektrisch isolierte Elektrode angeordnet ist, die ein die Ionen abstoßendes Potential aufweist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode aus einer senkrecht zur
Achse des Leiters (16) angeordneten Platte (27) besteht.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode aus einem in der Achse
des Leiters (16) liegenden weiteren geraden linienförmigen Leiter (16') besteht.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die einander zugewandten Enden der
beiden Leiter (16, 16') mechanisch miteinander verbunden sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Ende (28) des linienförmigen
Leiters (16) in die Eintrittsöffnung derart hineingebogen ist, daß es mit der Achse (11) des Massenfilters
(10) fluchtet.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2754685A DE2754685C2 (de) | 1977-12-08 | 1977-12-08 | Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen Ionendetektor |
EP78100261A EP0002430B1 (de) | 1977-12-08 | 1978-06-28 | Massenspektrometer |
US05/958,414 US4230943A (en) | 1977-12-08 | 1978-11-07 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2754685A DE2754685C2 (de) | 1977-12-08 | 1977-12-08 | Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen Ionendetektor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2754685A1 DE2754685A1 (de) | 1979-06-13 |
DE2754685C2 true DE2754685C2 (de) | 1982-04-15 |
Family
ID=6025612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2754685A Expired DE2754685C2 (de) | 1977-12-08 | 1977-12-08 | Vorrichtung zum Überführen von Ionen aus einem Massenfilter in einen Ionendetektor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4230943A (de) |
EP (1) | EP0002430B1 (de) |
DE (1) | DE2754685C2 (de) |
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