DE2753766A1 - Verfahren zur gezielten einstellung der elektrischen eigenschaften keramischer kaltleiterkoerper - Google Patents

Verfahren zur gezielten einstellung der elektrischen eigenschaften keramischer kaltleiterkoerper

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DE2753766A1 DE19772753766 DE2753766A DE2753766A1 DE 2753766 A1 DE2753766 A1 DE 2753766A1 DE 19772753766 DE19772753766 DE 19772753766 DE 2753766 A DE2753766 A DE 2753766A DE 2753766 A1 DE2753766 A1 DE 2753766A1
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Description

  • Verfahren zur gezielten Einstellung der elektrischen Eigen-
  • schaften keramischer Kaltleiterkörper Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur gezielten Einstellung der elektrischen Eigenschaften, nämlich Kaltwiderstand, Nenntemperatur, Heißwiderstand, Widerstandsanstieg oder Spannungsfestigkeit, keramischer Kaltleiterkörper aus Perowskitstruktur besitzendem, ferroelektrischem Material auf Bariumtitanatbasis der allgemeinen Formel (Ba1 X I)° . z(Ti1 yMy )°2 mit MII = Ca, Sr, Pb und/oder Mg und = N = Sn und/oder Zr, wobei z die Werte 1,005 bis 1,05, x die Werte O bis 0,6 und y die Werte O bis 0,35 einnehmen und das Material wenigstens zwei Dotierungssubstanzen enthält, von denen die eine (Antimon, Niob, Lanthan, Yttrium, Neodym, Wismut und/oder Wolfram) in Mengen von 0,003 bis 0,006 Mol, bezogen auf 1 Mol Perowskitmaterial, im Innern der Kristallite überwiegend n-Leitung und die andere (Kupfer, Kobalt, Mangan, Nickel und/oder Eisen) in Mengen von 0,0005 bis 0,003 Mol, bezogen auf 1 Mol Perowskitmaterial, vornehmlich an den Oberflächen der Kristallite überwiegend p-Leitung bewirken, und das Material zusätzlich Silizium und/oder Germanium, gerechnet als SiO2 oder GeO2 in Mengen von 0,01 bis 0,03 Molen, bezogen auf 1 Mol Perowskitmaterial,enthält, bei dem die für die Herstellung der Körper erforderlichen Ausgangskomponenten in Oxidform oder einer die Oxide liefernden Form oder in einer die Titanate bildenden Form gemischt, naß oder trocken vermahlen und danach zur Festkörperreaktion gebracht werden, wonach das Reaktionsprodukt erneut bis zur gewünschten Teilchengröße gemahlen und aus dem Pulver die Körper durch Pressen oder im Schlickergießverfahren hergestellt und danach der Sinterung unterworfen werden.
  • Keramische Kaltleiter, auf deren Herstellung sich die vorliegende Erfindung bezieht, sind an sich beispielsweise bekannt aus DT-OS 19 41 280, DT-PS 929 350, DT-PS 23 08 073, die der US-PS 3 996 168 entspricht, DT-PS 1 646 987, die der US-PS 3 441 517 im wesentlichen entspricht, und der DT-AS 16 46 988 bekannt.
  • Bei der Herstellung dieser keramischen Kaltleiter werden im allgemeinen die für die Herstellung der Körper erforderlichen Ausgangskomponenten in Oxidform oder eine die Oxide liefernden Form oder in eine die Titanate bildenden Form gemischt, naß oder trocken vermahlen und danach zur Festkörperreaktion gebracht, wonach das Reaktionsprodukt erneut bis zur gewünschten Teilchengröße gemahlen und aus dem Pulver die Körper durch Pressen oder im Schlickergießverfahren hergestellt und danach der Sinterung unterworfen werden.
  • Körperformen für die hier in Rede stehenden keramischen Kaltleiter sind beispielsweise Scheiben mit einem Durchmesser von 2 bis 60 mm und einer Dicke von 0,3 bis 10 mm, ferner Stäbe mit rechteckigem oder rundem Querschnitt von 1 bis 5 cm Länge und 0,1 bis 10 mm Durchmesser, ferner rohrförmige Körper mit rundem, quadratischem oder flachrohrförmigem Querschnitt, bei denen die Wandstärke zwischen 0,5 und 5 mm und die Länge etwa wie bei den stabförmigen Kaltleitern sind. Es zählen auch Rechteckplatten zu diesen Körpern, deren Abmessungen in jeder Richtung bis zu 60 mm reichen können.
  • Bei Körperformen mit besonders großer Dicke oder großer Wandstärke muß beim Aufheizen für den Sinterprozeß darauf geachtet werden, daß die notwendigerweise für die Herstellung der Körper dem gemahlenen Produkt der Festkörperreaktion zugesetzten Gleit-, Binde- und Plastifizierungsmittel, die in aller Regel aus organischen Materialien bestehen, langsam genug aus dem Körper entweichen können, damit weder Risse noch Lunker in den Körpern entstehen und daß auch die ausgetriebenen organischen Mittel die Atmosphäre beim späteren Sintervorgang nicht negativ beeicflussen, beispielsweise durch erhebliche reduzierende Einwirkung.
  • Entsprechende Vorsichtsmaßnahmen sind auch zu treffen, wenn beispielsweise ein Durchschubofen über sein Volumen hin mit sehr vielen zu sinternden Körpern gefüllt wird, selbst wenn deren Dicken und Wandstärken nicht besonders groß sind, weil durch das hohe Füllvolumen des Ofens auch entsprechend große Mengen an organischen Mitteln eingebracht werden. Es ist selbstverständlich, daß auch bei dem Verfahren der vorliegenden Brfindung diese bekannten Vorsichtsmaßnahmen berücksichtigt werden (vgl.
  • DT-AS 1 696 440).
  • Es ist auch schon bekannt, keramische Kaltleiterkörper so herzustellen, daß in ihnen zwei voneinander unterschiedlich zusammengesetzte kristalline Hauptphasen existieren (vgl. DT-PS 14 90 659, die der US-PS 3 637 532 im wesentlichen entspricht).
  • In der DT-AS 14 15 430 sind keramische elektrische Widerstandskörper auf der Basis von Bariumtitanat und Verfahren zu deren Herstellung beschrieben. Bei den keramischen elektrischen Widerstandskörpern handelt es sich um solche, bei denen Bariumtitanat teilweise durch Strontium substituiert ist und die Dotierung zum Zwecke der Erzeugung von n-Leitfähigkeit mit Antimonoxid vorgenommen ist. Das wesentliche Gewicht liegt dabei darauf, daß der Strontiumgehalt, der in das Bariumtitanat eingefügt wird, um die Curietemperatur nach tieferen Temperaturen zu verschieben, eine entsprechend veränderliche Menge an Antimonoxid erforderlich macht, um stets einen Widerstandsanstieg von vier Zehnerpotenzen zwischen den Werten für den Kalt- und den Heißwiderstand zu erzielen.
  • Das in dieser Auslegeschrift beschriebene Verfahren besteht darin, daß beim Umsetzungsprozeß des Ausgangsgemisches mit einer Geschwindigkeit von 3000C pro Stunde bis auf etwa 10000C aufgeheizt und auf diesen Wert über etwa zwei Stunden diese Umsetzungstemperatur erhalten bleibt, wonach das Umsetzungsprodukt in etwa drei bis vier Stunden auf 5000C und dann bis auf Zimmertemperatur abgekühlt wird; aus diesem Produkt wird nach der Feinmahlung der gewünschte Körper durch Pressen des Pulvers erzeugt, der dann oxidierend der Sinterung unterworfen wird, indem die Temperatur mit einer Geschwindigkeit von etwa 300% pro Stunde bis auf etwa 13600C erhöht und dieser Wert etwa 10 Minuten beibehalten wird, wonach die normale langsame Abkühlung des nunmehr fertiggesinterten Widerstandskörpers erfolgt.
  • Bei dem bekannten Verfahren liegen somit sowohl das Temperaturschema für die Festkörperreaktion als auch das Temperaturschema für die Sinterung fest, und zwar sowohl hinsichtlich der Aufheiz-und Abkühlgeschwindigkeiten als auch für die Haltezeit und die Sintertemperatur. Der Grund hierfür ist darin zu sehen, daß die bekannten keramischen halbleitenden Widerstandskörper nur mit Antimon als einziger Dotierungssubstanz dotiert sind und die elektrischen Eigenschaften damit ausschließlich durch das Verhältnis der Komponenten zueinander gegeben sind, u.zw. nur im Hinblick auf unterschiedliche Curietemperaturen bei stets gleichem Widerstandsanstieg um 4 Zehnerpotenzen. Eine Änderung der elektrischen Eigenschaften bei konstanter Zusammensetzung ist nach dem bekannten Verfahren nicht möglich.
  • Es ist schließlich bekannt, daß die keramischen Kaltleiterkörper aus ferroelektrischem Material auf Bariumtitanatbasis sperrschichtfrei kontaktiert werden müssen, d.h. es müssen mindestens an zwei voneinander getrennten Oberflächenbereichen der Körper metallische Belegungen derart aufgebracht sein, daß rein ohmsche Kontakte, nicht aber Sperrschichten zwischen Keramikkörper und Metallbelegung bestehen. Es wird hierzu auf die DT-PS 1 490 713 hingewiesen, die der GB-PS 1 056 510 entspricht. Andere Moglichkeiten zur sperrschichtfreien Kontaktierung sind beispielsweise in der US-PS 3 586 534 und in der GB-PS 1 470 132 beschrieben.
  • Bei diesen bekannten Verfahren werden phosphorhaltige Nickel schichten auf die Keramikkörper aufgebracht.
  • Aus dem bekannten Stand der Technik folgt nur, daß man die elektrischen Eigenschaften, nämlich Kaltwiderstand, Nenntemperatur, Heißwiderstand, Widerstandsanstieg oder Spannungsfestigkeit keramischer Kaltleiterkörper aus Perowskitstruktur besitzendem, ferroelektrischem Material auf Bariumtitanatbasis durch die chemische Zusammensetzung der Ausgangsmisehungen zu beeinflussen versucht hat. Es sind auch schon Versuche bekannt geworden, elektische Eigenschaften, beispielsweise die Spannungsfestigkeit, durch die Erzielung bestimmter Korngrößen im fertigen Körper zu beeinflussen. Dieses Verfahren ist umständlich, weil das Kornwachstum nicht beliebig beeinflußbar ist.
  • Als Kaltwiderstand bezeichnet man bei Kaltleitern den Widerstandswert, den er bei einer Temperatur von 25°C aufweist. Die Nenntemperatur ist die Temperatur, bei der der steile Widerstandsanstieg beginnt, während der Heißwiderstand der Wert ist, den der Kaltleiter am Xnde des Widerstandsanstiegs aufweist. Ein Maß für den Widerstandsanstieg ist der Koeffizient A, der dem Verhältnis von maximalem Widerstand zu minimalem Widerstand entspricht (A ç / / n )- Da die Widerstandswerte keramischer Kaltleiter spannungsabhängig sind (Varistoreffekt), gibt man als Index dem Koeffizienten A die Feldstärke in V/mm an, bei welcher die Widerstandswerte gemessen wurden. Der Widerstandsanstieg wird im allgemeinen aus den Werten bestimmt, welche bei einer Feldstärke von 1 V/mm gemessen werden (Al). Der Koeffizient A40 ist ein Maß für die Spannungsfestigkeit der Kaltlei ter, da er durch die bei einer Feldstärke von 40 V/mm gemessenen Werte bestimmt wird.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren anzugeben, welches die gezielte Einstellung der eingangs genannten elektrischen Werte mit einer möglichst niedrigen Streubreite ermöglicht. Einstellung der elektrischen Werte im Sinne der vorliegenden Erfindung bedeutet dabei, daß bei einer fest vorgegebenen Ausgangszusammensetzung je nach den Erfordernissen (Kundenwunsch) bei einer oder bei mehreren der elektrischen Eigenschaften ein bestimmter gewünschter Wert erzielt wird, u.zw. mit einer möglichst geringen Streubreite dieses oder dieser Werte, um möglichst hohe Ausbeuten zu erzielen.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe ist das eingangs angegebene Verfahren erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß die Festkörperreaktion bei Temperaturen von 800 bis 11000C für wenigstens zwei Stunden durchgeführt wird und daß die aus dem Reaktionsprodukt hergestellten Körper der Sinterung unterworfen werden, indem zunächst mit einer Aufheizgeschwindigkeit von 200 K/h bis 800K/h wenigstens im Temperaturintervall von 1000°C bis zur Sintertemperatur auf diese erhitzt werden, dann für null bis vier Stunden bei der Sintertemperatur von 11500 bis 14000C gehalten, danach von der Sintertemperatur bis wenigstens 100 K und etwa 300 K unterhalb der Sintertemperatur mit einer Geschwindigkeit von 50 K/h und 800 K/h abgekühlt werden, wonach die restliche Abkühlung bis zur Normaltemperatur entsprechend der dem Sinterofen eigenen Abkühlbedingungen erfolgt.
  • Vorzugsweise wird auch bei der Festkörperreaktion ein bestimmtes Temperaturschema für Aufheiz- und Abkühlbedingungen eingehalten, nämlich daß mit einer Aufheizgeschwindigkeit von 100 bis 400 K/h sowie einer Abkühlgeschwindigkeit von 200 bis 600 K/h wenigstens bis 5000C gearbeitet wird.
  • Zum Zwecke der Einstellung des Kaltwiderstandes ist es vorteilhaft, nicht nur das Temperaturschema beim Sinterverlauf einzuhalten, sondern auch die Temperatur der Festkörperreaktion im unteren angegebenen Bereich zu halten, z.B. bei 800 bis 8500C, wenn der Kaltwiderstand bei vorgegebener Zusammensetzung niedrig sein soll. Soll der Kaltwiderstand höher sein, so empfiehlt sich die Wahl einer höheren Temperatur für die Festkörperreaktion, wobei auch hier das Temperaturschema der Sinterung in gleicher Weise eingehalten wird. Es folgt hieraus, daß durch die Wahl der Temperatur der Festkörperreaktion Je nach Wunsch unterschiedliche Kaltwiderstände resultieren, ohne daß dabei das Temperaturschema der Sinterung verändert zu werden braucht.
  • Der Kaltwiderstand kann auch durch die Haltezeit bei der Sintertemperatur beeinflußt werden, ohne daß bei der Festkörperreaktion und/oder bei der Sinterung die Aufheiz- und Abkühlgeschwindigkeiten geändert werden. Lange Haltezeiten bei der Sinterung fuhren zu zu hohen Kaltwiderstandswerten, umgekehrt führen kurze Haltezeiten zu niedrigen Kaltwiderstandswerten.
  • Werden die Aufheiz- und/oder Abkühlge scharindigkeiten verändert, so wird damit nicht nur der Kaltwiderstand und der Widerstandsanstieg bei einer Spannung von 1 V/mm (k, ), sondern auch der Wiederstandsanstieg bei einer Spannung von 40 V/mm (A40)verändert.
  • Der Heißwiderstand (A1 bei Meßspannung) wird verändert, wenn die Aufheizgeschwindigkeit beim SinterprozeB verändert wird. Mit zunehmender Aufheizgeschwindigkeit nimmt der Kaltwiderstand zu, während der Heißwiderstand abnimmt.
  • Es ist bereits darauf hingewiesen worden, daß in gewissen Grenzen die Korngrößen im fertigen Körper von Einfluß auf die elektrischen Eigenschaften sind, Für das vorliegende Verfahren ist es gemäß einer Weiterbildung der Erfindung vorteilhaft, wenn die Ausgangsmischung nach dem Misch- und Mahlvorgang eine spezifische Oberfläche von 3 bis 6 m2/g (als Maß für die Korngröße) aufweist, die bei der Festkörperreaktion durch Kornwachstum auf 1 bis 2 m2/g abnimmt, wonach das Produkt der Festkörperreaktion auf eine spezifische Oberfläche von 2 bis 4 m2/g gemahlen wird und die Sinterung der Körper so geführt wird, daß die Korngröße der Kristallite im Bereich von 1 bis 50/um liegt.
  • Der Vorteil besteht darin, daß die Streubreite der elektrischen Werte im Sinne einer Einengung gunstig beeinflußt wird, weil eine hohe Gleichmäßigkeit der Kristallite im fertigen Körper resultiert.
  • Nachdem sich die einzelnen elektrischen Werte nach dem Anwendungszweck beim Kunden richten müssen, wird durch die vorliegende Erfindung eine Möglichkeit geschaffen, solche Beeinflussungen vorzunehmen, ohne daß eine Änderung der Massezusammensetzung erforderlich ist, denn eine solche Anderung bedingt stets einen gewissen Entwicklungsaufwand, bedingt ferner das Überprüfen der Resultate, bevor man zur Massenproduktion übergehen kann, und bedingt schließlich eine Umstellung in Fertigung, Lagerhaltung u.s.w.
  • Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen erläutert.
  • In Tabelle 1 sind Kaltleiter-Zusammensetzungen in Mol angegeben, bei denen von den Oxiden bzw. Karbonaten der einzelnen Komponenten ausgegangen worden ist. Diese Ausgangsmaterialien wurden gemischt und gemahlen und danach der Festkörperreaktion unterworfen, wonach das Produkt erneut gemahlen und zu den gewünschten Körpern geformt wurde. Der Verlauf des Sinterprozesses für die einzelnen Zusammeneetzungen ist in der Tabelle 2 angegeben. In dieser Tabelle sind auch die Angaben zum spezifischen Kaltwiderstand (25o), zum Widerstandsanstieg A, zur Nenntemperatur Tn und Werte für die Spannungsfestigkeit (B40 = A40 : Al); die Angabe des B-Wertes ist in %.
  • Tabelle 1 Kaltleiterzusammensetzungen (Mol)
    Pos. BaTiO3 SrTiO3 PbTiO3 BaSnO3 TiO2 Y2O3 Nd2O3 MnO2 CO2O3 SiO2
    1 1 0,02 0,0045 0,002 0,02
    2 0,75 0,25 0,02 0,0045 0,001 0,02
    3 0,95 0,05 0,02 0,0040 0,0015 0,02
    4 0,9 0,1 0,02 0,0045 0,002 0,02
    5 0,85 0,15 0,02 0,0045 0,0015 0,02
    6 1 0,03 0,004 0,0015 0,02
    7 1 0,03 0,004 0,001 0,001 0,02
    8 0,5 0,5 0,03 0,005 0,001 0,02
    Tabelle 2 Temperaturbehandlung u. elektr. Werte der in Tabelle 1 genannten Zusammensetzungen
    Pos. Festkör- Aufheizung Sinter- Abkühlg. 25° C A TN Spannungs-
    perreak- 900°C bis tempe- bis spez. Kalt- Wider- festigkeit
    Nenn-
    tion Sintertemp. ratur 900° C widrestand stands-
    temper. A40 B40 (%)
    anstieg
    1 1000°C 200°/h 1280°C 300°/h 200#cm 106 110°C 4,0.105 40
    2 900°C 600°/h 1240°C 600°/h 300#cm 104 230°C 3,5.10³ 35
    3 1100°C 200°/h 1320°C 300°/h 100#cm 106 85°C 4,5.105 45
    4 1000°C 200°/h 1300°C 300°/h 100#cm 106 85°C 4,0.105 40
    5 950°C 400°/h 1260°C 400°/h 200#cm 105 170°C 4,0.104 40
    6 1050°C 200°/h 1290°C 300°/h 80#cm 105 110°C 3,5.104 35
    7 1050°C 200°/h 1290°C 200°/h 50#cm 3.105 110°C 0,9.105 30
    8 850°C 800°/h 1200°C 800°/h 600#cm 10³ 340°C 3,0.10² 30
    Die Tabelle 3 zeigt die Ergebnisse, wenn man bohne Haltezeit) die Aufheizgeschwindigkeit und die Tabelle 4 zeigt die Ergebnisse, wenn man die Haltezeit bei der Sintertemperatur variiert (Aufheizung 200 K/h) und zwar bei einer Zusammensetzung, die in Tabelle 1 unter Pos. 1 angegeben ist.
  • Tabelle 3 Aufheizgeschwindigkeit K/h R25/Ocm A1.10-3 A40.10-3 TN/ °C 200 200 1050 380 110 450 565 490 270 106 780 3000 200 140 105 Tabelle 4 Haltezeit/min R25/#cm A1.10-3 A40.10-3 TN/°C 0 200 980 375 110 6 245 930 420 110 24 330 1000 410 108 In Tabelle 5 sind die Ergebnisse gezeigt, wenn die AbkUhlgeschwindigkeit variiert ist (Aufheizung 200 K/h; ohne Haltezeit) u.zw. bei einer Zusammensetzung, die in Tabelle 1 unter Pos. 7 angegeben ist.
  • Tabelle 5 Abkühlgeschwin- R25/#cm A1.10-3 A40.10-3 digkeit K/h 50 185 300 92 230 40 46 12 530 18 5 1 Der Tabelle ist zu entnehmen, daß auch bei diesen Kaltleitern der gleiche qualitative Zusammenhang zwischen den elektrischen Werten und der Abkühlgeschwindigkeit besteht.
  • Im Diagramm gemäß Fig. 1 ist die Abhängigkeit der Nenntemperatur TN von der Abkühlgeschwindigkeit v dargestellt. Dies gilt für eine Zusammensetzung, die in Tabelle 1 unter Pos. 1 angegeben ist.
  • Im Diagramm gemäß Fig. 2 ist fUr die gleiche Kaltleiterzusammensetzung die Abhängigkeit des Kaltwiderstandes R25, des Heißwiderstandes RH sowie der Widerstandsanstieg A1 bzw. A40 von der Abkuhlgeschwindigket v dargestellt. Wie der Figur zu entnehmen ist, fallen die angeführten elektrischen Werte im allgemeinen mit steigender Abkühlge schwindigkeit v. Nur der Widerstandsanstieg A1 ist in einen bestimmten Bereich nahezu konstant. In diesem Bereich der Abkühlgeschwindigkeit v l4Bt sich der Kaltwiderstand R25 eng tolerierbar einstellen, ohne daß der Widerstandsanstieg durch die Abkühlgeschwindigkeit beeinflußt wird.
  • Den Figuren 1 und 2 ist zwar zu entnehmen, daß die elektrischen Werte im allgemeinen nicht unabhängig voneinander mit Hilfe der Abkühlgeschwindigkeit v beeinflußt werden können, jedoch muß berücksichtigt werden, daß diese Werte je nach Anwendungszweck verschieden gewichtet sind, d.h. daß es z.B. für den einen Anwendungszweck erwünscht ist, einen niedrigen Kaltwiderstand R25 zu erhalten, daß aber für einen Anwendungszweck z.B. eine möglichst gute Spannungsfestigkeit A40 erwünscht ist. Da es im allgemeinen nicht erforderlich ist, daß alle elektrischen Werte der Kaltleiter gleichzeitig eine bestimmte optimale Größe aufweisen sollen, kann durch das erfindungsgemäBe Verfahren der elektrische Wert eingestöllt werden, auf den für den bestimmten Anwendungsfall das größte Gewicht zu legen ist.
  • 4 Patentansprüche 2 Figuren

Claims (4)

  1. Patentansprüche Verfahren zur gezielten Einstellung der élektrischen Eigenschaften, nämlich Kaltwiderstand, Nenntemperatur, Heißwiderstand, Widerstandsanstieg oder Spannungsfestigkeit keramischer Kaltleiterkörper aus Perowskitstruktur besitzendem ferroelektrischem Material auf Bariumtitaaatbasis der allgemeinen Formel (Ba1-xMxII)O . z(Ti1-yMyIV)O2 mit MII = Ca, Sr, Pb und/oder Mg und MIV = Sn und/oder Zr, wobei z die Werte 1,005 bis 1,05, x die Werte O bis 0,6 und y die Werte O bis 0,35 einnehmen und das Material wenigstens zwei Dotierungssubstanzen enthält, von denen die eine (Antimon, Niob, Lanthan, Yttrium, Neodym, Wismut und/ oder Wolfram) in Mengen von 0,003 bis 0,006 Mol, bezogen auf 1 Mol Perowskitmaterial, im Innern der Kristallite überwiegend n-Leitung und die andere (Kupfer, Kobalt, Mangan, Nickel und/oder Eisen) in Mengen von 0,0005 bis 0,003 Mol, bezogen auf 1 Mol Perowskitmaterial, vornehmlich an den Oberflächen der Kristallite, überwiegend p-Leitung bewirken, und das Material zusätzlich Silizium und/oder Germanium, gerechnet als SiO2 oder GeO2 in Mengen von 0,01 bis 0,03 Molen, bezogen auf 1 Mol Perowskitmaterial, enthält, bei dem die für die Herstellung der Körper erforderlichen Ausgangskomponenten in Oxidform oder einer die Oxide liefernden Form oder in einer die Titanate bildenden Form gemischt, naß oder trocken vermahlen und danach zur Festkörperreaktion gebracht werden, wonach das Reaktionsprodukt erneut bis zur gewünschten Teilchengröße gemahlen und aus dem Pulver die Körper durch Pressen oder im Schlickergießverfahren hergestellt und danach der Sinterung unterworfen werden, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Festkörperreaktion bei Temperaturen von 800 bis 11000 C für wenigstens zwei Stunden durchgeführt wird und daß die aus dem Reaktionsprodukt hergestellten Körper der Sinterung unterworfen werden, indem zunächst mit einer Aufheizgeschwindigkeit von 200 K/h bis 800 K/h wenigstens im Temperaturintervall von 10000 C bis zur S~ntertemperatur auf diese erhitzt werden, dann für null bis vier Stunden bei der Sintertemperatur von 1150 bis 14000 C gehalten, danach von der Sintertemperatur bis wenigstens 100 K und etwa 300 K unterhalb der Sintertemperatur, meist 9000 C, mit einer Geschwindigkeit von 50 K/h bis 800 K/h abgekühlt werden, wonach die restliche Abkühlung bis zur Normaltemperatur entsprechend der dem Sinterofen eigenen Abkühlbedingungen erfolgt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangskomponenten für die Festkörperreaktion mit einer Geschwindigkeit von 100 bis 400 K/h aufgeheizt sowie nach der Festkörperreaktion mit einer Geschwindigkeit von 200 bis 600 K/h wenigstens bis zu einer Temperatur von 5000 C abgekühlt werden.
  3. 3. Verfajrem mac Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum Zwecke der Einstellung möglichst niedriger Kaltwiderstände bei dafür vorgegebener Ausgangszusammensetzung des Perowskitmaterials die Festkörperreaktion bei 800 bis 8500 C durchgeführt wird.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangsmischung nach dem Misch- und Mahlvorgang eine spezifische Oberfläche von 3 bis 6 m²/g (als Maß für die Korngröße) aufweist, die bei der Festkörperreaktion durch Kornwachstum auf 1 bis 2 m2/g abnimmt, wonach das Produkt der Festkörperreaktion auf eine spezifische Oberfläche von 2 bis 4 m2/g gemahlen wird und die Sinterung der Körper so geführt wird, daß die Korngröße der Kristallite im Bereich von 1 bis 50um liegt.
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0040391A2 (de) * 1980-05-19 1981-11-25 Siemens Aktiengesellschaft Keramisches Kaltleitermaterial
DE4324655A1 (de) * 1992-07-24 1994-01-27 Murata Manufacturing Co NTC-Thermistorzusammensetzung auf Bariumtitanatbasis
DE19818375A1 (de) * 1998-04-24 1999-11-04 Dornier Gmbh PTCR-Widerstand
WO2009071588A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Epcos Ag Injection molded ptc-ceramics
WO2010015525A1 (de) * 2008-08-07 2010-02-11 Epcos Ag Heizungsvorrichtung und verfahren zur herstellung der heizungsvorrichtung
DE19838067B4 (de) * 1998-08-23 2011-06-01 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vielschichtkaltleiter und Verfahren zu seiner Herstellung
US7973639B2 (en) 2007-12-05 2011-07-05 Epcos Ag PTC-resistor
DE10038425B4 (de) * 1999-08-09 2013-04-25 Murata Manufacturing Co., Ltd. Laminiertes Halbleiter-Keramikbauelement und Herstellungsverfahren für das laminierte Halbleiter-Keramikbauelement
US9034210B2 (en) 2007-12-05 2015-05-19 Epcos Ag Feedstock and method for preparing the feedstock
US9169161B2 (en) 2009-10-14 2015-10-27 Epcos Ag Ceramic material, method for producing the ceramic material, and resistor component comprising the ceramic material
US9321689B2 (en) 2008-08-07 2016-04-26 Epcos Ag Molded object, heating device and method for producing a molded object
DE102016123949A1 (de) 2015-12-09 2017-06-14 Dbk David + Baader Gmbh Entladewiderstand

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3019098A1 (de) * 1980-05-19 1981-11-26 SIEMENS AG AAAAA, 1000 Berlin und 8000 München Herstellungsverfahren fuer keramischen kaltleiter mit niedrigem kalt-widerstand
EP0040391A3 (en) * 1980-05-19 1981-12-02 Siemens Aktiengesellschaft Berlin Und Munchen Ceramic ptc resistor material and process for its manufacture
EP0040391A2 (de) * 1980-05-19 1981-11-25 Siemens Aktiengesellschaft Keramisches Kaltleitermaterial
DE4324655A1 (de) * 1992-07-24 1994-01-27 Murata Manufacturing Co NTC-Thermistorzusammensetzung auf Bariumtitanatbasis
DE4324655B4 (de) * 1992-07-24 2004-10-21 Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo Verfahren zur Herstellung einer NTC-Thermistorzusammensetzung auf Bariumtitanatbasis
DE19818375A1 (de) * 1998-04-24 1999-11-04 Dornier Gmbh PTCR-Widerstand
US6144286A (en) * 1998-04-24 2000-11-07 Dornier Gmbh PTCR-resistor
DE19838067B4 (de) * 1998-08-23 2011-06-01 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vielschichtkaltleiter und Verfahren zu seiner Herstellung
DE10038425B4 (de) * 1999-08-09 2013-04-25 Murata Manufacturing Co., Ltd. Laminiertes Halbleiter-Keramikbauelement und Herstellungsverfahren für das laminierte Halbleiter-Keramikbauelement
US9034210B2 (en) 2007-12-05 2015-05-19 Epcos Ag Feedstock and method for preparing the feedstock
US7973639B2 (en) 2007-12-05 2011-07-05 Epcos Ag PTC-resistor
WO2009071588A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Epcos Ag Injection molded ptc-ceramics
WO2010015525A1 (de) * 2008-08-07 2010-02-11 Epcos Ag Heizungsvorrichtung und verfahren zur herstellung der heizungsvorrichtung
US9321689B2 (en) 2008-08-07 2016-04-26 Epcos Ag Molded object, heating device and method for producing a molded object
US9363851B2 (en) 2008-08-07 2016-06-07 Epcos Ag Heating device and method for manufacturing the heating device
US9169161B2 (en) 2009-10-14 2015-10-27 Epcos Ag Ceramic material, method for producing the ceramic material, and resistor component comprising the ceramic material
DE102016123949A1 (de) 2015-12-09 2017-06-14 Dbk David + Baader Gmbh Entladewiderstand
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