DE2740294C2 - Mikrowellen-Netzwerk mit einer Temperaturkompensation - Google Patents
Mikrowellen-Netzwerk mit einer TemperaturkompensationInfo
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P7/00—Resonators of the waveguide type
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- H01P1/30—Auxiliary devices for compensation of, or protection against, temperature or moisture effects ; for improving power handling capability
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- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikrowellen-Netzwerk
mit frequenzbestimmenden Resonanzkreisen, die elektrische oder magnetische scheibenförmige Körper
mit positivem oder negativem Temperaturkoeffizienten (Kompensationselemente) zur Kompensation des Temperaturkoeffizienten
enthalten.
Die Temperaturkompensation eines dielektrischen Resonators mittels einer Scheibe aus dielektrischem
Material von erforderlichem Temperaturkoeffizienten ist durch die DE-AS 26 18 992 bekannt.
Durch die DE-OS 25 38 779 ist ein Mikrowellen-Hohlraumresonator bekannt, bei dem zur Kompensation
des positiven Temperaturkoeffizienten des Hohlraumresonators an einer Innenfläche ein keramischer
Körper mit negativem Temperaturkoeffizienten angeordnet ist.
Ein im prinzipiellen Aufbau diesem Mikrowellen-Hohlraumresonator entsprechender Resonator ist in
F i g. 1 vorliegender Patentschrift dargestellt. Der hier gezeigte Halbleiteroszillator sowie die in F i g. 2 gezeigten
Kurven des Temperaturkoeffizienten des Halbleiteroszillators dienen der Erläuterung der Temperaturkompensation
des Oszillators.
Der in F i g. 1 dargestellte Halbleiteroszillator enthält als frequenzbestimmendes Element einen Hohlraumresonator
1, der mit einem in eine stirnseitige Bohrung des Resonatortopfes eingesetzten Keramikstift 2 in seiner
Frequenz einstellbar ist. Im Innenraum des Resonators ist auf der bodenseitigen Platte 8 ein Halbleiterelement
3, beispielsweise ein Transistor angeordnet, dessen Spannungszuführungen 5, beispielsweise Durchführungskondensatoren
oder -Filter, in die Bodenplatte eingesetzt sind. Sowohl das aktive Element 3 mit seiner
Ankopplung wie auch der Resonator 1, der beispielsweise aus Messing besteht, der Keramikstift 2 und auch die
Leistungsauskopplung 4 bestimmen die Temperaturabhängigkeit der Oszillatorfrequenz, und zwar einerseits
durch die unterschiedlichen temperaturabhängigen Längen- und Lageänderungen, andererseits durch die
temperaturabhängige Impedanzänderung des aktiven Elementes. Die Temperaturkompensation erfolgt mit einem in den Innenraum des Hohlraumresonators eintau-
chenden, in seiner Eintauchtiefe einstellbaren zyünderförmig
ausgebildeten Körper 6 aus dielektrischem Material, beispielsweise Keramik mit negativem oder positivem
Temperaturkoeffizienten der Dielektrizitätskonstante. Er ist beim Ausführungsbeispiel auf eine konterbare
Schraube 7 aufgelötet Mit ihm kann die Frequenz des Oszillators sehr fein innerhalb eines ausreichenden
Frequenzbereiches geändert werden. Je mehr der Oszillator durch die TV-Keramik oder P-Keramik verstimmt
wird, umso mehr bestimmt der Temperaturkoeffizient der Keramik den Temperaturkoeffizienten TKo des Gesamtoszillators.
Der Zusammenhang zwischen der Frequenzverstimmung und dem Temperaturkoeffizienten
ist in der graphischen Darstellung nach F i g. 2 wiedergegeben und soll anhand dieser Figur näher erläutert
werden. Für AfR = 0 ist in dem Diagramm der Temperaturkoeffizient
des unkompensierten Oszillators, d. h. ohne Verwendung eines Kompensationselementes eingetragen,
der entsprechend den Toleranzen der beteiligten Oszillatorbauteile streuen kann, was durch die Linienschar
aus den durchgehenden Linien 1 und 2 wiedergegeben ist Die Linie 1 schneidet die y-Achse beim
Wert TKou das ist der mittlere Temperaturkoeffizient der Oszillatorserie, die Linie 2 schneidet die y- Achse bei
TKm, das ist die angenommene Abweichung des Temperaturkoeffizienten
eines einzelnen Oszillatorexemplares. Mögliche Streuungen des Temperaturkoeffizienten
des Kompensationselementes sind für die Linie 2 strichliert eingezeichnet wobei die strichlierten Linien
mit größerer oder kleinerer Steigung als die Linie 2 verlaufen.
Die Temperaturkompensation des Oszillators erfolgt in der Weise, daß der Oszillator bei einer ersten Temperatur
ΤΊ, z. B. bei Raumtemperatur, mit dem Kompensationselement
6, beispielsweise einer /V-Keramik, um eine Frequenz AfR \ verstimmt wird, bei der erwartet wird,
daß die Mehrzahl aller Oszillatorexemplare bereits ausreichend temperaturkompensiert ist. Bei einer anderen
Temperatur T2 wird nun überprüft, ob die Frequenzabweichung
im Vergleich zur Frequenz bei der ersten Temperatur 71 und damit der Temperaturkoeffizient
TKo noch zu hoch ist. Die positive Abweichung des Temperaturkoeffizienten vom Nullwert ist mit ATK bezeichnet.
Ist, wie im dargestellten Beispiel, der Temperaturkoeffizient TKo zu hoch, dann wird die Oszillatorfrequenz
mit dem Kompensationselement 6 auf Afm verstimmt.
Bei einer geforderten Kompensationsgenauigkeit von beispielsweise TK < 2,5 · 10-6K-' ist nach
dieser Korrektur bereits keine weitere Überprüfung mehr notwendig. Bei einer noch höheren Kompensationsgenauigkeit
für einen ΓΚ-Wert von beispielsweise < 2 · IO-7 K~\ wie sie z.B. für resonatorstabilisierte
Richtfunkträgerversorgungen erforderlich ist, wird der Kompensationsvorgang wiederholt, um auch die Temperaturkoeffizienten-Toleranz
der kompensierenden /V-Keramik, die in F i g. 2 durch die gestrichelten Linien
wiedergegeben ist, zu erfassen.
Bei Oszillatoren, Resonatoren, Frequenzdiskriminatoren, Filtern und ähnlichen Netzwerken mit toleranzbehafteten
Temperaturkoeffizienten besteht das Problem, in einfacher Weise eine sehr genaue Temperaturkompensation der frequenzbestimmenden Schwingkreise
zu erreichen. Bei der Temperaturkompensation durch Verbindung von Materialien verschiedener Längenausdehnung,
z. B. mit Bimetallstreifen, oder mit Materialien verschiedener Wärmeausdehnung ist, abgesehen
von einem zum Teil hohen mechanischen Aufwand, kein Ausgleich von TK-Toleranzen möglich. Dasselbe
trifft für die Kompensation mit Keramiken verschiedener Temperaturkoeffizienten zu. Die Lösung, Frequenzkonstanz
durch Materialien kleinster Wärmeausdeh-
nung zu erreichen, wie Hohlraumresonatoren für Oszillatoren, Filter usw. aus Superinvar oder LC-Resonanz-Kreise
mit Invarspulen erfordert hohe Herstellungskosten und besitzt für viele Anwendungen nich* die ausreichende
Temperaturunabhängigkeit
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, für ein Netzwerk der einleitend beschriebenen Art eine Lösung
anzugeben für eine in einfacher Weise durchführbare sehr genaue Kompensation positiver oder negativer
Temperaturkoeffizienten auch «on sehr großer Toleranz. Es soll dabei auch der stark streuende individuelle
Einfluß von angeschlossenen aktiven und passiven Bauelementen, z. B. der eines Oszillatortransistors auf den
Oszillatorresonanzkreis, in seinem Temperaturgang mit kompensierbar sein.
Bei einem Mikrowellennetzwerk mit frequenzbestimmenden Resonanzkreisen, die elektrische oder magnetische
scheibenförmige Körper mit positivem oder negativem Temperaturkoeffizienten (Kompensationselemente)
zur Kompensation des Temperaturkoeffizienten enthalten, wird diese Aufgabe gemäß der Erfindung in
der Weise gelöst, daß bei seinem Aufbau in MIC-Technik
mit einem auf einer metallischen Trägerplatte angeordneten Substrat und einer auf dessen Oberseite aufgebrachten
Leiterbahn ein dielektrischer Resonator auf die Leiterbahn aufgesetzt und als Kompensationselement
eine neben dem Resonator angeordnete Keramikscheibe vorgesehen ist, die in der Trägerplatte derart
exzentrisch gelagert ist, daß sie über der Leiterbahn mit veränderbarem Abstand zumResonatorschwenkbarist.
Nachstehend wird die Erfindung anhand eines in den F i g. 3 und 4 dargestellten Ausführungsbeispieis näher
erläutert.
F i g. 3 und 4 zeigen in einem Querschnitt und einer Draufsicht eine MIC-Leitung mit einem Resonator. Dabei
ist ein MIC-Substrat 9 mit einer auf seiner Oberseite aufgebrachten Leiterbahn 10 auf einer metallischen
Trägerplatte 11 angeordnet. Auf der Leiterbahn 10 ist ein dielektrischer Resonator 16 zylinderförmiger Gestalt
aufgesetzt. Als Kompensationselement ist hierbei eine Keramikscheibe 15 vorgesehen, die exzentrisch in
der Trägerplatte 11 gelagert ist und somit mit einer mehr oder weniger großen Fläche über die Leiterbahn
11 geschwenkt werden kann und sich dabei den Streufeldern des dielektrischen Resonators mehr oder weniger
stark nähert.
Mit der erfindungsgemäßen, stetig einstellbaren Kompensation ist nine sehr genaue Kompensation möglich,
im Prinzip bis auf einen Temperaturkoeffizienten TK = 0. Die Grenze ist allein durch die nichtlineare
Abhängigkeit der Frequenz des Oszillators von der Temperatur im Nutztemperaturbereich gegeben.
Als kompensierende Materialien können je nach Bedarf auch P-Keramiken, also Keramiken mit einem positiven
Temperaturkoeffizienten der Dielektrizitätskonstante oder Dielektrika auf anderer Basis ebenso wie
magnetische Werkstoffe, z. B. YIG-Kristalle, eingesetzt
werden. Es können sowohl positive wie auch negative Temperaturkoeffizienten kompensiert werden.
Die besonderen Vorteile der erfindungsgemäßen Kompensation bestehen darin, daß die Kompensation
von positiven und negativen Temperaturkoeffizienten kontinuierlich und sehr fein erfolgen kann, wobei sie nur
durch die nichtlineare Temperaturabhängigkeit der Temperaturkoeffizienten begrenzt ist, daß mit den
Kompensationselementen sehr große TK-Toleranzen ausgeglichen werden können, so daß z. B. bei einem Mikrowellenoszillator
alle auftretenden Γ/ί-Toleranzen
von Halbleiter und Resonanzkreis ausgleichbnr sind und die Temperaturkompensation mit einem einfach herstellbaren
Kompensationselement mit geringem Abgleich und Meßaufwand durchführbar ist. Die Kompensation
ist, unabhängig von der Frequenz, für sehr viele Anwendungsfälle einsetzbar, z. B. bei Verstärkern und
Oszillatoren mit verschiedenen Halbleiterelementen (Transistoren, GUNN-Elementen, Impattdioden, Trioden,
Klystrons usw.) und verschiedener Technik, (IC-,
ίο Koaxial- oder Hohlleitertechnik), bei Filtern der verschiedensten
Art und bei Diskriminatoren.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Mikrowellen-Netzwerk mit frequenzbestimmenden Resonanzkreisen, die elektrische oder magnelisehe scheibenförmige Körper mit positivem oder negativem Temperaturkoeffizienten (Kompensationselemente) zur Kompensation des Temperaturkoeffizienten enthalten, dadurch gekennzeichnet, daß bei seinem Aufbau in M IC-Technik mit einem auf einer metallischen Trägerplatte (11) angeordneten Substrat (9) und einer auf dessen Oberseite aufgebrachten Leiterbahn (10) ein dielektrischer Resonator (16) auf die Leiterbahn aufgesetzt und als Korrpensationselement eine neben dem Resonator angeordnete Keramikscheibe (15) vorgesehen ist, die in der Trägerplatte (11) derart exzentrisch gelagert ist daß sie über der Leiterbahn (10) mit veränderbarem Abstand zum Resonator (16) schwenkbar ist20
Priority Applications (1)
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DE19772740294 DE2740294C2 (de) | 1977-09-07 | 1977-09-07 | Mikrowellen-Netzwerk mit einer Temperaturkompensation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19772740294 DE2740294C2 (de) | 1977-09-07 | 1977-09-07 | Mikrowellen-Netzwerk mit einer Temperaturkompensation |
Publications (2)
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DE2740294A1 DE2740294A1 (de) | 1979-03-08 |
DE2740294C2 true DE2740294C2 (de) | 1984-11-22 |
Family
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Family Applications (1)
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DE19772740294 Expired DE2740294C2 (de) | 1977-09-07 | 1977-09-07 | Mikrowellen-Netzwerk mit einer Temperaturkompensation |
Country Status (1)
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DE3326830A1 (de) * | 1983-07-26 | 1985-02-14 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Anordnung zur temperaturkompensation von hohlleiterschaltungen |
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1977
- 1977-09-07 DE DE19772740294 patent/DE2740294C2/de not_active Expired
Also Published As
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